DE3446355C2 - Optisches Fehlersuchgerät - Google Patents

Optisches Fehlersuchgerät

Info

Publication number
DE3446355C2
DE3446355C2 DE3446355A DE3446355A DE3446355C2 DE 3446355 C2 DE3446355 C2 DE 3446355C2 DE 3446355 A DE3446355 A DE 3446355A DE 3446355 A DE3446355 A DE 3446355A DE 3446355 C2 DE3446355 C2 DE 3446355C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
line
strip
optical
receiving device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE3446355A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3446355A1 (de
Inventor
Erwin Dr. 8021 Icking Sick
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Original Assignee
Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Erwin Sick GmbH Optik Elektronik filed Critical Erwin Sick GmbH Optik Elektronik
Priority to DE3446355A priority Critical patent/DE3446355C2/de
Priority to GB8530571A priority patent/GB2171511B/en
Priority to FR8518780A priority patent/FR2574935B1/fr
Priority to US06/811,099 priority patent/US4671663A/en
Publication of DE3446355A1 publication Critical patent/DE3446355A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3446355C2 publication Critical patent/DE3446355C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Ein optisches Fehlersuchgerät weist eine Lichtabtastvorrichtung (21) und eine Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung (14) auf, die das vom zu untersuchenden Material reflektierte Licht aufnimmt und zu einem photo-elektrischen Wandler weiterleitet. Das die Lichtzeile (11) bildende Lichtbündel trifft unter einem spitzen Winkel (α) auf die Gegenstandsoberfläche (13) auf. Im Streuwinkel der Reflexion ist die abbildende optische Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung (14) mit ihrer Längsausdehnung parallel zur Achse der Lichtzeile (11) so angeordnet, daß die Lichtzeile (11) in der Ausdehnung senkrecht zur Zeilenrichtung nur teilweise auf den photo-elektrischen Wandler oder auf das zur Weiterleitung des Lichtes zum photo-elektrischen optischen Wandler dienende Mittel (15) abgebildet wird (Fig. 1).

Description

10
15
signal ausgelöst werden kann. Diese bekannte Vorrichtung eignet sich aber nur für die Überwachung relativ schmaler Bahnbereiche und ist insbesondere nicht für die Überwachung von Spinnvliesen oder nicht gewebten filzartigen Stoffbahnen geeignet, weil sie bei dieser Anwendung entweder zur Unzeit Fehlersignale auslösen würde und auch nicht sowohl Erhöhungen als auch Vertiefungen in der Materialbahn anzeigen kann.
Ein Spinnvlies oder ein nicht gewebtes filzartiges Gewebe kann verschiedene Dicken und Zusammensetzungen aufweisen. Von dünnsten gaze-artigen Lagen bis zu dicken fließpapierähnlichen Bahnen aus Kunstfasern, Zellulose oder auch Glasfasern, sind sämtliche Ausbildungen mit dazwischenliegenden Stärken möglich. Allen derartigen filzartigen Geweben ist jedoch ihre deutlich unregelmäßige Struktur gemeinsam.
Diese von Haus aus unregelmäßige Struktur derartiger filzartiger Gewebe erschwert die optische Fehlersuche, da selbst fehlerfreies Material ein hohes Grundrauschen aufweist. Dieses Grundrauschen beeinträchtigt in hohem Maß die Auffindung einzelner Fehler bei der Oberfiacheninspekiion auf herkömmliche Art, d.h. bei Transmissionsmessung oder Beurteilung der Änderung des reflektierten Lichtes durch Fehler im Material. Der weitaus größte Teil der Fehler sind Verdickungen, aufliegende Fäden und/oder Kleberanhäufungen. All diese Fehler werden von einem streifenden Lichtstrahl, der über ein eben geführtes Material streift, angeschnitten, während das fehlerfreie Material in der gleichen Linie noch nicht, sondern erst später getroffen wird Dieser Effekt wird bei der nachfolgend beschriebenen Erfindung zur Fehlersuche ausgenutzt
Das Ziel der Erfindung ist eia einfach aufgebautes Fehlersuchgerät, das gleichwohl sehr betriebssicher arbeitet und auch bei von Haus aus sehr unregelmäßigem Material wie filzartigen Geweben eine einwandfreie 'chicranzcigc liefert.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des kennzeichnenden Teils des Patentanspruchs 1 vorgesehen. Hierbei wird zur Herabsetzung des Grundrauschens zweckmäßigerweise außer dem entsprechend der Grobheit des Gewebes mit einem relativ dazu großen Lichtfleck gearbeitet
Die Erfindung arbeitet in erster Linie mit einem optischen Scanner als Lichtabtastvorrichtung, welcher ein Spiegelrad, einen Hohlspiegel und Mittel zur Lichtstrahlfokussierung aufweist. Der Scanner erzeugt eine ständige Folge von Lichtzeilen, die vorzugsweise als paralleler Lichtvorhang auf das geradlinig geführte Bahnmaterial fallen. Eia oder mehrere Empfängersysteme mit optischen Elementen zur Erzeugung einer Abbildung sind im Winkelbereich zwischen Sendestrahl und dem Winkel der regulären Reflexion so angeordnet daß die Lichtzeile auf den Empfänger abgebildet wird. Vorzugsweise wird ein Empfangssystem mit einem Lichtleitstab gemäß der DE-PS 21 67 026 verwendet d. h., daß das Licht, welches von der Lichtzeile ausgeht durch eine Zylinderlinse aufgenommen und auf das Spiegelraster eines Lichtleitstabes projiziert wird. Dieses Raster lenkt das Licht seitlich ab und wird durch Totalreflexion im Innern des Stabes zu einem Stabende geleitet, wo ein photo-elektrischer Wandler das Licht in ein elektrisches Signal umsetzt, das in einer elektronischen Auswerteschaltung verarbeitet wird.
Das durch die Lichtfleckgröße und den streifenden Einfall der Lichtzeüe erzeugte Lichtband wird durch die erhabenen Fehler des Materials deformiert, d. h., daß anstelle eines geradlinig begrenzten Bandes ein unregelmäßiger Lichtstreifen erscheint der an der Fehlerstelle eine zum Sender hin ausgebogene Kante, aufweist
Erfindungsgemäß werden also die Lichtzeilen-Empfangsvorrichtungen so einjustiert, daß nur der obere oder der untere Kantenbereich des Lichtstreifens auf das Spiegelraster abgebildet wird. Auf diese Weise wird beim Vorbeilaufen des Abtastlichtstrahles an der Fehlerstelle in der Auswerteelektronik ein ausgeprägter auswertbarer elektronischer Impuls erzeugt denn bei einer hierbei erfolgenden Ausbeulung des Lichtstreifens erhält die eine Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung mehr, die andere weniger Licht
Die hierzu erforderliche J us tage kann durch Einstellung des gesamten Empfangssystems oder auch durch einfaches Verdrehen des Lichtleitstabes erfolgen. Derselbe Effekt kann auch durch eine streifenförmige Blende kurz hinter dem Lichtband oder besser durch eine Blende in einer optischen Zwischeuabbildung erfolgen.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind durch die. Unteransprüche gekennzeichnet
Die Erfindung wird im folgend^! beispielsweise anhand derZeichnung beschrieben; indieser zeigt
F i g. 1 eine schematische Seitenansicht eines optischen Fehlersuchgerätes,
Fig.2 eine schematische perspektivische Ansicht sehr?».' von oben auf einen Teil der Anordnung nach
F i g. 3 eine Draufsicht auf den auf der Bahnoberfläche erzeugten Lichtstreifen mit dem gegenüber dem Lichtstreifen verschobenen photoelektrisch ausgewerteten streifenförmigen Bereichen,
F i g. 4 eine Lichtstreifenabbildungs-Vorrichtung,
Fig.5 die gleiche Lichtstreifenabbildungs-Vorrichtung mit einer anderen verbindungsgemäßen Justage des eingebauten Lichtleitstabes,
F i g. 6 eine mit einer Zwischenabbildung arbeitende Lichtstreifenabbüdungs-Vorrichtung gemäß der Erfindung, und
Fig.7 ein schematisches Blockschaltbild ba einem optischen Fehlersuchgerät
Nach F i g. 1 erzeugt eine mit einem Laser arbeitende Lichtabtastvorrichtung 21 einen Fahrstrahl 12, der auf der Oberfläche 13 einer teilweise um eine rotierende Walze 19 herumgeführte Materialbahn lfcdort auftrifft, wo sie sicher und gut geführt auf der Oberfläche der Walze 19 aufliegt In Richtung der Achse 22 der Walze 19, d. h. senkrecht zur Transportrichtung fder Materialbahn 18 führt der Fahrstrahl 12 eine periodische Abtastbewegung aus, so daß gemäß F i g. 2 auf der Materialbahn eine quer verlaufende Lichtzeile 11 erzeugt wird. Der Lichteinfallswinkel α beträgt nach F i g. 1 20°.
Unter dem Winkel der normalen Lichtreflexion »ritt bei fehlerfreiem Material ein reflektierter Strahl 23 aus, der' nach F i g. 1 nahe an einer Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung 14 vorbeiläuft, die also knapp außerhalb des Winkels der normalen Lichtreflexion angeordnet.
In Fig.2 ist angedeutet, wie sich die Lichtzeile Il beim Vorliegen eines erhabenen Fehlers 24 auf der Oberfläche 13 der Materialbahn verformt Da dieser erhabene Fehler 24 vor dem Erreichen des Zeniths der Bewegung um die Walze 19 herum beleuchtet wird, wird das in diesem Bereich auftreffende Licht schon früher reflektiert als das an den fehlerfreien Stellen der Materialbahnoberfläche gestreute Licht. Der Fehlerlichtstrahl 23' verBuft daher zwar parallel zum normal reflektierten Lichtstrahl 23, ist jedoch gegenüber diesem in der aus F i g. 1 ersichtlichen Weise parallel versetzt, so daß es im Gegensatz zu dem normal reflektier-
5 6
ten Licht in die Lichtzeilen· Empfangsvorrichtung 14 ge- den. In jedem Fall kommt es darauf an, daß jeweils nur
langen kann. die Randzonen der erzeugten Lichtzeile für die Fehler-
Wesentlich für diese Wirkung ist, daß der Lichtstrahl auswertung herangezogen werden, um so trotz des 12 unter einem relativ spitzen Winkel von etwa 20° oder stark strukturierten Materials zu einer eindeutigen Fehgeringfügig darunter auf die Oberflilche auftrifft, damit s leraussage zu kommen.
die Ausbeulung der Lichtzeile 11 durch eine Fehlerstelle F i g. 7 zeigt schematisch ein Blockschaltbild eines op-
24 möglichst ausgeprägt ist In vorteilhafter Weise trägt tischen Fehlersuchgerätes. An den Stirnseiten der bei-
zur Erzeugung einer ausgeprägten Ausbeulung der den Lichtleitstäbe 15, die das von den seitlichen Berei-
Lichtzeile U auch die Führung der Materialbahn 18 chen 11', U" ausgehende Licht empfangen, befinden
über die gekrümmte Umfangsfläche der Walze 19 bei. io sich photoelektrische Wandler 28,29, zu denen das von
Gegebenenfalls kann auch zum Empfang der Rück- der Mantelseite in die Lichtleitstäbe 15 eintretende wärtsstreuung im Winkelabstand von 60° zum einge- Licht durch Spiegelung und Totalreflexion gelangt. Die strahlen Licht eine weitere Lichtstreifen-Empfangsvor- Ausgänge der Wandler 28, 29 sind an einen Differenzrichtung 14' angeordnet sein. verstärker 30 angelegt, der eine Auswerteelektronik 31 Ά
