ES2339643T3 - Detector de radiacion electromagnetica asistido por corriente de portadores mayoritarios. - Google Patents
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Abstract
Un dispositivo detector para la detección de radiación electromagnética incidente sobre un sustrato (10), generando la radiación electromagnética incidente pares de portadores mayoritarios (h+) y minoritarios (e-) en el sustrato (10), comprendiendo el dispositivo detector al menos una región fuente de corriente (13, 14) y al menos una región de drenaje de corriente (12, 15), medios (25, 26) para generar una corriente de portador mayoritario (19) en el sustrato (10), entre la al menos una región fuente de corriente (13, 14) y la al menos una región de drenaje de corriente (12, 15), estando la corriente de portador mayoritario (19) asociada a un campo eléctrico, y al menos una zona de agotamiento de una unión (18) para recoger portadores minoritarios (e-) generados, estando los portadores minoritarios (e-) dirigidos hacia la al menos una zona de agotamiento de la unión (18) bajo la influencia del campo eléctrico asociado a la corriente de portador mayoritario (19).
Description
Detector de radiación electromagnética asistido
por corriente de portadores mayoritarios.
La presente invención se refiere al campo de la
detección de radiación electromagnética que genera portadores
minoritarios en un sustrato semiconductor, tal como por ejemplo,
aunque sin limitación, detección de luz visible e infrarroja. Más
particularmente, la presente invención se refiere a la detección de
radiación electromagnética en un sustrato y más específicamente en
la aplicación de una corriente de portadores mayoritarios para
dirigir cargas de portadores minoritarios
foto-generadas hacia una región de detección, así
como a un aparato para ello.
El documento US-6157035 describe
cómo puede construirse un detector rápido en una tecnología CMOS
(semiconductor complementario de óxido metálico)
convencional. Una máscara de sombra proporciona una modulación
espacial a la luz incidente, y por consiguiente de la luz absorbida
en el sustrato semiconductor. Mediante la medida de la magnitud del
componente de frecuencia espacial en la distribución del portador
minoritario con una frecuencia espacial correspondiente a la de la
máscara de sombra, se proporciona un detector rápido. Por la
presente se mejora la velocidad, pero a cambio de una pérdida de
sensibilidad.
Los documentos WO 98/10255 y WO 99/60629
muestran métodos y dispositivos correspondientes para determinar la
fase y/o amplitud de la luz modulada incidente. Estas estructuras de
píxeles se denominan mezcladores fotónicos. Estas estructuras son
útiles para fabricar cámaras telemétricas dando información de
profundidad o en 3D, como se explica en estas solicitudes de
patente. Aplicando un voltaje de modulación sobre dos células
fotoeléctricas, los portadores minoritarios generados en el sustrato
llegan preferentemente a una de dos zonas de acumulación del
detector. En el documento WO 98/10255, estas zonas de acumulación
son pozos de potencial, creados por un voltaje sobre una compuerta
de acumulación adyacente. En el documento WO 99/60629, estas zonas
de acumulación son uniones pn. Existen, sin embargo, dos
deficiencias principales con estos mezcladores fotónicos. En primer
lugar, para la luz que se absorbe más profundamente en el sustrato,
los portadores minoritarios generados tendrán que difundirse hacia
la superficie antes de que las células fotoeléctricas de modulación
puedan redirigir a estos portadores hacia las zonas de acumulación
de destino. Este proceso de difusión en una distancia de 5 a 20
\mum limita la velocidad con la que puede conseguirse la
desmodulación. En segundo lugar, el porcentaje de portadores
minoritarios detectados que alcanzan efectivamente la zona de
acumulación objetivo está lejos del óptimo.
El documento US-2002/140045
describe un componente semiconductor sensible a la luz que consta de
píxeles, en el que se proporcionan n zonas de puntos dopadas en la
superficie de una región de canal dopada p. Las zonas de puntos de
un píxel están conectadas eléctricamente entre sí por medio de
cables y a un cable colector. Las zonas de puntos forman diodos
semiconductores conectados en paralelo, con lo que los portadores de
carga minoritarios que se generan mediante la incidencia de la luz
en la región del canal pueden detectarse después de haberse
desplazado a las zonas de puntos mediante difusión.
En el documento EP-0883187 se
describe un detector para radiación basado en un semiconductor, con
una pequeña barrera entre el volumen sensible a la radiación en el
semiconductor y las regiones y uniones con circuitos de lectura y
sin ninguna o con una barrera más baja entre el sustrato
semiconductor y las regiones y uniones adaptadas y destinadas a
recoger los portadores de carga generados por radiación en el
sustrato semiconductor. Los portadores de carga se mueven en la
estructura mediante difusión.
El documento WO 02/33817 se refiere a un proceso
para detectar y procesar la amplitud y la fase de ondas de señal.
Una onda de señal incidente entra entre los electrodos de lectura al
material semiconductor fotosensible, en el mismo, y genera
fotohuecos y fotolectrones. Se aplica una señal de modulación a los
electrodos y, dependiendo de la fase/polaridad de la señal en los
electrodos, las fotocargas son leídas por los electrodos.
La presente invención pretende proporcionar una
nueva estructura foto-detectora que tiene un área de
detección de unión pn que puede ser de un orden de magnitud más
pequeño en área que el área sensible a la luz efectiva, rebajando de
este modo considerablemente la capacitancia de la unión pn de
detección. Además, es también un objeto de la invención proporcionar
un método de recogida de portadores foto-generados
que están presentes profundamente en el sustrato, de manera rápida,
para obtener un detector rápido y sensible.
Otro objeto de la invención es proporcionar una
estructura y método de mezclador fotónico que tiene dos o más
salidas del detector, y mediante lo cual los portadores minoritarios
fotogenerados son recogidos en una salida del detector diana. Un
objeto por la presente es conseguir esto de manera muy eficaz, con
alta discriminación y eficacia cuántica. También se pretende
conseguir un ancho de banda de alta detección y alta velocidad de
conmutación entre salidas del detector especificadas.
Los anteriores objetivos se consiguen mediante
un método y un dispositivo de acuerdo con la presente invención.
En un aspecto, la presente invención proporciona
un dispositivo detector para la detección de radiación
electromagnética que incide sobre un sustrato, generando la
radiación electromagnética incidente pares de portadores
mayoritarios y minoritarios en el sustrato. El dispositivo detector
comprende al menos una región fuente de corriente y al menos una
región de drenaje de corriente, medios para generar una corriente de
portador mayoritario en el sustrato entre la al menos una región
fuente de corriente y la al menos una región de drenaje de
corriente, estando el portador mayoritario asociado a un campo
eléctrico y al menos una zona de agotamiento de una unión para
recoger portadores minoritarios generados, estando los portadores
minoritarios dirigidos hacia la al menos una zona de de agotamiento
de la unión, bajo la influencia del campo eléctrico asociado a la
corriente de portador mayoritario.
