DE102008024954A1 - Mikroskop mit einer optischen Anordnung zur Strukturierung des Beleuchtungslichtes - Google Patents

Mikroskop mit einer optischen Anordnung zur Strukturierung des Beleuchtungslichtes Download PDF

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Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskop, in dessen Beleuchtungsstrahlengang ein Beugungsgitter angeordnet ist, durch welches dem Beleuchtungslicht eine Struktur in Form einer periodischen Intensitätsverteilung aufgeprägt wird. Bei einem Mikroskop dieser Art ist vorgesehen, daß - das Beschleunigungslicht zu einer Linie (L) geformt auf das Beugungsgitter, bevorzugt ein transmittierendes Amplitudengitter (G), gerichtet ist, wobei die Linie (L) eine in Richtung X gemessenen Länge 1 und eine in Richtung Y gemessenen Breite b aufweist, - das Periodizitätsintervall des Beugungsgitters eine in Richtung Y verlaufende kontinuierliche oder progressive Variation aufweist, - das Beugungsgitter in Richtung Y relativ zu der Linie (L) des Beleuchtungslichtes verschiebbar ist und - die in Richtung Y gemessene Breite b der Linie (L) um ein Vielfaches geringer ist als die Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung Y.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskop, in dessen Beleuchtungsstrahlengang ein Beugungsgitter angeordnet ist, durch welches dem Beleuchtungslicht eine Struktur in Form einer periodischen Intensitätsverteilung aufgeprägt wird.
  • Auf eine Probe gerichtetes Beleuchtungslicht mit periodischer Intensitätsverteilung im Querschnitt des Lichtbündels ist beispielsweise für Mikroskope erforderlich, bei denen aus mehreren Detektionsrichtungen Bildinformationen aus unterschiedlichen Ebenen in der Tiefe einer Probe erfaßt und ortsaufgelöst, d. h. in Zuordnung zu ihren Raumkoordinaten X, Y, Z, gespeichert werden, um so optische Schnitte durch die Probe und aus mehreren optischen Schnitte ein dreidimensionales Bild der Probe elektronisch rekonstruieren zu können.
  • Dabei besteht häufig die Forderung, die Periode der Strukturierung in unkomplizierter Weise verändern zu können.
  • So kann beispielsweise mit der Anpassung der Periode an die numerische Apertur der Abbildungsoptik die Dicke eines optischen Schnittes minimiert werden.
  • Weiterhin besteht insbesondere bei Applikationen, die den Einsatz mehrerer verschiedener Anregungswellenlängen erfordern, zum Beispiel bei Kolokalisationsmessungen, oftmals das Bedürfnis, die optische Schnittdicke in Abhängigkeit von der jeweils vorgegebenen Anregungswellenlänge einstellen zu können.
  • Darüber hinaus ist es gelegentlich erforderlich, die optische Schnittdicke zu verändern, um das Signal- zu Rauschverhältnis bei der Detektion der Bildinformationen zu erhöhen.
  • Mit dem „APOTOME”, einem Einschub-Modul für den Fluoreszenzstrahlengang von Lichtmikroskopen der Firma Carl Zeiss AG, Deutschland, wird die Struktur mit einem in einem Zwischenbild des Mikroskops angeordneten Gitter erzeugt. Die Periode dieser Struktur wird bestimmt mit dem Periodizitätsintervall des Gitters. Eine Veränderung der Periode der Struktur wird durch den Austausch von Gittern mit verschiedenen Periodizitätsintervallen vorgenommen.
  • Nachteilig dabei ist die zu geringe Flexibilität bei der Untersuchung derselben Probe mit unterschiedlich strukturiertem Beleuchtungslicht. Für das Auswechseln der Gitter mit verschiedenen Periodizitätsintervallen untereinander ist ein verhältnismäßig hoher Zeitaufwand erforderlich. Dabei können auch nur diskrete Änderungen der Periode realisiert werden, wodurch insbesondere die Anwendung eines in dieser Weise ausgestatteten Mikroskops im Zusammenhang mit Kolokalisationsmessungen erschwert wird.