In F i g. 3 ist veranschaulicht wie durch die beschrie- is speist. |, bene Ausbildung eine auf der Materialbahnoberfläche Aufgrund der punktförmigen Abtastung der Bereiche ν vorhandene reale Lichtzeile 11 mit einer Ausbeulung 24' 11', 11" erscheint am Orte der Fehlstelle 24' ein beson- f an der Stelle einer erhabenen Fehlerstelle 24 in der ders ausgeprägtes Differenzsignal, weil der eine photo- i Abbildung in zwei gestrichelt dargestellte Bereiche 11', elektrische Wandler 15 ein sehr starkes, der photoelek- ij ii" äüfgcicüi wird. Diese beiden iiiencfiiöriTiigcü Bc- iv irische Wandler 29 dagegen ein Sehr schwaches Signa! 5 reiche 11', 11" werden getrennt von zwei Lichtzeilen- abgibt, so daß am Ausgang des Differenzverstärkers 30 1 Empfangsvorrichtungen aufgenommen, die ähnlich wie ein sehr ausgeprägtes Differenzsignal vorliegt, das in | die Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung 14 in Fig. 1, je- der Auswerteelektronik 31 zur Fehleranzeige herange- B doch unter Belassung eines kleinen Abstandes überein- zogen werden kann. ?; ander angeordnet sind. Man erkennt wie die den Licht- 25 Die Empfindlichkeit des erfindungsgemäßen Fehlerstreifen 11' aufnehmende Lichtzeilen-Empfangsvorrich- suchgerätes ist deswegen besonders groß, weil beide zu tung aufgrund der Ausbeulung 24' ein wesentlich ver- beiden Seiten der Lichtzeile 11 vorhandenen auf die stärktes und die den anderen Bereich H" empfangende beiden Lichtzeilen-Empfangsvorrichtungen abgebilde-Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung ein erniedrigtes Emp- ten BUeiche 11', 11" sich mit der Lichtzeile 11 nur teilfangssignal aufnimmt was für die Fehlerauswertung 30 weise überlappen und weil zwischen ihnen ein deutliausgenutzt werden kann. eher Abstand, der vorzugsweise etwa gleich der Hälfte ί
Nach F i g. 4 besteht eine Lichtzeilen-Empfangsvor- der Breite der Lichtzeile ist, vorliegt - '
richtung für die Lichtzeile 11 aus einer aus zwei Zylin-
derlinsen bestehenden Zylinderlinsenanordnung 16, Hierzu 4 Blatt Zeichnungen . ■
welche sich parallel zur Lichtzeile 11 erstreckt Die Zy- 35 Cl'
linderlinsenanordnung 16 bildet die Lichtzeile 11 auf das
streifenförmige Spiegelraster 17 eines im Querschnitt ·
runden Ljchüeätstabes 15 ab. ^
Durch eine geeignete Verdrehung des Lichtleitstabes 1^
um seine Achse {F i g. 5), kann erreicht werden, daß z. B. 40 >j
lediglich der Bereich W nach F i g. 3 für die photo-elek- 1
trische Auswertung herangezogen wird. Im Falle der V.
F i g. 5 ist der Lichtleitstab 15 so verdreht, daß nur der ^
obere Randbereich 11' der Lichtzeile U zum Spiegelra- %
ster 17 und damit zu dem an der einen Stirnseite des « '){
Lichtleitstabes 15 vorgesehenen nicht dargestellten r\
photo-elektrischen Wandler gelangt. ;ft
F i g. 6 zeigt eine ähnliche Ausführungsform, bei der Ί\
jedoch durch eine weitere Zylinderlinse 20 an der Stelle j|
einer quer zur optischen Achse 27 verschieblichen Blen- so §
de 26 eine Zwischenabbildung der Lichtzeile 11 erfolgt '■*
Die Blende 26 deckt das Zwischenbild bis auf die für die h Auswertung heranzuziehende Randzone XY (oder 11") ^
ab, so daß nur diese auf dem Spiegelraster 17 des Licht- P.
leitstabes 15 abgebildet wird Durch Verschiebung der 55 |j
Blende 26 senkrecht zur optischen Achse 25 kann die |; Breite der abgebildeten Randzone 11' bzw. 11" verän- 3
dert und damit auch die Empfindlichkeit des Fehlersuch- j|
gerätes beeinflußt werden. |·
Es wäre auch denkbar, mit einem Empfangssystem, 60 jp
vorzugsweise einer Diodenzeile in Transmission zu
messen, wenn das Material über eine transparente Füh- S
rungsebene, z. B. eine gewölbte Silikatglasfläche oder *£j
ein Glasrohr geführt werden würde und z. B. die Dio- =®
denzeile im Kanttenbereich des Lichtbandes dicht unter 65 ΐ|
der Glasfläche angebracht wäre. Eventuell könnte das U.
Führungselement selbst aus einem Glaslichtieitstab mit m
einem entsprechenden Eintrittsfenster ausgebildet wer- %

Claims (6)

1 2 dung einer der Lichtstreifen-Empfangsvorrichtung Patentansprüche: . (14) vorgeschalteten Zylinderlinse (20) erzeugt wird. 7. Optisches Fehlersuchgerät nach Anspruch 6, da-
1. Optisches Fehlersuchgerät mit einer Lichtab- durch gekennzeichnet, daß die streifenförmige Blen-
tastvcrrichtung, die auf der Oberfläche des zu unter- 5 de (26) zur Anpassung an die Materialart und Em p-
suchenden Gegenstandes, vorzugsweise einer Mate- Endlichkeit des Systems senkrecht zum Lichtstreifen
rialbahn eine Lichtzeile erzeugt, die sich quer zur (11) verstellt werden kann.
Längsrichtung über die Bahn erstreckt, und einer 8. Optisches Fehlersuchgerät nach einem der vor-
Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung, die das vom zu hergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
untersuchenden Material reflektierte Licht auf- io daß die streifenförmigen Bereiche (H', U") einen
nimmt und zu einem photoelektrischen Wandler Abstand aufweisen, der gleich der Hälfte der Breite
weiterleitet, wobei das die Lichtzeile bildende licht- der Lichtzeile (11) ist
bündel unter einem spitzen Einfallswinkel auf die
Gegenstandsoberfläche auftrifft und unter dem
Streuwinkel der Reflexion die abbildende optische J5
Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung mit ihrer Längsausdehnung parallel zur Achse der Lichtzeile so an- Die Erfindung betrifft ein optisches Fehlersuchgerät geordnet ist, daß die Lichtzeile in der Ausdehnung mit einer Lichtabtastvorrichtung nach dem Oberbegriff senkrecht zur Zeilenrichtung nur teilweise auf den des Patentanspruchs 1.
photoelektronischen Wandler oder auf das zur Wei- 20 Es ist bereits eine Vorrichtung zum Ermitteln von terleitun| des Lichtes zum photoelektronischen Fehlstellen eines Bandes bekannt (DE-OS 14 73 743), Wandler dienende Mitte! abgebildet wird, da- bei der relativ nahe an der von einem Kondensor und durch gekennzeichnet, daß zwei Lichtzei- einer Zylinderlinse über eine Lichtquelle erzeugten len-Empfangsvorrichtungen etwas außerhalb des Lichtzeile eine Photodiodenzeile angeordnet ist, welche Winkels der regulären Reflexion angeordnet sind, 25 das von der Lichtzeile normal reflektierte Licht empwobei die eine Lichtztilen-Empfangsvorrichtung fängt. Sofern sich auf der Materialbahn, auf der die (14) auf den oberen und die zweite auf den unteren Lichtzeile erzeugt ist, Staub oder andere Vcrunreini-Rand des Lichtstreifens (11) ausgerichtet ist, so daß gungen befinden, tihält die Diodenzeile an der betrefvon jeder Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung ein ge- fenden Stelle weniger Licht, was zur Erzeugung eines genüber dem Lichtstreifen (11) in der einen bzw. 30 Fehlersignals genutzt werden kann,
anderen Richtung verschobener Streifenbereich Eine derartige Vorrichtung eignet sich jedoch nicht (11', H") empfangen wird, und daß die elektrischen für die Fehlersuche bei Spinnvliesen oder nicht geweb-Ausgangssignale der beiden Lichtzeilen-Empfangs- ten filzartigen Bahnen. Ein Spinnvlies oder eine nicht vorrichtungen an einen mit einer Auswerteelektro- gewebte filzartige Stoffbahn kann nämlich verschiedene nik (31) verbundenen Differenzverstärker (30) ange- 35 Dicken und Zusammensetzungen aufweisen. Von dünnlegt sind. sten gazeartigen Lagen bis zu dicken vliespapierähnli-
2.Optisches Fehlersuchgerät nach Anspruch 1. da- chen Bahnen aus Kunstfasern, Zellulose oder auch Glas-
durch gekennzeichnet, daß die Lichtzeilen-Emp- fasern sind sämtliche Ausbildungen mit dazwischenlie-
fangsvorrichtungen (14) aus je einem mit einem genden Dicken möglich. Allen derartigen filzartigen
streifenförmigen Spiegelraster (17) versehenen 40 Stoffbahnen ist jedoch ihre det-iiich unregelmäßige
Lichtleitstab (15) mit vorgeschalteter Zylinderlinse Struktur gemeinsam.
(16) bestehen, wobei die Zuordnung des Spiegelra- Diese von Haus aus unregelmäßige Struktur derarti-
sters (17) zum abgebildeten Lichtstreifen (11) so ee- ger filzartiger Gewebe erschwert die optische Fehlersu-
wählt ist, daß auf das Spiegelraster (17) des einen ehe, da selbst fehlerfreies Material ein hohes Grundrau-
Lichtleitstabes (15) nur der obere und auf das Spie- 45 sehen aufweist. Dieses Grundrauschen beeinträchtigt in
gelraster des anderen Lichtleitstabes nur der untere hohem Maß die Auffindung einzelner Fehler bei der
Rand des Lichtstreifens (11), d. h. der eine bzw. der Oberflächeninspektion auf herkömmliche Art, d. h. bei
andere streifenförmige Bereich (H', 11") abgebildet Transmissionsmessung oder Beurteilung der Änderung
wird. des reflektierten Lichtes durch Fehler im Material. Der
3. Optisches Fehlersuchgerät nach Anspruch 1 50 weitaus größte Teil der Fehler sind Verdickungen, auf- oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Material- liegende Fäden und/oder Kleberanhäufungen.
bahn (18) zur erschütterungs- und faltenfreien Füh- Bei einer weiteren bekannten Vorrichtung (DE-OS rung in der Abtastzeile um eine vorzugsweise matt- 14 73 742) zum Ermitteln von Fehlstellen mit zu gerinschwarze Walze (19) geführt ist. ger Stärke einer aus viskoser, auf einer Oberfläche eines
4. Optisches Fehlersuchgerät nach einem der An- 55 Streifens aufgetragener Behandlungsflüssigkeit bestesprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der henden Schicht, die mittels einer auf den längs einer spitze Einfallswinkel (λ) zur Oberfläche 10 bis 30° Bahn geführten Streifen ausgerichteten Düse auf diesen und insbesondere etwa 20" beträgt. aufgeschichtet ist, wird die Bahn gekrümmt angeordnet,
5. Optisches Fehlersuchgerät nach einem der An- wobei eine Lichtquelle zum Erzeugen eines Lichtstrahsprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet daß eine 60 lenbündels auf der im gekrümmten Bahnteil befindliweitere Lichtzeilen-Empfangsvorrichtung (14') in chen Oberfläche der Flüssigkeitsschicht vorgesehen ist. Rückwärtsstreuung, vorzugsweise im Winkelab- Zwischen dem von einer Schicht richtiger Stärke reflckstand von 60° zum eingestrahlten Licht in Richtung tierten Lichtstrahlenbündel und der Bahn des Streifens zur regulären Reflexion angeordnet ist. befindet sich ein lichtempfindlicher Detektor, der bei
6. Optisches Fehlersuchgerät nach einem der An- 65 einwandfreier Oberflächenbeschaffenheit kein Licht sprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die empfängt. Beim Erscheinen von Fehlstellen mit zu geteilweise Abbildung des Lichtstreifens (11) durch ei- ringer Dicke verschiebt sich das reflektierte Bündel in ne streifenförmige Blende (26) in der Zwischenabbil- Richtung auf den Photoempfänger, wodurch ein Alarm-
DE3446355A 1984-12-19 1984-12-19 Optisches Fehlersuchgerät Expired DE3446355C2 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3446355A DE3446355C2 (de) 1984-12-19 1984-12-19 Optisches Fehlersuchgerät
GB8530571A GB2171511B (en) 1984-12-19 1985-12-12 Optical fault seeking apparatus
FR8518780A FR2574935B1 (fr) 1984-12-19 1985-12-18 Appareil optique de recherche de defauts, en particulier sur bandes textiles non tissees
US06/811,099 US4671663A (en) 1984-12-19 1985-12-19 Optical fault seeking apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3446355A DE3446355C2 (de) 1984-12-19 1984-12-19 Optisches Fehlersuchgerät

