DE3046509C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
gemäß dem Oberbegriff von Patentanspruch 1, auf
dem unter Anwendung von Licht, wozu UV-Strahlen, sichtbares
Licht, IR-Strahlen, Röntgen- und Gammastrahlen gehören, Ladungsbilder
erzeugt werden können.
Als Photoleiter zur Bildung der photoleitfähigen Schicht von
elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterialien sind verschiedene
anorganische Photoleiter wie z. B. Se, CdS und ZnO
sowie verschiedene organische Photoleiter wie z. B. Poly-N-vinylcarbazol
(PVK) und Trinitroflourenon (TNF) bekannt.
Ein elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial, bei dem
zur Bildung der photoleitfähigen Schicht nur Selen (Se) verwendet
wird, hat einen schmalen Bereich der spektralen Empfindlichkeit,
so daß zur Verbreiterung dieses Bereichs Tellur
(Te) und Arsen (As) zugegeben werden. Bekannte elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterialien mit einer Te und As enthaltenden
photoleitfähigen Se-Schicht sind zwar hinsichtlich
des Bereichs der spektralen Empfindlichkeit verbessert,
jedoch haben sie noch verschiedene Mängel
insofern, als aufgrund ihrer wachsenden Licht-Ermüdung
dann, wenn zum Kopieren ein und dasselbe Original
wiederholt und kontinuierlich verwendet wird, die
Bilddichte der Kopie abnimmt und Flecken am
Hintergrund (Schleierbildung auf dem weißen Hintergrund)
entstehen, oder dann, wenn zum Kopieren aufeinanderfolgend
verschiedene Originale verwendet werden,
ein Restbild des vorhergehenden
Originals wiedergegeben wird (Geisterbild-Erscheinung).
Wenn ferner das Aufzeichnungsmaterial kontinuierlich und sehr oft
einer Koronaentladung ausgesetzt wird, entsteht
in der Nähe der Schichtoberfläche an der Oberfläche
der photoleitfähigen Se-Schicht eine Kristallisation
oder Oxidation, was zur Folge hat, daß in vielen
Fällen eine Verschlechterung der elektrischen Eigenschaften
der photoleitfähigen Schicht entsteht.
Andererseits bestehen bei einem elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterial, bei dem
zur Bildung der photoleitfähigen Schicht ZnO oder
CdS verwendet wird, aufgrund dessen, daß
die photoleitfähige Schicht grundsätzlich aus einem Photoleiter
und einem Harzbindemittel gebildet wird, und aufgrund der Besonderheit des
Photoleiters, daß zur Bildung
der Schicht seine Teilchen gleichmäßig in dem Harzbindemittel
verteilt sein müssen, verschiedene Parameter,
die die elektrischen und Photoleitfähigkeits-
Eigenschaften sowie auch die physikalisch-chemischen
Eigenschaften der photoleitfähigen Schicht bestimmen.
Dementsprechend besteht der Nachteil, daß die photoleitfähige
Schicht mit den erwünschten Eigenschaften
nicht mit zufriedenstellender Reproduzierbarkeit gebildet
werden kann, falls diese verschiedenen
Parameter nicht streng und genau eingehalten werden;
daher ist die Ausbeute vermindert und die Massenfertigung
behindert.
Ferner hat die photoleitfähige Schicht mit dem
Bindemittel aufgrund der Eigenheit des in dem Bindemittel
verteilten Photoleiters einen porösen
Aufbau. Aufgrund dessen ist die photoleitfähige Schicht
beträchtlich von der Feuchtigkeit abhängig, was bei
ihrer Verwendung in sehr feuchter Atmosphäre zu Verschlechterungen
der elektrischen Eigenschaften führen
kann, so daß in vielen Fällen keine Kopie
hoher Qualität erzielbar ist.
Ferner läßt die Porosität der photoleitfähigen
Schicht während des Entwicklungsvorgangs das Eindringen
eines Entwicklers in die Schicht zu, so daß nicht nur
das Ablösen des Tonerbilds und das Entfernen restlichen
Toners erschwert wird, sondern auch eine Weiterverwendung
der Schicht unmöglich wird. Insbesondere bei Verwendung
eines Flüssigentwicklers tritt unter Beschleunigung
durch die Kapillarwirkung der Entwickler zusammen
mit seiner Trägerlösung leicht in die photoleitfähige
Schicht ein, so daß die vorstehend genannten Probleme
schwerwiegend werden.
Die bekannten elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterialien
mit organischen Photoleitern
wie PVK und TNF sind den elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterialien mit anorganischen Photoleitern hinsichtlich
ihrer Feuchtigkeitsbeständigkeit, ihrer Koronaionen-
Widerstandsfähigkeit und ihrer Reinigungseigenschaften
unterlegen; ferner haben sie eine geringe Photoempfindlichkeit,
im Bereich sichtbaren Lichts einen
engen spektralen Empfindlichkeitsbereich, eine Abweichung
zum Abschnitt kurzer Wellenlängen hin und verschiedene
andere Mängel, so daß sie nur in sehr begrenztem
Ausmaß brauchbar sind. Andererseits besteht der Verdacht,
daß einige dieser organischen Photoleiter
krebserregend sind, so daß daher also keine Sicherheit
besteht, daß die meisten dieser Photoleiter für den Menschen
völlig unschädlich sind.
Aus der DE-OS 28 55 718 ist ein elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
bekannt, das auf einem Schichtträger eine
photoleitfähige Schicht auf Basis von amorphem Silicium, das
10 bis 40 Atom-% Wasserstoffatome enthält, (nachstehend als
"a-Si:H" bezeichnet) aufweist.
Aus der DE-OS 29 08 123 ist ein elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
bekannt, das auf einem Schichtträger eine
photoleitfähige Schicht aufweist. Die photoleitfähige Schicht
ist eine Ladungserzeugungsschicht mit zwei aus verschiedenen
Arten von a-Si:H bestehenden Schichten, zwischen denen eine
Sperrschicht gebildet ist.
Das elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
mit der photoleitfähigen Schicht, die aus derartigem
a-Si:H aufgebaut ist, hat im Vergleich zu den
vorstehend erwähnten Aufzeichnungsmaterialien
verschiedene hervorragende Eigenschaften. In Abhängigkeit
von den Herstellungsbedingungen kann nämlich die photoleitfähige
Schicht entweder in p-Polarität bzw. p-Leitfähigkeit
oder n-Polarität bzw. n-Leitfähigkeit hergestellt
werden; ferner tritt durch das Aufzeichnungsmaterial
keinerlei Umgebungs-Verunreinigung auf; das Aufzeichnungsmaterial
ist aufgrund seiner großen Oberflächenhärte hervorragend
hinsichtlich seiner Abriebsfestigkeit; weiterhin
hat es eine hervorragende Widerstandsfähigkeit gegenüber
Entwickler; schließlich ist es auch hinsichtlich
anderer elektrophotographischer Eigenschaften wie der
Reinigungsfähigkeit und der Feuchtigkeitsbeständigkeit
ausgezeichnet.
Hinsichtlich der vorstehend aufgeführten verschiedenen
Gesichtspunkte hat zwar das elektrophotographische
a-Si:H-Aufzeichnungsmaterial hervorragende
elektrophotographische Eigenschaften, es sind jedoch
noch Verbesserungen notwendig, und zwar bezüglich seiner
Photoempfindlichkeit in einem praktisch anwendbaren
Lichtmengenbereich, seines q-Werts, seines Dunkelwiderstands,
seiner Wärmebeständigkeit in einem Bereich
von Temperaturen, die während der Durchführung eines Verfahrens
zur Verbesserung seiner Eigenschaften oder zum
Zusatz anderer Funktionen weitaus höher als die Temperaturen
bei der gewöhnlichen Anwendung sind und seiner
Lichtansprecheigenschaften.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein elektrophotographisches
Aufzeichnungsmaterial gemäß dem Oberbegriff von
Patentanspruch 1 oder 18 bezüglich seiner Photoempfindlichkeit
in einem praktisch anwendbaren Lichtmengenbereich,
seines γ-Wertes, seines Dunkelwiderstands, seiner Wärmebeständigkeit
(um zu ermöglichen, daß eine Behandlung zur Verbesserung
seiner Eigenschaften oder zum Hinzufügen weiterer
Funktionen bei hoher Temperatur und in einem stabilisierten
Zustand durchgeführt wird) und seiner Lichtansprecheigenschaften
zu verbessern, so daß die Erzeugung von Kopien hoher
Qualität mit klaren Halbtönen und hoher Bildauflösung ermöglicht
wird.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein elektrophotographisches
Aufzeichnungsmaterial, das auf einem Schichtträger eine photoleitfähige
Schicht auf Basis von amorphem Silicium, das gegebenenfalls
Wasserstoffatome enthält, aufweist, wobei die
photoleitfähige Schicht mit Halogenatomen dotiert ist oder
Halogenatome enthält, oder durch ein elektrographisches
Aufzeichnungsmaterial, das auf einem Schichtträger eine photoleitfähige
Schicht mit einer Innenschicht und einer Außenschicht
jeweils auf Basis von amorphem Silicium, das gegebenenfalls
Wasserstoffatome enthält, aufweist, wobei zwischen
der Innenschicht und der Außenschicht eine Sperrschicht gebildet
ist und wobei die Innenschicht aus amorphem Silicium,
das mit Halogenatomen dotiert ist oder Halogenatome enthält,
und die Außenschicht aus amorphem Silicium gebildet ist.
Die Erfindung wird nachstehend unter Bezugnahme auf die
Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 1 bis 4 sind schematische Ansichten, die
jeweils ein Ausführungsbeispiel für den
Schichtenaufbau des Aufzeichnungsmaterials
zeigen.
Fig. 5 bis 8 sind schematische Ansichten zur
Erläuterung von Ausführungsformen von
Vorrichtungen zur Herstellung des Aufzeichnungsmaterials.
Nach Fig. 1, die den typischsten Schichtenaufbau
des elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterials
zeigt, ist das Aufzeichnungsmaterial 101 aus einem
Schichtträger 102 und einer photoleitfähigen
Schicht 103 aufgebaut. Die photoleitfähige
Schicht 103 hat eine freie Oberfläche 104 als Aufzeichnungsoberfläche
und besteht aus amorphem Silicium,
das Siliciumatome der nachstehend angeführten
drei Arten (1), (2) und (3) als Matrix und (nachstehend
als "X" bezeichnete) Halogenatome
enthält. Dieses
amorphe halogenhaltige Silicium wird nachstehend vereinfacht
als "a-Si:X" bezeichnet.
Wenn die photoleitfähige Schicht 103 aus dem
a-Si:X gemäß den vorangehenden Ausführungen gebildet
ist, kann sie einen γ-Wert nahe an "1" zeigen, einen
gesteigerten Dunkelwiderstand haben, sehr empfindlich
gegenüber Licht in dem praktisch verwendbaren Lichtmengenbereich
sein und hervorragende Lichtansprecheigenschaften
annehmen. Folglich wird damit ein elektrophotographisches
Aufzeichnungsmaterial erhalten, das im
Vergleich zu dem bekannten elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterial mit einer photoleitfähigen Schicht
auf Basis von Se weit überragende elektrophotographische
Eigenschaften hat.
Da ferner die Struktur der photoleitfähigen Schicht aus a-Si:X
bis zu
einigen Hundert °C stabil ist, ist sie auch hinsichtlich
ihrer Wärmebeständigkeit hervorragend, so daß sie
zur Verbesserung ihrer Eigenschaften oder
zum Hinzufügen weiterer Funktionen oder Eigenschaften
einer Behandlung bei hohen Temperaturen unterzogen werden kann.
Die vorstehend erwähnten drei Arten von halogenhaltigem amorphem
Silicium sind folgende:
- (1) n-leitendes bzw. n-Typ-a-Si:X: Dieses enthält nur Donatoren oder sowohl Donatoren als auch Akzeptoren, wobei die Donatorkonzentration (Nd) höher ist;
- (2) p-leitendes bzw. p-Typ-a-Si:X: Dieses enthält nur Akzeptoren oder sowohl Donatoren als auch Akzeptoren, wobei die Akzeptorkonzentration (Na) höher ist; und
- (3) eigenleitendes bzw. i-Typ-a-Si:X: Bei diesem besteht die Beziehung Na ≃ Nd ≃ 0 oder Na ≃ Nd.
Als in die photoleitfähige Schicht für das Aufzeichnungsmaterial
einzubauende Halogenatome können
Fluor, Chlor, Brom und Jod erwähnt werden, wobei Fluor
und Chlor besonders vorteilhaft sind.
Die photoleitfähige Schicht aus einer der vorstehend
erwähnten drei Arten von a-Si:X kann z. B. durch Abscheidung
mittels des Glimmentladungs-Verfahrens, des Kathodenzerstäubungs-
Verfahrens, des Ionen-Plattier-Verfahrens oder
eines anderen Vakuumaufdampfverfahrens gebildet werden,
bei denen elektrische Entladungserscheinungen ausgenutzt
werden. Beispielsweise kann die photoleitfähige Schicht
aus a-Si:X nach dem Glimmentladungs-Verfahren dadurch
gebildet werden, daß in eine Abscheidungskammer, deren
Innendruck verringert werden kann, ein gasförmiges
Ausgangsmaterial für den Einbau von Halogen
zusammen mit einem gasförmigen Ausgangsmaterial, das zur Erzeugung von
Silicium befähigt ist, eingeleitet wird, in der Abscheidungskammer
eine Glimmentladung herbeigeführt wird und an einer bestimmten
Stelle in der Kammer das a-Si:X an der Oberfläche
eines Schichtträgers für das elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial geformt wird. Falls die photoleitfähige
Schicht nach dem reaktiven Kathodenzerstäubungs-
Verfahren gebildet wird, kann das gasförmige Ausgangsmaterial
für den Einbau von Halogen in eine
Kathodenzerstäubungs-Abscheidungskammer eingeleitet werden,
wenn ein aus Silicium gebildetes Target
in einer Atmosphäre aus beispielsweise
Argon (Ar), Helium (He), Neon (Ne) oder einem anderen
Edelgas oder in einem Gasgemisch,
das diese Edelgase als Grundbestandteil enthält, zerstäubt wird.
Als gasförmiges Ausgangsmaterial, das zur Erzeugung von Silicium
befähigt ist und bei der Herstellung des Aufzeichnungsmaterials
wirkungsvoll verwendet werden kann, können
verschiedene Siliciumhydride
bzw. Silane wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ und Si₄H₁₀ erwähnt
werden, die gasförmig sind oder leicht
vergast bzw. verdampft werden können. Von diesen Silanen
sind z. B. im Hinblick auf ihre leichte Handhabung bei der Herstellung
der photoleitfähigen Schicht und ihren hohen Wirkungsgrad bei der Erzeugung von
Silicium SiH₄ und Si₂H₆ besonders
geeignet.
Ein wirksames gasförmiges Ausgangsmaterial für den
Einbau des Halogens bei der Herstellung des Aufzeichnungsmaterials
wird aus verschiedenen Halogenverbindungen
wie z. B. gasförmigen Halogenen, halogenierten
Substanzen und Interhalogenverbindungen gewählt, die
gasförmig oder leicht vergasbar
sind. Ferner können als geeignetes Ausgangsmaterial zur Herstellung
des Aufzeichnungsmaterials halogenhaltige Siliciumverbindungen
verwendet werden, die das gleichzeitige Erzeugen
von Silicium und Halogen ermöglichen
und die bei normaler Temperatur und unter normalem Druck
gasförmig oder leicht vergasbar sind.
Als zur Herstellung des Aufzeichnungsmaterials
geeignete Halogenverbindungen können gasförmige Halogene
wie Fluor, Chlor, Brom und Jod, halogenierte Kohlenstoffverbindungen
wie CF₄, C₂F₆, C₃F₈, C₄F₈, i-C₄F₁₀, C₂F₄,
CCl₄ und CBr₄, Interhalogenverbindungen wie BrF, ClF,
ClF₃, BrF₅, BrF₃, IF₇, IF₅, ICl und IBr sowie andere
Verbindungen wie F₂CO, (CF₃)₂O₂, (CF₃)₂CO, SF₄ und SF₆
erwähnt werden.
Beispiele einer halogenhaltigen Siliciumverbindung
sind Siliciumhalogenide wie SiF₄, Si₂F₆, SiCl₄,
SiBr₄, SiCl₃Br, SiCl₂Br₂, SiClBr₃ und SiCl₃I. Wenn die
für das Aufzeichnungsmaterial typische photoleitfähige
Schicht nach dem Glimmentladungs-Verfahren unter Verwendung
derartiger halogenhaltiger Siliciumverbindungen
gebildet werden soll, kann die photoleitfähige a-Si:X-
Schicht auf einem vorbestimmten Schichtträger ohne Verwendung
eines gasförmigen Siliciumhydrids bzw. Silans
als gasförmiges Ausgangsmaterial für die Erzeugung von
Silicium gebildet werden. Wenn das Aufzeichnungsmaterial nach dem Glimmentladungs-
Verfahren hergestellt wird, kann auf einem
vorbestimmten Schichtträger für das Aufzeichnungsmaterial
eine a-Si:X-Schicht dadurch gebildet werden, daß in eine
Abscheidungskammer das gasförmige Silan als Ausgangsmaterial
für die Erzeugung von Silicium und die gasförmige Halogenverbindung für
den Einbau des Halogens in einem vorbestimmten Mischungsverhältnis
und mit einer vorbestimmten Durchflußleistung
eingeleitet werden, um die photoleitfähige a-Si:X-Schicht
zu bilden, und danach die Glimmentladung herbeigeführt
wird, um aus diesen Gasen ein Plasma zu bilden. Zur
Schichtbildung kann zusätzlich zu diesen Gasen ferner
die gasförmige halogenhaltige Siliciumverbindung beigemischt
werden. Jedes dieser Gase kann nicht nur für
sich, sondern auch in Form eines Gemischs aus verschiedenen
Gasarten in einem bestimmten Mischungsverhältnis verwendet
werden.
