DE602005017115D1 - Verfahren und Programm zur Schätzung der Unsicherheit von Messmaschinen - Google Patents

Verfahren und Programm zur Schätzung der Unsicherheit von Messmaschinen

Info

Publication number
DE602005017115D1
DE602005017115D1 DE602005017115T DE602005017115T DE602005017115D1 DE 602005017115 D1 DE602005017115 D1 DE 602005017115D1 DE 602005017115 T DE602005017115 T DE 602005017115T DE 602005017115 T DE602005017115 T DE 602005017115T DE 602005017115 D1 DE602005017115 D1 DE 602005017115D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
uncertainty
estimating
program
measuring machines
machines
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE602005017115T
Other languages
English (en)
Inventor
Nara Masayuki
Abbe Makoto
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Publication of DE602005017115D1 publication Critical patent/DE602005017115D1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/045—Correction of measurements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
DE602005017115T 2005-01-05 2005-12-30 Verfahren und Programm zur Schätzung der Unsicherheit von Messmaschinen Expired - Lifetime DE602005017115D1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005000702 2005-01-05
JP2005127744A JP4694881B2 (ja) 2005-01-05 2005-04-26 不確かさ推定方法及びプログラム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE602005017115D1 true DE602005017115D1 (de) 2009-11-26

Family

ID=36035836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE602005017115T Expired - Lifetime DE602005017115D1 (de) 2005-01-05 2005-12-30 Verfahren und Programm zur Schätzung der Unsicherheit von Messmaschinen

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7225104B2 (de)
EP (2) EP2105703A1 (de)
JP (1) JP4694881B2 (de)
CN (2) CN1800778B (de)
DE (1) DE602005017115D1 (de)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007034168A1 (de) * 2007-07-23 2009-02-05 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung von Ist-Meßdaten eines Bauteils
US7906965B2 (en) * 2007-11-05 2011-03-15 The United States Of America As Represented By The Department Of Health And Human Services Methods and apparatuses for estimating the elliptical cone of uncertainty
JP5438988B2 (ja) * 2009-02-17 2014-03-12 株式会社ミツトヨ 測定システムおよび干渉計
JP5325048B2 (ja) * 2009-08-25 2013-10-23 株式会社ミツトヨ 誤差伝播による出力データの精度評価方法
CN107368462B (zh) * 2017-07-06 2021-02-05 国电南瑞科技股份有限公司 一种用于时变测量数据方差的在线估计方法
WO2019073913A1 (ja) * 2017-10-13 2019-04-18 日本電信電話株式会社 擬似データ生成装置、その方法、及びプログラム
JP7189707B2 (ja) 2018-09-05 2022-12-14 株式会社ミツトヨ 測定点決定方法、プログラム、および測定点決定装置
CN109657802B (zh) * 2019-01-28 2020-12-29 清华大学深圳研究生院 一种混合专家强化学习方法及系统
EP3708945B1 (de) * 2019-03-14 2023-01-25 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Auswertung von messdaten aus einer vermessung einer mehrzahl von werkstücken
CN110017797B (zh) * 2019-04-24 2020-08-21 中国兵器科学研究院宁波分院 一种基于图像等值面分割法的尺寸测量结果不确定度评价方法
EP3960093A4 (de) * 2019-04-26 2023-01-04 Osaka University System, verfahren und programm zur verstärkung von trainingsdaten für maschinenlernen
JP7519574B2 (ja) * 2021-02-10 2024-07-22 株式会社東京精密 測定データ分析装置、測定データ分析方法、プログラム及び三次元測定機

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3735075A1 (de) * 1987-10-16 1989-04-27 Zeiss Carl Fa Pruefeinrichtung und verfahren zur bestimmung der messunsicherheit von koordinatenmessgeraeten
IT1296727B1 (it) * 1997-10-09 1999-07-15 Dea Brown & Sharpe S P A Ora B Metodo di determinazione dell'incertezza di misura di una macchina di misura a coordinate.
JP4660779B2 (ja) * 2000-08-18 2011-03-30 学校法人 中央大学 移動装置の位置誤差評価方法およびその評価結果に基づく移動精度向上方法
JP3604129B2 (ja) * 2001-03-12 2004-12-22 株式会社ミツトヨ 座標測定の不確かさ推定方法
US6829568B2 (en) * 2002-04-26 2004-12-07 Simon Justin Julier Method and apparatus for fusing signals with partially known independent error components
JP4323212B2 (ja) * 2003-05-08 2009-09-02 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機の校正方法、表面性状測定機の校正プログラム、この校正プログラムを記録した記録媒体および表面性状測定機

Also Published As

Publication number Publication date
EP1679486A1 (de) 2006-07-12
CN101713645B (zh) 2012-09-19
JP4694881B2 (ja) 2011-06-08
CN1800778B (zh) 2010-08-18
EP1679486B1 (de) 2009-10-14
CN1800778A (zh) 2006-07-12
JP2006215011A (ja) 2006-08-17
US7225104B2 (en) 2007-05-29
US20060149507A1 (en) 2006-07-06
EP2105703A1 (de) 2009-09-30
CN101713645A (zh) 2010-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE602006008327D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der wandstärken von objekten
DE112008000060A5 (de) Verfahren zur Bestimmung der Bezugspunkte Ferne und Nähe
EP1934720A4 (de) Verfahren und computerprogramm zur einrichtungskonfiguration
DE602007005750D1 (de) Kommunikationsendgerät sowie Verfahren und Programm zur Bestimmung der korrekten Zieladresse
DE602005006412D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Grundfrequenzbestimmung
DE602005003075D1 (de) Anordnung, Verfahren und Programm zur Bestimmung der Position von Gesichtsteilen
DE602005006860D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Teilentladungen
EP2062663A4 (de) Verfahren, vorrichtung und programm zur erkennung von formfehlerfaktoren
DE602006001379D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Verschiebungen
DE602005007823D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Form eines Objekts
DE502006004993D1 (de) Computertomografie-messanordnung und verfahren
DE112005001904A5 (de) Verfahren zur Bestimmung relevanter Objekte
DE602005002802D1 (de) Anordnung, Verfahren und Programm zur Bestimmung der Zentralposition eines Gesichts
DE502005007752D1 (de) Verfahren zur robotergestützten vermessung von messobjekten
EP2334254A4 (de) Vorrichtung und verfahren zur prüfung der polierbarkeit von materialien
DE60304078D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Durchfürung von Interfrequenz-Messungen
DE602005017115D1 (de) Verfahren und Programm zur Schätzung der Unsicherheit von Messmaschinen
EP1877785A4 (de) Verfahren zur messung der glycanniveaus von proteinen
EP1895804A4 (de) Verfahren und einrichtung zur bestimmung der messzeit der zwischen-frequenz-messung und zwischen-frequenz-messverfahren
DE502005002548D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur interferometrischen Radarmessung
DE602006000614D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Standortbestimmung
DE502005003829D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur kapazitiven Vermessung von Materialien
DE602005021021D1 (de) Anordnung, Verfahren und Programm zur Zielindentifizierung
DE602007010553D1 (de) NMR-Spektrometer und Verfahren zur NMR-Messung
DE602006014679D1 (de) Verfahren zur bestimmung der eisenkonzentration

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition