DE4344201C2 - Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten Messung von physikalischen Abklingprozessen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten Messung von physikalischen AbklingprozessenInfo
- Publication number
- DE4344201C2 DE4344201C2 DE19934344201 DE4344201A DE4344201C2 DE 4344201 C2 DE4344201 C2 DE 4344201C2 DE 19934344201 DE19934344201 DE 19934344201 DE 4344201 A DE4344201 A DE 4344201A DE 4344201 C2 DE4344201 C2 DE 4344201C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- sequence
- response signal
- time
- shift register
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 27
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 claims description 11
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 10
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 claims description 8
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 7
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Substances [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D1/00—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
- G01D1/14—Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving a distribution function of a value, i.e. number of times the value comes within specified ranges of amplitude
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6489—Photoluminescence of semiconductors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zeitaufgelösten
Messung von physikalischen Abklingprozessen in Materialen,
bei welchem nach einer Störung des Gleichgewichtszustandes
durch Energiezufuhr mittels eines sich zeitlich ändernden,
amplitudenmodulierten Anregungssignals ein Antwortsignal
des Materials erfaßt wird, insbesondere zur
zeitaufgelösten Photolumineszenzmessung an Halbleitern,
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, wie
aus US 5 196 709 A bekannt.
Weiter betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur
Durchführung eines solchen Verfahrens, gemäß dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 10, wie ebenfalls aus US 5 196 709 A bekannt.
Die Untersuchung derartiger Abklingprozesse an
vorzugsweise festen Materialien ist insbesondere im
Bereich physikalischer Grundlagenforschung von
außerordentlicher Bedeutung und nimmt dort sehr breiten
Raum ein. Dies trifft für die Messung von zeitaufgelöster
Photolumineszenz vor allem für Halbleiter zu, bei der eine
Halbleiterprobe beispielsweise mit einem Laserstrahl
angeregt und nach dem Anregungsimpuls das dann von dem
Halbleiter abgegebene sogenannte Lumineszenzlicht
frequenz- und/oder zeitselektiv gemessen wird. Hierdurch
läßt sich beispielsweise die energetische Lage von
elektronischen Niveaus bestimmen; man erhält also Antwort
auf die Frage, wieviele erlaubte Energieniveaus es für
Elektronen im betrachteten Halbleiter gibt, und wo sie
liegen. Weiter läßt sich ermitteln, wie lange ein
Elektron, das sich in einem bestimmten dieser
Energieniveaus befindet, im Mittel in diesem verweilt,
bevor es unter Energieabgabe in energetisch tiefere
Niveaus fällt.
Im Bereich kurzer Lebensdauern, also kurzer Verweilzeiten
der Elektronen in den jeweiligen Niveaus, läßt sich das
Abklingen des Lumineszenzlichtes in der oben bereits
geschilderten Weise durchführen, indem unmittelbar an
einen Anregungsimpuls im Anschluß daran die
Lumineszenzintensität gemessen wird. Will man jedoch
längere Lebensdauern ermitteln, so müssen die einzelnen
Anregungsimpulse zeitlich genügend weit voneinander
entfernt sein, so daß das Lumineszenzlicht zwischen zwei
Anregungsimpulsen auf hinreichend kleine Werte abfallen
kann. Darüber hinaus müssen die Anregungsimpulse sehr
intensiv sein, damit die Probe ausreichend
Lumineszenzlicht abgibt, um ein Abklingen des
Lumineszenzlichtes überhaupt noch messen zu können.
Schließlich darf hierbei zwischen den Pulsen kein weiteres
Anregungslicht auf die Probe fallen, um keine
Untergrundlumineszenz zu erzeugen, die möglicherweise um
Größenordnungen intensiver wäre, als das zu messende,
abklingende Lumineszenzlicht.
Aus der eingangs genannten US 5 196 709 A ist ein Verfahren und eine
Vorrichtung zur Messung von Fluoreszenz-Lebensdauern im
Bereich der chemischen, biochemischen und
biophysikalischen Forschung bekannt. Die Energiezufuhr
erfolgt durch moduliertes Licht einer
Laserdiode, wobei der Phasenwinkel und/oder die Modulation
des durch einen Photomultiplier aufgenommenen
Fluoreszenzlichtes ermittelt wird. Die Phasenlage bzw. die
Modulation werden dabei in Abhängigkeit von der
Anregungsfrequenz bestimmt, woraus sich durch rechnerische
Anpassung die Lebensdauer(n) ermitteln lassen.
Ein ähnlicher experimenteller Aufbau ist aus Analytical
Chemistry, Vol. 47, No. 3, S. 571-573 bekannt, bei dem zur
optischen Anregung ein Argon-Ionen-Laser mit
Cavity-dumping eingesetzt ist. Im übrigen erfolgt auch
hier die Bestimmung der Lebensdauer aus der gemessenen
Phasenverschiebung.
Schließlich ist im Journal of Scientific Instruments, Vol.
38, Juli 1961, S. 282-285 eine weitere derartige
Meßanordnung beschrieben, bei der mit einer
Entladungslampe angeregt und das Fluoreszenzlicht mittels
eines Photomultipliers gemessen wird, wobei das zeitliche
Abklingen der Fluoreszenz und somit die Lebensdauer
wiederum über die Phasenverschiebung bestimmt wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
der eingangs genannten Art anzugeben, das es ermöglicht,
auch langsam abklingendes Lumineszenzlicht, also große
Lebensdauern zu messen, ohne daß sich hierbei die für eine
ausreichende Meßgenauigkeit, also einen hinreichend großen
Signal-Rausch-Abstand, erforderliche Meßzeit infolge der
im Mittel geringen Anregungsleistung verlängert.
Diese Aufgabe wird in verfahrensmäßiger Hinsicht dadurch
gelöst, daß das Anregungssignal durch einen
Zufallsgenerator mit einer zyklischen Pseudozufallsfolge
moduliert und das Antwortsignal mit einer von
der Pseudozufallsfolge unmittelbar gebildeten oder einer
daraus über eine feste Beziehung abgeleiteten
Korrelationsfolge korreliert wird, wobei die Korrelation
entweder in analoger Betriebsweise mittels eines
Korrelators durch direkte Anwendung der Korrelationsfolge
auf das Antwortsignal und taktweise Zeitverschiebung oder
aber in digitaler Betriebsweise nach Aufzeichnung des
Antwortsignals über eine vollständige Periode der
Pseudozufallsfolge rechnerisch erfolgt.
Der durch die Erfindung erreichte Vorteil besteht darin,
daß das beispielsweise von einem Laser ausgesandte
Anregungslicht nicht die Form eines sehr kurzen Pulses
hat, sondern gemäß der zyklischen Pseudozufallsfolge ein-
und ausgeschaltet wird, so daß im Mittel die halbe
Anregungsenergie und somit auch die halbe cw-Leistung auf
die Probe abgegeben wird. Da die mittlere Laserleistung im
Pulsbetrieb, dem sogenannten Mode-Locking-Betrieb,
gegenüber dem ungepulsten, also dem cw-Betrieb, um mehrere
Größenordnungen kleiner ist, läßt sich auf diese Weise aus
der Probe ein erheblich größerer Anteil an
Lumineszenzlicht herausholen. Darüber hinaus entfällt bei
dieser Art des modulierten Betriebs das Problem, daß der
Laser in den Anregungspausen kein Licht emittieren darf,
das Anlaß für eine Untergrundlimineszenz wäre.
Die Verwendung zyklischer Pseudozufallsfolgen hat auch in
der Nachrichtentechnik eine gewisse Bedeutung und wurde
auch schon für den Betrieb einer Alkoholdestillieranlage
zur Analyse vorgeschlagen (Proc. Instr. Mech. Engrs., Vol.
179 Pt 3H, Seiten 37-51, 1964-65).
Bei analoger Betriebsweise und einem optischen
Antwortsignal ist im Rahmen der Erfindung vorgesehen, daß
dieses zunächst in ein entsprechendes elektrisches
Antwortsignal umgewandelt und die Korrelationsfolge auf
das elektrische Antwortsignal angewandt wird. Ebenso
besteht bei analoger Betriebsweise und einem optischen
Antwortsignal jedoch auch die Möglichkeit, daß dieses
zunächst über einen optischen Modulator korreliert und
anschließend die Umwandlung in ein elektrisches Signal
erfolgt. Dies hat den Vorteil, daß zur Umwandlung des
optischen Antwortsignals in ein elektrisches Signal ein
langsamer Photodetektor verwendet werden kann, also
beispielsweise ein Germaniumdetektor mit hoher Verstärkung
und geringer Bandbreite.
Weiter ist im Rahmen der Erfindung vorgesehen, daß die aus
der Pseudozufallsfolge abgeleitete Korrelationsfolge durch
Differenz- oder Summenbildung der um einen oder mehrere
Takte gegen sich selbst zeitverschobenen Zufallsfolge
gebildet wird. Durch Wahl einer geeigneten
Linearkombination aus Zeitverzögerten des
Modulationssignals "r" kann so die Meßdynamik noch weiter
erhöht werden. Als vorteilhaft hat sich hierbei
herausgestellt, wenn die Korrelationsfunktion durch
Differenzbildung der den augenblicklichen Meßzeitpunkt
bestimmenden, gegenüber der Pseudozufallsfolge "r"
entsprechend zeitverschobenen Folge Dtaur und der dem
Meßzeitpunkt -1 entsprechenden Folge D-1r gebildet wird.
Das durch Korrelation des Antwortsignals gebildete
Ausgangssignal wird zweckmäßigerweise über genau eine
Zykluslänge der Pseudozufallsfolge integriert.
Zur Verbesserung des Signal-Rausch-Abstandes kann bei
analoger Betriebsweise die Korrelationsfunktion jeweils am
Ende eines jeden Zyklus von einem Referenzsignal
invertiert werden, ferner das durch Korrelation des
Antwortsignals gebildete Ausgangssignal in einem
Gegentaktintegrator jeweils mit Beginn eines jeden Zyklus
neu aufintegriert werden und schließlich das Signal des
Gegentaktintegrators einem Lock-In-Verstärker zugeführt
werden, der zur phasenempfindlichen Gleichrichtung dieses
Signals mit dem Referenzsignal angesteuert wird.
Bei digitaler Betriebsweise sieht die Erfindung dagegen
vor, daß das Antwortsignal durch einen Transientenrekorder
mit der Taktfrequenz des Zufallsgenerators aufgezeichnet
wird. Hier besteht dann die Möglichkeit, im Anschluß an
die Messung, in der Regel also im Anschluß an die
Aufaddition des Signals über mehrere Zyklen, die
Korrelationsfolge rechnerisch auf die im Rechner
gespeicherten Werte anzuwenden. Dabei besteht auch die
Möglichkeit, daß die Abtastfrequenz des
Transientenrekorders um einen ganzzahligen Teiler kleiner
gewählt wird als die Taktfrequenz, der zu 2n-1
teilerfremd sein muß, wozu n die Anzahl der Stufen des den
Zufallsgenerator bildenden rückgekoppelten digitalen
Schieberegisters ist. Dies ist insofern möglich, als die
aufzuzeichnende Sequenz periodisch ist, so daß sie mit
einem Abtast-Halteglied auch langsamer unterabgetastet
werden kann.
Eine zur Durchführung des Verfahrens geeignete
Vorrichtung, die für zeitaufgelöste Messungen von
physikalischen Abklingprozessen in
Materialien, insbesondere für zeitaufgelöste
Photolumineszenzmessungen an Halbleitern, geeignet ist,
weist eine Einrichtung zur Störung des
Gleichgewichtszustandes des zu untersuchenden Materials
durch ein Anregungssignal und eine Einrichtung zur
Erfassung des Antwortsignals des Materials auf.
Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß ein
Modulator für das Anregungssignal vorgesehen ist, der von
einem Zufallsgenerator angesteuert ist, wobei der
Zufallsgenerator eine binäre zyklische Pseudozufallsfolge r
erzeugt, und daß ein Korrelator vorgesehen ist, der das
Antwortsignal mit der Pseudozufallsfolge direkt oder mit
einer daraus abgeleiteten Korrelationsfolge korreliert.
Die Einrichtung zur Störung des Gleichgewichtszustandes
kann dabei von einer optischen Quelle, vorzugsweise von
einem Laser, und die Einrichtung zur Erfassung des
Antwortsignals von einem optischen Detektor, vorzugsweise
einer Photodiode oder einem Photo-Multiplier
gebildet sein.
Der Zufallsgenerator ist in bevorzugter Ausführungsform
der Erfindung von einem rückgekoppelten digitalen
Schieberegister gebildet. Die Rückkopplung erfolgt dabei
vorteilhafterweise von den Ausgängen von zwei oder mehr,
jeweils frei wählbaren Stufen des Schieberegisters auf
dessen Eingang über Exclusiv-ODER-Gatter.
Weiter ist im Rahmen der Erfindung vorgesehen, daß die
Ausgänge aller Stufen des Schieberegisters über ein
logisches UND-Gatter verknüpft sind, dessen Ausgang das
Zyklusende signalisiert.
Zur Steuerung der Zeitverzögerung "tau" für die Erzeugung
der zeitverzögerten Folge Dtaur sieht die Erfindung eine
der Anzahl der Stufen des Schieberegisters entsprechende
Zahl von Steuerleitungen vor, deren Signalpegel von einem
Prozeßrechner eingestellt wird, wobei jede Steuerleitung
mit dem Ausgang der ihr zugeordneten Stufe des
Schieberegisters über ein UND-Gatter verknüpft ist, deren
Ausgänge jeweils paarweise über Exclusiv-ODER-Gatter und
deren Ausgänge wiederum stufenweise über weitere
Exclusiv-ODER-Gatter zu einem einzigen, die Folge Dtaur
liefernden, an die Signalleitung angeschlossenen Ausgang
zusammengeführt werden.
Bei einer ersten Ausführungsform der Erfindung, bei der
eine einfache Korrelationsfunktion angewandt wird, ist
vorgesehen, daß die Pseudozufallsfolge r am Ausgang der
ersten Stufe des Schieberegisters abgegriffen wird.
Bei Anwendung einer Korrelationsfunktion aus einer
besonders geeigneten Linearkombination von gegeneinander
Zeitverzögerten des Modulationssignals ist vorgesehen, daß
für die Erzeugung der Folge D-1r das Ausgangssignal der
ersten Stufe des Schieberegisters und für die
Pseudozufallsfolge r die zweite Stufe des
Schieberegisters abgegriffen wird.
Weiter ist vorgesehen, daß die Signale der Folge Dtaur und D-1r
durch ein Exclusiv-ODER-Gatter invertierbar sind.
Hierdurch besteht die Möglichkeit, die
Korrelationsfunktion jeweils am Ende eines Meßzyklus zu
invertieren und hierzu synchron einen das elektrische
Antwortsignal messenden Lock-In-Verstärker anzusteuern.
Im folgenden wird die Erfindung an in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert; es
zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung des optischen
Meßaufbaus für eine Photolumineszenzmessung,
Fig. 2 ein Blockschaltbild des elektronischen
Steuerteils für analoge Meßweise,
Fig. 3 ein Blockschaltbild des elektronischen
Steuerteils für digitale Betriebsweise,
Fig. 4 den Korrelator für eine einfache
Korrelationsfunktion,
Fig. 5 den Korrelator für eine aus einer
Linearkombination gebildeten
Korrelationsfunktion,
Fig. 6 den Gegentaktintegrator,
Fig. 7 den Pseudozufallsgenerator,
Fig. 8 den Meßaufbau für eine optische Korrelation.
Die in der Zeichnung dargestellte Vorrichtung ist
vorgesehen zur Durchführung von zeitaufgelösten
Photolumineszenzmessungen, insbesondere an Halbleitern,
und besteht, wie in Fig. 1 wiedergegeben, aus einer
optischen Anregungsquelle, hier einem Laser 1, der auf
eine in einem Kyrostaten 2 angeordnete Probe 3 aus
insbesondere halbleitendem Material einstrahlt. Hierdurch
wird der Gleichgewichtszustand in der Probe 3 in der Weise
gestört, daß die Ladungsträger in energetisch höhere
Zustände verbracht werden, aus denen sie dann mit
unterschiedlicher Zeitkonstante in den Grundzustand
zurückkehren. Die Rückkehr in den Grundzustand ist in der
Regel mit der Emission von Licht einer charakteristischen
Wellenlänge begleitet, also mit einer Photolumineszenz,
die frequenzselektiv und zeitaufgelöst gemessen Auskünfte
über die energetische Lage der Energieniveaus und über die
Lebensdauer, d. h. die Verweildauer der Ladungsträger in
diesen Energieniveaus gibt.
Das von der Probe 3 ausgesandte Lumineszenzlicht wird über
eine Sammellinse 4 einem Monochromator 5 zugeführt, dem
ein optischer Detektor 6 nachgeschaltet ist, der das optische
Antwortsignal in ein entsprechendes elektrisches
Antwortsignal umwandelt. Dieses Signal wird in einer im
einzelnen noch zu erläuternden elektronischen
Steuereinrichtung 7 weiter verarbeitet.
Im Gegensatz zu konventionellen Messungen, bei welchen
nach einer pulsförmigen Anregung durch den Laser 1 das von
der Probe 3 abgegebene Lumineszenzlicht zeitabhängig
erfaßt wird, befindet sich im Meßaufbau gemäß Fig. 1
zwischen dem Laser 1 und der Probe 3 ein Lasermodulator 8,
der durch die elektronische Steuereinrichtung 7
angesteuert wird. Das Anregungssignal wird dabei über den
Lasermodulator 8 von einem Zufallsgenerator 9 (Fig. 2) mit
einer zyklischen Pseudozufallsfolge amplitudenmoduliert,
so daß gegenüber einer rein pulsförmigen Anregung eine
wesentlich höhere mittlere Anregungsleistung des Lasers
zur Verfügung steht.
In den Fig. 2 und 3 ist die elektronische
Steuereinrichtung für analoge bzw. digitale Betriebsweise
näher dargestellt. Für beide Betriebsweisen ist dabei
zunächst ein Taktgenerator 11 vorgesehen, der den
Zufallsgenerator 9 ansteuert. Das für die Modulation des
Anregungslichtes vorgesehene Modulationssignal des
Zufallsgenerators 9 wird einem Hochspannungsverstärker 10
zugeführt, der den Lasermodulator 8 ansteuert. Das
Photolumineszenzlicht wird von dem Detektor 6, also z. B.
einer Photodiode bzw. einem
Photo-Multiplier registriert und durch einen
Transimpedanzverstärker 12 verstärkt.
In der analogen Betriebsweise nach Fig. 2 ist dem
Transimpedanzverstärker 12 ein Korrelator 13
nachgeschaltet, der durch eine oder mehrere, aus der
Pseudozufallsfolge abgeleitete Korrelationsfolgen des
Zufallsgenerators 9 angesteuert wird. An den Korrelator 13
schließt sich ein Gegentaktintegrator 14 an, dessen
Ausgangssignal an sich bereits unmittelbar das Meßsignal
repräsentiert.
In dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 gibt der
Zufallsgenerator 9 über die Leitung 15 ein Signal für das
Ende eines Meßzyklus ab, aus welchem der
Gegentaktintegrator 14 ein Referenzsignal 16 bildet, das
dem Zufallsgenerator 9 zugeführt wird, wodurch dieser die
Korrelationsfolge mit jedem Zyklus invertiert. Dadurch
besteht die Möglichkeit, das Ausgangssignal des
Gegentaktintegrators 14 einem Lock-In-Verstärker 17
zuzuführen, der ebenfalls von dem Referenzsignal 16
angesteuert wird, wodurch eine Verbesserung im
Signal-Rausch-Verhältnis sowie eine Unterdrückung eines
eventuellen Gleichspannungspegels erreicht wird.
Zur Bildung der jeweiligen Korrelationsfolge in
Abhängigkeit von der eingestellten Zeitverzögerung die
quasi den Meßzeitpunkt nach einem fiktiven Anregungsimpuls
darstellt, ist ein Prozeßrechner 18 vorgesehen, der die
Zeitverzögerung in noch zu erläuternder Weise dem
Zufallsgenerator 9 übermittelt.
Bei digitaler Betriebsweise gemäß Fig. 3 wird das Signal
des Transimpedanzverstärkers 12 direkt einem
Transientenrekorder 19 zugeführt, der das Signal des
Transimpedanzverstärkers 12 mit dem Takt des
Taktgenerators 11 aufzeichnet und jeweils mit dem das Ende
eines Meßzyklus kennzeichnenden Signal 15 auf der Leitung
getriggert wird, also eine neue Messung beginnt. Das im
Transientenrekorder 19 gemittelte Meßsignal wird
anschließend dem Prozeßrechner 18 zugeführt, der dann
die Korrelation rechnerisch durchführt.
Fig. 4 zeigt den für eine einfache Korrelationsfunktion
vorgesehenen Korrelator 13, der aus einem
Operationsverstärker 20 mit symmetrischen Ausgängen
besteht, der also ein Gegentaktsignal liefert, an den sich
ein von vier FET-Transistoren 21 gebildeter, zweipoliger
Umschalter anschließt. Diesem zweipoligen Umschalter ist
ein Differenzverstärker 22 nachgeschaltet, wodurch je nach
Spannungspegel auf den zu den Ansteuereingängen für die
FET-Transistoren 21 führenden Signalleitungen 23 das
Eingangssignal des Korrelators 13 invertiert wird oder
nicht.
Um die Meßdynamik weiter zu erhöhen, kann die Korrelation
durch eine geeignete Linearkombination aus Zeitverzögerten
des Modulationssignals gebildet werden. Ein geeigneter
Korrelator hierfür ist in Fig. 5 dargestellt, der aus zwei
parallel geschalteten Korrelatoren nach Fig. 4 besteht.
Jeder der beiden Blöcke 24 in Fig. 5 entspricht also der
Schaltung nach Fig. 4. die beiden Ausgänge der Blöcke 24
werden einem weiteren Differenzverstärker 25 zugeführt.
Die beiden Korrelatoren werden dabei von den
entsprechenden Korrelationssignalen auf den Signalleitungen
23 und 26 des Zufallsgenerators 9 angesteuert, wie dies
in Fig. 2 angedeutet ist. Der Korrelator 13 in Fig. 2
entspricht daher entweder der Schaltung nach Fig. 4 (nur
Signalleitung 23) oder nach Fig. 5 (Signalleitungen 23 und
26).
Der Gegentaktintegrator 14, wie er für den Betrieb in
Verbindung mit einem Lock-In-Verstärker 17 benötigt wird,
ist in seinem prinzipiellen Aufbau in Fig. 6
wiedergegeben. Im einzelnen handelt es sich hierbei um ein
übliches Integrationsglied in Form eines
Operationsverstärkers 27, dessen Ausgang über einen
Ladekondensator 28 auf den Eingang rückgekoppelt ist. Um
das durch den Chopper-Betrieb alternierende Eingangssignal
mit der richtigen Polarität dem Ladekondensator 28
zuzuführen, sind auch hier entsprechende, von
FET-Bauelementen gebildete Schalter 29 vorgesehen, die
entsprechend dem Chopper-Signal geöffnet bzw. geschlossen
werden. Weiter beinhaltet der Gegentaktintegrator 14 ein
Flip-Flop 30, das von dem das Ende eines Meßzyklus
anzeigenden Signal auf der Leitung 15 jeweils umgesteuert
wird. Dieses Flip-Flop 30 sorgt im übrigen in der aus der
Fig. 6 ersichtlichen Weise für die Umschaltung der die
beiden Ladekondensatoren 28 aufladenden Signale. Der
Ausgang des Operationsverstärkers 27 wird einer "sample
and hold"-Schaltung 32 zugeführt, die das integrierte
Signal jeweils am Ende des Meßzyklus speichert.
Fig. 7 zeigt schließlich den Zufallsgenerator 9, der
aus einem hier von vier integrierten Schaltkreisen
gebildeten Schieberegister 33 besteht. Die Ausgänge der
Schieberegister 33 können in dem durch die Klammer 34
bezeichneten Bereich durch eine Steckermatrix und über
Exclusiv-ODER-Gatter 35 auf den Eingang des ersten
Schieberegisters 33 zurückgeführt werden. Durch die über
die Steckermatrix gebildete Rückkopplung läßt sich die von
dem Schieberegister 33 erzeugte Pseudozufallsfolge
beeinflussen. Weiter werden die Ausgänge aller Stufen des
Schieberegisters 33 über ein logisches UND-Gatter 36
miteinander verknüpft, wobei aus schaltungstechnischen
Gründen im Ausführungsbeispiel zwei jeweils 8 Eingänge
aufweisende NAND-Gatter vorgesehen sind, deren Ausgänge
über ein NOR-Gatter miteinander verknüpft sind und das
Ende eines vollständigen Zyklus über die Leitung 15
signalisieren.
Zur Steuerung der Zeitverzögerung tau für die Erzeugung
der zeitverzögerten Folge Dtaur ist eine der Anzahl der
Stufen des
Schieberegisters 33 entsprechende Zahl von
Steuerleitungen 37 vorgesehen, hier also 16
Steuerleitungen, deren Signalpegel von dem Prozeßrechner
eingestellt wird. Jede der Steuerleitungen 37 ist dabei
zunächst mit dem Ausgang der ihr zugeordneten Stufe des
Schieberegisters 33 über ein UND-Gatter 38 verknüpft.
Jeweils zwei Ausgänge der UND-Gatter 38 werden einem
Exclusiv-ODER-Gatter 39 zugeführt, wobei wiederum
paarweise die Ausgänge zweier Exclusiv-ODER-Gatter 39 den
Eingängen eines weiteren Exclusiv-ODER-Gatters 39
zugeführt werden und so fort, bis schließlich am Ausgang
des Exclusiv-ODER-Gatters 40 der letzten Stufe die
Korrelationsfolge entnommen werden kann. In dem
Ausführungsbeispiel nach Fig. 7 ist ein weiteres,
nachgeschaltetes Exclusiv-ODER-Gatter 41 vorgesehen, durch
welches über das Referenzsignal 16 bzw. die
Chopper-Frequenz eine Signalinvertierung möglich ist. Der
Ausgang dieses Exclusiv-ODER-Gatters 41 wird schließlich dem Eingang
eines flankengetriggerten D-Flip-Flops 42 zugeführt, an
dessen Ausgang die beiden für die Ansteuerung des
Korrelators 13 benötigten, zueinander inversen Signale auf
der Signalleitung 23 zur Verfügung stehen.
Das für den Korrelator nach Fig. 5 benötigte weitere
Korrelationssignal wird dem Ausgang der ersten Stufe des
Schieberegisters 33 entnommen und ebenfalls über ein
Exclusiv-ODER-Gatter 43 mit der Chopper-Frequenz
invertiert, sowie einem D-Flip-Flop 44 zugeführt.
Das eigentliche Modulationssignal 31 wird dem Ausgang der
zweiten Stufe des Schieberegisters 33 entnommen und
ebenfalls einem D-Flip-Flop zugeführt. Die Datenübernahme
der D-Eingänge sämtlicher Flip-Flops 42, 44, 45 erfolgt
durch den auch die Schieberegister 33 ansteuernden Takt
des Taktgenerator 11 über die Leitung 46. Die Leitung 47
dient zum Rücksetzen der Schieberegister 33.
In Fig. 8 ist schließlich eine weitere Ausführungsform der
Erfindung dargestellt, bei welcher die einzelnen
Komponenten mit gleichen Bezugsziffern wie in Fig. 1
bezeichnet sind. Das von der Probe 3 ausgesandte
Lumineszenzlicht durchläuft zunächst einen zweiten
Modulator 48, der einerseits von dem Modulationssignal des
Zufallsgenerators und darüber hinaus mit der oben schon
erläuterten Chopper-Frequenz angesteuert wird. Dem
Modulator 48 ist dann wiederum ein optischer Detektor 6
nachgeschaltet, der dann jedoch nur eine geringe
Bandbreite, folglich eine hohe Verstärkung aufweisen kann.
Bei Verwendung eines langsamen Photodetektors führt dieser
bereits die notwendige Integration durch, so daß das
Ausgangssignal des Detektors 6 direkt dem nachgeschalteten
Lock-In-Verstärker 17 zugeführt werden kann.
Claims (18)
1. Verfahren zur zeitaufgelösten Messung von
physikalischen Abklingprozessen in
Materialien, bei welchem nach einer Störung des
Gleichgewichtszustands durch
Energiezufuhr mittels eines sich zeitlich ändernden,
amplitudenmodulierten Anregungssignals ein
Antwortsignal des Materials erfaßt wird, insbesondere
zur zeitaufgelösten Photolumineszenzmessung an
Halbleitern, dadurch gekennzeichnet, daß das
Anregungssignal durch einen Zufallsgenerator mit
einer zyklischen Pseudozufallsfolge
moduliert und das Antwortsignal mit einer
von der Pseudozufallsfolge unmittelbar gebildeten oder
einer daraus über eine feste Beziehung abgeleiteten
Korrelationsfolge korreliert wird, wobei die
Korrelation entweder in analoger Betriebsweise mittels
eines Korrelators durch direkte Anwendung der
Korrelationsfolge auf das Antwortsignal und taktweise
Zeitverschiebung oder aber in digitaler Betriebsweise
nach Aufzeichnung des Antwortsignals über eine
vollständige Periode der Pseudozufallsfolge
rechnerisch erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
bei analoger Betriebsweise und einem optischen
Antwortsignal dieses zunächst in ein entsprechendes
elektrisches Antwortsignal umgewandelt und die
Korrelationsfunktion auf das elektrische Antwortsignal
angewandt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
bei analoger Betriebsweise und einem optischen
Antwortsignal dieses zunächst über einen optischen
Modulator korreliert und anschließend die
Umwandlung in ein elektrisches Signal erfolgt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die aus der Pseudozufallsfolge
abgeleitete Korrelationsfolge durch Differenz- oder
Summenbildung der um einen oder mehrere Takte gegen
sich selbst zeitverschobenen Pseudozufallsfolge
gebildet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Korrelationsfunktion durch Differenzbildung der
den augenblicklichen Meßzeitpunkt bestimmenden,
gegenüber der Pseudozufallsfolge r entsprechend
zeitverschobenen Folge Dtaur und der dem
Meßzeitpunkt -1 entsprechenden Folge D-1r gebildet
wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß das durch Korrelation des
Antwortsignals gebildete Ausgangssignal über genau
eine Zykluslänge der Pseudozufallsfolge integriert
wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß bei analoger Betriebsweise die
Korrelationsfunktion jeweils am Ende eines jeden
Zyklus von einem Referenzsignal invertiert wird, daß
ferner das durch Korrelation des Antwortsignals
gebildete Ausgangssignal in einem
Gegentaktintegrator jeweils mit Beginn eines
jeden Zyklus neu aufintegriert wird, und daß das
Signal des Gegentaktintegrators einem
Lock-In-Verstärker zugeführt wird, der zur
phasenempfindlichen Gleichrichtung dieses Signals mit
dem Referenzsignal angesteuert wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß bei digitaler Betriebsweise das
Antwortsignal durch einen Transientenrekorder mit
der Taktfrequenz des Zufallsgenerators
aufgezeichnet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die Abtastfrequenz des Transientenrekorders um
einen ganzzahligen Teiler kleiner gewählt wird als die
Taktfrequenz, der zu 2n-1 teilerfremd sein muß,
wobei n die Anzahl der Stufen des den Zufallsgenerator
bildenden, rückgekoppelten digitalen Schieberegisters
ist.
10. Vorrichtung zur Durchführung von zeitaufgelösten
Messungen von physikalischen Abklingprozessen in
Materialien, insbesondere zur
zeitaufgelösten Photolumineszenzmessung an
Halbleitern, mit einer Einrichtung zur Störung des
Gleichgewichtszustands des zu untersuchenden Materials
durch ein Anregungssignal und mit einer
Einrichtung zur Erfassung des Antwortsignals des Materials, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Modulator (Lasermodulator 8) für das
Anregungssignal vorgesehen ist, der von einem
Zufallsgenerator (9) angesteuert ist, wobei der
Zufallsgenerator (9) eine binäre zyklische
Pseudozufallsfolge r erzeugt, und daß ein
Korrelator (13) vorgesehen ist, der das Antwortsignal
mit der Pseudozufallsfolge direkt oder mit einer
daraus abgeleiteten Korrelationsfolge korreliert.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zur Störung des
Gleichgewichtszustands von einer optischen Quelle,
vorzugsweise einem Laser (1), und die Einrichtung zur
Erfassung des Antwortsignals von einem optischen
Detektor (6), vorzugsweise einer Photodiode oder einem
Photomultiplier gebildet ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10 oder 11, dadurch
gekennzeichnet, daß der Zufallsgenerator (9) von einem
rückgekoppelten digitalen Schieberegister (33)
gebildet ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Rückkopplung von den Ausgängen von zwei oder
mehr, jeweils frei wählbaren Stufen des
Schieberegisters (33) auf dessen Eingang über
Exklusiv-ODER-Gatter (35) erfolgt.
14. Vorrichtung nach Anspruch 12 oder 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ausgänge aller Stufen des
Schieberegisters (33) über ein logisches
UND-Gatter (36) verknüpft sind, dessen Ausgang (15)
das Zyklusende signalisiert.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12 bis 14,
dadurch gekennzeichnet, daß zur Steuerung der
Zeitverzögerung tau für die Erzeugung der
zeitverzögerten Folge Dtaur eine der Anzahl der
Stufen des Schieberegisters (33) entsprechende Zahl von
Steuerleitungen (37) vorgesehen ist, deren Signalpegel
von einem Prozeßrechner (18) eingestellt wird, wobei
jede Steuerleitung (37) mit dem Ausgang der ihr
zugeordneten Stufe des Schieberegisters (33) über ein
UND-Gatter (38) verknüpft ist, deren Ausgänge jeweils
paarweise über Exklusiv-ODER-Gatter (39) und deren
Ausgänge wiederum stufenweise über weitere
Exklusiv-ODER-Gatter (39) zu einem einzigen, die Folge
Dtaur liefernden, an die
Signalleitung (23) angeschlossenen Ausgang
zusammengeführt werden.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12 bis 15,
dadurch gekennzeichnet, daß die Pseudozufallsfolge r
am Ausgang der ersten Stufe des Schieberegisters (33)
abgegriffen wird.