Zur Bildung der photoleitfähigen a-Si:X-Schicht
nach dem Kathodenzerstäubungs-Verfahren oder dem Ionen-
Plattier-Verfahren werden folgende Schritte angewandt:
Bei dem Kathodenzerstäubungs-Verfahren wird ein
Target aus Silicium verwendet, das
in einem Plasma aus einem vorbestimmten Gas zerstäubt
wird; bei dem Ionen-Plattier-Verfahren wird polykristallines
oder monokristallines Silicium als Dampfquelle in ein Verdampfungsschiffchen
gebracht, und dann wird die Dampfquelle
z. B. nach einem Widerstandsheizverfahren
oder einem Elektronenstrahlverfahren
erwärmt und verdampft, wonach das verdampfte
Silicium durch ein Gasplasma hindurchgeführt
wird. Zum Einbau des Halogens in die entweder
nach dem Kathodenzerstäubungs-Verfahren oder nach dem
Ionen-Plattier-Verfahren zu bildende photoleitfähige
Schicht können in die Abscheidungskammer die vorstehend
erwähnten Halogenverbindungen oder halogenhaltigen
Siliciumverbindungen in gasförmigem Zustand eingeleitet
werden, um ein Plasma bzw. eine Plasma-Atmosphäre aus
dem Gas zu bilden.
Bei dem Aufzeichnungsmaterial werden als gasförmiges Ausgangsmaterial
für den Einbau des Halogens wirksam
die vorstehend erwähnten Halogenverbindungen oder
halogenhaltigen Siliciumverbindungen verwendet. Außer
diesen Verbindungen können ferner als wirksame Ausgangsmaterialien
Halogenwasserstoffe
wie HF, HCl, HBr und HI, halogensubstituierte
Siliciumhydride bzw. halogensubstituierte Silane
wie SiH₂F₂, SiH₂Cl₂, SiHCl₃, SiH₂Br und SiHBr₃,
halogensubstituierte
Paraffin-Kohlenwasserstoffe wie CHF₃, CH₂F₂,
CH₃F, CH₃Cl, CH₃Br, CH₃I und C₂H₅Cl und andere Halogenverbindungen
erwähnt werden, die Wasserstoffatome
enthalten, wobei alle
diese Verbindungen gasförmig oder
leicht vergasbar sind.
Diese wasserstoffhaltige Halogenverbindung
können als geeignetes gasförmiges Ausgangsmaterial für den Einbau
von Wasserstoff verwendet werden, da sie den Einbau
des Halogens in die photoleitfähige Schicht
bei deren Bildung und den gleichzeitigen Einbau von
Wasserstoff in die Schicht ermöglichen, was außerordentlich
wirkungsvoll zur Steuerung der elektrischen
oder photoelektrischen Eigenschaften der photoleitfähigen
Schicht ist.
Zum Einbau von Wasserstoff in die photoleitfähige
a-Si:X-Schicht
kann neben den vorstehend angeführten Verfahren das
folgende Verfahren angewandt werden: In die Abscheidungskammer
wird zusammen mit dem Silicium oder den Siliciumverbindungen
für die Erzeugung des amorphen Siliciums
a-Si Wasserstoff oder gasförmiges Silan wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ oder
Si₄H₁₀ eingeführt, wonach eine elektrische Entladung
erfolgt. Beispielsweise kann nach dem reaktiven
Kathodenzerstäubungsverfahren die photoleitfähige a-Si:X
mit dem eingebauten Wasserstoff auf einer vorbestimmten
Fläche des Schichtträgers des Aufzeichnungsmaterials dadurch
gebildet werden, daß ein Silicium-Target verwendet
wird, das gasförmige Ausgangsmaterial für den Einbau des
Halogens und gasförmigen Wasserstoff, nötigenfalls
zusammen mit einem Edelgas wie Argon
(Ar), in die Abscheidungskammer eingeleitet
werden und dann das Silicium-Target zerstäubt wird.
Es wurde festgestellt, daß der Gehalt der Halogenatome
in der photoleitfähigen a-Si:X-Schicht 103
eine der Haupt-Einflußgrößen dafür bildet, die Verwendungsmöglichkeit
der erzeugten a-Si:X-Schicht als photoleitfähige
Schicht des Aufzeichnungsmaterials zu
steuern; daher ist der Halogengehalt eine außerordentlich
wichtige Einflußgröße.
Damit die a-Si:X-Schicht zufriedenstellend als
photoleitfähige Schicht des Aufzeichnungsmaterials
verwendbar ist, soll bei dem Aufzeichnungsmaterial
die Menge der in der a-Si:X-Schicht enthaltenen Halogenatome
normalerweise 1 bis 40 Atom-% und vorzugsweise
2 bis 20 Atom-% betragen. Der theoretische Grund für
die Notwendigkeit der Begrenzung des Gehalts an Halogenatomen in der a-Si:X-
Schicht muß noch aufgeklärt werden.
Es wurde
jedoch aus vielen Versuchsergebnissen erkannt, daß bei
der photoleitfähigen Schicht des Aufzeichnungsmaterials
bei einem außerhalb des vorstehend genannten Zahlenbereichs
liegenden Gehalt an Halogenatomen der Dunkelwiderstand
zu niedrig ist oder die Lichtempfindlichkeit
außerordentlich gering ist. Es sind daher ausreichend
Anhaltspunkte dafür gegeben, daß der vorstehend angegebene
Zahlenbereich für den Halogenatom-Gehalt eine
wesentliche Erfordernis darstellt.
Durch Verwendung eines
Ausgangsmaterials zur Bildung des amorphen Siliciums,
das aus den Siliciumhalogeniden wie SiF₄ und
Si₂F₆ ausgewählt ist, bei dem Glimmentladungs-Verfahren,
bei dem zur Bildung der photoleitfähigen
Schicht das Ausgangsmaterial aufgespalten
bzw. zerlegt wird, zugleich die Halogenatome selbsttätig
in die Schicht eingebaut werden. Um jedoch den
Einbau der Halogenatome in die Schicht wirkungsvoller
zu gestalten, kann während der Bildung der photoleitfähigen
Schicht in das System der Glimmentladungs-Vorrichtung
eine Halogenverbindung oder ein gasförmiges
halogensubstituiertes Silan eingeleitet werden. Falls
das Kathodenzerstäubungs-Verfahren angewandt wird, kann
es bei Durchführung des Zerstäubungsvorgangs mit Silicium
als Target in einer Edelgas-Atmosphäre aus z. B. Argon
(Ar) oder in einem Gasgemisch mit einem derartigen
Edelgas als Hauptbestandteil ausreichend sein, das vorstehend
erwähnte Siliciumhalogenid, ein gasförmiges
halogensubstituiertes Silan oder eine gasförmige
Halogenverbindung wie PCl₃, BCl₃, BBr₃, AsCl₅, BF₃ oder PF₃,
das auch als Fremdatom-
Dotierungsstoff gemäß nachfolgenden Ausführungen dient, einzuleiten.
Diese Halogenverbindungen ermöglichen auch bei
dem Glimmentladungs-Verfahren den gleichzeitigen Einbau
von Halogen und Fremdatomen dadurch, daß sie in die
Abscheidungskammer eingeleitet werden.
Im Verhältnis zum Halogengehalt wird der Wasserstoffgehalt
in der zu bildenden photoleitfähigen
Schicht so festgelegt,
daß eine photoleitfähige Schicht mit den erwünschten
Eigenschaften erzielt wird. Üblicherweise wird der
Wasserstoffgehalt so gesteuert, daß der Gesamtgehalt an
Wasserstoff und Halogen innerhalb des vorstehend genannten
Zahlenbereichs des Gehalts an Halogen bei dessen
alleiniger Anwendung liegt. In der Praxis ist es zweckdienlich,
wenn der Wasserstoffgehalt zweimal so hoch wie der
Halogengehalt oder niedriger, vorzugsweise gleich dem
Halogengehalt oder niedriger und am günstigsten halb so hoch
wie der Halogengehalt oder niedriger ist. Der Gesamtgehalt
an Halogen und Wasserstoff soll 40 Atom-% oder weniger
und vorzugsweise 20 Atom-% oder weniger betragen.
Zur Steuerung der Menge der Halogenatome, die
zur Erreichung des Zwecks des Aufzeichnungsmaterials
in die zu bildende photoleitfähige a-Si:X-Schicht
einzubauen sind, kann es genügen, die folgenden
Parameter zu steuern: Temperatur des Schichtträgers, auf
dem abgeschieden wird, in die Herstellungsvorrichtung einzuführende
Menge eines gasförmigen Ausgangsmaterials für den
Einbau der Halogenatome, Plasma-Dichte, Druck innerhalb
der Herstellungsvorrichtung und einige oder alle
dieser Parameter. Ferner kann die photoleitfähige Schicht
nach ihrer Bildung einer ein aktiviertes Halogen enthaltenden
Atmosphäre ausgesetzt werden. Die Temperatur
des Schichtträgers sollte normalerweise im Bereich von 100
bis 550°C und vorzugsweise im Bereich von 200 bis 500°C
liegen.
Sollen in die zu erzeugende photoleitfähige
a-Si:X-Schicht Fremdatome eindotiert werden, so können
als vorzugsweise gewählte Beispiele solche der Elemente
der Gruppe IIIA des Periodensystems, nämlich B,
Al, Ga, In, Tl usw. zur Erzielung einer p-leitenden
Schicht und solche der Elemente der Gruppe VA des
Periodensystems, nämlich N, P, Sb, Bi usw. zur
Erzielung einer n-leitenden Schicht genannt werden.
Abgesehen von diesen Fremdatomen ist es auch möglich,
eine n-leitende Schicht durch Dotieren von Lithium
(Li) durch Wärmediffusion oder Ionen-Implantation
zu bilden.
Die Menge der in die photoleitfähige a-Si:X-
Schicht einzudotierenden Fremdatome kann
in Übereinstimmung mit den gewünschten elektrischen
und optischen Eigenschaften der photoleitfähigen Schicht
festgelegt werden. Im Falle der Fremdatome aus der Gruppe
IIIA beträgt die Menge geeigneterweise 10-6 bis 10-3
Atom-% und vorzugsweise 10-5 bis 10-4 Atom-%. Im Falle
der Fremdatome der Gruppe VA beträgt die Menge
10-8 bis 10-3 Atom-% und vorzugsweise 10-8 bis
10-4 Atom-%.
Bei dem Aufzeichnungsmaterial wird die Dicke
der photoleitfähigen Schicht zur Anpassung
an den gewünschten Zweck so festgelegt, daß die
Funktion der photoleitfähigen Schicht wirkungsvoll genutzt
wird und der Anwendungszweck des Aufzeichnungsmaterials
erreicht wird. Tatsächliche Werte
für die Schichtdicke sind normalerweise 1 bis 70 µm und
vorzugsweise 2 bis 50 µm.
Bei dem in Fig. 1 gezeigten Aufzeichnungsmaterial,
bei dem die photoleitfähige Schicht 103 die freie
Oberfläche 104 hat, an der zur Ladungsbild-Erzeugung
der Ladungsvorgang herbeigeführt wird, wird zwischen
der photoleitfähigen Schicht 103 und dem Schichtträger 102
geeigneterweise eine Sperrschicht ausgebildet, die die
Wirkung hat, während des Ladevorgangs zur Ladungsbild-
Erzeugung ein Eindringen von Ladungsträgern von dem Schichtträger
102 her zu verhindern. Als Material zur Bildung einer
derartigen Sperrschicht zur Sperrung des Eindringens
von Ladungsträgern vom Schichtträger her kann entsprechend der
gewählten Art des Schichtträgers und den elektrischen Eigenschaften
der zu bildenden photoleitfähigen Schicht
irgendein geeignetes Material gewählt und angewandt
werden. Konkrete Beispiele für Materialien zur Bildung einer
derartigen Sperrschicht sind anorganische isolierende
Verbindungen wie Al₂O₃, SiO und SiO₂, organische
isolierende Verbindungen wie Polyethylen, Polycarbonat,
Polyurethan und Polyparaxylylen und Metalle wie
Au, Ir, Pt, Rh, Pd und Mo.
Der Schichtträger 102 kann elektrisch leitend oder
elektrisch isolierend sein. Beispiele für Materialien
derartiger elektrisch leitender Schichtträger sind nichtrostender
Stahl, Al, Cr, Mo, Au, Ir, Nb, Te, V, Ti, Pt und
Pd sowie Legierungen aus diesen Metallen.
Beispiele für Materialien elektrisch isolierender Schichtträger
sind Polyester, Polyethylen, Polycarbonat,
Cellulosetriacetat, Polypropylen, Polyvinylchlorid,
Polyvinylidenchlorid, Polystyrol, Polyamid und andere
Kunstharze in Form einer Folie oder Platte. Daneben
kann normalerweise Glas, Keramik oder Papier verwendet
werden. Vorzugsweise werden diese elektrisch isolierenden
Schichtträger an mindestens einer Oberflächenseite einer
Behandlung zum Leitfähigmachen unterzogen. Beispielsweise
wird im Falle von Glas dessen Oberfläche zum
Leitfähigmachen einer Behandlung mit z. B. In₂O₃, SnO₂, Al oder Au
unterzogen, während im Falle einer Polyesterfolie
oder anderer Kunstharzfolien die Oberfläche z. B. nach
dem Vakuum-Aufdampfverfahren, dem Elektronenstrahl-Aufdampfverfahren
oder dem Kathodenzerstäubungs-Verfahren
mit Al, Ag, Pb, Zn, Ni, Au, Cr, Mo, Ir, Nb, Ta, V,
Ti, Pt oder anderen Metallen behandelt wird. Andernfalls
wird der isolierende Schichtträger mit den vorstehend genannten Metallen beschichtet,
um seine Oberfläche elektrisch
leitend zu machen. Die Gestalt des Schichtträgers kann
nach Belieben bestimmt werden, beispielsweise als
Zylinder, Band oder flächige Gestalt. Für kontinuierliches
Kopieren mit hoher Geschwindigkeit
wird geeigneterweise ein Schichtträger in Form eines endlosen Bands oder
eines Zylinders gewählt.
Die Dicke des Schichtträgers kann aus freiem Ermessen
so festgelegt werden, daß das gewünschte Aufzeichnungsmaterial
gebildet wird. Falls jedoch das Aufzeichnungsmaterial
biegsam sein soll, wird der Schichtträger mit der
Maßgabe, daß er seine Funktion zufriedenstellend
erfüllt, so dünn wie möglich gemacht. Im Hinblick
auf die Herstellung und die Handhabung des
Schichtträgers sowie auch auf dessen mechanische Festigkeit
sollte jedoch seine Dicke im allgemeinen mindestens 10 µm
betragen.
Das in Fig. 1 gezeigte elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial 101 ist so aufgebaut, daß die
photoleitfähige a-Si:X-Schicht 103 die freie Oberfläche
104 hat; es ist jedoch auch möglich, wie bei bestimmten
Arten von bekannten elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterialien an der Oberfläche der photoleitfähigen
a-Si:X-Schicht 103 eine Oberflächen-Deckschicht z. B. als
Schutzschicht oder elektrische Isolierschicht
auszubilden. Das Aufzeichnungsmaterial mit einer derartigen
Deckschicht ist in Fig. 2 gezeigt.
Das in Fig. 2 gezeigte elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial 201 unterscheidet sich im Aufbau
nicht wesentlich von dem in der Fig. 1 gezeigten
Aufzeichnungsmaterial 101 mit der Ausnahme, daß an einer
photoleitfähigen a-Si:X-Schicht 203 eine Oberflächen-
Deckschicht 204 ausgebildet ist. Die von der Deckschicht
204 geforderten Eigenschaften unterscheiden sich jedoch
je nach dem angewandten elektrophotographischen Verfahren.
Falls beispielsweise ein elektrophotographisches
Verfahren wie das NP-Verfahren gemäß der US-PS
36 66 363 oder 37 34 609 angewandt wird, muß die Deckschicht
204 elektrisch isolieren, bei der Durchführung
des Ladevorgangs eine ausreichende Fähigkeit zum Festhalten elektrostatischer
Ladungen haben und eine einem bestimmten
Ausmaß entsprechende Dicke oder eine größere Dicke haben.
Wenn jedoch ein elektrophotographisches Verfahren wie
beispielsweise das Carlson-Verfahren angewandt wird,
soll nach der Erzeugung des elektrostatischen
Ladungsbilds das elektrische Potential in dem
"hellen" Bereich des Ladungsbildes möglichst sehr klein sein, so
daß eine sehr dünne Deckschicht 204 notwendig
ist. Bei der Bildung der Oberflächen-Deckschicht 204
wird außer dem Erzielen der gewünschten elektrischen
Eigenschaften berücksichtigt, daß die Deckschicht keinerlei nachteilige
chemische und physikalische Wirkungen
an der photoleitfähigen Schicht 203 verursachen soll; ferner
werden die elektrischen Kontakteigenschaften und Hafteigenschaften
der photoleitfähigen Schicht 203 bezüglich
der Deckschicht 204 berücksichtigt sowie z. B.
die Feuchtigkeitsbeständigkeit, die Abriebfestigkeit und
die Reinigungseigenschaften der Deckschicht
204 in Betracht gezogen.
