ES2589905T3 - Aparato para su uso en la formación de operarios con, y la comprobación y la evaluación de, sensores de infrarrojos que son usados para la detección de misiles - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000012549 training Methods 0.000 title claims abstract description 7
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title abstract description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 54
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 35
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 3
- 239000002223 garnet Substances 0.000 claims description 3
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical group [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 2
- JNDMLEXHDPKVFC-UHFFFAOYSA-N aluminum;oxygen(2-);yttrium(3+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Y+3] JNDMLEXHDPKVFC-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910019901 yttrium aluminum garnet Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 14
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 3
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G7/00—Direction control systems for self-propelled missiles
- F41G7/001—Devices or systems for testing or checking
- F41G7/002—Devices or systems for testing or checking target simulators
- F41G7/004—Devices or systems for testing or checking target simulators for infrared seekers
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G7/00—Direction control systems for self-propelled missiles
- F41G7/20—Direction control systems for self-propelled missiles based on continuous observation of target position
- F41G7/22—Homing guidance systems
- F41G7/224—Deceiving or protecting means
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41J—TARGETS; TARGET RANGES; BULLET CATCHERS
- F41J2/00—Reflecting targets, e.g. radar-reflector targets; Active targets transmitting electromagnetic or acoustic waves
- F41J2/02—Active targets transmitting infrared radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/005—Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/005—Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
- H01S5/0085—Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping for modulating the output, i.e. the laser beam is modulated outside the laser cavity
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/3401—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers
- H01S5/3402—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers intersubband lasers, e.g. transitions within the conduction or valence bands
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4031—Edge-emitting structures
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
- Aiming, Guidance, Guns With A Light Source, Armor, Camouflage, And Targets (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Aparato para su uso en la formación de operarios con, y la comprobación y la evaluación de, sistemas de detección de misiles, en el que dichos sistemas de detección de misiles usan sensores infrarrojos que integran la energía incidente durante un período de tiempo finito, en el que dicho aparato comprende: - al menos una fuente (4, 6) de iluminación de infrarrojos para iluminar los sensores, en el que dicho aparato está caracterizado por que - la fuente (4, 6) de iluminación de infrarrojos es una fuente de iluminación con láser de infrarrojos de onda pseudo-continua que incluye un oscilador (4) paramétrico óptico que es bombeado por un láser (6), en el que el láser (6) es un láser granate de itrio y aluminio (YAG), y con el ciclo de trabajo de la señal y la potencia máxima controlados por medio de un circuito de modulación de amplitud de impulso, anchura de impulso e intervalo de repetición de impulsos que comprende un modulador (8) acústico-óptico, - de manera que la fuente (4, 6) de iluminación de infrarrojos con láser funciona a intervalos de repetición más cortos que el período de tiempo finito y el circuito de modulación de amplitud de impulso, anchura de impulso e intervalo de repetición de impulsos modula el ciclo de trabajo de la señal y la potencia máxima de manera que la fuente (4, 6) de iluminación de infrarrojos con láser parezca a los sensores infrarrojos como una firma de misiles real.
Description
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DESCRIPCION
Aparato para su uso en la formacion de operarios con, y la comprobacion y la evaluation de, sensores de infrarrojos que son usados para la detection de misiles
Antecedentes de la invencion
La presente invencion se refiere a un aparato para su uso en la formacion de operarios con, y la comprobacion y la evaluacion de, sensores de infrarrojos para la deteccion de misiles. Mas especialmente, la presente invencion se refiere a un aparato para su uso en la comprobacion y la evaluacion de sensores de infrarrojos, que son usados para la deteccion de misiles y que integran la energla incidente durante un perlodo de tiempo finito.
Se conoce un aparato para su uso en la formacion de operarios con, y la comprobacion y la evaluacion de, sensores de infrarrojos para la deteccion de misiles. El aparato conocido comprende una fuente de iluminacion de infrarrojos para iluminar los sensores. La fuente de iluminacion de infrarrojos puede ser una lampara, tal como por ejemplo una lampara de arco de xenon o una lampara halogena de cuarzo. De manera alternativa, la fuente de iluminacion de infrarrojos puede ser filamentos delgados de carbono o un metal. El aparato comprueba y evalua los sensores de infrarrojos para la deteccion de misiles mediante su iluminacion. Los sensores de infrarrojos para deteccion de misiles pueden estar posicionados, por ejemplo, en una aeronave.
En el aparato conocido indicado anteriormente, el uso de fuentes de iluminacion de infrarrojos, tales como por ejemplo las lamparas o los filamentos delgados, ha demostrado ser un factor limitante en la generation de altas potencias en el intervalo de longitudes de onda del infrarrojo medio de 3 - 5 pm. Mas especlficamente, los problemas asociados con el aparato conocido que usa las lamparas o los filamentos delgados son los siguientes.
1. Requisitos de potencia de entrada elevada para fuentes de alta energla.
2. Los intentos de reducir las longitudes de onda de la banda pueden conducir a problemas de gestion termica.
3. La generacion de longitudes de onda que se extienden mas alla de la banda de infrarrojos requerida puede resultar en condiciones de funcionamiento poco practicas debido a las longitudes de onda generadas, en el que dichas condiciones de funcionamiento poco practicas incluyen aquellas relacionadas con la seguridad de los ojos y con la ocultacion de la fuente.
4. La anchura de haz en cualquier sistema de iluminacion esta limitada por la extension de la fuente y por las restricciones de apertura. Para una cobertura completa de todos los sensores de infrarrojos de alerta de misiles, por ejemplo colocados en una aeronave, se requiere una anchura de haz de aproximadamente 3°. Sin embargo, las anchuras de haz mucho mayores de 3° obtenidas con las fuentes de iluminacion de infrarrojos existentes pueden resultar en una menor densidad de potencia a lo largo del objetivo deseado.
5. Las capacidades de modulation de las lamparas y filamentos calientes son limitadas. Estas capacidades de modulation son adecuadas para los sensores de infrarrojos para deteccion de misiles actuales pero, en general, no tienen la capacidad adecuada para los sensores de infrarrojos para deteccion de misiles desarrollados en el futuro.
6. Las elevadas emisiones electromagneticas, que estan relacionadas con el funcionamiento normal y la fuente de iluminacion de infrarrojos modulada, pueden generarse en magnitudes problematicas. Esto es especialmente un problema para las fuentes de iluminacion de infrarrojos en forma de lamparas.
7. Las fuentes de iluminacion de infrarrojos conocidas no pueden generar suficiente potencia de infrarrojos dentro de las limitaciones de apertura que se aplican. Estas limitaciones de apertura vienen dictadas por la necesidad de presentar una extension de fuente realista al sensor, por ejemplo cuando esta montado en una aeronave. Esto es especialmente cierto cuando se emplean sistemas de obtencion de imagenes.
En el documento US-A-4.173.777 se describe un aparato y un procedimiento de simulation de estelas de misiles y/o aeronaves a reaction. El aparato y procedimiento proporcionan medios para comprobar detectores opticos de misiles y/o de aeronaves a reaccion. Aqul, en lugar de disparar un misil o un motor, se propone la generacion de radiation optica con una intensidad optica y unas caracterlsticas espectrales similares a las de un misil. Mas especlficamente, se usa una lampara de xenon como una fuente optica y se comprueba un detector de infrarrojos. Ademas, la luz generada por la lampara de xenon se propaga a un filtro, con el fin de filtrar la energla optica en el intervalo visible y para prevenir danos en los ojos.
En el documento WO-95/00813-A, se describe un dispositivo de mano con una fuente de luz UV para imitar armas aerotransportadas. En particular, se proporciona una lampara de halogeno de cuarzo como la fuente de luz UV dentro del dispositivo. El dispositivo indicado puede ser usado para comprobar detectores opticos para la deteccion de armas aerotransportadas, en particular para detectar misiles. El dispositivo se construye para ser aplicado en combination con
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detectores UV de armas aerotransportadas.
Un objetivo de la presente invencion es reducir los problemas indicados anteriormente.
Sumario de la invencion
Por consiguiente, en una realization no limitativa de la presente invencion, segun la reivindicacion 1, se proporciona un aparato para su uso en la formation de operarios con, y la comprobacion y la evaluation de, sistemas de detection de misiles que usan sensores infrarrojos que integran la energla incidente durante un periodo de tiempo finito.
El aparato de la presente invencion que comprende las caracterlsticas de la reivindicacion 1 es ventajoso con relation al aparato conocido en el sentido de que usa una fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo- continua. Las ventajas de la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua en comparacion con las fuentes de iluminacion de infrarrojos conocidas, tales como las indicadas anteriormente, son las siguientes.
1. Los sensores de infrarrojos para deteccion de misiles que estan siendo comprobados responden solo a una banda muy estrecha de longitudes de onda. Las fuentes de iluminacion de infrarrojos usadas en la actualidad emiten energla en una banda de longitudes de onda muy amplia. El uso de una fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua ofrece una salida de potencia en banda mucho mayor dentro de una apertura determinada, para una potencia de entrada determinada, resultando en un aparato emisor altamente eficiente.
2. La fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua tiene menores requisitos de alimentation de energla electrica que las fuentes de iluminacion de infrarrojos conocidas usadas en la actualidad. De esta manera, el aparato de la presente invencion tiene bajos requisitos de control de potencia en terminos de conmutacion y, por lo tanto, considerablemente menos problemas de compatibilidad electromagnetica que el caso para las fuentes de iluminacion de infrarrojos conocidas y usadas en la actualidad.
3. La fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua es una fuente de iluminacion de banda estrecha que causa considerablemente menos problemas de seguridad para los ojos que los causados por las fuentes de iluminacion de infrarrojos conocidas y usadas en la actualidad.
4. Las fuentes de laser pulsadas estan disponibles en un amplio intervalo de longitudes de onda de infrarrojos, de manera que las caracterlsticas espectrales de la fuente de iluminacion pueden ser ajustadas de manera eficiente para aplicaciones especlficas. Esto podrla incluir el uso de mas de una fuente para generar un espectro complejo. Esto es especialmente pertinente para los detectores de infrarrojos que usan caracterlsticas espectrales como un discriminador para determinar la veracidad de la fuente de iluminacion.
5. La fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua puede ser modulada a velocidades que exceden las caracterlsticas mas rapidas de interes para un sistema de deteccion de misiles.
6. La fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua puede aproximar fuentes puntuales y los componentes opticos pueden ser disenados para optimizar la formacion de haz para una aplicacion especlfica, maximizando la potencia de la referencia alineacion optica para cualquier anchura de haz determinada.
En una primera realizacion de la presente invencion, el aparato es uno en el que la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua es un oscilador parametrico optico bombeado por un laser.
El laser de bombeo es un laser granate de itrio y aluminio (YAG). Pueden emplearse otros tipos de laser. Un unico oscilador parametrico optico es capaz de proporcionar suficiente potencia en el aparato de la presente invencion.
El circuito de modulation comprende un modulador acustico-optico. Preferiblemente, el modulador acustico-optico esta posicionado antes del oscilador parametrico optico. Dicho posicionamiento permite el uso de moduladores comunes, de bajo coste, de alta eficiencia, en comparacion con los moduladores de baja eficiencia, personalizados, que serlan necesarios para las longitudes de onda mas largas en la salida del oscilador parametrico optico. Preferiblemente, el oscilador parametrico optico es un cristal de niobato de litio polarizado periodicamente, pero pueden emplearse otros osciladores parametricos opticos.
En la primera realizacion del aparato de la invencion, la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo- continua puede incluir al menos un espejo para separar las senales de longitudes de onda no deseadas, al menos un espejo para crear una cavidad para el oscilador parametrico optico, al menos una lente para enfocar el haz laser en el oscilador parametrico optico, y al menos un sumidero de haz para las longitudes de onda no deseadas.
Preferiblemente, hay dos espejos para separar las longitudes de onda no deseadas. Preferiblemente, hay dos espejos
para crear una cavidad para el oscilador parametrico optico. Preferiblemente, hay dos sumideros de haz para las longitudes de onda no deseadas.
El laser puede incluir una unidad optica para conformar el haz con el fin de ajustar la divergencia y el tamano de la apertura de salida requeridos del haz. La unidad optica puede ser una unidad optica facetada. Preferiblemente, la 5 unidad optica facetada es una unidad de espejo facetado.
La unidad de espejo facetada comprende preferiblemente una lente divergente, un reflector y un espejo compuesto facetado para recibir la energla infrarroja reflejada desde el reflector. La unidad de espejo facetada incluye tambien preferiblemente una ventana para sellar el aparato contra los efectos ambientales. En una segunda realizacion de la presente invention, el aparato es uno en el que la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo- 10 continua es un laser de cascada cuantica.
Normalmente, habra una matriz de laseres de cascada cuantica para garantizar que haya suficiente potencia para su uso en el aparato de la invencion. Ademas, debido a la ligera variation en la respuesta espectral entre los laseres de cascada cuantica individuales, una matriz de laseres asegurara una mayor diversidad espectral en caso de que se requiera para una aplicacion particular.
15 En la segunda realizacion de la invencion, el aparato puede incluir medios de colimacion para colimar el haz laser.
El aparato puede ser uno en el que la matriz de laseres de cascada cuantica es una matriz de chips laser de cascada cuantica, y en el que los medios de colimacion comprenden al menos una lente de colimacion para cada uno de los chips de laser de cascada cuantica. Los medios de colimacion pueden comprender tambien al menos una unidad optica facetada para aumentar el tamano de la apertura de salida.
20 Breve descripcion de la invencion
Las realizaciones de la invencion se describiran ahora solamente a modo de ejemplo y con referencia a los dibujos adjuntos, en los que:
La Figura 1 muestra un primer aparato para su uso en la formation de operarios con, y la comprobacion y la evaluation de, sensores de infrarrojos para detection de misiles;
25 La Figura 2 muestra mas detalladamente parte del aparato mostrado en la Figura 1; y
La Figura 3 muestra parte del segundo aparato para su uso en la formacion de operarios con, y la comprobacion y la evaluacion de, sensores de infrarrojos para deteccion de misiles.
Descripcion detallada de realizaciones ejemplares de la presente invencion
Haciendo referencia a las Figuras 1 y 2, en las mismas se muestra un aparato 2 para su uso en la comprobacion y la 30 evaluacion de sensores de infrarrojos que se usan para la deteccion de misiles y que integran la energla incidente durante un perlodo de tiempo finito, segun una realizacion ejemplar de la invencion. El aparato 2 comprende al menos una fuente de iluminacion de infrarrojos para iluminar los sensores. La fuente de iluminacion de infrarrojos esta en forma de un fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua con un ciclo de trabajo de senal y una potencia maxima controlados por medio de un circuito de modulation de amplitud de impulso, de anchura de 35 impulso y de intervalo de repetition de impulsos, de manera que la fuente de iluminacion de infrarrojos funcione a intervalos de repeticion mas cortos que el perlodo de tiempo finito de manera que la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos sea considerada por los sensores infrarrojos como una firma de misil. La fuente de iluminacion con laser de infrarrojos es un oscilador 4 parametrico optico, que es bombeado por un laser 6. El laser 6 es un laser granate de itrio y aluminio (YAG).
40 El circuito de modulacion comprende un modulador 8 acustico-optico para modular y controlar un haz 10 laser para crear un perfil de salida temporal preciso para el haz 10 laser. Tal como se muestra en la Figura 1, el modulador 8 acustico-optico se coloca antes del oscilador 4 parametrico optico. El oscilador 4 parametrico optico esta en forma de un cristal de niobato de litio polarizado periodicamente. El posicionamiento del modulador 8 acustico-optico antes del oscilador 4 parametrico optico es innovador y ventajoso, siendo una practica mas comun la colocation de un 45 modulador acustico-optico despues de un oscilador parametrico optico. Al colocar el modulador 8 acustico-optico antes del oscilador 4 parametrico optico, se obtiene la siguiente ventaja: La longitud de onda que el modulador 8 acustico- opticos debe modular antes del oscilador 4 parametrico optico es mas corta que la longitud de onda preferida despues del modulador 8 acustico-optico. Esto significa que la especificacion optica para el modulador 8 acustico-optico es mas baja cuando es colocado antes del oscilador 4 parametrico optico. Por ejemplo, el coste de un modulador acustico- 50 optico existente en la region de 1 um es significativamente menor que el de un modulador acustico-optico equivalente en el infrarrojo medio.
La cabeza de laser contiene una fuente de laser, una fuente de alimentation y otros componentes necesarios del laser.
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El aparato 2 incluye dos espejos 12, 14 para separar las senales de longitud de onda no deseadas, y dos espejos 16, 18 que forman una superficie curvada para crear una cavidad para el oscilador 4 parametrico optico. Una lente 20 enfoca el haz 10 laser en el oscilador 4 parametrico optico. Hay provistos sumideros 22, 24 de haz para las longitudes de onda no deseadas. Hay provista una unidad 26 optica facetada para conformar el haz 25 en el haz 28 con el fin de establecer la divergencia y el tamano de apertura requeridos.
Tal como se muestra en la Figura 2, la unidad 26 optica facetada es una unidad de espejo facetado que comprende una lente 30 divergente opcional, un reflector 32 opcional, un espejo 34 compuesto facetado y una ventana 36 de salida. El espejo 34 compuesto facetado es para recibir la energla infrarroja reflejada desde el reflector 32, tal como se muestra. En aras de la simplicidad de la ilustracion, el espejo 34 compuesto facetado se ha mostrado con solo cuatro facetas. El numero real de facetas dependera de la anchura de haz final requerida para el haz 28 conformado y el tamano de apertura efectiva y la fidelidad requeridos. La ventana 36 de salida recibe energla infrarroja desde el espejo 34 compuesto facetado tal como se muestra.
Durante el funcionamiento de la unidad 26 optica facetada mostrada en la Figura 2, el espejo 34 compuesto facetado distorsiona la trayectoria optica de cada parte reflejada del haz infrarrojo reflejado desde el reflector 32. La imagen resultante aparece como un numero de fuentes separadas, una para cada faceta. Puede haber, por ejemplo cuarenta facetas. La fuente compuesta, que aparece como una combination de cada fuente, es dispersada a lo largo de toda la apertura. Para su uso con un sensor de infrarrojos en una aeronave, debido a que el sensor no puede resolver espacialmente estos puntos en rango, aparecen como una extension realista de una fuente mas grande. Esta manipulation de la fuente es esencial para que el sensor de infrarrojos no descarte la fuente de iluminacion de infrarrojos como una falsa alarma. Un proposito secundario del espejo 34 compuesto facetado es el de asegurar que el haz de salida tenga una anchura y una altura suficientes para iluminar segun sea necesario, por ejemplo para iluminar una aeronave completa. Debido a su naturaleza inherente, el haz 25 laser es estrecho y solo iluminarla una parte de un objeto deseado, tal como por ejemplo una aeronave, si no fuera alterado opticamente.
Con referencia ahora a la Figura 3, en la misma se muestra parte de un aparato 38 en el que la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos comprende una matriz 40 de laseres 42 de cascada cuantica. La matriz 40 de laseres 42 de cascada cuantica es tal que los laseres 42 de cascada cuantica estan en la forma de chips de laseres de cascada cuantica. El aparato 38 incluye medios 44 de colimacion para colimar el haz 52 laser en el haz 46 laser. Los medios 44 de colimacion comprenden una lente 48 de colimacion separada para cada uno de los chips laser de cascada cuantica. Tal como se muestra en la Figura 3, el aparato 38 comprende tambien una unidad 50 de control de la forma del haz optico.
El numero de laseres 42 de cascada cuantica empleados en la matriz 40 viene dictado por la potencia requerida desde el aparato 38. Las aplicaciones de baja energla pueden requerir tan solo un laser. En las aplicaciones de baja potencia, la apertura del haz 52 laser puede ser aumentada y el haz puede ser conformado usando una o mas unidades opticas facetadas, tal como se ha descrito en la Figura 2. En tales casos, la lente 30 divergente puede no ser necesaria ya que tlpicamente los laseres 42 de cascada cuantica tienen haces 52 de salida divergentes. Las aplicaciones de alta potencia requieren multiples laseres de cascada cuantica y, de esta manera, tienen una apertura optica adecuada en virtud de la naturaleza de la extension espacial de la matriz 40. La Figura 3 representa una aplicacion de alta potencia. El haz 52 que sale desde cada chip 42 laser de cascada cuantica debe ser colimado por una lente 48 de colimacion apropiada. Cada canal de laser de cascada cuantica proporciona una unica apertura optica. A larga distancia, por ejemplo, mas de 500 metros, los sensores, por ejemplo en una aeronave, no pueden resolver el detalle, y la matriz 40 aparece como una unica fuente extendida. Los haces 46 colimados individuales pueden ser expandidos o conformados con elementos opticos 50 adicionales con el fin de cumplir con los requisitos de divergencia y de apertura de haz.
En el aparato 38, la modulation se consigue por medio de circuitos 53 de accionamiento de modulation. Cada laser 42 de cascada cuantica tiene un circuito 53 de accionamiento de modulacion que controla la anchura de impulso, el intervalo de repetition de impulso y la amplitud de impulso. Los laseres 42 de cascada cuantica son capaces de frecuencias de repeticion de impulso muy altas. Dichas frecuencias de funcionamiento son mucho mas rapidas que la constante de tiempo de los sensores de infrarrojos para la detection de misiles, creando un haz de onda pseudo- continua que los sensores determinan como una amenaza realista. El uso de los tres parametros de modulacion en combinacion maximiza el rango dinamico del sistema. Ademas, el uso de la modulacion del ciclo de trabajo para controlar la potencia de salida proporciona una funcion de control casi lineal y repetible de manera que el aparato 38 produzca una fuente mas exacta y reproducible que la que puede conseguirse con un aparato conocido que comprende una fuente de iluminacion de infrarrojos para iluminar los sensores. La potencia individual relativamente baja desde los laseres 42 de cascada cuantica significa que la matriz 40 es necesaria para las aplicaciones mas exigentes, y la matriz 40 puede ser del orden de decenas de laseres 42 de cascada cuantica. El uso de la matriz 40 significa que los impulsos desde los canales individuales pueden estar intercalados, reduciendo de esta manera los requisitos de frecuencia de repeticion de impulsos de cada canal en un factor proporcional al numero de laseres 42 de cascada cuantica en la matriz 40. Por consiguiente, un aumento del tamano de la matriz puede proporcionar mejoras adicionales en el rango dinamico del sistema global.
10
Los efectos atmosfericos pueden influir en la calidad y el rendimiento de un sistema basado en laser mediante un proceso de centelleo. El riesgo de estos efectos es abordado por el aparato 38 mostrado en la Figura 3 mediante las siguientes caracterlsticas.
1. Un numero de fuentes distribuidas espacialmente, que aumentan la extension efectiva de la fuente.
2. La apertura/el tamano de lente individual se maximiza para cada canal.
3. La intercalacion de impulsos asegura que no haya interferencia entre canales.
4. La banda ancha, la naturaleza multimodal de cada canal de laser de cascada cuantica, junto con una duracion de impulso corta, reduce la longitud de coherencia con relacion a la de un laser convencional.
Debe apreciarse que las realizaciones de la invencion descritas anteriormente con referencia a los dibujos adjuntos han sido proporcionadas solamente a modo de ejemplo y que pueden efectuarse modificaciones a las mismas.
Claims (13)
- 510152025303540REIVINDICACIONES1. Aparato para su uso en la formacion de operarios con, y la comprobacion y la evaluacion de, sistemas de deteccion de misiles, en el que dichos sistemas de deteccion de misiles usan sensores infrarrojos que integran la energla incidente durante un perlodo de tiempo finito, en el que dicho aparato comprende:- al menos una fuente (4, 6) de iluminacion de infrarrojos para iluminar los sensores, en el que dicho aparato esta caracterizado por que- la fuente (4, 6) de iluminacion de infrarrojos es una fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua que incluye un oscilador (4) parametrico optico que es bombeado por un laser (6), en el que el laser (6) es un laser granate de itrio y aluminio (YAG), y con el ciclo de trabajo de la senal y la potencia maxima controlados por medio de un circuito de modulacion de amplitud de impulso, anchura de impulso e intervalo de repeticion de impulsos que comprende un modulador (8) acustico-optico,- de manera que la fuente (4, 6) de iluminacion de infrarrojos con laser funciona a intervalos de repeticion mas cortos que el perlodo de tiempo finito y el circuito de modulacion de amplitud de impulso, anchura de impulso e intervalo de repeticion de impulsos modula el ciclo de trabajo de la senal y la potencia maxima de manera que la fuente (4, 6) de iluminacion de infrarrojos con laser parezca a los sensores infrarrojos como una firma de misiles real.
- 2. Aparato segun la reivindicacion 1, en el que el modulador (8) acustico-optico esta posicionado antes del oscilador (4) parametrico optico.
- 3. Aparato segun la reivindicacion 1 o la reivindicacion 2, en el que el oscilador (4) parametrico optico es un cristal de niobato de litio polarizado periodicamente.
- 4. Aparato segun una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, en el que la fuente de iluminacion con laser de infrarrojos de onda pseudo-continua incluye al menos un espejo (12, 14) para separar las senales de longitudes de onda no deseadas, al menos un espejo (16, 18) para crear una cavidad para el oscilador (4) parametrico optico, al menos una lente (20) para enfocar el haz (10) laser en el oscilador (4) parametrico optico, y al menos un sumidero (22, 24) de haz para las longitudes de onda no deseadas.
- 5. Aparato segun la reivindicacion 4, en el que hay dos espejos (12, 14) para separar las longitudes de onda de haz no deseadas.
- 6. Aparato segun la reivindicacion 4 o la reivindicacion 5, en el que hay dos espejos (16, 18) para crear una cavidad para el oscilador (4) parametrico optico.
- 7. Aparato segun una cualquiera de las reivindicaciones 4 a 6, en el que hay dos sumideros (22, 24) de haz para las longitudes de onda no deseadas.
- 8. Aparato segun cualquiera de las reivindicaciones 1 a 7, y que incluye medios (44) de colimacion para colimar el haz (52) laser.
- 9. Aparato segun cualquiera de las reivindicaciones 1 a 8, en el que el laser incluye al menos una unidad (26) optica para expandir el haz para aumentar el tamano de la apertura de salida.
- 10. Aparato segun la reivindicacion 9, en el que la unidad (26) optica es una unidad optica facetada.
- 11. Aparato segun la reivindicacion 10, en el que la unidad optica facetada es una unidad de espejo facetada.
- 12. Aparato segun la reivindicacion 11, en el que la unidad de espejo facetada comprende al menos una lente (30) divergente, al menos un reflector (32) y al menos un espejo (34) compuesto facetado para recibir la energla infrarroja reflejada desde el reflector (32).
- 13. Aparato segun la reivindicacion 12, y que incluye una ventana (36) para sellar el aparato contra los efectos ambientales.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB0607655 | 2006-04-18 | ||
| GBGB0607655.8A GB0607655D0 (en) | 2006-04-18 | 2006-04-18 | Apparatus for use in the testing and evaluation of infrared missile warning sensors |
| PCT/IB2007/000994 WO2007119163A2 (en) | 2006-04-18 | 2007-04-17 | Apparatus for use in operator training with, and the testing and evaluation of, infrared sensors which are for missile detection |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2589905T3 true ES2589905T3 (es) | 2016-11-17 |
Family
ID=36660206
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES07734313.5T Active ES2589905T3 (es) | 2006-04-18 | 2007-04-17 | Aparato para su uso en la formación de operarios con, y la comprobación y la evaluación de, sensores de infrarrojos que son usados para la detección de misiles |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7999228B2 (es) |
| EP (1) | EP2013564B8 (es) |
| JP (1) | JP2009534646A (es) |
| AU (1) | AU2007238353A1 (es) |
| CA (1) | CA2649455A1 (es) |
| DK (1) | DK2013564T3 (es) |
| ES (1) | ES2589905T3 (es) |
| GB (2) | GB0607655D0 (es) |
| HU (1) | HUE029477T2 (es) |
| IL (1) | IL194838A (es) |
| LT (1) | LT2013564T (es) |
| PL (1) | PL2013564T3 (es) |
| PT (1) | PT2013564T (es) |
| SI (1) | SI2013564T1 (es) |
| WO (1) | WO2007119163A2 (es) |
| ZA (1) | ZA200809509B (es) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8082832B1 (en) * | 2007-05-14 | 2011-12-27 | Lockheed Martin Corporation | Missile system using two-color missile-signature simulation using mid-infrared test source semiconductor lasers |
| US8147129B2 (en) * | 2009-04-08 | 2012-04-03 | Analog Devices, Inc. | Apparatus for testing infrared sensors |
| US20110164191A1 (en) * | 2010-01-04 | 2011-07-07 | Microvision, Inc. | Interactive Projection Method, Apparatus and System |
| US9255841B2 (en) * | 2012-04-30 | 2016-02-09 | Pendar Technologies, Llc | Spectroscopy systems and methods using quantum cascade laser arrays with lenses |
| JP2015197331A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 三菱重工業株式会社 | 光学試験装置 |
| US10348050B2 (en) | 2016-02-04 | 2019-07-09 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Nd3+fiber laser and amplifier |
| US10033148B2 (en) * | 2016-02-04 | 2018-07-24 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Waveguide design for line selection in fiber lasers and amplifiers |
| US10437132B1 (en) * | 2018-03-20 | 2019-10-08 | Raytheon Company | Methods and apparatus for acousto-optic non-uniformity correction and counter-countermeasure mechanisms |
| CN113744516B (zh) * | 2021-09-10 | 2023-12-22 | 广东朝歌智慧互联科技有限公司 | 一种遥控器红外学习方法、装置、遥控器及存储介质 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4173777A (en) * | 1977-06-01 | 1979-11-06 | Cincinnati Electronics Corporation | Jet aircraft and/or missile plume simulator |
| ZA827687B (en) | 1981-10-22 | 1984-06-27 | Ae Plc | Plastics alloy compositions |
| DE3238897C2 (de) * | 1982-10-21 | 1985-02-07 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Testeinrichtung für IR-Suchköpfe von Flugkörpern |
| US4607849A (en) * | 1985-03-07 | 1986-08-26 | Southwest Aerospace Corporation | Jet exhaust simulator |
| JPH05187795A (ja) * | 1992-01-08 | 1993-07-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 赤外線画像発生装置 |
| WO1995000813A1 (en) | 1993-06-25 | 1995-01-05 | The Commonwealth Of Australia | Maw flight line test set |
| JPH07139898A (ja) * | 1993-11-12 | 1995-06-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 赤外線目標発生装置 |
| GB9519897D0 (en) * | 1995-09-29 | 1995-11-29 | Secr Defence | Dynamic infrared scene projector |
| US5693951A (en) * | 1995-12-11 | 1997-12-02 | Northrop Grumman Corporation | Missile launch and flyout simulator |
| JPH09246644A (ja) * | 1996-03-13 | 1997-09-19 | Rikagaku Kenkyusho | 赤外光発生装置 |
| US5756992A (en) * | 1996-07-25 | 1998-05-26 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Blackbody simulating apparatus for calibrating an infrared imaging device |
| JP2892329B2 (ja) * | 1997-04-03 | 1999-05-17 | 防衛庁技術研究本部長 | 波長変換レ−ザ装置 |
| DE19745785C2 (de) | 1997-10-16 | 2002-12-05 | Eads Deutschland Gmbh | Laserstrahlungsquelle für ein DIRCM-Waffensystem |
| GB2400644B (en) * | 2000-09-20 | 2005-02-09 | Elettronica Systems Ltd | Apparatus for the stimulation of a misile approach warning system by electro-optical infrared signal generation |
| WO2003062773A1 (en) * | 2002-01-24 | 2003-07-31 | Pei Electronics, Inc. | Compact integrated infrared scene projector |
| US6765663B2 (en) * | 2002-03-14 | 2004-07-20 | Raytheon Company | Efficient multiple emitter boresight reference source |
| US7583715B2 (en) * | 2004-06-15 | 2009-09-01 | Stc.Unm | Semiconductor conductive layers |
-
2006
- 2006-04-18 GB GBGB0607655.8A patent/GB0607655D0/en not_active Ceased
-
2007
- 2007-04-16 GB GB0707289A patent/GB2437395B/en active Active
- 2007-04-17 AU AU2007238353A patent/AU2007238353A1/en not_active Abandoned
- 2007-04-17 WO PCT/IB2007/000994 patent/WO2007119163A2/en not_active Ceased
- 2007-04-17 EP EP07734313.5A patent/EP2013564B8/en active Active
- 2007-04-17 LT LTEP07734313.5T patent/LT2013564T/lt unknown
- 2007-04-17 DK DK07734313.5T patent/DK2013564T3/en active
- 2007-04-17 JP JP2009505982A patent/JP2009534646A/ja active Pending
- 2007-04-17 US US12/297,588 patent/US7999228B2/en active Active
- 2007-04-17 HU HUE07734313A patent/HUE029477T2/en unknown
- 2007-04-17 PL PL07734313T patent/PL2013564T3/pl unknown
- 2007-04-17 PT PT77343135T patent/PT2013564T/pt unknown
- 2007-04-17 CA CA002649455A patent/CA2649455A1/en not_active Abandoned
- 2007-04-17 SI SI200731824A patent/SI2013564T1/sl unknown
- 2007-04-17 ES ES07734313.5T patent/ES2589905T3/es active Active
-
2008
- 2008-10-22 IL IL194838A patent/IL194838A/en active IP Right Grant
- 2008-11-06 ZA ZA200809509A patent/ZA200809509B/xx unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IL194838A (en) | 2013-02-28 |
| ZA200809509B (en) | 2009-09-30 |
| GB0607655D0 (en) | 2006-06-28 |
| IL194838A0 (en) | 2009-08-03 |
| WO2007119163A3 (en) | 2007-12-21 |
| EP2013564B1 (en) | 2016-06-08 |
| JP2009534646A (ja) | 2009-09-24 |
| US20090194697A1 (en) | 2009-08-06 |
| GB0707289D0 (en) | 2007-05-23 |
| LT2013564T (lt) | 2016-10-10 |
| US7999228B2 (en) | 2011-08-16 |
| CA2649455A1 (en) | 2007-10-25 |
| EP2013564A2 (en) | 2009-01-14 |
| AU2007238353A1 (en) | 2007-10-25 |
| HUE029477T2 (en) | 2017-02-28 |
| EP2013564B8 (en) | 2016-07-27 |
| SI2013564T1 (sl) | 2017-02-28 |
| PL2013564T3 (pl) | 2017-01-31 |
| GB2437395B (en) | 2011-01-12 |
| DK2013564T3 (en) | 2016-09-19 |
| WO2007119163A2 (en) | 2007-10-25 |
| PT2013564T (pt) | 2016-09-13 |
| GB2437395A (en) | 2007-10-24 |
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