  • Davon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, den Aufbau eines derartigen Mikroskops so weiterzuentwickeln, daß die Veränderung der periodischen Strukturierung des Beleuch tungslichtes in vereinfachter Weise und auch nicht nur diskret möglich ist.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einem Mikroskop, in dessen Beleuchtungsstrahlengang ein Beugungsgitter angeordnet ist, durch welches dem Beleuchtungslicht eine Struktur in Form einer periodischen Intensitätsverteilung aufgeprägt wird, dadurch gelöst, daß
    • – das sich in Richtung Z ausbreitende Beleuchtungslicht zu einer Linie geformt auf das Beugungsgitter gerichtet ist,
    • – das sich in Richtung X erstreckende Periodizitätsintervall des Beugungsgitters eine in Richtung Y verlaufende kontinuierliche oder progressive Variation aufweist, und
    • – das Beugungsgitter in Richtung Y relativ zu dem linienförmigen Beleuchtungslicht verschiebbar ist.
  • Die vorstehend angegebenen Richtungen sind im Sinne der vorliegenden Erfindung Richtungen eines Koordinatensystems X, Y, Z und demzufolge orthogonal ausgerichtet.
  • In einer Ausführungsform der Erfindung ist das Beugungsgitter als transmittierendes Amplitudengitter ausgebildet. Die Länge l der Linie, mit der das Beleuchtungslicht auf das Beugungsgitter trifft, entspricht der Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung X, die Breite b dieser Linie ist um ein Vielfaches geringer als die Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung Y.
  • Das Periodizitätsintervall kann im Bereich von 200 bis 2500 Linien pro Millimeter liegen, wobei die Variation bzw. die Zu- oder Abnahme des Periodizitätsintervalls parallel in Richtung Y verläuft.
  • Bevorzugt ist das Beugungsgitter in einer zur Probenebene konjugierten Zwischenbildebene angeordnet, die durch ein Detektionsobjektiv und eine Tubuslinse definiert ist.
  • Zum Zweck der Ausbildung der auf das Beugungsgitter gerichteten Beleuchtungslinie kann in Ausbreitungsrichtung des Beleuchtungslichtes gesehen vor dem Beugungsgitter eine Zylinderlinse angeordnet sein. Vorteilhaft ist dann unmittelbar hinter dem Beugungsgitter eine zweite Zylinderlinse vorgesehen, wobei beide Zylinderlinsen parallel zueinander ausgerichtet sind und bezüglich ihrer Wirkungsweise gemeinsam ein Zylinderteleskop bilden. Dabei fokussiert die erste Zylinderlinse das Beleuchtungslicht durch das Gitter hindurch und die zweite Zylinderlinse kollimiert das Beleuchtungslicht wieder.
  • Die Erfindung soll nachfolgend anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. In den zugehörigen Zeichnungen zeigen
  • 1 das Prinzip eines Mikroskopaufbaus mit einer Anordnung zur Strukturierung des Beleuchtungslichtes nach Stand der Technik,
  • 2 das Prinzip eines Mikroskopaufbaus mit der erfindungsgemäßen Anordnung zur Strukturierung des Beleuchtungslichtes mit variabler Strukturperiode.
  • Eine dem Stand der Technik entsprechende Anordnung ist in 1a dargestellt. Hierbei wird das Licht der Lichtquelle LQ mittels eines Kollimators L1 quasi gebündelt. Die Linse L2 beleuchtet ein im Zwischenbild ZB1 stehendes transmittierendes Amplitudengitter G, welches das Licht entlang der Koordinatenrichtung X strukturiert. Nach Durchgang durch das Amplitudengitter G gelangt das Beleuchtungslicht zunächst durch eine erste Tubuslinse TL1 und anschließend durch das Objektiv O hindurch auf eine sich in der Probenebene PR befindende Probe.
  • Dabei wird in der Probe Fluoreszenzlicht angeregt, das von der Probe kommend vom Objektiv O gesammelt wird, in der dem Beleuchtungslicht entgegengesetzten Richtung durch das Objektiv O hindurch zum Strahlteiler MDB gelangt, dort aufgrund des Stokes-Shifts vom Beleuchtungslicht getrennt wird und, nachdem es eine zweite Tubuslinse TL2 passiert hat, auf einen Detektor D trifft, der sich in einem zweiten Zwischenbild ZB2 der Mikroskopanordnung befindet.
  • Dabei wird, wie in 1b dargestellt, auf dem Amplitudengitter G im Zwischenbild ZB1 ein kreisförmiger Bereich B beleuchtet, der dem Sehfeld des Mikroskops in diesem Zwischenbild ZB1 entspricht. Die Positionierung des Amplitudengitters G im Zwischenbild ZB1 gewährleistet dessen scharfe Abbildung in die Probenebene PR.
  • Diese bisher bekannte Anordnung hat den Nachteil, daß eine Veränderung der periodischen Strukturierung des Beleuchtungslichtes in Richtung X nur durch Austausch von Amplitudengit tern G mit verschiedenen Periodizitätsintervallen möglich ist und mit dem Austausch von Gittern auch nur eine diskrete Beeinflussung des Periodizitätsintervalls vorgenommen werden kann.
  • Um dagegen eine Veränderung der periodischen Strukturierung des Beleuchtungslichtes in vereinfachter Weise zu ermöglichen, ist erfindungsgemäß das Beleuchtungslicht zu einer in Richtung X ausgedehnten Linie L geformt auf das Amplitudengitter G gerichtet, das Periodizitätsintervall des Amplitudengitters G weist eine in Richtung Y verlaufende kontinuierliche oder progressive Veränderung auf, und das Amplitudengitter G ist in Richtung Y relativ zu dem linienförmig auftreffenden Beleuchtungslicht verschiebbar gelagert. 2 zeigt das Prinzip eines dementsprechenden Mikroskopaufbaus.
  • In einer ersten Ansicht des erfindungsgemäßen Mikroskopaufbaus sind in 2a der Beleuchtungs- und der Abbildungsstrahlengang senkrecht zu der Richtung dargestellt, in welcher sich die periodische Struktur im Beleuchtungslicht ausbreitet.
  • Der Übersichtlichkeit halber wurden in 2 die Bezeichnungen für die optischen Baugruppen beibehalten, die bereits anhand 1 erläutert worden sind und die auch prinzipiell dieselbe Wirkungsweise haben wie in der Darstellung nach 1.
  • In 2a ist in dem von der Lichtquelle LQ kommenden und mittels des Kollimators L1 nahezu gebündelten Licht ein Zylinderteleskop vorgesehen, von dem eine erste Zylinderlinse ZL1 vor dem im Zwischenbild ZB1 stehenden Amplitudengitter G und eine zweite Zylinderlinse ZL2 hinter dem Amplitudengitter G angeordnet ist. Die übrigen in 2 gezeigten Baugruppen behalten ihre Funktion wie im Beispiel nach 1 bei.
  • Die beiden Zylinderlinsen ZL1 und ZL2 sind parallel zueinander ausgerichtet und wirken gemeinsam als Zylinderteleskop, wobei die erste Zylinderlinse ZL1 das Beleuchtungslicht durch das Amplitudengitter G hindurch fokussiert und die zweite Zylinderlinse ZL2 das Beleuchtungslicht wieder kollimiert.
  • 2b zeigt die erfindungsgemäße Anordnung in einer Ansicht parallel zur Strukturierungsrichtung mit den Baugruppen und wie in 2a dargestellt. Hier ist erkennbar, daß das Amplitudengitter G im Fokus der Tubuslinse TL1 positioniert ist.
  • Aufgrund der Zylinderlinse ZL1 entsteht eine Beleuchtungslinie L, die wie in 2c dargestellt auf das Amplitudengitter G trifft. Die Linie L des Beleuchtungslichtes hat die Länge l mit mindestens der Ausdehnung des Amplitudengitters G in Richtung X, die Breite b der Linie L ist um ein Vielfaches kleiner als die Ausdehnung des Amplitudengitters G in Richtung Y.
