EP2243159A2 - Verfahren zum niedertemperatur-drucksintern - Google Patents

Verfahren zum niedertemperatur-drucksintern

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EP2243159A2
EP2243159A2 EP09709504A EP09709504A EP2243159A2 EP 2243159 A2 EP2243159 A2 EP 2243159A2 EP 09709504 A EP09709504 A EP 09709504A EP 09709504 A EP09709504 A EP 09709504A EP 2243159 A2 EP2243159 A2 EP 2243159A2
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EP
European Patent Office
Prior art keywords
heat sink
sink plate
substrate
pressure sintering
sintering
Prior art date
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Withdrawn
Application number
EP09709504A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Ronald Eisele
Mathias Kock
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Danfoss Silicon Power GmbH
Original Assignee
Danfoss Silicon Power GmbH
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Filing date
Publication date
Application filed by Danfoss Silicon Power GmbH filed Critical Danfoss Silicon Power GmbH
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Withdrawn legal-status Critical Current

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Definitions

  • the invention relates to a method for pressure sintering.
  • Electronic assemblies of power electronics with one or more semiconductor devices are typically fabricated by means of bonds, soldering or the silver pressure sintering technique of the unprotected semiconductor on a primary circuit substrate.
  • ceramic circuit carriers are preferably used
  • DCB substrates or direct copper bonded substrates
  • the substrates consist of a core of alumina or aluminum nitride with expansion coefficients of 7-8ppm / K and about 4 ppm / K.
  • the substrate may also be a purely ceramic solution in the form of thick-film hybrid supports of aluminum oxide or aluminum nitride with metallized or mounted conductor tracks.
  • a direct mounting of one or more semiconductors on a metal stamped grid can be carried out as a circuit carrier.
  • US 2004-026778 A1 shows the direct mounting of the semiconductor on sections of the stamped grid without an insulating substrate.
  • the semiconductors are electrically connected to one another and to the metallic conductor tracks of the substrate or to the stamped grid.
  • the assembled substrate or the lead frame is usually constructed with a bonding layer (gluing, pressure contact with thermal paste, soldering or pressure sintering) on a heat sink plate (eg utility model of the applicant 200 05 746 Ul).
  • a bonding layer glue, pressure contact with thermal paste, soldering or pressure sintering
  • a heat sink plate eg utility model of the applicant 200 05 746 Ul.
  • multiple substrate assemblies in series and parallel
  • the heat sink plate ensures optimum energy buffering with the heat capacity of the selected material (preferably copper).
  • the heat sink plate reduces the dynamic thermal resistance (Zth).
  • the thermal conductivity of the heat spreader plate is decisive and its dimension enlarged compared to the substrate. This leads to an advantageous thermal resistance (Rth).
  • thermosetting plastic To achieve high electrical insulation between the potential-carrying components (bonding wires, semiconductors and printed conductors) and achieve very high mechanical strength or robustness, there are products in which the assembly are coated with a thermosetting plastic.
  • This production technique consists of filling the module body in a full volume by means of transfer molding with a duroplastic hard glassy polymer material (for example Henkel Loctite Hysol). This is done with individual semiconductor components (for example in TO 220 package forms from ST-Microelectronics IRF-540) and with transistor groups, e.g. US 2005/0067719 Al.
  • Assemblies can be mounted on a common heat sink plate.
  • The- This cost-saving production and test step is not possible during assembly by means of silver pressure sintering, because the quasi-isostatic pressing of the assembly during the sintering process would destroy the bonding wires of the electrically wired assembly.
  • the pretested substrate assemblies be first of all formed into a robust, mechanically loadable assembly (mold module) by compression molding in the manner described.
  • Such a compression molded assembly may be uniaxial or quasi-isostatic
  • Presses are connected by pressure sintering with a heat sink plate by silver-sintering. In this structure, therefore, only well-tested substrate assemblies are processed.
  • This sintering process can be carried out with at least one module module, but can also be carried out simultaneously with several module modules on only one heat sink plate.
  • Disadvantage 2 Deformation of the coated assembly with integrated heat sink plate due to large expansion differences
  • the described process of compression molding has the disadvantage for the entire assembly that a renewed heating to about 170 ° C-200 ° C is made (thermal activation of the polymer cross-linking).
  • the already connected stack consisting of the materials heat sink plate, connecting layer, substrate, connecting layer and semiconductor, deforms according to their individual thermal expansion coefficients.
  • the layer adhesions and shear strengths of the bonding layers ensure a permanent superimposed overall deformation.
  • the preferred heat sink material is copper, and the high coefficient of thermal expansion of the copper (18 ppm / K) results in hollow deformation of the stack of material over a flat heat sink surface onto which the final assembly is assembled at the end user.
  • Heat sink plates fulfill their function among other things by heat spreading and material-dependent, also the increase of the total heat capacity.
  • the heat sink plate must occupy a larger area than the substrate plate connected thereto.
  • a thermoset wrapping must be made
  • the heat sink plate in a robust wall thickness include, so that the heat sink plate appears flush on one side of the enclosure.
  • the costs of the thermosetting molding compound are relatively high, so that the thermally required size of the heat sink plate is generally inadmissibly reduced.
  • the heat spreader plates are mounted by adhesive layer.
  • Heat sink plates are sometimes also externally mounted by means of thermal paste below substrate modules (molded or frame-based).
  • this form-fitting assembly is disadvantageous because of the low thermal conductivity of pastes (1-5 W / mK) and the long-term stability of the pastes and their function (pump out effect).
  • the process chain of production is changed so that the electronic assembly without the heat sink plate (and without sintering connection layer to the heat sink plate) is molded with the thermosetting coating mass.
  • the coefficient of expansion of the mold cladding mass now exclusively adapted to the thermally dominant ceramic substrate (4 to 6 ppm / K) and is now well below the thermal expansion coefficient of the heat sink plate, for example made of copper (18 ppm / K).
  • thermoset A deformation due to mismatch of the thermoset and the assembled substrate is no longer available.
  • the volume of the coated substrate is significantly lower and the material and energy consumption is correspondingly more economical and ecological (compare FIGS. 1a, 1b with FIGS. 2a, 2b).
  • a heat sink plate can be equipped in a sintering with a plurality of electrically sheathed individually wrapped assemblies.
  • 1a shows the integration of the heat sink plate according to the prior art in the formumhüllten body, with the disadvantage that the volume is large compared to the externally mounted heat sink plate and the heat sink plate has no more spreading function
  • FIG. 1b is that of FIG. 1a, but viewed from the side of the heat sink plate, FIG.
  • FIG. 2a shows an external cohesive mounting of the heat sink plate to the finished molded body, with the advantage that the duroplastic volume is small compared to the volume in FIG. 1 and the connecting layer is a thermally highly conductive sintered silver layer
  • FIG. 2b shows an external cohesive mounting of the areal enlarged heat sink plate to the finished molded body, with the advantages that the duroplastic volume is small compared to the volume in FIG. 1, the connecting layer is a thermally highly conductive sintered silver layer, the heat spread is further optimized (compared to FIG ) and a simple mounting option to a heat sink by eg screws (given,
  • FIG. 3 shows an external cohesive mounting of the area-enlarged ones
  • Heat sink plate to the completed formumhüllten body with the additional advantages that the heat spreader is segmented and the small absolute size and the absolute expansion differences can be kept smaller. Greater differences in elongation mean smaller shear stresses and thus also longer service life compared to alternating temperature loads.
  • FIG. 4 shows an external cohesive mounting of the surface-enlarged heat sink plate of a plurality of mold-enveloped bodies
  • FIG. 5 a the heat sink plate of Figure 4 supplemented by surface-expanding structures such as fins or - shown - pins for air cooling, and
  • the heat sink plate is now in another connection process, namely the silver sintered press technology, with dm completed formumhüllten body of the electronic assembly cohesively (and long-term stable) connected ( Figure 2a, 2b).
  • the bonding layer of the sintered silver typically has a thermal conductivity of approx. 250 WVmK and is thus far superior to any thermal compound and to every adhesive and solder, both thermally and mechanically.
  • the heat sink plate can be chosen in sufficient size, ie at least identical to the substrate size (primary function, high heat capacity) or identical to the molded body, or preferably also larger than the molded body (heat spreading and increasing the heat capacity).
  • the pressure sintering technology combines temperature and pressure.
  • the heat sink plate springs in the radius of the lower punch; connects via the bonding layer with the substrate and takes after cooling the final shape.
  • the desired crowned shape can now be targeted influenced by the radius of the lower punch of the pressure sintering press.
  • the arrangement can be optimized with the following improvement measures:
  • the surface extending beyond the body may be provided with holes for mounting screws.
  • the heat sink below a substrate plate may be segmented.
  • a partial heat sink which in each case should be dimensioned at least identically large with the area requirement of the component, should be dimensioned.
  • the individual partial heat sinks have smaller diagonals than the complete heat sink plate unsegmentiert.
  • the smaller heat sink plate diagonal of the sub-plates have smaller shear stresses (due to low absolute thermal expansion di- tion) with respect to the substrate and this leads to a greater thermal shock resistance than can be achieved with a complete plate.
  • the heat sink plate is a tube or a cooling-optimized hollow body, which can be flowed through by a cooling medium and in this way increases the cooling power.
  • the cavity of the body may need to be prevented from deforming by a removable support body (e.g., square bar in square tubing) during the pressure sintering process.
  • the heat sink body can be surrounded on several plan sides, preferably on the opposite surfaces with formumhumten assemblies according to the pressure sintering principle.
  • a square tube on two opposite sides carry power modules.

Landscapes

  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

Verfahren zum Niedertemperatur-Drucksintern wenigstens einer thermisch zu kontaktierenden und mechanisch fest verbundenen elektronischen und auf einem Substrat befindlichen Baugruppe mit den Schritten : Formpressen der elektronischen Baugruppe mit einer Formumhüllungsmatrix unter Freilassung einer Anschlussfläche des Substrates für eine Wärmesenken-Verbindung, Bereitstellen einer Wärmesenkenplatte, Aufbringen einer Sinter-Verbindungsschicht auf den freigelassenen Bereich der Anschlussfläche und/oder auf den zur Kontaktierung vorgesehenen Bereich der Wärmesenkenplatte, und stoffschlüssiges Verbinden der Wärmesenkenplatte mittels Silber-Niedertemperatur-Drucksintertechnik an das Substrat der elektronischen Baugruppe im Bereich der Anschlussfläche.

Description

Verfahren zum Niedertemperatur-Drucksintern
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Drucksintern. Elektronische Baugruppen der Leistungselektronik mit einem oder mehreren Halbleiterbauelementen werden typischerweise mit Hilfe von Klebungen, Lötungen oder der Silber- Drucksintertechnik der ungeschützten Halbleiter auf einem primären Schaltungsträ- ger hergestellt. Hierbei werden vorzugsweise keramische Schaltungsträger eingesetzt
(so genannte DCB-Substrate, bzw. direct copper bonded Substrate).
Die Substrate bestehen aus einem Kern von Aluminiumoxid oder Aluminiumnitrid mit Ausdehnungskoeffizienten von 7-8ppm/K und ca. 4 ppm/K. Das Substrat kann auch eine rein keramische Lösung in Form von Dickschichthybridträgern aus Aluminiumoxid oder Aluminiumnitrid mit metallisierten oder aufgesetzten Leiterbahnen sein. Auch kann eine direkte Montage von einem oder mehreren Halbleitern auf einem metallischen Stanzgitter als Schaltungsträger erfolgen. Die US 2004-026778 Al zeigt die direkte Montage des Halbleiters auf Abschnitten des Stanzgitters ohne iso- lierendes Substrat.
Mit Hilfe von Ultraschall-Drahtbondungen sind die Halbleiter untereinander und mit den metallischen Leiterbahnen des Substrates bzw. mit dem Stanzgitter elektrisch verbunden. Zur Erhöhung der Verlustleistungsabfuhr (dynamischer Fall und stationä- rer Fall) wird das bestückte Substrat oder das Stanzgitter üblicherweise mit einer Verbindungsschicht (Kleben, Druckkontakt mit Wärmeleitpaste, Löten oder Drucksintern) auf eine Wärmesenkenplatte aufgebaut (z.B. Gebrauchsmuster der Anmelderin 200 05 746 Ul). Typischerweise werden für leistungsstarke Module auch mehrere Substrat-Baugruppen (in Serien- und Parallelschaltung) auf einer ge- meinsamen Wärmesenkenplatte durch Löten oder Drucksintern montiert. Ln Falle des Drucksinterns werden erst die Substratplatte und die Halbeiter mit der gemein- samen Wärmesenkenplatte verbunden und erst danach erfolgt das elektrische Kontaktieren durch das Drahtbonden aller beteiligten bestückten Substratplatten.
Die Wärmesenkenplatte sorgt im Falle eines dynamischen Wärmestroms für eine op- timale Energiepufferung mit der Wärmekapazität des gewählten Materials (vorzugsweise Kupfer). Insbesondere bei Impulsbetrieb der Schaltung reduziert die Wärmesenkenplatte den dynamischen Wärmewiderstand (Zth). Im stationären Fall eines Wärmestroms durch Verlustleistung der Halbleiter ist hingegen die Wärmespreizfunktion bedeutsam. Hier ist die Wärmeleitfähigkeit der Wärmespreizplatte entschei- dend und ihre, gegenüber dem Substrat, vergrößerte Dimension. Dies führt zu einem vorteilhaften thermischen Widerstand (Rth).
Zur Erzielung von hoher elektrischer Isolation zwischen den potentialtragenden Komponenten (Bondrähte, Halbleiter und Leiterbahnen) und Erreichung sehr hoher mechanischer Festigkeit bzw. Robustheit gibt es Produkte, bei denen die Baugruppe mit einem duroplastischen Kunststoff umhüllt sind. Diese Fertigungstechnik besteht aus dem volumenmäßig vollständigen Ausfüllen des Modulkörpers durch Formpressen (Transfer Molding) mit einem duroplastischen harten, glasartigen Polymerwerkstoff (z.B. Henkel Loctite Hysol). Dies geschieht mit einzelnen Halbleiterbauelemen- ten (z.B. in TO 220-Gehäuseformen der Fa. ST-Microelectronics IRF-540) und mit Transistorgruppen z.B. US 2005/0067719 Al.
Einige Produkte umhüllen neben der Substratbaugruppe auch eine montierte Wärmesenkenplatte z.B. DIP-IPM von Fa. Mitsubishi (,^4 New Version Intelligent Power Module for High Performance Motor Control"; M. Iwasaki et.al.; Power Semicon- ductor Device Division, Mitsubishi, Japan)
1.1. Nachteil und Verbesserung des Standes der Technik
Nachteil 1: Ausbeuteverluste durch ungetestete Substratbaugruppen beim
Drucksintern
Bei der Serien- oder Parallelschaltung von mehreren Substrat-Baugruppen (Multi- substratmodule) auf nur einer Wärmesenkenplatte ist besonders nachteilig, dass aus Gründen der wirtschaftlichen Ausbeute nur elektrisch gut-getestete Einzel-
Baugruppen auf eine gemeinsame Wärmesenkenplatte montiert werden können. Die- ser kostensparende Fertigungs- und Prüfschritt ist bei der Montage mittels Silber- Drucksinterung nicht möglich, weil das quasi-isostatische Pressen der Baugruppe während des Sintervorganges die Bonddrähte der elektrisch verdrahteten Baugruppe zerstören würde.
Zur Verbesserung des Standes dieser Technik wird vorgeschlagen, die vorgetesteten Substratbaugruppen durch Formpressen in der beschriebenen Weise zunächst in eine robuste, mechanisch belastbare Baugruppe (Mold-Modul) zu formen.
Eine solche formgepresste Baugruppe kann durch uniaxiales oder quasi-isostatisches
Pressen mittels Drucksintern mit einer Wärmesenkenplatte durch Silber-Sintern verbunden werden. In dieser Aufbauweise werden also nur gut-getestete Substratbaugruppen weiterverarbeitet. Dieser Sinterprozess kann mit mindestens einem MoId- modul durchgeführt werden, ist aber auch mit mehreren Modulmodulen auf nur einer Wärmesenkenplatte simultan durchführbar.
Nachteil 2: Verformung der umhüllten Baugruppe mit integrierter Wärmesenkenplatte durch große Dehnungsunterschiede
a.) Der geschilderte Prozess des Formpressens (Transfer Molding) hat für die gesamte Baugruppe den Nachteil, dass eine erneute Erwärmung auf ca. 170°C-200°C vorgenommen wird (thermische Aktivierung der Polymervernetzung). Dabei verformt sich der bereits verbundene Stapel, bestehend aus den Materialien Wärmesenkenplat- te, Verbindungsschicht, Substrat, Verbindungsschicht und Halbleiter, entsprechend ihrer individuellen thermischen Ausdehnungskoeffizienten. Die Schichthaftungen und Scherfestigkeiten der Verbindungsschichten sorgen für eine bleibende überlagerte Gesamtverformung.
Das bevorzugte Wärmesenkenmaterial ist Kupfer und der hohe Ausdehnungskoeffizient des Kupfers (18 ppm/K) führt zu einer Hohlverformung des Materialstapels gegenüber einer ebenen Kühlkörperfläche, auf die die spätere Baugruppe beim Endverbraucher montiert wird.
Das Umhüllen des Bauelementes durch Formpressen während der thermisch verformten Phase (bei 1750C bis 2000C Prozesstemperatur) führt zum stark verhinderten Rückbilden der Hohlverformung. Teilweise ist mechanische Scherspannung zwischen den Materialschichten und dem umhüllenden Duroplast so groß, dass eine zerstörende Delamination zwischen Umhüllung und Schichtenstapel und /oder zwischen den Schichten des thermischen Stapels erfolgt.
Selbst wenn keine Delamination einsetzt, verbleibt eine störende Hohlverformung nach dem Prozess. Diese Hohlverformung einer leistungselektronischen Baugruppe gegenüber dem ebenen Kühlkörper muss unbedingt vermieden werden, denn der erforderliche Wärmefluss zur Entwärmung der Transistoren kann nicht mehr gewähr- leistet werden.
b.) Wärmesenkenplatten erfüllen ihre Funktion unter anderem durch Wärmespreizung und materialabhängig, auch der Erhöhung der Gesamt- Wärmekapazität. Zu diesem Zweck muss die Wärmesenkenplatte eine größere Fläche einnehmen, als die darauf verbundene Substratplatte darstellt. Eine duroplastische Umhüllung muss aus
Gründen der angestrebten Festigkeit die Wärmesenkenplatte in robuster Wandstärke umfassen, so dass die Wärmesenkenplatte flächenbündig an einer Seite der Umhüllung erscheint. Die Kosten der duroplastischen Formmasse sind allerdings relativ hoch, so dass die thermisch erforderliche Größe der Wärmesenkenplatte im Allge- meinen unzulässig reduziert wird. In den bekannten Aufbauten solcher Produkte werden die Wärmespreizplatten durch Kleberschicht montiert.
c.) Wärmesenkenplatten werden gelegentlich auch extern mittels Wärmeleitpaste unterhalb von Substratmodulen (formumhüllt oder auch rahmenbasiert) montiert. Diese formschlüssige Montage ist jedoch von Nachteil wegen der geringen Wärmeleitfähigkeit von Pasten (1-5 W/mK) und der Langzeitstabilität der Pasten und ihrer Funktion (pump out-Effekt).
Die folgenden Prozessschritte sollen erfindungsgemäß die geschilderten Nachteile vermeiden und explizit einerseits zu einer reproduzierbaren balligen Verformung der
Wärmesenkenplatte gegenüber einem ebenen Kühlkörper fuhren und andererseits eine signifikante Einsparung der Formmasse bei gleichzeitig korrekt dimensionierter Wärmesenkenplatte ermöglichen.
Das erfmdungsgemäße Verfahren löst die obigen Probleme mit den Merkmalen des
Hauptanspruchs. Dabei wird die Prozesskette der Herstellung dahingehend geändert, dass die elektronische Baugruppe ohne die Wärmesenkenplatte (und ohne Sinter- Verbindungsschicht zur Wärmesenkenplatte) mit der duroplastischen Umhüllungs- masse formgepresst wird. Der Ausdehnungskoeffizient der Formumhüllungsmasse nun ausschließlich dem thermisch dominanten keramischen Substrat (4 bis 6 ppm/K) angepasst und liegt nun deutlich unter dem thermischen Ausdehnungskoeffizienten der Wärmesenkenplatte, beispielsweise aus Kupfer (18 ppm/K).
Eine Verformung durch Fehlanpassung des Duroplastes und des bestückten Substrates liegt nun nicht mehr vor. Das Volumen des umhüllten Substrates ist deutlich geringer und der Material- und Energieverbrauch ist entsprechend ökonomischer und ökologischer (vergleiche Figur Ia, Ib mit Figur 2a, 2b).
Weiter kann eine Wärmesenkenplatte in einer Sinterung mit mehreren elektrisch parallel geschalteten einzeln umhüllten Baugruppen bestückt werden.
Weitere Vorteile und Merkmale des Verfahrens ergeben sich aus folgender Beschreibung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels. Dabei zeigt:
Figur Ia die Integration der Wärmesenkenplatte gemäß Stand der Technik in den formumhüllten Körper, mit dem Nachteil, dass das Volumen groß ist gegenüber der extern angebrachten Wärmesenkenplatte und die Wärmesenkenplatte keine Spreizfunktion mehr be- sitzt,
Figur Ib dasjenige der Fig. Ia, jedoch Ansicht von der Seite der Wärmesenkenplatte,
Figur 2a eine externe stoffschlüssige Montage der Wärmesenkenplatte an den vollendeten formumhüllten Körper, mit dem Vorteil, dass das Duroplastvolumen klein ist gegenüber dem Volumen in Figur 1 und die Verbindungsschicht eine thermisch hoch leitfähige gesinterte Silberschicht ist, Figur 2b eine externe stoffschlüssige Montage der flächenvergrößerten Wärmesenkenplatte an den vollendeten formumhüllten Körper, mit den Vorteilen, dass das Duroplastvolumen klein ist gegenüber dem Volumen in Figur 1, die Verbindungsschicht eine thermisch hoch leitfähige gesinterte Silberschicht ist, die Wärmespreizung weiter optimiert ist (gegenüber Figur 2a) und eine einfache Montagemöglichkeit zu einem Kühlkörper durch z.B. Schrauben (gegeben ist,
Figur 3 eine externe stoffschlüssige Montage der flächenvergrößerten
Wärmesenkenplatte an den vollendeten formumhüllten Körper, mit den zusätzlichen Vorteilen, dass die Wärmespreizplatte segmentiert ist und durch die geringe absolute Größe auch die absoluten Dehnungsdifferenzen kleiner gehalten werden können. Ge- ringere Dehnungsdifferenzen bedeuten kleinere Scherspannungen und damit auch größere Lebensdauer gegenüber Temperatur- Wechselbelastungen,
Figur 4 eine externe stoffschlüssige Montage der flächenvergrößerten Wärmesenkenplatte mehrerer formumhüllten Körper, mit dem
Vorteil, dass nun auch Multisubstratmodule aus einzeln gutgetesteten Modulen mit Hilfe der Drucksintertechnik stoffschlüssig auf eine gemeinsame Wärmesenkenplatte montiert werden können (hier mit multiplen Anschraubmöglichkeiten zur Schaf- fung optimaler Anpresskräfte an einen Kühlkörper),
Figur 5 a die Wärmesenkenplatte der Fig. 4 ergänzt durch Oberflächen erweiternde Strukturen wie Finnen oder - dargestellt - Stifte zur Luftkühlung, und
Figur 5b - zur direkten Wasserkühlung - die Wärmesenkenplatte der Fig. 4 mit einer zusätzlichen Wanne aus Metall oder Kunststoff vorzusehen, in die Wasser geführt wird. Die Wärmesenkenplatte wird nun in einem anderen Verbindungsprozess, nämlich der Silber-Sinterpresstechnik, mit dm vollendeten formumhüllten Körper der elektronischen Baugruppe stoffschlüssig (und langzeitstabil) verbunden (Figur 2a, 2b). Die Verbindungsschicht des gesinterten Silbers besitzt typisch eine Wärmeleitfähig- keit von ca. 250 WVmK und ist damit jeder Wärmeleitpaste und jedem Kleber und Lot thermisch und mechanisch weit überlegen.
a. Nun kann die Wärmesenkenplatte in ausreichender Größe, also mindestens identisch mit der Substratgröße (primäre Funktion; hohe Wärmekapazität) oder identisch mit dem formumhüllten Körper, oder vorzugsweise auch größer als der formumhüllte Körper (Wärmespreizung und Erhöhung der Wärmekapazität) gewählt werden.
b. Die Drucksintertechnik verbindet durch Temperatur und Druck. Der Druck gestattet es, die Wärmesenkenplatte in ein Bett ( = Pressenunterstempel) mit einem kleineren Radius zu pressen, als nach der vollzogenen Verbindung sich nach der Abkühlung einstellt. Die Wärmesenkenplatte federt in den Radius des Unterstempels; verbindet sich über die Verbindungsschicht mit dem Substrat und nimmt nach dem Abkühlen die endgültige Form ein. Die gewünschte ballige Formgebung kann nun zielgerichtet durch den Radius des Unterstempels der Drucksinterpresse beeinflusst werden.
Die Anordnung kann mit folgenden Verbesserungsmaßnahmen optimiert werden:
c. Wenn die Wärmesenke größer als der formumhüllte Körper ist, kann die die über den Körper hinausragende Fläche mit Bohrungen für Montageschrauben versehen sein.
d. Die Wärmesenke unter einer Substratplatte kann segmentiert sein. Vor- zugsweise sollte unterhalb eines jeden Wärme dissipierenden Bauelements (Transistor, Diode) auf dem Substrat eine Teil- Wärmesenke, die jeweils mindestens identisch groß mit dem Flächenbedarf des Bauelementes zu dimensionieren ist. Die einzelnen Teil- Wärmesenken weisen kleinere Diagonalen auf, als die vollständige Wärmesenkenplatte unsegmentiert. Die kleinere Wärmesenkenplatte-Diagonale der Teilplatten weisen kleinere Scherspannungen (durch geringe absolute thermische Differenzdeh- nung) gegenüber dem Substrat auf und dies fuhrt zu einer größeren Temperaturwechselbeständigkeit als mit einer vollständigen Platte erreicht werden kann.
e. Für größere Betriebsströme können auch mehrere formumhüllte Bau- gruppen auf einer Wärmesenkenplatte durch Drucksintern befestigt werden und parallel geschaltet werden. Auch können auf diese Weise gebräuchliche Schaltungen, wie zum Beispiel eine B-6-Brücke, nachgebildet werden und auf einer Wärmesenkenplatte gemeinsam durch Drucksintertechnik befestigt werden.
f. Wie vor, jedoch ist die Wärmesenkenplatte ein Rohr bzw. ein kühlungs- optimierter Hohlkörper, der von einem Kühlmedium durchströmt werden kann und auf diese Weise die Entwärmungsleistung erhöht. Der Hohlraum des Körpers muss gegebenenfalls durch einen entnehmbaren Stützkörper (z.B. Vierkantstange in Vierkant-Rohr) während des Drucksinterprozesses an der Verformung gehindert werden.
g. Wie f, jedoch kann der Wärmesenkenkörper an mehreren Planseiten, vorzugsweise an den sich gegenüberliegenden Flächen mit formumhüllten Baugruppen nach dem Drucksinterprinzip umgeben werden. So kann z.B. ein Vierkantrohr an zwei gegenüberliegenden Seiten Leistungsmodule tragen.
h. Weiter kann eine gemeinsame Wärmesenkenplatte in einer Sinterung mit mehreren Baugruppen - z.B. - elektrisch parallel geschalteten einzeln umhüllten Leistungselektroniken bestückt werden.
Bezugszeichenliste:

Claims

D 5173PATENTANSPRÜCHE
1. Verfahren zum Niedertemperatur-Drucksintera wenigstens einer thermisch zu kontaktierenden und mechanisch fest verbundenen elektronischen und auf einem Substrat befindlichen Baugruppe mit den Schritten :
- Formpressen der elektronischen Baugruppe mit einer Formumhüllungsmatrix unter Freilassung einer Anschlußfläche des Substrates für eine Wärmesenken-Verbindung,
Bereitstellen einer Wärmesenkenplatte,
Aufbringen einer Sinter- Verbindungsschicht auf den freigelassenen Bereich der Anschlussfläche und/oder auf den zur Kontaktierung vorgesehenen Bereich der Wärmesenkenplatte, und
- stoffschlüssiges Verbinden der Wärmesenkenplatte mittels Silber-
Niedertemperatur-Drucksintertechnik an das Substrat der elektronischen Baugruppe im Bereich der Anschlussfläche.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Pressenunterstempel mit geringerem Radius/ Außenabmessungen als die Wärmesenkenplatte beim Aufbringen des Druckes zur Verwölbung der Wärmesenkenplatte genutzt wird, so daß nach Abkühlen der Sinter- Verbindung eine minimal ballige Wölbung der Wärmesenkenplatte erzeugt ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass zur Fixierung der Wärmesenkenplatte in den über das Substrat hinausreichenden Bereichen Durchlässe für Montageschrauben zur mechanischen Fixierung der Kanten an wei- teren wärmeabführenden Komponenten vorgesehen sind.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere einzeln umhüllte Baugruppen in einem gemeinsamen Sinterschritt auf ein gemeinsame Wärmesenkenplatte aufgesintert werden.
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