DE3800544A1

DE3800544A1 - Ein digitales test- und pruefgeraet mit zeitlich variabler ein- und ausgabe von digitalen signalen

Info

Publication number: DE3800544A1
Application number: DE19883800544
Authority: DE
Inventors: Horst Dipl Ing Janssen
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1988-01-12
Filing date: 1988-01-12
Publication date: 1989-07-20

Description

Die Erfindung betrifft ein digital arbeitendes Gerät zum Prüfen und Messen von digitalen Schaltungen sowie zur Fehleranalyse in solchen Schaltungen. Diese digitale Schaltung stellt den Prüf ling dar und kann z. B. eine einfache Schaltung aus wenigen lo gischen Bauteilen oder auch ein komplexes System wie ein moderner Personal Computer sein.

Heutzutage sind zwei unterschiedliche Methoden bekannt, einen in einer Digitalschaltung auftretenden Fehler zu lokalisieren. Die eine Methode ist, das tatsächliche Verhalten des Prüflings zu durchsuchen. Auf diesem Prinzip basiert jeder Logik Analysator. Es ist ersichtlich, daß hierbei eine sehr große Datenflut ent steht, die schnell die Aufnahmekapazität des Gerätes übersteigt. Aus diesem Grund ist immer eine meist recht umfangreiche und kom plexe Vorsortierung der Daten erforderlich, um die Aufnahme der Daten auf den Zeitraum zu beschränken, in dem voraussichtlich der Fehler auftritt. Diese Startbedingung hängt dabei jeweils von der vermuteten Fehlerursache ab und muß daher von Fall zu Fall neu erstellt werden.

Eine ganz andere Methode besteht darin, bestimmte Bitmuster zu erzeugen, die nach Möglichkeit in allen relevanten Teilen der Schaltung Signale zur Folge haben. Hierbei kann man sich nach der grundsätzlichen Funktionsweise der Schaltung richtend ein Bit muster festlegen, welches jeweils für eine ganze Klasse von Feh lern konstant ist. Aus der Reaktion des Prüflings ist dann meist schon recht genau die Ursache des Fehlers zu erkennen.

Auf Grund der meist sehr großen Datenmenge, die in einem reinen Analysator anfällt, wird eine sinnvolle Analyse der Daten er schwert und nimmt zu lange Zeit in Anspruch. Funktionsfehler des Prüflings sind zumeist nur in langwierigen Versuchsreihen zu er mitteln.

Bei Verwendung eines Logik Generators, wie z. B. das Gerät IGA von Rohde & Schwarz, ist es erforderlich, die Reaktionen des Prüflings auf die erzeugte Anregung mit Hilfe eines Oszilloskops zu untersuchen. Hierbei ist es erforderlich, einen Satz vorgege bener Oszillogramme mit denen des Prüflings visuell zu verglei chen. Durch die oft sehr komplexen Signalformen und die für dieses Verfahren recht große Anzahl von Oszillogrammen ist diese Methode ebenfalls sehr zeitraubend.

Es gibt heute bereits Logik Analysatoren mit eingebautem Pattern Generator (z. B. System LAS von Rohde & Schwarz), die aber nicht den entscheidenden Vorteil im Zeitaufwand bieten, da hier das Analyse-System funktionell vom Generator getrennt ist. Außerdem wird durch die Funktionstrennung und zusätzliche Eigenschaften des Gerätes ein sehr hoher Preis bedingt. Ferner wird bei diesen Geräten ein fest vorgegebener zeitlicher Zusammenhang zwischen Takt und Beobachtungszeitpunkt bzw. Datenerzeugung benutzt. Da durch wird die Erkennung bestimmter Fehlerzustände erheblich er schwert oder nahezu unmöglich.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein deutlich schneller arbeitendes Gerät zu erstellen, welches sowohl Daten an einen Prüfling senden kann, als auch in der Lage ist, die Reaktion des selben zu untersuchen. Dabei sollen auch durch fehlerhaftes Zeit verhalten verursachte Ausfälle in akzeptabler Zeit ermittelbar sein. Fernerhin sollte ein solches Gerät zu erheblich niedrige ren Kosten, als ein groß ausgelegter Logik Analysator herzustel len sein.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß aufgrund der ermittelten Reaktion des Prüflings systemintern der zeitliche Zu sammenhang zwischen Takt und Beobachtungszeitpunkt bzw. Datenaus gabe variiert werden kann. Da die Reaktionen des Prüflings an gleicher Stelle, wie die Anregung, die zu den Reaktionen führte, auftreten, sind diese besonders einfach auf die Anregung zu be ziehen. Fernerhin ist es damit möglich, die Anregung selber in Abhängigkeit der Reaktionen des Prüflings zu variieren.

In dem praktisch ausgeführten Gerät (Fig. 1) liest der Kontroll teil (1) aus den Datentreibern (6) die Reaktion des Prüflings und greift abhängig von den ermittelten Daten in die Ablaufsteuerung (3) und die Impedanzsteuerung (4) ein. Die Takterzeugung in der Ablaufsteuerung (Fig. 2) enthält u. a. eine Schaltung, mit deren Hilfe die Durchlaufzeit des Taktsignals vom Kontrollteil ausge wählt wird. Fernerhin können die vom Prüfling eingelesenen Daten auch zu Ausgabedaten werden, indem der Kontrollteil in die Lese steuerung (5) eingreift.

Claims

1. Ein Gerät mit digitalen Ein- und Ausgangsleitungen zum Testen und Prüfen digitaler Schaltungen, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangssignale des Gerätes von den vorherigen Eingangssignalen abhängig gemacht werden.

2. Ein Gerät mit digitalen Ein- und Ausgangsleitungen zum Testen und Prüfen digitaler Schaltungen, dadurch gekennzeichnet, daß die geräteinterne Verzögerung der Ausgangssignale gegenüber dem steuernden Takt einstellbar ist.

3. Ein Gerät mit digitalen Ein- und Ausgangsleitungen zum Testen und Prüfen digitaler Schaltungen, dadurch gekennzeichnet, daß der Abfragezeitpunkt für Eingangssignale relativ zum steuernden Takt einstellbar ist.

4. Ein Gerät nach 1., 2., 3., dadurch gekennzeichnet, daß dieses als reines Peripheriegerät an handelsübliche digitale Rechner anschließbar ist.

5. Ein Gerät nach 1., 2., 3., dadurch gekennzeichnet, daß dieses im Verbund mit anderen gleichen oder andersartigen Systemkompo nenten einen Prüfplatz darstellt.

6. Ein Gerät nach 2., 3., dadurch gekennzeichnet, daß das Gerät statistische Angaben über die zeitlichen Grenzen relativ zum steuernden Takt für einwandfreie Funktion erstellt.