DE1027320B - Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberflaeche teilweise um einen geringen Dickenbetag abgetragen ist - Google Patents

Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberflaeche teilweise um einen geringen Dickenbetag abgetragen ist

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DE1027320B
DE1027320B DEI9587A DEI0009587A DE1027320B DE 1027320 B DE1027320 B DE 1027320B DE I9587 A DEI9587 A DE I9587A DE I0009587 A DEI0009587 A DE I0009587A DE 1027320 B DE1027320 B DE 1027320B
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DE
Germany
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transistor
ridge
small amount
thickness
semiconductor
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DEI9587A
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Inventor
John Bascom Little
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IBM Deutschland GmbH
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IBM Deutschland GmbH
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D48/00Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
    • H10D48/30Devices controlled by electric currents or voltages
    • H10D48/32Devices controlled by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H10D48/34Bipolar devices
    • H10D48/345Bipolar transistors having ohmic electrodes on emitter-like, base-like, and collector-like regions
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass

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Description

  • Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberfläche teilweise um einen geringen Dickenbetrag abgetragen ist Punktkontakttransistoren, auch Spitzentransitoren genannt, bestehen im allgemeinen aus einem kleinen einkristallinischen Halbleiterblock, insbesondere aus Germanium. der mit einer Basiselektrode, einer Emitterelektrode und einer Kollektorelektrode versehen ist. Die Basiselektrode bedeckt gewöhnlich eine größere Fläche auf dem Halbleiterblock, während Einitter- und Kollektorelektrode Punktkontakte sind, die aus leichten Drähten oder Kontaktfedern, welche mit der Oberfläche des Halbleitermaterials zusammenwirken, gebildet sind.
  • Solche Transistoren sind sehr empfindlich gegen Schwankungen des Abstandes zwischen den Punktkontaktelektroden. Der erforderliche Elektrodenabstand liegt gewöhnlich in der Größenordnung von 0,0? bis 0,05 min. Für den Elektrodenabstand muß dabei eine Toleranz in der Größenordnung von 0,003 111111 oder darunter eingehalten werden. Die elektrischen Eigenschaften eines Transistors werden sehr stark durch Änderungen des Abstalides der Lniitterelektrode von der Kollektorelektrode beeinflußt. Um eine Einheitlichkeit bei Transistoren, d. h. zwischen einem Transistor desselben Typs zu gew ilirleisten, muß eine Einheitlichkeit im Emitterä Kollektor-Abstand gesichert sein. Um die Einheitlichkeit des Transistors zu erhalten, d.li., um zu erreichen, dala sich die Eigenschaften eines gegebenen Transistors bei der Alterung nicht verändern, ist es außerdem notwendig, daß der Abstand zwischen seinen Punktelektroden in allen Benutzungsarten un-\-eränderlich bleibt.
  • Um den Elektrodenabstand gleichbleibend zu halten, hat inan bereits viele Möglichkeiten erprobt. So wird z. B. der Halbleiterblock mit den zugehörigen Elektroden in eine Kunststoffmatrize eingebettet. Mit den bekannten Maßnahmen läßt sich jedoch das erstrebte Ziel nicht unter allen Benutzungsbedingungen, wie z. B. bei höheren Anforderungen hinsichtlich Temperatur- und Schwingungseinflüsse, erreichen.
  • Es sind bereits Spitzentransistoren bekanntgeworden, bei denen die Halbleiteroberfläche, z. B. aus Germanium. auf der Ernitter- bzw. Kollektorseite teilweise um einen geringen Dickenhetrag, insbesondere durch Ätzung oder Schleifung, so abgetragen ist, daß gegenüberliegende Begrenzungslinien finit Gratflächen entstehen. Bei den bekannten Ausführungsforinen ist jedoch noch eine seitliche Auswanderung der Elektrodenspitzen möglich.
