DE1299498B - Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraeten - Google Patents
Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-BearbeitungsgeraetenInfo
- Publication number
- DE1299498B DE1299498B DEST22453A DEST022453A DE1299498B DE 1299498 B DE1299498 B DE 1299498B DE ST22453 A DEST22453 A DE ST22453A DE ST022453 A DEST022453 A DE ST022453A DE 1299498 B DE1299498 B DE 1299498B
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- beam path
- control
- area
- impact area
- radiation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
- B23K15/0013—Positioning or observing workpieces, e.g. with respect to the impact; Aligning, aiming or focusing electron beams
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/147—Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/3002—Details
- H01J37/3005—Observing the objects or the point of impact on the object
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/304—Controlling tubes by information coming from the objects or from the beam, e.g. correction signals
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
1 2
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Über- zeichneten Lösungsmitteln, die alle von demselben
wachung des Strahlauftreffbereichs in Geräten zur Lösungsprinzip Gebrauch machen, nämlich der Aus-Materialbearbeitung
mittels Korpuskularstrahlen. nutzung der vom Strahlauftreffbereich ausgehenden In Korpuskularstrahlgeräten für die Materialbear- nicht lichtoptischen Strahlung, so daß die geschilderbeitung
ist es notwendig, die Auftreffstelle des Strahls 5 ten Schwierigkeiten der lichtoptischen Überwachung
auf dem zu bearbeitenden Gegenstand zu über- grundsätzlich entfallen.
wachen, um die jeweils geeignete Größe und Form Eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Überdes
Brennflecks einstellen und einhalten zu können. wachung des Strahlauftreffbereichs in Geräten zur
Bei einer bekannten Vorrichtung zur Überwachung Materialbearbeitung mittels Korpuskularstrahlen, mit
des Strahlauftreffbereichs werden die Abmessungen io einem Kontroll-Strahlengang für ein Bündel der von
des Brennflecks lichtoptisch kontrolliert, und zwar dem Strahlauftreffbereich ausgehenden Teilchenwird
die vom Strahlauftreffbereich ausgehende Licht- und/oder Röntgenstrahlung, wobei der Kontrollstrahstrahlung
in einem zu dem bearbeitenden Korpusku- lengang ein Abbildungssystem zur Abbildung des
larstrahl zunächst konzentrischen, durch die Pol- Strahlauftreffbereichs sowie einen im Bildbereich des
schuhe einer elektronenoptischen Fokussierungslinse 15 Abbildungssystems angeordneten Strahlungsempfäntretenden
optischen Strahlengang zu einem Mikro- ger aufweist, ist dadurch gekennzeichnet, daß die
skop geleitet. Eine solche lichtoptische Kontrolle hat wirksame Fläche des Strahlungsempfängers kleiner
aber wegen der verhältnismäßig kleinen Apertur des ist als die Fläche des bei optimaler Fokussierung des
durch die Polschuhe der elektronenoptischen Fokus- bearbeitenden Korpuskularstrahls vom Abbildungssierungslinse
tretenden optischen Strahlenganges eine 20 system erzeugten Bildes des Strahlauftreffbereichs
zu geringe Auflösung. Deshalb können kleine Brenn- und daß der Strahlungsempfänger ein von dem geflecke
nicht mehr mit Sicherheit beobachtet und kon- samten von ihm empfangenen Strahlungsanteil abtrolliert
werden. Außerdem ist bei der bekannten hängiges Ausgangssignal erzeugt. Einrichtung eine Glaslinse im eigentlichen Korpus- Bei dieser erfindungsgemäßen Vorrichtung wird
kularstrahlgerät angeordnet, und diese Linse ist zum 25 somit ein kleiner und einfacher, nämlich integrieren-Durchtritt
des Korpuskularstrahls durchbohrt. Damit der Strahlungsempfänger, der nicht in seinem Sättifällt
von vornherein der optisch am besten wirkende gungsbereich arbeitet, verwendet. Ein solcher Emp-Zentralteil
der Linse für die Beobachtung aus, d. h., fänger kann beispielsweise durch eine Fotozelle, eine
es muß mit einer verschlechterten Abbildung gearbei- Auffangelektrode od. dgl. verkörpert werden. Je bestet
werden. Auch aus diesem Grund können kleine 30 ser die Fokussierung ist, um so größer wird der von
Brennflecke nicht mehr mit Sicherheit beobachtet dem kleinen Strahlungsempfänger empfangene Strahwerden.
Eine weitere Schwierigkeit bei der bekannten lungsanteil und damit auch das Ausgangssignal dieses
lichtoptischen Überwachungseinrichtungbestehtdarin, Strahlungsempfängers.
daß die im Korpuskularstrahlgerät angeordnete Ab- Eine vorteilhafte weitere Ausgestaltung dieser Vorbildungslinse
bei der Materialbearbeitung schnell be- 35 richtung besteht darin, daß der Kontroll-Strahlengang
dampft und damit unbrauchbar wird. Aus diesem ein Strahlablenksystem zum Verschieben des Bildes
Grund ist vor der Linse ein Schutzglas vorgesehen, relativ zum Strahlungsempfänger aufweist. Bei dieser
das an Stelle der Linse bedampft wird und von Zeit Ausbildung der Vorrichtung kann man durch Verzu
Zeit erneuert werden muß. Verwendet man einen schieben des Bildes relativ zum Strahlungsempfänger
Korpuskularstrahl großer Leistung, so muß dieses 40 sämtliche Bildpunkte des Strahlauftreffbereichs ab-Schutzglas
sehr oft ausgewechselt werden. Dies ist tasten und sich an Hand des Empfänger-Ausgangsunbequem
und macht unerwünschte Unterbrechun- signals eine Information über die dort herrschenden
gen des Bearbeitungsvorganges notwendig. Verhältnisse verschaffen. Es ist bei einer derartigen
Es ist auch bekannt, die Fokussierung eines La- Anordnung naturgemäß ohne weiteres möglich, ein
dungsträgerstrahls dadurch zu kontrollieren, daß 45 stark vergrößerndes Abbildungssystem im Kontrollüber
dem zu bearbeitenden Werkstück eine Auffän- Strahlengang zu verwenden. Vorzugsweise ist diese
gerelektrode angeordnet und der Auffängerstrom ge- Vorrichtung weiter gekennzeichnet durch einen Elekmessen
