DK1432961T4 - Fremgangsmåde og arrangement i et målesystem - Google Patents

Fremgangsmåde og arrangement i et målesystem Download PDF

Info

Publication number
DK1432961T4
DK1432961T4 DK02803136.7T DK02803136T DK1432961T4 DK 1432961 T4 DK1432961 T4 DK 1432961T4 DK 02803136 T DK02803136 T DK 02803136T DK 1432961 T4 DK1432961 T4 DK 1432961T4
Authority
DK
Denmark
Prior art keywords
light
designed
digital representation
information
image
Prior art date
Application number
DK02803136.7T
Other languages
English (en)
Other versions
DK1432961T3 (da
Inventor
Anders Aaström
Erik Aastrand
Original Assignee
Sick Ivp Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=20285521&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DK1432961(T4) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Sick Ivp Ab filed Critical Sick Ivp Ab
Publication of DK1432961T3 publication Critical patent/DK1432961T3/da
Application granted granted Critical
Publication of DK1432961T4 publication Critical patent/DK1432961T4/da

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/46—Wood
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
    • G01N21/8986—Wood

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Paper (AREA)

Claims (10)

1. Fremgangsmåde til afbildning af karakteristikaene for en genstand (3) ved hjælp af et målesystem, hvor målesystemet og/eller genstanden (3) bevæges i forhold til hinanden i en forudbestemt bevægelsesretning, idet genstanden fortrinsvis bevæges i forhold til målesystemet, ved hvilken fremgangsmåde genstanden (3) belyses ved hjælp af indfaldende lys, som har en begrænset udstrækning i bevægelsesretningen, og lys, der reflekteres fra genstanden (3), de-tekteres ved hjælp af en afbildningssensor (1), der er anbragt på samme side af genstanden (3) som det indfaldende lys, idet den billedbehandlende sensor (1) omdanner det detekterede lys til elektriske ladninger, ifølge hvilke der frembringes en digital repræsentation (5) af genstanden (3), kendetegnet ved, at lyset bringes til at ramme genstanden (3) i en forudbestemt afstand fra afbildningssensoren (1) set i genstandens bevægelsesretning, og at informationer om genstandens geometriske profil og informationer om lysspredningen i et forudbestemt område omkring profilen udlæses samtidigt fra den digitale repræsentation (5), idet den digitale repræsentation (5) inddeles i rækker og kolonner, og et komprimeret billede (7) frembringes ud fra den digitale repræsentation (5) ved reduktion af antallet af rækker ved summation af rækkerne af den digitale repræsentation i kolonner i en forudbestemt rækkefølge.
2. Fremgangsmåde ifølge krav 1,kendetegnet ved, at summationen udføres af analoge organer.
3. Fremgangsmåde ifølge krav 1,kendetegnet ved, at summationen udføres af digitale organer.
4. Fremgangsmåde ifølge krav 1,kendetegnet ved, at ved summationen ifølge kolonner gemmes der for hver kolonne informationer om rækken, i hvilken den elektriske ladning overstiger en forudbestemt tærskelværdi, hvilket indikerer, at reflekteret lys detekteres netop i den række.
5. Fremgangsmåde ifølge krav 1,kendetegnet ved, at ud over informationer om genstandens geometriske profil og lysspredningen udlæses der også informationer om intensitetsfordelingen fra den digitale repræsentation.
6. Arrangement til repræsentation af karakteristikaene af en genstand (3) ved hjælp af et målesystem, hvor enten målesystemet eller genstanden (3) er udformet til at bevæge sig i forhold til hinanden i en forudbestemt bevægelsesretning, idet genstanden (3) fortrinsvis er udformet til at bevæge sig i forhold til målesystemet, hvilket arrangement omfatter mindst en lyskilde (2), der er udformet til at belyse genstanden (3) med et lys, der falder ind på genstanden (3) og har en begrænset udstrækning i bevægelsesretningen, idet arrangementet endvidere omfatter en afbildningssensor (1), der er anbragt på samme side af genstanden (3) som lyskilden (2) og er udformet til at opfange lys, der reflekteres fra genstanden (3), og at omdanne dette til elektriske ladninger, idet en billedbehand-lende enhed er udformet til at frembringe en digital repræsentation af genstanden (3) ud fra de elektriske ladninger, kendetegnet ved, at lyskilden (2) er anbragt i en forudbestemt afstand fra afbildningssensoren (1) set i bevægelsesretningen, og at den billedbehandlende enhed er udformet til samtidigt at udlæse informationer om genstandens geometriske profil og informationer om lysspredningen i et forudbestemt område omkring profilen, idet den digitale repræsentation (5) inddeles i rækker og kolonner, og den billedbehandlende enhed er udformet til at frembringe et komprimeret billede (7) ud fra den digitale repræsentation (5) ved reduktion af antallet af rækker, idet den billedbehandlende enhed er udformet til at reducere antallet af rækker ved summation af rækkerne af den digitale repræsentation (5) i kolonner i en forudbestemt rækkefølge.
7. Arrangement ifølge krav 6, kendetegnet ved, at den billedbehandlende enhed ved summation ifølge kolonner er udformet til for hver kolonne at gemme informationer om rækken, i hvilken den elektriske ladning overstiger en forudbestemt tærskelværdi, hvilket indikerer, at reflekteret lys detekteres i den række.
8. Arrangement ifølge krav 6, kendetegnet ved, at det indfaldende lys er lineært.
9. Arrangement ifølge krav 6, kendetegnet ved, at det indfaldende lys består af et antal punkter eller lineære segmenter.
10. Arrangement ifølge krav 6, kendetegnet ved, at ud over informationer om den geometriske profil af genstanden (3) og lysspredningen er den billedbe-handlende enhed også udformet til at udlæse informationer om intensitetsfordelingen fra den digitale repræsentation (5).
DK02803136.7T 2001-10-02 2002-10-01 Fremgangsmåde og arrangement i et målesystem DK1432961T4 (da)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0103279A SE0103279L (sv) 2001-10-02 2001-10-02 Förfarande för mätning av ljusspridning och geometrisk profil
PCT/SE2002/001791 WO2003042631A1 (en) 2001-10-02 2002-10-01 Method and arrangement in a measuring system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DK1432961T3 DK1432961T3 (da) 2007-03-05
DK1432961T4 true DK1432961T4 (da) 2016-05-30

Family

ID=20285521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DK02803136.7T DK1432961T4 (da) 2001-10-02 2002-10-01 Fremgangsmåde og arrangement i et målesystem

Country Status (11)

Country Link
US (1) US8923599B2 (da)
EP (1) EP1432961B2 (da)
JP (1) JP2005524828A (da)
CN (1) CN100397036C (da)
AT (1) ATE347683T1 (da)
CA (1) CA2456163C (da)
DE (1) DE60216623T3 (da)
DK (1) DK1432961T4 (da)
ES (1) ES2274125T5 (da)
SE (1) SE0103279L (da)
WO (1) WO2003042631A1 (da)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE526617C2 (sv) * 2003-10-01 2005-10-18 Sick Ivp Ab System och metod för att avbilda ett objekts egenskaper
US8111904B2 (en) 2005-10-07 2012-02-07 Cognex Technology And Investment Corp. Methods and apparatus for practical 3D vision system
US8131008B2 (en) * 2007-01-31 2012-03-06 Building Component Verification Systems, Inc. Methods, apparatuses, and systems for image-based measurement and inspection of pre-engineered structural components
ES2648217T3 (es) 2007-04-26 2017-12-29 Sick Ivp Ab Método y aparato para determinar la cantidad de luz dispersada en un sistema de visión artificial
US8126260B2 (en) * 2007-05-29 2012-02-28 Cognex Corporation System and method for locating a three-dimensional object using machine vision
US9734419B1 (en) 2008-12-30 2017-08-15 Cognex Corporation System and method for validating camera calibration in a vision system
US9533418B2 (en) 2009-05-29 2017-01-03 Cognex Corporation Methods and apparatus for practical 3D vision system
US9393694B2 (en) 2010-05-14 2016-07-19 Cognex Corporation System and method for robust calibration between a machine vision system and a robot
US8670029B2 (en) * 2010-06-16 2014-03-11 Microsoft Corporation Depth camera illuminator with superluminescent light-emitting diode
US9124873B2 (en) 2010-12-08 2015-09-01 Cognex Corporation System and method for finding correspondence between cameras in a three-dimensional vision system
EE05696B1 (et) 2011-01-20 2013-12-16 Visiometric Oü Liinilaseril p?hinevate skannerite töö parandamise tehniline lahendus ja meetod selle teostamiseks
EP2985992A1 (en) 2014-08-13 2016-02-17 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Apparatus and method for providing an image
DE102016106994A1 (de) 2016-04-15 2017-10-19 ATB Blank GmbH Laserscanvorrichtung zur optischen Qualitätsbeurteilung und Vermessung von Objekten im Quertransport
US10274311B2 (en) 2016-10-19 2019-04-30 Columbia Insurance Company Three dimensional laser measurement device for quality control measurements
US10445893B2 (en) * 2017-03-10 2019-10-15 Microsoft Technology Licensing, Llc Dot-based time of flight
CN110220479A (zh) * 2019-07-16 2019-09-10 深圳数马电子技术有限公司 非接触式钥匙齿形学习的方法及系统
DE102021116495A1 (de) 2021-06-25 2022-12-29 Ford Global Technologies, Llc Verfahren und Vorrichtung zum Überprüfen einer Verbindung während eines Laser-basierten Verbindungsverfahrens

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5034431B1 (da) * 1969-03-01 1975-11-08
US4209852A (en) * 1974-11-11 1980-06-24 Hyatt Gilbert P Signal processing and memory arrangement
GB1488841A (en) * 1974-01-18 1977-10-12 Plessey Co Ltd Optical detection apparatus
US4188544A (en) * 1977-08-22 1980-02-12 Weyerhaeuser Company Method and apparatus for automatically processing a workpiece employing calibrated scanning
US4168489A (en) * 1978-02-13 1979-09-18 Lexitron Corp. Full page mode system for certain word processing devices
IT1204492B (it) * 1986-03-21 1989-03-01 Cremona Lorenzo Sistema per il rilevamento e l'eliminazione di difetti presenti in manufatti in lavorazione,in particolare pannelli di legno con cricche e ripieghi che devono essere stuccati
US4826299A (en) 1987-01-30 1989-05-02 Canadian Patents And Development Limited Linear deiverging lens
SE466420B (sv) 1989-11-14 1992-02-10 Svenska Traeforskningsinst Foerfarande och anordning foer detektering av bark samt bestaemning av barkningsgrad paa ved eller i flis
JP2523222B2 (ja) 1989-12-08 1996-08-07 ゼロックス コーポレーション 画像縮小／拡大方法及び装置
US5233191A (en) * 1990-04-02 1993-08-03 Hitachi, Ltd. Method and apparatus of inspecting foreign matters during mass production start-up and mass production line in semiconductor production process
US5327254A (en) * 1992-02-19 1994-07-05 Daher Mohammad A Method and apparatus for compressing and decompressing image data
JP3231383B2 (ja) 1992-03-18 2001-11-19 キヤノン株式会社 棒状超音波モーターおよびモーター保持固定装置
GB2274181B (en) * 1993-01-09 1997-04-02 Digital Equipment Int Summation unit
US5347311A (en) * 1993-05-28 1994-09-13 Intel Corporation Method and apparatus for unevenly encoding error images
SE9400849L (sv) † 1994-03-08 1995-04-03 Soliton Elektronik Ab Anordning och förfarande för detektering av defekter i virke
NZ270892A (en) * 1994-08-24 1997-01-29 Us Natural Resources Detecting lumber defects utilizing optical pattern recognition algorithm
US5831748A (en) * 1994-12-19 1998-11-03 Minolta Co., Ltd. Image processor
US5644392A (en) * 1995-09-12 1997-07-01 U.S. Natural Resources, Inc. Scanning system for lumber
JPH09190372A (ja) 1995-09-29 1997-07-22 Sony Corp 情報管理装置および方法
US6382515B1 (en) * 1995-12-18 2002-05-07 Metrologic Instruments, Inc. Automated system and method for identifying and measuring packages transported through a laser scanning tunnel
US20020014533A1 (en) * 1995-12-18 2002-02-07 Xiaxun Zhu Automated object dimensioning system employing contour tracing, vertice detection, and forner point detection and reduction methods on 2-d range data maps
US6064747A (en) * 1997-05-13 2000-05-16 Axxess Technologies, Inc. Method and apparatus for using light to identify a key
US6037579A (en) * 1997-11-13 2000-03-14 Biophotonics Information Laboratories, Ltd. Optical interferometer employing multiple detectors to detect spatially distorted wavefront in imaging of scattering media
US6094269A (en) * 1997-12-31 2000-07-25 Metroptic Technologies, Ltd. Apparatus and method for optically measuring an object surface contour
US6097849A (en) * 1998-08-10 2000-08-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Automated image enhancement for laser line scan data
US6934420B1 (en) * 1999-12-22 2005-08-23 Trident Systems Incorporated Wave image compression
CA2335784A1 (en) † 2000-02-14 2001-08-14 Marcel Lizotte Wood differentiating system
US7344082B2 (en) * 2002-01-02 2008-03-18 Metrologic Instruments, Inc. Automated method of and system for dimensioning objects over a conveyor belt structure by applying contouring tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods to two-dimensional range data maps of the space above the conveyor belt captured by an amplitude modulated laser scanning beam
US7508961B2 (en) * 2003-03-12 2009-03-24 Eastman Kodak Company Method and system for face detection in digital images
US7282180B2 (en) * 2003-07-02 2007-10-16 Immunivest Corporation Devices and methods to image objects
US7587064B2 (en) * 2004-02-03 2009-09-08 Hrl Laboratories, Llc Active learning system for object fingerprinting
ES2648217T3 (es) † 2007-04-26 2017-12-29 Sick Ivp Ab Método y aparato para determinar la cantidad de luz dispersada en un sistema de visión artificial

Also Published As

Publication number Publication date
DK1432961T3 (da) 2007-03-05
ATE347683T1 (de) 2006-12-15
WO2003042631A1 (en) 2003-05-22
SE0103279L (sv) 2003-04-03
SE0103279D0 (sv) 2001-10-02
EP1432961B2 (en) 2016-03-02
US20040234118A1 (en) 2004-11-25
DE60216623T2 (de) 2007-09-27
CA2456163C (en) 2009-08-04
ES2274125T3 (es) 2007-05-16
DE60216623D1 (de) 2007-01-18
EP1432961A1 (en) 2004-06-30
EP1432961B1 (en) 2006-12-06
US8923599B2 (en) 2014-12-30
CA2456163A1 (en) 2003-05-22
CN100397036C (zh) 2008-06-25
JP2005524828A (ja) 2005-08-18
ES2274125T5 (es) 2016-05-23
CN1555480A (zh) 2004-12-15
DE60216623T3 (de) 2016-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DK1432961T4 (da) Fremgangsmåde og arrangement i et målesystem
US4162126A (en) Surface detect test apparatus
US5986745A (en) Co-planar electromagnetic profile scanner
DK1985969T3 (da) Fremgangsmåde og apparat til at bestemme mængden af spredt lys i et maskinvisionssystem
JP2009139248A (ja) 欠陥検出光学系および欠陥検出画像処理を搭載した表面欠陥検査装置
US7375826B1 (en) High speed three-dimensional laser scanner with real time processing
KR920015131A (ko) 물체 단부의 결함 검사 방법 및 그 장치
CN108801164A (zh) 一种基于激光测试工件缝隙值的方法及系统
SE501650C2 (sv) Anordning och förfarande för detektering av defekter i virke
EP2066475B1 (en) Charger scanner system
EP0871008A2 (en) Device for measuring the dimensions of an object that is very extensive longitudinally and whose cross section has a curved contour
EP1194734B1 (en) Method and device for log measurement
US7257248B2 (en) Non-contact measurement system and method
CA2933490C (en) Charger scanner system
CN109724931B (zh) 一种实时校准的光谱传感系统及其光谱处理方法
JPH0854214A (ja) 隙間計測方法
Zhao et al. Preliminary study on measurement of coarse surface roughness by computer vision
JPH0875425A (ja) 三次元計測装置
JPS61275610A (ja) リニア・センサ測寸装置