DE3330886C2 - - Google Patents

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DE3330886C2
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Description

Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät zum gleichzeitigen Prüfen mehrerer D/A- Konverter nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein Prüfgerät gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1 ist be­ kannt aus: Berg, Arthur: A/d and d/a converter testing. In: Electronic Design 7, April 1, 1974, S. 64 bis 69, speziell Fig. 2. Am invertierenden Eingang des Komparators steht die Spannung an, wie sie von einem Referenz-D/A-Konverter und einem getesteten D/A-Konverter, abgegeben wird. Beide Kon­ verter werden mit demselben Digitalsignal angesteuert, so daß sich bei ordnungsgemäßen Konvertern beide Analogspannungen in gleicher Weise stufenförmig ändern. Der Komparator ver­ gleicht diese stufenförmige Spannung mit dem Erdpotential und die resultierende Spannung wird auf einem Bildschirm dargestellt. Ist die Darstellung nicht exakt stufenförmig, liegt ein Fehler am getesteten Konverter vor.
In der zitierten Schrift ist außerdem ein Verfahren beschrie­ ben, gemäß dem die Ausgangsspannungen der beiden genannten Konverter voneinander abgezogen werden. Da beide jeweils bei ordnungsgemäßem Betrieb im wesentlichen dasselbe Analog­ signal ausgeben, sollte der Differenzwert im wesentlichen 0 betragen. Auch dieses Signal wird auf einen Bildschirm ge­ geben und an diesem wird überwacht, ob das Signal um einen vorgegebenen Schwellenwert nach oben oder unten von 0 abweicht. Ist dies der Fall, ist dies ein Zeichen für fehlerhaften Betrieb des getesteten Konverters.
Sowohl das Verfahren gemäß dem in der zitierten Schrift dar­ gestellten Prüfgerät wie auch das beschriebene Verfahren haben den Nachteil, daß durch Betrachtung eines Bildschirmes Fehler zu ermitteln sind. Dies ist mühselig, zeitraubend und fehleranfällig. Außerdem weist die zitierte Schrift darauf hin, daß derartige Verfahren sich nicht zum Testen von Kon­ vertern mit einer höheren Auflösung als 8 Bit eignen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Prüfgerät zum gleichzeitigen Prüfen mehrerer D/A-Konverter anzugeben, das sich zum Testen von Konvertern beliebiger Auflösung eignet und das schnell und zuverlässig arbeitet.
Diese Aufgabe wird durch ein Prüfgerät mit den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen sind Gegen­ stand der Unteransprüche.
Das erfindungsgemäße Gerät weist einen einfachen Aufbau auf, mit dem mehrere DAKs gleichzeitig überprüft werden können. Ein Digitalsignalerzeuger gibt Digitalsignale an die mehreren DAKs. Die Digitalsignale werden schrittweise verändert, so daß sich die Ausgangsspannungen von den DAKs symmetrisch in bezug auf eine Vorgabespannung ändern. Der Digitalsignal­ erzeuger kann ein durch Software in einem Speicher gesteuer­ ter Mikroprozessor, ein Digitalmustergenerator oder eine Kombination aus einem einstellbaren Abwärtszähler und einem einstellbaren Aufwärtszähler sein. Die analogen Ausgangs­ spannungen der mehreren DAKs werden in einem Widerstands­ netzwerk kombiniert, das zum Beispiel aus zwei in Reihe ge­ schalteten Widerständen oder drei Widerständen besteht, von denen jeweils ein Ende an einem gemeinsamen Verbindungspunkt liegt. Da die Ausgangsspannungen der DAKs symmetrisch in bezug auf die Vorgabespannung sind, wenn alle DAKs richtig arbeiten, ist die Ausgangsspannung vom Widerstandsnetzwerk unabhängig von der Änderung der Digitalsignale an die DAKs konstant. Diese Ausgangsspannung vom Widerstandsnetzwerk wird mit einer anderen Vorgabespannung, zum Beispiel Erde durch einen Komparator verglichen. Der Ausgangspegel des Komparators stellt das Prüfergebnis dar. Wenn der Ausgangs­ pegel des Komparators auf einem vorgegebenen Wert bei allen Änderungen der Digitalsignale an die DAKs bleibt, arbeiten alle DAKs ordnungsgemäß. Ist dies nicht der Fall, ist min­ destens einer der DAKs fehlerhaft, das heißt, er kann aus­ fallen. Diese Beurteilung kann dadurch erfolgen, daß der Ausgangspegel vom Komparator durch den Mikroprozessor, eine LED oder dergleichen überprüft wird.
