DE886178C - Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern - Google Patents

Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern

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DE886178C
DE886178C DEST2514A DEST002514A DE886178C DE 886178 C DE886178 C DE 886178C DE ST2514 A DEST2514 A DE ST2514A DE ST002514 A DEST002514 A DE ST002514A DE 886178 C DE886178 C DE 886178C
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DE
Germany
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insulating
layer
selenium
semiconductor
rectifier
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DEST2514A
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Edward Arthur Richards
Arthur Mackenzie Searle
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International Standard Electric Corp
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International Standard Electric Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D48/00Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
    • H10D48/01Manufacture or treatment
    • H10D48/04Manufacture or treatment of devices having bodies comprising selenium or tellurium in uncombined form

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Description

  • Verfahren zur Herstellung von Trockengleichrichtern Es ist bekannt, Trockengleichrichter in der Weise aufzubauen, daß auf eine Grundelektrode, die aus einem geeigneten Material, wie Stahl, Eisen, Nickel, Aluminium oder vernickeltem Eisen, mit Eisenüberzug versehenem Aluminium od. dgl., besteht, eine Gleichrichterschicht aufgebracht und auf die Gleichrichterschicht eine geeignete Metallegierung als Gegenelektrode aufgespritzt wird.
  • Als Halbleitermaterial wird sehr oft Selen verwendet, welches nach dem Aufbringen durch eine oder mehrere Wärmebehandlungen in eine für die Gleichrichter Wirkung notwendige Modifikation übergeführt wird. Auf die Selenschicht wird dann meistens eine niedrig schmelzende Metallegierung als Gegenelektrode aufgespritzt. Nach dem Aufspritzen der Gegenelektrode erfolgt die elektrische Formierung, durch welche die physikalischen Bedingungen für die Gleichrichterwirkung endgültig geschaffen werden.
  • Es ist bekannt und bedeutet eine wesentliche Vereinfachung des Herstellungsverfahrens für die Gleichrichter, wenn zunächst die erforderlichen Schichten auf einer Scheibe oder einem Blech größerer Abmessungen aufgetragen werden, dann das Ganze formiert wird und dann @Gleichrich.terscheiben von der gewünschten Größe aus diesem System ausgestanzt oder ausgeschnitten werden.
  • Dieses Verfahren hat aber den Nachteil, daß infolge der geringen Stärke der Halbleiterschicht sehr leicht Kurzschlüsse entstehen, so daß z. B. an den Außenrändern der Gleichrichterscheiben das Deckelektrodenmaterial entfernt werden muß. Das kann z. B. durch Abschaben geschehen.
  • Bei bestimmten Ausführungsformen befindet sich vorzugsweise in der Mitte der einzelnen Gleichrichterscheibe ein Loch, welches dazu dient, eine Anzahl von Gleichrichterscheiben auf einen zentralen Bolzen zu stapeln. Auch an dieser Stelle ist es selbstverständlich notwendig, jede unmittelbäre Verbindung zwischen der Deckelektrode und der Grundelektrode zu vermeiden.
  • Gemäß der Erfindung besteht ein verbessertes Herstellungsverfahren für Gleichrichterscheiben, insbesondere von solchen mit Selen als Halbleiter, durch Ausstanzen aus einer größeren Scheibe oder einem größeren Blech, welche bzw. welches aus einem als Grundelektrode brauchbaren Material besteht und auf einer Seite mit einer Halbleiterschicht bedeckt ist, daß der die einzelnen Elemente abtrennende Schnitt oder die Schnitte od. dgl., handle es sich um den äußeren Rand des einzelnen Elements oder um den Rand eines in der Mitte der Scheibe befindlichen Loches oder einer Nut, in einem Bereich vor sich geht, in welchem unmittelbar auf dem Halbleiter eine Schicht aus einem Isolierstoff liegt oder unmittelbar vor dem Schnitt gelegen hat und entfernt wurde.
  • Vorteilhaft wird dieses in der Weise ausgeführt, daß auf die mit Deckelektrodenmaterial zu bedeckende Halbleiterschicht eine Isolierstoffauflage aufgebracht, z. B. aufgespritzt oder eine Schablone aufgesetzt, vorzugsweise aufgeklebt wird, welche die 'mit Deckelektrodenmaterial zu bedeckenden Teile der Halbleiterschicht frei läßt, während die vor dem unmittelbaren Kotakt mit Deckelektrodenmaterial zu schützenden Teile der Halbleiterschicht von der Maske oder von der Isolierauflage bedeckt sind. Sofern es sich dabei um Löcher handelt, welche etwa in der Mitte der auszustanzenden Gleichrichterscheiben liegen, so daß die hier zu schützenden Flächenteile ohne Verbindung mit den zu schützenden Randteilen der Gleichrichterscheiben stehen, ist es notwendig, in diese Löcher Schablonen einzusetzen, die etwa Pilzform haben. Immerhin können auch hier Isolierstoffe angebracht oder niedergeschlagen werden, welche die betreffenden Flächenteile vor der Bedeckung mit Deckelektrodenmetall schützen.
  • Die Schablone oder Maske kann z. B. aus Papier bestehen das mindestens auf einer Seite klebfähig ist und welches Öffnungen enthält, die etwas kleiner sind als die Größe der auszuschneidenden oder auszustanzenden Gleichrichterscheiben.
  • Das Herstellungsverfahren ist also durch folgende Verfahrensschritte gekennzeichnet. Auf die Halbleiterschicht, und zwar, nachdem diese durch eine oder mehrere Wärmebehandlungen in die für die Gleichrichtung vorauszusetzende Modifikation übergeführt worden ist, wird die gelochte Schablone aufgeklebt, und zwar in einer solchen Weise; daß die zum Ausschneiden vorgesehenen Schnittkanten im Papier verlaufen, so daß ein schmaler Papierstreifen die Ränder der auszuschneidenden Elemente bedeckt. Oder aber statt des Papiers wird dorthin, wo die Schnittkanten der auszuschneidenden Gleichrichter liegen, ein Isolationsüberzug, z. B. aus Lack, aufgebracht, der die unmittelbare Berührung der Halbleiterschicht mit dem Deckelektrodenmetall verhindert. Auf die mit einer Maske oder Schablone bedeckte oder beklebte oder an ' ,den Schnittkanten durch eine Isolierauflage geschützte Halbleiterschicht wird dann das Deckelektrodenmetall aufgespritzt, so daß die freie Oberfläche des Halbleiters und die Schablone oder Isolierstofflage vom Deckelektrodenmetall bedeckt ist.
  • Vorteilhaft erfolgt nunmehr die elektrische Formierung des ganzen Bleches. Da die Maske oder Schablone oder schützende Isolierstoffauflage aus nichtleitendem Material besteht, erfolgt der Stromdurchgang nur auf den später aktiven Teilen der Halbleiteroberfläche, wodurch eine erhebliche Leistungsersparnis erzielt wird. Nunmehr erfolgt das Ausstanzen bzw. Ausschneiden der einzelnen Gleichrichterscheiben, deren Randteile mit Papier oder sonstigem Masken- oder Schablonenmaterial oder mit schützenden Isolierauflagen bedeckt sind. Danach können zweckmäßig aus Papier oder ähnlichem bestehende Ränder mit dem darauf befindlichen Deckelektrodemnetall entfernt werden, so daß ein von Deckelektrodenmaterial freier Randstreifen entsteht, . welcher die Gefahr von Kurzschlüssen beseitigt. Handelt es sich um Isolierauflagen aus aufgespritztem Lack, so brauchen diese nicht entfernt werden. Doch empfiehlt es sich, einen Randstreifen von Deckelektrodenmetall entweder durch Ziehen einer Rille von dem aktiven, also den Halbleiter berührenden Teil der Deckelektrode zu trennen oder ihn ganz zu entfernen.
  • Für den Fall, daß zentrale Öffnungen in den einzelnen Gleichrichterelementen vorliegen, deren Rand vor Halbleitermaterial geschützt werden soll, ist das eben beschriebene Verfahren so auszuführen, daß in diese Löcher Maskenelemente eingesetzt werden, welche einen ringförmigen Streifen um die Löcher herum von der Bedeckung mit Deckelektrodenmetall schützen. Zweckmäßig werden hierzu pilzförmige Masken in die Löcher eingesetzt, die vor dem Ausstanzen der einzelnen Scheiben wieder entfernt werden. Falls nicht auch die Außenränder der Scheiben vor dem Niederschlag von Deckelektrodenmetall geschützt sind, ist es wichtig, durch Ziehen einer Rille im Deckelektrodenmetall bis in die Halbleiterschicht hinein oder durch Entfernen des Deckelektrodenmetalls, z. B. mit Sandstrahlen längs des Randes, beim Schneiden oder Stanzen entstandene Kurzschlüsse unschädlich zu machen. Vorteilhafter ist es aber, auf den Randteilen durch Verwendung einer Maske den Niederschlag des Deckelektrodenmetalls zu verhindern, d. h. es durch die Maske abzufangen.
  • Obwohl es möglich ist, die etwa auf dem Selen befindliche Schablone oder Maske aus Papier oder ähnlichem als Ganzes abzuheben und die Schnitte dann durch die offenliegenden Selenoberflächenteile zu führen, ohne daß dadurch die Gefahr von Kurzschlüssen heraufbeschworen wird, ist es doch vorteilhaft, zunächst die Formierung der ganzen Platte durchzuführen, da ja durch die zusammenhängende Deckelektrodenschicht alle auszustanzenden Gleichrichterelemente parallel geschaltet sind. Dies ist sehr einfach, zumal ja auch der Formierungsstrom auf die späterhin aktiven Halbleiterflächenteile beschränkt bleibt, also keine Leistung bei der Formierung vergeudet wird. Nach der Formierung kann dann die auf der Halbleiterschicht befindliche ilIaske als Ganzes abgehoben und dann die Aufteilung in einzelne Elemente durchgeführt werden, wobei kein Schnitt an einer Stelle erfolgen darf, wo Deckelektrodenmaterial vorliegt, oder aber es wird erst die Aufteilung in einzelne Scheiben vorgenommen und dann die Randteile vom Maskenmaterial einschließlich dem darauf befindlichen Deckelektrodenmaterial befreit.
  • In jedem Fall, wo mit zentralen Öffnungen oder Bohrungen versehene Gleichrichterscheiben auf einen Bolzen gestapelt werden und zugleich der Kontaktdruck von Scheibe zu Scheibe nur über eine begrenzte Fläche von Ringform um den Bolzen herum übertragen wird (sogenannte Zentralkontaktgleichrichter), ist es zweckmäßig, das beschriebene Verfahren noch etwas abzuwandeln. Damit nämlich durch den Kontaktdruck nicht die Gefahr von Kurzschlüssen zwischen Deckelektrode und Grundelektrode trotz eines von Deckelektrodenmaterial freien Randstreifens um die zentrale Bohrung herum heraufbeschworen wird, ist es zweckmäßig, in dem Bereich, wo der Kontaktdruck übertragen wird, zwischen die Halbleiterschicht und dem Deckelektrodenmaterial eine Isolierschicht einzuschalten. Indem diese Maßnahme auf das gekennzeichnete Herstellungsverfahren abgestimmt wird, wird also zunächst auf die Halbleiterschicht eine Schablone oder Maske aufgesetzt mit Öffnungen, die etwas größer sind als die in den einzelnen auszustanzenden Scheiben befindlichen zentralen Bohrungen. Die freie Oberfläche der Halbleiterschicht wird dann mit einer Schicht aus Lack, aus Emaillelack oder einem sonstigen isolierenden Material bedeckt. Diese Bedeckung kann selbstverständlich auch erfolgen, bevor die zentralen Bohrungen in den einzelnen Elementen angebracht sind.
  • Nach dem Aufbringen dieser isolierenden Flecken aus isolierendem Lack od. dgl. wird das Blech oder die Scheibe einer Temperaturbehandlung unterworfen, durch welche das Selen in die ß-Modifikation übergeführt und gleichzeitig der aufgebrachte Lack oder Isolierstoff bis zu einem gewünschten Grad getrocknet oder gehärtet wird. An diese Behandlung schließen sich dann die vorher beschriebenen Maßnahmen an, d. h. die vom Deckelektrodenmaterial zu schützenden Flächenteile werden von Schablonen oder Masken oder Isolierauflagen bedeckt. Dabei ist es erforderlich, die aufgebrachten Isolierflecken aus Lack, Emaille od. dgl. zum Teil mit Deckelektrodenmaterial zu überziehen und nur den inneren Randstreifen zwecks Vermeidung von Kurzschlüssen vor der Bedeckung mit Metall zu schützen. Die nunmehr einzusetzenden Masken sind also zweckmäßig etwas kleiner zu wählen als die Löcher in der Schablone, die für die Auftragung des Lackes oder sonstigen geeigneten Isolierstoffes benutzt wurden. Wiederum erfolgt zweckmäßig vor dem Zerschneiden in einzelne Elemente und dem Entfernen der Randstreifen aus Maskenmaterial die Formierung der ganzen Scheibe.
  • Der Erfindungsgedanke soll an Hand der Zeichnung näher erläutert werden.
  • Fig. i zeigt eine Draufsicht auf-einen Teil einer mit Selen bedeckten größeren Scheibe oder eines BI.eChes, aus welchem kleinere Elemente angefertigt werden sollen; ein Teil der Halbleiterschicht ist entfernt; Fig. 2 zeigt einen Querschnitt durch den Schichtenaufbau; Fig. 3 zeigt die Platte mit den zentralen Öffnungen für die einzelnen Scheiben und mit Führungsnuten für eine sichere Position des Bleches bei den verschiedenen Verfahrensschritten; Fig. q. zeigt die gleiche Platte mit Ringen aus isolierendem Lack od. dgl. um die Öffnung herum; Fig. 5 und 6 zeigen in Draufsicht ein einzelnes Element, bei welchem als Isolierstreifen solche aus Lack vorgesehen sind; Fig. 7 gibt die Darstellung einer Maske aus Papier od. dgl.; Fig. 8 zeigt ein Maskierungselement für die Maskierung der zentralen Öffnungen in Pilzform; Fig. 9 zeigt die große Scheibe oder Platte mit der Papiermaske bedeckt und mit eingesetzten pilzförmigen Elementen; Fig. io zeigt dann die Platte vordem Ausstanzen der einzelnen Elemente, nachdem sie mit Gegenelektrodenmetall bedeckt ist; Fig. i i zeigt einen Querschnitt durch die Anordnung nach Fig. io, während Fig. 12 eine ausgestanzte Gleichrichterscheibe und Fig. 13 den Papierring zeigt, der nach dem Ausstanzen von jedem Element entfernt wird.
  • In Fig. i ist mit A das Blech bezeichnet, das an der Stelle in Erscheinung tritt, wo die Halbleiterschicht B entfernt zu denken ist. Um das Selen in die a-Modifikation überzuführen, wird eine geeignete Wärmebehandlung angewendet. In Fig. 2 ist mit den gleichen Bezeichnungen ein Querschnitt durch die Anordnung gezeichnet. Gemäß Fig.3 wird die mit Halbleiter bedeckte Platte mit einer Anzahl Löcher C versehen, welche den zentralen Öffnungen der späteren Gleichrichterscheiben entsprechen. Am Rand der großen Platte sind Löcher oder Nuten D vorgesehen, welche zur Sicherung der Position der Platte bei den verschiedenen Arbeitsvorgängen dienen. Wenn die einzelnen Scheiben als Zentralkontaktgleichrichter ausgeführt werden, dann wird das Blech mit einer Maske versehen, deren Löcher etwas größer sind als die Löcher C selbst. Mit Hilfe dieser Maske werden die offenliegenden Teile der Halbleiterschicht mit einem isolierenden Lack oder Emaillelack od. dgl. versehen, so' daß um jede Öffnung C herum ein mit E bezeichneter Ring aus Isoliermaterial entsteht. Wenn die Gleichrichterelemente nicht als Zentralkontaktgleichrichter ausgeführt werden, wird dieser Lackring nicht benötigt, ohne daß jedoch die folgenden Arbeitsgänge deswegen abgeändert werden müssen. Durch eine weitereWärmebehandlung wird das Selen in die ß-Modifikation übergeführt, womit zugleich ein Backprozeß für den Lack verbunden ist, um die erforderliche Härte zu erzielen.
  • In der Fig. 5 ist der Umriß einer einzelnen runden Gleichrichterscheibe innerhalb der großen Scheibe in Draufsicht dargestellt. Fig. 6 zeigt die ausgeschnittene fertig` Scheibe im Querschnitt. Die Grundplatte A hat hier einen Selenüberzug B erhalten. Im Randbereich der äußeren Umgrenzung sowie der zentralen Durchbohrung sind Isolierschichten F und F' aus Lack angebracht. Die freie Selenfläche sowie die Isolierschicht ist dann mit der Deckelektrodenschicht K bedeckt. Die äußere Begrenzung des Elements in der großen Scheibe sowie die zentrale Bohrung sind als strichpunktierte Kreise in Fig. 5 eingetragen. Der innere bzw. äußere Begrenzungskreis der beiden Lackschichten ist gestrichelt gezeichnet. Der innere Begrenzungskreis der Deckelektrodenschicht ist ausgezogen. Dieser Kreis ist etwas größer als die zentrale Bohrung.
  • Es ist nun ohne weiteres ersichtlich, daß der Isolierabstand am Rand der Gleichrichterscheibe zwischen den Schichten A und K nur gering ist. Wenn man sicher gehen will, wird man eine Rille R (vgl. Fig. 6) längs des Randes ziehen, durch welche ein Randstreifen St der Deckelektrode von dem aktiven Teil der Deckelektrode abgetrennt wird: Diese Rille reicht bis in die Isolierschicht oder gar bis in die Halbleiterschicht. Man kann natürlich auch z. B. durch Sandstrahlen den ganzen Randstreifen St des Deckelektrodenmaterials entfernen. Um diese letztere Prozedur zu vermeiden, kann man auch das Deckelektrodenmetall durch 'Schablonen hindurch aufbringen, so daß die Deckelektrodenschicht einen etwas kleineren Durchmesser besitzt als die Scheibe selbst.
  • In Fig.7 ist weiterhin eine Schablone oder Maske F dargestellt, die statt der Lackschicht verwendet werden kann und die vor .dem Aufbringen des Gegenelektrodenmetalls auf die Halbleiterschicht gebracht, vorzugsweise aufgeklebt wird. Diese Maske F besitzt Löcher G, deren Durchmesser der aktiven Fläche des fertigen Gleichrichters entspricht, d. h. die Löcher B sind etwas kleiner als die Außenabmessungen des herzustellenden Gleichrichterelements. Die Maske F besitzt gleichfalls Nuten H, die mit den Nuten D im Blech zur Übereinstimmung zu bringen sind, um die richtige Position der Schablone F zu sichern. Vorteilhaft werden diese Masken aus klebefähigem Papier hergestellt, das direkt auf die Platte aufgeklebt werden kann.
  • Falls zentrale Öffnungen in jedem der herzustellenden Gleichrichterelemente zu berücksichtigen sind, werden pilzförmige Masken T, wie in Fig. 8 dargestellt, in jede Bohrung C eingesetzt. Ebenso können natürlich Papierscheiben über die 0ifnungen geklebt werden. Sodann wird die ganze Oberfläche, also die freien Oberflächenteile der Halbleiterschicht und die Maske mit einer Metalllegierung bespritzt, welche die Gegenelektrode für die Gleichrichterscheibe darstellt. Vor dem Aufspritzen der Gegenelektrode. sieht also die Platte so aus, wie in Fig.9 dargestellt, während die fertig bespritzte Platte nach der Entfernung der pilzförmigen Maskenelemente in Fig. io und ii dargestellt ist. Die gestrichelte Linie L bezeichnet, die Schnittkanten, längs welcher .die einzelnen Elemente herausgetrennt werden, während die gestrichelte Linie E den nicht sichtbaren Rand der isolierenden Ringe darstellt. Weil die Schnittkanten L für den Stanzschnitt der Elemente mit Maskenmaterial bedeckt sind, wird ein Kurzschluß zwischen Gegenelektrode und der metallischen Grundplatte verhindert, wenn die in Fig. 13 mit M bezeichneten, mit Gegenelektrodenmetall bedeckten Papierringe entfernt sind. Die Gegenelektrode ist mit K bezeichnet. Der offenliegende Randstreifen der Halbleiterschicht ist in Fig. 12 mit N bezeichnet.
  • Vor dem Ausstanzen der einzelnen Elemente wird die ganze Platte elektrisch formiert, um den Sperrwiderstand zu vergrößern. Die einzelnen noch auszustanzenden Elemente sind durch die Gegenelektrode parallel geschaltet, welche die ganze Fläche bedeckt. Die Platte wird dann in eine Stanz- oder Schneidvorrichtung eingesetzt und mit Hilfe der Nuten D in die richtige Position gebracht. Das Schneidwerkzeug der Vorrichtung schneidet längs der gestrichelten Linien L in Fig. io die einzelnen Gleichrichterelemente aus.
  • Es ist selbstverständlich, daß der Gleichrichter auch andere als Kreisform haben kann, z. B. quadratische oder rechteckige Form, ohne daß dadurch an den beschriebenen Verfahren etwas geändert wind. Auch ist die Anwendung des Verfahrens nicht auf Zentralkontaktgleichrichter beschränkt.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Herstellung von Gleichrichterscheiben, insbesondere von solchen mit Selen als Halbleiter, durch Ausstanzen oder Ausschneiden aus einer größeren Scheibe oder einem größeren Blech, welche bzw. welches aus einem als Grundelektrode brauchbaren Material besteht und auf einer Seite mit der Halbleiterschicht bedeckt ist, dadurch gekennzeichnet, daß der die einzelnen Elemente abtrennende Schnitt oder die 'Schnitte od. dgl., handle es sich um den äußeren Rand des einzelnen Elements oder um den Rand eines in der Mitte der Scheibe befindlichen Loches oder einer Nut, in einem Bereich vor sich geht, in welchem unmittelbar auf dem Halbleiter eine Schicht aus einem Isolierstoff liegt oder unmittelbar vor dem Schnitt gelegen hat und entfernt wurde.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Schicht aus Isolierstoff in Streifenform vorzugsweise von geringer Breite zu beiden Seiten der durchzuführenden Schnitte verläuft.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch i und a, dadurch gekennzeichnet, daß als Isolierstoff ein Lack, Kunststoff, Papier od. dgl. verwendet wird.
  4. 4.. Verfahren nach Anspruch i bis 3 zur Herstellung von mit zentralen Öffnungen oder Bohrungen versehenen Gleichrichterscheiben, dadurch gekennzeichnet, daß zum Schutz eines Randstreifens längs der zentralen Öffnungen oder Bohrungen oder von Nuten gegen den Niederschlag von Deckelektrodenmaterial Maskenelemente, vorzugsweise solche von Pilzform, in die Bohrung eingesetzt werden.
  5. 5. Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Aufbringen der Streifen aus Isolierstoff das Deckelektrodenmetall über die ganze Fläche, also freie Halbleiterfläche und Isolierfläche, gespritzt wird und daß dann, vorzugsweise nach einer etwa notwendig werdenden elektrischen Formierung, die einzelnen Gleichrichterelemente durch Schnitte abgetrennt werden, welche im Bereich der Isolierstoffstreifen verlaufen.
  6. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer im Schnittkantenbereich vorliegenden, den Halbleiter bedeckenden Isolierschicht aus Lack nach dem Ausschneiden der einzelnen Elemente auf einem Randstreifen das Deckelektrodenmetall z. B. durch Sandblasen entfernt oder daß durch Ziehen einer bis in -die Isolierschicht bzw. Halbleiterschicht reichenden Rille ein Randstreifen von Deckelektrodenmaterial von dem aktiven Teil der Deckelektrode, welche den Halbleiter unmittelbar bedeckt, elektrisch isoliert ist.
  7. 7. Verfahren nach Anspruch i bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Aufbringen der Selenschicht isolierende Streifen auf die Selenschicht, etwa als Papier oder ähnliche. Streifen, vorzugsweise durch Kleben auf die Halbleiterschicht, aufgebracht werden und daß gegebenenfalls unter gleichzeitigem Einsetzen von pilzförmigen Maskenelementen nach dem Bespritzen der freien Selenoberfläche und der isolierenden Streifen mit Deckelektrodenmaterial, gegebenenfalls erst nach einer elektrischen Formierung, die Aufteilung in einzelne Gleichrichterscheiben durch Schnitte erfolgt, welche im Bereich der isolierenden Streifen verlaufen. B. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß vor oder nach dem Ausstanzen der mit Deckelektrodenmetall bedeckte Isolierstreifen entfernt wird. g. Verfahren zur Herstellung von Selengleichrichtern nach Anspruch i bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß vor dem Aufbringen der Maske oder der Isolierauflagen das Selen einer Wärmebehandlung unterworfen wird, durch welche es in die leitende Modifikation übergeführt wird. io. Verfahren zur Herstellung von Zentralkontaktgleichrichtern mit Selen als Halbleiter nach Anspruch i bis g, dadurch gekennzeichnet, daß vor oder nach der Herstellung der zentralen Öffnungen die ringförmige Isolierschicht um diese Öffnungen herum aufgebracht wird, daß dann durch eine Wärmebehandlung die Isolierschicht getrocknet bzw. gehärtet und das 'Selen in die gleichrichtende Modifikation übergeführt wird, daß dann die Ränder der zentralen Bohrungen durch einzusetzende Masken, deren Durchmesser etwas kleiner als die ringförmige Isolierschicht ist, vor dem Niederschlag des Deckelektrodenmaterials geschützt werden, daß die Außenränder der Halbleiterschicht der auszustanzenden Gleichrichterscheiben durch Isolierauflagen, z. B. aus Lack oder durch Schablonen oder Masken aus Papier od. dgl., die vorzugsweise aufgeklebt werden und die mit Öffnungen versehen sind, die etwas kleiner sind als die Größe der auszustanzenden Gleichrichterelemente, so daß die vorgesehenen Schnittkanten im Maskenmaterial verlaufen, vor der Berührung mit Deckelektrodenmaterial geschützt werden, daß dann die freien Teile der Halbleiterschicht zusammen mit den Isolierauflagen bzw.. Masken von Deckelektrodenmetall überzogen werden, daß dann nach Entfernen der in die zentralen Bohrungen eingesetzten Masken die elektrische Formierung der ganzen Scheibe erfolgt, daß dann 'die Scheiben herausgeschnitten oder herausggestanzt werden und daß gegebenenfalls zuletzt die mit Deckelektrodenmetall bedeckten Randstreifen des Maskenmaterials entfernt werden.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1201920B (de) * 1962-09-10 1965-09-30 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung von Halbleiter-, insbesondere Selengleichrichterelementen in Tablettenform durch Zerteilen einer groesseren Ausgangsplatte
DE1223955B (de) * 1964-08-05 1966-09-01 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung von hochsperrenden Selengleichrichtertabletten mit kleinemDurchmesser

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