  • Wird das Amplitudengitter G in Richtung Y relativ zu dem zu der Linie Z geformten Beleuchtungslicht verschoben, trifft das Beleuchtungslicht auf Regionen des Amplitudengitters G mit unterschiedlichen Periodizitätsintervallen. In Abhängigkeit von der Verschiebeweite dringt dabei das Beleuchtungslicht durch verschiedene Periodizitätsintervalle, wodurch sich auch die periodische Struktur des auf die Probe treffenden Beleuchtungslichtes ändert.
  • Ein wesentlicher Vorteil der Erfindung besteht darin, daß durch die Verschiebung des Amplitudengitters G in Richtung Y in Abhängigkeit von dem jeweils eingesetzten Objektiv O, von der jeweils verwendeten Wellenlänge des Beleuchtungslichtes und von der Empfindlichkeit des verwendeten Detektors D folgende Betriebsarten möglich sind:
    • – Multicolorbildgebung mit gleicher optische Schnittdicke,
    • – Multicolorbildgebung mit geringster optischer Schnittdicke bei Erzeugung von bestmöglichen optischen Schnittbildern nahe der Grenzfrequenz des Objektivs O,
    • – Bildgebung mit vergrößerter optischer Schnittdicke zum Zweck der Erhöhung des Signal-/Rauschverhältnisses, wobei die Vergrößerung des optischen Schnittes in einer Vergrößerung des zu messenden Probenvolumens resultiert, so daß sich die Signalstärke relativ zum Untergrund erhöht.
  • B
    Bereich
    b
    Breite
    D
    Detektor
    G
    Amplitudengitter
    L
    Linie
    l
    Länge
    LQ
    Lichtquelle
    L1
    Kollimator
    L2
    Linse
    MDB
    Strahlteiler
    O
    Detektionsobjektiv
    PR
    Probenebene
    TL1
    Tubuslinse
    TL2
    Tubuslinse
    X, Y, Z
    Richtung
    ZL1
    Zylinderlinse
    ZL2
    Zylinderlinse
    ZB1
    Zwischenbildebene/Zwischenbild
    ZB2
    Zwischenbildebene/Zwischenbild
    ZL1
    Zylinderlinse
    ZL2
    Zylinderlinse

Claims (6)

  1. Mikroskop, ausgestattet mit einem Beugungsgitter, – das in einem sich in Richtung Z ausbreitenden Beleuchtungsstrahlengang des Mikroskops angeordnet ist, und – das ein sich in Richtung X erstreckendes Periodizitätsintervall aufweist, wodurch – dem Beleuchtungslicht eine Struktur in Form einer periodischen Intensitätsverteilung aufgeprägt wird, dadurch gekennzeichnet, daß – das Beleuchtungslicht zu einer Linie (L) geformt auf das Beugungsgitter gerichtet ist, – das Periodizitätsintervall des Beugungsgitters eine in Richtung Y verlaufende kontinuierliche oder progressive Variation aufweist, und – das Beugungsgitter in Richtung Y relativ zu dem linienförmigen Beleuchtungslicht verschiebbar ist.
  2. Mikroskop nach Anspruch 1, bei dem – die in Richtung X gemessene Länge l der Linie (L), mit der das Beleuchtungslicht auf das Beugungsgitter trifft, der Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung X entspricht, und – die in Richtung Y gemessene Breite b der Linie (L) um ein Vielfaches geringer ist als die Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung Y.
  3. Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, bei dem das Beugungsgitter eine Änderung des Periodizitätsintervalls im Bereich von 200 bis 2500 Linien pro Millimeter aufweist.
  4. Mikroskop nach einem der vorgenannten Ansprüche, bei dem das Beugungsgitter in einer zur Probenebene konjugierten Zwischenbildebene (ZB1) angeordnet ist, die durch ein Detektionsobjektiv (O) und eine Tubuslinse (TL1) definiert ist.
  5. Mikroskop nach Anspruch 5, bei dem in Ausbreitungsrichtung des Beleuchtungslichtes gesehen vor dem Beugungsgitter eine erste Zylinderlinse (ZL1) und hinter dem Beugungsgitter eine zweite Zylinderlinse (ZL2) angeordnet sind.
  6. Mikroskop nach einem der vorgenannten Ansprüche, bei dem das Beugungsgitter als transmittierendes Amplitudengitter (G) ausgebildet ist.
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