DE3143768C2 - Adapter zur Verbindung von in einer Ebene angeordneten Kontaktpunkten eines Prüflings mit den Anschlüssen einer Prüfeinrichtung - Google Patents
Adapter zur Verbindung von in einer Ebene angeordneten Kontaktpunkten eines Prüflings mit den Anschlüssen einer PrüfeinrichtungInfo
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Abstract
Der Adapter besteht im wesentlichen aus drei Platten: einer parallel zum Prüfling (1) angeordneten Zwischenkontaktplatte (3) mit quer zur Plattenebene federnd beweglichen Kontaktstiften (4), deren obere Enden mit den Kontaktpunkten (2) des Prüflings (1) kontaktierbar sind; einer auf diese folgende Rangierplatte (7) mit beidseitig aus der Platte ragenden Kontaktstiften (8, 8Δ), von denen eine erste Gruppe (K1) dem Kontaktmuster der Zwischenkontaktplatte (3) entsprechend angeordnet ist und eine zweite Gruppe (K2) sich in den Randzonen der Rangierplatte (7) befindet. Die Kontaktstifte (8) der ersten Gruppe (K1) sind mit den Kontaktstiften (8Δ) der zweiten Gruppe (K2) mittels einer eine leicht auftrennbare Mehrfachbelegung jeden Kontaktstifts ermöglichenden An schlußtechnik, vorzugsweise der Wire-wrap-Technik, verbunden. Eine weitere Kontaktplatte (10) ist mit Kontaktmitteln versehen, die einerseits mit den Kontaktstiften (8Δ) der zweiten Gruppe (K2) der Rangierplatte (7) kontaktierbar sind, andererseits an die Prüfeinrichtung angeschlossen sind. Die Rangierplatte (7) läßt sich auf einfache Weise von Hand oder maschinell mit Kontaktstiften bestücken und verdrahten, so daß Änderungen des Kontaktmusters, bedingt durch prüflings- oder prüfprogrammspezifische Parameter, leicht durchführbar sind.
Description
- Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter zur Verbindung von in einer Ebene angeordneten Kontaktpunkten eines Prüflings, vorzugsweise einer Leiterplatte, mit den Anschlüssen einer Prüfeinrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
- Ein derartiger Adapter ist aus der DE-OS 29 20 226 bekannt. Dort ist parallel zur Unterseite des Prüflings, der eine nicht bestückte oder bestückte Leiterplatte bzw. Flachbaugruppe sein kann, eine Zwischenkontaktplatte mit quer zur Plattenebene federnd beweglichen Kontaktstiften angebracht, deren obere Enden die Kontaktpunkte des Prüflings kontaktieren. Auf die Zwischenkontaktplatte folgt eine ebenfalls parallel zu ihr angeordnete Rangierplatte in Form einer gedruckten Schaltung mit rasterartig angeordneten Kontaktstellen, die mit den unteren Enden der durch die Zwischenkontaktplatte führenden beweglichen Kontaktstifte in Verbindung stehen und die über durchkontaktierte Bohrungen an eine auf der Unterseite der Rangierplatte befindliche geätzte Schaltung angeschlossen sind. Die Leiterbahnen der geätzten Schaltung verbinden die mit den Kontaktstiften der Zwischenkontaktplatte in Verbindung stehenden Kontaktstellen mit einer weiteren Gruppe von regelmäßig angeordneten Kontaktstellen in den Randzonen der im Vergleich zum Prüfling flächenmäßig größeren Rangierplatte. Diese zweite Gruppe von Kontaktstellen auf der Rangierplatte wird mit Hilfe von federnd beweglichen Kontaktstiften einer weiteren Kontaktplatte abgegriffen, deren Anschlüsse zu der eigentlichen Prüfeinrichtung (Koppelfeld, Rechner) führen.
- Bei dieser Anordnung sind lediglich die Zwischenkontaktplatte und die Rangierplatte mit ihren Kontaktplatten prüflingsspezifisch auszuführen, d. h., die Kontaktstifte der Zwischenkontaktplatte lassen sich konform zu den Kontaktpunktmustern des Prüflings in die mit einem Lochraster versehene Platte einsetzen, und die Kontaktstellen der ersten Gruppe der Rangierplatte und ihre Verbindungen zu der zweiten Gruppe in den Randzonen werden entsprechend ausgelegt. Nachteilig dabei ist, daß bei komplexen Prüfprogrammen eine oder auch zwei Leiterbahnebenen zur Verbindung der ersten Gruppe von Kontaktstellen mit der zweiten Gruppe von Kontaktstellen auf der Rangierplatte nicht ausreichen, so daß für verschiedene Prüfschritte mehrere geätzte Schaltungsplatten bereitgestellt werden müssen. Auch bei geringfügigen Änderungen des Prüfprogramms oder der Prüfpunkte ist in der Regel die Herstellung einer neuen Leiterplatte mit geätzter Schaltung für die Rangierplatte notwendig.
- Es besteht die Aufgabe, eine auf einfache Weise herzustellende und leicht zu ändernde Adaptereinrichtung zu schaffen.