Die Erfindung wird im folgenden an Hand von Figuren näher veranschaulicht. Es zeigt
Fig. 1 ein Blockdiagramm eines logischen Analysators mit einem erfindungsgemäßen Prüfgerät;
Fig. 2 ein Flußdiagramm zum Erläutern der Funktion des erfindungsgemäßen Prüfgeräts;
Fig. 3 ein Blockdiagramm eines Teils eines anderen erfindungsgemäßen Prüfgerätes; und
Fig. 4 ein Blockdiagramm eines Teils einer dritten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Prüf­ gerätes.
Bei dem logischen Analysator mit Prüfgerät gemäß Fig. 1 werden logische Signale an Eingängen 10, 12, 14 und 16 mit analogen (Schwell-) Spannungen von einem ersten DAK 26 und einem zweiten DAK 28 durch Komparatoren 18, 20, 22 bzw. 24 verglichen. Die logischen Eingangssignale werden für die nächste Stufe auf einen geeigneten logischen Pegel (zum Beispiel ECL) geändert. Die analoge Spannung vom ersten DAK 26 hängt von den logischen Signalen an den Eingängen 14 und 16 ab. Die analoge Spannung am zweiten DAK 28 hängt von den logischen Signalen an den Eingängen 10 und 12 ab. Die Ausgangssignale von den Komparatoren 18, 20, 22 und 24 wer­ den auf eine Speicherschaltung 30 und eine Triggerschal­ tung 32 zum Erzeugen eines Triggersignales gegeben. Der erste DAK 26, der zweite DAK 28, die Speicherschaltung 30 und die Triggerschaltung 32 sind mit einem Bus 34 (mit Daten-, Adreß- und Steuerleitungen) verbunden, an den eine Anzeigeeinrichtung 36 wie eine Kathodenstrahlröhre, ein Mikroprozessor (µP) 38 zum Beispiel vom Typ Z80A IC, ein Nur-Lese-Speicher (ROM) 40 zum Speichern von Programmen des Mikroprozessor 38, ein Schreib/Lese-Speicher (RAM) 42 als Zwischenspeicher für den Mikroprozessor 38 und eine Tasta­ tur 44 als Eingabeeinrichtung angeschlossen sind. Der Z80A-Mikroprozessor ist ausführlich beschrieben in "Z80/ Z80A CPU Technical Manual" und "Z8400, Z80 CPU Product specifikation" von Zilog. Auf das Triggersignal von der Triggerschaltung 32 hin werden die in der Speicherschal­ tung 30 gespeicherten logischen Signale durch den Mikro­ prozessor 38 gemäß dem Programm im ROM 40 verarbeitet und auf der Anzeigeeinrichtung 36 dargestellt. Über die Tasta­ tur 44 wird die Schreibbetriebsart der Speicherschaltung 30 gesteuert, der Triggerzustand der Triggerschaltung 32 ge­ setzt und die analogen Ausgangsspannungen des ersten DAK 26 und des zweiten DAK 28 unter Steuerung des Programms im ROM 40 und durch den Mikroprozessor 38 gesetzt.
Das anmeldegemäße Prüfgerät überprüft die Funktion des ersten DAK 26 und des zweiten DAK 28. Dazu sind die Ausgänge des ersten DAK 26 und des zweiten DAK 28 mit den beiden An­ schlüssen eines Widerstandsnetzwerkes 46 aus zwei in Reihe geschalteten Widerständen 48 und 50 mit gleichen Widerstands­ werten verbunden. Die gemeinsame Verbindungsstelle der Wider­ stände 48 und 50 ist mit dem nicht invertierenden Eingang eines Komparators 52 verbunden, dessen invertierender Eingang mit Erde als einer ersten Vorgabespannung verbunden ist. Ein Tor 54 überträgt das Ausgangssignal vom Komparator 52 auf den Bus 34, wenn das Tor 54 durch eine Steuerleitung 56 freige­ geben ist. Das Tor 54 dient darüber hinaus dazu, den logi­ schen Ausgangspegel vom Komparator 52 auf einen für den Bus 34 geeigneten logischen Pegel zu ändern.
Wenn über die Tastatur 44 die Prüfbetriebsart für die DAKs 26 und 28 ausgewählt wird, arbeitet das anmeldegemäße Prüf­ gerät gemäß dem Flußdiagramm von Fig. 2. Der Ablauf ist durch den Mikroprozessor 38 gemäß dem Programm im ROM 40 wie folgt gesteuert:
Schritt 100: Der Mikroprozessor 38 gibt Digitalsignale an den ersten DAK 26 und den zweiten DAK 28 gemäß dem Programm im ROM 40, um die Ausgangsspannungen vom ersten DAK 26 auf einen Maximalwert und die Ausgangsspannung vom zweiten DAK 28 auf einen Wert zu setzen, der dem Minimalwert zuzüg­ lich einem Vorgabewert α entspricht. Die Kombination des Mikroprozessor 38 und des ROM 40 dient als Digitalsignal­ erzeuger. Es wird darauf hingewiesen, daß die Charakteri­ stiken der beiden DAKs 26 und 28 einander gleich sind und der absolute Wert des Maximalwerts dem Minimalwert bei der vorliegenden Ausführung entspricht. Wenn davon ausgegangen wird, daß der Bereich der analogen Ausgangsspannungen von den beiden DAKs 26 zwischen +10.0 V und -10.0 V liegt, entspricht ein geringstwertiges Bit (LSB) des digitalen Ein­ gangssignales 0.1 V der Ausgangsspannung und der Vorgabe­ wert α ist 0,2 V, entsprechend zwei LSBs, die analoge Aus­ gangsspannung vom ersten DAK 26 ist +10.0 V und die Aus­ gangsspannung vom zweiten DAK 28 ist -9,8 V.
Schritt 102: Das Tor 54 wird durch ein Steuersignal vom Mikroprozessor 38 freigegeben und das Ausgangssignal vom Komparator 52 wird vom Mikroprozessor 38 überprüft. Da die Widerstandswerte der beiden Widerstände 48 und 50 einander gleich sind, ist die kombinierte Spannung des Widerstands­ netzwerkes 46 (Spannung am nicht invertierten Eingang des Komparators 52) der Mittelwert der Ausgangsspannungen der beiden DAKs 26 und 28. Wenn die beiden DAKs 26 und 28 ord­ nungsgemäß arbeiten, ist die kombinierte Spannung +α/2, nämlich +0,1 V. Diese kombinierte Spannung wird mit Erde (0 V) als erster Vorgabespannung durch den Komparator 52 verglichen. Wenn das Ausgangssignal vom Komparator 52 nicht "hoch" ist, (d. h., wenn die DAKs 26 und 28 nicht normal arbeiten oder mindestens einer von ihnen ausfällt), folgt Schritt 104. Wenn das Ausgangssignal des Komparators 52 "hoch" ist, (d. h., wenn die DAKs 26 und 28 normal arbeiten), folgt Schritt 106.
Schritt 104: Die Anzeigeeinrichtung 36 zeigt an, daß die DAKs nicht normal arbeiten oder mindestens eines von ihnen fehlerhaft ist.
Schritt 106: Der Mikroprozessor 38 ändert die an die beiden DAKs 26 und 28 gegebenen Digitalsignale, d. h., die analoge Ausgangsspannung vom ersten DAK 26 wird um Δ V, d. h., ein V erniedrigt und die analoge Ausgangsspannung vom zweiten DAK 28 wird um denselben Wert Δ V erhöht. Dadurch er­ zeugen der erste DAK 26 und der zweite DAK 28 analoge Aus­ gangsspannungen, die symmetrisch in bezug auf +α/2 (+0,1 V) als zweiter Vorgabespannung sind. Die zweite Vorgabespannung unterscheidet sich von der ersten Vorgabespannung (Erde) bei dieser Ausführungsform. Wenn die erste Vorgabespannung der zweiten Vorgabespannung entspricht, werden die beiden Ein­ gangsspannungen an den Komparator 52 gleich (wenn die DAKs 26 und 28 normal arbeiten) und der Ausgangspegel vom Kom­ parator 52 könnte astabil werden. Daher wird die Differenz zwischen der ersten und der zweiten Vorgabespannung unter Berücksichtigung des Schwellpegels des Komparators 52 fest­ gelegt.
Schritt 108: Der Mikroprozessor 38 beurteilt, ob die analoge Ausgangsspannung vom zweiten DAK 28 denMaximalwert erreicht, d. h., ob das digitale Eingangssignal an den zweiten DAK 28 seinen Maximalwert erreicht. Es wird darauf hingewiesen, daß der zweite DAK 28 wegen der anfänglichen Festlegung in Schritt 100 seinen Maximalwert erreicht, bevor der erste DAK 26 seinen Minimalwert erreicht. In Schritt 108 wird beurteilt, ob die beiden DAKs 26 und 28 im gesamten Aus­ gangsspannungsbereich überprüft sind oder nicht. Wenn die Ausgangsspannung vom zweiten DAK 28 nicht den Maximal­ wert erreicht (d. h., wenn die Überprüfung nicht in allen Ausgangsspannungsbereichen erfolgt ist), folgt Schritt 102. Wenn diese Ausgangsspannung den Maximalwert erreicht (d. h., wenn die Prüfung in allen Ausgangsspannungsbereichen er­ folgt ist), folgt Schritt 110.
Schritt 110: Die analoge Ausgangsspannung vom ersten DAK 26 wird auf einen Wert gesetzt, der dem Maximalwert minus dem vorgegebenen Wert α (0,2 V) entspricht, das heißt, auf +9,8 V. Die analoge Ausgangsspannung vom zweiten DAK 28 wird auf den Minimalwert, d. h., -10.0 V gesetzt. Dieser Schritt entspricht obigem Schritt 100.
Schritt 112: Wenn der Ausgangspegel vom Komparator 52 "niedrig" ist, folgt Schritt 114. Falls nicht, folgt Schritt 104. Dieser Schritt entspricht obigem Schritt 102.
Schritt 114: Dieser Schritt ist derselbe wie der oben ge­ nannte Schritt 106, d. h., die analoge Ausgangsspannung vom ersten DAK 26 wird um Δ V erniedrigt und die analoge Aus­ gangsspannung vom zweiten DAK 28 wird um Δ V erhöht. Da­ durch sind die analogen Ausgangsspannungen von den beiden DAKs 26 und 28 symmetrisch in bezug auf -α/2 (-0,1 V), als dritter Vorgabespannung, falls die DAKs ordnungsgemäß arbeiten.
Schritt 116: Die Ausgangsspannung vom ersten DAK 26 erreicht ihren Minimalwert wegen der Einstellung gemäß Schritt 110, bevor die Ausgangsspannung vom zweiten DAK 28 ihren Maximal­ wert einnimmt. Dadurch wird beurteilt, ob die Ausgangsspan­ nung vom ersten DAK 26 ihren Minimalwert erreicht oder nicht. Ist dies der Fall, so folgt Schritt 118, andernfalls Schritt 112. Der vorliegende Schritt 116 entspricht obigem Schritt 108.
Schritt 118: Die Anzeigeeinrichtung 36 zeigt an, daß die DAKs normal arbeiten, d. h., daß sie funktionstüchtig sind.
Wie im vorigen ausgeführt, entsprechen die Schritte 100, 102, 106 und 108 den Schritten 110, 112, 114 bzw. 116. Die Aus­ gangsspannung vom Widerstandsnetzwerk 46 ist jedoch einmal +α/2 (+0,1 V) bzw. -α/2 (-0.1 V), wenn die beiden DAKs 26 und 28 normal arbeiten. Wenn zumindest einer der beiden DAKs 26 und 28 falsch arbeitet und dabei die Ausgangsspan­ nung vom Widerstandsnetzwerk 46 immer höher ist als die erste Vorgabespannung (Erde) in den Schritten 100 bis 108, kann der abnormale Zustand nicht ermittelt werden. Dieser abnor­ me Zustand wird dann aber in den folgenden Schritten 110 bis 116 festgestellt. Wenn die Ausgangsspannung vom Wider­ standsnetzwerk 46 immer niedriger ist als die erste Vorgabe­ spannung, wird die fehlerhafte Funktion in den ersten Schrit­ ten festgestellt.
Bei dem Blockdiagramm gemäß Fig. 3 sind die rechts vom Bus 34 in Fig. 1 dargestellten Blöcke 36 bis 44 nicht dargestellt. Sie sind jedoch auch vorhanden. Mit dem in Fig. 3 enthal­ tenen Prüfgerät werden drei DAKs überprüft. Der digitale Ein­ gang eines dritten DAK 58 ist mit dem Bus 34 verbunden und die analoge Ausgangsspannung desselben wird auf ein Wider­ standsnetzwerk 46 gegeben. Ein Analogschalter (Analogmulti­ plexer) 60 gibt jeweils zwei analoge Ausgangsspannungen der drei DAKs 26, 28 und 58 auf die zwei Anschlüsse des Wider­ standsnetzwerkes 26 auf ein Steuersignal vom Bus 34 hin. Zum Beispiel werden zunächst der erste DAK 26 und der zweite DAK 28 ausgewählt und gemäß dem Flußplan von Fig. 2 überprüft. Wenn das Prüfergebnis normal ist, d. h., wenn der erste DAK 26 und der zweite DAK 28 ordnungsgemäß arbeiten, werden der erste (oder zweite) und der dritte DAK 26 (oder 28) bzw. 58 zum entsprechenden Überprüfen ausgewählt. Wenn das zweite Überprüfungsergebnis unnormal ist, wird daraus geschlossen daß der dritte DAK 58 fehlerhaft arbeitet. Wenn das Prüfer­ gebnis für den ersten DAK 26 und zweiten DAK 28 unnormal ist, wird der fehlerhafte DAK dadurch festgestellt, daß das Prüfergebnis für den ersten und dritten DAK 26 und 58 mit dem für die Kombination aus dem zweiten und dritten DAK 28 und 58 verglichen wird. Bei dieser Ausführungsform ist es also möglich, festzustellen, welcher von mehreren DAKs fehlerhaft ist oder ausgefallen ist.
Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 4 weist das Widerstands­ netzwerk 46 drei Widerstände 62, 64 und 66 auf, deren eine Anschlüsse mit den Ausgängen des ersten DAK 26, des zweiten DAK 28 bzw. des dritten DAK 58 verbunden sind. Die anderen Anschlüsse der Widerstände sind gemeinsam mit dem nicht in­ vertierenden Eingang des Komparators 52 verbunden. Falls die Widerstandswerte der Widerstände 62, 64 und 66 einander gleich sind, wird die analoge Ausgangsspannung von einem der DAKs 26, 28 und 58 auf +α/2 oder -α/2 (d. h. +0,1 V oder -0,1 V) gesetzt und die anderen beiden DAKs werden gemäß dem Flußplan von Fig. 2 überprüft. Die Überprüfung wird durch Ändern der Kombination der DAKs wiederholt. In dem Fall, daß die Widerstandswerte der Widerstände 62 und 64 doppelt so hoch sind wie der des Widerstandes 66, wird dasselbe Digitalsignal an den zweiten und dritten DAK 28 und 58 gegeben, so daß die Kombination aus dem zweiten und dritten DAK 28 und 58 als insgesamt zweiter DAK wirkt. Dann werden die DAKs entsprechend dem Flußplan von Fig. 2 über­ prüft. So können drei DAKs gleichzeitig überprüft werden.
Mit anmeldegemäßen Prüfgeräten und einem anmeldegemäßen Prüfverfahren können also mehrere DAKs gleichzeitig ohne großen Aufwand überprüft werden. Besonders dann, wenn das die DAKs enthaltende elektronische Gerät einen Mikropro­ zessor aufweist, wie bei den vorstehenden Ausführungsformen, werden nur noch ein Widerstandsnetzwerk und ein Komparator zum Herstellen eines anmeldegemäßen Prüfgerätes benötigt. Für den Fall, daß die Ausgangsspannung vom Widerstandsnetzwerk als Schwellspannung für ein logisches Eingangssignal bei einem logischen Analysator oder dergleichen verwendet wird, können dieselben Schaltungen sowohl für den logischen Analysator wie auch für ein anmeldegemäßes Prüfgerät verwendet werden.
Abweichend von den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen können die Widerstandswerte im Widerstandsnetzwerk auch von denen abweichen, wie sie an Hand der Fig. 1 und 3 beschrie­ ben worden sind, so daß die erste und die zweite Vorgabe­ spannung einander gleich sind. Selbst wenn mehr als drei DAKs vorhanden sind, kann ein Prüfgerät gemäß einer Aus­ führungsform von Fig. 3 oder Fig. 4 alle dadurch überprüfen, daß die Zahl der Anschlüsse des Analogschalters von Fig. 3 oder die Zahl von Widerständen im Widerstandsnetzwerk von Fig. 4 erhöht wird. Bei den beschriebenen Ausführungsformen dienen der Mikroprozessor und der ROM als Digitalsignaler­ zeuger. Es kann jedoch auch eine Kombination aus einstell­ baren Abwärts- und Aufwärtszählern oder ein Mustergenerator verwendet werden. Darüber hinaus kann der Ausgang des Kom­ parators mit einer LED oder dergleichen zum Überwachen des Prüfergebnisses verbunden sein. Das Tor kann weggelassen werden und statt dessen ein Komparator mit einem Freigabe­ anschluß vorhanden sein.

Claims (11)

1. Prüfgerät zum gleichzeitigen Prüfen mehrerer D/A-Konver­ ter, mit
  • - einem Digitalsignalerzeuger, der Digitalsignale an die D/A-Konverter abgibt,
  • - einem Widerstandsnetzwerk zum Verknüpfen der Analog­ signale von D/A-Konvertern, und
  • - einem Komparator zum Vergleichen der Ausgangsspannung des Widerstandsnetzwerkes mit einer ersten Vorgabespan­ nung,
dadurch gekennzeichnet, daß
  • - der Digitalsignalerzeuger an einen ersten Satz von D/A-Konvertern, mindestens an einen D/A-Konverter, erste Digitalsignale und an einen zweiten Satz von D/A-Kon­ vertern, mindestens einen anderen D/A-Konverter, zweite Digitalsignale ausgibt, wobei die jeweiligen ersten und zweiten Digitalsignale an ordnungsgemäß arbeitenden D/A-Konvertern zu Analogsignalen führen, die entweder, in einem ersten vorgegebenen Fall, symmetrisch zu einer zweiten Vorgabespannung liegen, die sich um einen posi­ tiven Unterschied von der ersten Vorgabespannung un­ terscheidet, oder die, in einem zweiten vorgegebenen Fall, symmetrisch zu einer dritten Vorgabespannung lie­ gen, die sich um einen negativen Unterschied von der ersten Vorgabespannung unterscheidet,
  • - das Widerstandsnetzwerk (48, 50; 62, 64, 66) die Ana­ logspannungen so miteinander verknüpft, daß die Aus­ gangsspannung bei ordnungsgemäß funktionierenden D/A- Konvertern im ersten vorgegebenen Fall der zweiten Vor­ gabespannung und im zweiten vorgegebenen Fall der dritten Vorgabespannung entspricht, und
  • - der Komparator (52) die jeweilige Ausgangsspannung vom Widerstandsnetzwerk mit der ersten Vorgabespannung ver­ gleicht und ein Fehlersignal ausgibt, wenn im ersten vorgegebenen Fall sein Ausgangssignalpegel auf "nieder" fällt oder im zweiten vorgegebenen Fall auf "hoch" steigt.
2. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Digitalsignaler­ zeuger ein Mikroprozessor (38) ist.
3. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Digitalsignaler­ zeuger ein Digitalmustergenerator ist.
4. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Digitalsignalerzeuger einen setzbaren Aufwärtszähler und einen setzbaren Abwärtszähler aufweist.
5. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 1-4, da­ durch gekennzeichnet, daß das Widerstandsnetzwerk (46) zwei in Reihe geschaltete Widerstände (48, 50) aufweist, deren andere Anschlüsse die Ausgangsspannungen von den mehreren D/A-Konver­ tern (26, 28) erhalten, und bei denen die gemeinsame Verbindung mit einem Eingang des Komparators (52) verbunden ist.
6. Prüfgerät nach Anspruch 5, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Widerstandswerte der beiden Widerstände (48, 50) einander gleich sind.
7. Prüfgerät nach Anspruch 5 oder 6, gekenn­ zeichnet durch einen Analogschalter (60) zum wahlweisen Anlegen der analogen Ausgangsspannungen der mehreren D/A-Konverter (26, 28, 58) an das Wider­ standsnetzwerk (46) (Fig. 3).
8. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Widerstandsnetzwerk (46) mehrere Widerstände (62, 64, 66) aufweist, deren eine Anschlüsse jeweils die analoge Ausgangsspannung von einem der mehreren D/A-Konverter (26, 28, 58) erhalten und die anderen Anschlüsse mit einem Eingang des Komparators (52) verbunden sind. (Fig. 4).
9. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 8, ge­ kennzeichnet durch eine Auswertein­ richtung (38) zum Auswerten des Ausgangssignals des Komparators (52).
10. Prüfgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 9, ge­ kennzeichnet durch eine Anzeige­ einrichtung (36) zum Anzeigen des Ausgangssignals des Komparators (52).
DE19833330886 1982-08-30 1983-08-26 Pruefgeraet und pruefverfahren fuer digital/analog-wandler Granted DE3330886A1 (de)

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