DE19528590C2 - Vorrichtung zur Temperaturmessung - Google Patents
Vorrichtung zur TemperaturmessungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Temperatur
messung entsprechend dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Derartige, aus der Praxis bekannte Vorrichtungen zur
berührungslosen Temperaturmessung enthalten einen De
tektor zum Empfang einer von einem Meßfleck auf einem
Meßobjekt ausgehenden Wärmestrahlung, ein optisches Sy
stem zur Abbildung der vom Meßfleck ausgehenden Wärme
strahlung auf den Detektor sowie eine Visiereinrichtung
zur Kennzeichnung der Lage und Größe des Meßflecks auf
dem Meßobjekt mittels sichtbarem Licht. Mit dem Detek
tor steht ferner eine weiterverarbeitende Einrichtung
in Verbindung, die das Detektorsignal in eine Tempera
turanzeige umrechnet.
Das optische System wird dabei so ausgestaltet, daß in
einer bestimmten Meßentfernung zu einem großen Teil nur
Wärmestrahlung von einer bestimmten Fläche des Meßob
jekts, nämlich dem sog. Meßfleck, auf den Detektor fo
kussiert wird. In den meisten Fällen wird die Größe des
Meßfleckes durch die Fläche definiert, aus der 90% der
auf den Detektor fokussierten Wärmestrahlen treffen. Es
sind jedoch auch Anwendungsfälle bekannt, bei denen man
sich auf Werte zwischen 50% und 100% bezieht.
Der Verlauf der Abhängigkeit der Größe des Meßfleckes
von der Meßentfernung hängt von der Gestaltung des op
tischen Systems ab. Man unterscheidet grundsätzlich
zwischen Fernfokussierung und Nahfokussierung. Bei der
Fernfokussierung bildet das optische System den Detek
tor ins Unendliche und bei der Nahfokussierung auf die
Fokusebene ab. Im Falle der Fernfokussierung hat man es
mit einem linear mit der Meßentfernung wachsenden Meß
fleck zu tun, bei der Nahfokussierung wird der Meßfleck
sich zunächst mit der Meßentfernung verkleinern und
nach der Fokusebene wieder vergrößern, falls die freie
Apertur der Optik größer ist als der Meßfleck in der
Fokusebene. Ist der Meßfleck in der Fokusebene größer
als die freie Apertur des optischen Systems, vergrößert
sich der Meßfleck mit der Meßentfernung auch vor der
Fokusebene. Nur der Anstieg der Meßfleckgröße ist vor
der Fokusebene geringer als danach.
Aus der DE 36 03 464 A1 ist eine Vorrichtung zur Tempe
raturmessung bekannt, enthaltend einen Detektor, ein
optisches System sowie eine Visiereinrichtung.
Diese
Visiereinrichtung weist eine Lichtquelle auf, deren
Lichtstrahlung über diverse Bauteile in Richtung des
Meßobjekts reflektiert wird. Mit dieser Visiereinrich
tung können insbesondere dunkle, nicht glühende Meßob
jekte angeleuchtet und damit anvisiert werden. Somit
läßt sich mit Hilfe dieser Lichtstrahlung die Lage des
Meßflecks am Meßobjekt kennzeichnen.
In der JP 63-145 929 in Patents Abstracts of Japan, Vol. 12/No. 408, 28. Okt. 1988, P-778 wird eine Vorrichtung zur Messung
der Temperatur eines Objekts beschrieben, die ein opti
sches System zur Abbildung der vom Meßfleck ausgehenden
Wärmestrahlung auf einen Detektor aufweist. Dieses op
tische System ist als Linse ausgebildet, die in der
Mitte eine Bohrung aufweist, durch die parallele Licht
strahlen auf das Objekt zur Kennzeichnung des Meßflecks
gerichtet werden.
Die US 5,172,978 betrifft eine Vorrichtung zur Tempera
turmessung, bei der zur Sichtbarmachung des Meßflecks
Lichtstrahlen über eine Linse im Meßfleck fokussiert
werden.
In der Vergangenheit wurden verschiedene Versuche ge
macht, die Lage und Größe des an sich unsichtbaren Meß
fleckes durch Beleuchtung sichtbar zu machen. Eine Vor
richtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1 ist aus
der JP-A-57-22521 bekannt, bei der eine Vielzahl von
Strahlen, die von mehreren Lichtquellen stammen, ent
lang den Randstrahlen eines fernfokussierten optischen
Systems auf das Meßobjekt gerichtet werden. Auf diese
Weise kann die Größe und Lage des Meßflecks für ein
fernfokussiertes System durch eine ringförmige Anord
nung von beleuchteten Punkten um den Meßfleck herum
sichtbar gemacht werden.
US 5,368,392 beschreibt verschiedene Methoden zum
Ummalen von Meßflecken durch Laserstrahlen. Dazu gehört
die mechanische Ablenkung von einem oder mehreren
Laserstrahlen sowie die Aufspaltung eines Laserstrahls
durch einen Strahlteiler oder eine Faseroptik in meh
rere Einzelstrahlen, die den Meßfleck umgeben.
Aus der Praxis ist ferner ein Visiersystem bekannt, das
zwei Laserstrahlen zur Beschreibung der Meßfleckgröße
benutzt. Dieses System benutzt zwei divergierende vom
Rand des optischen Systems ausgehende Strahlen zur Cha
rakterisierung eines fernfokussierten Systems und zwei
sich im Fokuspunkt kreuzende Laserstrahlen zur Charak
terisierung eines nahfokussierten optischen Systems.
Alle bekannten Visiereinrichtungen sind entweder nur
für eine bestimmte Meßentfernung brauchbar oder erfor
dern einen relativ hohen Justageaufwand und sind oft
mals sehr teuer.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die
Vorrichtung zur Temperaturmessung gemäß dem Oberbegriff
des Anspruches 1 dahingehend weiterzuentwickeln, daß
eine einfache, entfernungsunabhängige Kennzeichnung der
Lage und Größe des Meßfleckes ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das kennzei
chenende Merkmal des Anspruches 1 gelöst, in dem die
Visiereinrichtung eine diffraktive Optik zur Erzeugung
einer Lichtintensitätsverteilung aufweist, mit der die
Lage und Größe des Meßflecks auf dem Meßobjekt sichtbar
gemacht werden kann.
Eine diffraktive Optik ist ein optisches Element, des
sen Funktion hauptsächlich auf der Beugung von Licht
wellen beruht. Zur Erzeugung der Beugung sind in dem
optischen Element transversale Mikrostrukturen vorgese
hen, die beispielsweise aus einem Oberflächenprofil
oder einem Brechungsindexprofil bestehen können. Dif
fraktive optische Elemente mit einem Oberflächenprofil
sind auch als sog. holografische Elemente bekannt. Die
Oberflächenmuster werden beispielsweise durch Belich
tung von Fotoresist-Schichten und anschließendem Ätzen
hergestellt. Ein solches Oberflächenprofil läßt sich
auch durch Galvanisieren in einen Präge-Druckstock um
wandeln, mit dem in erwärmte Plastikfolien das Holo
gramm-Profil übertragen und vervielfältigt werden kann.
Somit lassen sich preiswert aus einem Hologramm-Druck
stock viele holografische Elemente herstellen.
Das Muster der diffraktiven Optik entsteht durch Inter
ferenz einer Gegenstandswelle mit einer Referenzwelle.
Verwendet man beispielsweise als Gegenstandswelle eine
Kugelwelle und als Referenzwelle eine ebene Welle, ent
steht eine Intensitätsverteilung in der Bildebene, die
sich aus einem Punkt in der Mitte (0. Ordnung), einem
ersten intensiven Kreis (erster Ordnung) und weiteren
weniger intensiven Kreisen größerer Durchmesser (höhere
Ordnungen) zusammensetzt. Durch Ausblenden der 0-ten
und der höheren Ordnungen läßt sich ein einzelner Kreis
herausfiltern. Durch andere Gegenstandswellen läßt sich
eine Vielzahl anderer Intensitätsverteilungen herstel
len, die nachfolgend anhand einiger Ausführungsbei
spiele näher erläutert werden.
Üblicherweise liegen etwa 80% der von der Lichtquelle
ausgehenden Energie in den von der diffraktiven Optik
erzeugten Mustern. Die restliche Energie wird innerhalb
und außerhalb des Meßfleckes verteilt.
Die erzeugte Lichtintensitätsverteilung kann beispiels
weise durch eine kreisringförmige, den Meßfleck ein
schließende, oder eine kreuzförmige Markierung gebildet
werden.
Eine derartige Vorrichtung ist zudem preiswert her
stellbar und erfordert lediglich einen geringen Justa
geaufwand.
Weitere Ausgestaltung der Erfindung sind Gegenstand der
Unteransprüche und werden im folgenden anhand der Be
schreibung einiger Ausführungsbeispiele und der Zeich
nung näher erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung zur Tem
peraturmessung gemäß einem ersten Aus
führungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 2a bis 2g schmematische Darstellungen verschie
dener Lichtintensitätsverteilungen zur
Kennzeichnung der Lage und Größe des
Meßflecks,
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung zur Tem
peraturmessung gemäß einem zweiten
Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung zur Tem
peraturmessung gemäß einem dritten
Ausführungsbeispiel der Erfindung;
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer
Vorrichtung zur Tem
peraturmessung gemäß einem vierten
Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Fig. 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel einer
Vorrichtung zur Temperaturmessung, enthal
tend
- a) einen Detektor 1 zum Empfang einer von einem Meß fleck 2a eines Meßobjektes 2 ausgehenden Wärmestrah lung 3,
- b) ein optisches System 4 zur Abbildung der vom Meß fleck 2a ausgehenden Wärmestrahlung auf den Detek tor 1
- c) sowie eine Visiereinrichtung 5 zur Kennzeichnung der Lage und Größe des Meßflecks 2a auf dem Meßobjekt 2 mittels sichtbarem Licht 6.
Die Visiereinrichtung 5 besteht im wesentlichen aus ei
ner Lichtquelle 5a, einer beispielsweise durch ein ho
lografisches Element 5b gebildeten diffraktiven Optik
und einem zusätzlichen brechenden und/oder re
flektierenden optischen Element 5c. Die Lichtquelle 5a
sendet eine Referenzwelle 6a auf das holografische Ele
ment 5b, wobei ein sich kegelförmig öffnendes Holo
gramm 6b entsteht, das durch Dias optische Element 5c so
umgeformt wird, daß es eine Intensitätsverteilung 6c
bildet, die die Lage und Größe des Meßflecks 2a über
alle Meßentfernungen beschreibt.
Als Lichtquelle 5a zur Erzeugung der Referenzwelle wird
zweckmäßigerweise ein Laser verwendet. Es ist jedoch
auch möglich, eine Halbleiter-Leuchtdiode oder eine
thermische Lichtquelle einzusetzen. Bei Benutzung einer
thermischen Lichtquelle wird zweckmäßigerweise ein Fil
ter vorgesehen, um die chromatischen Fehler zu verrin
gern.
Das optische System 4 wird durch einen dichroitischen
Strahlteiler 4a und eine Infrarotlinse 4b gebildet.
Die vom Meßfleck 2a ausgehende Wärmestrahlung 3 gelangt
zunächst auf den Strahlteiler 4a der, die Wärme
strahlung, d. h. die Infrarotstrahlung, um 90° umlenkt
und der Infrarotlinse 4b zuführt.
Nachdem der Strahlungsteiler 4a zwangsläufig im Strah
lengang der Visiereinrichtung 5 liegen muß, ist dieser
als dichromatischer Strahlteiler 4a ausgebildet, der für
die vom Meßfleck 2a ausgehende Wärmestrahlung reflek
tierend und für das sichtbare Licht der Visiereinrich
tung 5 durchlässig ist.
Die Größe der zu erzeugenden Markierung hängt im we
sentlichen von zwei Parametern ab, nämlich der Meßent
fernung und der gewünschten Meßgenauigkeit. Die Meß
genauigkeit ergibt sich aus dem Prozentsatz der vom
Meßfleck ausgehenden und auf den Detektor fokussierten
Strahlen. Man kann die Fläche des Meßflecks beispiels
weise dadurch definieren, daß 90% der ausgehenden
Strahlung auf den Detektor gelangt. Je nach Anwendungs
fall kann dieser Prozentsatz jedoch auch verändert wer
den.
Um sicherzustellen, daß in jeder Meßentfernung die er
zeugte Markierung zur Kennzeichnung des Meßflecks die
richtige Größe für die gewünschte Meßgenauigkeit auf
weist, ist das optische Element 5c vorgesehen, das auf
das optische System 4 abgestimmt ist.
Die Fig. 2a bis 2g zeigen Lichtintensitätsverteilungen,
wie sie auf dem Meßobjekt 2 zur Kennzeichnung des Meß
flecks 2a hervorgerufen werden können. Die Fig. 2a bis
2d zeigen kreisringförmige Markierungen, die den Meß
fleck 2a im wesentlichen ummalen. Die Markierungen kön
nen dabei wie in den Fig. 2a und 2c als geschlossener
Kreisring 3a oder in den Fig. 2b und 2d als unterbroche
ner Kreisring 3b ausgestaltet sein. Dabei kann es auch
zweckmäßig sein, die Mitte des Meßflecks durch eine
weitere, beispielsweise punktförmige Markierung 3c dar
zustellen.
In den Fig. 2e und f sind die Lichtintensitätsverteilun
gen als kreuzförmige Markierungen 3d bzw. 3e darge
stellt. Der Kreuzungspunkt stellt dabei die Mitte und
die vier Eckpunkte die äußeren Begrenzungen des Meß
flecks 2a dar.
Eine sehr zweckmäßige Lichtintensitätsverteilung ist in
Fig. 2g in Form von mehreren konzentrischen Kreisen 3f,
3g, 3h dargestellt. Jeder Kreis stellt dabei einen Be
reich des Meßflecks 2a dar, aus dem ein bestimmter
Prozentsatz der Energie der empfangenen Wärmestrahlung
stammt. So könnte beispielsweise der innere Kreis 3f
für den Bereich des Meßflecks stehen, aus dem 90% der
Energie stammt, die auf den Detektor trifft. Der zweite
Ring 3g steht für einen Energiewert von 95% und der
dritte Ring 3h würde einem Energiewert von 99% ent
sprechen. Mit Hilfe einer derartigen Lichtintensitäts
verteilung kann der Benutzer erkennen, mit welcher Ge
nauigkeit er Meßobjekte bestimmter Größe messen kann.
In Fig. 3 ist eine weitere Vorrichtung
zur Temperaturmessung dargestellt. Dabei wurden für
gleiche Bauteile dieselben Bezugszeichen verwendet.
Dieses zweite Ausführungsbeispiel unterscheidet sich
von ersterem im wesentlichen durch seine Ausgestaltung
des optischen Systems 4 und des optischen Elementes 5'c
der Visiereinrichtung 5. Das optische Element 5'c ist
in Fig. 3 als ringförmige Linse ausgebildet und ist dem
nach zur Erzeugung einer der Lichtintensitätsvertei
lungen gemäß den Fig. 2a bis 2d ausgelegt. Die Infrarot
linse 4'b ist so angeordnet, daß sie von der ringförmi
gen Linse 5'c umgeben wird. Der Detektor 1 ist dann
zwischen holografischem Element 5b und der Infrarot
linse 4'b vorgesehen.
Eine derartige Anordnung hat den Vorteil, daß auf einen
Strahlteiler verzichtet werden kann. Man muß jedoch
eine etwas kompliziertere Befestigung des Detektors 1 in
Kauf nehmen, da hierdurch nicht das sich kegelförmig
öffnende Hologramm 6b beeinträchtigt werden darf.
In dem in Fig. 4 dargestellten dritten Ausführungsbei
spiel wird das Problem der Halterung des Detektors 1
dadurch umgangen, daß zwischen holografischem Ele
ment 5b und der Anordnung aus ringförmiger Linse 5c und
Infrarotlinse 4'b der Strahlteiler 4'a vorgesehen ist.
Die vom Meßfleck 2a ausgehende Wärmestrahlung wird so
mit zunächst von der Infrarotlinse 4'b auf den Strahl
teiler 4'a fokussiert und dort um 90° auf den Detek
tor 1 abgelenkt.
Während alle bisher beschriebenen Ausführungsbeispiele
fernfokussierte Systeme betrafen, wird in Fig. 5 ein
Ausführungsbeispiel gezeigt, bei dem der Meßfleckver
lauf eines nahfokussierten Systems mit Hilfe einer dif
fraktiven Optik sichtbar gemacht werden kann. Die Meß
ebene, d. h. das Meßobjekt 2 liegt hier direkt in der
Fokusebene des optischen Systems 4. In der Zeichnung
sind jeweils zwei das Infrarotstrahlenbündel begren
zende Strahlen 3i, 3k dargestellt. Der Strahl 3i ver
läuft vom oberen Rand der Infrarotlinse 4'b zum oberen
Rand des Meßflecks 2a bzw. vom unteren Rand der
Infrarotlinse 4'b zum unteren Rand des Meßflecks. Der
Strahl 3k verläuft hingegen zum unteren Rand der Infra
rotlinse 4'b zum oberen Rand es Meßflecks 2a bzw. vom
oberen Rand der Infrarotlinse 4'b zum unteren Rand des
Meßflecks.
Das optische Element 5'c der Visiereinrichtung 5 ist so
ausgelegt, daß zwei Intensitätskegel 6d und 6e entste
hen, die im wesentlichen dem Verlauf der Randstrahlen
3k und 3i folgen. Dabei beschreibt der Intensitätskegel
6e die Größe des Meßflecks bis zur Fokusebene und der
Intensitätskegel 6d den divergierenden Meßfleck nach
der Fokusebene.
Ein Nachteil dieser Ausführungsform besteht darin, daß
der Intensitätskegel 6d innen am Randstrahl 3k ver
läuft, während der Intensitätskegel 6e außem am Rand
strahl 3i verläuft. Durch eine andere Gestaltung des
brechenden und/oder reflektierenden optischen Ele
ments 5'c läßt sich dieser Nachteil jedoch beheben.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 5 könnte die
Lichtintensitätsverteilung zweckmäßigerweise durch zwei
kreisförmige, konzentrische Markierungen gebildet wer
den, wobei die eine kreisförmige Markierung den zwi
schen dem optischen Element 5'c und der Fokusebene lie
genden Meßfleck und die andere Markierung den - vom op
tischen Element aus gesehen - hinter der Fokusebene
liegenden Meßfleck kennzeichnet.
Claims (14)
1. Vorrichtung zur Temperaturmessung enthaltend
- a) einen Detektor (1) zum Empfang einer von einem Meßfleck (2a) auf einem Meßobjekt (2) ausgehen den Wärmestrahlung (3),
- b) ein optisches System (4) zur Abbildung der vom Meßfleck (2a) ausgehenden Wärmestrahlung (3) auf den Detektor (1)
- c) sowie eine Visiereinrichtung (5) zur Kennzeich nung der Lage und Größe des Meßflecks (2a) auf dem Meßobjekt (2) mittels sichtbarem Licht (6),
- a) die Visiereinrichtung (5) eine diffraktive Optik zur Erzeugung einer Lichtintensitätsverteilung aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Visiereinrichtung (5) ferner wenigstens ein
zusätzliches, brechendes und/oder reflektierendes
optisches Element (5c, 5'c) aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die diffraktive Optik durch ein holografisches
Element (5b) gebildet wird.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine derartige Ausgestaltung der diffraktiven Optik,
daß die Lichtintensitätsverteilung auf dem Meßobjekt
(2) eine kreisringförmige Markierung (3a; 3b) bil
det.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Lichtintensitätsverteilung durch wenigstens
zwei kreisförmige, konzentrisch zueinander angeord
nete Markierungen (3f, 3g, 3h) gebildet wird.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Lichtintensitätsverteilung zusätz
lich eine die Mitte des Meßflecks (2a) darstellende wei
tere Markierung (3c) aufweist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch
eine derartige Ausgestaltung der diffraktiven Optik,
daß die Lichtintensitätsverteilung auf dem Meßobjekt
(2) eine kreuzförmige Markierung (3d, 3e) bildet.
8. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die kreisringförmigen, konzentrischen Markierun
gen (3f, 3g, 3h) jeweils einen Bereich des Meßflecks
(2a) kennzeichnen, aus dem ein bestimmter
Prozentsatz der Energie der empfangenen
Wärmestrahlung stammt.
9. Vorrichtung nach Anspruch 2 und 5, dadurch
gekennzeichnet, daß das optische System (4) eine
Fokusebene aufweist, wobei die eine kreisförmige
Markierung den zwischen dem optischen Element (5c, 5c') und
der Fokusebene liegenden Meßfleck (2a) und die
andere Markierung den - vom optischen Element aus
gesehen - hinter der Fokusebene liegenden Meßfleck
kennzeichnet.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Visiereinrichtung (5) eine Lichtquelle (5a),
insbesondere einen Laser, zur Bestrahlung der dif
fraktiven Optik aufweist.
11. Vorrichtung anch Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß im Strahlengang der Visiereinrichtung (5) ein
Strahlteiler (4a, 4'a) angeordnet ist, der für das
sichtbare Licht (6) durchlässig ist und für die vom
Meßobjekt (2) ausgehende Wärmestrahlung (3)
reflektierend wirkt.
12. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß das optische Element (5c, 5c') als Ringlinse und das
optische System (4) als Infrarotlinse (4'b) ausge
bildet ist, wobei die Ringlinse um die Infrarotlinse
(4'b) angeordnet ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Strahlteiler (4a) zwischen optischem Element
(5c) und dem Meßobjekt (2) angeordnet ist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß der Strahlteiler (4'a) zwischen diffraktiver Op
tik und dem zusätzlichen optischen Element (5'c)
angeordnet ist.
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