- Die Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß die Kontaktmittel der Rangierplatte aus Kontaktstiften bestehen, deren Länge ein Mehrfaches der Plattendicke beträgt und die beidseitig aus der Platte ragen, und die erste Gruppe von Kontaktstiften mit der zweiten Gruppe von Kontaktstiften mittels einer eine Mehrfachbelegung eines jeden Kontaktstifts ermöglichenden Anschlußtechnik verbunden ist.
- Als besonders vorteilhaft hat sich erwiesen, die Kontaktstiftgruppen mittels der Drahtwickel-Anschlußtechnik miteinander zu verbinden. Damit ist es möglich, die einzelnen Kontaktstifte mit Anschlüssen mehrfach zu belegen, nicht mehr benötigte Verbindungen einfach aufzutrennen und durch Einbringen weiterer Kontaktstifte in die Rangierplatte kleinere Änderungen des bereits vorhandenen Anschlußmusters vorzunehmen. Die Anfertigung von Rangierplatten durch maschinelles Einbringen und Verdrahten der Kontaktstifte gemäß dem vorgegebenen Kontaktpunktmuster des Prüflings läßt sich im Vergleich zur Anfertigung einer geätzten Schaltung in weitaus einfacherer Weise bewerkstelligen.
- Zur Erläuterung der Erfindung ist in den Figuren ein Ausführungsbeispiel dargestellt und im folgenden beschrieben.
- Fig. 1 zeigt einen Querschnitt durch den Adapter in zwei Positionen,
- Fig. 2 eine Ausführung der Rangierplatte.
- In der linken Bildhälfte der Fig. 1 sind die in hier nicht näher dargestellter Weise in Richtung der Mittellinie a-a&min; beweglichen Platten des Adapters in Rüstposition, in der rechten Bildhälfte in Arbeitsposition dargestellt.
- Der Prüfling 1 ist hier eine bestückte Leiterplatte mit in einer Ebene auf deren Unterseite befindlichen Kontaktpunkten 2, die kurzzeitig an die Prüfeinrichtung anzuschließen sind. Parallel zu der Unterseite des Prüflings 1 ist eine Zwischenkontaktplatte 3 angeordnet mit den Kontaktpunkten 2 des Prüflings 1 zugeordneten Kontaktstiften 4, die sich quer zur Plattenebene durch die Zwischenkontaktplatte 3 erstrecken. Die Kontaktstifte 4 sind mit in Achsrichtung teleskopartig beweglichen Teilstücken 6 ausgestattet.
- Auf die Zwischenkontaktplatte 3 und parallel dazu folgt die Rangierplatte 7, deren Kontaktmittel, hier in Form von durchgehenden Kontaktstiften 8, 8&min;, in zwei Gruppen angeordnet sind. Die erste Gruppe K 1 der Kontaktmittel besteht aus Kontaktstiften 8, deren Länge ein Mehrfaches der Plattendicke der Rangierplatte 7 beträgt und die beidseitig aus der Platte ragen. Diese erste Kontaktgruppe K 1 ist konform zu dem Kontaktpunktmuster des Prüflings 1 und der Zwischenkontaktplatte 3 angeordnet. Die zweite Kontaktgruppe K 2 mit den Kontaktstiften 8&min; ist in gleichmäßiger Anordnung ein- oder mehrreihig in den Randzonen der im Vergleich zum Prüfling 1 flächenmäßig größeren Rangierplatte 7 angeordnet.
- Die Kontaktstifte 8 der ersten Gruppe K 1 sind mit den Kontaktstiften 8&min; der zweiten Gruppe K 2 in vorgegebener Weise über Leiterverbindungen 9 in Drahtwickel-Anschlußtechnik verbunden, wobei, wie angedeutet, eine Mehrfachbelegung einzelner Kontaktstifte 8 und 8&min; möglich ist.
- In einer folgenden Kontaktplatte 10 sind koaxial zu den Kontaktstiften 8&min; der zweiten Gruppe K 2 in der Rangierplatte 7 in Richtung quer zur Plattenebene federnd bewegliche Kontaktmittel 11 angebracht, die einerseits über die Leitungen 12 an die Prüfeinrichtung angeschlossen und andererseits mit den unteren Enden der Kontaktstifte 8&min; in der Rangierplatte 7 kontaktierbar sind.
- Die Kontaktplatte 10 ist üblicherweise fest in einer hier nicht gezeichneten Parallelführung angeordnet, in welcher in Rüstposition nacheinander die Rangierplatte 7, die Zwischenkontaktplatte 3 und der Prüfling 1 eingesetzt und gehaltert werden.
- Die Platten werden dann in die in der rechten Bildhälfte gezeichnete Arbeitsposition gefahren, in welcher die oberen Enden der Kontaktstifte 4 in der Zwischenkontaktplatte 3 die Kontaktpunkte 2 des Prüflings 1 kontaktieren, während die unteren Enden der Kontaktstifte 4 in kraftschlüssiger und elektrisch leitender Verbindung mit den oberen Enden der Kontaktstifte 8 der ersten Gruppe K 1 in der Rangierplatte 7 stehen.
- Die unteren Enden der Kontaktstifte 8&min; der zweiten Gruppe K 2 stehen in kraftschlüssiger Kontaktverbindung mit den oberen Enden der Kontaktmittel 11 in der Kontaktplatte 10, die Verbindung zu der Prüfeinrichtung über die Leitungen 12 ist somit hergestellt.
- Fig. 2 zeigt einen Ausschnitt aus der Rangierplatte 7 mit den prüflingsspezifisch angeordneten Kontaktstiften 8 der ersten Gruppe K 1 und den ein- oder mehrreihig in den Randzonen der Rangierplatte 7 angebrachten Kontaktstiften 8&min; der zweiten Gruppe K 2.
- Als Kontaktstifte sind für beide Gruppen gleicherweise die vierkantigen Stacheln für Drahtwickel-Anschlußtechnik verwendet, die von Hand oder maschinell in die mit einem Lochraster versehene Rangierplatte 7 eingesetzt werden. Die aus isoliertem Schaltdraht bestehenden Leiterverbindungen 9 zwischen den Kontaktstiften 8 der ersten Gruppe K 1 und den Kontaktstiften 8&min; der zweiten Gruppe K 2 können erforderlichenfalls für jeden Kontaktstift mehrfach, auf beiden Seiten der Rangierplatte 7 vorgenommen werden. Auf diese Weise ist eine Änderung oder Erweiterung des Prüfprogramms durch Anbringen oder Auftrennen von Leiterverbindungen 9, gegebenenfalls auch durch Einbringen weiterer Kontaktstifte 8, ohne großen Aufwand möglich.
Claims (3)
1. Adapter zur Verbindung von in einer Ebene angeordneten Kontaktpunkten eines Prüflings, vorzugsweise einer Leiterplatte, mit den Anschlüssen einer Prüfeinrichtung mit
a) einer parallel zum Prüfling angebrachten Zwischenkontaktplatte mit quer zur Plattenebene federnd beweglichen Kontaktstiften, deren obere Enden mit den Kontaktpunkten des Prüflings kontaktierbar sind,
b) einer parallel zu der Zwischenkontaktplatte angeordneten Rangierplatte mit einer ersten Gruppe von Kontaktmitteln, die die unteren Enden der federnd beweglichen Kontaktstifte kontaktieren und mit einer vorzugsweise in den Randzonen angeordneten zweiten Gruppe von Kontaktmitteln in Verbindung stehen,
c) einer parallel zur Rangierplatte angebrachten Kontaktplatte mit fest angeordneten, an die Prüfeinrichtung angeschlossenen Kontaktstiften, deren freie Enden mit der zweiten Gruppe von Kontaktmitteln der Rangierplatte kontaktierbar sind,
dadurch gekennzeichnet, daß
d) die Kontaktmittel der Rangierplatte (7) aus Kontaktstiften (8, 8&min;) bestehen, deren Länge ein Mehrfaches der Plattendicke beträgt und die beidseitig aus der Platte ragen,
e) die erste Gruppe (K 1) von Kontaktstiften (8)mit der zweiten Gruppe (K 2)von Kontaktstiften (8&min;) mittels einer eine Mehrfachbelegung eines jeden Kontaktstifts ermöglichenden Anschlußtechnik verbunden ist.
2. Adapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Gruppen (K 1, K 2) von Kontaktstiften mittels Drahtwickel-Anschlußtechnik miteinander verbunden sind.
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Families Citing this family (8)
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| US4884024A (en) * | 1985-11-19 | 1989-11-28 | Teradyne, Inc. | Test pin assembly for circuit board tester |
| JPS6332880A (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-12 | モレツクス インコ−ポレ−テツド | テスト用の電気コネクタ |
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| FR2688975B1 (fr) * | 1992-03-19 | 1996-10-04 | Testelec | Dispositif interface entre un appareil testeur et une carte de circuit imprime. |
| US5945836A (en) * | 1996-10-29 | 1999-08-31 | Hewlett-Packard Company | Loaded-board, guided-probe test fixture |
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Family Cites Families (7)
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|---|---|---|---|---|
| US3806801A (en) * | 1972-12-26 | 1974-04-23 | Ibm | Probe contactor having buckling beam probes |
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| DE2707900C3 (de) * | 1977-02-24 | 1980-09-04 | Ante 6980 Wertheim Milkovic | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen |
| US4230985A (en) * | 1978-01-12 | 1980-10-28 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Fixturing system |
| DE2915742C2 (de) * | 1979-04-19 | 1984-04-26 | Werner 7750 Konstanz Heilmann | Prüfvorrichtung für eine elektronische Schaltung |
| DE2920226C2 (de) * | 1979-05-18 | 1983-04-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Adapter zum Anschluß von eine Vielzahl von rasterartig verteilten Anschlußpunkten aufweisenden Prüflingen |
| DE2933862A1 (de) * | 1979-08-21 | 1981-03-12 | Paul Mang | Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten. |
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