La al menos una región fuente de corriente puede
estar situada entre la al menos una región de drenaje de corriente y
la al menos una zona de agotamiento de la unión. Como alternativa,
la al menos una zona de agotamiento de la unión puede estar situada
entre la al menos una región fuente de corriente y la al menos una
región de drenaje de corriente. La región fuente de corriente, la
región de drenaje de corriente y la zona de agotamiento pueden estar
situadas sustancialmente en el mismo plano. Con "sustancialmente
en el mismo plano" se entiende que tienen, por ejemplo, una
superficie superior en el mismo plano, puesto que un plano es
bidimensional y por definición no tiene grosor, mientras que la
región fuente de corriente, la región de drenaje de corriente y la
zona de agotamiento son estructuras tridimensionales. La región
fuente de corriente, la región de drenaje de corriente y la zona de
agotamiento pueden estar situadas en la superficie del sustrato del
dispositivo detector.
La región fuente de corriente puede tener forma
anular en el plano del sustrato. Además, la región de drenaje de
corriente puede tener forma anular en el plano del sustrato.
Un dispositivo detector de acuerdo con la
presente invención puede comprender además medios de lectura para
leer los portadores minoritarios recogidos en la zona de
agotamiento. Los medios de lectura pueden comprender un amplificador
de transimpedancia.
En un dispositivo detector de acuerdo con la
presente invención, los portadores minoritarios que hayan alcanzado
la al menos una región fuente de corriente pueden desplazarse hacia
la al menos una zona de agotamiento mediante difusión.
El área sensible de un detector de acuerdo con
la presente invención puede ser sustancialmente mayor que el área de
la al menos una zona de agotamiento.
Un dispositivo detector de acuerdo con la
presente invención puede ser un mezclador fotónico. Los medios para
generar la corriente de portador mayoritario pueden ser
reconfigurables, para ser capaces de generar la corriente de
portador mayoritario en al menos una primera dirección o una segunda
dirección diferente de la primera dirección. La segunda dirección
puede ser opuesta a la primera dirección.
En un segundo aspecto, la presente invención
proporciona el uso de un detector de acuerdo con la presente
invención en una aplicación de telemetría de tiempo de vuelo.
En un tercer aspecto, la presente invención
proporciona un método para la detección de radiación
electromagnética que incide sobre un sustrato, generando la
radiación electromagnética incidente pares de portadores
mayoritarios y minoritarios en el sustrato. El método comprende
generar una corriente de portador mayoritario en el sustrato entre
al menos una región fuente de corriente y al menos una región de
drenaje de corriente, y dirigir a los portadores minoritarios
generados hacia una zona de agotamiento de una unión, bajo la
influencia de la corriente de portador mayoritario generada.
El método puede comprender además recoger los
portadores minoritarios en la zona de agotamiento, y leer los
portadores minoritarios recogidos en la zona de agotamiento.
Un método de acuerdo con la presente invención
puede comprender además generar la corriente de portador mayoritario
para generar al menos en primer lugar la corriente de portador
mayoritario en una primera dirección y para dirigir a los portadores
minoritarios generados hacia una primera zona de agotamiento, y a
partir de ese momento generar la corriente de portador mayoritario
en una segunda dirección, siendo la segunda dirección diferente con
respecto a la primera dirección, para dirigir de este modo a los
portadores minoritarios generados hacia una segunda zona de
agotamiento. La segunda dirección puede ser opuesta a la primera
dirección.
Éstas y otras características, elementos y
ventajas de la presente invención serán evidentes a partir de la
siguiente descripción detallada, tomada junto con los dibujos
adjuntos, que ilustran, a modo de ejemplo, los principios de la
invención. Esta descripción se da como ejemplo solamente, sin
limitar el alcance de la invención. Las cifras de referencia que se
dan a continuación se refieren a los dibujos adjuntos.
La figura 1A muestra una vista superior de un
foto-detector de acuerdo con una primera realización
de la presente invención.
La figura 1B muestra una sección transversal a
lo largo de la línea I-I' del detector ilustrado en
la figura 1A.
La figura 2A muestra un boceto esquemático
simplificado de la vista superior del foto-detector
de la figura 1A.
Las figuras 2B, 2C, 2D y 2E muestran
realizaciones alternativas, concretamente las realizaciones segunda
a quinta, de la presente invención usando el principio de
representación simplificada como en la figura 2A.
La figura 3A muestra una vista superior de una
realización de una estructura de mezclador fotónico, mediante la
cual una corriente de portadores mayoritarios aplicada determina qué
electrones foto-generados se dirigen hacia una unión
pn de detección.
La figura 3B muestra una sección transversal de
la estructura de mezclador fotónico de la figura 3A en la misma
condición de corriente.
La figura 3C muestra una sección transversal de
la estructura de mezclador fotónico de la figura 3A, mediante la
cual la corriente de portadores mayoritarios se invierte,
determinando de este modo qué portadores minoritarios
foto-generados se dirigen hacia otra unión pn de
detección.
Las figuras 4A y 4B muestran bocetos
simplificados de la vista superior de la estructura de mezclador
fotónico de la figura 3A, con las condiciones de corriente de
portadores mayoritarios de la figura 3A y la figura 3C,
respectivamente.
Las figuras 4C y 4D muestran una realización
alternativa de una estructura de mezclador fotónico, usando la
representación simplificada como en las figuras 4A y 4B.
La figura 4E muestra otra realización más de una
estructura de mezclador fotónico que tiene cuatro condiciones de
corriente de portadores mayoritarios que pueden aplicarse, mediante
la cual para cada condición los electrones se dirigen hacia una
conexión de salida del mezclador diferente. Solamente se muestran
una condición de corriente y un nivel de polarización.
En las diferentes figuras, las mismas cifras de
referencia se refieren a los mismos elementos o a elementos
análogos.
La presente invención se describirá con respecto
a realizaciones particulares y en referencia a algunos dibujos, pero
la invención no se limita a esto, sino que solamente está limitada
por las reivindicaciones. Los dibujos descritos son solamente
esquemáticos y no son limitantes. En los dibujos, el tamaño de
algunos de los elementos puede estar exagerado y no dibujado a
escala para fines ilustrativos. Las dimensiones y las dimensiones
relativas no corresponden a reducciones reales para poner en
práctica la invención.
Debe observarse que la expresión "que
comprende", usada en las reivindicaciones, no debe interpretarse
como que está restringido a los medios que se enumeran a
continuación. Por lo tanto, el alcance de la expresión "un
dispositivo que comprende medios A y B" no debe limitarse a
dispositivos constituidos solamente por los componentes A y B. Esto
significa que, con respecto a la presente invención, los componentes
más relevantes del dispositivo son A y B.
Análogamente, debe observarse que el término
"acoplado" no debe interpretarse como que está restringido a
conexiones directas solamente. Por lo tanto, el alcance de la
expresión "un dispositivo A acoplado a un dispositivo B" no
debe limitarse a dispositivos o sistemas en los que una salida del
dispositivo A está conectada directamente a una entrada del
dispositivo B. Esto significa que existe una ruta entre una salida
de A y una entrada de B que puede ser una ruta que incluye otros
dispositivos o medios.
Además, los términos primer, segundo, tercero y
similares en la descripción y en las reivindicaciones, se usan para
distinguir entre elementos similares y no necesariamente para
describir un orden secuencial o cronológico. Debe entenderse que los
términos usados de este modo son intercambiables en circunstancias
apropiadas y que las realizaciones de la invención descritas en este
documento son capaces de operar en otras secuencias diferentes de
las que se describen o se ilustran en este documento.
La invención se describirá mediante una
descripción detallada de varias realizaciones de la invención. Está
claro que pueden configurarse otras realizaciones de la invención de
acuerdo con el conocimiento de expertos en la materia sin alejarse
del auténtico espíritu o enseñanza técnica de la invención, estando
la invención limitada solamente por los términos de las
reivindicaciones adjuntas. Estará claro para un experto en la
materia que la presente invención es también aplicable a
dispositivos similares que pueden configurarse en cualquier
tecnología de transistores, incluyendo por ejemplo, aunque sin
limitarse a, tecnología CMOS, BICMOS, BICMOS Bipolar y SiGe.
Además, los descubrimientos de la presente
invención se explican en referencia a un sustrato p^{-} como
ejemplo, pero la presente invención incluye dentro de su alcance un
dispositivo complementario mediante el cual las regiones p y n se
vuelven regiones n y p, respectivamente. Un experto en la materia
puede hacer dichas modificaciones sin alejarse del auténtico
espíritu de la invención.
La figura 1A muestra una vista superior de una
primera realización de un fotodetector de acuerdo con la presente
invención. Las fuentes 25 y 26 inyectan corriente en los contactos
21 y 23 respectivamente, y drenan corriente en los contactos 20 y 24
respectivamente. Los contactos 20, 21, 23 y 24 se conectan mediante
conducción óhmica a regiones altamente dopadas que tienen un primer
tipo de conductividad, por ejemplo, regiones p^{+} 12, 13, 14 y 15
respectivamente. En un sustrato resistivo, ligeramente dopado que
tiene el primer tipo de conductividad, por ejemplo sustrato p^{-}
10, una corriente de portador mayoritario, en el caso de un sustrato
que es un sustrato p^{-}, una corriente de huecos 19 fluirá desde
la región 13 hasta la región 12, y desde la región 14 hasta la
región 15. La línea I-I' en la figura 1A muestra
donde se realiza la sección transversal para la figura 1B. En la
figura 1B, la corriente de huecos portadores mayoritarios 19 se
muestra mediante líneas continuas, mediante las que la dirección de
la corriente de huecos 19 se indica mediante flechas. En el sustrato
10, donde típicamente se considera que el dopaje es constante, la
corriente de portadores mayoritarios 19 se asocia a un campo
eléctrico, en la dirección de la corriente. Si una radiación
electromagnética incidente tal como luz en forma de un fotón 16
incide dentro de un área sensible 34 del detector, la energía
asociada al fotón 16 es absorbida por el sustrato 10, y tiene lugar
una reacción que genera un par hueco-electrón, en
cierta posición. En el ejemplo ilustrado en la figura 1B, el fotón
16 cae en la parte derecha del área sensible 34. En la figura 1B,
como ejemplo, se considera que la generación del par
hueco-electrón se produce en la ubicación indicada
con un asterisco: "*". El par hueco-electrón
e^{-}/h^{+} será separado por el campo eléctrico que está
presente y que se asocia al flujo de corriente de huecos portadores
mayoritarios 19. El portador mayoritario del par
hueco-electrón e^{-}/h^{+}, en el presente
ejemplo el hueco h^{+}, se volverá indistinguible del "mar"
de portadores mayoritarios, huecos en este ejemplo, de la corriente
de huecos portadores mayoritarios que fluye 19, y seguirá por
ejemplo la trayectoria 30. El portador minoritario del par
hueco-electrón, concretamente en el ejemplo dado el
electrón e^{-}, por el contrario, se moverá en la dirección
opuesta (debido a su carga negativa), impulsado por el mismo campo
eléctrico asociado al flujo de corriente de portadores mayoritarios
19 y sufre colisiones con fotones, generando una trayectoria
errática, como la trayectoria 29. Esta trayectoria errática 29
tiene, sin embargo, un componente general que es opuesto al flujo de
corriente de portadores mayoritarios 19 de los huecos, que dirige al
electrón e^{-} hacia la región p^{+} 14. El componente general
en el movimiento se debe a la deriva en base al campo eléctrico
presente asociado al flujo de corriente de portadores mayoritarios
19, y el comportamiento errático se debe a la difusión, en base a
colisiones con fotones. Muy cerca de la región 14, está provista una
unión pn de detección 18. El portador minoritario, electrón e^{-},
que está dirigido hacia la región 14, tendrá grandes posibilidades
de alcanzar la zona de agotamiento de esta unión 18, y de ser
detectado debido a su comportamiento errático (o difusividad).
Esto formará entonces parte de la fotocorriente
que se extrae del detector a través de la región altamente
conductora (es decir región altamente dopada) que tiene un segundo
tipo de conductividad, por ejemplo la región n^{+} 17, a través
del contacto 22, conectado al circuito de lectura 27. El circuito de
lectura 27 es típicamente un amplificador de transimpedancia, y
estará típicamente integrado en el mismo sustrato 10 que el
detector, evitando de este modo el empaquetado de elementos
parásitos. Para mantener baja la capacitancia de la unión por unidad
de área, la unión pn de detección 18 se sitúa preferentemente entre
un pozo poco dopado del segundo tipo de conductividad, pozo n 33, y
el sustrato del primer tipo de conductividad, sustrato p^{-} 10.
En el interior del pozo n 33, preferentemente, se añade una región
n^{+} 17 para hacer a la varilla detectora formada por la región
n^{+} 17 y al pozo n 33 más conductor. Puesto que la capacitancia
de la unión por unidad de área se mantienen baja, los circuitos
conectados al foto-detector y optimizados para este
foto-detector con baja capacitancia pueden alcanzar
una proporción de salida señal con respecto a ruido
considerablemente mejor y/o características de velocidad
mejoradas.
El pozo n 33 debe estar situado cerca de las
fuentes de corriente de huecos 13 y 14 para aumentar las
probabilidades y la velocidad con la que los electrones se
difundirán en el pozo n 33 a través de la unión pn de detección 18,
y, por lo tanto, para aumentar la sensibilidad del detector. Los
contactos óhmicos sirven en general como centros de recombinación
eficaces para portadores minoritarios, así que los contactos óhmicos
solamente están presentes preferentemente de forma muy localizada,
por ejemplo en una esquina de las regiones p^{+} 13 y 14, como los
contactos óhmicos 21 y 23 como se ilustra en la figura 1A. Si dicho
contacto óhmico estuviera presente en una parte sustancial de estas
regiones p^{+} 13 y 14, los portadores minoritarios, electrones en
el ejemplo dado, se recombinarían probablemente en estos contactos
óhmicos extendidos, en lugar de difundirse hacia la unión pn de
detección 18.
En resumen, los fotones incidentes como el fotón
16 son absorbidos en el sustrato 10. El campo eléctrico asociado al
flujo de corriente de portadores mayoritarios 19 hará que los
portadores minoritarios fotogenerados (que son electrones en el
ejemplo dado) deriven en la dirección opuesta al flujo de corriente
de portadores mayoritarios 19, es decir hacia las regiones fuente 14
y 13 de esta corriente de portadores mayoritarios 19. Por difusión,
finalmente los electrones llegan a la región n^{+} 17 y forman la
corriente detectora que va al circuito de lectura 27. Además de los
fotones, como el fotón del ejemplo 16, una pequeña fracción de los
fotones incidentes será absorbida directamente en la varilla de
detección 17 (región del pozo n 33), sin que se requiera el campo
eléctrico asociado a la corriente de portadores mayoritarios 19 para
el transporte.
De esta manera, la región sensible a los fotones
incidentes se vuelve tan grande como la región 34 que se ilustra en
la figura 1A y en la figura 1B, mientras que la varilla de detección
17 (región del pozo n 33) solamente tiene una pequeña capacitancia
debido a su limitada área de la varilla. Esto puede ser un orden de
magnitud más pequeño que cuando toda el área sensible 34 se cubriera
con una unión pn. Este efecto tiene beneficios similares a enfocar
un ancho haz de luz incidente a través de una lente sobre un área
foto-detectora pequeña. De hecho, el método y
sistema de la presente invención puede denominarse como una "lente
electrónica" para un fotodetector. El ancho área sensible 34,
junto con la unión pn de área pequeña 18 para la detección de los
portadores minoritarios, mejora eficazmente la proporción de señal
respecto a ruido alcanzable. Además, al tener un área sensible más
grande 34, el alineamiento de los medios de entrada de luz con el
área sensible requerirá una menor precisión, rebajando los costes de
fabricación o la precisión del conector (en el caso de conexiones
repetibles).
La velocidad con la que los electrones alcanzan
la varilla de detección 17 depende de la magnitud del campo
eléctrico que está asociado a la corriente de huecos portadores
mayoritarios 19. Un experto en la materia puede usar simuladores de
dispositivo (como ATLAS de Silvaco o MEDICI de Synopsys) y otros
medios de cálculo o de tanteo para determinar el campo que debe
aplicarse para alcanzar cierta velocidad. En general, cuanto mayor
sea el voltaje de las fuentes 25 y 26, mayor será la velocidad. Un
voltaje de 2 V da una distancia de trayectoria de 20 \mum, un
retardo de aproximadamente 5 ns para el movimiento de electrones
minoritarios en un sustrato de silicio 10. Con un voltaje de 2 V y
un área detectora sensible de 40 \mum x 40 \mum, puede obtenerse
una velocidad de aproximadamente 100 MHz en CMOS convencional. La
corriente de portadores mayoritarios requerida 19 depende del área,
la distancia entre, y la anchura y longitud de las regiones 12, 13,
14 y 15. Con los sustratos de CMOS típicos 10 con una resistividad
de 20 ohm x cm, y el área y voltaje mencionados anteriormente, una
corriente asistente de aproximadamente 400 \muA fluiría con un
voltaje aplicado de 2 voltios en las fuentes 25 y 26. Con sustratos
altamente resistivos 10, esta corriente asistente puede hacerse muy
pequeña. Los sustratos de silicio altamente resistivos que tienen
una resistividad de 1000 ohm x cm actualmente no son inhabituales,
rebajando la corriente hasta incluso 8 pA, a aproximadamente la
misma velocidad (puesto que la distribución del campo eléctrico
seguiría siendo más o menos la misma).
Además, cuando la varilla fuente de corriente de
portadores mayoritarios 13 y la varilla de drenaje de corriente de
portadores mayoritarios 12 están separadas por 20 \mum, siendo
ésta la distancia en la dirección X como se muestra en la figura 1A,
la profundidad a la que los portadores siguen experimentando un
campo razonable debido a la corriente de portadores mayoritarios 19
está a aproximadamente un nivel de profundidad D de 20 \mum (en la
dirección Z - véase la figura 1B) desde la parte superior del
sustrato 10. Esto aumenta la eficacia cuántica global del detector,
especialmente en casos en los que la luz penetra profundamente en el
sustrato, como con luz que tiene una longitud de onda de 860 nm. En
este caso, La generación del par hueco-electrón
también se produce a una profundidad de 20 micrómetros. La
tecnología CMOS convencional típicamente sólo ofrece uniones poco
profundas de hasta 2 micrómetros de profundidad. La luz absorbida a
20 micrómetros es difícil de capturar por las uniones, puesto que
los portadores minoritarios generados tienen que difundirse en
primer lugar hasta esta unión poco profunda antes de ser detectados
y convertirse en parte de una foto-corriente a
través de los terminales del detector.
De acuerdo con un aspecto de la presente
invención, el circuito de lectura 27 puede comprender un
amplificador de transimpedancia. Un amplificador de transimpedancia
comprende típicamente un amplificador operacional (opamp) 31 y una
resistencia de retroacción 32. Éste se usa para convertir una
corriente de entrada en un voltaje de salida. Para un ancho de banda
dado, el amplificador de transimpedancia 31, 32 puede estar diseñado
para tener aproximadamente un aumento de transimpedancia 10 veces
mayor, cuando se supone que una capacitancia del detector diez veces
menos se vuelve posible. De esta manera, la sensibilidad global (es
decir, el cambio de voltaje de salida en el nodo de salida 28 del
circuito de lectura 27 por unidad de luz incidente) aumenta hasta
un factor de 10. La proporción de señal respecto a ruido mejora
también, en un factor de 3 a 10, dependiendo de si el ruido se debe
principalmente al ruido de los transistores de entrada en el
amplificador del amplificador de transimpedancia 31 o se debe a la
resistencia de retroacción del amplificador de transimpedancia
32.
Puede usarse el enmascarado electromagnético tal
como regiones metálicas 11 para evitar que la radiación
electromagnética incidente, tal como la luz, penetre en áreas no
deseadas. El área 11 en la figura 1A es un ejemplo de dicha
área.
Preferentemente, hay que tener un cuidado
además, para evitar que la unión pn de detección 18 tenga una
polarización directa (o demasiado directa) mediante la aplicación
del voltaje sobre las regiones fuente de corriente de portadores
mayoritarios adyacentes 13 y 14.
Las figuras 2A a 2E muestran varias
realizaciones de dispositivos de acuerdo con la presente invención.
La figura 2A muestra una representación en vista superior
esquemática simplificada del detector representado en la figura 1A,
con la cual solamente se representa el subconjunto de elementos
necesario. Las gruesas líneas continuas representan las regiones del
primer tipo de conductividad, regiones p^{+} 12, 13, 14, 15, para
aplicar la corriente de portadores mayoritarios. La gruesa línea
discontinua representa la varilla detectora 17 en la región del pozo
n 33. Los voltajes aplicados por las fuentes 25, 26 también se
indican. El voltaje sobre la varilla detectora 17 es "Vdet".
Este voltaje depende de cómo esté polarizado el amplificador de
transimpedancia 31. Típicamente, este voltaje está a la mitad del
voltaje de la fuente de energía. Para un voltaje de la fuente de
energía de 5 V, Vdet es, por lo tanto, típicamente
de 2,5 V.
de 2,5 V.
La figura 2B muestra una segunda realización de
un detector de acuerdo con la presente invención. Éste comprende
solamente una región fuente 40 para la inyección de la corriente de
portadores mayoritarios 19, con, en cada lado de éste, una varilla
detectora 41, 42. En la realización mostrada, la región fuente 40 se
sitúa en el medio del dispositivo. Las varillas detectoras 41, 42
deben estar conectadas en paralelo. Esta configuración mejora la
velocidad de la parte de difusión del proceso de detección, pero
además dobla la capacitancia del detector, puesto que el número de
varillas detectoras 41, 42 se dobla.
Las figuras 2C y 2D ilustran detectores de tipo
rectangular.
Especialmente la realización de la figura 2C se
considera un ejemplo de disposición preferida o mejor modo, puesto
que en esta realización la capacitancia del detector se vuelve
extremadamente baja. En lugar de usar una varilla detectora 17, que
tiene, por ejemplo, una dimensión de 40 \mum x 3 \mum, existe
una unión pn de detección 44 con un área que puede ser tan pequeña
como del orden de solamente 3 \mum x 3 \mum, mientras que el
área de entrada sensible a la luz sigue siendo de 50 \mum x 50
\mum. Una región fuente de corriente 43, que puede ser anular con
una forma rectangular en vista superior, como se ilustra en la
figura 2C, rodea a la unión pn de detección 44. Regiones de drenaje
de corriente 45 están separadas para la región fuente de corriente
43. Las regiones de drenaje de corriente 45 también pueden formar
una región anular con una forma rectangular en vista superior, como
se ilustra en la figura 2C. Como alternativa, no mostrada en los
dibujos, no es necesario que las regiones de drenaje de corriente 45
se toquen entre sí, de modo que puedan proporcionarse diferentes
regiones de drenaje de corriente 45. De la misma manera, pueden
proporcionarse diferentes regiones fuente de corriente 43 alrededor
de la unión pn de detección 44.
El detector de la tercera realización que se
ilustra en la figura 2D tiene en el centro su región fuente de
corriente 43, rodeada por una unión pn de detección 44. En este
caso, la capacitancia del detector es algo mayor, puesto que el área
de la unión pn de detección 44 es algo más grande, pero sigue siendo
baja. Esta configuración mejora la velocidad de la parte de difusión
del proceso de detección, puesto que la región fuente de corriente
43 está rodeada por la unión pn de detección 44.
La figura 2E muestra una quinta realización de
un detector de acuerdo con la presente invención, en la que los
portadores minoritarios, por ejemplo electrones, no son impulsados
al centro, sino al borde del detector. En el medio, la región de
drenaje de corriente 45 puede estar polarizada en un voltaje,
negativo y bajo, de por ejemplo -10 V, sin obstaculizar el
funcionamiento de circuitos fuera del detector. Esto se prefiere
para mayores velocidades en el intervalo del GHz. La(s)
región(es) fuera del primer tipo de conductividad, por
ejemplo un anillo p^{+} 43 como en la figura 2E o diferentes
regiones p^{+}, que suministra la corriente de huecos portadores
mayoritarios 19 puede estar polarizada a un voltaje más alto que el
voltaje negativo de la región de drenaje de corriente 45, a un
voltaje alto, por ejemplo a 0 V o 2 V. Con estas corrientes de
portadores mayoritarios 19 más fuertes aplicadas y, por lo tanto,
campos eléctricos más fuertes, pueden obtenerse hasta velocidades
del GHz, aún con una capacitancia del detector razonablemente
pequeña.
pequeña.
La estructura del dispositivo que se ilustra en
la figura 3 usa los mismos principios que el detector de la figura
1, sin embargo, tiene otra función. Uno de los usos es en
aplicaciones de telemetría de "tiempo de vuelo" (TOF). Los
documentos de la técnica anterior WO 98/10255 y WO 99/60629 explican
los principios generales de las mediciones del tiempo de vuelo para
aplicaciones de telemetría. Una fuente de luz se modula a una
frecuencia en el intervalo de 1 MHz a 1 GHz. La luz ilumina un
objeto, o lugar, y parte de la luz reflejada entra en la cámara de
telemetría a través de una lente enfocada. Midiendo en cada píxel la
fase de la luz incidente, puede estimarse una distancia entre el
píxel y el área de su píxel conjugado (que refleja la luz) en el
lugar. De esta manera, las distancias de objetos y las formas de
objetos pueden estimarse y registrarse.
El problema técnico en el tipo conocido de
telémetros TOF es encontrar una manera de medir la fase de la luz
reflejada de forma exacta. La exactitud de la fase está vinculada
con la precisión de la estimación de la distancia. Cuanto mejor sea
la proporción de señal respecto a ruido, menos ruido, y por lo tanto
error, existe en la distancia estimada. Para este fin, puede
calcularse que puede conseguirse un ruido bajo mezclando la luz
incidente inmediatamente en el detector, en lugar de en un mezclador
electrónico conectado. Un mezclador electrónico es una fuente
inherente de ruido, debido a los transistores que tienen que
funcionar a alta frecuencia y a corrientes de alta polarización y,
por lo tanto, debe evitarse.
La figura 3A ilustra un mezclador fotónico de
acuerdo con una realización de la presente invención, que mezcla
radiación electromagnética incidente de amplitud modulada con una
señal eléctrica aplicada al sustrato 10 mediante la fuente 25, y
emite dos fotocorrientes eléctricas en los nodos de salida Mix1 y
Mix2. La figura 3B muestra una sección transversal a través de la
línea III-III' del dispositivo que se ilustra en la
figura 3A. La señal eléctrica aplicada por la fuente 25, genera una
corriente de portadores mayoritarios, por ejemplo corriente de
huecos portadores mayoritarios 19, a través del sustrato 10. Los
portadores minoritarios, como electrones en un sustrato p 10,
sentirán el campo eléctrico que está asociado a la corriente de
huecos portadores mayoritarios aplicada 19, y derivarán hacia una
primera fuente de portadores mayoritarios, por ejemplo huecos, que
es, en el ejemplo ilustrado, la región p^{+} 61. A continuación se
difundirán en una primera región de detección adyacente, pozo n 67,
y se convertirán en parte de la fotocorriente de salida del punto de
conexión del mezclador izquierdo Mix1. Una posible trayectoria del
electrón es la trayectoria 66, como se ilustra en la figura 3B.
Cuando el voltaje o señal eléctrica aplicada se
invierte, como se ilustra en la figura 3C, la dirección del flujo de
corriente de portadores mayoritarios se invierte, y los portadores
minoritarios derivan hacia la región fuente complementaria, la
varilla p^{+} 62. En adelante, la mayor parte de los portadores
minoritarios, concretamente electrones, se difunden en la segunda
región de detección, pozo n 68, convirtiéndose en parte de la
fotocorriente de salida del punto de conexión del mezclador derecho
MIX2. Una posible trayectoria del electrón es la trayectoria 69,
como se muestra en la figura 3C.
Puede usarse el enmascarado electromagnético tal
como áreas metálicas 60, para bloquear la luz no deseada que, de lo
contrario, sería directamente incidente sobre las regiones de
detección 67, 68.
Este mezclador fotónico tiene una alta eficacia.
Ante todo, el campo eléctrico asociado a la corriente de portadores
mayoritarios 19, que causa la deriva de los portadores minoritarios,
concretamente electrones, en la dirección especificada puede
penetrar profundamente en el sustrato 10. La profundidad depende en
gran medida de la distancia en la dirección X, es decir paralela con
la superficie del sustrato 10, entre las regiones p^{+} 61 y 62,
como con el detector de la presente invención mencionado
anteriormente. Cuanto mayor sea el píxel, es decir mayor sea la
distancia entre las regiones p^{+} 61 y 62, más profundamente
penetra la corriente de portadores mayoritarios 19 y, por lo tanto,
más profundamente penetran los campos eléctricos asociados. Una
distancia de 20 \mum entre las regiones 61 y 62 alojará una luz
que penetra a aproximadamente 20 \mum de profundidad. Esto es útil
para luz infrarroja con una longitud de onda de 860 nm en silicio.
Una velocidad de conmutación y un retardo del tránsito del electrón
del orden de nanosegundos es suficiente para muchas aplicaciones de
telemetría. Cuando la corriente de portadores mayoritarios 19
penetra a la suficiente profundidad para una longitud de onda dada,
puede esperarse además que la eficacia cuántica y la eficacia de
discriminación estén próximas a las óptimas.
Las figuras 4A y 4B son representaciones
esquemáticas simplificadas del mezclador fotónico que se ilustra en
la figura 3A, para las dos condiciones de corriente de portadores
mayoritarios de las figuras 3B y 3C. Las gruesas líneas continuas
representan las regiones p^{+} 61, 62 para aplicar la corriente de
portadores mayoritarios 19. Las gruesas líneas discontinuas
representan varillas detectoras 63, 64 en regiones de detección 67,
68. También se indica un ejemplo voltajes aplicados.
Las figuras 4C y 4D representan una segunda
realización de un mezclador fotónico de acuerdo con la presente
invención, en dos condiciones de corriente de portadores
mayoritarios diferentes. Este mezclador tiene además una región de
drenaje de corriente, por ejemplo formada por un anillo p^{+} o
una pluralidad de regiones p^{+} diferentes (no representadas en
los dibujos), que rodea el área sensible 34, y que siempre está
conectada a un voltaje bajo, por ejemplo GND (tierra) (0 V). Además
hay dos varillas cortas 72, 73 del primer tipo de conductividad, por
ejemplo varillas p^{+}, que están conectadas a un alto voltaje,
por ejemplo 2 V, o desconectadas (flotando). En la figura 4C, La
varilla corta izquierda 72 está conectada a alto voltaje, por
ejemplo 2 V, y emite corriente al sustrato 10, generando líneas de
corriente de una corriente de portadores mayoritarios 19 a dicho
anillo p^{+} de salida 71 conectado al bajo voltaje, por ejemplo a
tierra. Los portadores minoritarios, por ejemplo electrones, son
impulsados por el campo asociado a estas líneas de corriente 19
hacia la varilla corta 72 a alto voltaje, por ejemplo 2 V. A
continuación se difunden hasta una primera varilla de detección
Mix1. La otra varilla corta p^{+} 73 se deja flotando (Alta
impedancia = Hi-Z). Cuando se aplica el alto voltaje
a la varilla corta p^{+} 73 en el anillo, y la varilla corta
p^{+} 72 a la izquierda se deja flotando, los portadores
minoritarios, electrones, son dirigidos a la varilla de detección
Mix2 a la derecha.
Para realizar la estimación de fase típicamente
se aplicaría una fuente de señal eléctrica oscilante 25 al mezclador
fotónico que está en fase, y en adelante (o en un segundo mezclador
fotónico), una que está retardada 90º en fase con respecto a la fase
de la fuente de luz oscilante. Para medir los productos de mezclado,
típicamente se reajustarían los terminales Mix1 y Mix2 a un alto
voltaje por ejemplo 5 Voltios, y a continuación se aplicaría la
fuente oscilante 25 al mezclador, y después de un periodo de
acumulación de medición, se detendría esta oscilación para medir qué
caídas del voltaje integrado en Mix1 y Mix2 se han producido. Estas
caídas de voltaje son entonces un resultado de la acumulación de la
foto-corriente en los nodos Mix1 y Mix2. El nodo
común de caída de voltaje proporcionará a continuación una
indicación del componente incidente de Corriente Continua (DC) de la
luz, mientras que la diferente de voltaje entre Mix1 y Mix2
proporciona la parte del producto de mezclado que se usa para medir
la fase y/o distancia efectiva. El documento WO 98/10255 puede
consultarse para explicar los conceptos de mediciones de TOF, fase y
amplitud con más detalle para aplicaciones de telemetría.
Además, para algunas configuraciones de
medición, puede ser útil diseñar un mezclador fotónico que tenga más
de dos terminales de salida del mezclador. El número de condiciones
de corriente configurables tiene que adaptarse entonces al número de
terminales de salida del mezclador. Un experto en la materia puede
ampliar fácilmente los descubrimientos de esta patente para este
fin.
La figura 4E muestra dicho mezclador fotónico,
que tiene cuatro situaciones de corriente y cuatro salidas del
mezclador. Con esta estructura puede esperarse una detección de fase
más precisa, puesto que puede conseguirse un mezclado a 0, 90, 180 y
270 grados durante un mismo periodo de acumulación de medición y en
la misma área sensible detectora. Para que esto funcione bien,
posteriormente, esto se prefiere si cada región p^{+} se usa como
entrada de corriente, por ejemplo polarizándola a un alto voltaje
de, por ejemplo, 2 V, mientras que las otras 3 regiones p^{+} se
mantienen a un voltaje bajo de, por ejemplo, 0 V. De esta manera,
puede hacerse que la dirección de la corriente de portadores
mayoritarios 19 en el medio del mezclador rote para cumplir con su
fin de mezclado.
Además, un experto en la materia también puede
diseñar otras configuraciones de corriente útiles diferentes de la
de la figura 4E, sin alejarse del alcance de la presente invención.
Por ejemplo, puede considerarse una condición de corriente en la que
dos o más regiones p^{+} se usan simultáneamente como entrada de
corriente.
Cuando se requiriera un gran
foto-detector o mezclador fotónico para alguna
aplicación, el experto en la materia puede considerar colocar dos o
más detectores o mezcladores fotónicos de acuerdo con realizaciones
de la presente invención en paralelo, aumentando de esta manera el
área sensible hasta lo que sea necesario.
Claims (18)
1. Un dispositivo detector para la detección de
radiación electromagnética incidente sobre un sustrato (10),
generando la radiación electromagnética incidente pares de
portadores mayoritarios (h^{+}) y minoritarios (e^{-}) en el
sustrato (10), comprendiendo el dispositivo detector
al menos una región fuente de corriente (13, 14)
y al menos una región de drenaje de corriente (12, 15),
medios (25, 26) para generar una corriente de
portador mayoritario (19) en el sustrato (10), entre la al menos una
región fuente de corriente (13, 14) y la al menos una región de
drenaje de corriente (12, 15), estando la corriente de portador
mayoritario (19) asociada a un campo eléctrico, y
al menos una zona de agotamiento de una unión
(18) para recoger portadores minoritarios (e^{-}) generados,
estando los portadores minoritarios (e^{-}) dirigidos hacia la al
menos una zona de agotamiento de la unión (18) bajo la influencia
del campo eléctrico asociado a la corriente de portador mayoritario
(19).
2. Un dispositivo detector de acuerdo con la
reivindicación 1, en el que la al menos una región fuente de
corriente (13, 14) está situada entre la al menos una región de
drenaje de corriente (12, 15) y la al menos una zona de agotamiento
de la unión (18).
3. Un dispositivo detector de acuerdo con la
reivindicación 1, en el que la al menos una zona de agotamiento de
la unión (41, 42) está situada entre la al menos una región fuente
de corriente (40) y a al menos una región de drenaje de corriente
(12, 15).
4. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que la región
fuente de corriente (43) tiene forma anular en el plano del sustrato
(10).
5. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que la región
de drenaje de corriente (45) tiene forma anular en el plano del
sustrato (10).
6. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, que comprende además
medios de lectura (27) para leer los portadores minoritarios
(e^{-}) recogidos en la zona de agotamiento de la unión (18).
7. Un dispositivo detector de acuerdo con la
reivindicación 6, en el que el medio de lectura (27) comprende un
amplificador de transimpedancia (31).
8. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, mediante el cual los
portadores minoritarios (e^{-}) que han alcanzado la al menos una
región fuente de corriente (13, 14) se desplazan hacia la al menos
una zona de agotamiento de la unión (18) por difusión.
9. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, mediante el cual el
área sensible (34) es sustancialmente mayor que el área de la al
menos una zona de agotamiento de la unión (18).
10. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que el
dispositivo detector es un mezclador fotónico.
11. Un dispositivo detector de acuerdo con la
reivindicación 10, en el que el medio (25, 26) para generar la
corriente de portador mayoritario es reconfigurable, para ser capaz
de generar la corriente de portador mayoritario (19) en al menos una
primera dirección o una segunda dirección diferente de la primera
dirección.
12. Un dispositivo detector de acuerdo con la
reivindicación 11, en el que la segunda dirección es opuesta a la
primera dirección.
13. Un dispositivo detector de acuerdo con
cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en el que la región
fuente de corriente (13, 14), la región de drenaje de corriente (12,
15) y la zona de agotamiento de la unión (18) están situadas
sustancialmente en el mismo plano.
14. Uso de un detector de acuerdo con cualquiera
de las reivindicaciones 10 a 12, en una aplicación de telemetría de
tiempo de vuelo.
15. Un método para la detección de radiación
electromagnética incidente sobre un sustrato (10), generando la
radiación electromagnética incidente pares de portadores
mayoritarios (h^{+}) y minoritarios (e^{-}) en el sustrato (10),
comprendiendo el método generar una corriente de portador
mayoritario (19) en el sustrato (10) entre al menos una región
fuente de corriente (13, 14) y al menos una región de drenaje de
corriente (12, 15), estando la corriente de portador mayoritario
(19) asociada a un campo eléctrico, y dirigir portadores
minoritarios generados hacia una zona de agotamiento de la unión
(18) bajo la influencia del campo eléctrico asociado a la corriente
de portador mayoritario generada (19).
16. Un método de acuerdo con la reivindicación
15, que comprende además recoger los portadores minoritarios
(e^{-}) en la zona de agotamiento de la unión (18).
17. Un método de acuerdo con la reivindicación
16, que comprende además leer los portadores minoritarios (e^{-})
recogidos en la zona de agotamiento de la unión (18).
18. Un método de acuerdo con cualquiera de las
reivindicaciones 15 a 17, que comprende además: generar la corriente
de portador mayoritario (19) para generar en primer lugar al menos
la corriente de portador mayoritario (19) en una primera dirección y
para dirigir los portadores minoritarios generados hacia una primera
zona de agotamiento de la unión, y en adelante generar la corriente
de portador mayoritario (19) en una segunda dirección, siendo la
segunda dirección diferente con respecto a la primera dirección,
para dirigir de este modo a los portadores minoritarios generados
hacia una segunda zona de agotamiento de la unión.
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|---|---|---|---|---|
| US20050038504A1 (en) * | 2003-01-22 | 2005-02-17 | Harry Halleriet | Kit for applying drug coating to a medical device in surgeon room |
| EP1665382B1 (de) * | 2003-09-18 | 2012-12-12 | iC-Haus GmbH | Optoelektronischer sensor und vorrichtung zur 3d-abstandsmessung |
| ITMI20062352A1 (it) * | 2006-12-06 | 2008-06-07 | Milano Politecnico | Struttura fotosensibile al colore di una radiazione luminosa |
| EP2081004A1 (en) * | 2008-01-17 | 2009-07-22 | Vrije Universiteit Brussel | Photospectrometer |
| US7615396B1 (en) * | 2008-04-28 | 2009-11-10 | Eugene Ching Lee | Photodiode stack for photo MOS relay using junction isolation technology |
| EP2116864A1 (en) | 2008-05-09 | 2009-11-11 | Vrije Universiteit Brussel | TOF range finding with background radiation suppression |
| WO2010144616A1 (en) | 2009-06-09 | 2010-12-16 | Mesa Imaging Ag | System for charge-domain electron subtraction in demodulation pixels and method therefor |
| GB2474631A (en) * | 2009-10-14 | 2011-04-27 | Optrima Nv | Photonic Mixer |
| JP5740413B2 (ja) | 2010-01-06 | 2015-06-24 | メサ・イメージング・アー・ゲーMesa Imaging Ag | ピクセルアレイと記憶アレイを別個に備える復調センサ |
| WO2011117161A2 (de) | 2010-03-26 | 2011-09-29 | Iee International Electronics & Engineering S.A. | Lichtsensor mit photoempfindlicher halbleiterstruktur |
| US9410800B1 (en) | 2010-08-02 | 2016-08-09 | Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. | 3D TOF camera with masked illumination |
| GB2486208A (en) * | 2010-12-06 | 2012-06-13 | Melexis Tessenderlo Nv | Demodulation sensor and method for detection and demodulation of temporarily modulated electromagnetic fields for use in Time of Flight applications. |
| FR2977978A1 (fr) * | 2011-07-12 | 2013-01-18 | St Microelectronics Grenoble 2 | Dispositif de transfert de charges photogenerees haute frequence et applications |
| GB2492848A (en) | 2011-07-15 | 2013-01-16 | Softkinetic Sensors Nv | Optical distance measurement |
| US9140795B2 (en) | 2011-09-20 | 2015-09-22 | Mesa Imaging Ag | Time of flight sensor with subframe compression and method |
| DE102012109129B4 (de) | 2011-09-27 | 2017-06-29 | Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. | Sensor-Pixelanordnung und getrennte Anordnung einer Speicherung und Akkumulation mit parallelem Erfassen und Auslesen |
| KR101696335B1 (ko) * | 2012-01-10 | 2017-01-13 | 소프트키네틱 센서스 엔브이 | 다중 스펙트럼 센서 |
| JP6246131B2 (ja) | 2012-01-10 | 2017-12-13 | ソフトキネティック センサーズ エヌブイ | タイムオブフライト信号の処理における又はこれに関する改良 |
| EP2703836B1 (en) | 2012-08-30 | 2015-06-24 | Softkinetic Sensors N.V. | TOF illuminating system and TOF camera and method for operating, with control means for driving electronic devices located in the scene |
| DE102012109548B4 (de) * | 2012-10-08 | 2024-06-27 | pmdtechnologies ag | Auslesegate |
| JP5977366B2 (ja) * | 2013-01-10 | 2016-08-24 | ソフトキネティック センサー エヌブイ | カラー不可視光センサ、例えば、irセンサ、すなわち、マルチスペクトルセンサ |
| DE102013209161B4 (de) | 2013-05-16 | 2025-03-13 | pmdtechnologies ag | Lichtlaufzeitsensor |
| EP2894492B1 (en) | 2014-01-13 | 2020-10-28 | Sony Depthsensing Solutions SA/NV | A method for driving a time-of-flight system |
| EP2960952B1 (en) * | 2014-06-27 | 2019-01-02 | Sony Depthsensing Solutions SA/NV | Majority carrier current assisted radiation detector device |
| TWI679442B (zh) | 2014-12-02 | 2019-12-11 | 新加坡商新加坡恒立私人有限公司 | 深度感測模組及深度感測方法 |
| GB201421512D0 (en) * | 2014-12-03 | 2015-01-14 | Melexis Technologies Nv | A semiconductor pixel unit for simultaneously sensing visible light and near-infrared light, and a semiconductor sensor comprising same |
| US10134926B2 (en) | 2015-02-03 | 2018-11-20 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Quantum-efficiency-enhanced time-of-flight detector |
| TWI723890B (zh) | 2015-08-04 | 2021-04-01 | 光澄科技股份有限公司 | 製造影像感測陣列之方法 |
| EP3341970B1 (en) | 2015-08-27 | 2020-10-07 | Artilux Inc. | Wide spectrum optical sensor |
| US10886309B2 (en) | 2015-11-06 | 2021-01-05 | Artilux, Inc. | High-speed light sensing apparatus II |
| US10254389B2 (en) | 2015-11-06 | 2019-04-09 | Artilux Corporation | High-speed light sensing apparatus |
| US10739443B2 (en) | 2015-11-06 | 2020-08-11 | Artilux, Inc. | High-speed light sensing apparatus II |
| US10418407B2 (en) | 2015-11-06 | 2019-09-17 | Artilux, Inc. | High-speed light sensing apparatus III |
| EP3193190B1 (en) | 2016-01-15 | 2023-04-12 | Sony Depthsensing Solutions N.V. | A detector device with majority current and a circuitry for controlling the current |
| EP3193369B1 (en) | 2016-01-15 | 2021-11-17 | Sony Depthsensing Solutions N.V. | A detector device with majority current and isolation means |
| WO2017150391A1 (ja) * | 2016-03-04 | 2017-09-08 | ソニー株式会社 | 撮像装置及び測距システム |
| KR102391838B1 (ko) | 2016-06-20 | 2022-04-29 | 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 | 드라이버 회로 및 전자 디바이스 |
| EP3497471B1 (en) | 2016-08-12 | 2021-11-24 | Sony Depthsensing Solutions | A demodulator with a carrier generating pinned photodiode |
| BE1025050B1 (fr) | 2016-08-12 | 2018-10-12 | Softkinetic Sensors Nv | Démodulateur doté d’une photodiode pincée génératrice de porteurs et procédé de fonctionnement associé |
| WO2018206606A1 (en) | 2017-05-08 | 2018-11-15 | Vrije Universiteit Brussel | Detector for fast-gated detection of electromagnetic radiation |
| JP7167061B2 (ja) * | 2017-05-08 | 2022-11-08 | フリーイェ・ユニヴェルシテイト・ブリュッセル | 電磁放射線のファーストゲート式検出のための検出器 |
| US20200144436A1 (en) * | 2017-06-26 | 2020-05-07 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Single-photon avalanche diode and method for operating a single-photon avalanche diode |
| JP6761534B2 (ja) * | 2017-08-09 | 2020-09-23 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置、電子装置および固体撮像装置の制御方法 |
| JP7013448B2 (ja) | 2017-08-30 | 2022-01-31 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 撮像素子および撮像装置 |
| US11105928B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-08-31 | Artilux, Inc. | Light-sensing apparatus and light-sensing method thereof |
| US11482553B2 (en) | 2018-02-23 | 2022-10-25 | Artilux, Inc. | Photo-detecting apparatus with subpixels |
| US10886311B2 (en) | 2018-04-08 | 2021-01-05 | Artilux, Inc. | Photo-detecting apparatus |
| US11574942B2 (en) | 2018-12-12 | 2023-02-07 | Artilux, Inc. | Semiconductor device with low dark noise |
| CN114503265B (zh) | 2019-08-28 | 2023-05-23 | 光程研创股份有限公司 | 具有低暗电流的光侦测装置 |
| US12278252B2 (en) | 2019-08-28 | 2025-04-15 | Artilux, Inc. | Photo-detecting apparatus with low dark current |
| US12477856B2 (en) | 2019-08-28 | 2025-11-18 | Artilux, Inc. | Photo-detecting apparatus with low dark current |
| EP3907526B1 (en) | 2020-05-08 | 2024-03-13 | Melexis Technologies NV | A photonic mixer device |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1548877A (en) * | 1975-06-26 | 1979-07-18 | Mullard Ltd | Semiconductor devices |
| AU715284B2 (en) | 1996-09-05 | 2000-01-20 | Rudolf Schwarte | Method and apparatus for determining the phase and/or amplitude information of an electromagnetic wave |
| EP0883187A1 (en) * | 1997-06-04 | 1998-12-09 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | A detector for electromagnetic radiation, pixel structure with high sensitivity using such detector and method of manufacturing such detector |
| EP0875939A1 (en) | 1997-04-30 | 1998-11-04 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | A spatially-modulated detector for electromagnetic radiation |
| DE19821974B4 (de) | 1998-05-18 | 2008-04-10 | Schwarte, Rudolf, Prof. Dr.-Ing. | Vorrichtung und Verfahren zur Erfassung von Phase und Amplitude elektromagnetischer Wellen |
| BR0017356A (pt) * | 2000-10-16 | 2004-08-17 | Rudolf Schwarte | Processo e dispositivo para detectar e processar sinais de onda. |
| US6597025B2 (en) * | 2001-03-15 | 2003-07-22 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Light sensitive semiconductor component |
| US6515903B1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-02-04 | Advanced Micro Devices, Inc. | Negative pump regulator using MOS capacitor |
-
2003
- 2003-09-02 AT AT03077744T patent/ATE456158T1/de not_active IP Right Cessation
- 2003-09-02 EP EP03077744A patent/EP1513202B1/en not_active Expired - Lifetime
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-
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