17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12 bis 15,
dadurch gekennzeichnet, daß für die Erzeugung der
Folge D-1r das Ausgangssignal der ersten Stufe des
Schieberegisters (33) und für die Pseudozufallsfolge r
die zweite Stufe des Schieberegisters (33) abgegriffen
wird.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12 bis 17,
dadurch gekennzeichnet, daß die Signale der Folgen Dtaur und
D-1r durch ein Exklusiv-ODER-Gatter (41, 43)
invertierbar sind.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19934344201 DE4344201C2 (de) | 1993-12-23 | 1993-12-23 | Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten Messung von physikalischen Abklingprozessen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19934344201 DE4344201C2 (de) | 1993-12-23 | 1993-12-23 | Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten Messung von physikalischen Abklingprozessen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4344201A1 DE4344201A1 (de) | 1995-07-06 |
| DE4344201C2 true DE4344201C2 (de) | 1997-02-06 |
Family
ID=6506031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19934344201 Expired - Fee Related DE4344201C2 (de) | 1993-12-23 | 1993-12-23 | Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten Messung von physikalischen Abklingprozessen |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4344201C2 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102010019095A1 (de) * | 2010-04-30 | 2011-11-03 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenzlebensdauermessung |
| DE102012214205A1 (de) * | 2012-06-18 | 2013-12-19 | Bayerisches Zentrum für Angewandte Energieforschung e.V. | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung |
| DE102022122092A1 (de) * | 2022-08-31 | 2024-02-29 | Pyroscience Gmbh | Referenz-Messung |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5565982A (en) * | 1994-05-31 | 1996-10-15 | Recon Exploration | Apparatus and method for time resolved spectroscopy |
| CN113504449B (zh) * | 2021-08-06 | 2025-07-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电致和光致瞬态共表征系统及测量方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU8396175A (en) * | 1974-08-21 | 1977-02-17 | Block Engineering | Assay using fluorescence |
| US4259574A (en) * | 1979-11-06 | 1981-03-31 | International Business Machines Corporation | Microanalysis by pulse laser emission spectroscopy |
| US5196709A (en) * | 1991-05-03 | 1993-03-23 | University Of Maryland Systems | Fluorometry method and apparatus using a semiconductor laser diode as a light source |
-
1993
- 1993-12-23 DE DE19934344201 patent/DE4344201C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102010019095A1 (de) * | 2010-04-30 | 2011-11-03 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenzlebensdauermessung |
| DE102010019095B4 (de) * | 2010-04-30 | 2016-12-08 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Fluoreszenzlebensdauermessung |
| DE102012214205A1 (de) * | 2012-06-18 | 2013-12-19 | Bayerisches Zentrum für Angewandte Energieforschung e.V. | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung |
| DE102012214205B4 (de) * | 2012-06-18 | 2014-05-08 | Bayerisches Zentrum für Angewandte Energieforschung e.V. | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Bauteilen mittels Lock-In-Bilderzeugung |
| DE102022122092A1 (de) * | 2022-08-31 | 2024-02-29 | Pyroscience Gmbh | Referenz-Messung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4344201A1 (de) | 1995-07-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE69328762T2 (de) | Zeitaufgelöste optische Sensorarrays und CCD-Kameras zur Frequenzbereich-Fluorimetrie und/oder Phosphorimetrie | |
| DE68927170T2 (de) | Picosekunden-fourier fluoreszenz-messgerät mit mehreren harmonischen | |
| DE3614359C2 (de) | Vorrichtung zur Analyse und bildlichen Darstellung des bei einer punktweisen Anregung eines Präparates durch Laserlicht entstehenden zeitlichen Intensitätsverlaufes der Fluoreszenzstrahlung | |
| DE102011055330B4 (de) | Verfahren zum Messen der Lebensdauer eines angeregten Zustandes in einer Probe | |
| DE69129849T2 (de) | Messung der lumineszenz | |
| DE3851654T2 (de) | Spannungsdetektor. | |
| EP0735378A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Responseanalyse von optisch angeregten Halbleitermaterialien | |
| DE2601190C2 (de) | Fluoreszenzspektrometer | |
| DE69930411T2 (de) | Probenanalyse mit mit sukzessivem mengenzeitkode | |
| EP0387503A2 (de) | Vorrichtung zur Messung der Fluoreszenz-Abklingdauer einer fluoreszierenden Substanz | |
| DE4344201C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur zeitaufgelösten Messung von physikalischen Abklingprozessen | |
| DE3590026T (de) | Vorrichtung zur Messung von Fluoreszenzabkling-Charakteristiken von Materialien | |
| DE69220622T2 (de) | Doppelt ausgelöstes Integrationsschema für Elektronenstrahltester | |
| EP0519092A1 (de) | Einrichtung zur Bestimmung von Raum- und Zeitkennlinien der schwachen optischen Emission eines Objektes | |
| DE2411841C3 (de) | Auger-Elektronenspektrometer | |
| EP0432189B1 (de) | Verfahren und anordnung zur messung des zustands und/oder zeitlichen verlaufs eines signals | |
| EP0136591B1 (de) | Verfahren zum Messen niederfrequenter Signalverläufe innerhalb integrierter Schaltungen mit der Elektronensonde | |
| DE3400296C2 (de) | Verfahren und Gerät zum Messen der Anregungslebensdauer lichtemittierender Materie | |
| EP0302241B1 (de) | Spannungsmessung mit einer Elektronensonde ohne externes Triggersignal | |
| DD245491A1 (de) | Phasenempfindlicher fluoreszenzdetektor fuer die kurzzeitspektroskopie | |
| DE2065967B1 (de) | Schaltungsanordnung zur Ermittelung des zeitlichen Abstands und der Reihenfolge des Auftretens zweier voneinander verschiedener Ereignisse | |
| DE3604836C2 (de) | ||
| EP0395679B1 (de) | Verfahren und anordnung zur messung des signalverlaufs an einem messpunkt einer probe | |
| DE102019210421B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung eines Lichtsignalparameters und nichtflüchtiges Speichermedium | |
| DE4002531A1 (de) | Verfahren und anordnung zur spektralanalyse eines signals |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |