ES2339281T3 - Detector de rastros quimicos electronico. - Google Patents
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Abstract
Detector de rastros químicos de placa calentadora (1), que comprende: - una placa calentadora conductora (2) que comprende un elemento calentador (4) que tiene una característica de potencia - temperatura predeterminada - un circuito de equilibrado (20) que comprende una resistencia ajustable (21) para regular el elemento calentador (4) según un valor de resistencia predefinida (21); - un procesador (6) para regular la resistencia ajustable (21) con el fin de obtener una temperatura estabilizada en dicha placa conductora calentadora (2); - un circuito de detección (7) para detectar un cambio de resistencia en la placa conductora calentadora (2) en función de la presencia de un rastro químico que reaccione en presencia de la placa conductora (2); caracterizada por - un circuito de prueba (23) para medir una potencia de disipación en el elemento calentador (4) y para calcular una temperatura real a partir de la potencia de disipación en el elemento calentador (4) sobre la base de la característica de potencia-temperatura predeterminada.
Description
Detector de rastros químicos electrónico.
\global\parskip0.900000\baselineskip
La presente invención se refiere a la detección
de rastros en un entorno, en concreto, a la detección de rastros de
sustancias químicas volátiles en el aire.
En la técnica se viene usando equipo costoso
para suministrar instrumentos de detección que, además, ocupan
demasiado espacio, puesto que las condiciones de laboratorio deben
ser similares a fin de garantizar resultados fiables. Existen
detectores que se usan como detectores de campo y que tienen un
tamaño más económico, pero que requieren una costosa técnica de
calibrado que impide la producción en masa convencional de dichos
artículos. Por consiguiente, el uso de este tipo de detectores no
está tan extendido como debiera, ya que el coste de la mayoría de
aplicaciones resulta prohibitivo.
En la técnica, un sensor de detección usa
tecnología de micro-placa calentadora, que es un
sensor semiconductor sobre una micro-placa
calentadora donde se producen reacciones químicas de los rastros que
hay que detectar. Más concretamente, dicho detector de tipo MOS
explota las variaciones de resistencia eléctrica del sensor
mientras, a determinada temperatura de calentamiento, tiene lugar
una reacción redox en la superficie del sensor.
Sin embargo, dicha tecnología de
micro-placa calentadora es muy sensible a las
variaciones de temperatura, por lo que es de una importancia
primordial facilitar la detección de los rastros a una temperatura
predeterminada. Concretamente, la resistencia del calentador es
dependiente de la temperatura, lo que implica que hay que efectuar
ajustes puntuales para garantizar una temperatura estable. Esto
puede hacerse mediante un circuito de equilibrado que mantiene
estable la resistencia del calentador conforme a un valor de
resistencia predeterminado.
En la patente de E.E.U.U. nº 4,847,783 se da a
conocer un circuito de equilibrado que comprende una resistencia
ajustable para regular el elemento calentador según un valor de
resistencia predeterminado. El elemento calentador acciona un
elemento de resistencia de platino dotado de una característica de
resistencia-temperatura predeterminada. No
obstante, en la práctica, aunque los elementos de resistencia de
platino pueden mostrar una conducta de temperatura casi
perfectamente lineal, la temperatura puede variar de una muestra a
otra porque los desfases de estos elementos también pueden variar
considerablemente. De este modo, ajustando previamente el elemento
calentador a un valor predeterminado, se consigue una temperatura
precisa repetible, pero desconocida.
Por consiguiente, para sensores diferentes, se
puede detectar una sustancia química determinada a temperaturas
variables producidas por los diferentes desfases de los elementos
calentadores, que pueden dar origen a resultados de detección
diferentes según los diversos sensores. Por lo tanto, la relación de
temperatura es fundamental para conseguir un sensor fiable con
resultados repetibles a partir de los cuales se puedan acoplar los
resultados del sensor a una base de datos normalizada que comprenda
huellas de composiciones o sustancias químicas identificadas. Sin
embargo, una configuración de calibrado individual donde cada
sensor se somete a prueba en ambientes de temperatura y gas
acondicionados es muy engorrosa.
Por una parte, es deseable suministrar un sensor
en el que no haya que realizar engorrosas operaciones de calibrado
individual. Por otra parte, es deseable suministrar un sensor sólido
y estable que suministre datos reproducibles y que pueda producirse
a un coste relativamente reducido.
En consecuencia, se suministra un sensor con
arreglo a las características de la reivindicación 1. Concretamente,
la invención suministra, en un sensor del tipo descrito más arriba,
un circuito de prueba para medir la potencia de disipación en el
elemento calentador y para calcular la temperatura real a partir de
la potencia de disipación en el elemento calentador sobre la base
de la característica de potencia-temperatura
predeterminada. Por consiguiente, se puede conseguir una desviación
de menos de 1-1,5ºC con respecto a una temperatura
preestablecida mediante componentes estándar. Así pues, es posible
suministrar un sensor de bajo coste que se pueda reconfigurar
fácilmente en condiciones neutras. Esto se puede hacer normalmente
en la configuración de fábrica o, mejor dicho, lo puede hacer un
usuario que necesite reconfigurar el sensor en un determinado
ambiente de gas acondicionado. De esta forma se suministra un
dispositivo de calibrado automático instalado en el sensor, el cual,
colocado en un ambiente neutro, puede regular fácilmente la
resistencia ajustable para obtener una temperatura real.
En la descripción adjunta se apreciarán más
características y ventajas en conjunción con las ilustraciones:
En la Figura 1 se muestra un diseño típico del
sensor de gas con arreglo a la invención;
En la Figura 2 se muestra una respuesta
característica de un sensor de óxido metálico apto para calentarse
y que está expuesto a una variedad de composiciones o sustancias
químicas en concentraciones variables;
En la Figura 3 se muestran diagramas de
resistencia - temperatura medidas de tres sensores de placa
calentadora;
En la Figura 4 se muestra una materialización
preferida del concepto inventivo, y
En la Figura 5 se muestran las relaciones
potencia - temperatura para los mismos elementos calentadores que
en la Figura 3.
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Volviendo a la Figura 1, en ella se muestra un
diseño típico de detector de rastros químicos 1 que usa una placa
conductora 2 apta para calentarse, conocida también como sensor de
placa calentadora 2. El sensor de placa calentadora 2 va provisto
normalmente de un elemento sensor de óxidos metálicos 3 que es
sensible a las reacciones químicas que tienen lugar cerca de la
zona de la superficie del sensor y que se halla en estrecha
relación espacial con un elemento calentador 4. Dicho elemento
sensor 3 muestra en concreto las variaciones en la conductancia
dependiendo de los rastros químicos que reaccionan cerca de la zona
expuesta de la superficie 5 de la misma. Se conocen diversos
elementos sensores de óxidos metálicos 3, entre ellos, pero no sólo
ellos, los sensores de óxido de estaño, óxido de zinc, óxido de
hierro y óxido de tungsteno con o sin catalizador añadido,
incluidos el platino y el paladio, entre otros.
La placa calentadora 2 se calienta por medio de
un elemento calentador 4 que preferiblemente va unido a la misma en
estrecha vecindad con el elemento sensor 3 producido por tecnología
MEMS (micro electrical mechanical systems), con lo que se garantiza
una temperatura idéntica del elemento sensor conductor 3 y el
elemento calentador 4. Dicho elemento calentador 4 tiene una masa
térmica baja y es controlado por procesador 6 para suministrar una
temperatura estabilizada en dicho elemento sensor 3. Normalmente
esto se consigue mediante un circuito de equilibrado que usa un
puente de Wheatstone, como se explica más adelante en relación con
la Figura 4.
Además, el elemento sensor 3 va conectado a un
circuito de detección 7 para detectar un cambio de resistencia en
el elemento sensor 3 en función de la presencia de un rastro químico
que reaccione en presencia de la placa conductora. La salida del
circuito de detección 7 en conexión con una temperatura
preestablecida suministrada por el procesador 6 se almacena en un
elemento de memoria interna 8 del detector, que puede ser cualquier
tipo de memoria, pero que suele ser una memoria flash.
En el elemento de memoria 8 se puede almacenar,
entre otros, una serie de valores de resistencia detectados en el
circuito de detección relativos a una serie de temperaturas
preestablecidas con el fin de formar la huella de una serie de
sustancias químicas 9 que sean detectadas por la placa calentadora 2
mediante la exposición de dicha placa calentadora a una corriente
de gas 10. Como alternativa, se puede someter la placa calentadora
a aire estancado.
En la materialización que se muestra, se
almacenan los resultados en el elemento de memoria 8 para
transmitirlos por un terminal de comunicación 11 a una estación
base 12 que comprende una base de datos para almacenar huellas de
sustancias químicas predeterminadas. De este modo se pueden
comunicar las huellas almacenadas a la estación base 12 que
comprende una base de datos 13 con el fin de suministrar la pareja
idónea 14 de cualquiera de dichas huellas almacenadas en el
elemento de memoria 8 a cualquiera de las huellas almacenadas en la
base de datos 13 de las sustancias químicas conocidas. De esta
forma se puede identificar en la base de datos 13 una composición
detectada concreta de sustancias químicas por reconocimiento de
esquemas conocidos en sí mismos y por técnica de software de
identificación.
Aunque en esta materialización la identificación
de una composición química detectada se puede hacer en línea o
fuera de línea en una estación base externa 12, también puede
equiparse el detector con rutinas de emparejamiento específicas que
puedan emparejar la huella detectada con una o más sustancias
químicas predefinidas a bordo del detector 1. De esta forma, se
puede modificar fácilmente el detector 1 para detectar sustancias
químicas predeterminadas específicas. En esta materialización (que
no se muestra aquí), el detector 1 comprende, por consiguiente,
además de un circuito de comparación para comparar una huella
almacenada con un conjunto predeterminado de huellas previamente
almacenadas de sustancias químicas predeterminadas, a fin de
determinar una sustancia química detectada concreta.
En la Figura 2 se muestran diferentes respuestas
de conductividad de la placa calentadora 2, concretamente para una
concentración de 20 y 80 ppm (líneas 15 y 16 respectivamente) de
tolueno y para una concentración de 50 y 100 ppm (líneas 17 y 18
respectivamente) de acetato de butilo. También se muestra una
respuesta vacía 19, donde aparece una conductancia detectada para
temperaturas variables. Normalmente las temperaturas de detección
oscilan entre 200 y 600ºC. Se puede apreciar que por lo general el
sensor de óxido metálico produce valores máximos de conductancia
para diferentes sustancias químicas en diferentes valores de
temperatura y para diferentes valores máximos. Por ejemplo, la
conductancia para el tolueno es por lo general más alta que para el
acetato de butilo. No obstante, está claro que cuando no se conoce
con exactitud una configuración de temperatura, la potencia
discriminatoria entre 20 ppm de tolueno y 100 ppm de acetato de
butilo es pobre, aunque la prueba se realice a diferentes
temperaturas. Por lo tanto, la exactitud de la configuración es
esencial para obtener de la prueba resultados fiables.
Normalmente, el sensor de óxido metálico 3 es
sensible a las sustancias reducibles a oxígeno. Normalmente, los
componentes muestran una conductancia máxima según la configuración
de temperatura de cada caso concreto. Obteniendo los resultados de
detección a diversas temperaturas se puede obtener la huella de una
variedad de sustancias químicas. Esta huella se puede comparar con
una serie de huellas de sustancias puras o mezclas conocidas que
estén almacenadas en una base de datos 13, como se indica en la
Figura 1.
En la Figura 3 se muestra un diagrama de
medición de resistencia - temperatura del elemento calentador 4.
Como se explica más adelante en relación con la Figura 4, el
elemento calentador 4 puede integrarse en un circuito de
equilibrado para preestablecer el valor de resistencia del mismo
según un valor predeterminado. De este modo, un circuito de
equilibrado puede suministrar un valor de resistencia preestablecido
del elemento calentador 4, dando origen así a una temperatura
predeterminada según el diagrama resistencia - temperatura que
aparece en la Figura 3.
Sin embargo, el diagrama de la Figura 3 muestra
claramente que las temperaturas de la placa calentadora 2 varían
sustancialmente para un valor de resistencia preestablecido. De las
tres placas calentadoras que se muestran, W1, W2, W3, la W1 y la W2
son del mismo tipo. Esto quiere decir que las dimensiones
macroscópicas del elemento calentador 4 son casi iguales. No
obstante, donde la resistencia varía sólo en 1,5 ohmios a
temperatura ambiente, a una resistencia preestablecida de 160
ohmios, hay una diferencia de 25ºC que es proporcionada por el
elemento calentador. Esto significa que, si no se calibra
individualmente el elemento calentador 4, el preestablecimiento del
elemento calentador 4 en
una resistencia fija puede causar una dispersión de temperaturas no deseada, lo que afecta a la fiabilidad del detector.
una resistencia fija puede causar una dispersión de temperaturas no deseada, lo que afecta a la fiabilidad del detector.
En la Figura 4 se muestra una materialización
preferida del concepto inventivo. Concretamente, en la Figura 4 se
muestran un procesador 6 y un circuito de equilibrado 20 que lleva
una resistencia ajustable 21 para regular el elemento calentador 4
según un valor de resistencia predefinido.
El circuito de equilibrado 20 comprende
básicamente una combinación de puente de Wheatstone de resistencias
fijas R5, R6, R7, R8, en combinación con una resistencia apta para
calentarse 4 (también indicada en el dibujo como RH) y un
potenciómetro digital regulable que funciona como la resistencia
ajustable (también indicada en el dibujo como U10). El
potenciómetro digital 21 tiene una linealidad muy buena. La
resistencia en el circuito de equilibrado es determinada por la
resistencia R8 en circuito paralelo al potenciómetro digital 21.
Esta resistencia R8 (así como las demás resistencias fijas R5, R6 y
R7) posee un valor resistivo muy preciso, normalmente con un
margen de error de menos del 0,1%. El circuito es equilibrado por el
amplificador operativo 22 (U11) que controla el voltaje en todo el
elemento calentador 4. Concretamente, el amplificador U11 controla
el voltaje entre los bornes + y - del amplificador para que no haya
diferencia de voltaje, es decir, que el puente esté equilibrado.
Cuando aumenta la diferencia de voltaje, aumenta también la
corriente a través del elemento calentador 4 (RH). El elemento
calentador 4, al conducir una corriente aumentada, se calienta y
como consecuencia la resistencia sube. Así pues, se puede controlar
un valor resistivo del elemento calentador 4, en donde el valor
resistivo del elemento calentador se conoce expresado como una
proporción de valores resistivos de R5, R6, R8 y una fracción de R7
determinada por potenciómetro digital regulable 21 (también
indicado en el dibujo como U10).
Además, en la Figura 4 se muestra un circuito de
prueba 23 para el circuito de equilibrado 20 para medir la potencia
de disipación en el elemento calentador 4 y para calcular la
temperatura real a partir de la potencia de disipación en el
elemento calentador 4 sobre la base de la característica de
potencia-temperatura predeterminada que se explica
más adelante en relación con la Figura 5.
En esta materialización el circuito de prueba 23
comprende un par de bornes de prueba 24 (uno de ellos a tierra) que
van conectados directamente a los bornes del elemento calentador 4.
Esta disposición proporciona un circuito convenientemente
realizable 21 para calcular la potencia de disipación en la
resistencia mediante la fórmula familiar V_{H} 2/RH, donde
V_{H} es una diferencia del voltaje detectado en todo el elemento
calentador 4. Además, R_{H} indica un valor resistivo real del
elemento calentador 4 derivado del circuito de equilibrado 20.
En una materialización, el circuito de prueba 23
comprende un circuito de cálculo 25 para calcular un valor
desfasado para el potenciómetro 21. Concretamente, el circuito de
prueba 23 comprende un interruptor 26 para activar el circuito de
cálculo 25. En esta materialización, el circuito de prueba 23 mide
una potencia de disipación en condiciones neutras predefinidas.
Al activar el circuito se pone en marcha un
método para calibrar el detector 1 de rastros químicos de la placa
calentadora. Concretamente, al usar el circuito de prueba 23 se
suministra a la placa calentadora 2 un nivel de potencia
predeterminado regulando la resistencia ajustable 21. Cuando el
sensor está situado en un ambiente neutro, se puede relacionar el
nivel de potencia predeterminado con una temperatura establecida
mediante una característica de
resistencia-temperatura conocida de la placa
calentadora. De este modo se puede suministrar un punto de ajuste
para un número predeterminado de temperaturas al procesador 6 para
el elemento calentador 4, poniendo así a cero la resistencia
ajustable 21 según un valor fijado referido a la temperatura
establecida.
En otra materialización, el circuito de prueba
puede conectarse a un circuito de calibrado para suministrar una
tabla de consulta al procesador 6 y calcular así valores de
resistencia preestablecidos a fin de suministrar temperaturas
reales predeterminadas a dicho elemento calentador. En esta
materialización, el detector 1, y especialmente el procesador 6,
pueden ir conectados a un circuito de prueba aparte 23, por ejemplo,
en una configuración de fábrica, indicada por las líneas de puntos
27. En condiciones neutras predefinidas, se suministra una serie de
configuraciones de potencia predeterminadas al elemento calentador 4
regulando la resistencia ajustable 21. Como consecuencia, se
suministra una serie de temperaturas predeterminadas a estas
configuraciones de potencia mediante la característica de potencia
- temperatura de la placa calentadora. De esta forma se puede
suministrar una serie de puntos de ajuste para fijar una temperatura
con el fin de formar una tabla de consulta para la resistencia
ajustable 21 y suministrar así valores de resistencia
preestablecidos para suministrar temperaturas reales
predeterminadas a dicho elemento calentador 4. A continuación se
integra la tabla de consulta en el procesador 6 y, concretamente,
está almacenada en una memoria local a la que se accede cuando se
pone la resistencia ajustable a una temperatura determinada.
Con el detector de rastros químicos de placa
calentadora tal como se describe más arriba se puede medir con
precisión la temperatura del elemento calentador 4 mediante el
circuito de prueba 23 sin tener que depender de la característica
de resistencia - temperatura del elemento calentador, que puede
variar de una muestra a otra. Es de destacar que se puede conseguir
un punto de ajuste de gran precisión para el elemento
calentador.
De este modo, cuando se use este punto de
ajuste, puede fijarse una temperatura ajustando la resistencia del
circuito de equilibrado a una temperatura real conocida. La cantidad
de potencia necesaria para conseguir esta temperatura puede
relacionarse con una energía de reacción de disipación del rastro
químico. En efecto, el circuito de cálculo 25 puede organizarse
para que calcule la diferencia entre una potencia de entrada medida
desde los bornes de prueba 24 y una potencia de entrada calculada.
Esta potencia de entrada calculada puede obtenerse, por ejemplo,
mediante la temperatura real conocida derivada del valor de
resistencia preestablecido 21 después del calibrado y refiriéndolo
a una potencia conocida del elemento calentador 4 mediante la
característica de potencia - temperatura del elemento calentador
4.
De este modo se puede obtener una nueva forma de
caracterizar sustancias químicas, además de poder medir la conducta
del elemento sensor 3.
En otra materialización se usa una modulación de
temperatura dinámica de la placa calentadora 2. En esta
materialización, el procesador 6 se halla configurado para que
suministre una temperatura móvil al elemento calentador 4. De este
modo, al suministrar un perfil de temperatura dinámica predefinida
al elemento calentador 4 y derivar una conducta detectada del
elemento sensor 3, se puede recoger más información del sensor para
pasarla al software de reconocimiento de formas instalado en la
base de datos 13, que con este fin almacena diagramas de conducta
de sustancias químicas predefinidas medidas en condiciones normales
como función de temperatura real conocida y dinámica de
temperatura.
En la Figura 5 se muestra una característica de
potencia - temperatura para dos sensores de placa calentadora 2
idénticos desde un punto de vista macroscópico. Los términos
"idénticos desde un punto de vista macroscópico" indican una
estructura geométrica generalmente idéntica para la placa
calentadora 2, es decir, una estructura conductora generalmente
idéntica para conducir calor desde el elemento calentador 4 y el
elemento sensor 3. Las características de potencia - temperatura
para los dos elementos calentadores W1 y W2 parece que son
sustancialmente idénticas, aunque el elemento calentador W1 muestra
una resistencia de 88,1 ohmios a 22,3ºC y el elemento W3 muestra
una resistencia de 97,4 ohmios a 22,1ºC, una diferencia de más del
10%. La característica de potencia - temperatura es válida en
condiciones normales, a temperatura ambiente y en aire limpio. En
condiciones que no sean las normales se puede medir y usar la
temperatura real para recalcular la característica de potencia -
temperatura. De esta forma puede derivarse la temperatura del
elemento calentador 4 T_{sensor} para un número predeterminado de
ajustes del potenciómetro digital 21 R_{pot}. Con ello se obtiene
un eje de limnímetro que puede convertirse en función mediante una
regresión lineal.
[1]Rpot =
F(T
sensor)
Esta ecuación puede aplicarse a un software
haciendo funcionar el procesador 6 para que pueda preestablecerse
una temperatura con una desviación que sea menor de
3-5ºC.
Claims (11)
1. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1), que comprende:
- -
- una placa calentadora conductora (2) que comprende un elemento calentador (4) que tiene una característica de potencia - temperatura predeterminada
- -
- un circuito de equilibrado (20) que comprende una resistencia ajustable (21) para regular el elemento calentador (4) según un valor de resistencia predefinida (21);
- -
- un procesador (6) para regular la resistencia ajustable (21) con el fin de obtener una temperatura estabilizada en dicha placa conductora calentadora (2); - un circuito de detección (7) para detectar un cambio de resistencia en la placa conductora calentadora (2) en función de la presencia de un rastro químico que reaccione en presencia de la placa conductora (2);
caracterizada por
- -
- un circuito de prueba (23) para medir una potencia de disipación en el elemento calentador (4) y para calcular una temperatura real a partir de la potencia de disipación en el elemento calentador (4) sobre la base de la característica de potencia-temperatura predeterminada.
2. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según la reivindicación 1, en el que el circuito de
prueba (23) puede estar conectado a un circuito de calibrado para
suministrar un tabla de consulta al procesador (6) con el fin de
obtener valores de resistencia preestablecidos (21) que permitan
suministrar temperaturas reales predeterminadas a dicho elemento
calentador (4).
3. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según la reivindicación 1 ó 2, en el que el circuito
de prueba (23) se halla acoplado a un procesador (6) para calcular
una energía de reacción de disipación del rastro químico en forma
de diferencia entre la potencia de entrada medida y una potencia de
entrada calculada a partir del valor de resistencia preestablecida
(21) tras el calibrado.
4. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según cualquiera de las reivindicaciones
precedentes, en el que el procesador (6) está configurado para que
suministre una temperatura móvil al elemento calentador (4).
5. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según cualquiera de las reivindicaciones
precedentes, en el que el circuito de prueba (23) comprende un par
de bornes de prueba (24) que se conectan directamente a los bornes
del elemento calentador (4).
6. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según cualquiera de las reivindicaciones
precedentes, en el que el sensor comprende una memoria (8) para
almacenar al menos una pluralidad de valores de resistencia
detectados en el circuito de detección (7) en relación con una
pluralidad de temperaturas preestablecidas para formar la huella de
un cierto número de sustancias químicas.
7. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según la reivindicación 6, en el que el sensor
comprende un borne de comunicación (1) para remitir las huellas
almacenadas a una base de datos (13) donde se almacenan las huellas
de sustancias químicas predeterminadas con el fin de conseguir una
mejor correspondencia de (14) de dichas huellas con una de dichas
huellas almacenadas y determinar así una sustancia química detectada
en particular.
8. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1) según la reivindicación 6, en el que el sensor
comprende un circuito de comparación para comparar una huella
almacenada con un conjunto predeterminado de huellas previamente
almacenadas de sustancias químicas predeterminadas con el fin de
determinar una sustancia química detectada en particular.
9. Detector de rastros químicos de placa
calentadora (1), en el que la placa conductora calentadora (2)
comprende un sensor MOS.
10. Proceso de calibrado de un
detector(1) de rastros químicos de placa calentadora (1) que
comprende las siguientes etapas:
- -
- suministrar una placa conductora calentadora (2) que comprende un elemento calentador (4) que tiene una característica de potencia-temperatura predeterminada;
- -
- suministrar un circuito de equilibrado (20) que comprende una resistancia ajustable (21) para regular el elemento calentador (4) según un valor de resistencia predefinido (21);
- -
- suministrar un procesador (6) para ajustar la resistencia ajustable (21) de manera que garantice una temperatura estabilizada en dicha placa conductora calentadora (2);
- -
- suministrar un circuito de detección (7) para detectar un cambio resistencia en la placa conductora calentadora (2) en función de la presencia de un rastro químico que reaccione en presencia de la placa conductora (2), y
- -
- suministrar un circuito de prueba (23) para medir una potencia de disipación en el elemento calentador (4) y calcular la temperatura real de la potencia de disipación en el elemento calentador (4) sobre la base de característica de potencia - temperatura predeterminada; proceso que comprende además las siguientes etapas:
- -
- colocar el detector (1) en un ambiente neutro preacondicionado;
- -
- suministrar alimentación eléctrica a la placa calentadora (2) que tiene la característica de potencia - temperatura predeterminada;
- -
- medir, mediante dicho circuito de prueba (23), la potencia suministrada a la placa calentadora (2);
- -
- relacionar la potencia medida en la placa calentadora (2) con una temperatura establecida utilizando la característica de potencia-temperatura de la placa calentadora, y
- -
- poner a cero la resistencia ajustable (21) del circuito de equilibrado (20) según un valor preestablecido en relación con la temperatura establecida.
11. Proceso según la reivindicación 10, en el
que dicho proceso comprende además la utilización de una
característica estimada de resistencia - temperatura de la placa
calentadora para preestablecer valores de resistencia
predeterminados de la resistencia ajustable (21).
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