  • Die der Erfindung -zugrunde liegende Aufgabe be->te.ht nun darin, d:.elre@«heira@@n Scliwierigl;eitendurch eine verbesserte Ausführtlligsforni des Tran.#i>tor> zu Überwinden.
  • Die 1a-findung liezielit :ich auf einen Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberfläche, z. B. aus Germanium, auf der Einitter- bzw. Kollektorseite teilweise um einen geringen Dickenbetrag, insbesondere durch Ätzung oder Schleifung, so abgetragen ist, daß gegenüberliegende Begrenzungslinien mit Gratflächen entstehen. Erfindungsgemäß sind die gegenüberliegenden Gratflächen V-förmig ausgebildet, deren V-Spitzen im Elektrodenabstand gegenüberliegen und in denen die Emitter- und Kollektorelektrode Kontakt mit dein Halbleiter haben. Bei dein Transistor nach der Erfindung bleibt der Abstand zwischen den Elektroden durch seine besondersartige Ausführungsform erhalten. Damit wird eine weitere Verbesserung der Stabilität der Elektrodendistanzierung dadurch gewonnen, daß auch eine seitliche Auswanderung der Elektrodenspitzen unmöglich gemacht wird. Bei dein Spitzentransistor nach der Erfindung sind die Abmessungen des Grates genau bemessen, und die Kontakte werden fest gegen den Grat angedruckt.
  • Ein Block aus Halbleitermaterial mit einem Grat der beschriebenen Art läßt sich in vorteilhafter \Veise durch Aufbringen eines -Schutzüberzuges auf dem Oberflächenort, wo der Grat entstehen soll, und durch Wegätzen oder Entfernung durch Sandstrahlgebläse der nicht geschützten Oberflächenteile herstellen. Der Grat kann aber auch nach einem der neuen Hochfrecfuen7schneidverfahren, z.13. nach dem inagnetostriktiven oder dem Ultraschallverfahren, hergestellt werden.
  • Die Erfindung sei an Hand der Zeichnung näher erläutert.
  • Fig. 1 ist eine perspektivische Teilzeichnung einer Halbleiterkörperform für einen Transistor nach der Erfindung; Fig.2 ist eine Querschnittszeichnung der Transistorform nach der Erfindung; Fig. 3 ist eine Draufsichtszeichnung für den Halbleiterblock, auf dem die Gratflächen geformt und Linien eingeritzt sind, um das Schneiden des Blocks in einzelne Transistorkörper zu erleichtern.
  • Fig. 1 zeigt einen Teil eines Halbleiterkörpers 13 des Transistors, z. B. aus Germanium, an dem ein Grat 13a. geformt ist, der an jedem Ende entgegengesetzt verjüngte Seitenflächen 13 b aufweist.
  • Die beiden Gratenden sind so verjüngt, daß die Gratbreite nach der Mitte hin abnimmt und die Gratseiten an einem schmalen Halsteil 13c, der durch die gegenüberliegenden Spitzen der beiden in den entgegengesetzten Seiten des V-förmigen Grates gebildet ist, sich stark aneinander annähern. Die in die Winkelspitzen der V-förmigen Seiten des Grates 13 a eingesetzten Spitzenelektroden sind dabei natürlich gegen eine Verschiebung in jeder Richtung gesichert.
  • Fig. 2 zeigt den Querschnitt eines anderen Transistortyps nach der Erfindung. Dieser Transistor ist auf einer isolierenden Unterlage 14 montiert, deren Oberseite von einer Metallplatte 15 bedeckt ist. Ein Körper 16 aus Halbleitermaterial ist in der Platte 15 befestigt. Zwei Drähte 17 und 18 erstrecken sich durch die Unterlage 14 und durch Isoliermuffen 19, die durch die Platte 15 hindurchtreten. Die oberen Enden der Drähte 17 und 18 tragen die Elektroden 20 bzw. 21. Diese Elektroden sind an den Enden zugespitzt und wirken zusammen mit der oberen Fläche des Halbleiterkörpers 16 an entgegengesetzten Seiten eines Grates 16a.
  • Zur Bildung eines Halbleiterkörpers mit einem Grat wird derjenige Teil der Oberfläche eines Blockes aus geeignetem Material, der den Grat bilden soll, zunächst geschützt, z. B. entweder durch Aufkleben eines Metallstreifens auf den Germaniumblock oder durch Aufbringen eines Überzuges aus geeignetem Material, z. B. Emaille, auf den fraglichen Bereich.
  • Die gesamte Fläche, auf der der Grat gebildet werden soll. wird dann einer Behandlung unterworfen, um die nicht geschützten Teile der Fläche zwischen den durch die Linien 23 (Fig.3) abgegrenzten Graten abzutragen. Diese Behandlung kann z. B. in einem chemischen oder elektrolytischen Ätzungsverfahren bestehen. Wenn die auf die Grate aufgebrachte Schutzschicht sich strukturell dazu eignet, kann auch ein Sandstrahlgebläse verwendet werden. Während des Abtragungsverfahrens hat man die Schärfe der Gratseiten und die Schärfe der Winkel an der Grundfläche dadurch in der Hand, daß man Ströme des Abtragungsmittels, z. B. des Sandgebläses oder der chemischen Lösung, an den Kanten des Grates entlang führt.
  • Ist die Oberfläche in der gewünschten Tiefe abgetragen, so wird durch entsprechende Behandlung der Schutzüberzug auf dem Grat entfernt. Nun hat der Körper das Aussehen des Körpers 22 in der Fig. 3 mit darauf geformten Graten 23. Auf dein Körper 22 werden durch eine Liniierungsmaschine oder ein anderes Instrument Linien 24 gezogen, die die Seiten der einzelnen Transistorblöcke kennzeichnen, welche parallel zu den Graten verlaufen. Außerdem werden die Linien 25, die die rechtwinklig zu den Graten verlaufenden Seiten der Transistorblöcke kennzeichnen, gezogen. Dann wird der Körper 22 in einzelne Transistorblöcke entlang der Linien 24 und 25 aufgeschnitten.
  • Ein anderes Verfahren zur Herstellung der Gratflächen besteht darin, daß die Oberfläche des Blocks an den gewünschten Stellen durch ein Hochfrequenz_-schneidverfahren eingeschnitten wird. Bei diesem Verfahren wird ein Formwerkzeug verwendet, das den umgekehrten Umriß hat wie der, den inan erzeugen will (z. B. würde ein Schneidwerkzeug für einen gegrateten Transistor eine Einkerbung an Stelle eines Grates haben). Die einzuschneidende Oberfläche wird mit einer Mischung aus schabendem :Material, z. B. Schmirgelpaste, überzogen, dann wird das Werkzeug auf die Oberfläche mit einer sehr geringen Amplitude und einer sehr hohen Frequenz aufgesetzt, bis das umgekehrte Muster des Formwerkzeuges in die Fläche des Körpers geschnitten ist. Diese Werkzeuge können durch magnetostriktiv e oder piezoelektrische Schwingungen mit Überschallfrequenzen betrieben werden.
  • Abgesehen von dem zur Formung der Grate verwendeten Verfahren ist es zweckmäßig, die Transistorkörper in Mengen herzustellen, indem man einen verhältnismäßig großen Block nimmt, die Grate über eine ganze Oberfläche des Blockes bildet. den Block dann zerschneidet, um die einzelnen Transistorkörper zu erhalten.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH- Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberfläche. z. B. aus Germanium, auf der Emitter- bzw. Kollektorseite teilweise um einen geringen Dickenbetrag, insbesondere durch Ätzung oder Schleifung, so abgetragen ist, daß gegenüberliegende Begrenzungslinien mit Gratflächen entstehen, gekennzeichnet durch V-förmige Ausbildung der gegenüberliegenden Gratflächen (13b), deren V-Spitzen im Elektrodenabstand gegenüberliegen und in denen die Emitter- und Kollektorelektroden (20, 21) Kontakt mit dem Halbleiter (13, 16) haben. In Betracht gezogene Druckschriften Deutsche Patentschrift Nr. 849 461; britische Patentschriften Nr. 700 156, 699 050; USA.-Patentschrift Nr. 2 609 429.
DEI9587A 1953-12-30 1954-12-29 Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberflaeche teilweise um einen geringen Dickenbetag abgetragen ist Pending DE1027320B (de)

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US1027320XA 1953-12-30 1953-12-30

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2609429A (en) * 1950-07-29 1952-09-02 Rca Corp Semiconduction electrode construction
DE849461C (de) * 1950-09-25 1952-09-15 Siemens Ag Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung
GB699050A (en) * 1950-09-09 1953-10-28 Sylvania Electric Prod Transistors, and their method of manufacture
GB700156A (en) * 1951-07-03 1953-11-25 Standard Telephones Cables Ltd Semiconducting crystal rectifier or amplifier and method of manufacturing it

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