wird. Aus dem Erreichen eines Extremwertes tronenstrahloszillographen, der ein synchron mit dem
dieses Stromes wird dann auf die optimale Fokussie- Ablenksystem des Kontroll-Strahlenganges betrieberung
geschlossen. Dieses Verfahren ist nur bedingt 50 nes Ablenksystem und eine vom Ausgangssignal des
anwendbar, da es nur bei einigen wenigen Materialien Strahlungsempfängers gesteuerte Intensitäts-Steuereinwandfrei
arbeitet und außerdem nicht auf den einrichtung aufweist. Hier werden also die Bildpunktkleinsten
Durchmesser des Brennflecks, sondern auf informationen mit Hilfe eines Elektronenstrahloszildie
maximale Temperatur an irgendeiner Stelle des lographen zu einem Schirmbild des Strahlauftreff-Auftreffbereichs
anspricht. 55 bereichs zusammengesetzt, wobei das Ausgangssignal Die Erfindung geht von der Aufgabe aus, mit gegen des Strahlungsempfängers die Intensität des synchron
Bedampfen nur wenig anfälligen, konstruktiv und mit dem Bild des Strahlauftreffbereichs abgelenkten
funktionell möglichst einfachen Mitteln eine zuver- Oszillographenstrahls moduliert,
lässige und aufschlußreiche Information über den Es sind zwar schon Vorrichtungen bekannt, bei
Strahlauftreffbereich zu erhalten. 60 denen ein Bild des Strahlauftreffbereichs auf einem
Zur Lösung dieser Aufgabe geht die Erfindung von Elektronenstrahloszillographen erzeugt wird, doch
Überwachungseinrichtungen aus, bei denen wie in der arbeiten diese Einrichtungen auf gänzlich andere
zuerst beschriebenen bekannten Vorrichtung einBün- Weise; bei ihnen wird nämlich nicht eine Abbildung
del der vom Strahlauftreffbereich ausgehenden Strah- des Strahlauftreffbereichs relativ zum Empfänger verlung
zu einem Strahlungsempfänger in einem Kon- 65 schoben, sondern es werden mehrere, durch Ablentroll-Strahlengang
geleitet wird. Die Lösung der ge- kung des Arbeitsstrahls nacheinander durchlaufene
stellten Aufgabe erfolgt dabei mit verschiedenen, Strahlauftreffbereiche auf entsprechende Stellen eines
durch Einfachheit und Funktionstüchtigkeit ausge- Oszillographen-Bildschirmes abgebildet. Bei diesen
Kontroll-Strahlenganges ein zweites steuerbares Abbildungselement angeordnet ist und daß die Steuereinrichtungen
der beiden Abbildungselemente derart miteinander gekoppelt sind, daß die Veränderungen
5 der Steuerung der beiden Abbildungselemente gegensinnig erfolgen. Durch diese Maßnahme wird es
möglich, Veränderungen des Fokussierungszustandes vornehmen zu können, ohne daß es einer umständlichen
Nachstellung des zweiten steuerbaren Abbil-
bekannten Vorrichtungen, die beispielsweise zur Röntgenstrahlenstrukturanalyse dienen, wird also ein
Bild des vom Arbeitsstrahl beaufschlagten Objekts aus nacheinander abgetasteten Bildpunkten des Objekts
zusammengesetzt; dies muß naturgemäß sehr schnell erfolgen, um entsprechend der Nachleuchtzeit
des Oszillographen-Bildschirms zu einem einheitlichen Bildeindruck zu kommen. Bei Bearbeitungsgeräten,
bei denen die Einwirkungszeiten des
bearbeitenden Strahls an der Strahlauftrefistelle er- io dungselements bedarf.
heblich langer sein müssen als bei einer bloß Abbil- Eine besonders einfache erfindungsgemäße Vordungszwecken
dienenden Abtastung, läßt sich das be- richtung zur Überwachung des Strahlauftreffbereichs
kannte Abtastverfahren grundsätzlich nicht anwen- in Geräten zur Materialbearbeitung mittels Korpusden.
Überdies sind bei den bekannten Einrichtungen kularstrahlen, mit einem Kontroll-Strahlengang für
dieser Art im Kontroll- oder Beobachtungsstrahlen- 15 ein Bündel der vom Strahlauftreffbereich ausgehengang
keine Abbildungs- und Ablenkeinrichtungen den Teilchen- und/oder Röntgenstrahlung und einem
vorgesehen. im Kontroll-Strahlengang angeordneten Strahlungs-Die beschriebenen erfindungsgemäßen Über- empfänger ist dadurch gekennzeichnet, daß im Konwachungsvorrichtungen
lassen sich noch dadurch troll-Strahlengang wenigstens eine Kante einer den
verbessern, daß in an sich bekannter Weise der Kon- ao Querschnitt des Kontroll-Strahlenganges teilweise ertroll-Strahlengang
eine mit Hilfe eines Ablenkfeldes füllenden Blende vorgesehen ist, deren Abbildungserzeugte
Krümmung aufweist. Dadurch wird eine schärfe auf dem Strahlungsempfänger ein Maß für
noch größere Unempfindlichkeit gegen Bedampfungs- die Ausdehnung des Strahlauftreffbereichs ist. Bei
erscheinungen erzielt. dieser Ausführungsform der Erfindung kann also in Die Erfindung bezieht sich weiter auf eine Vor- as äußerst einfacher Weise der Fokussierungszustand
richtung zur Überwachung des Strahlauftreffbereichs des zur Materialbearbeitung dienenden Korpuskularin
Geräten zur Materialbearbeitung mittels Ladungs- Strahls durch die Schärfe des Schattenbildes der
trägerstrahlen, mit einem Kontroll-Strahlengang für Blende beurteilt werden.
ein Bündel der von dem Strahlauftreffbereich aus- Eine vorteilhafte weitere Ausgestaltung dieser Ausgehenden
Ladungsträgerstrahlung, wobei der Kon- 30 führungsform besteht darin, daß sie eine zweiteilige
troll-Strahlengang ein Abbildungssystem zur Abbil- Blende mit einem ringförmigen ersten Blendenteil
dung des Strahlauftreffbereichs sowie einen im Bild- und einem in der Strahlenrichtung dagegen versetzbereich
des Abbildungssystems angeordneten Strah- ten, koaxialen scheibenförmigen zweiten Blendenteil
lungsempfänger aufweist, und in einem zwischen dem aufweist, dessen Durchmesser im Verhältnis zum
Bearbeitungsbereich und einem magnetischen Ab- 35 Lochdurchmesser des ersten Blendenteils, zum gegenlenkfeld
verlaufenden Abschnitt mit dem Strahlen- seitigen Abstand der beiden Blendenteile und zum
gang des bearbeitenden Ladungsträgerstrahls zusam- Abstand des ersten Blendenteils vom Strahlauftreffmenf
ällt. Derartige Vorrichtungen sind zur Abbildung bereich so gewählt ist, daß bei optimaler Fokussierung
von Flächen mittels Korpuskularstrahlen bereits be- des bearbeitenden Korpuskularstrahls der Strahlungskannt.
