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US9562812B2
(en)
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Temperature measuring device of a power semiconductor apparatus
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EP2336741B1
(de)
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Selbstkalibrierungsschaltkreis und Verfahren zur Verbindungstemperaturschätzung
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US3812717A
(en)
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Semiconductor diode thermometry
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EP1292835B1
(de)
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Verfahren zur messung einer spannung oder einer temperatur sowie zum erzeugen einer spannung mit einer beliebig vorgebbaren temperaturabhängigkeit
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US3212001A
(en)
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Electrical circuit for testing the current-voltage relationship of electrical devices
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CN103163365B
(zh)
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功率检测电路
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JPH05283749A
(ja)
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温度検出装置
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TWI796190B
(zh)
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用於調整記憶體裝置的參考電壓訊號的電壓控制電路
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CN112858934B
(zh)
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用于测试电池传感器的方法、以及电池传感器
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JP5687134B2
(ja)
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エネルギー計測ユニット
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US4012695A
(en)
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Method and apparatus for quality control of semiconductor devices and integrated circuits
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JP2012247245A5
(de)
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DD80952A
(de)
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