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3446355A1 DE3446355A1 (de) 1986-06-26
DE3446355C2 true DE3446355C2 (de) 1986-11-06

Family

ID=6253233

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3446355A Expired DE3446355C2 (de) 1984-12-19 1984-12-19 Optisches Fehlersuchgerät

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4671663A (de)
DE (1) DE3446355C2 (de)
FR (1) FR2574935B1 (de)
GB (1) GB2171511B (de)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3719766A1 (de) * 1987-06-13 1988-12-22 Heidelberger Druckmasch Ag Registermesssystem
DE3734294A1 (de) * 1987-10-09 1989-04-27 Sick Optik Elektronik Erwin Optische oberflaechen-inspektionsvorrichtung
US5278635A (en) * 1990-03-28 1994-01-11 Konica Corporation Surface defect detection apparatus
US5047652A (en) * 1990-04-16 1991-09-10 International Paper Company System for on-line measurement of color, opacity and reflectance of a translucent moving web
US5293538A (en) * 1990-05-25 1994-03-08 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for the inspection of defects
US5488480A (en) * 1994-02-16 1996-01-30 Cmd Corporation Apparatus and method for detecting a heat seal in a moving plastic film
US5861078A (en) * 1993-08-12 1999-01-19 Cmd Corporation Method and apparatus for detecting a seal on a plastic bag
AUPN800796A0 (en) * 1996-02-09 1996-03-07 Unisearch Limited Visual inspection system for leather hide
GB9614073D0 (en) * 1996-07-04 1996-09-04 Surface Inspection Ltd Visual inspection apparatus
US6075882A (en) * 1997-06-18 2000-06-13 Philip Morris Incorporated System and method for optically inspecting cigarettes by detecting the lengths of cigarette sections
US6198537B1 (en) 1997-07-11 2001-03-06 Philip Morris Incorporated Optical inspection system for the manufacture of banded cigarette paper
US6020969A (en) * 1997-07-11 2000-02-01 Philip Morris Incorporated Cigarette making machine including band inspection
US5966218A (en) * 1997-07-11 1999-10-12 Philip Morris Incorporated Bobbin optical inspection system
GB9819614D0 (en) * 1998-09-09 1998-11-04 Stylios George Method and apparatus for assessment of seam pucker and other surface irregularities
IL131284A (en) 1999-08-05 2003-05-29 Orbotech Ltd Illumination for inspecting surfaces of articles
US6668231B2 (en) 2001-04-12 2003-12-23 George Stylios Sheet parameter measurement
US7146034B2 (en) * 2003-12-09 2006-12-05 Superpower, Inc. Tape manufacturing system
US7272972B2 (en) * 2005-06-24 2007-09-25 Avestor Limited Partnership Method and apparatus for measuring a thickness of a thin film in motion
DE102006014506A1 (de) * 2006-03-20 2007-09-27 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren zur Detektion von Planlageabweichungen bei der Abrollung flexibler, bahnförmiger Flachformgüter
DE102013100809A1 (de) * 2013-01-28 2014-07-31 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Verfahren zur Messung von optischen Eigenschaften an transparenten flexiblen Substraten
US9588056B2 (en) * 2014-05-29 2017-03-07 Corning Incorporated Method for particle detection on flexible substrates
RU2677054C1 (ru) * 2018-04-04 2019-01-15 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук (КТИ НП СО РАН) Устройство для обнаружения поверхностных дефектов цилиндрических объектов

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB791058A (en) * 1955-03-02 1958-02-19 Pneumatic Scale Corp Container filling machine
US3330961A (en) * 1964-04-15 1967-07-11 Eastman Kodak Co Photoelectric skip detector for use with a viscous layer applicator
US3430055A (en) * 1965-04-02 1969-02-25 Bowles Eng Corp Surface flaw detector
BE668611A (de) * 1965-04-28
US3675016A (en) * 1970-02-17 1972-07-04 Eastman Kodak Co Flying spot scanning
GB1383320A (en) * 1971-08-19 1974-02-12 British Iron Steel Research Measurement of the shape of strip material
JPS5149234B2 (de) * 1971-08-31 1976-12-25
GB1462875A (en) * 1973-05-16 1977-01-26 Ciba Geigy Ag Method of scanning a surface
DE2404972A1 (de) * 1974-02-01 1975-08-07 Ciba Geigy Ag Vorrichtung zur ermittlung von fehlstellen auf der oberflaeche eines bewegten reflektierenden materials
GB1484996A (en) * 1974-09-06 1977-09-08 United Biscuits Ltd Measurement of the position of a surface
JPS5849819B2 (ja) * 1975-03-18 1983-11-07 コニカ株式会社 ソウサシキケンサソウチ
GB1540066A (en) * 1975-07-25 1979-02-07 Nash P Optical inspection systems
DE2727926C3 (de) * 1977-06-21 1980-11-13 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Vorrichtung zur Ermittlung von Fehlstellen auf der reflektierenden Oberfläche einer Bahn
US4326804A (en) * 1980-02-11 1982-04-27 General Electric Company Apparatus and method for optical clearance determination
JPS58219441A (ja) * 1982-06-15 1983-12-20 Hajime Sangyo Kk 凸面体の表面欠陥検査装置
DE3472300D1 (en) * 1983-04-22 1988-07-28 Sick Optik Elektronik Erwin Device for the detection of faults

Also Published As

Publication number Publication date
GB2171511A (en) 1986-08-28
GB2171511B (en) 1989-03-30
FR2574935A1 (fr) 1986-06-20
FR2574935B1 (fr) 1988-11-25
DE3446355A1 (de) 1986-06-26
GB8530571D0 (en) 1986-01-22
US4671663A (en) 1987-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3446355A1 (de) Optisches fehlersuchgeraet
DE3734294C2 (de)
DE2521037C3 (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung und/oder Überwachung der Gleichförmigkeit der Oberfläche eines Werkstückes
DE2433683C3 (de) Vorrichtung zur Überwachung einer Materialbahn auf Fehlstellen
DE2927845A1 (de) Einen taktmasstab aufweisender lichtvorhang
DE2532602C3 (de) Optische Vorrichtung mit einem Lichtvorhang
DE2827704C3 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtaustrittswinkel
DE2436110B2 (de) Vorrichtung zur Feststellung von Herstellungsfehlern in einer bewegten Materialbahn
WO1993013407A1 (de) Fremdfasererkennung in garnen
DE2428123A1 (de) Anordnung zum nachweisen von fehlstellen mittels abtastung durch einen laserstrahl
DE2532603C3 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels
DE3602008C2 (de)
DE4444079A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens zum Messen einer Lage von Bahnen oder Bogen
EP0069061A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen von Bahnmaterial
DE2344579A1 (de) Vorrichtung zum auffinden von fehlern in flaechen oder bahnen
DE2653298A1 (de) Pruefvorrichtung zum pruefen der enden von zigaretten
DE2550815A1 (de) Vorrichtung zur vereinigung von von einem linearen feld ausgehenden licht auf einen empfaenger
DE3544871C2 (de)
DE2827705C3 (de) Gerät zur Feststellung von Fehlern an Bahnmaterial
DE2800351B2 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels bei einer mit einem Lichtfleck abgetasteten Materialbahn
EP0331272B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Bahnen
DE3043852A1 (de) Verfahren zum feststellen von signal-abweichungen unter zuhilfenahme ines integrierenden differenzverstaerkers
DE3408106C2 (de)
DE2904433C2 (de) Filmfehler-Überwachungsgerät
DE2552331C3 (de) Abtastvorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
OR8 Request for search as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee