ES2290778T3 - Dispositivo y procedimiento para la medicion del grosor de una probeta transparente. - Google Patents
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Abstract
Dispositivo para la medición del grosor de una probeta (2) transparente, en particular de una cinta o de una plancha de cristal, con un primer rayo luminoso (L1), en particular un primer rayo láser, que incide de forma oblicua bajo un primer ángulo de incidencia (alfa1) en la superficie delantera (8) de la probeta (2), con un segundo rayo luminoso (L2), en particular un segundo rayo láser, que incide de forma oblicua bajo un segundo ángulo de incidencia (alfa2) en la superficie delantera (8) de la probeta (2), siendo diferentes el primer ángulo de incidencia (alfa1) y el segundo ángulo de incidencia (alfa2), y con por lo menos un detector (11, 12) para detectar los rayos luminosos reflejados (L1'', L1'''', L2'', L2'''') de los primeros y segundos rayos luminosos incidentes (L1, L2) reflejados por la probeta (2) y para determinar la posición de aquellos, caracterizado porque por lo menos un rayo luminoso incidente (L3) en lo esencial en paralelo al primero o al segundo rayo luminoso (L1, L2) está dirigido a la superficie delantera (8) de la probeta (2) y porque está previsto por lo menos un detector (11) para detectar un rayo luminoso (L3''), reflejado por la probeta (2), del rayo luminoso (L3) paralelo y para detectar la posición del mismo.
Description
Dispositivo y procedimiento para la medición del
grosor de una probeta transparente.
La invención se refiere a un dispositivo para la
medición del grosor de una probeta transparente, en particular de
una cinta o de una plancha de cristal, con un primer rayo luminoso,
en particular un primer rayo láser, que incide de forma oblicua
bajo un primer ángulo de incidencia en la superficie delantera de la
probeta, con un segundo rayo luminoso, en particular un segundo
rayo láser, que incide de forma oblicua bajo un segundo ángulo de
incidencia en la superficie delantera de la probeta, siendo
diferentes el primer ángulo de incidencia y el segundo ángulo de
incidencia, y con por lo menos un detector para detectar los rayos
luminosos reflejados de los primeros y segundos rayos luminosos
incidentes reflejados por la probeta y para determinar la posición
de aquellos. La invención se refiere además a un procedimiento
correspondiente para la medición del grosor que pueda llevarse a
cabo preferentemente con el dispositivo conforme a la presente
invención.
Los grosores de cristales en la fabricación de
planchas de cristal, cintas de cristal o similares están
normalizados. Estos grosores normalizados están provistos de
tolerancias que deben observarse en la fabricación. Es posible
ahorrar en la producción masiva cantidades de cristal considerables
cuando mediante una medición continua del grosor se consigue una
fabricación con un proceso estable en el límite inferior de
tolerancia. Asimismo, puede aumentarse el rendimiento de cristal
aprovechable cuando, debido a la posibilidad de un control exacto
es posible aumentar el ancho del cristal comerciable en el marco del
ancho predeterminado de la máquina. También durante modificaciones
del grosor en una instalación de cristal flotado es posible reducir
los tiempos de cambio de un grosor a otro cuando se dispone de una
posibilidad de medición continua, lo que aumenta también el
rendimiento de cristal comerciable.
Para la supervisión del grosor del cristal o de
materiales transparentes se conocen dispositivos para la medición
automática sin contacto del grosor de materiales transparentes en
los cuales se proyectan rayos láser bajo un determinado ángulo a la
superficie a medir. El rayo láser se refleja parcialmente en el lado
frontal del objeto de medición. Otra parte del rayo láser es
refractada al interior del material, se refleja en el lado trasero
y es refractada nuevamente en el lado frontal, por lo que el objeto
de medición refleja ambos rayos luminosos. La distancia entre ambos
reflejos es una medida del grosor del objeto de medición y se evalúa
de forma apropiada.
A fin de obtener valores de medición fiables
también en superficies no paralelas del objeto de medición y a
pesar de una inclinación entre el objeto de medición y el
dispositivo de medición, en el documento DE 41 43 186 A1 se propone
un dispositivo con dos fuentes de luz de láser, dos divisores de haz
y dos sensores de línea dispuestos simétricamente de tal manera en
un prisma de desviación que los rayos de las fuentes de luz láser
se guíen en direcciones diferentes al objeto de medición y los
reflejos en los lados delantero y trasero incidan nuevamente a
través del prisma de desviación y los divisores de haz en los
sensores de línea. En lo anteriormente expuesto es desventajoso que
la trayectoria de los rayos es relativamente complicada y se
requieren numerosos elementos ópticos. Además no es posible
detectar y corregir una curvatura de la probeta, por lo que los
resultados de medición presentan una considerable inexactitud de
medición.
Del documento
EP-A-0 485 043 es conocido como
medir la calidad de cristal, en particular la curvatura de los
lados delantero y trasero de una plancha de cristal, mediante dos
rayos láser paralelos dirigidos a la plancha de cristal.
El objetivo de la invención consiste por lo
tanto en proponer una posibilidad para la medición del grosor que
pueda realizarse de forma sencilla y permita determinar el grosor
con elevada exactitud.
Este objetivo se consigue en un dispositivo del
tipo inicialmente mencionado en lo esencial porque por lo menos un
rayo luminoso incidente, en lo esencial en paralelo con el primero o
el segundo rayo luminoso, está dirigido a la superficie delantera
de la probeta y porque está previsto por lo menos un detector para
la detección de un rayo luminoso reflejado por la probeta,
originado por el rayo luminoso paralelo, y para determinar la
posición del mismo. Mediante la previsión de otro rayo láser en
paralelo al primero o segundo rayo láser, que incide de izquierda o
de derecha, y la reflexión de estos rayos paralelos por ejemplo en
la superficie delantera de la probeta puede determinarse un posible
radio de curvatura de la probeta en la zona superficial explorada.
Para este fin se mide la distancia entre estos dos rayos reflejados
a una distancia conocida del cristal. El conocimiento del radio de
curvatura permite corregir el grosor que se trata de determinar de
la probeta. Esta disposición con tres rayos incidentes permite de
manera sencilla llevar a cabo una corrección de la inclinación, del
ángulo de cuña y de la curvatura, por lo que el sensor de grosores
del dispositivo conforme a la invención proporciona con un tipo de
construcción relativamente sencillo y compacto una elevada
precisión del grosor medido.
Debido a que el tercer rayo luminoso, que incide
en paralelo, sólo se necesita para la corrección de la curvatura,
conforme a la invención puede estar previsto que el tercer rayo
luminoso esté configurado de manera desconectable para evitar
influencias perturbadoras en mediciones en las cuales no se necesita
el tercer rayo luminoso. Esto se refiere en particular a la
corrección de la inclinación y del ángulo de cuña.
De acuerdo con una forma de realización
preferida de la presente invención, los rayos luminosos incidentes
y/o los rayos luminosos reflejados se encuentran en un plano de
rayos común. En este caso, la interpretación de los resultados de
medición y la realización del dispositivo son particularmente
sencillas.
Para poder emplear el dispositivo en particular
también en la fabricación de cristal para supervisar la producción
en curso de cintas de cristal y de planchas de cristal, conforme a
la invención es posible mover el dispositivo y la probeta
transparente uno en relación con otra. Esto permite una supervisión
continua del proceso de producción. Para este fin están previstos
medios de guía en el dispositivo que permiten conducir la probeta,
por ejemplo la plancha de cristal o la cinta de cristal, por
delante del dispositivo. Los medios de guía sirven también para
orientar la probeta transparente delante del dispositivo para la
medición de su grosor, por lo que la probeta puede disponerse con
una orientación definida delante del sensor de grosores. Esto sirve
en particular para orientar la superficie de la probeta en relación
con el sistema óptico del dispositivo, en particular con el cabezal
de medición del mismo.
Debido a que los fallos ópticos son regularmente
más pronunciados transversalmente a la dirección de tracción o
movimiento del cristal que las perturbaciones ópticas en la
dirección de tracción, para la detección de estos fallos es
particularmente ventajoso cuando la dirección de movimiento
relativo, en el caso de un sensor de grosores fijo en particular la
dirección de tracción o de movimiento de la probeta, se encuentra en
el plano de rayos común de los rayos luminosos incidentes y/o de
los rayos luminosos reflejados, de manera ventajosa
perpendicularmente a la normal de la probeta. Naturalmente, la
invención puede aplicarse también cuando la dirección de movimiento
relativo no se encuentra en el plano de rayos común, sino que es
transversal al mismo.
Para conseguir un tipo de construcción simétrico
del sensor de grosores, que es ventajoso para la interpretación de
los resultados de medición, el primer ángulo de incidencia y el
segundo ángulo de incidencia pueden encontrarse en relación con la
normal de la probeta en la zona de incidencia en lados distintos del
plano de rayos determinado por el primero y el segundo rayo
luminoso. En el caso de una disposición no horizontal del sensor de
grosores, cuando la normal de la probeta no se encuentra en el
plano de rayos común, la proyección de la normal de la probeta al
plano de rayos sirve como referencia. En particular es ventajoso que
sean iguales los valores absolutos de los ángulos de incidencia
situados a ambos lados de la normal de la probeta. Son por ejemplo
de un orden de magnitud de 45º.
Para la captación de los rayos luminosos
reflejados pueden estar dispuestos conforme a la invención dos
detectores distanciados entre sí y con preferencia perpendiculares
a la superficie de la probeta, estando sus superficies sensibles
preferentemente dirigidas una hacia otra. En una disposición de este
tipo de los sensores es posible registrar normalmente en los dos
detectores la posición de todos los rayos incidentes en la probeta y
reflejados en la misma. Como detectores pueden emplearse chips CCD,
cámaras de líneas u otros detectores que permitan determinar la
posición.
Conforme a la invención es recomendable que la
zona de incidencia de los primeros, segundos y terceros rayos
luminosos en la prueba sea inferior a la distancia entre los dos
detectores opuestos que registran preferentemente todos los rayos
luminosos reflejados. La zona de incidencia en la superficie
delantera de la probeta, definida por los puntos de incidencia de
todos los rayos luminosos incidentes, se selecciona ventajosamente
de tal manera que todos los rayos reflejados se registren mediante
los detectores.
Para minimizar el número de fuentes de luz
requeridas, en particular láseres, según una forma de realización
preferida pueden estar previstos dos divisores de haz para dividir
un rayo luminoso en tres rayos luminosos. La fabricación del sensor
de grosores conforme a la invención es de esta manera más económica.
Asimismo, se simplifica el ajuste en total ya que los rayos
luminosos salen bajo un ángulo definido de los divisores de haz,
por lo que la trayectoria de rayos del sistema conforme a la
invención está ajustada después del ajuste del rayo de luz
original, de la unidad de divisores de haz y, dado el caso, de los
dos espejos de desviación que delimitan el cabezal de medición
óptica. Los divisores de haz pueden emitir el rayo desacoplado bajo
un ángulo de 90º respecto al rayo pasante. Por lo tanto es posible
generar de manera sencilla ángulos de incidencia de 45º con dos
espejos de desviación paralelos, dispuestos perpendicularmente a la
normal imaginada de la superficie de la probeta. Uno de los
divisores de haz para la generación del tercer rayo luminoso puede
estar configurado de forma conmutable para conectar y desconectar
el tercer rayo láser.
Para evaluar de forma apropiada los resultados
de medición y para determinar el grosor de la probeta puede estar
prevista una unidad de evaluación conectada al por lo menos un
detector, llevándose a cabo en particular una corrección de la
inclinación, una corrección angular y/o una corrección de la
curvatura. En esta unidad de evaluación está implementado en
particular el procedimiento conforme a la invención que se describe
a continuación que, no obstante, puede emplearse independientemente
del dispositivo anteriormente descrito.
Según el procedimiento conforme a la invención
para la medición del grosor de una probeta transparente, en
particular provista de superficies lisas, está previsto que un
primer rayo luminoso incida de forma oblicua bajo un primer ángulo
de incidencia en la superficie delantera de la probeta y que se
determinen las posiciones del rayo luminoso reflejado en la
superficie delantera y del rayo luminoso reflejado en la superficie
trasera, que un segundo rayo luminoso incida de forma oblicua bajo
un segundo ángulo de incidencia diferente del primer ángulo de
incidencia en la superficie delantera de la probeta y que se
determinen las posiciones del rayo luminoso reflejado en la
superficie delantera y del rayo luminoso reflejado en la superficie
trasera, determinándose el grosor de la probeta de la distancia
entre los rayos luminosos del primero y/o del segundo rayo luminoso
reflejados en la superficie delantera y en la superficie trasera y
llevándose a cabo una corrección de la inclinación y/o del ángulo
de cuña mediante comparación de por lo menos una parte de los rayos
luminosos reflejados.
Para detectar adicionalmente también una posible
curvatura de la probeta está previsto que por lo menos un tercer
rayo luminoso incida de forma oblicua en la superficie delantera a
una distancia conocida y en lo esencial en paralelo, es decir
dentro del margen de una posible exactitud de ajuste, al primero o
al segundo rayo luminoso y que se lleve a cabo una corrección de la
curvatura mediante determinación de las posiciones de los rayos
luminosos reflejados en la superficie delantera y en la superficie
trasera que corresponden a estos rayos luminosos paralelos.
Preferentemente, el primer rayo luminoso y el
segundo rayo luminoso inciden en la zona de incidencia en la
superficie delantera de la probeta en el plano de rayos determinado
por estos desde lados distintos en relación con la normal de la
probeta. La zona de incidencia es la zona en la que los rayos
luminosos incidentes alcanzan la probeta. En una configuración
ventajosa, estos están situados uno cerca de otro para mantener las
dimensiones del cabezal de medición lo más reducidas posibles, pero
inciden por lo menos de forma ligeramente desplazada en la
superficie para evitar interferencias entre las distintas
trayectorias de rayos, ya que de otro modo se necesitarían equipos
electrónicos de medición y de evaluación más complicados. En la
aplicación del procedimiento, la probeta y el sensor de grosores
están orientados preferentemente de tal manera que la normal de la
probeta se encuentra en el plano de rayos común de los primeros y
segundos y, dado el caso, también de los terceros rayos incidentes
y reflejados.
Para conseguir una elevada simetría en el
sistema, que facilita la interpretación de los resultados de
medición, los valores absolutos del primero y del segundo ángulo de
incidencia pueden ser iguales, preferentemente de 45º.
Para la corrección de la inclinación y/o del
ángulo de cuña se determina conforme a la invención la distancia de
la probeta en base a la posición de los rayos luminosos reflejados
preferentemente en la superficie delantera que inciden en el
detector, llevándose a cabo una corrección del ángulo de cuña y/o de
la inclinación cuando las distancias no se corresponden. En la
comparación de las distancias a las probetas puede tenerse en cuenta
una trayectoria diferente de los rayos, originada por ejemplo por
valores absolutos distintos de los ángulos de incidencia.
De las distancias entre los rayos luminosos
reflejados del primero y del segundo rayo luminoso que no se
corresponden es posible determinar según la invención un ángulo de
cuña o de inclinación con el cual se lleva a cabo una corrección
del valor del grosor anteriormente determinado.
Para la detección conforme a la invención de una
curvatura es posible determinar la distancia entre los rayos
luminosos reflejados del tercer rayo luminoso y del primero o del
segundo rayo luminoso en lo esencial en paralelo con este y llevar
a cabo una corrección de la curvatura. De la distancia entre los
rayos luminosos reflejados del tercer rayo luminoso y del primero o
del segundo rayo luminoso, en lo esencial en paralelo a este, se
determina ventajosamente el ángulo y/o el radio de curvatura. Este
se emplea para otra corrección del valor del grosor anteriormente
corregido mediante la corrección de la inclinación o del ángulo de
cuña.
Asimismo, conforme a la invención es posible
determinar del radio de curvatura la capacidad refractaria D
mediante la relación D = 2/R.
Otras ventajas, características y posibilidades
de aplicación de la presente invención se desprenden también de la
siguiente descripción de un ejemplo de realización con referencia al
dibujo. Todas las características descritas y/o representadas de
forma gráfica forman parte de la presente invención,
independientemente de su agrupación en las reivindicaciones o
remisiones a las mismas.
En las figuras se muestran:
Fig. 1 Vista esquemática en planta desde arriba
de un dispositivo conforme a la invención para la medición del
grosor de una probeta transparente.
Fig. 2 Vista general esquemática de la
trayectoria de los rayos para una determinación del grosor.
Fig. 3 Vista esquemática de la trayectoria de
los rayos para una corrección de la inclinación.
Fig. 4 Vista esquemática de la trayectoria de
los rayos para una corrección del ángulo de cuña.
Fig. 5 Vista esquemática de la trayectoria de
los rayos para una corrección de la curvatura.
Fig. 6 Vista esquemática de la trayectoria de
los rayos para una determinación del grosor de una probeta
curvada.
En la figura 1 se muestra esquemáticamente un
sensor de grosores 1 que representa un dispositivo para la medición
del grosor de una probeta transparente con superficies
preferentemente lisas. La probeta es una cinta de cristal 2 o una
plancha de cristal.
El sensor de grosores 1 presenta un láser no
representado que genera un rayo L luminoso o lasérico enfocado y
paralelo que atraviesa dos divisores de haz 3, 4 dispuestos uno a
continuación de otro. El rayo láser L se divide en los divisores de
haz 3, 4 en total en tres rayos láser L1, L2, L3. El primer rayo
láser L1 atraviesa ambos divisores de haz 3, 4 en la dirección del
rayo láser L e incide bajo un ángulo de aproximadamente 45º en un
primer espejo 5 donde se refleja. El segundo rayo láser L2 se
desacopla del rayo láser L en el segundo divisor de haz 4 bajo un
ángulo de aproximadamente 90º e incide bajo un ángulo de
aproximadamente 45º en un segundo espejo 6 donde se refleja. Los
dos espejos 5, 6 delimitan el espacio óptico de rayos que forma el
cabezal de medición del sensor de grosores 1 y están dispuestos en
paralelo uno con otro en lados opuestos de los divisores de haz 3,
4 y con las superficies reflectantes dirigidas una hacia otra. Los
espejos 5, 6 están dispuestos perpendicularmente a la superficie de
la cinta de cristal 2. De esta manera se consigue una disposición
del sensor de grosores 1 en lo esencial especularmente simétrica en
relación con los rayos láser L1 y L2. No obstante, la invención no
está limitada a esta disposición ventajosa.
Los rayos láser L1 y L2 desviados por los
espejos 5, 6 inciden a través de una abertura delantera del sensor
de grosores 1, dirigida hacia la cinta de cristal 2, bajo ángulos de
incidencia \alpha1 y \alpha2 de 45º cada uno en la superficie
delantera 8 de la cinta de cristal 2, presentando los ángulos
\alpha1 y \alpha2 en la zona de incidencia 10 de los rayos L1 y
L2 signos distintos en relación con una normal 9 de la probeta, por
lo que los rayos L1 y L2 inciden con ángulos de incidencia \alpha1
y \alpha2 absolutos idénticos desde direcciones distintas, es
decir de la izquierda y de la derecha, en la superficie delantera 8
de la cinta de cristal 2.
Los rayos incidentes L1 y L2 se reflejan en esta
superficie e inciden como rayos láser reflejados L1', L2' en
detectores 11, 12 dispuestos de forma apropiada. Otra parte de los
rayos luminosos L1 y L2 incidentes es refractada al interior de la
cinta de cristal 2, se refleja en la superficie trasera 13 y sale
después de otra refracción por la superficie delantera 8 de la
cinta de cristal 2. Estos otros rayos láser L1'' y L2'' reflejados
en la superficie trasera 13 discurren en lo esencial en paralelo a
los rayos luminosos L1' y L2' reflejados en la superficie delantera
e inciden también en los detectores 11, 12.
Los detectores 11, 12 están dispuestos para este
fin en paralelo delante de un espejo 5, 6 y presentan superficies
sensibles dirigidas una hacia otra, orientadas en lo esencial
perpendicularmente a la superficie 8 de la cinta de cristal 2. Los
detectores 11, 12 están dispuestos de tal manera que captan cada uno
ambos rayos láser reflejados L1' y L1'' o L2' y L2'' del primero o
del segundo rayo láser incidente L1 o L2, respectivamente, y pueden
determinar la posición de los mismos. Los detectores 11, 12
presentan sensores con resolución de la posición y permiten
determinar exactamente la posición de un rayo de luz que incide en
los mismos. Para este fin son apropiados chips CCD, cámaras de
línea o sensores similares.
En el divisor de haz 3, intercalado delante del
divisor de haz 4, se genera un rayo láser L3 que incide en paralelo
al segundo rayo láser incidente L2 que, igual que el rayo láser L2,
se desvía en el espejo 6 y discurre conforme a la exactitud de
montaje a una distancia s en paralelo al rayo láser L2. El tercer
rayo láser L3 incide en la zona de incidencia 10 en la superficie
delantera 8 de la cinta de cristal 2. La zona de incidencia 10 está
definida por el área en la que los rayos láser incidentes L1, L2 y
L3 inciden en la superficie delantera 8. Esta zona de incidencia 10
es inferior a la distancia entre los dos detectores 11, 12 opuestos
y se extiende aproximadamente por la mitad de su distancia. La
disposición de los rayos láser L1, L2, L3 y de los detectores 11,
12 está seleccionada de tal manera que los rayos reflejados L2',
L2'' y L3' de los segundos y terceros rayos incidentes L2 y L3
alcancen la superficie sensible del detector
11 y los rayos reflejados L1' y L1'' del primer rayo incidente L1 incidan en la superficie sensible del detector 12.
11 y los rayos reflejados L1' y L1'' del primer rayo incidente L1 incidan en la superficie sensible del detector 12.
Debido a la posición conocida de los detectores
11, 12 en el sensor de grosores 1 y en relación con la cinta de
cristal 2, o con su posición de medición óptima, respectivamente, es
posible determinar las posiciones exactas de los rayos láser
reflejados L1', L1'', L2', L2'' y L3' tanto de forma absoluta como
relativa en relación con la superficie delantera 8 de la cinta de
cristal 2 y/o de forma relativa entre sí. Con ayuda de esta
información se puede determinar en un dispositivo de evaluación no
representado el grosor d de la cinta de cristal 2 y llevar a cabo
una corrección de la inclinación, del ángulo de cuña y de la
curvatura.
Los tres rayos luminosos incidentes L1, L2 y L3
determinan un plano 14 de rayos común en el cual se encuentra
también la normal 9 de la probeta. Por lo tanto, también los rayos
luminosos reflejados L1', L1'', L2', L2'' y L3' se encuentran en el
plano 14 de rayos. Aunque se prefiera esta disposición, en un sensor
de grosores 1 conforme a la invención es posible que los planos de
rayos de los rayos láser incidentes y de los rayos láser reflejados
no coincidan. En este caso, tampoco la normal de la probeta se
encuentra en uno de los planos de rayos.
El sensor de grosores 1 anteriormente descrito
puede emplearse en particular para medir directamente en la
producción el grosor d de la probeta 2, en particular de una cinta
de cristal o de una plancha de cristal. La cinta de cristal 2 o la
plancha de cristal se mueve por delante del sensor de grosores y el
grosor d de la probeta 2 se mide de forma continua o a intervalos
especificados. La dirección de movimiento 15 de la cinta de cristal
2 se encuentra preferentemente también en el plano 14 de rayos
común.
A continuación se explica más detalladamente el
procedimiento conforme a la invención para la determinación del
grosor d. El procedimiento se pone en práctica preferentemente con
el sensor de grosores 1 dispuesto en particular perpendicularmente
a la cinta de cristal 2.
Para la determinación del grosor d de la cinta
de cristal 2, este se calcula en primer lugar de la distancia d'
entre los rayos láser L1', L1'' reflejados en la superficies 8, 13
delantera y trasera de la cinta de cristal 2. Bajo la condición de
que el cristal sea completamente plano y con superficies 8, 13
delanteras y traseras paralelas y que se conozca exactamente el
ángulo de incidencia \alpha1, el grosor d puede calcularse según
un procedimiento sencillo que se explica a continuación con
referencia a la figura 2.
El rayo láser L1, que incide en la
representación según la figura 2 de la izquierda con un ángulo de
incidencia \alpha1, se refleja parcialmente en la superficie
delantera 8 de la cinta de cristal 2 y sale con el mismo ángulo de
reflexión \alpha1 como rayo láser reflejado L1'. Otra parte del
rayo láser es refractada al interior de la cinta de cristal 2, se
refleja en la superficie trasera 13 de la cinta de cristal 2 y sale
de la superficie delantera 8 como rayo reflejado L1'' bajo el mismo
ángulo de reflexión \alpha1 desplazado en paralelo en relación
con el rayo láser reflejado L1'.
La distancia perpendicular d' entre los dos
rayos reflejados L1', L2' se determina de los datos de posición de
los rayos L1' y L1'' en el detector 12 empleando el ángulo \alpha
de incidencia y de reflexión (\alpha1 para L1) conocido y la
disposición del detector 12 en relación con la cinta de cristal
2.
El grosor d de la cinta de cristal 2 se obtiene
en este caso de la siguiente ecuación:
d = d' \cdot
\frac{\sqrt{n^{2} - sen^{2} \alpha}}{sen \
2\alpha},
siendo d' la distancia
perpendicular entre los rayos reflejados L1', L1'', n el índice de
refracción y \alpha el ángulo de incidencia \alpha1. La
distancia d' se obtiene de la distancia M medida entre los rayos L1'
y L1'' en el detector 12 según la ecuación d' = M \cdot sen
\alpha.
De forma análoga puede determinarse el grosor de
la cinta de cristal 2 mediante el rayo láser L2 que incide de la
derecha bajo un ángulo de incidencia \alpha2. De lo anteriormente
expuesto se obtienen dos valores d1 y d2 del grosor que en caso
ideal coinciden.
No obstante, en la práctica no se cumplen los
requisitos anteriormente mencionados de un ángulo de incidencia
\alpha conocido e invariable y de una superficie plana y paralela
de la probeta. Además, transversalmente a la dirección 15 de
tracción o de movimiento de la cinta 2 de cristal aparecen
perturbaciones ópticas. Debido a que las perturbaciones ópticas en
la dirección 15 de tracción son normalmente mucho más pequeñas, los
tres rayos L1, L1' y L1'' deben encontrarse en un plano 14 de rayos
común orientado en la dirección 15 de tracción de la cinta de
cristal 2. Con esta disposición geométrica es posible eliminar para
la aplicación práctica la influencia de la perturbaciones
mencionadas.
La cinta de cristal 2 puede inclinarse también
por ejemplo en una vía de rodillos, por lo que el ángulo de
incidencia \alpha = \alpha1, \alpha2 puede adoptar valores
diferentes. Para la corrección se emplea el segundo rayo láser
incidente L2 que no incide de la izquierda sino de la derecha y se
encuentra en el mismo plano 14 de rayos. Al mismo tiempo es posible
determinar y corregir con este sistema también un ángulo de cuña
eventualmente existente en la cinta de cristal 2, explicándose las
etapas de procedimiento a continuación con referencia a las figuras
3 y 4.
Cuando el rayo incidente L1 no se refleja en una
cinta de cristal 2 orientada perpendicularmente en relación con el
sensor de grosores 1, en la que la normal 9 de la probeta coincide
con el eje de simetría del sensor de grosores, sino en una cinta de
cristal 2 inclinada en un ángulo de inclinación \sigma, el ángulo
de reflexión en el plano 14 de rayos no es igual al ángulo de
incidencia imaginado \alpha = \alpha1, sino que es \alpha =
\alpha1 + \sigma.
Para la corrección de la inclinación se emplea
no sólo el rayo L1 incidente de la izquierda sino también el rayo
L2 incidente de la derecha que por motivos de claridad no se muestra
en la figura 3. En vez de este se muestra sin símbolo de referencia
un rayo luminoso reflejado en una cinta de cristal 2 plana bajo un
ángulo de reflexión \alpha1 que corresponde al rayo L1' en la
figura 2.
El ángulo de incidencia \alpha del segundo
rayo L2 es en este caso \alpha = \alpha2 - \sigma. Esto tiene
como consecuencia que los rayos reflejados L1', L1'' y L2', L2'' del
primero y del segundo rayo L1 y L2 ya no inciden a la misma
distancia de la cinta de cristal 2 en el detector 11, 12, tal como
sería el caso normalmente debido al tipo de construcción simétrico
del sensor de grosores 1. Cuando por lo tanto la distancia b1, a la
que el rayo L1' reflejado en la superficie delantera 8 incide en el
detector 12, ya no es igual a la distancia b2 a la que el rayo L2'
reflejado en la superficie delantera incide en el detector 11, es
preciso llevar a cabo una corrección del ángulo de cuña. Esta
corrección se describe a continuación:
Para la determinación del ángulo de inclinación
\sigma, en el detector 12 se determina la distancia b1 entre el
rayo L1' reflejado en la superficie 8 y la superficie 8,
determinándose la distancia b1 en la dirección de la normal 9 de la
probeta 2 no inclinada.
Cuando se conoce la distancia "a" en
dirección a la superficie 8 de la cinta de cristal 2 entre el
detector 12 y el punto de incidencia del primer rayo L1, es decir
perpendicularmente a la normal 9 de la probeta, para el rayo L1
incidente de la izquierda se encuentra en vigor:
tg(\alpha +
2\sigma) =
\frac{a}{b_{1}}.
Para el rayo L2 incidente de la derecha y no
mostrado en la figura 3 se encuentra en vigor de forma análoga:
tg(\alpha -
2\sigma) =
\frac{a}{b_{2}}.
La diferencia b1 - b2 puede determinarse de las
posiciones medidas por ejemplo en los rayos L1' y L2' reflejados en
la superficie delantera 8. Es favorable elegir la diferencia para el
cálculo, ya que de esta manera se compensa un valor constante en el
cual la cinta de cristal puede haberse elevado en total. Bajo la
condición de \alpha = \alpha1 = \alpha2 es posible calcular
el ángulo de inclinación \sigma. Exactamente en este ángulo
aumenta o disminuye el ángulo de incidencia \alpha = \alpha1 =
\alpha2 ajustado para el rayo incidente de la izquierda o de la
derecha L1 o L2, respectivamente, por lo que es preciso corregir el
ángulo de incidencia a emplear en la ecuación para determinar
correctamente el grosor de la cinta de
cristal 2.
cristal 2.
La cinta de cristal 2 puede presentar además un
ángulo de cuña \delta, tal como se muestra en la figura 4. Cuando
no son idénticas las distancias M1 y M2 entre los rayos láser L1',
L1'' o L2', L2'' reflejados en la superficie delantera 8 o en la
superficie trasera 13, respectivamente, la cinta de cristal 2 está
provista de una cuña. Esto puede determinarse con ayuda de las
posiciones de los rayos reflejados L1', L1'' y L2', L2'' en el
detector.
Cuando existe un ángulo de cuña \delta,
conforme a la figura 4 pueden determinarse valores de grosor d1 y
d2 para los rayos L1 y L2 incidentes de izquierda y de derecha,
obteniéndose el grosor d de la probeta 2 como promedio de estos
grosores. También es posible formar el promedio de las distancias M1
y M2 entre los rayos reflejados L1' y L1'' o L2' y L2'',
respectivamente, y calcular el grosor de la probeta con estos
promedios.
Adicionalmente, la cinta de cristal 2 puede
estar también curvada. Para detectar un posible curvado, el tercer
rayo láser L3 se emite a una distancia s determinada por el tipo de
construcción del sensor de grosores 1 en paralelo a uno de los
primeros dos rayos incidentes, en el caso representado en paralelo
al rayo láser L2. En el ejemplo reflejado en la figura 5, la
dirección de los rayos L2, L3 es inversa a la reflejada en la
figura 1. No obstante, esto carece de importancia en relación con el
principio de funcionamiento. La reflexión de los rayos L2, L3 en la
superficie delantera puede emplearse para determinar el radio R de
curvatura de la probeta 2 como se explica a continuación con
referencia a la figura 5.
Los rayos L2' y L3' reflejados en la superficie
delantera 8 de la probeta 2 curvada inciden en el detector 11 con
una distancia S'. Cuando la distancia S' con un ángulo de incidencia
\alpha no se obtiene de la ecuación S' = s/cos \alpha existe
una curvatura del lado inferior de la cinta de cristal 2. De las
posiciones de los rayos reflejados L2' y L3' puede determinarse el
radio de curvatura R que se incorpora según la figura 6 en el
cálculo del grosor d de la probeta 2.
Las magnitudes de medición se determinan para
los dos rayos incidentes L1 y L2. De las mismas se obtienen dos
valores del grosor d1 y d2 de los cuales se forma un promedio. En
particular, los ángulos de incidencia \alpha1 y \alpha2 y de
esta manera también los ángulos \beta1 y \beta2 son distintos
para los dos rayos incidentes. Se obtienen durante la corrección de
la inclinación de la cinta de cristal 2.
Finalmente puede tenerse en cuenta otra
corrección que debe llevarse a cabo cuando los rayos incidentes
paralelos L2 y L3 no lo son del todo.
Empleando el procedimiento anteriormente
descrito con aplicación sucesiva de una corrección de la
inclinación, del ángulo de cuña y de la curvatura es posible
determinar el grosor del cristal o del material de una probeta
transparente con una elevada exactitud de un 0,1%. Para este fin se
emplea preferentemente el dispositivo conforme a la invención.
- 1
- Sensor de grosores
- 2
- Probeta, cinta de cristal
- 3, 4
- Divisor de haz
- 5, 6
- Espejo
- 7
- Abertura
- 8
- Superficie delantera
- 9
- Normal de la probeta
- 10
- Zona de incidencia
- 11, 12
- Detector
- 13
- Superficie trasera
- 14
- Plano de rayos
- 15
- Dirección de movimiento
- L
- Rayo luminoso, rayo láser
- L1, L2, L3
- Rayos láser incidentes
- L1', L2', L3'
- Rayos láser reflejados en la superficie delantera
- L1'', L2''
- Rayos láser reflejados en la superficie trasera
- a, A
- Distancia en paralelo a la cinta de cristal desde el punto de incidencia de un rayo luminoso hasta el detector
- b, B
- Distancia perpendicular a la cinta de cristal entre la posición de un rayo láser en el detector y la cinta de cristal
- d
- Grosor de la cinta de cristal
- d'
- Distancia perpendicular entre los rayos láser reflejados en la superficie delantera y en la superficie trasera
- s
- Distancia entre los rayos láser que inciden en paralelo
- M, S'
- Distancia en el detector entre los rayos láser reflejados
- R
- Radio de curvatura
- \alpha
- Ángulo de incidencia
- \sigma
- Ángulo de inclinación
- \delta
- Ángulo de cuña.
Claims (18)
1. Dispositivo para la medición del grosor de
una probeta (2) transparente, en particular de una cinta o de una
plancha de cristal, con un primer rayo luminoso (L1), en particular
un primer rayo láser, que incide de forma oblicua bajo un primer
ángulo de incidencia (\alpha1) en la superficie delantera (8) de
la probeta (2),
con un segundo rayo luminoso (L2), en particular
un segundo rayo láser, que incide de forma oblicua bajo un segundo
ángulo de incidencia (\alpha2) en la superficie delantera (8) de
la probeta (2),
siendo diferentes el primer ángulo de incidencia
(\alpha1) y el segundo ángulo de incidencia (\alpha2),
y con por lo menos un detector (11, 12) para
detectar los rayos luminosos reflejados (L1', L1'', L2', L2'') de
los primeros y segundos rayos luminosos incidentes (L1, L2)
reflejados por la probeta (2) y para determinar la posición de
aquellos,
caracterizado porque por lo menos un rayo
luminoso incidente (L3) en lo esencial en paralelo al primero o al
segundo rayo luminoso (L1, L2) está dirigido a la superficie
delantera (8) de la probeta (2) y porque
está previsto por lo menos un detector (11) para
detectar un rayo luminoso (L3'), reflejado por la probeta (2), del
rayo luminoso (L3) paralelo y para detectar la posición del
mismo.
2. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
1 caracterizado porque el tercer rayo luminoso (L3) puede
desconectarse.
3. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
1 ó 2 caracterizado porque los rayos luminosos incidentes
(L1, L2, L3) y/o los rayos luminosos reflejados (L1', L1'', L2',
L2'', L3') se encuentran en un plano (14) de rayos común.
4. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones anteriores caracterizado porque el
dispositivo (1) y la probeta (2) transparente son movidos uno en
relación con otra.
5. Dispositivo de acuerdo con las
reivindicaciones 3 y 4 caracterizado porque la dirección (15)
de movimiento relativo se encuentra en el plano (14) de rayos común
de los rayos luminosos incidentes (L1, L2, L3) y/o de los rayos
luminosos reflejados (L1', L1'', L2', L2'', L3').
6. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones anteriores caracterizado porque el primer
ángulo de incidencia (\alpha1) y el segundo ángulo de incidencia
(\alpha2) se encuentran en el plano (14) de rayos, determinado
por el primero y el segundo rayo luminoso (L1, L2), en la zona de
incidencia (10) a diferentes lados en relación con la normal (9) de
la probeta.
7. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones anteriores caracterizado porque dos
detectores (11, 12) están dispuestos de forma distanciada entre sí
preferentemente de forma perpendicular a la superficie (8) de la
probeta (2).
8. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones anteriores caracterizado porque la zona de
incidencia (10) de los primeros, segundos y terceros rayos
luminosos incidentes (L1, L2, L3) en la probeta (2) es inferior a
la distancia entre dos detectores opuestos para la detección de los
rayos luminosos reflejados (L1', L1'', L2', L2'', L3').
9. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones anteriores caracterizado por dos divisores
de haz (3, 4) para la generación de los tres rayos luminosos (L1,
L2, L3) de un rayo luminoso (L).
10. Dispositivo de acuerdo con una de las
reivindicaciones anteriores caracterizado por un dispositivo
de evaluación conectado al por lo menos un detector (11, 12) para
determinar el grosor de la probeta (2), llevándose a cabo en
particular una corrección de la inclinación, una corrección del
ángulo y/o una corrección de la curvatura.
11. Procedimiento para la medición del grosor de
una probeta transparente (2), en particular con un dispositivo (1)
de acuerdo con las reivindicaciones 1 a 9,
según el cual un primer rayo luminoso (L1)
incide de forma oblicua en la superficie delantera (8) de la
probeta (2) bajo un primer ángulo de incidencia (\alpha1) y se
determinan las posiciones del rayo luminoso (L1') reflejado en la
superficie delantera (8) y del rayo luminoso (L1'') reflejado en la
superficie trasera (13),
según el cual un segundo rayo luminoso (L2)
incide de forma oblicua en la superficie delantera (8) de la probeta
(2) bajo un segundo ángulo de incidencia (\alpha2) distinto del
primer ángulo de incidencia (\alpha1) y se determinan las
posiciones del rayo luminoso (L2') reflejado en la superficie
delantera (8) y del rayo luminoso (L2'') reflejado en la superficie
trasera (13),
\newpage
determinándose el grosor de la probeta
transparente (2) de la distancia entre los rayos luminosos
reflejados (L1', L1'', L2', L2'') del primer rayo luminoso (L1) y/o
del segundo rayo luminoso (L2) reflejados en la superficie
delantera (8) y en la superficie trasera (13),
llevándose a cabo mediante comparación de las
posiciones de por lo menos una parte de los rayos luminosos
reflejados (L1', L1'', L2', L2'') una corrección de la inclinación
y/o del ángulo de cuña, caracterizado porque por lo menos un
tercer rayo luminoso (L3) incide de forma oblicua en la superficie
delantera (8) a una distancia (s) conocida en lo esencial en
paralelo al primero o al segundo rayo luminoso (L2) y mediante
determinación de las posiciones de los rayos luminosos (L2', L3')
reflejados en la superficie delantera (8) o en la superficie
trasera (13) de estos rayos luminosos (L2, L3) paralelos se lleva a
cabo una corrección de la curvatura.
12. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 11 caracterizado porque el primer rayo
luminoso (L1) y el segundo rayo luminoso (L2) inciden desde lados
diferentes en la zona de incidencia (10) en la superficie delantera
(8) de la probeta (2) en el plano (14) de rayos determinado por
aquellos en relación con la normal (9) de la probeta.
13. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 12 caracterizado porque los valores absolutos
del primero y del segundo ángulo de incidencia (\alpha1,
\alpha2) son iguales y son preferentemente de 45º.
14. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones 11 a 13 caracterizado porque para la
corrección de la inclinación y/o del ángulo de cuña basada en la
posición de los rayos luminosos (L1', L2') reflejados
preferentemente en la superficie delantera (8) se determina la
respectiva distancia a la probeta (2), llevándose a cabo una
corrección del ángulo de cuña o de la inclinación cuando las
distancias no se corresponden una a otra.
15. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 14 caracterizado porque de una distancia no
correspondiente de los rayos luminosos reflejados se determina un
ángulo (\delta, \sigma) de cuña o de inclinación.
16. Procedimiento de acuerdo con una de las
reivindicaciones 11 a 15 caracterizado porque se determina la
distancia entre los rayos luminosos reflejados (L3', L2') del
tercer rayo luminoso (L3) y del primero o del segundo rayo luminoso
(L2) en lo esencial en paralelo con este y, dado el caso, se lleva a
cabo una corrección de la curvatura.
17. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 16 caracterizado porque el radio (R) de
curvatura y/o el ángulo de curvatura se determina de la distancia
entre los rayos luminosos reflejados (L3', L2') del tercer rayo
luminoso (L3) y del primero o del segundo rayo luminoso (L2) en lo
esencial en paralelo con este.
18. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 17 caracterizado porque la capacidad
refractaria se determina del radio (R) de curvatura.
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