DE821680C - Verfahren zum Aussondern von Elektronen bestimmter Phase aus einem Elektronenstrahl - Google Patents

Verfahren zum Aussondern von Elektronen bestimmter Phase aus einem Elektronenstrahl

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DE821680C
DE821680C DEP13561D DEP0013561D DE821680C DE 821680 C DE821680 C DE 821680C DE P13561 D DEP13561 D DE P13561D DE P0013561 D DEP0013561 D DE P0013561D DE 821680 C DE821680 C DE 821680C
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DE
Germany
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electrons
deflection
electron beam
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waves
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Expired
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DEP13561D
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English (en)
Inventor
Dr Phil Otto Scherzer
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SUEDDEUTSCHE LABORATORIEN GmbH
Original Assignee
SUEDDEUTSCHE LABORATORIEN GmbH
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/84Arrangements for removing or diverting unwanted particles, e.g. for negative ions or fringing electrons; Arrangements for velocity or mass selection

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

  • Verfahren zum Aussondern von Elektronen bestimmter Phase aus einem Elektronenstrahl Es ist zuweilen erforderlich, aus einem Elektronenstrahl diejenigen Elektronen auszusondern, deren Durchgangszeit durch eine bestimmte Ebene in der richtigen Beziehung zur Phase einer hochfrequenten Schwingung steht. In manchen Fällen, beispielsweise wenn die durchgelassenen Elektronen mit Hilfe hochfrequenzgespeicter Linsen zur elektronenoptischen Abbildung ausgenutzt werden sollen, ist es wichtig, daß die Geschwindigkeiten der durchgelassenen Elektronen durch den Aussonderungsvorgang nicht verändert werden. Die bisher bekannten Anordnungen zur Aussonderung von Elektronen erfüllen diese Bedingung bei hohen Frequenzen (io9 bis soll Hz) nicht. Steuergitter, Wehneltzylinder und ähnliche Systeme machen nämlich durch die unvermeidliche, rasch veränderliche Längskomponente ihres Feldes den durchgelassenen Elektronenstrahl geschwindigkeitsinhomogen. Die seitliche Ablenkung eines Elektronenstrahls bewirkt bei ebenen Ablenkplatten eine zwar geringere, aber in vielen Fällen doch noch störende Bewegung der Elektronen in Richtung der Feldlinien und damit eine Geschwindigkeitsänderung, wie in Fig. i, in der i den Elektronenstrahl, 2 die Ablenkplatten und 3 die Öffnung der Blende bezeichnet, schematisch dargestellt ist. Die Bewegung in Richtung der Feldlinien läßt sich für den durch die Öffnung der Blende fallenden Strahl durch geeignete Formgebung der Ablenkplatten 4, wie in Fig. 2 angedeutet ist, vermeiden. Es bleibt dann aber immer noch der Nachteil, daß für den Durchgang des Strahls durch das Ablenksystem nur eine Halb- Periode der Hochfrequenz, also nur recht kurze Zeit zur Verfügung steht, so daß eine starke Beeinflussung des Strahls nur bei Verwendung sehr starker Felder möglich ist.
  • Diese Nachteile werden bei dem Verfahren zum Ausblenden von Elektronen einer bestimmten Phase aus einem Elektronenstrahl durch Ablenken des Strahls über eine Blendenöffnung dadurch vermieden, daß die Ablenkung durch elektromagnetische Wellen bewirkt wird, die etwa in gleicher Richtung und mit der Geschwindigkeit der Strahlelektronen fortschreiten. Besonders zweckmäßig ist es hierbei, vorzugsweise einstellbare, Mittel zur Beeinflussung der Geschwindigkeit der Wellen in dem für die Ablenkung maßgebenden Teil ihres Weges vorzusehen. Zur Führung der Wellen wird man in der Regel Ablenkleitungen benutzen, die sich etwa parallel zum nicht abgelenkten Strahl erstrecken. Das erfindungsgemäße Verfahren kann jedoch auch mit anderen Mitteln durchgeführt werden, wenn sie geeignet sind, sicherzustellen, daß sich die Wellen in der Richtung und mit der Geschwindigkeit der Strahlelektronen in dem der Ablenkung dienenden Teil ihres Weges bewegen.
  • Die Fig. 3 bis io zeigen in zum Teil schematischer Darstellung Ausführungsbeispiele von Einrichtungen zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Bei der Anordnung nach Fig. 3 verläuft der unabgelenkte Elektronenstrahl 1 in der :litte zwischen zwei Leitern 5, einer symmetrischen, beispielsweise durch einen Widerstand 6 abzuschließenden Doppelleitung. Beim Fortschreiten einer Welle längs dieser Leitung werden nur die Elektronen nicht beeinflußt, die sich während des gesamten Weges in einem Spannungsknoten befinden; alle anderen Elektronen werden jedoch abgelenkt und gehen daher nicht durch die Öffnung 3 der Blende.
  • An Stelle einer Doppelleitung wird bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. ,4 eine einadrige Leitung verwendet, bei der der Strahl zwischen dein Mantel 7 und dem Innenleiter 8 verläuft. Bei sehr kurzen Wellen lassen sich auch Hohlrohre ohne Innenleiter verwenden. Die zur Herabsetzung der WellengeschNvindigkeit erforderliche Belastung der Leitung kann auf sehr verschiedene Weise erfolgen. Eine kapazitive Belastung kann man beispielsweise, wie in den Fig. 5 und 6 angedeutet ist, durch Ansätze 9 auf der dein Strahl abgewandten Seite des Innenleiters 8 erzielen. Zu dem gleichen Zweck kann mau auch, wie in Fig.7 schematisch gezeigt ist, ein dielektrisches Zwischenmaterial io vorsehen. Diese Anordnung weist zudem den Vorteil auf, daß bei ihr das Feld homogener ist. Eine induktive Belastung erreicht man durch wendelförmige Ausbildung des Leiters bzw. der Leiter, wie Fig. 8 zeigt, oder durch Einschneiden eines Gewindes. Solche Anordnungen haben gegenüber den vorgenannten den Vorteil, daß sie einen höheren Wellenwiderstand aufweisen und daher bei gleicher Spannung einer geringeren Leistung bedürfen.
  • Damit der Strahl nicht zweimal während jeder Periode der Hochfrequenzspannung die Öffnung 3 der Blende überstreicht, kann man durch entsprechende Ausbildung der Leitnah, z. 13'. Verdrehen an ihren Enden, oder durch Anbringen geeigneter Ansätze 11 an die Leiter, wie Fig. 9 zeigt. dafür Sorge tragen, daß der Strahl auch eine kleine Alllenkung in Querrichtung in geeigneter Phasenlage erhält, so daß der Strahl auf (lern Schirm eine schmale Ellipse 12 beschreibt, auf der die Öffnung 3 der Blende liegt. Die richtige I-iastellung der 1?llipse wird sehr erleichtert, wenn die Blende auf ihrer dem Strahl zugekehrten Seite mit Leticlitsul)stanz versehen ist.
  • Um nur fortschreitende Wellen auf der Ablenkleitung zu erzeugen, kann man die Leitung am I?nde mit ihrem Wellenwiderstand abschließen oder das ablenkende Leitungsstück in die zu einem geeigneten Verbraucher führende Leitung einsetzen. lZücklaufende Wellen auf der Ahlenkleitung heben den gewünschten Ablenkeftekt nicht auf, da sich ihr Einfluß auf die Elektronen zeitlich herausmittelt. l11 manchen Fällen kann sogar noch iai Grenzfall stehender Wellen mit Erfolg gearbeitet werden.
  • Wird der für den Strahl passierbare Raum durch mehrere Blenden eingeengt oder auf der ganzen Länge eng gehalten, so kiinnen die beschriebenen Anordnungen aticli zur (,e@cliwin<ligkeitsliomogenisierung des Strahls verwendet werden, weil die Elektronen mit anderer Geschwindigkeit als der Wellengeschwindigkeit sich nicht. (lauernd 1111 Knoten der mit ihnen laufenden \1'elle halten l:<üiiien und deshalb aus dem Strahl herausgezogen werden.
  • Um die Intensität des von der 131ende durchgelassenen Elektronenstrahls zu erliiilien, kann vor dem ablenkenden Svstein eine I@.lekti-oiiealiiise angebracht werden, die in der bei Oszillographen üblichen Weise die Kathode oder eine geeignete Blende auf den Schirm abbildet.
  • l,'itie weitere Erhcihting der Intensit:it kann man erreichen, wenn man vor dein :\blenkungssvsteni, wie in Fig. io schematisch dargestellt ist, zwei Phasenlinsen 15 und if) vorsieht, die die atis der Kathode austretenden Elektronen nach (lein Durchlaufen einer Beschleunigungs- und Fokussierungseinrichtung 1.1 beeinflussen. Durch die erste Phasenlinse 15 wird der ursprünglich geschwindigkeitshomogene F.lektrcnienstrabl 1 (ladiirch inhomogen gemacht, daß die Elektronen periodisch zu hintereinander herlaufenden Gruppen größerer Dichte zusammengedrängt werden. Die zweite Phasenlinse 16, die in der N älie des Phasenbrennpunktes der ersten angeordnet ist, stellt die Geschwindigkeitshomogenität soweit möglich wieder her. Die etwa verbleibende Inhotnogenität ist belanglos, denn die Phase der Welle auf dem ablenkenden Leitungsstück kann so gewählt Nverden, daß nur der gut geschwindigkeitslioniogene Mittelteil der einzelnen Elektronengruppen durchgelassen wird, während die inhomogenen Vor- und Nachläufer abgefangen werden. Auf diese Weise liißt sich der durch die Aussortierung bedingte Intensitätsverlust erheblich vermindern. Es empfiehlt sich, zur Aussonderung in falscher Richtung verlaufender Elektronen und zur Intensitätssteigerung Hinter der zweiten Phasenlinse 16 eine Zwischenlinse 17 und Mittel zur Richtungsfokussierung 18 vorzusehen.

Claims (4)

  1. PATEN TANSYRC CH E: i. \Terfahren zum Ausblenden von Elektronen bestimmter Phase aus einem Elektronenstrahl durch .Mrlenken des Strahls über eine Blendendadurch gekennzeichnet, daß die 2\lilenkung durch elektromagnetische Wellen bewirkt wird, die etwa in gleicher Richtung und rnit der Geschwindigkeit der Strahlelektronen fortschreiten.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch r, dadurch gekennzeichnet, daß vorzugsweise einstellbare Mittel zur Beeinflussung der Geschwindigkeit der Wellen in dem für die Ablenkung maßgebenden "feil ihres Weges vorgesehen sind.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch i oder 2, bei dein zur .Führung der Wellen Ablenkleitungen verwendet werden, dadurch gekennzeichnet, daß die :\blenkleitungen rnit ihrem Wellenwiderstand abgeschlossen sind. . Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß auf mindestens einer der Alrlenkleitungen stehende \\'ellen erzeugt werden. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeiclrnet, daß eine oder beide Ablenkleitungen in der Zuleitung zu einem Verbraucher liegen. 0. 1?iririclitrrng zur Durchführung des Vertfabrens nach r\nspruch i bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß in der Nähe des Elektronenstrahls und etwa in seiner Richtung sich erstreckende "\lrlerrkleitungen und Mittel zur rzeugung von Wellen vorgesehen sind, die auf, den Al>lenkleitungen etwa mit der Geschwindigkeit der Strahlelektronen fortschreiten. 7. hinriclitung nach :\nspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß, vorzugsweise einstellbare, Mittel zur induktiven und/oder kapazitiven Belastung der Ablenkleitungen vorgesehen sind. B. Einrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der Ablenkleitungen mit ihrem Wellenwiderstand abgeschlossen ist. g. Einrichtung nach Anspruch 6 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem ablenkenden System ein richtungsfokussierendes System angeordnet ist. io. Einrichtung nach Anspruch 6 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Allenksysteme mit, vorzugsweise zueinander senkrechter, Ablenkrichtung in Strahlrichtung hintereinander angeordnet sind. i i. Einrichtung nach Anspruch 6 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel vorgesehen sind, durch die der Strahl in zwei Richtungen derart abgelenkt wird, daß er je Periode der zum Ablenken dienenden Wellen nur einmal die B1endenöffnung überstreicht. 12. Einrichtung nach Anspruch 6 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Blende auf ihrer vom Elektronenstrahl getroffenen Seite mit einer Leuchtsubstanz versehen ist. 13. I?inrichtung nach Anspruch 6 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß vor dein ablenkenden System zwei Phasenlinsen angebracht sind, deren erste die Elektronen des geschwindigkeitshomogenen Elektronenstrahls periodisch zu hintereinander herlaufenden Gruppen größerer Dichte zusammendrängt, während die zweite die Geschwindigkeitshomogenität der Elektronen wieder herstellt. 1.
  4. 4. Hinrichtung nach Anspruch 6 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß Blenden mit enger Öffnung zum Aussondern von Elektronen nicht gewünschter Geschwindigkeit vorgesehen sind.
DEP13561D 1948-10-02 1948-10-02 Verfahren zum Aussondern von Elektronen bestimmter Phase aus einem Elektronenstrahl Expired DE821680C (de)

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