DK149220B - Apparat til fremstilling af tyndslib - Google Patents

Description

- i - 149220

Opfindelsen angår et apparat til fremstilling af tyndslib som nærmere angivet i kravets indledning.

Ved et kendt apparat til fremstilling af tyndslib benytter man den cirkulære endeflade af en slibeskive med 5 diamantstøv, mod hvilken man fører prøveholderen anbragt på en svingarm i en svingbevægelse.

I prøveholderen er der anbragt et prøvelegeme fast-klæbet til en første glasplade. Den frie flade slibes plan og forsynes ved påklæbning med en planparallel glas-10 plade med nøje kendt tykkelse. Den første glasplade og en passende del af prøvelegemet skæres bort, og man har nu et prøvelegeme med en plan flade vendende mod det planparallelle glas med nøje kendt tykkelse af glaspladen. Man kan herefter slibe prøven ned til den ønskede tykkelse, idet 15 glassets tykkelse er kendt, og idet man måler fra glassets bagside, gennem glasset til slibefladen.

Gennem den foreliggende opfindelse anvises et apparat, som kan bruge planparallelle glasplader, hvis tykkelse ikke behøver at være kendt, og som derfor er langt billigere 20 end glasplader med nøje kendt tykkelse.

Apparatet ifølge opfindelsen er ejendommeligt ved den i kravets kendetegnende del angivne konstruktion.

Det vil ses, at armsystemet med denne udformning blot skal bevæge prøven frem og tilbage under tilspænding mod 25 slibevalsen, indtil glaspladen ligger an mod randringene.

Prøven har da den ønskede tykkelse, som man har indstillet ved hjælp af lejernes excentricitet.

Opfindelsen skal forklares nærmere i forbindelse med tegningen, hvor 30 fig. 1 viser et forstadium for et tyndslib, fig. 2 et tyndslib under slibningen i et kendt apparat, og fig. 3 udførelsesform for et apparat ifølge opfindelsen.

35 - 2 - 149220 I fig. 1 er der vist et forstadium til et tyndslib eller prøvelegeme 10. Til dette klæbes i et første stadium en første glasplade 1; den frie flade slibes plan, og der påklæbes her en planparallel glasplade 2 med nøje 5 kendt tykkelse.

Den første glasplade 1 og en passende del af prøvelegemet skæres bort ved et snit 9, og man har nu et prøvelegeme med en plan flade vendende mod det planparallelle glas 2, hvis tykkelse kendes nøjagtigt (højre halvdel i 10 fig. 1). Idet glassets tykkelse 2 er nøje kendt, og idet man måler fra glassets bagside gennem glasset til slibe-fladen, kan man ved benyttelse af et stop på det pågældende slibeapparat slibe prøven ned omtrent til"tyndsiibets ønskede tykkelse og udføre en kontrolmåling.

15 Dette kan foregå ved hjælp af et i fig. 2 skitseret kendt apparat, hvor prøvelegemet 10 med den planparallelle glasplade 2 er fastklæbet til en prøveholder 21, som ved hjælp af et svingarmsystem 31' i en svingbevægelse føres mod en slibeflade 11', nemlig en slibeskives endeflade, med 20 diamantstøv. Opnåelsen af den ønskede tykkelse af prøvelegemet 10 kontrolleres ved, at man måler den samlede tykkelse af prøvelegemet og glaspladen 2 og benytter sig af, at dennes tykkelse kendes nøjagtig.

Det i fig. 3 viste apparat ifølge opfindelsen har en 25 valse 11 med diamantstøv. Valsen 11 er monteret i excentrisk forskydelige lejer (ikke vist) i randringe 12 med større diameter end valsen 11. Ved drejning af den i og for sig kendte og derfor ikke nærmere viste excentriske mekanisme kan valsen 11 hæves fra en i fig. 3 vist laveste 30 stilling til en øverste stilling, hvor den flugter med randringene 12.

149220 - 3 -

Prøvelégemet 10 er ved hjælp af glaspladen 2 anbragt i en prøveholder 21. Denne styres i en frem- og tilbagegående retlinet bevægelse (ind og ud af papirets plan i fig. 3), anbragt i et armsystem 31/ som gradvis trykkes 5 mod valsen 11, til glaspladen 2 rører randringene 12.

Prøvelegemet eller tyndslibet 10 har nu fået den ønskede tykkelse, som er bestemt ved indstillingen af den excentriske mekanisme.