Typische Beispiele für geeigneterweise zur Bildung der
Oberflächen-Deckschicht anzuwendende
Materialien
204 sind: Polyethylenterephthalat, Polycarbonat, Polypropylen,
Polyvinylchlorid, Polyvinylidenchlorid,
Polyvinylalkohol, Polystyrol, Polyamid, Polytetrafluorethylen,
Polytrifluorethylenchlorid, Polyvinylfluorid,
Polyvinylidenfluorid, Copolymere von Hexafluorpropylen
und Tetrafluorethylen, Copolymere von Trifluorethylen
und Vinylidenfluorid, Polybuten, Polyvinylbutyral, Polyurethan
und andere Kunstharze, Cellulosediacetat,
-triacetat und andere Cellulose-Derivate. Diese
Kunstharze oder Cellulose-Derivate können die Form
einer Folie haben, die auf die photoleitfähige Schicht
203 geklebt wird, oder sie können flüssige Form haben
und zur Schichtbildung auf die photoleitfähige Schicht
aufgebracht werden. Die Dicke der Oberflächen-Deckschicht
204 kann nach freiem Ermessen in Abhängigkeit
von den erwünschten Eigenschaften oder der Qualität
des verwendeten Materials festgelegt werden. Üblicherweise
liegt die Dicke etwa im Bereich von 0,5 bis 70 µm.
Fig. 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel
für den Aufbau des elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterials, bei dem das Aufzeichnungsmaterial
301 aus einem Schichtträger 302 und einer photoleitfähigen
Schicht 303 gebildet ist. Die photoleitfähige Schicht
303 hat eine freie Oberfläche 304, die die Aufzeichnungsoberfläche
bildet, und einen aus a-Si:X gebildeten Bereich,
in dem eine Abreicherungs- bzw. Sperrschicht 305 liegt.
Die Sperrschicht 305 innerhalb der photoleitfähigen
Schicht 303 kann dadurch gebildet werden,
daß aus den vorstehend genannten drei a-Si:X-Arten
(1) bis (3) zwei Arten gewählt werden und diese beiden
verschiedenen Arten von a-Si:X schichtförmig miteinander
verbunden werden, um dadurch die photoleitfähige
Schicht 303 zu bilden. Im einzelnen kann die
Sperrschicht 305 beispielsweise dadurch gebildet werden,
daß auf dem Schichtträger 302 zuerst eine i-a-Si:X-
Schicht 306 mit einer vorbestimmten Schichtdicke aufgebracht
wird und dann auf diese i-a-Si:X-Schicht eine
p-a-Si:X-Schicht 307 aufgeschichtet wird, wodurch die
Sperrschicht als Übergang zwischen der eigenleitenden
bzw. i-a-Si:X-Schicht und der p-leitenden a-Si:X-
Schicht entsteht (wobei die in bezug auf die Sperrschicht
305 zum Substrat Schichtträger 302 hin liegende Schicht 306
nachstehend als Innenschicht und die in bezug auf die
Sperrschicht 305 zur freien Oberfläche 304 hin liegende
Schicht 307 nachstehend als Außenschicht bezeichnet
wird). Das heißt, die Sperrschicht 305 wird in einem
Grenzübergangsbereich zwischen der a-Si:X-Innenschicht
und der a-Si:X-Außenschicht gebildet, wenn die photoleitfähige
Schicht 303 in der Weise erzeugt wird, daß
diese beiden verschiedenen Arten von a-Si:X-Schichten
miteinander verbunden werden.
Die in Fig. 3 gezeigte, innerhalb der photoleitfähigen
Schicht 303 ausgebildete Sperrschicht 305
hat die Funktion, während des Bestrahlungsvorgangs mit
elektromagnetischen Wellen, der einer der Vorgänge zur
Erzeugung des elektrostatischen Ladungsbilds an dem
Aufzeichnungsmaterial ist, die eingestrahlten elektromagnetischen
Wellen zu absorbieren, um bewegliche Ladungsträger
zu erzeugen. Da die Sperrschicht 305 im Normalzustand
einen Mangel an freien Ladungsträgern hat, stellt sie einen
sog. eigenleitenden Halbleiter dar.
Bei dem in Fig. 3 gezeigten Aufzeichnungsmaterial
301 sind sowohl die Innenschicht 306 als auch die
Außenschicht 307, die die photoleitfähige Schicht 303
bilden, aus a-Si:X gebildet, dessen Hauptbestandteil
Silicium (Si) ist; daher ist
der Übergang (die Sperrschicht 305) ein homogener
Übergang. Somit bilden die Innenschicht 306 und die Außenschicht
307 einen guten elektrischen und optischen Übergang,
wobei die Energiebänder der Innenschicht und der
Außenschicht stoßfrei aneinander anschließen. Ferner besteht
in der Sperrschicht 305 ein geeignetes elektrisches
Feld (Diffusionspotential) (Neigung hinsichtlich
des Energiebands), das bei der Schichtbildung erzeugt
ist. Aufgrund dessen wird nicht nur der
Wirkungsgrad der Abgabe von Ladungsträgern zufriedenstellend, sondern auch die Wahrscheinlichkeit
einer Rekombination der auf diese Weise
abgegebenen Ladungsträger vermindert; das heißt, es werden
die bemerkenswerten Wirkungen erzielt, daß die Quanten-Ausbeute
ansteigt, das Ansprechen auf Licht schnell wird und die
Erzeugung von Restladungen verhindert wird.
Dementsprechend tragen in der Sperrschicht 305
gemäß dem Ausführungsbeispiel die durch Einstrahlen der
elektromagnetischen Wellen wie Licht erzeugten Ladungsträger
wirkungsvoll zur Erzeugung des elektrostatischen Ladungsbildes
bei.
Bei dem in Fig. 3 gezeigten Aufzeichnungsmaterial
wird zur wirkungsvolleren Nutzung seiner Eigenschaften
die Ladungspolarität so gewählt, daß bei der
Erzeugung des Ladungsbilds an die in der photoleitfähigen
Schicht 303 gebildete Sperrschicht 305 eine
Spannung angelegt wird, die eine Gegenvorspannung bildet,
wonach dann das Aufzeichnungsmaterial dem Ladungsvorgang an seiner
Außenschicht-Oberfläche unterzogen wird.
Es wurde festgestellt, daß der Gehalt an Halogenatomen
in der Innenschicht oder der Außenschicht eine
wichtige Einflußgröße für die Regelung der praktischen Anwendbarkeit
der auf diese Weise gebildeten photoleitfähigen
Schicht darstellt.
Bei dem Aufzeichnungsmaterial soll zu einer
zufriedenstellenden Anwendbarkeit der photoleitfähigen
Schicht in praktischer Hinsicht der Gehalt an Halogenatomen
in der Innenschicht oder der Außenschicht normalerweise
1 bis
40 Atom-% und vorzugsweise 2 bis
20 Atom-% betragen.
Wenn in der gebildeten Innenschicht oder Außenschicht
Wasserstoff enthalten ist, wird der Gehalt an
Wasserstoff in bezug auf den Halogen-Gehalt
so festgelegt, daß die erwünschten Eigenschaften
erzielbar sind. Normalerweise wird der Wasserstoff-
Gehalt innerhalb eines derartigen Zahlenbereichs
eingestellt, daß der Gesamtgehalt an Wasserstoff und Halogen
innerhalb des angegebenen Bereichs für den Gehalt
des allein verwendeten Halogens liegt. In der Praxis soll der Wasserstoff-
Gehalt im allgemeinen das Zweifache des Halogen-
Gehalts oder weniger betragen, vorzugsweise gleich dem
Halogen-Gehalt oder geringer sein und insbesondere gleich
dem halben Halogen-Gehalt sein oder weniger betragen.
In den vorstehenden Ausführungen wurde zwar
ein Beispiel beschrieben, bei dem die Innenschicht 306
und die Außenschicht 307 aus den vorstehend erwähnten
drei a-Si:X-Arten (1), (2) und (3) gebildet sind, jedoch
besteht bei dem Aufzeichnungsmaterial keine Einschränkung
auf derartige Schichten; vielmehr kann entweder
die Innenschicht 306 oder die Außenschicht 307 aus irgendeiner
der drei a-Si:X-Arten gebildet sein, während die
andere Schicht aus einem a-Si:H der im folgenden angeführten
Arten (4), (5) oder (6) aufgebaut ist, das keine
Halogenatome enthält:
- (4) n-leitendes bzw. n-a-Si:H: Dieses enthält nur Donatoren oder sowohl Donatoren als auch Akzeptoren, wobei die Donatorkonzentration Nd hoch ist;
- (5) p-leitendes bzw. p-a-Si:H: Dieses enthält nur Akzeptoren oder sowohl Donatoren als auch Akzeptoren, wobei die Akzeptorenkonzentration Na hoch ist; und
- (6) eigenleitendes bzw. i-a-Si:H: Bei diesem besteht der Zusammenhang Na ≃ Nd ≃ 0 oder Na ≃ Nd.
Der Wasserstoff kann durch folgende Vorgänge
in die zu bildende Schicht eingebaut werden: Bei
der Bildung der Schichten wird der Wasserstoff in Form
einer Siliciumverbindung wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈, Si₄H₁₀
oder anderer Silane in das Abscheidungs-System eingeleitet,
wonach diese Verbindungen z. B. durch Hitzebehandlung
bzw. Pyrolyse oder Glimmentladung aufgespalten
werden, wodurch der Wasserstoff zugleich mit dem Wachstum
der Schicht in die Schicht eingebaut wird.
Bei der Bildung einer a-Si:H-Schicht nach dem
Glimmentladungs-Verfahren wird als Ausgangsmaterial zur
Bildung der a-Si:H-Schicht gasförmiges Siliciumhydrid
bzw. Silan wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ oder Si₄H₁₀
verwendet, da in diesem Fall während des Zerlegens des gasförmigen
Silans zur Schichtbildung der Wasserstoff automatisch
in die Schicht aufgenommen wird.
Bei der Anwendung des reaktiven Kathodenzerstäubungs-
Verfahrens kann dann, wenn Silicium als
Target dem Zerstäubungsvorgang in einer Atmosphäre
aus einem inerten Gas wie z. B. Argon (Ar) oder in
einem Gasgemisch mit dem inerten bzw. Edelgas als Hauptbestandteil
unterzogen wird, gasförmiger Wasserstoff
(H₂), gasförmiges Silan wie SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ oder Si₄H₁₀
oder ein Gas wie B₂H₆ oder PH₃ eingeleitet werden,
das auch als Fremdatom-Dotierungsstoff dient.
Für eine in praktischer Hinsicht zufriedenstellende
Verwendbarkeit des elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterials mit dem Schichtenaufbau gemäß
der Darstellung in Fig. 3 soll der Wasserstoff-Gehalt
in der a-Si:H-Schicht 1 bis 40 Atom-%
und vorzugsweise 5 bis 30 Atom-%
betragen.
Zur Steuerung des Wasserstoff-Gehalts in der
a-Si:H-Schicht wird die Menge an
Ausgangsmaterial, die in das zum Einbau des Wasserstoffs
angewandte Abscheidungs-System
eingeleitet wird, oder die Temperatur des Schichtträgers
gesteuert, an dem die Schichtabscheidung erfolgt. Diejenige
Schicht, die entweder die Innenschicht 306 oder
die Außenschicht 307 bildet und nicht an der Seite der
elektromagnetischen Welleneinstrahlung liegt, nämlich
die bezüglich der Sperrschicht 305 der Einstrahlungsseite
der elektromagnetischen Wellen entgegengesetzt
liegende Schicht, hat die Funktion, die in der Sperrschicht
305 erzeugten Ladungen wirksam zu transportieren,
wobei die Schicht zugleich als diejenige
Schicht (Ladungstransportschicht) ausgebildet sein
kann, die in starkem Ausmaß zur elektrischen Kapazität
der photoleitfähigen Schicht 303 beiträgt.
Aus diesem Grund soll die vorstehend genannte
Schicht mit der Ladungstransportfunktion mit einer
Schichtdicke von im allgemeinen 0,5 bis 100 µm,
vorzugsweise im Bereich von 1 bis 50 µm
und insbesondere im Bereich von 1 bis 30 µm gebildet werden,
wobei die Wirtschaftlichkeit des Aufzeichnungsmaterials
einschließlich der Herstellungskosten und der Herstellungsdauer
in Betracht zu ziehen sind. Wenn ferner von dem
Aufzeichnungsmaterial Biegsamkeit gefordert wird,
soll diese Schicht möglichst mit einer Schichtdicke von
30 µm als obere Grenze des vorzuziehenden Bereichs
gebildet werden, obgleich die Schichtdicke mit der
Biegsamkeit der anderen Schichten und des Schichtträgers
302 in Zusammenhang gebracht werden kann.
Bezüglich des in Fig. 3 gezeigten Ausführungsbeispiels
wurden im Hinblick auf die Darlegung der
Überlegenheit der photoleitfähigen Schicht gegenüber
herkömmlichen photoleitfähigen Schichten zwei vorzugsweise
gewählte Ausführungsarten beschrieben: die eine,
bei der in Kombination als Innenschicht 306 und Außenschicht
307 Schichten aus zwei verschiedenen Arten
von a-Si:X aus den drei Arten (1) bis (3) ausgewählt sind,
wie z. B. aus dem p-Typ, dem n-Typ und dem i-Typ der
p-Typ und der n-Typ, und diese beiden Schichten miteinander
zur Bildung der photoleitfähigen Schicht 303 verbunden
sind, und die zweite, bei der eine Schicht aus
einer der drei a-Si:X-Arten (1) bis (3) und eine Schicht
aus einer der drei a-Si:H-Arten (4) bis (6) mit von der
Polarität der a-Si:X-Schicht verschiedener Polarität
gewählt werden und diese Schichten miteinander zur Bildung
der photoleitfähigen Schicht 303 verbunden werden,
nämlich der Schicht 303, in der die eine Sperrschicht
305 enthalten ist. Zusätzlich hierzu werden gleichfalls
vorteilhafte Ausführungsformen des Aufzeichnungsmaterials
in folgenden Fällen gebildet: (1) Die photoleitfähige
Schicht wird dadurch gebildet, daß Schichten
aus a-Si:X aus den Arten (1) bis (3) in der Weise gewählt
werden, daß von der Seite des Schichtträgers 302 her
die einander benachbarten Schichten wechselweise im
Typ verschieden sind, wie z. B. in der Typ-Anordnung
p-i-n, n-i-p usw., und daß dann diese drei Schichten
miteinander verbunden werden, und: (2) die photoleitfähige
Schicht wird dadurch gebildet, daß mindestens
eine Schicht in dem Dreischichten-Aufbau als eine a-Si:X-
Schicht aufgebaut wird und die übrigen Schichten als
a-Si:H-Schicht oder -Schichten gebildet wird bzw. werden,
wobei die einander benachbarten Schichten unterschiedliche
Polarität erhalten, und daß diese drei
Schichten miteinander verbunden werden. In diesen beiden
Fällen entstehen in den photoleitfähigen Schichten
zwei Sperrschichten.
Da bei den vorstehend beschriebenen beiden
Fällen zwei Sperrschichten gebildet werden und an
jede von ihnen ein starkes elektrisches Feld angelegt
werden kann, wird es möglich, insgesamt ein starkes
elektrisches Feld anzulegen, so daß daher leicht ein
hohes Oberflächenpotential erzielbar ist.
Als Schicht zum Aufbau der photoleitfähigen
Schicht des Aufzeichnungsmaterials können gemäß
den Ausführungen bezüglich der Schichten aus a-Si:X
der drei Arten (1) bis (3) die Schichten aus a-Si:H
der drei Arten (4) bis (6) dadurch gebildet werden,
daß während der Bildung der Schicht nach dem Glimmentladungs-
Verfahren oder dem reaktiven Kathodenzerstäubungs-
Verfahren eine gesteuerte Menge an n-Typ-
Fremdstoff [zur Bildung einer
a-Si:H-Schicht der Art (4)], an p-Typ-Fremdstoff
[zur Bildung einer a-Si:H-Schicht der Art (5)] oder sowohl
an n-Typ-Fremdstoff als auch an p-Typ-Fremdstoff
in die a-Si:H-Schicht dotiert wird.
Als in die a-Si:H-Schicht zu dotierende
Fremdstoffe können die Elemente der
Gruppe IIIA wie z. B. B, Al, Ga, In oder Tl
zur Bildung der p-leitenden Schicht oder die Elemente
der Gruppe VA wie z. B. N, P, As, Sb oder Bi zur Bildung
der n-leitenden Schicht verwendet werden, wie es bei der
Bildung der a-Si:X-Schichten der Fall ist.
Der Gehalt an in die a-Si:H-Schicht dotierten
Fremdatomen kann nach freiem Ermessen
entsprechend den erwünschten elektrischen und optischen
Eigenschaften festgelegt werden. Bei den Fremdatomen
aus der Gruppe IIIA liegt der Gehalt üblicherweise
im Bereich von 10-6 bis 10-3 Atom-% und vorzugsweise
im Bereich von 10-5 bis 10-4 Atom-%. Für die Fremdatome
der Gruppe VA liegt der Gehalt normalerweise im
Bereich von 10-8 bis 10-3 Atom-% und vorzugsweise im
Bereich von 10-8 bis 10-4 Atom-%.
Wenn von der Innenschicht 306 und der Außenschicht
307 in dem in Fig. 3 gezeigten Aufzeichnungsmaterial
301 eine Schicht, die
gemäß den vorangehenden Ausführungen
als Ladungstransportschicht wirkt, durch Fremdatom-
Dotierung bei ihrer Ausbildung auf n-Typ- oder p-Typ-
Polarität gebracht wird, sollte im Hinblick auf eine
Verbesserung der Ladungstransportleistung ihre Fremdatom-
Konzentration in Richtung der Schichtdicke von der Sperrschicht
305 her entweder kontinuierlich oder diskontinuierlich
verringert sein.
In diesem Fall ist es am günstigsten, wenn beispielsweise
die Fremdatom-Konzentration in dem von der
Sperrschicht 305 entfernt liegenden Schichtbereich in bezug
auf die Fremdatom-Konzentration in der Nähe des Bereichs
zur Ausbildung der Sperrschicht in einem beträchtlichen
Ausmaß verringert ist oder wenn dieser Schichtbereich
nicht mit Fremdatomen dotiert wird.
Bei dem Aufzeichnungsmaterial wie dem in Fig.
3 gezeigten elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterial,
bei dem die photoleitfähige Schicht 303 die freie
Oberfläche 304 hat, an der die Ladung für die Ladungsbild-
Erzeugung durchgeführt wird, ist es äußerst vorteilhaft,
wenn zwischen der photoleitfähigen Schicht 303 und
dem Schichtträger 302 eine weitere Sperrschicht errichtet wird, die
die gleiche Funktion wie die Sperrschicht bei dem Aufzeichnungsmaterial
nach Fig. 1 hat.
Das in Fig. 3 gezeigte Aufzeichnungsmaterial
301 ist zwar so aufgebaut, daß die photoleitfähige Schicht
303 die freie Oberfläche 304 hat, es kann jedoch auch
zweckdienlich sein, an der Oberfläche der photoleitfähigen
Schicht 303 eine Oberflächen-Deckschicht auszubilden,
wie sie schon im Zusammenhang mit Fig. 2 erläutert
wurde. Die Fig. 4 zeigt ein Aufzeichnungsmaterial, das
eine derartige Oberflächen-Deckschicht hat.
Bei dem Aufzeichnungsmaterial 401 nach Fig. 4
bestehen hinsichtlich des Aufbaus gegenüber dem in Fig.
3 gezeigten Aufzeichnungsmaterial 301 keine wesentlichen
Unterschiede mit der Ausnahme, daß an der photoleitfähigen
Schicht 403, die wie die photoleitfähige Schicht
303 nach Fig. 3 mit einer Sperrschicht 404, einer Innenschicht
405 und einer Außenschicht 406 aufgebaut ist,
eine Oberflächen-Deckschicht 407 mit einer freien Oberfläche
408 ausgebildet ist. Wie jedoch im Zusammenhang mit
Fig. 2 erläutert wurde, ändern sich die von der Oberflächen-
Deckschicht 407 geforderten Eigenschaften in Abhängigkeit
von dem angewandten elektrophotographischen
Verfahren.
In einem völlig abgedichteten Rein-Raum wurde die
in Fig. 5 gezeigte Vorrichtung installiert. Mit dieser Vorrichtung
wurde das elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
durch die nachstehend aufgeführten Verfahrensschritte
hergestellt:
Eine Aluminiumplatte mit einer Dicke von 0,2 mm
und einem Durchmesser von 5 cm, deren Oberfläche gereinigt
waren, wurde als Schichtträger 503 fest an einer Befestigungseinrichtung
504 an einer bestimmten Stelle in
einer an einem Tragtisch 500 angebrachten Glimmentladungs-
Abscheidungskammer 501 befestigt. Der Schichtträger 503 wurde
mit einer Genauigkeit von ± 0,5°C mittels einer in der Befestigungseinrichtung
504 angebrachten Heizeinrichtung 505 erwärmt.
Die Temperatur wurde mittels eines Thermoelements
(Alumel-Chromel) direkt an der Rückseite des
Schichtträgers gemessen. Nach der Überprüfung, ob alle Ventile
in dem System geschlossen worden sind, wurde ein Hauptventil
508 voll geöffnet, um die Luft aus der Abscheidungskammer
501 auszuleiten und in der Kammer ein Vakuum mit
annähernd 0,67 mPa zu errichten. Danach
wurde die Eingangsspannung der Heizeinrichtung 505 angehoben,
bis die Temperatur des Aluminium-Schichtträgers einen
konstanten Wert von 300°C erreichte, wobei die Eingangsspannung
unter Erfassung der Schichtträger-Temperatur im Ablauf
des Temperaturanstiegs verändert wurde.
Danach wurde ein Hilfsventil 510 voll geöffnet,
wonach Auslaßventile 523 und 524 sowie Einlaßventile
519 und 520 voll geöffnet wurden. Zugleich wurden damit
Durchflußmesser 515 und 516 in ihrem Inneren völlig entlüftet,
so daß sie in den Vakuum-Zustand versetzt wurden.
Nach dem Schließen des Hilfsventils 510, der Auslaßventile
523 und 524 und der Einlaßventile 519 und
520 wurden ein Ventil 527 einer Druckgasflasche 511 mit
SiF₄-Gas (in einer Reinheit von 99,999%) und ein Ventil
528 einer Druckgasflasche 512 mit Wasserstoffgas geöffnet.
Durch Regelung des Drucks an jeweiligen Auslaßmanometern
531 und 532 auf 98,1 kPa und allmähliches
Öffnen der Einlaßventile 519 und 520 wurden sowohl das
SiF₄-Gas als auch das Wasserstoffgas jeweils in die
Durchflußmesser 515 bzw. 516 eingeleitet. Darauffolgend
wurden die Auslaßventile 525 und 524 allmählich geöffnet,
wonach auch das Hilfsventil 510 geöffnet wurde. Dabei
wurden die Einlaßventile 519 und 520 so eingestellt,
daß das Verhältnis zwischen der Durchflußmenge
des SiF₄-Gases und des Wasserstoffgases
10:1 betrug. Als nächstes wurde die Öffnung des Hilfsventils
510 unter Beobachtung eines Pirani-Manometers
509 geregelt, bis die Abscheidungskammer 501 ein Vakuum
von 1,33 Pa erreichte. Nach Stabilisierung
des Innendrucks der Abscheidungskammer 501 wurde das
Hauptventil 508 zur Verengung allmählich geschlossen,
bis das Pirani-Manometer 509 67 Pa anzeigte.
Nach der Überprüfung, ob der Innendruck der
Abscheidungskammer 501 stabil geworden ist, wurde durch
das nachfolgende Schließen eines Schalters einer Hochfrequenz-
Spannungsquelle 506 Hochfrequenzspannung mit
13,56 MHz einer Induktionsspule 507 (an dem oberen Teil
der Kammer) zugeführt, um innerhalb der Abscheidungskammer
501 in dem Spulenbereich eine Glimmentladung herbeizuführen,
wobei eine Eingangsleistung von 10 W erzielt
wurde. Unter den vorstehend beschriebenen Bedingungen
wurde an dem Schichtträger eine (nachstehend abgekürzt
als "a-Halbleiterschicht" bezeichnete) amorphe Halbleiterschicht
gezüchtet, um damit die photoleitfähige
Schicht zu bilden. Nach dem Aufrechterhalten der gleichen
Bedingungen über 8 h wurde zur Beendigung der Glimmentladung
die Hochfrequenz-Spannungsquelle 506 abgeschaltet.
Darauffolgend wurde die Stromversorgung für die
Heizeinrichtung 505 abgeschaltet. Sobald als Schichtträger-Temperatur
100°C angezeigt wurde, wurden das Hilfsventil
510 und die Auslaßventile 523 und 524 geschlossen,
während das Hauptventil 508 voll geöffnet wurde, um damit
das Innere der Abscheidungskammer 501 auf 1,33 mPa
oder darunter zu bringen. Danach wurde das Hauptventil
508 geschlossen und durch Öffnen eines Belüftungsventils
502 das Innere der Abscheidungskammer 501 auf Atmosphärendruck
gebracht, wonach der Schichtträger entnommen wurde.
In diesem Fall betrug die Gesamtdicke der auf diese Weise
gebildeten a-Halbleiterschicht annähernd 16 µm. Das
auf diese Weise erhaltene Aufzeichnungsmaterial wurde
in eine Versuchsvorrichtung zum Laden und Belichten eingesetzt,
0,2 s lang einer negativen Koronaladung mit
-5,5 kV und unmittelbar danach einer bildmäßigen
Belichtung unterzogen, die unter Anwendung
einer Wolframlampe als Lichtquelle mit einer Lichtmenge
von 6 lx · s mittels einer lichtdurchlässigen Prüfkarte durchgeführt wurde.
Unmittelbar danach wurde ein positiv geladener
Entwickler (mit einem Toner und einem Tonerträger) auf
die Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials geschüttet,
um dadurch auf dieser ein gutes Tonerbild zu erzeugen.
Wenn das Tonerbild von dem Aufzeichnungsmaterial mittels
einer positiven Koronaladung von +5 kV auf ein als
Bildempfangspapier dienendes Papier übertragen wurde,
konnte ein klares Bild mit hoher Bilddichte, hervorragender
Auflösung und guter Tönungswiedergabe erzielt werden.
Unter den gleichen Bedingungen und nach dem
gleichen Verfahrensablauf wie in Beispiel 1 wurde
auf dem Aluminium-Schichtträger eine a-Halbleiterschicht (photoleitfähige
Schicht) von 16 µm Dicke gebildet. Danach wurde
der Schichtträger mit der darauf gebildeten photoleitfähigen
Schicht aus der Abscheidungskammer 501 herausgenommen
und auf die a-Halbleiterschicht Polycarbonat-Harz in
der Weise aufgebracht, daß seine Dicke nach dem Trocknen
15 µm betrug, so daß dadurch eine elektrisch isolierende
Schicht gebildet wurde. Auf diese Weise wurde das elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial fertiggestellt.
Wenn an der Oberfläche der Isolierschicht dieses
Aufzeichnungsmaterials als Primärladung 0,2 s lang eine positive Koronaentladung
mit einer Netzspannung von 6 kV
durchgeführt wurde, wurde die Oberfläche positiv auf
+2 kV geladen. Als nächstes wurde zugleich mit einer
bildmäßigen Belichtung mit einer Lichtmenge von
5 lx · s an der Oberfläche eine negative Koronaentladung
mit einer Netzspannung von 5,5 kV als Sekundärladung
durchgeführt, wonach eine gleichmäßige Gesamtbelichtung
der Oberfläche des Aufzeichnungsmaterials
folgte, wodurch ein Ladungsbild erzeugt wurde. Dieses
Ladungsbild wurde nach dem Kaskaden-Verfahren mit einem
negativ geladenen Toner entwickelt, wonach das entwickelte
Bild auf als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen und fixiert wurde,
wodurch ein reproduziertes Bild guter Qualität erzielt
wurde.
Auf die gleiche Weise wie in
Beispiel 1 wurde der Aluminium-Schichtträger in die Glimmentladungs-
Abscheidungskammer 501 eingesetzt und dann das
Innere der Kammer auf ein Vakuum von 0,67 mPa
evakuiert. Während der Schichtträger auf einer Temperatur
von 300°C gehalten wurde, wurden SiF₄-Gas und
Wasserstoffgas (mit einem Verhältnis der Durchflußmenge
von SiF₄ zu Wasserstoff von 10-1 Volumen-%) in die Abscheidungskammer
eingeleitet und der Innendruck der Kammer
auf 67 Pa eingeregelt. Zu diesem Zeitpunkt
wurde ferner in die Abscheidungskammer in einem
Gemisch mit dem SiF₄-Gas und dem Wasserstoffgas B₂H₆-
Gas in einer Menge von 1,5 × 10-3 Volumen-% in bezug auf
das SiF₄-Gas eingeleitet. Dieses B₂H₆-Gas wurde aus einer
Druckgasflasche 513 mit dem B₂H₆-Gas über ein Ventil 529
unter einem Gasdruck von 98,1 kPa (unter Ablesung an einem
Auslaßmanometer 533) durch Einstellen eines Einlaßventils
521 und eines Auslaßventils 525 unter Ablesung eines
Durchflußmessers 517 eingeleitet. Nachdem die Gaseinströmung
stabilisiert war, der Innendruck der Kammer
konstant geworden war und die Schichtträger-Temperatur auf
300°C stabilisiert worden war, wurde die Hochfrequenz-
Spannungsquelle 506 wie bei dem Beispiel 1 eingeschaltet,
um damit die Glimmentladung einzuleiten. Unter diesen
Bedingungen wurde die Glimmentladung 6 h lang fortgesetzt,
wonach zu ihrer Beendigung die Hochfrequenz-Spannungsquelle
506 abgeschaltet wurde. Danach wurden die Auslaßventile
523, 524 und 525 geschlossen und das Hilfsventil
510 sowie das Hauptventil 508 voll geöffnet, um den Innendruck
der Abscheidungskammer 501 auf 1,33 mPa
oder darunter zu bringen. Dann wurde das Hauptventil 508
geschlossen und durch Öffnen des Belüftungsventils 502 das
Innere der Abscheidungskammer 501 auf Atmosphärendruck gebracht,
wonach der Schichtträger der Abscheidungskammer entnommen
wurde und damit das Aufzeichnungsmaterial erhalten
wurde. Die Dicke der ganzen auf diese Weise gebildeten
photoleitfähigen Schicht betrug annähernd 15 µm.
Wenn für die Prüfung der Bilderzeugung wie in
Beispiel 1 das auf diese Weise erhaltene Aufzeichnungsmaterial
in die Versuchsvorrichtung zum Laden und
Belichten eingesetzt wurde, wurde bei einer Kombination
einer negativen Koronaentladung mit -5,5 kV und
einer Entwicklung mit positiv geladenem Entwickler auf
dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier ein Tonerbild mit außerordentlich
hoher Qualität und hohem Bildkontrast erzielt.
Als nächstes wurde dieses elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial im Dunkeln einer positiven Koronaentladung
mit einer Netzspannung von 6 kV unterzogen,
wonach es bildmäßig mit einer Lichtmenge
von 6 lx · s belichtet wurde, um dadurch ein Ladungsbild
zu erzeugen. Dieses Ladungsbild wurde nach dem Kaskaden-
Verfahren mit negativ geladenem Toner entwickelt, wonach
das entwickelte Bild auf als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen und
fixiert wurde; dadurch konnte ein sehr klares reproduziertes
Bild erzielt werden.
Aus diesem Ergebnis sowie auch den vorhergehenden
Ergebnissen ging hervor, daß das in diesem Beispiel
erhaltene elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
keine Abhängigkeit von der Ladungspolarität
zeigt und für beide Polaritäten
geeignet ist.
Zur Herstellung des elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterials wurde auf die gleiche Weise wie
in Beispiel 3 mit der Ausnahme, daß die Durchflußmenge
des B₂H₆-Gases auf 1 × 10-2 Volumen-% bezüglich
der Durchflußmenge des SiF₄-Gases eingeregelt
wurde, auf dem Aluminium-Schichtträger die photoleitfähige
Schicht von 15 µm Dicke gebildet.
Wenn unter den gleichen Bedingungen und nach den
gleichen Verfahrensschritten wie in Beispiel 3
mit diesem elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterial
das Bild auf dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier erzeugt wurde, wurde
festgestellt, daß das mit der positiven Koronaentladung
erzeugte Bild hinsichtlich der Bildqualität dem mit der
negativen Koronaentladung erzeugten Bild überlegen war
und das erhaltene reproduzierte Bild außerordentlich
klar war.
Aus diesen Ergebnissen ging hervor, daß das
in diesem Beispiel erhaltene elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial von der Ladungspolarität abhängig
war, obgleich die Polaritätsabhängigkeit der in Beispiel 1
erzielten entgegengesetzt war.
Unter den gleichen Bedingungen und nach den
gleichen Verfahrensschritten wie in Beispiel 1 mit
der Ausnahme, daß die Schichtträger-Temperatur gemäß der Darstellung
in der nachstehenden Tabelle 1 verändert wurde,
wurden als Proben Nr. 1 bis 8 bezeichnete elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterialien hergestellt. Wenn
auf dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier das Bild unter genau den
gleichen Bilderzeugungsbedingungen wie in Beispiel
3 erzeugt wurde, wurden die in der nachstehenden Tabelle
1 gezeigten Ergebnisse erzielt.
Wie aus den Ergebnissen in der nachstehenden
Tabelle 1 ersichtlich ist, muß zur Erfüllung der Aufgabe
bei diesem besonderen Beispiel die a-Si:X-Schicht bei
einer Schichtträger-Temperatur im Bereich von 100 bis 550°C
gebildet werden.
Unter genau den gleichen Bedingungen und nach
genau den gleichen Verfahrensschritten wie in
Beispiel 1 mit der Ausnahme, daß die Schichtträger-Temperatur
gemäß der Darstellung in der nachstehenden Tabelle 2 verändert
wurde, wurden als Proben Nr. 9 bis 16 bezeichnete
elektrophotographische Aufzeichnungsmaterialien hergestellt.
Wenn unter genau den gleichen Bilderzeugungsbedingungen
wie in Beispiel 3 das Bild auf dem als Bildempfangsmaterial
dienenden Papier erzeugt wurde, wurden die in der nachstehenden
Tabelle 2 gezeigten Ergebnisse erzielt.
Wie aus den in der nachstehenden Tabelle 2 gezeigten
Ergebnissen ersichtlich ist, muß zur Erfüllung
der Aufgabe bei diesem besonderen Beispiel die a-Si:X-
Schicht bei einer Schichtträger-Temperatur im Bereich von
100 bis 550°C gebildet werden.
Unter den gleichen Bedingungen und nach den
gleichen Verfahrensschritten wie in Beispiel 1
mit der Ausnahme, daß die Schichtträger-Temperatur gemäß der
Darstellung in der nachstehenden Tabelle 3 verändert
wurde, wurden als Proben Nr. 17 bis 24 bezeichnete
elektrophotographische Aufzeichnungsmaterialien hergestellt.
Wenn unter genau den gleichen Bilderzeugungs-
Bedingungen wie in Beispiel 3 das Bild auf dem als Bildempfangsmaterial
dienenden Papier erzeugt wurde, wurden die in der nachstehenden
Tabelle 3 gezeigten Ergebnisse erzielt.
Wie aus den in der nachstehenden Tabelle 3 gezeigten
Ergebnissen ersichtlich ist, muß zur Erfüllung
der Aufgabe bei diesem besonderen Beispiel die a-Si:X-
Schicht bei einer Schichtträger-Temperatur im Bereich von
100 bis 550°C gebildet werden.
Als Proben Nr. 25 bis 30 bezeichnete elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterialien wurden unter
den gleichen Bedingungen wie in Beispiel 3 mit der
Ausnahme erzeugt, daß die Durchflußmenge des B₂H₆-
Gases nach Beispiel 3 in bezug auf die Durchflußmenge
des SiF₄-Gases verändert wurde, um so den in die erzeugte
a-Si:X-Schicht dotierten Bor-Gehalt auf die verschiedenen,
in der nachstehenden Tabelle 4 angeführten Zahlenwerte
einzustellen.
Unter Verwendung dieser elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterialien wurde unter den gleichen Bilderzeugungs-
Bedingungen wie in Beispiel 3 die Bilderzeugung
auf dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier vorgenommen, wodurch
die in der Tabelle 4 gezeigten Ergebnisse erzielt wurden.
Aus diesen Ergebnissen ist ersichtlich, daß das für
praktische Zwecke geeignete elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial vorzugsweise in die a-Si:X-Schicht
dotiertes Bor in einer Menge von 10-6 bis 10-4 Atom-%
enthalten soll.
Unter Anwendung der in Fig. 6 gezeigten Vorrichtung
wurde das elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
auf die nachstehend beschriebene Weise hergestellt, wonach
das auf diese Weise erhaltene Aufzeichnungsmaterial
einem Bilderzeugungsvorgang zur Erzielung eines reproduzierten
Bilds unterzogen wurde.
Durch Aufdampfen von Molybdän (Mo) in einer
Dicke von annähernd 100 nm auf eine Aluminiumplatte
mit den Abmessungen 10 cm × 10 cm und einer Dicke von
1 mm, deren Oberfläche gereinigt war, wurde ein Schichtträger
602 hergestellt. Dieser Schichtträger 602 wurde an einer bestimmten
Stelle an einer Befestigungseinrichtung 603 befestigt,
die an einer vorbestimmten Stelle in einer Abscheidungskammer
601 in einem Abstand von ungefähr 1 cm von einer
Heizeinrichtung 604 angebracht war. Der Schichtträger hatte einen
Abstand von 8,5 cm von einem Target
605 aus polykristallinem gesintertem Silicium
(mit einer Reinheit von 99,999%).
Darauffolgend wurde das Innere der Abscheidungskammer
601 durch volles Öffnen eines Hauptventils 607
evakuiert, um das Vakuum in der Kammer auf ungefähr
0,13 mPa zu bringen. Danach wurde die Heizeinrichtung
604 zum gleichmäßigen Erwärmen des Schichtträgers
eingeschaltet, um dessen Temperatur auf 250°C anzuheben,
bei der der Schichtträger gehalten wurde. Dann wurde ein
Ventil 616 sowie auch ein Ventil 610 einer Druckgasflasche
608 voll geöffnet. Danach wurde ein Durchflußmengen-
Einstellventil 614 allmählich geöffnet und unter Regelung
des Hauptventils 607 SiF₄-Gas in die Abscheidungskammer
601 so eingeleitet, daß das Vakuum in der Kammer auf
7,3 mPa gebracht wurde.
Nach vollem Öffnen eines Ventils 611 wurde unter
Überwachung eines Durchflußmessers 613 ein Durchflußmengen-
Einstellventil 615 allmählich geöffnet, um unter
Einleiten von Argongas das Vakuum in der Abscheidungskammer
601 auf 0,133 Pa zu bringen.
Darauffolgend wurde ein Schalter für eine Hochfrequenz-
Spannungsquelle 606 eingeschaltet, um zum Herbeiführen
einer elektrischen Entladung zwischen dem Aluminium-
Schichtträger und dem Target aus polykristallinem Silicium
eine Hochfrequenz-Spannung mit 1 kV und 13,56 MHz anzulegen
und dadurch die Bildung der photoleitfähigen
Schicht auf dem Aluminium-Schichtträger zu beginnen. Die
Schichtbildung wurde über aufeinanderfolgende 30 h
fortgesetzt. Als Ergebnis hatte die auf diese Weise gebildete
photoleitfähige Schicht eine Schichtdicke von
20 µm.
Das auf diese Weise erzeugte elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial wurde dann im Dunkeln einer
negativen Koronaentladung mit einer Netzspannung
von 5,5 kV unterzogen, wonach es bildmäßig mit einer
Lichtmenge von 8 lx · s belichtet wurde, um damit ein Ladungsbild
zu erzeugen. Dieses Ladungsbild wurde nach dem Kaskaden-
Verfahren mit positiv geladenem Toner entwickelt,
wonach das entwickelte Tonerbild auf als Bildempfangsmaterial dienendes Papier
übertragen und fixiert wurde, wodurch ein gutes reproduziertes
Bild mit zufriedenstellender Klarheit erzielt werden
konnte.
Als Proben Nr. 31 bis 39 bezeichnete elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterialien wurden unter den
gleichen Bedingungen wie in Beispiel 9 mit der Ausnahme
hergestellt, daß die Durchflußmenge des SiF₄-
Gases nach Beispiel 9 in bezug auf die Durchflußmenge
des Argongases verändert wurde, um so den Fluor-Gehalt
(F-Gehalt) in der erzeugten photoleitfähigen Schicht
auf die in der nachstehenden Tabelle 5 angeführten verschiedenen
Zahlenwerte einzustellen.
Unter Verwendung dieser elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterialien wurde unter den gleichen Bilderzeugungs-
Bedingungen wie in Beispiel 9 die Bilderzeugung
auf dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier durchgeführt, wodurch
die in der Tabelle 5 gezeigten Ergebnisse erzielt wurden.
Aus diesen Ergebnissen ist ersichtlich, daß das für
praktische Zwecke brauchbare elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial vorzugsweise Fluor in der Schicht in
einer Menge von 1 bis 40 Atom-% enthalten soll.
Die gemäß den Beispielen 1, 3 und 4 hergestellten
elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterialien wurden
in einer Atmosphäre mit hoher Temperatur (50°C) und hoher
Feuchtigkeit (90% relative Feuchtigkeit) belassen.
Nach Ablauf von 96 h wurden diese Proben entnommen
und in eine Atmosphäre mit 23°C und 50% relativer Feuchtigkeit
gebracht, wonach sie sofort einer Bilderzeugung
auf als Bildempfangsmaterial dienendem Papier unter den gleichen Bedingungen
und nach den gleichen Verfahrensschritten wie in jedem
dieser Beispiele für die Aufzeichnungsmaterialien unterzogen
wurden. Es wurden klare Bilder deutlicher Qualität
erzielt. Dieses Ergebnis bestätigt, daß das elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial gemäß den Ausführungsbeispielen
auch hinsichtlich seiner Feuchtigkeitsbeständigkeit
hervorragend ist.
Die gemäß den Beispielen 1, 3, 4, 9 und 10
hergestellten elektrophotographischen Aufzeichnungsmaterialien
wurden 96 h lang in einer Atmosphäre mit
400°C und 75% relativer Feuchtigkeit mit Wärme behandelt.
Danach wurden die Proben entnommen und in eine Atmosphäre
von 23°C und 50% relativer Feuchtigkeit gebracht. Jede
dieser Proben wurde nach dem Abkühlen auf 23°C der Bilderzeugung
auf als Bildempfangsmaterial dienendem Papier unter den gleichen Bedingungen
und nach den gleichen Verfahrensschritten wie
in diesem Beispiel unterzogen. Es wurde jeweils
ein deutliches Bild guter Qualität erzielt, das nicht von
dem ohne Wärmebehandlung erzielten verschieden war. Dieses
Ergebnis bestätigt, daß das elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial gemäß den Ausführungsbeispielen auch
hinsichtlich seiner Wärmefestigkeit hervorragend ist.
Das nach Beispiel 1 erzeugte Aufzeichnungsmaterial
wurde unter den gleichen Verfahrensbedingungen wie
in Beispiel 1 der Ladungsbilderzeugung und der Entwicklung
mit positiv geladenem Toner unterzogen. Danach
wurde als Bildempfangsmaterial dienendes Papier auf die entwickelte Fläche aufgelegt
und eine Bildübertragungswalze, an die eine Spannung
von -1 kV angelegt war und die auf 250°C erwärmt
war, gegen die Rückfläche des Papiers gedrückt und in
Umlauf versetzt. Danach wurde das Papier von
dem Aufzeichnungsmaterial abgehoben. Es wurde festgestellt,
daß der Toner in zufriedenstellendem
Ausmaß an das Papier fixiert war.
Unter erneuter Anwendung dieses gleichen
Aufzeichnungsmaterials wurden die Ladungsbilderzeugung, die
Entwicklung und die Bildübertragung mittels der Heiz-
und Übertragungswalze 50 000mal wiederholt. Es wurde festgestellt,
daß Bilder mit im wesentlichen der gleichen
Bildqualität wie bei den anfänglich erhaltenen Bildern
erzielbar waren.
Aus diesem Ergebnis ging hervor, daß
die zum gleichzeitigen Ausführen der Bildübertragung und
des Fixierens geeignete Heiz- und Übertragungswalze bei
einem Reproduktions- bzw. Kopiergerät mit dem elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterial gemäß den Ausführungsbeispielen
angewandt werden kann, wodurch das
Kopiergerät für sich im Aufbau vereinfacht
und ein geringerer Leistungsverbrauch des Geräts realisiert
werden kann.
Das auf die gleiche Weise wie in Beispiel 1
hergestellte elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
wurde im Dunkeln einer negativen Koronaentladung mit
einer Quellenspannung von 5,5 kV unterzogen, wonach es
bildmäßig mit einer Lichtmenge von 6 lx · s
belichtet wurde, um dadurch ein elektrostatisches Ladungsbild
zu erzeugen. Dieses Ladungsbild wurde mit einem
Flüssigentwickler entwickelt, der durch Dispergieren eines
geladenen Toners in einem Isoparaffin-Kohlenwasserstoff
als Lösungsmittel hergestellt wurde, wonach das entwickelte
Bild auf das als Bildempfangsmaterial dienende Papier übertragen und fixiert
wurde. Das auf diese Weise auf dem Papier
erhaltene Bild war außerordentlich klar und hatte eine
hohe Bildauflösung und damit hohe Bildqualität.
Zur Überprüfung der Widerstandsfähigkeit gegenüber
Lösungsmitteln (Widerstandsfähigkeit gegenüber Flüssigentwickler)
des vorstehend erwähnten elektrophotographischen
Aufzeichnungsmaterials wurde der vorstehend beschriebene
Bilderzeugungsvorgang wiederholt durchgeführt
und das anfänglich auf dem Bildempfangsmaterial erhaltene
Bild mit dem Bild auf dem 10 000. Bildempfangsmaterial verglichen.
Dabei wurde festgestellt, daß keinerlei Unterschied
zwischen diesen Bildern zu beobachten ist und
daß somit das elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
gemäß den Ausführungsbeispielen hinsichtlich
seiner Lösungsmittel-Widerstandsfähigkeit überlegen ist.
Als Verfahren zur Reinigung des Aufzeichnungsmaterials
wurde das Rakel-Reinigungsverfahren angewandt, für das
eine Rakel aus Urethankautschuk verwendet wurde.
Unter Anwendung der in Fig. 5 gezeigten Glimmentladungs-
Abscheidungsvorrichtung wurde auf die nachstehend
beschriebene Weise ein elektrophotographisches
Aufzeichnungsmaterial hergestellt, das dann dem Bilderzeugungsvorgang
und danach der Bildentwicklung unterzogen
wurde.
Zuerst wurde eine Aluminiumplatte mit 0,2 mm
Dicke und 5 cm Durchmesser, die durch die gleiche Oberflächenbehandlung
wie in Beispiel 1 gereinigt wurde,
als Schichtträger 503 an der Befestigungseinrichtung 504 befestigt,
die an einer bestimmten Stelle in der Glimmentladungs-
Abscheidungskammer 501 angebracht war. Nach der Überprüfung,
ob alle Ventile des Systems geschlossen sind, wurde
das Hauptventil 508 voll geöffnet, um die Luft aus der
Kammer 501 herauszuleiten und damit deren Inneres auf
ein Vakuum von annähernd 0,67 mPa zu
bringen. Danach wurde die Eingangsspannung der Heizeinrichtung
505 gesteigert, um unter Ermittlung der Temperatur
des Aluminium-Schichtträgers den Schichtträger auf eine durch
Änderung der Eingangsspannung stabilisierte konstante
Temperatur von 200°C zu bringen.
Danach wurden in Aufeinanderfolge das Hilfsventil
510, das Auslaßventil 523, ein Auslaßventil 526,
das Einlaßventil 519 und ein Einlaßventil 522 voll geöffnet,
wodurch das Innere des Durchflußmessers 515 und eines
Durchflußmessers 518 ausreichend entlüftet und evakuiert
wurde. Nach dem Schließen des Hilfsventils
510, der Auslaßventile 523 und 526 und der Einlaßventile
519 und 522 wurden das Ventil 527 der das SiF₄-Gas (mit
einer Reinheit von 99,999%) enthaltenden Druckgasflasche
511 und ein Ventil 530 einer SiH₄-Gas enthaltenden Druckgasflasche
514 geöffnet. Danach wurde unter Regelung
des Drucks jeweils an dem Auslaßmanometer 531 bzw.
einem Auslaßmanometer 534 auf 98,1 kPa sowie allmählichem
Öffnen der Einlaßventile 519 und 522 das SiF₄-Gas
und das SiH₄-Gas in die Durchflußmesser 515 bzw. 518
eingelassen. Darauffolgend wurden die Auslaßventile
523 und 526 und danach das Hilfsventil 510 allmählich
geöffnet. Dabei wurden die Einlaßventile 519 und 522
so eingestellt, daß das Verhältnis zwischen der Durchflußmenge
von SiF₄-Gas und der Durchflußmenge von
SiH₄-Gas 4:6 betrug. Danach wurde unter Beobachtung
der Anzeige an dem Pirani-Manometer 509 der Öffnungsgrad
des Hilfsventils 510 eingestellt, bis das Vakuum
in der Abscheidungskammer 501 1,33 Pa
betrug. Sobald der Innendruck in der Abscheidungskammer
501 stabilisiert war, wurde das Hauptventil 508 zu Verringerung
der Öffnung allmählich geschlossen, bis das
Pirani-Manometer 509 einen Wert von 93,3 Pa
zeigte. Darauffolgend wurde durch Schließen
des Schalters für die Hochfrequenz-Spannungsquelle 506
eine Hochfrequenz-Spannung mit 13,56 MHz an die Induktionsspule
507 (an dem oberen Teil der Kammer) angelegt, um
innerhalb der Abscheidungskammer 501 eine Glimmentladung
herbeizuführen, wobei eine Eingangsleistung von 25 W
erzielt wurde. Unter den vorstehend beschriebenen Bedingungen
wurde zur Bildung der photoleitfähigen Schicht
an dem Schichtträger eine a-Halbleiterschicht gezüchtet. Nach
dem Aufrechterhalten der gleichen Bedingungen für 8 h
wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle 506
abgeschaltet, um die Glimmentladung zu beenden. Darauffolgend
wurde die Stromversorgungsquelle der Heizeinrichtung
505 abgeschaltet. Sobald als Schichtträger-Temperatur
100°C angezeigt wurden, wurden das Hilfsventil 510
und die Auslaßventile 523 und 526 geschlossen, während
das Hauptventil 508 voll geöffnet wurde, um das
Vakuum in der Abscheidungskammer 501 auf 1,33 mPa
oder darunter zu bringen. Danach wurde das
Hauptventil 508 geschlossen und das Innere der Kammer
501 durch Öffnen des Belüftungsventils 502 auf Atmosphärendruck
gebracht, wonach der Schichtträger entnommen wurde. In diesem
Fall betrug die Gesamtdicke der auf diese Weise gebildeten
a-Halbleiterschicht ungefähr 20 µm. Das auf diese Weise
erhaltene Aufzeichnungsmaterial wurde in die Versuchsvorrichtung
zum Laden und Belichten eingesetzt,
0,2 s lang einer negativen Koronaladung mit -6 kV unterzogen,
und unmittelbar danach
unter Anwendung einer Wolframlampe
als Lichtquelle mit einer Lichtmenge von 7 lx · s mittels
einer lichtdurchlässigen Prüfkarte bildmäßig belichtet.
Danach wurde ein positiv geladener Entwickler
(mit einem Toner und einem Tonerträger) auf die Oberfläche
des Aufzeichnungsmaterials geschüttet, wodurch
ein gutes Tonerbild auf diesem erzeugt wurde. Mit der Übertragung
des Tonerbilds auf dem Aufzeichnungsmaterial
mittels einer negativen Koronaladung mit -5 kV auf als Bildempfangsmaterial
dienendes Papier konnte ein klares Bild hoher Dichte, hervorragender
Bildauflösung und guter
Tönungswiedergabe erhalten werden.
Nach den gleichen Verfahrensschritten und unter
den gleichen Bedingungen wie in Beispiel 15 mit der
Ausnahme, daß als Temperatur des Aluminium-Schichtträgers
500°C gewählt wurden, wurde an dem Schichtträger eine a-Halbleiterschicht
gezüchtet.
Das auf diese Weise erhaltene Aufzeichnungsmaterial
wurde unter gleichen Bedingungen wie in Beispiel
15 der Bildentwicklungsprüfung unterzogen, wodurch
ein klares Bild hervorragender Bildauflösung, guter
Tönungswiedergabe und hoher Bilddichte
erhalten werden konnte.
In einem völlig abgedichteten Rein-Raum wurde
eine Vorrichtung gemäß der Darstellung in Fig. 7 installiert.
Unter Anwendung dieser Vorrichtung wurde mit den nachstehend
aufgeführten Verfahrensschritten ein elektrophotographisches
Aufzeichnungsmaterial hergestellt:
Eine Molybdänplatte von 0,2 mm Dicke und 5 cm
Durchmesser mit gereinigter Oberfläche wurde als Schichtträger
709 an einer Befestigungseinrichtung 703 an einer
vorbestimmten Stelle in einer auf einem Tragtisch 702
angebrachten Glimmentladungs-Abscheidungskammer 701 befestigt.
Der Schichtträger 709 wurde mittels einer in der
Befestigungseinrichtung 703 angebrachten Heizeinrichtung 708
mit einer Genauigkeit von ±0,5°C erwärmt. Die Temperatur
wurde mittels eines Thermoelements (Alumel-Chromel)
direkt an der Rückseite des Schichtträgers gemessen. Nach der
Überprüfung, ob alle Ventile des Systems geschlossen sind,
wurde ein Hauptventil 710 voll geöffnet, um die Luft aus
der Abscheidungskammer 701 auszuleiten und in der Kammer
ein Vakuum von ungefähr 0,67 mPa zu
errichten. Danach wurde die Eingangsspannung der Heizeinrichtung
708 gesteigert, bis die Temperatur des Molybdän-
Schichtträgers einen konstanten Wert von 300°C angenommen
hat, wobei die Eingangsspannung unter Erfassung der
Schichtträger-Temperatur im Ablauf des Temperaturanstiegs verändert
wurde.
Danach wurde ein Hilfsventil 740 voll geöffnet,
wonach aufeinanderfolgend Auslaßventile 725, 726 und 727
und Einlaßventile 720, 721 und 722 voll geöffnet wurden.
Dabei wurden Durchflußmesser 716, 717 und 718 in ihrem
Inneren völlig entlüftet und damit evakuiert.
Nach dem Schließen des Hilfsventils 740, der
Auslaßventile 725, 726 und 727 und der Einlaßventile
720, 721 und 722 wurden ein Ventil 730 einer SiF₄-Gas
(mit einer Reinheit von 99,999%) enthaltenden Druckgasflasche
711 und ein Ventil 731 einer Wasserstoffgas
enthaltenden Druckgasflasche 712 geöffnet. Durch
Regelung des Drucks an jeweiligen Auslaßmanometern
735 und 736 auf 98,1 kPa und allmähliches Öffnen der
Einlaßventile 720 und 721 wurden das SiF₄-Gas und das
Wasserstoffgas jeweils in die Durchflußmesser 716 bzw.
717 eingelassen. Darauffolgend wurden die Auslaßventile
725 und 726 allmählich geöffnet, wonach dann auch das
Hilfsventil 740 geöffnet wurde. Dabei wurden die Einlaßventile
720 und 721 so eingeregelt, daß das Verhältnis
zwischen der Durchflußmenge von SiF₄-Gas und der
Durchflußmenge von Wasserstoffgas 10:1 betrug. Als
nächstes wurde das Öffnungsausmaß des Hilfsventils 740
unter Überwachung eines Pirani-Manometers 741 eingeregelt,
bis die Abscheidungskammer 701 ein Vakuum von
1,33 Pa erreicht hat. Nach der Stabilisierung
des Innendrucks der Abscheidungskammer 701 wurde das
Hauptventil 710 unter Verengung allmählich geschlossen,
bis das Pirani-Manometer 741 den Wert 67 Pa
anzeigte. Nach der Überprüfung, ob der Innendruck
der Abscheidungskammer 701 stabil geworden ist,
wurde durch nachfolgendes Schließen eines Schalters
für eine Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 eine
Hochfrequenz-Spannung mit 13,56 MHz an eine Induktionsspule
743 (an dem oberen Teil der Kammer) angelegt,
um innerhalb der Abscheidungskammer 701 an dem Spulenbereich
eine Glimmentladung herbeizuführen, wobei eine Eingangsleistung
von 10 W erzielt wurde. Unter den vorstehend
beschriebenen Bedingungen wurde zur Bildung der photoleitfähigen
Schicht an dem Schichtträger eine a-Halbleiterschicht
gezüchtet. Nach dem Aufrechterhalten der gleichen
Bedingungen für 3 h wurde die Hochfrequenz-Spannungquelle
742 abgeschaltet, um damit die Glimmentladung zu
beenden. Bei diesem Zustand wurde ein Ventil 732 einer
B₂H₆-Gas (mit 99,999% Reinheit) enthaltenden Druckgasflasche
713 geöffnet und unter Einstellen des Drucks an
einem Auslaßmanometer 737 auf 98,1 kPa und allmählichem
Öffnen des Einlaßventils 722 das B₂H₆-Gas in den Durchflußmesser
718 eingelassen. Danach wurde das Auslaßventil
727 allmählich geöffnet und die Öffnung des Auslaßventils
727 so gesteuert, daß die Ablesung des Durchflußmessers
718 beständig die Durchflußmenge von 0,006 Volumen-%
bezüglich des SiF₄-Gases anzeigte.
Darauffolgend wurde zur Wiederaufnahme der Glimmentladung
die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 erneut eingeschaltet.
Nach dem Fortsetzen der Glimmentladung für
weitere 8 min wurde die Heizeinrichtung 708 ausgeschaltet
und auch die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 in den
Ausschaltzustand versetzt. Sobald als Schichtträger-Temperatur
100°C angezeigt wurden, wurden die Auslaßventile
725, 726 und 727 sowie die Einlaßventile 720, 721 und
722 geschlossen, während das Hauptventil 710 geöffnet
wurde, um das Vakuum im Inneren der Abscheidungskammer
701 auf 1,33 mPa oder darunter zu bringen.
Danach wurde das Hauptventil 710 geschlossen und durch
Öffnen eines Belüftungsventils 744 das Innere der Kammer 701
auf Atmosphärendruck gebracht, wonach der Schichtträger entnommen
wurde. In diesem Fall betrug die Gesamtdicke der
auf diese Weise gebildeten a-Si:X-Schicht ungefähr 6 µm.
Das auf diese Weise erhaltene Aufzeichnungsmaterial
wurde in eine Versuchsvorrichtung zum Laden und Belichten
eingesetzt, 0,2 s lang einer negativen Koronaladung
mit -5,5 kV unterzogen und unmittelbar danach
unter Anwendung einer Wolframlampe als Lichtquelle mit einer Lichtmenge
von 5 lx · s mittels einer lichtdurchlässigen Prüfkarte bildmäßig belichtet.
Danach wurde ein positiv geladener Entwickler
(mit einem Toner und einem Tonerträger) auf die Oberfläche
des Aufzeichnungsmaterials geschüttet, wobei
auf dieser ein gutes Tonerbild erhalten wurde. Durch Übertragung
des Tonerbilds auf dem Aufzeichnungsmaterial
mit einer negativen Koronaladung mit -5 kV auf als Bildempfangsmaterial
dienendes Papier wurde ein klares Bild hoher Dichte, hervorragender
Bildauflösung und guter Tönungswiedergabe erzielt.
Andererseits wurde das Aufzeichnungsmaterial
einer positiven Koronaladung mit +6 kV unterzogen. Nach
der bildmäßigen Belichtung unter den vorstehend genannten Bedingungen
wurde das Bild mit einem positiv geladenen Entwickler
entwickelt. Das erzielte Bild war im Vergleich
zu den vorstehend genannten Ergebnissen undeutlich und
hatte eine geringe Bilddichte.
Auf die gleiche Weise wie in Beispiel 17
wurde der Molybdän-Schichtträger in die Glimmentladungs-Abscheidungskammer
701 eingesetzt, wonach deren Inneres
auf ein Vakuum von 0,67 mPa evakuiert
wurde. Unter Aufrechterhaltung einer Schichtträger-Temperatur
von 300°C wurde das Hilfsventil 740 voll geöffnet,
wonach die Auslaßventile 725, 726 und 727, ein Auslaßventil
728, die Einlaßventile 720, 721 und 722 und ein
Einlaßventil 723 voll geöffnet wurden. Dabei wurden die Durchflußmesser
716, 717 und 718 sowie ein Durchflußmesser
719 im Inneren völlig entlüftet und damit evakuiert.
Nach dem Schließen des Hilfsventils
740 wurden die Auslaßventile 728, 726, 727 und 728
und die Einlaßventile 720, 721, 722 und 723 geschlossen,
wonach das Ventil 730 der das SiF₄-Gas (mit einer Reinheit
von 99,999%) enthaltenden Druckgasflasche 711, das
Ventil 731 der das Wasserstoffgas enthaltenden Druckgasflasche
712 und ein Ventil 733 einer PH₃-Gas (in einer
Reinheit von 99,999%) enthaltenden Druckgasflasche 34477 00070 552 001000280000000200012000285913436600040 0002003046509 00004 34358 714
geöffnet wurden. Durch Einstellen des Drucks an jeweiligen
Auslaßmanometern 735, 736 bzw. 738 auf 98,1 kPa und
allmähliches Öffnen der Einlaßventile 720, 721 und 723
wurden das SiF₄-Gas, das Wasserstoffgas und das PH₃-Gas
in die Durchflußmesser 716, 717 bzw. 719 eingelassen.
Darauffolgend wurden die Auslaßventile 725 und 726 allmählich
geöffnet, wonach das Hilfsventil 740 gleichfalls
geöffnet wurde. Dabei wurden die Einlaßventile 720 und
721 so eingeregelt, daß das Verhältnis zwischen der
Durchflußmenge von SiF₄-Gas und der Durchflußmenge von
Wasserstoffgas 10:1 betrug. Als nächstes wurde unter
Beobachtung des Pirani-Manometers 741 die Öffnung des
Hilfsventils 740 eingeregelt, bis die Abscheidungskammer
701 ein Vakuum von 1,33 Pa erreicht hat.
Nach der Stabilisierung des Innendrucks der Abscheidungskammer
701 wurde das Hauptventil 710 allmählich geschlossen,
bis das Pirani-Manometer 741 einen Wert von 67 Pa
anzeigte. Nach der Überprüfung, ob der
Innendruck der Abscheidungskammer 701 stabil geworden ist,
wurde durch nachfolgendes Schließen des Schalters der
Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 eine Hochfrequenz-
Spannung mit 13,56 MHz an die Induktionsspule 743 (an dem
oberen Teil der Kammer) angelegt, um an dem Spulenbereich
in der Abscheidungskammer 701 eine Glimmentladung herbeizuführen,
wobei eine Eingangsleistung von 10 W erzielt
wurde. Unter den vorstehend beschriebenen Bedingungen
wurde das Züchten der a-Halbleiterschicht an dem Schichtträger
begonnen, während zugleich begonnen wurde, das Auslaßventil
728 allmählich zu öffnen, das im Verlauf von 6 h
kontinuierlich weiter geöffnet wurde, so daß der Durchflußmesser
719 am Anfang eine Gasdurchflußmenge
von 0% und am Ende eine Gasdurchflußmenge von 0,03% des SiF₄-Gases anzeigte.
Nachdem unter den vorstehend genannten Bedingungen,
die für 6 h beibehalten wurden, an dem Schichtträger
die a-Halbleiterschicht gezüchtet wurde, wurde
die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 ausgeschaltet,
um die Glimmentladung zu beenden. Bei diesem Zustand
wurden nach Ablauf einer bestimmten Zeitdauer das Auslaßventil
728 und das Einlaßventil 723 geschlossen, wonach
das Ventil 732 der Gasdruckflasche 713 mit dem B₂H₆-Gas
geöffnet wurde, an dem Auslaßmanometer 737 der Druck
auf 98,1 kPa geregelt wurde und das Einlaßventil 722
allmählich geöffnet wurde, um das B₂H₆-Gas in den Durchflußmesser
718 einzulassen; danach wurde das Auslaßventil
727 allmählich geöffnet und so eingestellt, daß der
Durchflußmesser 718 gleichmäßig eine Durchflußmenge
von 0,008 Volumen-% des SiF₄-Gases anzeigte.
Darauffolgend wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle
742 wieder eingeschaltet, um die Glimmentladung
wieder aufzunehmen. Nach dem Fortsetzen der Glimmentladung
für weitere 8 min wurden die Heizeinrichtung 708
und auch die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 ausgeschaltet.
Sobald als Schichtträger-Temperatur 100°C angezeigt
wurden, wurden die Auslaßventile 725, 726 und 727 und die
Einlaßventile 720, 721 und 722 geschlossen, während das
Hauptventil 710 geöffnet wurde, um das Vakuum im Inneren
der Abscheidungskammer 701 auf 1,33 mPa oder
darunter zu bringen. Danach wurde das Hauptventil 710
geschlossen und das Innere der Kammer 701 durch Öffnen
des Belüftungsventils 744 auf Atmosphärendruck gebracht, wonach
der Schichtträger entnommen wurde. In diesem Fall betrug die
Gesamtdicke der photoleitfähigen Schicht ungefähr 12 µm.
Wenn das auf diese Weise hergestellte Aufzeichnungsmaterial
in eine Versuchsvorrichtung zum Laden und Belichten
eingesetzt wurde und der Bilderzeugungs-Prüfung
gemäß Beispiel 17 unterzogen wurde, wurde bei kombinierter
Anwendung einer negativen Koronaentladung mit
-5,5 kV und von positiv geladenem Entwickler auf dem als Bildempfangsmaterial
dienenden Papier ein Tonerbild mit außerordentlich guter Qualität
und hohem Bildkontrast erzielt.
Auf die gleiche Weise wie in Beispiel 17 wurde
die Molybdänplatte in die Glimmentladungs-Abscheidungskammer
701 eingesetzt und danach deren Inneres auf ein
Vakuum von 0,67 mPa evakuiert. Unter Aufrechterhalten
einer Schichtträger-Temperatur von 300°C wurden
die Einführungssysteme für das SiF₄-Gas, das Wasserstoffgas,
das B₂H₆-Gas und das PH₃-Gas auf ein Vakuum von 0,67 mPa
gebracht. Nachdem das Hilfsventil
740, die Auslaßventile 725, 726, 727 und 728 und
die Einlaßventile 720, 721, 722 und 723 geschlossen wurden,
wurden das Ventil 730 der Druckgasflasche 711 mit
dem SiF₄-Gas, das Ventil 731 der Druckgasflasche 712
mit dem Wasserstoffgas und das Ventil 732 der Druckgasflasche
713 mit dem B₂H₆-Gas geöffnet. Durch Einregeln
des Drucks an den jeweiligen Auslaßmanometern 735,
736 bzw. 737 auf 98,1 kPa und allmähliches Öffnen der
Einlaßventile 720, 721 und 722 wurden das SiF₄-Gas,
das Wasserstoffgas und das B₂H₆-Gas in die Durchflußmesser
716, 717 und 718 eingelassen. Darauffolgend wurden
die Auslaßventile 725 und 726 allmählich geöffnet, wonach
auch das Hilfsventil 740 geöffnet wurde. Dabei wurden die
Einlaßventile 720 und 721 so eingestellt, daß das Verhältnis
zwischen der Durchflußmenge von SiF₄-Gas und der
Durchflußmenge von Wasserstoffgas 10:1 betrug. Als
nächstes wurde unter Beobachtung des Pirani-Manometers
741 die Öffnung des Hilfsventils 740 geregelt, bis das
Innere der Abscheidungskammer 701 ein Vakuum von 1,33 Pa
angenommen hat. Nach der Stabilisierung des
Innendrucks der Abscheidungskammer 701 wurde das Hauptventil
710 allmählich geschlossen, bis das Pirani-Manometer
741 einen Wert von 67 Pa anzeigte.
Zu diesem Zeitpunkt wurde aus der B₂H₆-Gas-Druckgasflasche
713 über das Ventil 732 dem SiF₄-Gas und dem Wasserstoffgas
das B₂H₆-Gas beigemischt und derart in die Abscheidungskammer
701 eingeleitet, daß gemäß der Anzeige an dem
Durchflußmesser 718 das B₂H₆-Gas in bezug auf das SiF₄-
Gas einen Mengenanteil von 0,003 Volumen-% hatte, wobei
das Einmischen unter Regelung des Einlaßventils 722 und
des Auslaßventils 727 bei einem (an dem Ausgangsmanometer
737 angezeigten) Gasdruck von 98,1 kPa vorgenommen
wurde. Sobald die Gaseinströmung stabil geworden,
der Druck im Kammer-Inneren konstant geworden und
die Schichtträger-Temperatur auf 300°C stabilisiert war,
wurde zum Einleiten der Glimmentladung wie in Beispiel
17 die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 eingeschaltet,
um dadurch an dem Schichtträger eine a-Halbleiterschicht
zu züchten. Zugleich wurde begonnen, das Auslaßventil
727 allmählich zu öffnen, wobei die Öffnung des Auslaßventils
727 kontinuierlich in 5,5 h so vergrößert
wurde, daß der Durchflußmesser 718 in bezug auf das SiF₄-
Gas eine Durchflußmenge von 0,003 Volumen-% bis
0,008 Volumen-% zeigte. Danach wurde die B₂H₆-Gas-Durchflußmenge
von 0,008 Volumen-% in bezug auf die Durchflußmenge
von SiF₄-Gas für 30 min beibehalten. Nachdem
über 6 h unter den vorstehend beschriebenen Bedingungen
die a-Halbleiterschicht an dem Schichtträger gezüchtet
worden war, wurde zur Beendigung der Glimmentladung die
Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 abgeschaltet. Bei diesem
Zustand wurden das Auslaßventil 727 und das Einlaßventil
722 geschlossen, wonach das Ventil 722 der PH₃-Gas-Druckgasflasche
714 geöffnet wurde. Durch Einstellen des Drucks
an dem Auslaßmanometer 738 auf 98,1 kPa und allmähliches
Öffnen des Einlaßventils 723 wurde das PH₃-Gas in den
Durchflußmesser 719 eingelassen, wonach das Auslaßventil
728 allmählich in der Weise geöffnet wurde, daß der
Durchflußmesser 719 in bezug auf das SiF₄-Gas eine Durchflußmenge
von 0,003 Volumen-% zeigte, die dann stabilisiert
wurde.
Darauffolgend wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle
742 wieder eingeschaltet, um die Glimmentladung
wieder aufzunehmen. Nach Fortsetzung der Glimmentladung
für weitere 8 min wurde die Heizeinrichtung 708 ausgeschaltet
und dann auch die Hochfrequenz-Spannungsquelle
742 ausgeschaltet. Sobald als Schichtträger-Temperatur
100°C angezeigt wurden, wurden die Auslaßventile 725,
726 und 728 und die Einlaßventile 720, 721 und 723
geschlossen, während das Hauptventil 710 geöffnet wurde,
um das Vakuum im Inneren der Abscheidungskammer 701
auf 1,33 mPa oder darunter zu bringen. Danach
wurde das Hauptventil 710 geschlossen und durch Öffnen
des Belüftungsventils 744 das Innere der Kammer 701 auf Atmosphärendruck
gebracht, wonach der Schichtträger entnommen
wurde. In diesem Fall betrug die Gesamtdicke der auf diese
Weise erzeugten photoleitfähigen Schicht annähernd
14 µm.
Das auf diese Weise erzielte Aufzeichnungsmaterial
wurde im Dunkeln einer positiven Koronaentladung
mit einer Netzspannung von 6 kV unterzogen, wonach es
bildmäßig mit einer Lichtmenge von 5 lx · s
belichtet wurde, um dadurch ein elektrostatisches Ladungsbild
zu erzeugen. Dieses Ladungsbild wurde nach dem
Kaskaden-Verfahren mit einem negativ geladenen Toner
entwickelt, wonach das Bild auf ein als Bildempfangsmaterial dienendes Papier übertragen
und fixiert wurde. Es konnte ein außerordentlich
klares Bild erzielt werden.
Unter Anwendung der in Fig. 8 gezeigten Vorrichtung
wurde ein elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial
entsprechend den nachstehend angeführten Verfahrensschritten
hergestellt:
Durch Aufdampfen eines dünnen Platinfilms
mit annähernd 80 nm Dicke nach dem Elektronenstrahl-
Vakuumverdampfungs-Verfahren wurde eine Edelstahlplatte
von 10 cm × 10 cm und 0,2 mm Dicke mit gereinigten Oberflächen
als Schichtträger 802 vorbereitet. Dieser Schichtträger
wurde an einer Befestigungseinrichtung 803 mit einer eingebauten
Heizeinrichtung 804 und einem eingebauten Thermoelement
befestigt und in einer Zerstäubungs-Abscheidungskammer
801 angebracht. An einer dem Schichtträger 802 gegenüberliegenden
Elektrode 806 wurde ein Target
805 aus polykristallinem Silicium
(mit einer Reinheit von 99,999%) in der Weise befestigt,
daß sie dem Schichtträger 802 parallel war und diesem mit
einem Abstand von 8,5 cm gegenüberstand.
Das Innere der Abscheidungskammer 801 wurde zunächst
durch volles Öffnen eines Hauptventils
807 auf annähernd 133 nPa evakuiert
(wobei alle anderen Ventile in dem System geschlossen
waren), wonach eine völlige Entlüftung durch Öffnen eines
Hilfsventils 832 und Öffnen von Auslaßventilen 820,
821, 822 und 823 erfolgte; danach wurden die Auslaßventile
820, 821, 822 und 823 sowie das Hilfsventil
832 geschlossen.
Durch Einschalten der Heizeinrichtung 804 wurde
der Schichtträger 802 auf 250°C gehalten. Danach wurde ein
Ventil 824 einer SiF₄ (mit einer Reinheit von 99,99995%)
enthaltenden Druckgasflasche 808 geöffnet und der Ausgangsdruck
mit Hilfe eines Auslaßmanometers 828 auf 98,1 kPa
eingestellt. Darauffolgend wurde ein Einlaßventil 816
allmählich geöffnet, um das SiF₄-Gas in einen Durchflußmesser
812 einzulassen. Dann wurde das Auslaßventil 820
und ferner das Hilfsventil 832 allmählich geöffnet.
Der Innendruck in der Abscheidungskammer 801 wurde durch Regeln
des Auslaßventils 820 auf ein Vakuum von 67 mPa
gebracht, wobei der Druck mittels eines
Pirani-Manometers 835 gemessen wurde. Darauffolgend
wurde ein Ventil 825 einer Argongas (mit einer Reinheit
von 99,9999%) enthaltenden Druckgasflasche 809 geöffnet,
um es zur Anzeige eines Druckwerts von 98,1 kPa
an einem Auslaßmanometer 829 einzustellen, wonach
ein Einlaßventil 817 geöffnet wurde und dann das Auslaßventil
821 allmählich geöffnet wurde, wodurch das Argongas
in die Abscheidungskammer eingeleitet wurde. Das
Auslaßventil 821 wurde weiter allmählich geöffnet, bis
das Pirani-Manometer 835 ein Vakuum von 133 mPa
anzeigte. Bei diesem Zustand wurde das
Hauptventil 807 allmählich geschlossen, sobald sich die
Durchflußmenge stabilisiert hat, und dann weiter geschlossen,
bis der Innendruck in der Abscheidungskammer
801 1,33 Pa betrug. Anschließend wurde
ein Ventil 827 einer PH₃-Gas (mit einer Reinheit von
99,9995%) enthaltenden Druckgasflasche 111 geöffnet
und nach Einregelung eines Auslaßmanometers 831 auf
einen Druckwert von 98,1 kPa ein Einlaßventil 819 geöffnet,
wonach das Auslaßventil 823 allmählich geöffnet
und unter Beobachtung eines Durchflußmessers 815
so eingestellt wurde, daß das PH₃-Gas mit einer Durchflußmenge
von annähernd 0,5 Volumen-% in bezug
auf die an dem Durchflußmesser 812 angezeigte Durchflußmenge
des SiF₄-Gases strömen konnte. Nachdem überprüft
wurde, daß die Durchflußmesser 812, 813 und 815
stabil geworden sind, wurde eine Hochfrequenz-Spannungsquelle
833 eingeschaltet, so daß zwischen dem Target
805 und der Befestigungseinrichtung 803 eine Hochfrequenz-
Eingangsspannung mit 13,56 MHz und 1 kV angelegt
wurde. Unter entsprechender Steuerung in der Weise,
daß eine gleichmäßige Entladung unter diesen Bedingungen
fortgesetzt wurde, wurde die Schicht gebildet. Auf diese
Weise wurde die Entladung 4 h lang zur Bildung
einer Innenschicht fortgesetzt. Danach wurde die Hochfrequenz-
Spannungsquelle 833 abgeschaltet, um zunächst
die Entladung zu beenden. Darauffolgend wurden das Auslaßventil
823 und das Einlaßventil 819 geschlossen. Dann
wurde ein Ventil 826 einer B₂H₆-Gas (mit einer Reinheit
von 99,9995%) enthaltenden Druckgasflasche 810 geöffnet,
wonach unter Einregelung eines Auslaß-Druckwerts
von 98,1 kPa an einem Auslaßmanometer 830 ein Einlaßventil
818 geöffnet wurde, während zugleich das Auslaßventil
822 allmählich so geöffnet wurde, daß mit Hilfe
eines Durchflußmessers 814 die Durchflußmenge von
B₂H₆-Gas auf 1 Volumen-% bezüglich der Durchflußmenge
des SiF₄-Gases eingeregelt wurde. Sobald die Durchflußmengen
von SiF₄-Gas, Argongas und B₂H₆-Gas stabil
geworden sind, wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle
833 erneut eingeschaltet, um zur Wiederaufnahme der Entladung
eine Hochfrequenz-Spannung von 1 kV anzulegen.
Nach dem Fortsetzen der Entladung für 40 min unter
diesen Bedingungen wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle
833 abgeschaltet und dann auch die Stromversorgung
der Heizeinrichtung 804 abgeschaltet. Sobald die Schichtträger-
Temperatur 100°C oder weniger erreicht hatte, wurden
die Auslaßventile 820, 821 und 822, die Einlaßventile
816, 817 und 818 sowie auch das Hilfsventil 832 geschlossen,
wonach das Hauptventil 807 voll geöffnet wurde,
um dadurch das Gas aus der Abscheidungskammer abzuführen.
Danach wurde das Hauptventil 807 geschlossen
und ein Belüftungsventil 834 geöffnet, um das Innere der Abscheidungskammer
auf Atmosphärendruck zu bringen; dann
wurde der Schichtträger entnommen. In diesem Fall war die
auf diese Weise erzeugte photoleitfähige Schicht 6 µm
dick.
Das auf diese Weise erhaltene Aufzeichnungsmaterial
wurde der gleichen Prüfung wie in Beispiel
17 unterzogen, wodurch im Falle der kombinierten Anwendung
einer negativen Koronaladung mit -5,5 kV und eines
positiv geladenen Entwicklers ein Bild erzielt werden
konnte, das hinsichtlich der Bildauflösung, der
Tönung und der Bilddichte hervorragend war.
Unter den gleichen Bedingungen und nach den gleichen
Verfahrensschritten wie in Beispiel 19 wurde
an dem Molybdän-Schichtträger eine a-Si:X-Schicht mit 14 µm
Dicke gebildet, wonach der beschichtete Schichtträger
der Abscheidungskammer 701 entnommen und dann auf die
a-Si:X-Schicht Polycarbonat-Harz in der Weise aufgebracht
wurde, daß die Dicke der Harzbeschichtung nach
dem Trocknen 15 µm betrug, wodurch eine elektrisch isolierende
Schicht gebildet wurde. Das auf diese Weise erhaltene
elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
wurde 0,2 s lang einer negativen Koronaladung mit einer
Netzspannung von 5,5 kV als Primärladung an der Oberfläche
der Isolierschicht unterzogen, worauf diese
auf -2 kV aufgeladen wurde. Darauf wurde das
Aufzeichnungsmaterial unter gleichzeitiger bildmäßiger
Belichtung mit einer Lichtmenge von 4 lx · s
einer positiven Koronaentladung mit einer Netzspannung
von 6 kV als Sekundärladung unterzogen; danach
folgte eine gleichmäßige Gesamtbelichtung der Oberfläche
des Aufzeichnungsmaterials, wodurch ein elektrostatisches
Ladungsbild erzeugt wurde. Dieses Ladungsbild wurde
nach dem Kaskaden-Verfahren mit einem positiv geladenen
Toner entwickelt, wonach das entwickelte Tonerbild
auf Bildempfangsmaterial übertragen und fixiert wurde.
Es konnte ein Bild mit außerordentlich guter Bildqualität
erzielt werden. Die gleiche gute Qualität wie bei
dem anfänglichen Bild konnte selbst nach Wiederholung
der Reproduktion auf mehr als 100 000 Kopierblättern aufrechterhalten
werden.
Auf die gleiche Weise wie in Beispiel 19 mit
der Ausnahme, daß der Schichtträger eine Aluminiumplatte war,
deren Oberfläche einer Eloxier-Behandlung unterzogen war,
wurde an dem Aluminium-Schichtträger eine a-Si:X-Schicht mit
14 µm Dicke gebildet, um das elektrophotographische
Aufzeichnungsmaterial herzustellen.
Das Aufzeichnungsmaterial wurde unter den gleichen
Bedingungen und nach den gleichen Verfahrensschritten
wie in Beispiel 19 dem Bilderzeugungsverfahren auf als
Bildempfangsmaterial dienendem Papier unterzogen, wodurch ein klares Bild
mit hoher Bildauflösung erzielt werden konnte.
An einer Oberflächenseite eines Glasmaterials
(Corningglas Nr. 7059 mit den Abmessungen 4 cm × 4 cm
× 1 mm Dicke mit beidseitigem Oberflächenschliff), dessen
Oberfläche zuvor gereinigt worden war, wurde im
Vakuum mit ITO (In₂O₃ : SnO₂ = 20 : 1, bei 600°C gebildet
und kalziniert) in einer Dicke von 120 nm abgeschieden,
wonach eine Wärmebehandlung bei 500°C in einer Sauerstoffatmosphäre
folgte, um dadurch einen Schichtträger für das
Aufzeichnungsmaterial zu erhalten.
Der Schichtträger wurde mit der ITO-beschichteten Oberfläche
nach oben an der Befestigungseinrichtung 703 der
in Beispiel 17 verwendeten Vorrichtung (Fig. 7) angebracht.
Darauf wurde in derselben Weise
wie in Beispiel 17 das Innere der Glimmentladungs-
Abscheidungskammer 701 auf 0,67 mPa evakuiert.
Während die Schichtträger-Temperatur auf 270°C gehalten
wurde, wurden SiF₄-Gas und Wasserstoffgas in die
Abscheidungskammer eingeleitet und deren Innendruck auf
einen Wert von 107 Pa eingeregelt. Ferner
wurde aus der das PH₃-Gas enthaltenden Druckgasflasche
714 über das Ventil 733 unter Mischung mit dem SiF₄-Gas
und dem Wasserstoffgas das PH₃-Gas in der Weise in die
Abscheidungskammer 701 eingeleitet, daß unter Beobachtung
des Durchflußmessers 719 bei einem Gasdruck von 98,1 kPa
(gemäß der Anzeige an dem Auslaßmanometer 738) durch
Einstellung des Einlaßventils 723 und des Auslaßventils
728 sein Verhältnis in bezug auf das SiF₄-Gas 0,05 Volumen-%
betrug. Sobald die Gaseinströmung stabil,
der Innendruck der Abscheidungskammer 701 konstant
und die Schichtträger-Temperatur bei 270°C
stabil geworden war, wurde wie in Beispiel 17 die
Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 eingeschaltet, um die
Glimmentladung einzuleiten. Nach Fortsetzung der Glimmentladung
über 10 min unter den vorstehend beschriebenen
Bedingungen wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle
742 abgeschaltet, um die Glimmentladung zu beenden und
dadurch die Bildung einer Innenschicht abzuschließen.
Danach wurden das Auslaßventil 728 und das Einlaßventil
723 geschlossen. Nach Ablauf einer bestimmten Zeitdauer
wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 wieder
eingeschaltet, um die Glimmentladung wieder aufzunehmen;
nach dem Aufrechterhalten dieses Zustands für 4 h
wurde zum Beenden der Glimmentladung die Hochfrequenz-
Spannungsquelle abgeschaltet. Darauf wurde das
Ventil 732 der das B₂H₆-Gas enthaltenden Druckgasflasche
713 geöffnet und nach Einstellung eines Drucks an dem
Auslaß-Druckmesser 737 auf 98,1 kPa das Einlaßventil 722
allmählich geöffnet, um das B₂H₆-Gas in den Durchflußmesser
718 einzuleiten. Ferner wurde das Auslaßventil 727
allmählich geöffnet und eingestellt, bis der Durchflußmesser
718 die B₂H₆-Gas-Durchflußmenge von 0,008 Volumen-%
in bezug auf die SiF₄-Gas-Durchflußmenge zeigte,
so daß die Durchflußmenge von B₂H₆-Gas in die
Abscheidungskammer 701 zusammen mit den Durchflußmengen
von SiF₄-Gas und Wasserstoffgas stabilisiert war.
Darauf wurde wieder die Hochfrequenz-Spannungsquelle
742 eingeschaltet, um die Glimmentladung einzuleiten,
die unter den gleichen Bedingungen 10 min lang aufrechterhalten
wurde. Danach wurden die Heizeinrichtung 708
und die Hochfrequenz-Spannungsquelle abgeschaltet, um
die Schichtträger-Temperatur auf 100°C abzusenken. Dann wurden
die Auslaßventile 725, 726 und 727 sowie die Einlaßventile
720, 721 und 722 geschlossen, während das Hauptventil
710 voll geöffnet wurde, um die Abscheidungskammer
701 auf ein Vakuum von 1,33 mPa oder darunter
zu evakuieren; dann wurde das Hauptventil 710 geschlossen
und durch Öffnen des Belüftungsventils 744 die Kammer
701 auf Atmosphärendruck gebracht, wonach der Schichtträger
entnommen wurde. Die ganze, auf diese Weise gebildete
a-Si:X-Schicht war ungefähr 9 µm dick.
Das auf diese Weise hergestellte elektrographische
Aufzeichnungsmaterial wurde in die Versuchsvorrichtung
zum Laden und bildmäßigen Belichten eingesetzt, wie sie
in Beispiel 1 verwendet wurde, und der Bilderzeugungs-
Prüfung unterzogen; dabei konnte bei kombinierter
Verwendung einer negativen Koronaladung mit -5,5 kV und
eines positiv geladenen Entwicklers auf dem als Bildempfangsmaterial
dienenden Papier ein Tonerbild mit hervorragend guter Qualität und
hohem Bildkontrast erzielt werden.
Unter Anwendung der in Fig. 7 gezeigten Glimmentladungs-
Abscheidungsvorrichtung wurde auf die nachstehend beschriebene
Weise ein elektrophotographisches
Aufzeichnungsmaterial erzeugt, das dann für die gewünschte Bilderzeugung
dem Bildentwicklungs-Vorgang unterzogen wurde.
Als erstes wurde als Schichtträger 709 eine Molybdän-
Platte mit 0,2 mm Dicke und 5 cm Durchmesser, die durch
die gleiche Oberflächenbehandlung wie in Beispiel
17 gereinigt worden war, an der Befestigungseinrichtung 703
befestigt, die in einer vorbestimmten Lage in der Glimmentladungs-
Abscheidungskammer 701 angebracht war. Nach
der Feststellung, daß alle Ventile in dem System geschlossen
sind, wurde das Hauptventil 710 voll geöffnet,
um die Luft aus der Kammer 701 auszuleiten und das Vakuum
auf ungefähr 0,67 mPa zu bringen. Danach
wurde die Eingangsspannung der Heizeinrichtung 708 gesteigert,
um unter Veränderung der Eingangsspannung den
Schichtträger auf eine stabilisierte konstante Temperatur von
200°C zu erwärmen, wobei die Temperatur des Molybdän-
Schichtträgers gemessen wurde.
Dann wurden das Hilfsventil 740, die Auslaßventile
725, 727 und 729 und die Einlaßventile 720, 722 und 724
aufeinanderfolgend voll geöffnet, wodurch das Innere der
Durchflußmesser 716, 718 und 720 a hinreichend entlüftet
und evakuiert wurde. Nach dem Schließen
des Hilfsventils 740, der Auslaßventile 725, 727 und
729 und der Einlaßventile 720, 722 und 724 wurden das
Ventil 730 der das SiF₄-Gas (mit einer Reinheit von
99,999%) enthaltenden Druckgasflasche 711 und das Ventil
734 der das SiH₄-Gas enthaltenden Druckgasflasche 715
geöffnet. Danach wurden unter Einregelung des Drucks an
den Auslaßmanometern 735 und 739 auf 98,1 kPa die Einlaßventile
720 und 724 allmählich geöffnet, um das SiF₄-Gas
bzw. das SiH₄-Gas in die Durchflußmesser 716 und 720 a
einzulassen. Darauffolgend wurden die Auslaßventile 725
und 729 und danach das Hilfsventil 740 allmählich geöffnet.
Dabei wurden die Einlaßventile 720 und 724 so
eingestellt, daß das Verhältnis zwischen der Durchflußmenge
von SiF₄-Gas und der Durchflußmenge von SiH₄-
Gas zu 4:6 wurde. Darauffolgend wurde der Öffnungsgrad
des Hilfsventils 740 unter Beobachtung des Pirani-
Manometers 741 eingeregelt, bis das Vakuum in der Kammer
701 1,33 Pa betrug. Sobald der Innendruck
in der Kammer 701 stabilisiert war, wurde das Hauptventil
710 allmählich geschlossen, bis das Pirani-Manometer
741 einen Wert von 93 Pa zeigte. Darauffolgend
wurde durch Schließen des Schalters für die Hochfrequenz-
Spannungsquelle 742 der Induktionsspule 743 (an
dem oberen Teil der Kammer) Hochfrequenz-Spannung mit
13,56 MHz zugeführt, um innerhalb der Abscheidungskammer
701 an dem Spulenbereich eine Glimmentladung herbeizuführen,
wobei eine Eingangsleistung von 25 W erzielt wurde.
Unter den vorstehend beschriebenen Bedingungen wurde
zur Bildung der photoleitfähigen Schicht an dem Schichtträger
eine a-Halbleiterschicht gezüchtet. Nach dem Aufrechterhalten
der gleichen Bedingungen für 3 h wurde die
Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 abgeschaltet, um die
Glimmentladung zu beenden. Darauffolgend wurde aus der
das B₂H₆-Gas enthaltenden Druckgasflasche 713 über das
Ventil 732 bei einem Gasdruck von 98,1 kPa unter Mischung
mit dem SiF₄-Gas das B₂H₆-Gas in die Abscheidungskammer
701 eingeleitet, und zwar unter Beobachtung des Durchflußmessers
718 durch Regelung des Einlaßventils 722
des Auslaßventils 727 in der Weise, daß es bezüglich der
Durchflußmenge des SiF₄-Gases in einer Menge von 0,006
Volumen-% eingeleitet wurde. Sobald die Gaseinströmung
stabil war, wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742
eingeschaltet, um die Glimmentladung einzuleiten. Nach
Aufrechterhaltung der Glimmentladung über 8 min wurden
die Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 und die Heizeinrichtung
708 abgeschaltet, um den Schichtträger auf 100°C abkühlen
zu lassen. Sobald die Schichtträger-Temperatur diesen Wert
erreicht hatte, wurden die Auslaßventile 725, 727 und
729 und die Einlaßventile 720, 722 und 724 geschlossen,
während das Hauptventil 710 voll geöffnet wurde, um zunächst
die Abscheidungskammer 701 auf einen Wert von
1,33 mPa zu evakuieren. Danach wurde das
Hauptventil 710 geschlossen und das Belüftungsventil 744 geöffnet,
um das Innere der Abscheidungskammer 701 auf den Atmosphärendruck
zu bringen, wonach der Schichtträger entnommen
wurde. Die Gesamtdicke der auf diese Weise gebildeten
photoleitfähigen Schicht betrug ungefähr 8 µm. Das auf
diese Weise erhaltene elektrophotographische Aufzeichnungsmaterial
wurde auf die gleiche Weise wie bei dem
Beispiel 17 den Bilderzeugungs-Verfahrensschritten des
Ladens, Belichtens, Entwickelns und der Bildübertragung
unterzogen; dabei konnte auf dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier ein
Tonerbild mit außerordentlich guter Qualität erzielt
werden.
Auf die gleiche Weise wie in Beispiel 17 wurde
der Molybdän-Schichtträger in die Glimmentladungs-Abscheidungskammer
701 eingesetzt, wonach deren Inneres auf ein
Vakuum von 0,67 mPa evakuiert wurde.
Unter Aufrechterhalten einer Schichtträger-Temperatur von 300°C
wurden das Hilfsventil 740 und danach die Auslaßventile
725, 726, 727 und 729 sowie die Einlaßventile 720,
721, 722 und 724 voll geöffnet. Dadurch wurden die Durchflußmesser
716, 717, 718 und 720 a völlig entlüftet und
in ihrem Inneren evakuiert. Nach
dem Schließen des Hilfsventils 740, der Auslaßventile
725, 726, 727 und 729 und der Einlaßventile 720, 721,
722 und 724 wurden das Ventil 734 der das SiH₄-Gas enthaltenden
Druckgasflasche 715 und das Ventil 731 der das
Wasserstoffgas enthaltenden Druckgasflasche 712 geöffnet.
Durch Einstellen eines Drucks von 98,1 kPa an den jeweiligen
Auslaßmanometern 739 und 736 und allmähliches
Öffnen der Einlaßventile 724 und 721 wurden das SiH₄-
Gas und das Wasserstoffgas in die Durchflußmesser 720 a
bzw. 717 eingelassen. Darauffolgend wurden die Auslaßventile
729 und 726 allmählich geöffnet, wonach dann auch
das Hilfsventil 740 allmählich geöffnet wurde. Dabei
wurden die Einlaßventile 724 und 721 so eingeregelt, daß
zwischen der Durchflußmenge von SiH₄-Gas und der Durchflußmenge
von Wasserstoffgas ein Verhältnis von 1:5
bestand. Als nächstes wurde der Öffnungsgrad des Hilfsventils
740 unter Beobachtung des Pirani-Manometers
741 geregelt und das Ventil geöffnet, bis in der Abscheidungskammer
701 ein Vakuum von 1,33 Pa erreicht
war. Nach der Stabilisierung des Innendrucks der
Abscheidungskammer 701 wurde das Hauptventil 710 allmählich
geschlossen, bis das Pirani-Manometer 741 einen
Wert von 27 Pa zeigte. Nach dem Feststellen,
daß der Innendruck in der Abscheidungskammer 701
stabil geworden ist, wurde durch nachfolgendes Schließen
des Schalters der Hochfrequenz-Spannungsquelle 742 der
Induktionsspule 743 (an dem oberen Teil der Kammer) eine
Hochfrequenz-Spannung mit 13,56 MHz zugeführt, um in der
Abscheidungskammer 701 an dem Spulenbereich eine Glimmentladung
herbeizuführen, wobei eine Eingangsleistung von
10 W erzielt wurde. Unter den vorstehend beschriebenen
Bedingungen wurde an dem Schichtträger eine a-Halbleiterschicht
gezüchtet.
Nachdem an dem Schichtträger unter den vorstehend beschriebenen
Bedingungen, die 8 h lang aufrechterhalten
wurden, eine a-Halbleiterschicht (Innenschicht) gezüchtet
wurde, wurde die Hochfrequenz-Spannungsquelle
742 abgeschaltet, um die Glimmentladung zu beenden; dann
wurden das Auslaßventil 729 und das Einlaßventil 724 geschlossen.
Auf dieser a-Halbleiterschicht wurde weiterhin
nach den gleichen Verfahrensvorgängen wie in
Beispiel 17 als Außenschicht eine mit Bor dotierte
a-Si:X-Schicht aufgebracht. Die Gesamtdicke der auf diese
Weise gebildeten photoleitfähigen Schicht betrug ungefähr
6 µm. Wenn dann das auf diese Weise erhaltene
Aufzeichnungsmaterial in eine Versuchsvorrichtung zum Laden
und Belichten eingesetzt wurde und der Bilderzeugungs-
Prüfung gemäß Beispiel 17 unterzogen wurde, wurde
mit einer Kombination einer negativen Koronaentladung
mit -5,5 kV und eines positiv geladenen Entwicklers
auf dem als Bildempfangsmaterial dienenden Papier ein Tonerbild mit außerordentlich
guter Qualität und hohem Bildkontrast erzielt.
Claims (37)
1. Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial, das auf einem
Schichtträger eine photoleitfähige Schicht auf Basis von
amorphem Silicium, das gegebenenfalls Wasserstoffatome enthält,
aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige
Schicht (103; 203) mit Halogenatomen dotiert ist oder
Halogenatome enthält.
2. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die photoleitfähige Schicht (103; 203) 1 bis 40
Atom-% Halogenatome enthält.
3. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Halogenatome Fluoratome sind.
4. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Halogenatome Chloratome sind.
5. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige Schicht (103;
203) Wasserstoffatome in einer Menge enthält, die höchstens
das Zweifache der Menge der Halogenatome beträgt, wobei die
Gesamtmenge der Wasserstoffatome und der Halogenatome höchstens
40 Atom-% beträgt.
6. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige Schicht (103;
203) durch Abscheidung mittels eines Vakuumaufdampfverfahrens
unter Ausnutzung elektrischer Entladung und durch Verwendung
mindestens einer Art eines zur Erzeugung von Silicium befähigten
Ausgangsmaterials, das aus Silanen, Siliciumhalogeniden
und halogensubstituierten Silanen ausgewählt ist, die
alle gasförmig oder leicht vergasbar sind, sowie mindestens
einer Art eines Ausgangsmaterials für den Einbau von Halogenatomen,
das aus Siliciumhalogeniden, halogensubstituierten
Silanen, Halogenen, Interhalogenverbindungen, halogenierten
Kohlenstoffverbindungen und halogensubstituierten Paraffin-
Kohlenwasserstoffen ausgewählt ist, gebildet worden ist.
7. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die Silane SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ und Si₄H₁₀ sind.
8. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Siliciumhalogenide SiF₄, Si₂F₆, SiCl₄,
SiBr₄, SiCl₃Br, SiCl₂Br₂ und SiCl₃J sind.
9. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 6 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß die halogensubstituierten Silane
SiH₂F₂, SiH₂Cl₂, SiHCl₃, SiH₂Br₂ und SiHBr₃ sind.
10. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 6 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die Halogene F2, Cl₂, Br₂ und J₂
sind.
11. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 6 bis 10,
dadurch gekennzeichnet, daß die Interhalogenverbindungen BrF,
ClF, ClF₃, BrF₅, BrF₃, JF₇, JF₅, JCl und JBr sind.
12. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 6 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß die halogenierten Kohlenstoffverbindungen
CF₄, C₂F₆, C₃F₈, i-C₄F₁₀, C₂F₄, CCl₄ und CBr₄ sind.
13. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 6 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die halogensubstituierten Paraffin-
Kohlenwasserstoffe CHF₃, CH₂F₂, CH₃F, CH₃Cl, CH₃Br, CH₃J
und C₂H₅Cl sind.
14. Aufzeichnungsmaterial nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch eine Sperrschicht, die sich
zwischen dem Schichtträger (102; 202) und der photoleitfähigen
Schicht (103; 203) befindet.
15. Aufzeichnungsmaterial nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige
Schicht (103; 203) als Fremdatome Atome eines Elements der
Gruppe IIIA des Periodensystems in einer Menge von 10-6 bis
10-3 Atom-% enthält.
16. Aufzeichnungsmaterial nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige
Schicht (103; 203) als Fremdatome Atome eines Elements der
Gruppe VA des Periodensystems in einer Menge von 10-8 bis
10-3 Atom-% enthält.
17. Aufzeichnungsmaterial nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der photoleitfähigen
Schicht (103; 203) 1 bis 70 µm beträgt.
18. Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial, das auf
einem Schichtträger eine photoleitfähige Schicht mit einer
Innenschicht und einer Außenschicht jeweils auf Basis von
amorphem Silicium, das gegebenenfalls Wasserstoffatome enthält,
aufweist, wobei zwischen der Innenschicht und der Außenschicht
eine Sperrschicht gebildet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß die Innenschicht (306; 405) aus amorphem Silicium,
das mit Halogenatomen dotiert ist oder Halogenatome
enthält, und die Außenschicht (307; 406) aus amorphem Silicium
gebildet ist, wobei zwischen der Innen- und der Außenschicht
die Sperrschicht (305; 404) gebildet ist.
19. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet,
daß die Innenschicht (306; 405) 1 bis 40 Atom-% Halogenatome
enthält.
20. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 18 oder 19, dadurch
gekennzeichnet, daß die Außenschicht (307; 406) Halogenatome
in einer Menge von 1 bis 40 Atom-% enthält.
21. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 20,
dadurch gekennzeichnet, daß die Außenschicht (307; 406) Wasserstoffatome
in einer Menge von 1 bis 40 Atom-% enthält.
22. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 21,
dadurch gekennzeichnet, daß die Innenschicht (306; 405) Wasserstoffatome
in einer Menge enthält, die höchstens das Zweifache
der Menge der Halogenatome beträgt, wobei die Gesamtmenge
der Wasserstoffatome und der Halogenatome höchstens 40
Atom-% beträgt.
23. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 22,
dadurch gekennzeichnet, daß die Außenschicht (307; 406) Halogenatome
und Wasserstoffatome enthält, wobei die Menge der
Wasserstoffatome höchstens das Zweifache der Menge der Halogenatome
und die Gesamtmenge der Wasserstoffatome und der Halogenatome
höchstens 40 Atom-% beträgt.
24. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 23,
dadurch gekennzeichnet, daß die Innenschicht (306; 405) p-
leitend und die Außenschicht (307; 406) n-leitend ist.
25. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 23,
dadurch gekennzeichnet, daß die Innenschicht (306; 405) n-
leitend und die Außenschicht (307; 406) p-leitend ist.
26. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 25,
dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Schichtträger (302;
402) und der photoleitfähigen Schicht (303; 403) eine weitere
Sperrschicht gebildet ist.
27. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 26,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige Schicht (303;
403) durch Abscheidung mittels eines Vakuumaufdampfverfahrens
unter Ausnutzung elektrischer Entladung und durch Verwendung
mindestens einer Art eines zur Erzeugung von Silicium befähigten
Ausgangsmaterials, das aus Silanen, Siliciumhalogeniden
und halogensubstituierten Silanen ausgewählt ist, die
gasförmig oder leicht vergasbar sind, sowie mindestens einer
Art eines Ausgangsmaterials für den Einbau von Halogenatomen,
das aus Siliciumhalogeniden, halogensubstituierten Silanen,
Halogenen, Interhalogenverbindungen, halogenierten Kohlenstoffverbindungen
und halogensubstituierten Paraffin-Kohlenwasserstoffen
ausgewählt ist, gebildet worden ist.
28. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet,
daß die Silane SiH₄, Si₂H₆, Si₃H₈ und Si₄H₁₀ sind.
29. Aufzeichnungsmaterial nach Anspruch 27 oder 28, dadurch
gekennzeichnet, daß die Siliciumhalogenide SiF₄, Si₂F₆, SiCl₄,
SiBr₄, SiCl₃Br, SiCl₂Br₂, SiClBr₃ und SiCl₃J sind.
30. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 27 bis 29,
dadurch gekennzeichnet, daß die halogensubstituierten Silane
SiH₂F₂, SiH₂Cl₂, SiHCl₃, SiH₂Br₂ und SiHBr₃ sind.
31. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 27 bis 30,
dadurch gekennzeichnet, daß die Halogene F₂, Cl₂, Br₂ und J₂
sind.
32. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 27 bis 31,
dadurch gekennzeichnet, daß die Interhalogenverbindungen BrF,
ClF, ClF₃, BrF₅, BrF₃, JF₇, JF₅, JCl und JBr sind.
33. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 27 bis 32,
dadurch gekennzeichnet, daß die halogenierten Kohlenstoffverbindungen
CF₄, C₂F₆, C₃F₈, C₄F₈, i-C₄F₁₀, C₂F₄, CCl₄ und CBr₄
sind.
34. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 27 bis 33,
dadurch gekennzeichnet, daß die halogensubstituierten Paraffin-
Kohlenwasserstoffe CHF₃, CH₂F₂, CH₃F, CH₃Cl, CH₃Br, CH₃J
und C₂H₅Cl sind.
35. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 34,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige Schicht (303;
403) als Fremdatome Atome eines Elements der Gruppe IIIA des
Periodensystems in einer Menge von 10-6 bis 10-3 Atom-% enthält.
36. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 35,
dadurch gekennzeichnet, daß die photoleitfähige Schicht (303;
403) als Fremdatome Atome eines Elements der Gruppe VA des
Periodensystems in einer Menge von 10-8 bis 10-3 Atom-% enthält.
37. Aufzeichnungsmaterial nach einem der Ansprüche 18 bis 36,
dadurch gekennzeichnet, daß die Dicke der photoleitfähigen
Schicht (303; 403) 1 bis 70 µm beträgt.
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