ES2203780T3 - Un dispositivo de deteccion de cortocircuitos. - Google Patents

Un dispositivo de deteccion de cortocircuitos.

Info

Publication number
ES2203780T3
ES2203780T3 ES97830092T ES97830092T ES2203780T3 ES 2203780 T3 ES2203780 T3 ES 2203780T3 ES 97830092 T ES97830092 T ES 97830092T ES 97830092 T ES97830092 T ES 97830092T ES 2203780 T3 ES2203780 T3 ES 2203780T3
Authority
ES
Spain
Prior art keywords
terminal
voltage
vcc
current
gnd
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
ES97830092T
Other languages
English (en)
Inventor
Michelangelo Mazzucco
Giampietro Maggioni
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IXFIN MAGNETI MARELLI SISTEMI
STMicroelectronics SRL
Ixfin Magneti Marelli Sistemi Elettronici SpA
Original Assignee
IXFIN MAGNETI MARELLI SISTEMI
STMicroelectronics SRL
Ixfin Magneti Marelli Sistemi Elettronici SpA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IXFIN MAGNETI MARELLI SISTEMI, STMicroelectronics SRL, Ixfin Magneti Marelli Sistemi Elettronici SpA filed Critical IXFIN MAGNETI MARELLI SISTEMI
Application granted granted Critical
Publication of ES2203780T3 publication Critical patent/ES2203780T3/es
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16528—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values using digital techniques or performing arithmetic operations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

EL DISPOSITIVO CONSTA DE: - UN GENERADOR DE CORRIENTE (10) PARA GENERAR UNA CORRIENTE (I IN ) DE INTENSIDAD PREDETERMINADA, SELECTIVAMENTE HACIA DENTRO O FUERA DEL TERMINAL (IN), - UN PRIMER COMPARADOR DE VOLTAJE (20) CONECTADO AL TERMINAL (IN) Y CONECTADO AL GENERADOR DE CORRIENTE (10) DE FORMA QUE EL GENERADOR (10) GENERA UNA CORRIENTE (I IN ) EN LA DIRECCION HACIA EL INTERIOR Y EN LA DIRECCION HACIA EL EXTERIOR CON RELACION AL TERMINAL (IN), RESPECTIVAMENTE, CUANDO EL VOLTAJE ENTRE EL TERMINAL (IN) Y LA TIERRA (GND) ES MAYOR QUE UN PRIMER NIVEL Y MENOR QUE UN SEGUNDO NIVEL, RESPECTIVAMENTE, SIENDO EL PRIMER NIVEL MAYOR O IGUAL QUE EL SEGUNDO, - UN SEGUNDO COMPARADOR DE VOLTAJE (30) PARA SUMINISTRAR UNA PRIMERA SEÑAL Y UNA SEGUNDA (A=1; B=1), RESPECTIVAMENTE, CUANDO EL VOLTAJE ENTRE EL TERMINAL (IN) Y LA TIERRA (GND) ESTA PROXIMO AL VOLTAJE DE ALIMENTACION (VCC) Y PROXIMO AL POTENCIAL DE TIERRA (GND), RESPECTIVAMENTE, Y - UN CIRCUITO DE PROCESAMIENTO (40) CONECTADO AL SEGUNDO COMPARADOR (30) PARA DETECTAR SI LA PRIMERA SEÑAL O LA SEGUNDA (A=1; B=1), RESPECTIVAMENTE, PERSISTE DURANTE UN PERIODO DE TIEMPO PREDETERMINADO (GATE) Y, EN ESTE CASO, SUMINISTRAR UNA SEÑAL DE SALIDA (F_VCC; F_GND) QUE INDICA UN CORTOCIRCUITO DEL TERMINAL (IN) A LA ALIMENTACION (VCC) O A LA TIERRA (GND), RESPECTIVAMENTE.

Description

Un dispositivo de detección de cortocircuitos.
La presente invención está relacionada en general con un dispositivo que puede detectar cortocircuitos. Más específicamente, la presente invención está relacionada con un circuito para detectar cortocircuitos no intermitentes a tierra y a una alimentación. El documento EP-A-0689058 divulga un circuito para la detección de cortocircuitos.
La provisión del circuito de acuerdo con la presente invención surge de la necesidad de detectar, en un terminal de entrada, la presencia de un cortocircuito a tierra o a la alimentación.
La indicación de cortocircuito debe evitar la indicación de cortocircuitos intermitentes o parciales.
El término "cortocircuito" está destinado a indicar una conexión que tiene una resistencia igual o inferior a un valor dado (por ejemplo 20 Kohmios).
Los circuitos de este tipo, que pueden realizar las funciones antes mencionadas con precisión y fiabilidad y que, al mismo tiempo, son sencillos y económicos, son conocidos en la técnica.
El objeto de la presente invención es proporcionar un circuito para detectar cortocircuitos, que supere todos los problemas indicados anteriormente de una manera satisfactoria.
De acuerdo con la presente invención, este objeto se consigue por medio de un circuito para detectar cortocircuitos que tiene las características indicadas en las reivindicaciones que siguen a la presente descripción.
Ventajas y características adicionales de la presente invención quedarán claras a partir de la siguiente descripción detallada, dada con ayuda de los dibujos adjuntos, proporcionados a modo de ejemplo no limitativo, en los cuales:
La figura 1 es un diagrama de circuito de una realización del circuito de acuerdo con la invención,
La figura 2 es un diagrama del circuito de una porción del circuito mostrado en la figura 1.
La presente invención está basada esencialmente en el principio de que una corriente I_{IN} es suministrada a un terminal de entrada IN del cual hay que efectuar el diagnóstico de cortocircuito.
En la figura 1 se muestra un diagrama de bloques de un circuito de acuerdo con la invención.
En él es posible distinguir:
- un circuito 10 que puede generar una corriente I_{IN} hacia o desde un terminal IN de entrada, y que comprende dos resistencias R1, R2, un amplificador operacional A1, una resistencia Rext y transistores T1, T2, T3, T4, T5, T6 y T7, conectados de la manera mostrada;
- un circuito 20 que tiene la función de controlar la dirección de la corriente I_{IN} y que está formado por un comparador con histéresis que tiene tensiones umbral baja y alta VL y VH de (por ejemplo) 2 V y 3 V, respectivamente, y que comprende un amplificador operacional C0 y dos resistencias R3, R4, controlando la salida de este circuito un conmutador constituido por un transistor MOS T5 incluido en el circuito 10;
- un circuito 30 que está conectado al terminal IN y que detecta cuándo la tensión en el terminal IN está entre (por ejemplo) 4,5 V y 5 V o entre tierra (0 V) y 0,5 V, por medio de un divisor resistivo R5, R6, R7 y dos comparadores C1 y C2, respectivamente, conectados de la manera mostrada, y
- un circuito lógico 40 que, durante el tiempo en el cual una señal externa GATE es alta, comprueba que no haya cambios en las señales en sus dos entradas A y B. En el borde posterior de la señal GATE puede ocurrir lo siguiente:
1)
Si la señal A ha permanecido a un nivel lógico alto en todo el tiempo durante el cual la señal GATE estaba a nivel alto, se cargará un "1" en el circuito biestable F_{3A} (figura 2), cuya salida está indicada como F_Vcc; si, durante el mismo intervalo de tiempo, la señal A ha permanecido a un nivel lógico bajo o incluso si ha habido solo un cambio, el circuito biestable F_{3A} será cargado con un "0" y su salida F_Vcc será consecuentemente "0";
2)
un segundo circuito biestable F_{3B}, cuya salida está indicada como F_gnd, se comportará de la misma manera con respecto a la señal B como se ha descrito con referencia a las señales A, F-Vcc y al circuito biestable F_{3A} mencionados en el punto 1) anterior.
Los dos circuitos biestables F_{3A}, F_{3B}, cargados como se ha descrito en los puntos 1 y 2 pueden ser puestos a cero por respectivos terminales RESET conectados a una línea externa DIA. A esto se hará referencia más adelante.
\newpage
Con la estructura descrita anteriormente, si hay un cortocircuito entre la entrada IN y tierra, la salida del comparador C0 es alta y hace que el transistor T5 quede saturado; una corriente IR generada por R1, R2, A1, T1 y Rext a través del espejo T2, T4 de corriente enviará así hacia la entrada IN una corriente I_{IN} de aproximadamente:
Vcc R2 / ((R1 + R2) * Rext)
Con una tensión Vcc de alimentación de, por ejemplo, alrededor de 5 V, una resistencia Rext de 68 Kohmios y unas resistencias R1, R2 de tamaños tales que generen 1,7 V, la corriente en el terminal de drenaje del transistor T1 será de 25 \muA y esta misma corriente será enviada a la entrada IN por medio del espejo T2, T4 de corriente.
Si hay un cortocircuito completo, el suministro de la corriente I_{IN} descrita anteriormente no será capaz de modificar la tensión en la entrada IN; la entrada (-) del comparador C2 percibirá consecuentemente una tensión inferior a 0,5 V y llevará la entrada B del circuito lógico a un nivel alto, indicando así un cortocircuito a tierra. Naturalmente, esta indicación será comprobada después para confirmar si es intermitente o estable antes de ser indicada como un cortocircuito llevando la señal F_gnd a un nivel alto.
Sin embargo, en el caso de un cortocircuito real y por consiguiente con una resistencia asociada distinta de cero, esto será detectado e indicado como un cortocircuito solamente si su valor resistivo, multiplicado por el valor de la corriente I_{IN} enviada desde el transistor T4 (25 \muA), no excede de la tensión umbral del comparador C2. En el ejemplo dado anteriormente, si esta tensión umbral es 0,5 V, la resistencia máxima permitida entre la entrada IN y tierra para que esto se reconozca como cortocircuito será:
Rcc(MAX) = 0,5 V / 25 \muA = 20 Kohmios
Naturalmente, la corriente I_{IN} enviada a la entrada IN continuará siendo suministrada por el transistor T4 hasta que la tensión en la entrada IN esté por debajo de 3 V, asegurando así que, para cualquier valor de la tensión en la entrada IN entre tierra (0 V) y 0,5 V, la corriente I_{IN} suministrada fluirá en dirección hacia fuera, es decir, será dirigida hacia tierra.
Naturalmente, con el fin de detectar un cortocircuito real a la alimentación Vcc, con un valor de resistencia dado, es necesario invertir la dirección de la corriente I_{IN} suministrada a la entrada IN, esto es, debe haber una corriente hacia dentro. Esto lo estipula el comparador C0 con histéresis. En el momento en el que la tensión en la entrada IN excede de 3 V, la tensión de salida del comparador C0 irá a cero, poniendo al corte el transistor MOS T5. El espejo de corriente constituido por los transistores T6, T7 puede así funcionar, y multiplica por 2 la corriente del transistor T3, que es igual a la del transistor T4. La corriente del transistor T7 es restada después de la del transistor T4 y el efecto resultante será por tanto que una corriente I_{IN}, la cual (con los valores numéricos dados a modo de ejemplo anteriormente) es igual a 25 \muA (de hecho: I_{IN} = Ic(T4) - Ic(T7) = 25 \muA - 50 \muA = -25 \muA), es "extraída" de la entrada IN. Naturalmente, los comentarios expresados para un cortocircuito a tierra son aplicables, de la misma manera, para un cortocircuito a la alimentación Vcc.
En este caso, el umbral para determinar si hay un cortocircuito a la alimentación Vcc es el asociado con el comparador C1, esto es, por ejemplo 4,5 V ó 0,5 V por debajo de Vcc. Así, si la resistencia del cortocircuito a Vcc multiplicada por la corriente I_{IN} fijada por los transistores T7, T4 (esto es, I_{IN} = 25 \muA) no excede de 0,5 V, la salida del comparador C1 pasará al nivel alto de tensión. Esto significa que la resistencia máxima permitida para un cortocircuito a la alimentación Vcc corresponde a un valor de 0,5 V / 25 \muA = 20 Kohmios, como en el caso anterior de un cortocircuito a tierra.
Naturalmente, el circuito lógico 40 comprueba también si el cortocircuito es intermitente o estable en este caso, como será explicado con más detalle a continuación.
Más aún, como se describe para el cortocircuito a tierra, mientras que la tensión en la entrada IN está entre los valores previstos para un cortocircuito a la alimentación Vcc (Vcc, Vcc - 0,5 V), el comparador C0, como tiene un umbral de conmutación bajo de 2 V, asegura que el transistor T5 está al corte, de manera que se "extrae" una corriente de 25 \muA de la entrada IN. La precisión del valor absoluto de la corriente generada por la referencia está asegurada por la precisión de la resistencia externa Rext y depende de la tensión Vcc de alimentación. La dependencia de la tensión de alimentación asegura la precisión de la medición de la resistencia máxima de cortocircuito con variaciones de la tensión de alimentación, de hecho:
Rcc(MAX) = Vs / I_{IN}
con Vs = Vcc*R7/(R5+R6+R7) = Vcc*K1 para un cortocircuito a tierra, o bien Vs =Vcc*(1-R5/(R5+R6+R7)) = Vcc*K1' para un cortocircuito a Vcc
I_{IN} = Vcc * R2 / ((R1 + R2) * Rext) = Vcc * K2 / Rext
Rcc(MAX) = Rext * K1 (o K1') / K2
donde K1, K1' y K2 son relaciones resistivas obtenida con las resistencias, todas las cuales están dentro del circuito, que está preferiblemente formado como un circuito integrado, de manera que se asegura una gran precisión en sus valores resistivos relativos. El valor máximo de la resistencia de cortocircuito detectado depende, por tanto, esencialmente de la precisión de la resistencia externa Rext, cuya precisión será seleccionada por el usuario de acuerdo con la aplicación.
En la figura 2 se muestra una realización del circuito lógico 40.
La unidad que está constituida por los circuitos biestables F1a-F3a, el inversor I1a y la puerta NAND N1A, y que detecta la señal A procedente del comparador C1 y que puede indicar una situación de cortocircuito instantáneo a la alimentación Vcc, comprueba que no hay cambio en la señal A durante el periodo de tiempo en el cual la señal GATE es alta; si ocurre esta situación, el circuito biestable F3a será cargado con una señal QN = "1" y la señal lógica f_Vcc estará consecuentemente al nivel "1", indicando un cortocircuito a la alimentación Vcc. Por otra parte, si ocurre un cambio, la señal f_Vcc pasará a "0".
La unidad F1b-F3b, I1b y N1b tiene la misma función en relación con las señales B y f_gnd.
La función del circuito biestable F4 y del inversor I2 es habilitar los circuitos que detectan cambios y cargan los circuitos biestables F3a y F3b que almacenan la indicación de avería.
El circuito que detecta los cambios en la señal A, y los circuitos de sincronismo asociados, serán descritos en detalle más adelante (sin embargo, la descripción de los circuitos relativos a las señales B y f_gnd será omitida, ya que es similar a la que se dará para la señal A).
Cuando estos circuitos están inhabilitados, la señal DIA es baja. En estas condiciones, cualquiera que sea el valor de la señal GATE, el circuito biestable F4 tendrá una señal "clear" (C) de bajo nivel y así se almacenará un "0" y estará disponible en la salida Q. La salida Q del circuito biestable F4 activa a su vez las entradas "clear" de los circuitos biestables F1a, F2a (y F1b, F2b) asegurando que los diversos circuitos biestables son cargados con un "0" y que sus respectivas salidas QN están en "1".
Cuando la señal DIA pasa a "1", la situación descrita no cambia y, pase lo que pase a la señal A, las salidas QN de los circuitos biestables F1a y F2a no cambian, pero la salida de la puerta NAND N1a puede cambiar de acuerdo con el valor de la señal A y, más precisamente, la salida es la señal A invertida.
Cuando la señal GATE pasa a ser alta debido a que, tras pasar a ser alta la señal DIA, la señal "clear" del circuito biestable F4 está en "1", se almacena un "1" en el circuito biestable F4 (ya que D está en "1").
Un "1" en el terminal Q del circuito biestable F4 lleva las señales "clear" de los circuitos biestables F1a y F2a a "1"; el primer cambio positivo que pueda ocurrir (después de que la señal GATE ha pasado a ser alta) en la señal A, lleva así la salida QN del circuito biestable F1a a "0" y, de forma similar, el primer cambio negativo que pueda ocurrir en la señal A, después de que la señal GATE haya pasado a ser alta, lleva la salida QN del circuito biestable F2a a "0". Incluso cuando solo ocurriese uno de los dos sucesos descritos anteriormente, la salida de la puerta NAND N1a sería forzada a "1", ya que una de las dos entradas procedentes de las salidas QN de los circuitos biestables F1a y F2a estaría en "0".
Con la salida de la puerta NAND N1a en "1", cuando la señal GATE cae a "0" (que representa el momento en el cual termina el periodo de observación de cortocircuito intermitente, habiendo empezado este periodo cuando la señal GATE subió a "1"), en virtud del inversor I2, habrá un borde delantero en la entrada de reloj del circuito biestable F3a con el resultado de que se carga un "0" en el terminal QN del circuito biestable F3a. Así, aún cuando solamente ocurra un cambio positivo o negativo en la señal A, la salida f_Vcc permanece en 0, indicando que no hay un cortocircuito estable a la alimentación Vcc.
Sin embargo, si en el mismo periodo de observación no hay ningún cambio en la señal A, las salidas QN de los circuitos biestables F1a y F2a permanecen siempre en "1" y la salida de la puerta NAND N1a será la señal A invertida, con el resultado de que el circuito biestable F3a cargará el valor de la señal A en el terminal QN. Si la señal A es "1", la señal f_Vcc también estará en "1", indicando un cortocircuito estable a la alimentación Vcc.
En resumen, el circuito lógico 40 comprueba, en el intervalo de tiempo en el cual la señal GATE es alta, si ha habido siquiera un solo cambio de nivel en A y B, en cuyo caso las salidas f_Vcc y f_gnd son llevadas a un nivel bajo y permanecen en él. Sin embargo, si los niveles A y B no cambian en el periodo de observación, sus niveles son reproducidos en las salidas f_Vcc y f_gnd, indicando que:
- no ha ocurrido un cortocircuito a tierra o a Vcc, si A y B (y por consiguiente f_Vcc y f_gnd) están a nivel bajo, y
- ha tenido lugar un cortocircuito estable a Vcc o a tierra si A o B (f_Vcc o f_gnd) están a nivel alto.
Naturalmente, permaneciendo inalterado el principio de la invención, los detalles de construcción y las formas de realización se pueden variar ampliamente con respecto a los descritos e ilustrados, sin salir por ello del alcance de la presente invención como se define en las reivindicaciones adjuntas.

Claims (7)

1. Un dispositivo para detectar una condición de cortocircuito no intermitente de un terminal (I_{IN}) de un circuito hacia tierra (gnd) o hacia una fuente de tensión de corriente continua (Vcc), caracterizado porque comprende:
- medios (10) de generación de corriente para generar una corriente (I_{IN}) de intensidad predeterminada saliendo o entrando de forma selectiva en el terminal (IN),
- primeros medios (20) comparadores de tensión conectados al terminal (IN) y conectados a los medios (10) de generación de corriente de una manera tal que los medios (10) de generación de corriente generan una corriente (I_{IN}) en dirección hacia dentro y en dirección hacia fuera con relación al terminal (IN), respectivamente, cuando la tensión entre el terminal (IN) y tierra (gnd) es mayor que un primer nivel y menor que un segundo nivel, respectivamente, siendo el primer nivel mayor o igual al segundo,
- segundos medios (30) comparadores de tensión para suministrar una primera y una segunda señal (A=1; B=1), respectivamente, cuando la tensión entre el terminal (IN) y tierra (gnd) está próxima a la tensión (Vcc) de alimentación y próxima al potencial (gnd) de tierra, respectivamente, y
- medios (40) de circuito de procesamiento conectados a los segundos medios comparadores (30) para detectar si la primera o la segunda señal (A=1; B=1), respectivamente, duran un periodo de tiempo predeterminado (GATE) y, en este caso, suministrar una señal (F_Vcc; F-gnd) de salida indicativa de un cortocircuito del terminal (IN) hacia la alimentación (Vcc) o hacia tierra (gnd), respectivamente.
2. Un dispositivo de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque los medios (10) de generación de corriente comprenden, entre la alimentación (Vcc) de tensión y tierra (gnd):
- una primera rama (T_{2}, T_{1}, Rext) de circuito en la cual un primer transistor (T_{2}) tiene su trayectoria colector-emisor en serie con una resistencia externa (Rext) de referencia,
- medios (R1, R2, A1, T1) de circuito para aplicar a la resistencia (Rext) de referencia una tensión de valor predeterminado inferior al de la alimentación (Vcc),
- un primer y un segundo espejo (T_{4}, T_{7}; T_{3}, T_{6}) de corriente conectados al terminal (IN) y acoplados al primer transistor (T_{2}) de una manera tal que pueden conducir corrientes sustancialmente iguales y de valor doble que la corriente (IR) que fluye en el primer transistor (T2), respectivamente, y
- un conmutador electrónico (T_{5}) conectado a los espejos de corriente y controlado por los primeros medios (20) comparadores de tensión de una manera tal que, cuando la tensión entre el terminal (IN) y tierra (gnd) está por debajo del segundo nivel, el conmutador (T_{5}) conduce e inhabilita el segundo espejo de corriente y la corriente que fluye en el primer espejo (T_{4}) de corriente fluye en dirección hacia fuera con relación al terminal (IN) y, cuando la tensión entre el terminal (IN) y tierra (gnd) es mayor que el primer nivel, el conmutador (T_{5}) está al corte y una corriente sustancialmente igual a la diferencia entre las corrientes que fluyen en los espejos de corriente fluye hacia dentro del terminal (IN) en dirección hacia dentro.
3. Un dispositivo de acuerdo con la reivindicación 2, caracterizado porque los medios de circuito comprenden un divisor resistivo (R_{1}, R_{2}) que está dispuesto entre la alimentación (Vcc) de tensión y tierra (gnd), y cuya salida está conectada a la resistencia (Rext) de referencia por medios amplificadores con una ganancia sustancialmente unitaria (A_{1}, T_{1}), de manera que la corriente que fluye en la primera rama (T_{2}, Rext) de circuito depende esencialmente de manera única de la tensión (Vcc) de alimentación y de los valores de resistencia del divisor (R_{1}, R_{2}) y de la resistencia (Rext) de referencia.
4. Un dispositivo de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque los primeros medios (20) comparadores de tensión comprenden un circuito (C0, R_{3}, R_{4}) comparador de umbrales, con histéresis.
5. Un dispositivo de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque los segundos medios (30) comparadores de tensión comprenden una cadena de tres resistencias (R_{5}, R_{6}, R_{7}) conectadas entre la tensión (Vcc) de alimentación y tierra (gnd), y una pareja de comparadores (C_{1}, C_{2}) de umbrales que tienen, cada uno de ellos, una respectiva primera entrada conectada a un respectivo terminal de la resistencia intermedia (R_{6}) de la cadena y una segunda entrada conectada al terminal (IN).
6. Un dispositivo de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones precedentes, caracterizado porque los medios de circuito de procesamiento comprenden un circuito lógico (40) con circuitos biestables, que tiene una entrada (GATE) para una señal externa de control cuya duración define el antedicho periodo predeterminado de tiempo.
\newpage
7. Un dispositivo de acuerdo con las reivindicaciones 5 y 6, caracterizado porque el circuito lógico (40) tiene dos entradas (A, B) conectadas a las salidas de los comparadores (C_{1}, C_{2}) de umbrales y dos salidas (F_Vcc; F_gnd), estando configurado el circuito lógico (40) para suministrar señales correspondientes a las salidas de los comparadores (C_{1}, C_{2}) de umbrales en sus salidas, solamente cuando no hay cambio en el nivel de estas señales durante el antedicho periodo predeterminado de tiempo.
ES97830092T 1997-03-04 1997-03-04 Un dispositivo de deteccion de cortocircuitos. Expired - Lifetime ES2203780T3 (es)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP97830092A EP0863611B1 (en) 1997-03-04 1997-03-04 A short-circuit detecting device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ES2203780T3 true ES2203780T3 (es) 2004-04-16

Family

ID=8230583

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ES97830092T Expired - Lifetime ES2203780T3 (es) 1997-03-04 1997-03-04 Un dispositivo de deteccion de cortocircuitos.

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6377053B1 (es)
EP (1) EP0863611B1 (es)
CN (1) CN1111744C (es)
DE (1) DE69723954T2 (es)
ES (1) ES2203780T3 (es)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6740497B2 (en) * 1998-03-06 2004-05-25 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for detecting cancerous cells using molecules that change electrophoretic mobility
JP2005121433A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Anden 断線検出回路
FR2863754B1 (fr) * 2003-12-12 2007-06-29 Valeo Electronique Sys Liaison Procede et dispositif de detection d'au moins deux modes de fonctionnement d'un organe electrique d'un vehicule automobile, procede de pilotage de l'organe
JP4396539B2 (ja) * 2004-06-03 2010-01-13 株式会社デンソー レアショート検出回路及び異常監視信号生成回路
JP4814547B2 (ja) * 2005-05-19 2011-11-16 パナソニック株式会社 異常検出装置および映像システム
JP4710739B2 (ja) * 2006-06-30 2011-06-29 株式会社デンソー 負荷断線検出回路
FR2910639B1 (fr) * 2006-12-20 2009-04-17 Valeo Equip Electr Moteur Procede et dispositif de detection de la defaillance du circuit d'excitation d'un alternateur polyphase
US7791353B2 (en) * 2007-02-13 2010-09-07 California Institute Of Technology Ground loop locator
DE102011003733B4 (de) * 2011-02-07 2023-06-15 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Ansteuerung eines Transistors und Ansteuerschaltung
US8781764B2 (en) * 2011-03-16 2014-07-15 Deere & Company System for detecting a short circuit associated with a direct current bus
CN103033678B (zh) * 2012-12-24 2015-09-30 上海电力学院 短路电流实测方法
KR101583957B1 (ko) * 2014-07-28 2016-01-08 현대자동차주식회사 레졸버 오결선 검출 방법
CN104965146A (zh) * 2015-06-15 2015-10-07 王志 短路检测器
CN106054016B (zh) * 2016-08-17 2019-07-16 科博达技术股份有限公司 逆变器短路故障的判断方法
US11372056B2 (en) * 2020-05-26 2022-06-28 Sandisk Technologies Llc Circuit for detecting pin-to-pin leaks of an integrated circuit package

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2311903A1 (de) * 1973-03-09 1974-09-12 Siemens Ag Verfahren und einrichtung zur ortung von kurzschluessen in mehrlagenverdrahtungen
DE2940598C2 (de) * 1979-10-06 1984-12-20 M.A.N. Maschinenfabrik Augsburg-Nürnberg AG, 8000 München Störungserkennungseinrichtung
IT1212775B (it) * 1983-09-27 1989-11-30 Ates Componenti Elettron Dispositivo di protezione contro i cortocircuiti per un circuito integrato ed un carico ad esso collegato.
DE3543058C2 (de) * 1985-12-05 1997-02-13 Teves Gmbh Alfred Verfahren und Schaltungsanordnung zur Aufbereitung eines Sensorsignals
US4734651A (en) * 1986-06-30 1988-03-29 Amp Incorporated Electrical continuity and short circuit testing
DE3724142A1 (de) * 1987-07-21 1989-02-02 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum erkennen von positivem, negativem oder fehlendem potential am eingang
US5181205A (en) * 1990-04-10 1993-01-19 National Semiconductor Corporation Short circuit detector circuit for memory arrays
IT1245044B (it) * 1991-04-09 1994-09-13 Sgs Thomson Microelectronics Circuito di rilevamento di corto-circuito in dispositivi di pilotaggiodi carichi induttivi
US5304935A (en) * 1991-12-17 1994-04-19 Motorola, Inc. Load driver and system with fault detection apparatus for providing a sequence of fault detection logic states
US5272445A (en) * 1992-07-01 1993-12-21 Digital Equipment Corp. Resistance tester utilizing regulator circuits
US5359291A (en) * 1993-04-01 1994-10-25 Alliedsignal Inc. Method and apparatus for detecting short circuits
US5451881A (en) * 1993-12-10 1995-09-19 Curtis Instruments, Inc. Method and means for adjusting battery monitor based on rate of current drawn from the battery
DE4422264A1 (de) * 1994-06-24 1996-01-04 Philips Patentverwaltung Schaltungsanordnung zum Überwachen eines Schaltungspunktes auf einen Leckwiderstand
DE4422405C1 (de) 1994-06-29 1995-09-28 Talbot Waggonfab Festlegevorrichtung zum Verriegeln von Ladebehältern
EP0733959B1 (en) * 1995-03-24 2001-06-13 Co.Ri.M.Me. Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno Circuit for generating a reference voltage and detecting an undervoltage of a supply voltage and corresponding method

Also Published As

Publication number Publication date
CN1111744C (zh) 2003-06-18
EP0863611A1 (en) 1998-09-09
US6377053B1 (en) 2002-04-23
DE69723954D1 (de) 2003-09-11
CN1194379A (zh) 1998-09-30
DE69723954T2 (de) 2004-07-15
EP0863611B1 (en) 2003-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940010419B1 (ko) 반도체집적회로
CN103972868B (zh) 保护ic以及电池电压监视方法
US7352206B1 (en) Integrated circuit device having state-saving and initialization feature
EP0863611B1 (en) A short-circuit detecting device
ES2872334T3 (es) Arquitectura del transceptor de detección de fallos de bus y método de funcionamiento del transceptor
TW534996B (en) A programmable low battery detector
US9431106B1 (en) Ternary content addressable memory (TCAM) with magnetic tunnel junction (MTJ) devices
JP3590269B2 (ja) ヒュージング装置
KR20140079008A (ko) 파워 온 리셋 회로
JPH05120862A (ja) 基板バイアス電圧発生器に対する調節回路
JPH0612876A (ja) 電源切換え回路
JP2009296714A (ja) 低電圧検出回路および電源制御用半導体集積回路
ITMI980219A1 (it) Generatore di corrente molto stabile in temperatura
JPH025457A (ja) BiCMOSパワー遷移回路
JP2010246074A (ja) ラッチ装置及びラッチ方法
KR100750851B1 (ko) 차량용 전자제어장치의 리셋회로
RU2050551C1 (ru) Трехуровневый индикатор напряжения
SU447702A1 (ru) Двухканальный источник стабилизированного напр жени посто нного тока
JPH03245064A (ja) 過電流検出回路
SU826316A1 (ru) Стабилизатор напряжения постоянного тока 1
JPS585026A (ja) 半導体集積回路
KR930001397Y1 (ko) 워치독 회로
JP2748390B2 (ja) メモリカード
JP3577594B2 (ja) 半導体集積回路の信号入出力回路
JPH09243673A (ja) 信号レベル検出回路