Erfindungsgemäß wird nun bei einer derarti- 40 empfänger gerade keine Einstrahlung mehr empfängt,
gen Vorrichtung in dem zwischen dem Strahlauftreff- Vorzugsweise ist die Blende in Strahlrichtung verbereich
und dem Ablenkfeld verlaufenden Abschnitt stellbar. Ferner ist es von Vorteil, wenn der Strahdes
Strahlenganges ein steuerbares elektrostatisches lungsempfänger in an sich bekannter Weise einen
Strahlablenksystem angeordnet. Durch dieses Strahl- Leuchtschirm aufweist. Der Strahlungsempfänger
ablenksystem verläuft also der dem bearbeitenden 45 kann auch in an sich bekannter Weise einen foto-Strahl
und dem Kontroll-Strahlengang gemeinsame elektrischen Empfänger aufweisen. Schließlich kann
Abschnitt. Dies hat den Vorteil, daß das Bild des
Brennflecks auf dem Strahlungsempfänger auch bei
Bewegung des Ladungsträgerstrahls auf dem Werkstück in einer festen Position bleibt. Das magnetische 50
Ablenkfeld wirkt auf den bearbeitenden Ladungsträgerstrahl und die im Kontroll-Strahlengang zurücklaufenden Ladungsträgerstrahlen gegensinnig ein, so
daß diese beiden Strahlengänge in der gewünschten
Weise getrennt werden; das elektrostatische Ablenk- 55
feld bewirkt jedoch eine gleichsinnige Ablenkung
beider Strahlengänge relativ zum Werkstück.
Brennflecks auf dem Strahlungsempfänger auch bei
Bewegung des Ladungsträgerstrahls auf dem Werkstück in einer festen Position bleibt. Das magnetische 50
Ablenkfeld wirkt auf den bearbeitenden Ladungsträgerstrahl und die im Kontroll-Strahlengang zurücklaufenden Ladungsträgerstrahlen gegensinnig ein, so
daß diese beiden Strahlengänge in der gewünschten
Weise getrennt werden; das elektrostatische Ablenk- 55
feld bewirkt jedoch eine gleichsinnige Ablenkung
beider Strahlengänge relativ zum Werkstück.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung der zuletzt beschriebenen erfindungsgemäßen Vorrichtung besteht
darin, daß in an sich bekannter Weise in dem zwi- 60 Überwachungsvorrichtung,
sehen dem Strahlauftreffbereich und dem magne- Fig. 2 eine schematische Darstellung einer ande-
tischen Ablenkfeld verlaufenden Abschnitt des Strah- ren Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Über-
lenganges eine steuerbare Fokussiereinrichtung für wachungseinrichtung,
den bearbeitenden Ladungsträgerstrahl vorgesehen F i g. 3 eine andere Ausführungsform, bei welcher
ist, die gleichzeitig ein erstes steuerbares Abbildungs- 65 zur Bilderzeugung eine Oszillographenröhre vorge-
element des Abbildungssystems bildet, daß in dem sehen ist,
nicht mit dem Strahlengang des bearbeitenden La- F i g. 4 eine mit einer Nachbeschleunigungsstrecke
dungsträgerstrahls zusammenfallenden Abschnitt des ausgerüstete Überwachungsvorrichtung,
auch hier in an sich bekannter Weise der Kontroll-Strahlengang eine mit Hilfe eines Ablenkfeldes erzeugte
Krümmung aufweisen.
Bei allen Ausführungsformen der Erfindung kann eine Verstärkung der erzielten Effekte dadurch erzielt
werden, daß in an sich bekannter Weise im Kontrollstrahlengang eine Nachbeschleunigungsstrecke vorgesehen ist.
Ausführungsbeispiele gemäß der Erfindung werden im folgenden an Hand der Zeichnungen näher beschrieben.
Es zeigt
F i g. 1 ein Gerät zur Materialbearbeitung mittels Korpuskularstrahlen mit einer erfindungsgemäßen
F i g. 5 eine andere Ausführungsform, bei der die seine Fläche integrierender Empfänger ist, der stets
Fokussiereinrichtung des zur Materialbearbeitung unterhalb seines Sättigungsbereichs arbeitet. Im eindienenden
Strahls als erstes Abbildungselement des fachsten Fall handelt es sich dabei um einen foto-Abbildungssystems
arbeitet, elektrischen Strahlungsempfänger, dem ein (nicht
Fig. 6 eine andere Ausführungsform, bei welcher 5 dargestelltes) Anzeigegerät nachgeschaltet ist, so daß
ebenfalls die Fokussierungseinrichtung als erstes Ab- aus dem Ausschlag des Anzeigegerätes direkt auf
bildungselement des Abbildungssystems verwendet den Fokussierungszustand des Elektronenstrahls 12
wird, geschlossen werden kann.
Fig.7 eine andere Ausführungsform, bei der im Die in Fig.2 dargestellte Überwachungsvorrich-
Kontroll-Strahlengang eine Kante einer Blende ange- io rung unterscheidet sich von der Überwachungsvorordnet
ist, richtung nach F i g. 1 im wesentlichen nur dadurch,
Fig. 8 eine ähnliche Ausführungsform wie in daß ein elektromagnetisches Ablenkfeld25 vor dem
Fig. 7, jedoch mit Umlenkung des Kontroll-Strahlen- Abbildungssystem 23 angeordnet ist. Diese Anordganges,
nung hat den Vorteil, daß auch ohne eine feine
Fig.9 eine Ausführungsform, bei welcher eine 15 Blende im wesentlichen nur Elektronen einer bezweiteilige
Blende im Kontroll-Strahlengang verwen- stimmten Geschwindigkeit zum Strahlungsempfänger
det wird, und 24 gelangen. Außerdem sind bei dieser Anordnung
F i g. 10 eine Ausführungsform mit Zusatzeinrich- die Platzverhältnisse etwas günstiger als bei der Antungen
zur automatischen Einstellung eines Brenn- Ordnung nach Fig. 1, und der Strahlungsempfänger
flecks kleinster Abmessungen. ' 20 24 ist ebenfalls vor Bedampfung geschützt.
In Fig. 1 ist mit 1 ein Gerät zur Materialbearbei- Die Ausführungsform nach Fig. 3 entspricht der
tang mittels eines Elektronenstrahls bezeichnet. Das Ausführungsfonn nach F i g. 2, enthält jedoch zu-Strahlerzeugungssystem
dieses Geräts besteht aus der sätzlich im Kontroll-Strahlengang ein Ablenksystem
Kathode 2, der Steuerelektrode 3 und der geerdeten 26 bis 29, so daß mit Hilfe dieses Ablenksystems das
Anode 4. Die Einheiten 5 und 6 dienen zur Erzeu- 25 in der Ebene des Strahlungsempfängers 30 erzeugte
gung der Heizspannung für die Kathode 2, der Vor- Bild des Strahlauftreffbereichs verschoben werden
spannung für die Steuerelektrode 3 und der Hoch- kann. Auf diese Weise kann man bei stehendem
spannung. In Strahlrichtung gesehen unterhalb der Arbeitsstrahl 12 den Strahlauftreffbereich abbildend
Anode 4 ist ein elektromagnetisches Ablenksystem 7 abtasten, wobei die Auflösung im wesentlichen nur
angeordnet, das zur Strahljustierung dient. Das Ge- 30 von der Kleinheit des Strahlungsempfängers 30 abrät
8 dient zur Stromversorgung des Ablenksystems 7. hängt. Zusätzlich enthält die Vorrichtung nach
Unterhalb des Systems 7 ist eine Blende 9 angeord- F i g. 3 einen Elektronenstrahloszillographen 32, desnet,
die in hier nicht dargestellter Weise in der Blen- sen Ablenksystem 26' bis 29' synchron mit dem Abdenebene
bewegt werden kann. lenksystem 26 bis 29 des Kontroll-Strahlenganges
Zur Fokussierung des Elektronenstrahls 12 auf das 35 betrieben wird. Die Intensitäts-Steuereinrichtung 33,
zu bearbeitende Werkstück 13 ist eine elektromagne- beispielsweise die Wehnelt-Elektrode des Oszillotische
Fokussierungslinse 10 vorgesehen. Die Strom- graphen 32, wird über einen Verstärker 31 vom Ausversorgung
der Linse 10 erfolgt über das Gerät 11. gangssignal des Strahlungsempfängers 30 gesteuert.
Das Werkstück 13 ist auf dem schematisch darge- Man kann auf diese Weise bei genügend rascher
stellten Kreuztisch 14 gelagert, welcher über die Kur- 40 periodischer Verschiebung des Bildes über den Empbel
15 von links nach rechts und über eine weitere, fänger 30 ein stehendes Bild des Auftreffbereichs des
hier nicht dargestellte Kurbel von vorn nach hinten Strahls 12 auf dem Schirm 34 des Oszillographen erbewegt
werden kann. halten, ohne daß man den Arbeitsstrahl 12 dabei zu
Das Bearbeitungsgerät 1 enthält eine Über- verändern braucht.
wachungsvorrichtung 20 für den Strahlauftreffbereich. 45 Die Ausführungsform nach F i g. 4 unterscheidet
In dieser Überwachungsvorrichtung wird ein Bündel sich von der Ausführungsform nach F i g. 2 im weder
vom Strahlauftreffbereich ausgehenden reflektier- sentlichen dadurch, daß zwischen dem Abbildungsten
Elektronenstrahlen 16 in einem Kontroll-Strah- system 23 und dem Strahlungsempfänger 38 eine
lengang zur Abbildung des Strahlauftreffbereichs auf Nachbeschleunigungsstrecke mit zwei Nachbeschleueinen
Strahlungsempfänger verwendet. Der Kontroll- 5° nigungselektroden 35, 36 vorgesehen ist. Als Strah-Strahlengang
enthält ein Abbildungssystem mit zwei lungsempfanger 38 dient hier wieder ein fotoelek-Abbildungseinheiten
oder Linsen 17 und 18, die ein irischer Empfänger, der vor einem Leuchtschirm 37
Bild des Strahlauftreffbereichs auf einem Strahlungs- angeordnet ist; der Leuchtschirm ist in bekannter
empfänger 19 erzeugen. Am Ort des ersten Zwischen- Weise mit einer dünnen Metallfolie versehen, die mit
bildes ist eine feine Blende 50' angeordnet, welche 55 der Nachbeschleunigungselektrode 36 verbunden ist.
dafür sorgt, daß nur reflektierte Elektronen einer be- Die Nachbeschleunigungsspannung wird in einem
stimmten Geschwindigkeit zum Strahlungsempfänger Generator 39 erzeugt.
19 gelangen. Hinter der Linse 18 wird mit Hilfe eines F i g. 5 erläutert schematisch eine Vorrichtung zur
schematisch angedeuteten Ablenkfeldes 21 der Kon- Überwachung des Strahlauftreffbereichs in Geräten
troIl-Strahlengang geknickt. Dadurch wird der Emp- 60 zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahfänger
19 vor Bedampfung geschützt. Der Empfän- len; im folgenden wird angenommen, daß es sich bei
ger 19 ist etwas kleiner als das bei gewünschter opti- dem Arbeitsstrahl 12 um einen Elektronenstrahl hanmaler
Fokussierung des Elektronenstrahls 12 in der delt. Das Strahlerzeugungssystem 2, 3, 4 ist hier ge-Empfängerebene
entstehende Bild des Strahlauftreff- neigt zur Achse der als magnetische Linse dargebereichs;
der Strahlungsempfänger 19 ist ferner so 65 stellten Fokussiereinrichtung 10 angeordnet. Ein elekbeschafien,
daß er ein von dem gesamten von ihm tromagnetisches Ablenkfeld 40 dient zur Umlenkung
empfangenen Strahlungsanteil abhängiges Ausgangs- des Elektronenstrahls 12 in die Achse der Linse 10.
signal erzeugt, d. h., daß der Empfänger 19 ein über Diese fokussiert den Elektronenstrahl 12 in üblicher
Weise auf das Werkstück 13. Das durch die Linse 10 zurücklaufende Bündel der an der Strahlauftreffstelle
elastisch reflektierten Elektronen 16 wird durch das Ablenkfeld gegensinnig zum Primärstrahl 12 abgelenkt
und zu einem Strahlungsempfänger 42 geleitet. Hier wirkt also die Fokussiereinrichtung 10 gleichzeitig
als Abbildungssystem für den Kontroll-Strahlengang.
Das Ablenkfeld 40 kann auch zwischen der Linse 10 und dem Werkstück 13 angeordnet werden.
Zur Ablenkung des bearbeitenden Ladungsträgerstrahls 12 über das Werkstück 13 ist zwischen dem
Werkstück 13 und dem Ablenkfeld 40 ein steuerbares elektrostatisches Strahlablenksystem 46 angeordnet.
Bewegt man mit Hilfe dieses Strahlablenksystems den bearbeitenden Ladungsträgerstrahl 12
über das Werkstück, so bleibt das in der Ebene des Strahlungsempfängers 42 entworfene Bild des Strahlauftreffbereichs
in einer festen Lage.
Bei einer Verstellung der Fokussiereinrichtung 10 ändert sich, da diese Fokussiereinrichtung auch als
Abbildungselement für den Kontroll-Strahlengang wirkt, auch die Lage des vom Strahlauftrefibereich
entworfenen Bildes. Um dies auszugleichen, ist in dem nicht mit dem Strahlengang des bearbeitenden
Ladungsträgerstrahls 12 zusammenfallenden Abschnitt des Kontroll-Strahlenganges 16 ein zweites
steuerbares Abbildungselement 41, hier als elektromagnetische Linse dargestellt, angeordnet, und die
Steuereinrichtungen 44 und 45 der beiden Abbildungselemente 10 und 41 sind derart miteinander
gekoppelt, daß Veränderungen der Steuerung der beiden Abbildungselemente gegensinnig erfolgen. Die
Auslegung ist dabei so, daß von der Linse 10 ein Zwischenbild in der Ebene 43 entworfen wird, und
dieses Zwischenbild wird mit der Linse 41 auf den Strahlungsempfänger 42 abgebildet. Die gegensinnige
Steuerung der beiden Linsen 10 und 41 sorgt dafür, daß das auf dem Strahlungsempfänger 42, beispielsweise
einem Leuchtschirm, entworfene Bild des Strahlauftreffbereichs stets scharf erscheint.
Die Ausführungsform nach F i g. 5 hat zugleich die Funktion einer Ionenfalle, was zur Verbesserung
der Lebensdauer der Kathode beiträgt. Außerdem ist auch hier der Strahlungsempfänger 42 vor Bedampfung
geschützt.
F i g. 6 zeigt eine ähnliche Ausführungsform wie F i g. 5. Hier werden reflektierte Teilchen 74, die seitlich
des Hauptstrahls 12 durch die Linse 10 laufen, durch ein Ablenkfeld 47 abgetrennt und über ein
Abbildungssystem 48 auf den Strahlungsempfänger 49, beispielsweise einen Leuchtschirm, abgebildet.
Auch in diesem Fall bildet die Fokussierungslinse 10 das erste Abbildungselement des Abbildungssystems
im Kontroll-Strahlengang. Der Strahlungsempfänger ist auch hier vor Bedampfung geschützt.
Die F i g. 7 erläutert schematisch eine Vorrichtung zur Überwachung des Strahlauftreffbereichs in
Geräten zur Materialbearbeitung mittels Korpuskularstrahlen, mit einem Kontroll-Strahlengang für ein
Bündel der vom Strahlauftrefibereich 54 ausgehenden Teilchen- und/oder Röntgenstrahlung und einem
im Kontroll-Strahlengang angeordneten Strahlungsempfänger 55, im einfachsten Fall einem Leuchtschirm.
Die Vorrichtung enthält im Kontroll-Strahlengang eine Kante einer den Querschnitt des Kontroll-Strahlenganges
teilweise erfüllenden Blende 53. Diese Kante wird von der vom Strahlauftreffbereich
54 ausgehenden Strahlung in Form eines Schattenbildes auf den Leuchtschirm 55 abgebildet. Zwischen
der Kante 53 und dem Leuchtschirm 55 ist ein schematisch angedeutetes Ablenkfeld 56 angeordnet, das
zur Umlenkung des Kontroll-Strahlenganges dient. Durch dieses Ablenkfeld und durch die vor dem
Leuchtschirm 55 angeordneten Abschirmblenden 57 und 58 wird ein Bedampfen des Leuchtschirms verhindert.
Es ist auch möglich, das Ablenkfeld zwischen dem Werkstück 13 und der Kante 53 anzuordnen. In
diesem Fall wird auch ein Bedampfen der Kante verhindert.
Die Abbildungsschärfe der Kante 53 auf dem Leuchtschirm 55 ist ein Maß für die Ausdehnung des
Strahlauftreffbereichs 54. So ist bei optimal fokussiertem Strahl ein scharfer Hell-Dunkel-Übergang
auf dem Leuchtschirm 55 zu sehen, wogegen dieser Übergang bei einer Vergrößerung des Brennflecks
verwaschen wird.
Wird die Kante 53 durch eine kreisförmige Blende ersetzt, so entsteht auf dem Leuchtschirm 55 ein
Schattenbild dieser Blende. Der Hell-Dunkel-Ubergang
erscheint bei optimal fokussiertem Strahl 12 ebenfalls wieder scharf begrenzt. Bei einer Vergrößerung
des Strahlauftreffbereichs 54 wird der Hell-Dunkel-Übergang nur dann entlang der ganzen Peripherie
des Schattenbildes gleichmäßig auseinandergezogen, wenn die Strahlauftreffstelle kreisförmig ist.
Abweichungen von der Kreisform äußern sich in unterschiedlicher Breite des Hell-Dunkel-Überganges,
so daß in diesem Fall auch Aussagen über die Form der Strahlauftreffstelle gemacht werden können.
Das in Fig. 7 dargestellte Ablenkfeld 56 kann unter Umständen eine Störung des Schattenwurfes
hervorrufen. F i g. 8 zeigt nun eine Vorrichtung, bei welcher eine solche Störung weitgehend vermieden
wird. Die vom Strahlauftrefibereich 54 ausgehende Teilchenstrahlung 59 wird durch das zwischen den
Polschuhen 60 und 61 gebildete Magnetfeld abgelenkt und entwirft ein Schattenbild der Kante 62 auf
dem Leuchtschirm 63. Das Magnetfeld wirkt hier in Richtung der Kante 62, so daß der Kontroll-Strahlengang
um eine horizontale Achse geknickt wird. Der umgelenkte Kontroll-Strahlengang verläuft schräg
nach hinten, während die Richtung des Magnetfeldes schräg nach vorn verläuft.
Die in F i g. 9 dargestellte Vorrichtung beruht auf dem gleichen Prinzip wie die Vorrichtungen nach
den Fig. 7 und 8. Hier wird jedoch ein Bündel der vom Werkstück 13 ausgehenden Teilchenstrahlung
durch eine zweiteilige Blende in einen Kontroll-Strahlengang geführt. Die zweiteilige Blende besteht
aus einem ringförmigen ersten Blendenteil 64 und einem in der Strahlenrichtung dagegen versetzten,
koaxialen scheibenförmigen zweiten Blendenteil 65, dessen Durchmesser im Verhältnis zum Lochdurchmesser
des ersten Blendenteils, zum gegenseitigen Abstand der beiden Blendenteile und zum Abstand
des ersten Blendenteils vom Strahlauftrefibereich so gewählt ist, daß bei optimaler Fokussierung des bearbeitenden
Korpuskularstrahls der am Ende des Kontroll-Strahlenganges angeordnete Strahlungsempfänger
66, 67 gerade keine Einstrahlung mehr empfängt. Als Strahlungsempfänger dient hier eine
Kombination aus einem Leuchtschirm 66 und einem fotoelektrischen Empfänger 67, dessen Anzeigegerät
in der Figur nicht dargestellt ist. Ist der bearbeitende Strahl 12 — wie mit ausgezogenen Linien dar-
909529/152
gestellt — optimal fokussiert, so läßt sich eine Einstellung
der Blenden 64 und 65 realisieren, bei der der Leuchtschirm 66 dunkel bleibt. Bei einer — gestrichelt
gezeichneten — Defokussierung des Strahls 12 erscheint dann auf dem Leuchtschirm 66 ein
heller Kreisring, dessen Gesamthelligkeit vom Fokussierungszustand des bearbeitenden Strahls 12 abhängig
ist. Die Anzeige des an den fotoelektrischen Empfänger 67 angeschlossenen Anzeigegeräts ist also
ein Maß für den Fokussierungszustand. Der Empfänger 61 kann auch in einfacher Weise dazu verwendet
werden, um die optimale Strahlfokussierung automatisch zu erreichen. Eine solche Vorrichtung
ist in Fig. 10 schematisch dargestellt. Bei dieser Vorrichtung ist der Kontroll-Strahlengang bei 68 angedeutet.
Vor dem Leuchtschirm 69 am Ende des Kontroll-Strahlenganges ist ein kleiner fotoelektrischer
Empfänger 70 angeordnet, der nur den zentralen Bereich des Leuchtschirmbildes erfaßt. Dieser
Empfänger speist einen Verstärker 71, der wiederum ao
mit einem Gerät 72 in Verbindung steht, das immer dann einen Schaltimpuls liefert, wenn das vom Empfänger
70 gelieferte Signal einen maximalen Wert erreicht. Das von dem Gerät 72 gesteuerte Gerät 73
beeinflußt das für den Fokussierungszustand der Linse 10 verantwortliche Linsenstromgerät 11 in der
Weise, daß der durch die Fokussierungslinse 10 fließende Strom periodisch verändert wird. Dadurch
wird auch die Größe der Strahlauftreffstelle auf dem Werkstück 13 periodisch verändert. Bei dieser Veränderung
durchläuft der Brennfleck den Zustand der optimalen Fokussierung, und in diesem Moment
wird vom Gerät 72 ein Schaltimpuls geliefert, welcher das Gerät 73 außer Tätigkeit setzt und damit
den in diesem Moment durch die Fokussierungslinse 10 fließenden Strom festhält. Es stellt sich also automatisch
ein Brennfleck kleinster Abmessungen ein. Es ist auch möglich, statt eines Leuchtschirms 69
direkt einen fotoelektrischen Empfänger zu verwenden.
Claims (13)
1. Vorrichtung zur Überwachung des Strahlauftreffbereichs in Geräten zur Materialbearbeitung
mittels Korpuskularstrahlen mit einem Kontroll-Strahlengang für ein Bündel der von dem
Strahlauftreffbereich ausgehenden Teilchen- und/ oder Röntgenstrahlung, wobei der Kontroll-Strahlengang
ein Abbildungssystem zur Abbildung des Strahlauftreffbereichs sowie einen im Bildbereich des Abbildungssystems angeordneten
Strahlungsempfänger aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die wirksame Fläche des
Strahlungsempfängers (30; 70) kleiner ist als die Fläche des bei optimaler Fokussierung des bearbeitenden
Korpuskularstrahls (12) vom Abbildungssystem (23, 68) erzeugten Bildes des
Strahlauftreffbereichs (13) und daß der Strahlungsempfänger ein von dem gesamten von ihm
empfangenen Strahlungsanteil abhängiges Ausgangssignal erzeugt (Fig. 2, 3 und 10).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontroll-Strahlengang ein
Strahlablenksystem (26 bis 29) zum Verschieben des Bildes relativ zum Strahlungsempfänger (30)
aufweist (F i g. 3).
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch einen Elektronenstrahloszillographen
(32), der ein synchron mit dem Ablenksystem (26 bis 29) des Kontroll-Strahlenganges betriebenes
Ablenksystem (26' bis 29') und eine vom Ausgangssignal des Strahlungsempfängers (30)
gesteuerte Intensitäts-Steuereinrichtung (33) aufweist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich
bekannter Weise der Kontroll-Strahlengang eine mit Hilfe eines Ablenkfeldes (25) erzeugte Krümmung
aufweist (F i g. 2 und 3).
5. Vorrichtung zur Überwachung des Strahlauftreffbereichs in Geräten zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahlen mit einem
Kontroll-Strahlengang für ein Bündel der von dem Strahlenauftreffbereich ausgehenden Ladungsträgerstrahlung,
wobei der Kontroll-Strahlengang ein Abbildungssystem zur Abbildung des Strahlauftreffbereichs sowie einen im
Bildbereich des Abbildungssystems angeordneten Strahlungsempfänger aufweist und in einem zwischen
dem Bearbeitungsbereich und einem magnetischen Ablenkfeld verlaufenden Abschnitt
mit dem Strahlengang des bearbeitenden Ladungsträgerstrahls zusammenfällt, dadurch gekennzeichnet,
daß in dem zwischen dem Strahlauftreffbereich (13) und dem Ablenkfeld (40) verlaufenden Abschnitt des Strahlenganges ein
steuerbares elektrostatisches Strahlenablenksystem (46) angeordnet ist (Fig. 5 und 6).
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise
in dem zwischen dem Strahlauftreffbereich (13) und dem magnetischen Ablenkfeld (40) verlaufenden
Abschnitt des Strahlenganges eine steuerbare Fokussiereinrichtung (10) für den bearbeitenden
Ladungsträgerstrahl vorgesehen ist, die gleichzeitig ein erstes steuerbares Abbildungselement des Abbildungssystems bildet, daß in
dem nicht mit dem Strahlengang des bearbeitenden Ladungsträgerstrahls zusammenfallenden Abschnitt
des Kontroll-Strahlenganges (16) ein zweites steuerbares Abbildungselement (41) angeordnet
ist und daß die Steuereinrichtungen (44, 45) der beiden Abbildungselemente (10, 41) derart
miteinander gekoppelt sind, daß die Veränderungen der Steuerung der beiden Abbildungselemente gegensinnig erfolgen (F i g. 5).
7. Vorrichtung zur Überwachung des Strahlauftreffbereiches
in Geräten zur Materialbearbeitung mittels Korpuskularstrahlen mit einem Kontroll-Strahlengang für ein Bündel der vom
Strahlauftreffbereich ausgehenden Teilchen- und/ oder Röntgenstrahlung und einem im Kontroll-Strahlengang
angeordneten Strahlungsempfänger, dadurch gekennzeichnet, daß im Kontroll-Strahlengang
wenigstens eine Kante einer den Querschnitt des Kontroll-Strahlenganges teilweise
erfüllenden Blende (53; 62; 64, 65) vorgesehen ist, deren Abbildungsschärfe auf dem Strahlungsempfänger
(55; 63; 67) ein Maß für die Ausdehnung des Strahlauftreffbereichs ist (Fig. 7
bis 9).
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß sie eine zweiteilige Blende mit einem ringförmigen ersten Blendenteil (64) und
einem in der Strahlenrichtung dagegen versetzten, koaxialen scheibenförmigen zweiten Blendenteil
(65) aufweist, dessen Durchmesser im Verhältnis zum Lochdurchmesser des ersten Blendenteils
(64), zum gegenseitigen Abstand der beiden Blendenteile (64,65) und zumAbstand des ersten
Blendenteils vom Strahlauftreffbereich so gewählt ist, daß bei optimaler Fokussierung des bearbeitenden
Korpuskularstrahls der Strahlungsempfänger gerade keine Einstrahlung mehr empfängt
(Fig. 9).
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende in Strahlrichtung
verstellbar ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche? 15 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Strah-
lungsempfänger in an sich bekannter Weise einen Leuchtschirm (55; 63; 66) aufweist.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche? bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsempfänger
in an sich bekannter Weise einen fotoelektrischen Empfänger (67) aufweist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich
bekannter Weise der Kontroll-Strahlengang eine mit Hilfe eines Ablenkfeldes (56; 60) erzeugte
Krümmung aufweist (F i g. 7 und 8).
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß im Kontroll-Strahlengang
in an sich bekannter Weise eine Nachbeschleunigungsstrecke (35, 36) vorgesehen ist (Fig. 4).
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEST22453A DE1299498B (de) | 1964-07-24 | 1964-07-24 | Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraeten |
| GB30773/65A GB1105115A (en) | 1964-07-24 | 1965-07-20 | Improvements in and relating to the observation of the impact spot of a charged particle beam for machining of a workpiece |
| FR25924A FR1464629A (fr) | 1964-07-24 | 1965-07-24 | Procédé et dispositif de réglage des dimensions et de la forme de la zone d'incidence du faisceau dans des appareils à faisceau de corpuscules |
| JP40044507A JPS498999B1 (de) | 1964-07-24 | 1965-07-24 | |
| US804342*A US3601575A (en) | 1964-07-24 | 1969-01-24 | Method and apparatus for viewing the impact spot of a charge carrier beam |
| US4221A US3601577A (en) | 1964-07-24 | 1970-01-20 | Method and apparatus for viewing the impact spot of a charge carrier beam |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DEST22453A DE1299498B (de) | 1964-07-24 | 1964-07-24 | Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraeten |
| US422170A | 1970-01-20 | 1970-01-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE1299498B true DE1299498B (de) | 1969-07-17 |
Family
ID=25994259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DEST22453A Withdrawn DE1299498B (de) | 1964-07-24 | 1964-07-24 | Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraeten |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US3601575A (de) |
| JP (1) | JPS498999B1 (de) |
| DE (1) | DE1299498B (de) |
| GB (1) | GB1105115A (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4549067A (en) * | 1982-11-04 | 1985-10-22 | Dr. Ing. Rudolf Hell Gmbh | Method for checking printing form surfaces engraved by means of an electron beam |
| EP0184680A1 (de) * | 1984-11-19 | 1986-06-18 | Leybold Aktiengesellschaft | Einrichtung zum Erkennen der Auftreffstelle eines Ladungsträgerstrahls auf einem Target |
| EP0222219A3 (en) * | 1985-11-02 | 1989-01-11 | Leybold Aktiengesellschaft | Device for the bombardment of a medium with an electron beam |
| DE3902274A1 (de) * | 1989-01-26 | 1990-08-02 | Leybold Ag | Einrichtung zum erkennen der auftreffstelle eines ladungstraegerstrahls auf einem target |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| LU61048A1 (de) * | 1970-06-02 | 1971-08-13 | ||
| US3835327A (en) * | 1972-05-08 | 1974-09-10 | United Aircraft Corp | Triode electron gun for electron beam machines |
| JPS5674382A (en) * | 1979-11-19 | 1981-06-19 | Hitachi Ltd | Electron beam welding device |
| JPS6065197U (ja) * | 1983-10-13 | 1985-05-09 | 荒木 作男 | 潜水用器具 |
| US4570070A (en) * | 1984-06-12 | 1986-02-11 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Ion-beam monitor |
| DE3732880C1 (de) * | 1987-09-30 | 1988-12-08 | Leybold Ag | Verfahren zum Nachfuehren eines Elektronenstrahls entlang der Stossfuge zweier zu verschweissender Werkstuecke beim Elektronenstrahlschweissen |
| JP3830591B2 (ja) * | 1996-11-05 | 2006-10-04 | 株式会社小松製作所 | レーザ装置 |
| WO2011034985A1 (en) | 2009-09-17 | 2011-03-24 | Sciaky, Inc. | Electron beam layer manufacturing |
| WO2011123195A1 (en) | 2010-03-31 | 2011-10-06 | Sciaky, Inc. | Raster methodology, apparatus and system for electron beam layer manufacturing using closed loop control |
| US10048043B2 (en) | 2016-07-12 | 2018-08-14 | Paul Rahmanian | Target carrier with virtual targets |
| UA113607C2 (xx) * | 2016-10-31 | 2017-02-10 | Електронно-променевий прожектор з лінійним термокатодом |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB511204A (en) * | 1937-02-18 | 1939-08-15 | Manfred Von Ardenne | Improvements in electron microscopes |
| DE692336C (de) * | 1934-12-07 | 1940-06-18 | Bodo V Borries Dr Ing | Verfahren zur Abbildung von Flaechen mittels Korpuskularstrahlen |
| DE1014245B (de) * | 1951-07-13 | 1957-08-22 | Leitz Ernst Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Abbilden von elektrischen Potentialfeldern |
| US2894160A (en) * | 1954-09-09 | 1959-07-07 | Sheldon Edward Emanuel | Electron microscopes |
| DE1133841B (de) * | 1957-09-11 | 1962-07-26 | Leitz Ernst Gmbh | Elektronenmikroskop zur direkten Abbildung von Oberflaechen durch Sekundaerelektronen, Verfahren zur Untersuchung von Nichtleitern oder Halbleitern und Anordnung zur Durchfuehrung des Verfahrens |
| FR1308086A (fr) * | 1961-07-10 | 1962-11-03 | Formeur de faisceau d'électrons et appareils comportant un tel forment | |
| FR1347111A (fr) * | 1961-11-18 | 1963-12-27 | Zeiss Carl | Procédé et appareillage pour la focalisation automatique du faisceau de particules électrisées dans les instruments destinés au travail d'un matériau au moyen d'un faisceau de particules électrisées |
| FR1353054A (fr) * | 1963-01-12 | 1964-02-21 | Alsacienne D Electronique Et D | Procédé de soudage par bombardement électronique |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL94844C (de) * | 1938-08-18 | 1900-01-01 | ||
| US2561988A (en) * | 1949-06-30 | 1951-07-24 | Westinghouse Electric Corp | Electron diffraction detector system |
| US2901627A (en) * | 1953-02-19 | 1959-08-25 | Leitz Ernst Gmbh | Method of and apparatus for the electronic magnification of objects |
| US3049618A (en) * | 1959-05-13 | 1962-08-14 | Commissariat Energie Atomique | Methods and devices for performing spectrum analysis, in particular in the far ultraviolet region |
| US3143651A (en) * | 1961-02-23 | 1964-08-04 | American Science & Eng Inc | X-ray reflection collimator adapted to focus x-radiation directly on a detector |
| NL270945A (de) * | 1961-03-02 | |||
| NL294850A (de) * | 1962-07-05 | |||
| US3158733A (en) * | 1962-09-12 | 1964-11-24 | Nat Res Corp | Focus control for electron beam heating |
| US3196246A (en) * | 1962-11-29 | 1965-07-20 | Rca Corp | Means for observing a workpiece in electron beam machining apparatus |
| DE1225775B (de) * | 1963-03-23 | 1966-09-29 | United Aircraft Corp | Verfahren und Einrichtung zur Bearbeitung eines Werkstueckes mittels eines Ladungstraegerstrahles |
| US3221133A (en) * | 1963-04-02 | 1965-11-30 | Japan Electron Optics Lab Co L | Electron microscope with means for treating and observing specimens |
| GB1065060A (en) * | 1963-04-19 | 1967-04-12 | United Aircraft Corp | Improvements in and relating to apparatus for working articles with energised beams |
-
1964
- 1964-07-24 DE DEST22453A patent/DE1299498B/de not_active Withdrawn
-
1965
- 1965-07-20 GB GB30773/65A patent/GB1105115A/en not_active Expired
- 1965-07-24 JP JP40044507A patent/JPS498999B1/ja active Pending
-
1969
- 1969-01-24 US US804342*A patent/US3601575A/en not_active Expired - Lifetime
-
1970
- 1970-01-20 US US4221A patent/US3601577A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE692336C (de) * | 1934-12-07 | 1940-06-18 | Bodo V Borries Dr Ing | Verfahren zur Abbildung von Flaechen mittels Korpuskularstrahlen |
| GB511204A (en) * | 1937-02-18 | 1939-08-15 | Manfred Von Ardenne | Improvements in electron microscopes |
| DE1014245B (de) * | 1951-07-13 | 1957-08-22 | Leitz Ernst Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Abbilden von elektrischen Potentialfeldern |
| US2894160A (en) * | 1954-09-09 | 1959-07-07 | Sheldon Edward Emanuel | Electron microscopes |
| DE1133841B (de) * | 1957-09-11 | 1962-07-26 | Leitz Ernst Gmbh | Elektronenmikroskop zur direkten Abbildung von Oberflaechen durch Sekundaerelektronen, Verfahren zur Untersuchung von Nichtleitern oder Halbleitern und Anordnung zur Durchfuehrung des Verfahrens |
| FR1308086A (fr) * | 1961-07-10 | 1962-11-03 | Formeur de faisceau d'électrons et appareils comportant un tel forment | |
| FR1347111A (fr) * | 1961-11-18 | 1963-12-27 | Zeiss Carl | Procédé et appareillage pour la focalisation automatique du faisceau de particules électrisées dans les instruments destinés au travail d'un matériau au moyen d'un faisceau de particules électrisées |
| FR1353054A (fr) * | 1963-01-12 | 1964-02-21 | Alsacienne D Electronique Et D | Procédé de soudage par bombardement électronique |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4549067A (en) * | 1982-11-04 | 1985-10-22 | Dr. Ing. Rudolf Hell Gmbh | Method for checking printing form surfaces engraved by means of an electron beam |
| EP0184680A1 (de) * | 1984-11-19 | 1986-06-18 | Leybold Aktiengesellschaft | Einrichtung zum Erkennen der Auftreffstelle eines Ladungsträgerstrahls auf einem Target |
| EP0222219A3 (en) * | 1985-11-02 | 1989-01-11 | Leybold Aktiengesellschaft | Device for the bombardment of a medium with an electron beam |
| DE3902274A1 (de) * | 1989-01-26 | 1990-08-02 | Leybold Ag | Einrichtung zum erkennen der auftreffstelle eines ladungstraegerstrahls auf einem target |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US3601575A (en) | 1971-08-24 |
| US3601577A (en) | 1971-08-24 |
| GB1105115A (en) | 1968-03-06 |
| JPS498999B1 (de) | 1974-03-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE60007852T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zum verlängern der lebenszeit einer röntgenanode | |
| DE2702445C3 (de) | Korpuskularstrahloptisches Gerät zur verkleinernden Abbildung einer Maske auf ein zu bestrahlendes Präparat | |
| DE1099659B (de) | Abschirmvorrichtung | |
| DE3923899A1 (de) | Verfahren fuer die regelung der auftreffpositionen von mehreren elektronenstrahlen auf ein schmelzbad | |
| DE3924605A1 (de) | Rasterelektronenmikroskop | |
| DE10156275A1 (de) | Detektoranordnung und Detektionsverfahren | |
| EP0184680A1 (de) | Einrichtung zum Erkennen der Auftreffstelle eines Ladungsträgerstrahls auf einem Target | |
| DE1196806B (de) | Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl | |
| DE3825103A1 (de) | Verfahren zum beleuchten eines objektes in einem transmissions-elektronenmikroskop | |
| DE2246404C3 (de) | Raster-Elektronenmikroskop | |
| DE1133841B (de) | Elektronenmikroskop zur direkten Abbildung von Oberflaechen durch Sekundaerelektronen, Verfahren zur Untersuchung von Nichtleitern oder Halbleitern und Anordnung zur Durchfuehrung des Verfahrens | |
| EP0401658B1 (de) | Rastertunnelmikroskop mit Einrichtungen zur Erfassung von von der Probe herkommender Elektronen | |
| DE3902274C2 (de) | Einrichtung zum Erkennen der Auftreffstelle eines Ladungsträgerstrahls auf einem Target | |
| DE2043749C3 (de) | Raster-Korpuskularstrahlmikroskop | |
| DE1514981B1 (de) | Vorrichtung zum Bearbeiten von Werkstoffen mittels eines Elektronenstrahls | |
| DE2161027C3 (de) | Elektronenstrahlerzeuger mit einer durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Kathode | |
| DE3418394C2 (de) | Bildaufnahme- und Bildverarbeitungsverfahren sowie -vorrichtungen für in Fluggeräten mitgeführte Videokameras | |
| DE2627632A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur nichtthermischen elektronenstrahlbearbeitung | |
| DE2815478A1 (de) | Strahlerzeugungssystem fuer ein technisches ladungstraegerstrahlgeraet | |
| DE2702448A1 (de) | Verfahren zur positionierung eines mit einer marke versehenen werkstueckes relativ zu einem abtastfeld bzw. zu einer maske | |
| DE3037230C2 (de) | Elektronenoptik für eine Elektronenstrahlschweißmaschine | |
| DE2844868C2 (de) | Vorrichtung mit einer Kameraröhre | |
| DE1514981C (de) | Vorrichtung zum Bearbeiten von Werkstoffen mittels eines Elektronenstrahls | |
| DE69632648T2 (de) | Hochtemperatur-Probentisch und Detektor für Rasterelektronenmikroskop unter kontrollierter Umgebung | |
| DD210935A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur schmelzzonenueberwachung beim zonenfloatingprozess |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |