DE60003745T2 - Sensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Mikrowellenleistung mit Diodenstapel-Dämpfungsglied - Google Patents

Sensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Mikrowellenleistung mit Diodenstapel-Dämpfungsglied Download PDF

Info

Publication number
DE60003745T2
DE60003745T2 DE60003745T DE60003745T DE60003745T2 DE 60003745 T2 DE60003745 T2 DE 60003745T2 DE 60003745 T DE60003745 T DE 60003745T DE 60003745 T DE60003745 T DE 60003745T DE 60003745 T2 DE60003745 T2 DE 60003745T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
power
sensor
path
diode
series
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE60003745T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60003745D1 (de
Inventor
John C. Faick
Eric R. Ehlers
Ronald J. Hogan Jr
Ajay A. Prabhu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agilent Technologies Inc
Original Assignee
Agilent Technologies Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agilent Technologies Inc filed Critical Agilent Technologies Inc
Publication of DE60003745D1 publication Critical patent/DE60003745D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60003745T2 publication Critical patent/DE60003745T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/10Arrangements for measuring electric power or power factor by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance
    • G01R21/12Arrangements for measuring electric power or power factor by using square-law characteristics of circuit elements, e.g. diodes, to measure power absorbed by loads of known impedance in circuits having distributed constants

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Microwave Amplifiers (AREA)

Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung bezieht sich auf Vorrichtungen zur Leistungsniveaumessung und spezifischer auf Vorrichtungen für Mikrowellenleistungsniveaumessung an Signalen mit hohen Spitzen-Mittelwert-Verhältnissen über einen weiten, dynamischen Bereich.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Mikrowellensignale mit vielen Arten von Modulationsformaten, wie unterschiedliche Formen von CDMA-Signalen haben hohe, aber willkürliche Scheitel- bzw. Spitzen-Mittelwert-Verhältnisse über einen sehr weiten, dynamischen Bereich. Diese Signale stellen ernsthafte Herausforderungen für genaue und schnelle Leistungsniveaumessungen über weite, dynamische Bereiche dar.
  • Einige Methoden wurden beschrieben, die versuchen, den Leistungsabtastungspfad bzw. -weg in der "Quadratgesetz"-Region zu placieren (siehe US-Patent 4,943,764) oder anderweitig die Leistungssensordurchführung zu verbessern (siehe US-Patent 5,204,613). Die Genauigkeit, die eine Messung von modulierten Signalen mit hohen Spitzen-Mittelwert-Verhältnissen bietet, ist jedoch nicht zufriedenstellend.
  • Eine weitere Technik, welche versucht, genaue Mikrowellenleistungsmessungen über weite, dynamische Bereiche für Modulationen mit hohen Spitzen-Mittelwert-Verhältnissen genau durchzuführen, ist beschrieben in, "Power Measurement Tech niques for Modulated Signals" von J. P. Cole und B. Stribling in Microwave Engineering, Europa, Oktober 1995, beinhaltet charakteristischerweise einen Sensor für kontinuierliche bzw. ungedämpfte Welle (CW) für eine vorgegebene Art der Modulation über den Leistungsbereich von Interesse, z. B. –70 dBm bis +20 dBm. Diese Technik hat den Nachteil, nur in dem Ausmaß genau zu sein, in dem die gemessene Modulation annähernd ident mit der Modulationsform ist, für die der Sensor ursprünglich charakterisiert wurde. Da kommerzielle Formate, wie CDMA, sehr schnell wechseln, riskiert ein Sensor, der nur für eine Form einer Modulation charakterisiert ist, zu veralten.
  • Keine der derzeit bekannten Methoden ist komplett zufriedenstellend vom Standpunkt der Genauigkeit oder Anwendung aus gesehen.
  • Was gebraucht wird, ist eine Leistungsmessungsvorrichtung, die Messungen von Signalen über einen dynamischen Bereich von etwa 90 dB (ungefähr –70 dBm bis ungefähr +20 dBm) mit erhöhter Genauigkeit beim Messen von hohen Spitzen-Mittelwert-Leistungsverhältnissen über –20 dB macht.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die Erfindung, wie in Anspruch 1 definiert, stellt eine Leistungsmessungseinrichtung zur Verfügung, die Signale über einen weiten, dynamischen Bereich mit verbesserter Genauigkeit beim Messen von Signalen mit hohen Spitzen-Mittelwert-Leistungsverhältnissignalen mit hohem Scheitelwert über –20 dBm mißt.
  • Die Erfindung stellt einen Diodenstapel-Mikrowellenleistungssensor zur Verfügung, welcher einen RF-Signalempfänger beinhaltet, umfassend weite, dynamische Leistungsbereiche; einen Sensorweg niedriger Leistung, der zwischen Empfänger und Erde für ein Abtasten bzw. Erfassen von RF-Eingangssignalen relativ niedriger Leistung angeschlossen ist. Der Sensorweg niedriger Leistung beinhaltet einen oder mehrere gestapelte RF-Dioden, in welchen eine Anzahl von Diodenpaaren durch entsprechende Kondensatoren mit Erde verbunden bzw. gekoppelt sein können. Ein Impedanznetzwerk, beinhaltend dämpfende Widerstände R1 und R2, ist in Serie zwischen dem Empfänger und Erde angeschlossen. Ein Sensorweg hoher Leistung ist parallel zwischen den dämpfenden Widerständen R1 und R2 und Erde zum Abtasten bzw. Erfassen gedämpfter RF-Eingabesignale relativ hoher Leistung angeschlossen. Der hohe Sensorweg beinhaltet eine zweite, gestapelte RF-Diode, in welcher eine zweite Anzahl von gestagelten Diodenpaaren durch einen entsprechenden Kondensator mit Erde verbunden ist, und in welcher die Sensordiode im Quadratgesetzbereich arbeitet und die Leistungsniveaus über den weiten, dynamischen Bereich von den empfangenen RF-Signalen abtastet.
  • Die Erfindung bietet weiter ein Diodenstapel-Mikrowellenleistungssensornetzwerk. Das Netzwerk beinhaltet RF-Signalempfänger, die weite, dynamische Leistungsbereiche aufweisen; einen Sensorweg niedriger Leistung für eine Abtastung von RF-Eingabesignalen relativ niedriger Leistung, wobei der Sensorweg niedriger Leistung eine erste, gestapelte RF-Diode beinhaltet, welche alleinstehend oder gestapelt sein kann, welche eine erste Anzahl von Diodenpaaren aufweist, die durch entsprechende Kondensatoren mit Erde verbunden sind. Das Netzwerk beinhaltet außerdem ein Impedanznetzwerk mit einer Anzahl von dämpfenden Widerständen R1, R2,..., RN und Erde für eine Abtastung bzw. Erfassung unterschiedlicher Niveaus von gedämpften RF-Eingabesignalen relativ hoher Leistung. Die Sensorwege höherer Leistung beinhalten jeweils eine zweite, gestapelte RF-Diode, welche eine willkürliche Anzahl von Diodenpaaren aufweist, die durch einen entsprechende Kondensator mit Erde verbunden sind, und in welchen die Sensordiode im Quadratgesetzbereich operiert bzw. arbeitet, wobei die Leistungsniveaus über die weiten, dynamischen Bereiche des empfangenen RF-Signals abgetastet werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die beigeschlossenen Zeichnungen, welche enthalten sind in und einen Teil dieser Beschreibung bilden und in welchen Bezugszeichen gleiche Komponenten repräsentieren, veranschaulichen Anordnungen, die nicht Ausführungen der vorliegenden Erfindung darstellen, zusammen mit Anordnungen, die bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung darstellen, und dienen zusammen mit der Beschreibung dazu, die Prinzipien der Erfindung zu erklären:
  • 1 zeigt eine Implementierung bzw. Ausführung eines Sensors mit großem Dynamikbereich für die wahre, mittlere Mikrowellenleistung unter Aufnahme einer Diodenstapel-Dämpfungsgliedtechnologie.
  • 2 zeigt eine Ausführung eines Mikrowellenleistungssensors unter Aufnahme einer Diodenstapel-Dämpfungsgliedtechnologie in Übereinstimmung mit der bevorzugten Ausführungsform.
  • 3 zeigt eine weitere Anordnung, welche keine Ausführungsform der Erfindung ist, welche nützlich ist, um den flacheren Cal-Faktor gegenüber der Frequenz zu erhalten.
  • 4 zeigt eine weitere stark verallgemeinerte Anordnung. 5 zeigt einen Graph von Ergebnissen, die der Erfindung zuzuschreiben sind.
  • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
  • Es wird nun im Detail auf die oben erwähnten Anordnungen und bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung Bezug genommen, von welcher Beispiele in den beigeschlossenen Zeichnungen dargestellt sind.
  • Die Erfindung stellt einen Leistungssensor zur Verfügung, welcher eine Diodenstapel-Dämpfungsdiodenstapel-Konfiguration enthält, um das Signal für die Sensorendioden im Dioden-"Quadratgesetz"-Bereich zu halten.
  • 1 zeigt einen Diodenstapel-Mikrowellenleistungssensor 10, welcher Eingabemittel 12 für ein Empfangen von RF-Eingabesignalen beinhaltet, welche weite, dynamische Leistungsbereiche aufweisen;
    einen Sensorweg niedriger Leistung 14, der zwischen den Eingabemitteln 12 und Erde verbunden ist, um RF-Eingabesignale relativ niedriger Leistung abzutasten bzw. zu erfassen, wobei der Sensorweg niedriger Leistung 14 erste, gestapelte RF-Diodenmittel 18 enthält, die eine erste Anzahl von Diodenpaaren aufweisen, die durch entsprechende Kondensatoren mit Erde gekoppelt sind;
    ein Impedanznetzwerk 20, das dämpfende Widerstände R1 und R2 enthält, die in Serienschaltung zwischen den Eingabemitteln 12 und Erde verbunden sind;
    einen Sensorweg hoher Leistung 22, der parallel zwischen den dämpfenden Widerständen R1 und R2 und Erde für ein Abtasten bzw. Erfassen von gedämpften RF-Eingabesignalen re lativ hoher Leistung angeschlossen ist, wobei der hohe Sensorweg 22 zweite, gestapelte RF-Diodenmittel 24 beinhaltet, die eine zweite Anzahl von gestapelten Diodenpaaren aufweisen, die durch einen entsprechenden Kondensator mit Erde verbunden bzw. gekoppelt sind;
    wobei die Sensordiodenmittel im Quadratgesetzbereich arbeiten und die Leistungsniveaus über die weiten, dynamischen Bereiche der empfangenen RF-Signale erfassen.
  • Wie unter Bezugnahme auf 1 ersichtlich, beinhaltet die erfindungsgemäße Konfiguration ein anti-paralleles Paar von gestapelten Sensordioden parallel zu der Serienanordnung bzw. -kombination der Widerstände R1 und R2. Da eine 50 Ω Impedanz die am häufigsten vorkommende Übertragüngsleitungsimpedanz bei Mikrowellenfrequenzen ist, wird der Widerstand von R1 und R2 parallel zu dem Bild- bzw. Videowiderstand des Diodenstapelwegs niedriger Leistung typischerweise auf 50 Ω gesetzt, um einen Abschluß geringer Reflexion für das eingehende Signal zu erzeugen.
  • Allgemeiner könnte ein zusätzliches Impedanz anpassendes Element parallel mit dem Bild- bzw. Videowiderstand der Dioden, genauso wie parallel zu der Summe von R1 und R2 verwendet werden, so daß eine enge Übereinstimmung bei dem RF-Eingang auf 50 Ω besteht. Die Anzahl von Dioden in dem Diodenstapelweg niedriger Leistung kann von eins (einer standardmäßigen anti-parallelen Paaranordnung) bis N reichen, wobei ein höheres N geringere Sensitivität bzw. Empfindlichkeit bei Signalen niedrigen Niveaus, aber einen größeren; dynamischen Bereich des im "Quadratgesetz" arbeitenden Bereichs für den Weg niedriger Leistung ergibt. Obwohl nicht dargestellt, wird von einem Weg niedriger Leistung mit einer einzigen Diode angenommen, daß er eine Kon figuration ist, die durch diese Erfindung abgedeckt ist, wie sie hier gelehrt wird.
  • Der Sensorweg hoher Leistung erfaßt ein Signal, dessen RF-Spannung proportional ist zu R2/(R1 + R2) mal der Spannung des ursprünglichen RF-Signals über die Serienkombination von R1 und R2. Weil die Spannung aus dem Diodenstapel in dem Sensor hoher Leistung proportional zu dem Quadrat der RF-Spannung (der RF-Leistung) über diesen ist, wenn die Dioden in ihrem Quadratgesetzbereich sind, wird der Gleichstrom-(DC)-Ausgang des Wegs hoher Leistung proportional zu dem Quadrat von R2/(R1 + R2) mal der RF-Leistung sein.
  • Beispielsweise stellt eine Verwendung eines Werts von 2,5 Ω für R2 und 47,5 Ω für R1 eine RF-Leistung über R2 zur Verfügung, die 0,0025 (26 dB unter) von der RF-Leistung über einer 50 Ω Last ist. Deshalb wird der Diodenstapel ein Signal des 0,0025-fachen desjenigen ausgeben, welches er für denselben Diodenstapel gegeben hätte, welcher die RF-Leistung über die gesamte 50 Ω Last überwacht bzw. überprüft.
  • Der Diodenstapel kann N Dioden lang sein, wobei N von 1 bis N reicht, wobei die höheren Werte von N den "Quadratgesetz"-Bereich der Arbeit des Wegs hoher Leistung erstrecken bzw. erweitern, aber die Leistungssensitivität vermindern bzw. beeinträchtigen. Indem ein Diodenstapel in dem Weg hoher Leistung mit einem Wert von N größer als 1 verwendet wird, werden zwei große Vorteile gewonnen. Ein Vorteil ist, daß der "Quadratgesetz"-Bereich des Wegs hoher Leistung einen ausgeweiteten, dynamischen Bereich haben wird. Obwohl eine simple Analyse anzeigen bzw. andeuten würde, daß ein Nehmen des dynamischen "Quadratgesetz"-Bereichs eines Wegs eines anti-parallelen Diodenpaars niedriger Leistung (ungefähr –70 dBm bis –20 dBm), dann ein Hinzufügen bzw. Addieren von 40 dB Dämpfung bzw. Abschwächung vor einem anti-parallelen Paar, um den Weg höherer Leistung mit einem "Quadratgesetz"-Bereich 40 dB höher in der Leistung (–30 dBm bis +20 dBm) auszubilden bzw. zu formen, einen nützlichen Sensor erzeugen würde, der im "Quadratgesetz"-Bereich für ganze 90 dB (–70 bis + 20 dBm) bleibt. Ein Problem mit diesem Ansatz sind jedoch die großen Mengen von Störungen bzw. Rauschen auf dem Anteil niedriger Leistung des Wegs hoher Leistung, welche eine langsamere Messung und erhöhte Mittelung in dem Bereich von –20 dBm bis –10 dBm erfordert, wodurch die Möglichkeit, Hochgeschwindigkeits-Datenerwerb zu handhaben, gefährdet wird.
  • Ein zweiter Vorteil ist, daß der "Quadratgesetz"-Bereich eines Betriebs des Wegs höherer Leistung in der Leistung nach oben bewegt wird, was weniger Dämpfung für das RF-Signal in dem Ohm'schen Dividierer, der durch R1 und R2 geformt bzw. gebildet wird, erfordert. Geringere Werte einer Ohm'schen Dämpfung sind vorteilhaft, weil es schwer ist, hohe Werte einer Dämpfung (30, 40 und 50 dB) in einem kleinen Gebiet zu bekommen, das bei hohen Frequenzen über weite Bandbreiten konstant bleibt. Spezielle Kompensationstechniken können eingesetzt werden, um eine flache bzw. ebene Sensorleistung gegenüber der Frequenz sogar für Ohm'sche Abschwächungen bzw. Dämpfungen geringer als 30 dB zu erhalten. Ein Beispiel der Erweiterung des im "Quadratgesetz" arbeitenden Bereichs in dem Weg niedriger Leistung durch eine Verwendung eines Diodenstapels ist in 5 dargestellt, in welcher Linearitätsergebnisse für ein anti-paralleles Paar eines Zweidiodenstapels mit Ergebnissen für ein Standard-anti-paralleles Diodenpaar verglichen werden.
  • Die Linearitätsergebnisse für das anti-parallele Paar eines Zweidiodenstapels sind viel besser bei höheren Niveaus als für das Standard-anti-parallele Paar. Diodenstapel, die im Weg hoher Leistung verwendet werden, erzeugen ähnliche bzw. idente Ergebnisse.
  • 2 zeigt eine Auführungsform 30, in welcher die erfinderische Konfiguration Schalter 15 enthält, welche mit den Ausgängen eines Diodenwegs niedriger Leistung verbunden sind, so daß Gleichstrom-(DC)-Spannungen zu den Diodenausgängen des geringen Wegs geschaltet werden können, um sie umgekehrt vorzuspannen bzw. zu beeinflussen, wenn der Weg niedriger Leistung nicht verwendet wird und der Weg hoher Leistung Messungen macht. Durch die umgekehrte Beeinflussung bzw. Vorspannung der Dioden des Wegs niedriger Leistung wird, wenn sie nicht verwendet werden und wenn RF-Signale hoher Leistung gemessen werden, die Impedanz der Diode des Wegs niedriger Leistung hoch und konstant bleiben, was die Leistungslimitierungs- und Oberwellenerzeugungsprobleme eliminiert, die diese Dioden sonst hervorrufen würden.
  • 3 zeigt eine Anordnung 40 anhand einer Illustration des Erhalts eines flacheren Cal-Faktors gegenüber der Frequenz im Sinne der Erfindung. Weil eine endliche Induktanz L zwischen der Erde und dem Widerstand R2 existiert, zeigt 3 diese Anordnung. Das Impedanzverhältnis von Z2/(Z1 + Z2) wird das Verhältnis des Spannungsdividierers zwischen dem Weg hoher Leistung und dem Weg niedriger Leistung einstellen bzw. festlegen, wobei die Impedanz von Z1 R1 ist und die Impedanz von Z2 R2 + jwL ist. Diese endliche Induktanz L wird verursachen, daß der Ohm'sche Dämpfer das RF-Signal zwischen dem Weg niedriger Leistung und dem Weg ho her Leistung weniger dämpft, was zu einer stetig steigenden Ausgangsspannung von den Dioden des Wegs höherer Leistung für dasselbe Niveau eines RF-Eingabesignals führt, wenn bzw. da die Frequenz erhöht wird (steigender Cal-Faktor gegenüber der Frequenz). Um diese Steigerung im Cal-Faktor gegenüber der Frequenz zu minimieren, kann ein Kompensationsschema eingeführt werden, um die Spannung zu verringern, die über Widerstand R2 entwickelt wird. Der Kondensator C parallel zu dem Widerstand R2 ist eine Technik, um das Impedanzverhältnis Z2/(Z1 + Z2) annähernd konstant zu halten, während die Frequenz variiert wird. Wenn bzw. da sich die Spannung über der Induktions- bzw. Drosselspule L erhöht, kann die Spannung veranlaßt werden, um einen ähnlichen bzw. identen Wert über die Parallelkombination von R2 und C durch die richtige bzw. geeignete Wahl des Werts von C abzusinken.
  • Eine weitere Anordnung 50 wird in 4 gezeigt, welche ein generalisiertes Konzept des Diodenstapel-Dämpfungsglieds darstellt, welches eine beliebige Anzahl von Dioden in jedem Stapel (1 bis N) wie auch beliebige Anzahlen von Diodenstapeln beinhaltet, die für ein Durchführen von Messungen bei unterschiedlichen Leistungsniveaus optimiert sind.
  • Ein Diodenstapel-Mikrowellenleistungssensornetzwerk beinhaltet Eingabemittel 12 für ein Empfangen von RF-Signalen, umfassend weite, dynamische Leistungsbereiche; einen Sensorweg niedriger Leistung 14, verbunden mit den Eingabemitteln für ein Abtasten bzw. Erfassen von RF-Eingangs- bzw. Eingabesignalen relativ niedriger Leistung, wobei der Sensorweg niedriger Leistung erste, gestapelte RF-Diodenmittel 18 beinhaltet, die eine erste Anzahl von Diodenpaaren auf weisen, die durch entsprechende Kondensatoren mit Erde verbunden bzw. gekoppelt sind;
    ein Impedanznetzwerk 21, beinhaltend eine Anzahl von dämpfenden Widerständen R1, R2,..., RN und Erde, für ein Abtasten bzw. Erfassen von unterschiedlichen Niveaus von gedämpften RF-Eingabesignalen relativ höherer Leistung, wobei die Sensorwege höherer Leistung 22, 26, jeder zweite, gestapelte RF-Diodenmittel beinhalten, welche eine beliebige Anzahl von Diodenpaaren aufweisen, die durch einen entsprechenden Kondensator mit Erde verbunden sind; wobei die Sensordiode Mittel im Quadratgesetzbereich betätigt und die Leistungsniveaus über die weiten, dynamischen Bereiche der empfangenen RF-Signale abtastet bzw. erfaßt.
  • Die Werte von N können unterschiedlich zwischen unterschiedlichen Diodenstapeln sein. Der Diodenweg hoher Leistung könnte beispielsweise ein Stapel mit 5 Dioden beinhalten, während der Weg niedriger Leistung nur einen Stapel mit 1 oder 2 Diode(n) beinhalten könnte. Ein signifikanter Vorteil dieser Konfiguration ist, daß die Überlappung bzw. Schalthysterese der "Quadratgesetz"-Bereiche für die unterschiedlichen Bereiche größer gemacht werden kann, um eine größere Meßgenauigkeit für Signale mit hohem Scheitelwert-Mittelwert-Verhältnis zu bieten, während noch immer ein gutes Störungs- bzw. Rauschverhalten in dem Teil niedriger Leistung von jedem der Bereiche zu erhalten ist. Ein weiterer Vorteil ist der Erhalt eines ähnlichen bzw. identen Überlappens des Quadratgesetzbereichs wie mit dem Zweiwegsensor, und stellt zusätzlich eine signifikant höhere Dämpfung in dem vorderen Teil des Wegs hoher Leistung zur Verfügung, wodurch der gesamte dymamische "Quadratgesetz"-Bereich des Sensors auf 90 dB oder mehr erweitert wird. Es sollte angemerkt werden, daß; obwohl die Darstellung Stö rungsmerkmale bzw. -Charakteristika ausläßt, das Diodenstapel-Dämpfungsglied die Möglichkeit zur Verfügung stellt, eine kapazitive Kompensation über den Widerständen R1 bis RN, wenn so gewünscht bzw. verlangt, zu verwenden, um die Leistung des Cal-Faktors gegenüber der Frequenz zu verbessern, wie dies in 3 gezeigt wird.
  • Um die Darstellung für alle Ausführungen, die hier gezeigt werden, zu vereinfachen, wurden der Gleichstrom (DC) blockierende Kondensator (oft in dem RF-Eingang von Leistungssensoren enthalten) und das Ohm'sche Dämpfungsglied, typischerweise enthalten zwischen dem RF-Eingang und den Diodenabtastungselementen, um das Stehwellenverhältnis bzw. Anpassungsverhältnis (SWR) zu verbessern und eine Oberwellenerzeugung zu verringern, nicht gezeigt. Es ist offensichtlich für jene mit durchschnittlicher Begabung in dem Fachgebiet, daß diese Merkmale nützlich bzw. verwendbar sind, und die Erfindung, die hier gelehrt wird, beinhaltet Anordnungen bzw. Ausführungen mit diesen Elementen innerhalb des Rahmens der Ansprüche, die hier angefügt sind.

Claims (4)

  1. Mikrowellenleistungssensor (10; 30; 40; 50), umfassend: Eingabemittel bzw. -einrichtungen (12) zum Empfangen von RF-Signalen von einer Quelle, die durch eine Übertragungsleitungsimpedanz gekennzeichnet ist; einen Sensorweg (14) niedriger Leistung, der mit den Eingabemitteln (12) verbunden ist, um RF-Eingabesignale relativ niedriger Leistung abzutasten bzw. zu erfassen, wobei der Sensonnieg (12) niedriger Leistung eine oder mehrere, in Serie verbundene bzw. angeschlossene Diodenmittel (18; D1–DN) und dieselbe Anzahl von in Serie verbundenen Diodenmitteln (18; D1–DN) umfaßt, die in zwei antiparallelen Reihen angeordnet sind, wobei jede Reihe mit der Erde durch entsprechende Kondensatoren gekoppelt ist; ein Impedanznetzwerk (20), umfassend eine Serienanordnung von ersten und zweiten dämpfenden Widerständen (R1, R2), die zwischen den Eingabemitteln (12) und Erde angeschlossen sind und einen Pfad zur Erde zur Verfügung stellen, der eine Impedanz im wesentlichen gleich der Übertragungsleitungsimpedanz besitzt; einen Sensorweg (22; 26) hoher Leistung, der mit der Verbindung der ersten und zweiten dämpfenden Widerstände (R1, R2) verbunden ist, zum Abtasten bzw. Erfassen von RF-Eingabesignalen relativ hoher Leistung, wobei der Sensorweg (22; 26) hoher Leistung eine oder mehrere, in Serie verbundene Diodenmittel (24, D1–DN) und dieselbe Anzahl von in Serien verbundenen Diodenmitteln (24; D1–DN) umfaßt, die in zwei antiparallelen Reihen angeordnet sind, wobei jede Reihe mit der Erde durch entsprechende Kondensatoren gekoppelt ist; wobei die Sensordiodenmittel (18, D1–DN, 24, D1–DN) angeordnet sind, um in einem Quadratgesetzbereich zu arbeiten und die Leistungsniveaus über die weiten, dynamischen Bereiche der empfangenen RF-Signale abzutasten; und Schaltungsmittel bzw. -einrichtungen (15), die mit einem Ausgang bzw. einer Ausgabe des Sensorwegs niedriger Leistung (14) verbunden sind und angeordnet sind, um eine Gleichspannung an den Sensonroegauslaß niedriger Leistung anzulegen, um die Vorspannung der Dioden in den Sensorweg (14) niedriger Leistung umzukehren, wenn der Sensorweg (14) niedriger Leistung nicht verwendet ist und der Sensorweg (22) hoher Leistung zur Messung verwendet ist.
  2. Leistungssensor nach Anspruch 1, worin der Sensorweg (22; 26) hoher Leistung angeordnet ist, um eine RF-Signalspannung proportional zu R2/(R1 + R2) mal der eingegebenen RF-Signalspannung abzutasten, worin R1 der Widerstand des ersten Widerstands (R1) ist und R2 der Widerstand des zweiten Widerstands (R2) ist.
  3. Leistungssensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, weiters umfassend Impedanzmittel (C, L), die einen Kondensator bzw. eine Kapazität (C) umfassen, der (die) parallel mit dem zweiten Widerstand (R2) verbunden ist, und einen Induktor bzw. Drosselwiderstand (L), der zwischen dem zweiten Widerstand (R2) und Erde angeschlossen ist.
  4. Leistungssensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, worin das Impedanznetzwerk (20) wenigstens einen weiteren dämpfenden Widerstand (RN) umfaßt, der in Serie zwischen dem zweiten dämpfenden Widerstand (R2) und Erde angeschlossen ist, und worin der Sensor (50) einen zusätzlichen, entsprechenden Sensorweg (22) höherer Leistung umfaßt, der mit dem stromaufwärtigen Ende des oder jedes weiteren dämpfenden Widerstands (RN) verbunden ist, wobei der oder jeder zusätzliche Sensorweg (22) höherer Leistung angeordnet ist, um RF-Eingabesignale höherer Leistung abzutasten, und eines oder mehrere in Serie verbundene Diodenmittel (D1–DN) und dieselbe Anzahl von in Serie verbundenen Diodenmitteln (D1–DN) umfaßt, die in zwei antiparallelen Reihen angeordnet sind, wobei jede Reihe mit der Erde durch entsprechende Kondensatoren verbunden ist.
DE60003745T 1999-04-09 2000-04-03 Sensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Mikrowellenleistung mit Diodenstapel-Dämpfungsglied Expired - Fee Related DE60003745T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US289295 1999-04-09
US09/289,295 US6242901B1 (en) 1999-04-09 1999-04-09 True average wide dynamic range microwave power sensor using diode stack attenuator-diode stack

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60003745D1 DE60003745D1 (de) 2003-08-14
DE60003745T2 true DE60003745T2 (de) 2004-04-22

Family

ID=23110905

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60003745T Expired - Fee Related DE60003745T2 (de) 1999-04-09 2000-04-03 Sensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Mikrowellenleistung mit Diodenstapel-Dämpfungsglied

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6242901B1 (de)
EP (1) EP1043592B1 (de)
JP (1) JP2000310657A (de)
DE (1) DE60003745T2 (de)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000349657A (ja) * 1999-06-08 2000-12-15 Nec Saitama Ltd Rf検波回路
US6331769B1 (en) * 1999-06-18 2001-12-18 Anritsu Company RMS power sensor with 84 dB dynamic range
EP1310489B1 (de) * 2001-11-02 2006-12-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Elektrophotographischer organischer Photorezeptor mit Ladungstransportverbindungen
US6720757B2 (en) * 2002-03-26 2004-04-13 Broadcom Corporation Variable gain received signal strength indicator
KR100465235B1 (ko) * 2002-04-16 2005-01-13 삼성전자주식회사 정전용량에 의해 rf 신호에 대한 전력을 측정하는 rf파워센서
KR100440764B1 (ko) * 2002-09-03 2004-07-21 전자부품연구원 마이크로파 전력센서 및 그의 제조방법
US6903542B2 (en) * 2003-08-29 2005-06-07 Agilent Technologies, Inc. Systems and method for performing RF power measurements
FI118490B (fi) * 2004-06-29 2007-11-30 Valtion Teknillinen Mikromekaaninen anturi mikroaaltotehon mittaamiseen
US20090001270A1 (en) * 2007-06-28 2009-01-01 Aleph America RF detector and temperature sensor
WO2009148367A1 (en) * 2008-06-02 2009-12-10 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Device and method for increasing dynamic range for radio frequency diode detector
US9702911B2 (en) 2012-09-07 2017-07-11 Keysight Technologies, Inc. Adjustable power sensor

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4207518A (en) * 1978-03-06 1980-06-10 General Microwave Corporation Broadband radiation detector with diode elements
JPS592349B2 (ja) * 1979-03-31 1984-01-18 アンリツ株式会社 電力測定装置
JPS58129706U (ja) * 1982-02-26 1983-09-02 三菱電機株式会社 二乗検波器
US4873484A (en) * 1987-09-03 1989-10-10 Lucas Weinschel, Inc. Extended range composite head power sensor with three circuit branches having a common node
US4943764A (en) * 1987-12-11 1990-07-24 Hewlett-Packard Company Wide dynamic range radio-frequency power sensor
US5204613A (en) * 1991-05-02 1993-04-20 Wavetek Microwave, Inc. Rf power sensor having improved linearity over greater dynamic range
US5714900A (en) * 1996-04-12 1998-02-03 Hewlett-Packard Company Electrical overstress protection device

Also Published As

Publication number Publication date
US6242901B1 (en) 2001-06-05
EP1043592A1 (de) 2000-10-11
DE60003745D1 (de) 2003-08-14
JP2000310657A (ja) 2000-11-07
EP1043592B1 (de) 2003-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60003745T2 (de) Sensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Mikrowellenleistung mit Diodenstapel-Dämpfungsglied
DE60000467T2 (de) Dioden-Mikrowellenleistungssensor mit geschaltetem Dämpfungsglied
EP2026479A1 (de) Transimpedanzverstärkerschaltung für einen Photodetektor
DE2724437B1 (de) Nach dem Impuls-Echo-Verfahren arbeitendes Ultraschall-Bildgeraet
DE2606270C3 (de) Mehrstufige Begrenzerverstärkerschaltung
EP1309874B1 (de) Leistungssensor
DE69531273T2 (de) Schaltung für variable Verstärkung und Radioapparat mit einer solchen Schaltung
DE19913338B4 (de) Ein- oder Mehrweg-HF-Diodengleichrichterschaltung
DE60001467T2 (de) Leistungssensor mit grossem Dynamikbereich für die wahre mittlere Leistung
DE2258690A1 (de) Impedanzvergleichsschaltung
DE102008052335B4 (de) Mehrpfad-Leistungsmesser mit Verstärker
DE102008005204A1 (de) Koppler mit elektronisch variierbarem Abschluss
DE69528320T2 (de) Optische Frequenzmischanordnung
DE806862C (de) Gegenkopplungsverstaerker mit besonders breitem Frequenzband
WO2003067270A1 (de) Leistungsdetektor mit gleichspannungsentkopplung
DE3210144A1 (de) Stoerfeldstaerkenmessgeraet
DE3111204A1 (de) Schaltngsanordnung fuer ein elektrisches mehrtornetzwerk zur bestimmung komplexer reflexionsfaktoren
DE2057633C3 (de) Frequenzgenerator zur Erzeugung einer unverzerrten amplitudenmodulierten VHF-Trägerfrequenz
DE4135555C2 (de) Verfahren zur Bestimmung des Ausgangsreflexionsfaktors und des Rückwärtsübertragungsfaktors eines Meßobjekts sowie Verwendung des Verfahrens
DE3143669A1 (de) Schaltung zum messen des effektivwertes einer wechselspannung
DE3510137C2 (de) Überwachungseinrichtung für TACAN-Funkfeuer
DE3873580T2 (de) Breitbandverstaerker mit geringem rauschen fuer metrische wellen.
DE1967001C3 (de) Signalexpander
DE1523146B1 (de) Dopplerfrequenzdiskriminator
DE975657C (de) Anordnung zur linearen Demodulation frequenzmodulierter Schwingungen

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: AGILENT TECHNOLOGIES, INC. (N.D.GES.D. STAATES, US

8339 Ceased/non-payment of the annual fee