ES2942536T3 - Procedimiento para comprobar un dispositivo láser - Google Patents

Abstract

La invención se refiere a un método para probar un dispositivo láser (10) que está diseñado para proporcionar radiación láser pulsada enfocada, cuya posición de enfoque (18) puede variar tanto en la dirección de propagación de la radiación láser como perpendicular a ella. El dispositivo láser comprende un elemento de contacto (30) que es transparente a la radiación láser y tiene una superficie de apoyo (34) sobre la que se coloca un objeto a tratar. En el transcurso del método, un objeto de prueba (36) que es transparente a la radiación láser en al menos un área de tratamiento se coloca contra la superficie de apoyo del elemento de contacto. Luego, la radiación láser se dirige dentro del objeto de prueba que descansa sobre la superficie de apoyo, y la posición de enfoque se mueve de acuerdo con un patrón de prueba predefinido para producir estructuras de tratamiento permanentes en el objeto de prueba. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN

Procedimiento para comprobar un dispositivo láser

La invención se ocupa de métodos para comprobar un dispositivo láser utilizable para el procesamiento de objetos, el cual está diseñado para la emisión de radiación láser pulsada y enfocada. En particular, los métodos deben posibilitar una comprobación de la precisión de posicionamiento del foco del haz de la radiación láser.

Para el procesamiento de objetos en la profundidad del material del objeto es conocido utilizar radiación láser de pulsos ultracortos con duraciones de los pulsos en el intervalo de femtosegundos (eventualmente hasta el intervalo de picosegundos de un dígito) que en el enfoque pueden provocar una ruptura óptica inducida por láser y, resultante de ello, una fotodisrupción limitada esencialmente al área de enfoque. Premisa para ello es una transparencia del objeto procesado para la radiación láser, la cual se da, por ejemplo, en procesamientos del ojo humano por encima de una longitud de onda de aproximadamente 300 nm. En el caso del procesamiento por láser del ojo humano se emplea radiación láser de Fs, en particular para producir cortes en la córnea u otras partes de tejido del ojo, por ejemplo en el marco de un tratamiento LASIK (LASIK: queratomileusis in-situ asistida por láser) para producir un colgajo, en el caso de una extracción lenticular de la córnea para producir una laminilla intracorneal lenticular o en el caso de una queratoplastia de la córnea para recortar un trozo de tejido de la córnea a reemplazar o a trasplantar.

En el caso de todas estas formas de procesamiento se requiere una elevada precisión de posicionamiento del foco láser en las tres coordenadas en el espacio en el tejido objetivo, en donde actualmente requisitos habituales de precisión prevén unos pocos pm y en el mejor caso posible permiten tolerancias de posicionamiento de solo 1 o 2 pm.

Al menos los dispositivos láser de Fs empleados en la cirugía láser del ojo humano poseen a menudo una unidad de punto de corte mecánica, denominada ocasionalmente adaptador de paciente, con un elemento de contacto transparente para la radiación láser que presenta una superficie de contacto, la cual se ha de poner en contacto de apoyo plano con la superficie del ojo o, en general, con el objeto a procesar. La unidad de punto de corte es, por ejemplo, un módulo intercambiable, el cual puede ser acoplado a una óptica de enfoque del dispositivo láser. El elemento de contacto con su superficie de contacto puede servir como referencia de posicionamiento para el ajuste de la posición del foco del haz. Al apoyar el ojo en el elemento de contacto, es posible - dando por hecho una referencia precisa de la posición del foco con respecto a la superficie de contacto - un procesamiento preciso del ojo.

La invención tiene como objetivo proporcionar al usuario de un dispositivo láser de Fs un test rutinario que posibilite una verificación sencilla de la precisión del posicionamiento del foco, en particular en la dirección de propagación de la radiación láser (en lo que sigue denominada dirección z). Preferiblemente, el test y su resultado deben poder ser documentados de manera sencilla.

El documento US 2006/0114469 A1 propone, para la comprobación de la posición en el espacio y la orientación de la superficie de contacto de un elemento de contacto configurado como placa de aplanación de un dispositivo láser, mover el foco del haz a lo largo de órbitas circulares predefinidas y registrar con un fotodetector chispas de plasma que aparecen cuando el foco en el borde de la placa de aplanación incide sobre ésta.

El documento WO 2009/059251 A2, que representa el preámbulo de la reivindicación 1, enseña en un ejemplo de realización un procedimiento para el ajuste en el espacio preciso de un láser de femtosegundos y un sistema de formación de imágenes basado en OCT para empleo en operaciones de los ojos. El ajuste tiene lugar mediante un objetivo o fantasma cilindrico previamente calibrado, el cual presenta una estructura de rejilla en 3D, con ayuda de la cual se determinan la posición del punto láser y la posición del sistema de coordenadas de la OCT. Con el fin de llevar a cabo el ajuste, en el fantasma se generan, con ayuda del láser, primeramente estructuras de marcas en forma de una rejilla en 3D y, a continuación, éstas se comparan con el sistema de coordenadas de la OCT.

Para estado de la técnica adicional se remite al documento US 2004/070761 A1 y al documento WO 2008/040436 A1.

Frente a ello, la invención proporciona un procedimiento según la reivindicación 1 para comprobar la precisión del posicionamiento del foco de un dispositivo láser diseñado para la emisión de radiación láser pulsada y enfocada, cuya posición del foco puede ser regulada tanto en como transversalmente a la dirección de propagación de la radiación láser, en donde el dispositivo láser presenta un elemento de contacto transparente para la radiación láser con una superficie de apoyo para el apoyo de un objeto a procesar, en donde el procedimiento comprende las etapas:

• colocar un objeto de ensayo transparente para la radiación láser al menos en una zona de procesamiento en la superficie de apoyo,

• irradiar la radiación láser en el objeto de ensayo apoyado en la superficie de apoyo y, con ello, mover la posición del foco de acuerdo con un patrón de ensayo predefinido para generar estructuras de procesamiento permanentes en el objeto de ensayo, en donde las estructuras de procesamiento comprenden al menos una primera estructura de decoloración que contrasta ópticamente con zonas de material circundantes del objeto de ensayo, la cual en el objeto de ensayo asciende a lo largo de una dirección de extensión de la estructura que discurre transversalmente, en particular en línea recta oblicuamente, a la dirección de propagación de la radiación láser hasta una superficie exterior del objeto de ensayo orientada hacia la superficie de apoyo, en donde las estructuras de procesamiento comprenden, además, una segunda estructura de decoloración que contrasta ópticamente con zonas de material circundantes del objeto de ensayo, la cual forma una o más marcas de referencia para una zona de punción nominal de la primera estructura de decoloración a través de la superficie exterior del objeto de ensayo, y en donde se comprueba si la primera estructura de decoloración perfora la superficie exterior del objeto de ensayo por dentro o por fuera de una zona de punción.

La invención proporciona al usuario un método sencillo de aplicar, con el que puede comprobar en la rutina diaria si el dispositivo láser cumple con los requisitos establecidos sobre la precisión de posicionamiento del foco del haz. Para este ensayo se proporciona un objeto de ensayo (prueba de referencia) adecuado, el cual, después de llevar a cabo el ensayo, puede ser conservado y archivado a largo plazo. Dado que en el marco del ensayo se generan en el objeto de ensayo estructuras de procesamiento duraderas, el test y su resultado también se pueden comprender sin más en un momento posterior. El objeto de ensayo puede ser, por ejemplo, en forma de disco o de placa. Como material del objeto de ensayo transparente para la radiación láser se adecua, por ejemplo, PMMA (poli(metacrilato de metilo)), si bien no se excluyen en absoluto otros materiales, en particular otros materiales de plástico transparentes y no absorbentes.

Si aquí se habla de una decoloración, ésta no ha de entenderse como indicación de la formación o modificación de un color verdadero. Toda vez que la energía de radiación irradiada puede conducir a una fotodisrupción local del material del objeto de ensayo, la decoloración puede consistir, por ejemplo, en un simple oscurecimiento (ennegrecimiento) local o en la formación de un punto turbio lechoso. La decoloración puede consistir, por lo tanto, en una variación de la claridad local o en una variación de la escala de grises del material del objeto de ensayo mediante una modificación arbitraria del material desencadenada por la radiación láser. En cualquier caso, en el caso de esta ejecución la interacción de la radiación láser con el material del objeto de ensayo determina la formación de una zona detectable a simple vista y/o un sistema de reconocimiento de la imagen basado en la cámara, que destaca ópticamente con respecto a las zonas de material circundantes del objeto de ensayo y, de manera correspondiente, forma un contraste óptico con estas zonas de material circundantes.

La primera estructura de decoloración puede representar, por ejemplo, un patrón de bandas a base de una pluralidad de bandas de decoloración consecutivas a lo largo de la dirección de extensión de la estructura. Alternativamente, la primera estructura de decoloración puede representar una superficie de decoloración plana que asciende oblicuamente a la dirección de propagación de la radiación láser hasta la superficie exterior del objeto de ensayo.

En el caso de la ejecución de la primera estructura de decoloración como patrón de bandas, las bandas de decoloración están orientadas con el plano de sus bandas preferiblemente ortogonalmente con respecto a la dirección de propagación de la radiación. Bandas consecutivas por pares pueden tener en este caso una distancia mutua en la dirección de propagación de la radiación de a lo sumo 10 gm, mejor a lo sumo 8 gm, todavía mejor a lo sumo 6 gm y, por ejemplo, 5 gm. En el caso de observar una proyección del patrón de bandas en un plano ortogonal con respecto a la dirección de propagación de la radiación, bandas consecutivas por pares pueden tener una distancia mutua. De hecho, no se excluye que en el caso de una observación de la proyección de este tipo bandas consecutivas por pares no estén separadas esencialmente entre sí.

Dependiendo de la posición de la zona de punción de la primera estructura de decoloración con respecto a las marcas de referencia es posible proporcionar un dictamen sobre la calidad de la calibración z del dispositivo láser. Ventajosamente, las marcas de referencia marcan una zona de punción nominal de la primera estructura de decoloración mediante la superficie exterior del objeto de ensayo. En función de si la primera estructura de decoloración punciona la superficie exterior del objeto de ensayo por dentro o por fuera de la zona de punción nominal, el ensayo se puede calificar de superado o bien no superado. Una evaluación de este tipo es particularmente sencilla tanto para el usuario como para un sistema de evaluación automatizado y basado en cámara. Para el marcaje de la zona de punción nominal, las marcas de referencia pueden formar, por ejemplo, un par de líneas de marcaje que discurren una junto a otra paralelamente a distancia.

El patrón de ensayo puede prever la generación de una tercera estructura de decoloración que contrasta ópticamente con respecto a zonas de material circundantes del objeto de ensayo, la cual discurre junto al límite exterior de un campo de posicionamiento para la posición del foco, disponible predefinido y ortogonal con respecto a la dirección de propagación de la radiación. Este campo de posicionamiento disponible representa el intervalo de exploración máximo en el que el foco del haz puede ser ajustado nominalmente en un plano transversal con respecto a la dirección de propagación de la radiación (en lo que sigue denominado plano x,y). Los límites de este intervalo de exploración pueden definirse, por ejemplo, por circunstancias constructivas o estructurales de otro tipo del escáner utilizado para la desviación x,y de la radiación láser y/o mediante especificaciones técnicas de control. Frecuentemente, el intervalo de exploración máximo en el plano x,y está definido por un círculo. Al ser generada la tercera estructura de decoloración directamente en el límite exterior del intervalo de exploración x,y máximo nominalmente disponible, se puede reconocer fácilmente si el intervalo de exploración máximo puede ser explorado realmente por el escáner. Si se manifiestan, a saber, interrupciones en la tercera estructura de decoloración, esto es un indicio de que en la zona de interrupción el intervalo de exploración máximo nominalmente disponible no puede ser aprovechado realmente por completo.

Preferiblemente, el objeto de ensayo está hecho, al menos en su zona de procesamiento, de un material transparente en el intervalo de longitudes de onda visible y en el caso de la longitud de onda de la radiación láser.

El objeto de ensayo puede estar configurado homogéneo al menos en su zona de procesamiento. Alternativamente, es imaginable que el objeto de ensayo esté estructurado multicapa al menos en su zona de procesamiento y que la reacción de interacción sobre la radiación láser irradiada sea distinta en diferentes capas de material del objeto de ensayo.

El procedimiento puede comprender, además, una liberación del dispositivo láser para un tratamiento por láser del ojo humano, en el caso de que se compruebe un éxito de la comprobación del dispositivo láser, o un bloqueo del dispositivo láser para un tratamiento por láser del ojo humano, en el caso de que se compruebe un fracaso de la comprobación del dispositivo láser. Este liberación o este bloqueo puede provocarse mediante una unidad de control controlada por programa del dispositivo láser, en donde un bloqueo del dispositivo láser puede neutralizarse, por ejemplo, solo mediante una subsiguiente realización con éxito de un ensayo renovado. La unidad de control puede determinar si el ensayo se llevó a cabo con éxito o no, por ejemplo, basándose en una entrada del usuario a través de un dispositivo de entrada del dispositivo láser. Para ello, la unidad de control puede solicitar, por ejemplo, al usuario mediante una solicitud correspondiente en un monitor, que introduzca su propia valoración del resultado del ensayo, por ejemplo a través de un teclado, un aparato indicador u otra forma de aparato de entrada. En función de qué valoración introduzca el usuario, la unidad de control comprueba si la comprobación fue un éxito o no y, acto seguido, determina una liberación o un bloqueo del dispositivo láser. En el transcurso del archivo del objeto de ensayo se puede almacenar también la valoración introducida por el usuario.

La invención se explica adicionalmente a continuación con ayuda de los dibujos adjuntos. Representan:

La Figura 1, un diagrama de bloques muy esquematizado de un dispositivo de procesamiento por láser en el caso de llevar a cabo un test de calibración conforme a un ejemplo de realización,

la Figura 2, esquemáticamente un objeto de ensayo utilizado para el test de calibración con estructuras de procesamiento incorporadas en el mismo conforme a un ejemplo de realización,

la Figura 3, detalles de las estructuras de procesamiento incorporadas en el objeto de ensayo de la Figura 2, las Figuras 4a a 4c, esquemáticamente, diferentes resultados del ensayo,

la Figura 5, un ejemplo de marcas de referencia que pueden ser incorporadas en el marco de un ensayo de calibración en un objeto de ensayo como parte de las estructuras de procesamiento,

la Figura 6, un objeto de ensayo con una estructura de procesamiento incorporada en el mismo conforme a otro ejemplo de realización,

las Figuras 7a y 7b, resultados del ensayo a modo de ejemplo para un objeto de ensayo provisto de marcas de referencia de la Figura 5,

la Figura 8, un objeto de ensayo conforme a otro ejemplo de realización,

la Figura 9, esquemáticamente, un ejemplo de una división de un objeto de ensayo en objetos parciales en el marco de un ensayo de calibración, el cual no representa parte alguna de la invención,

la Figura 10, otro ejemplo de un objeto de ensayo dividido, el cual no representa parte alguna de la invención. Se remite primero a la Figura 1. El dispositivo de procesamiento por láser allí mostrado - designado en general con 10 - sirve para la agregación técnica por láser de cortes en el ojo humano. Se entiende que éste es solo un caso de aplicación a modo de ejemplo; básicamente, el dispositivo de procesamiento por láser 10 puede servir también para otros fines de procesamiento.

El dispositivo de procesamiento por láser 10 comprende una fuente láser 12 que emite un rayo láser 14 pulsado con duraciones de pulso en el intervalo de femtosegundos, por ejemplo en el intervalo de femtosegundos de tres dígitos. Una óptica de enfoque 16 enfoca el rayo láser 14 sobre un punto del foco 18, en donde la posición del foco 18 de radiación se puede ajustar en la dirección de propagación de la radiación (dirección z), así como en un plano perpendicular a la misma (plano x,y) mediante componentes de exploración 20, los cuales, con el fin de una mejor claridad están representados aquí como un bloque funcional unitario. La fuente de láser 12 y los componentes de exploración 20 se pueden controlar mediante una unidad de control 22 controlada por programa, a la que están conectados un monitor 24, así como un aparato de entrada 26 (p. ej., teclado, dispositivo indicador, etc.).Para el acoplamiento con posicionamiento preciso de la radiación láser en el ojo a procesar, el dispositivo de procesamiento por láser 10 posee una unidad de punto de corte (adaptador de paciente) 28 acoplada de forma desprendible con una carcasa de la óptica de enfoque 16, la cual presenta un elemento de contacto 30 transparente para la radiación láser, así como un soporte 32 para el elemento de contacto 30. En el caso de ejemplo mostrado, el elemento de contacto 30 está realizado como una placa de aplanación planoparalela, pero en su cara orientada hacia el ojo y/o en su cara alejada del ojo puede estar configurada de otra manera, p. ej., cóncava o convexa. La cara orientada hacia el ojo del elemento de contacto 30 forma una superficie de apoyo 34, la cual puede servir como referencia de posición para el ojo a tratar. Para el tratamiento de un ojo, éste se pone en contacto de apoyo con la superficie de apoyo 34, en donde, de manera en sí conocida, previamente puede colocarse sobre el ojo un anillo de succión no representado en mayor detalle, el cual, por su parte, puede ser acoplado fijamente con la unidad de punto de corte 28 mediante fuerza de succión.

La superficie de apoyo 34 del elemento de contacto 30 forma una referencia z, la cual posibilita un posicionamiento muy preciso del foco 18 de radiación en el objeto a procesar. Para comprobar la calibración z del dispositivo de procesamiento por láser 10, la unidad de control 22 está diseñada para provocar la realización de un ensayo de calibración, en el que determinadas estructuras de procesamiento del ensayo se incorporan mediante el rayo láser 14 en un objeto de ensayo 36 colocado en la superficie de apoyo 34, en donde las estructuras de procesamiento del ensayo quedan permanentemente en el objeto de ensayo 36 y, con ello, posibilitan una documentación permanente del resultado del ensayo. Después de realizar el ensayo, el objeto de ensayo 36 procesado (o al menos una parte del mismo) se deposita en un archivo indicado esquemáticamente en 38. La Figura 1 muestra en el archivo 38 ya algunos objetos de ensayo archivados que, para una mejor diferenciación del objeto de ensayo 36 a procesar, apoyado en la superficie de apoyo 34, se designan con 36’.

Para generar las estructuras de procesamiento del ensayo, el programa de control (no representado con mayor detalle) contiene instrucciones adecuadas para la unidad de control 22, con el fin de mover el foco 18 de radiación de manera correspondiente a un patrón de exploración del ensayo predefinido. Una primera ejecución prevé que la interacción de la radiación láser con el material del objeto de ensayo 36 provoque una decoloración local permanente en el objeto de ensayo 36, de modo que de manera correspondiente al patrón de exploración del ensayo resulta en el objeto de ensayo 36 un patrón de decoloración. En el caso de un objeto de ensayo 36 transparente en el intervalo de longitudes de onda visibles y para la radiación láser, la decoloración puede consistir, por ejemplo, en que el material del objeto de ensayo 36 se vuelva lechoso en la zona del foco. En otra ejecución, el patrón de exploración del ensayo prevé practicar cortes en el objeto de ensayo 36, en particular aquellos cortes que conduzcan a una división del objeto de ensayo 36 en varios objetos parciales. Para la documentación del ensayo, todos los objetos parciales o solo una parte de los objetos parciales pueden depositarse entonces en el archivo 38.

El objeto de ensayo 36 es, por ejemplo, un trozo de placa consistente en PMMA, el cual puede ser mantenido mediante la fuerza de succión en la unidad de punto de corte 28. La unidad de punto de corte 28 está dotada para ello, de una manera no representada con mayor detalle, de una conexión de evacuación a la que se puede conectar una bomba de evacuación 42 a través de un conducto de evacuación 40.

Se remite ahora adicionalmente a las Figuras 2 y 3. Estas figuras representan estructuras de decoloración, las cuales pueden ser incorporadas en el objeto de ensayo 36, conforme a un ejemplo de realización, por medio de la radiación láser de Fs del dispositivo de procesamiento por láser 10. Las estructuras de decoloración comprenden un patrón de bandas que asciende a modo de escalera en la dirección z, a base de una pluralidad de bandas de decoloración 44 orientadas en cada caso paralelas al plano x,y, así como dos marcas de referencia 46 que discurren paralelas a lo largo del plano x,y a distancia una junto a otra, las cuales, en el caso de ejemplo mostrado en vista en alzado sobre el plano x,y, aparecen como rectas. No obstante, las dos marcas de referencia 46 pueden estar configuradas como bandas o planos de referencia extendidos bidimensionalmente y poseen una extensión correspondiente en la dirección z. Debido a su aspecto en forma de línea en vista en alzado sobre el plano x.y, las dos marcas de referencia 46 se designan sin embargo en lo que sigue como líneas de referencia. Estas líneas de referencia 46 definen entre ellas una zona de punción nominal 47, en la que, en el caso de una calibración z adecuada del dispositivo de procesamiento por láser 10, el patrón de bandas formado por las bandas de decoloración 44 debería puncionar la superficie exterior del objeto de ensayo orientada hacia la superficie de apoyo 34 - designada con 48 en la Figura 2 -. De manera correspondiente, el patrón de exploración del ensayo está diseñado de manera que, en el caso de una calibración z adecuada del dispositivo de procesamiento por láser 10 - mirando en la dirección de ascenso del patrón de bandas -la última banda de decoloración 44 visible debería estar en la zona de punción nominal 47. Esta situación se ilustra en la Figura 4a. Las Figuras 4b y 4c ilustran, por el contrario, casos de una calibración z incorrecta del dispositivo de procesamiento por láser 10, en los que el patrón escalonado de las bandas de decoloración 44 punciona una vez delante de la zona de punción nominal 47 delimitada por las líneas de referencia 46 la superficie exterior 48 del objeto de ensayo 36 (Figura 4b) y la otra vez detrás (Figura 4c). A partir de la pendiente del patrón escalonado se puede determinar, en los casos de las Figuras 4b y 4c, sin más, la medida de corrección necesaria para la corrección de la calibración z del dispositivo de procesamiento por láser 10, o se puede decidir si se ha de interrumpir.

Por ejemplo, la distancia z mutua de las bandas de decoloración 44 - en la Figura 3 designada con di - asciende a 5 gm. Con un valor de este tipo para la distancia di se puede conseguir que el foco del haz se pueda posicionar y controlar con una imprecisión de a lo sumo 5 gm en la dirección z.

La anchura de la banda - en la Figura 3 designada con d² - asciende, por ejemplo, a aproximadamente 250 gm. La distancia mutua de las bandas de decoloración 44 en la proyección x,y - en la Figura 3 designada con d3 - puede corresponder, por ejemplo, a la anchura de la banda d² , en el presente caso, por lo tanto, asimismo a un valor de aproximadamente 250 gm. La distancia mutua de las líneas de referencia 46 - en la Figura 3 designada con d4 -asciende en el caso de ejemplo mostrado al cuádruplo de la anchura de la banda d². En el caso de una anchura de la banda de 250 gm, la medida d4 asciende, por lo tanto, a 1000 gm. A través de la pendiente (por ejemplo 5 gm/500 gm) también se puede calcular una posible calibración errónea presente.

Para la generación de las bandas de decoloración 44 en el objeto de ensayo 36, el patrón de exploración del ensayo define un patrón escalonado que se compone de una pluralidad de peldaños correspondientes a las bandas de decoloración 44, en donde cada peldaño puede estar formado por varias líneas de exploración que discurren unas junto a otras en la dirección longitudinal del peldaño. Se entiende que solamente los peldaños de este patrón de exploración escalonado que discurran dentro del material del objeto de ensayo 36, conducen a una banda de decoloración 44 correspondiente en el objeto de ensayo 36. Como regla general, un número parcial de los peldaños del patrón de exploración escalonado permanecerá fuera del objeto de ensayo 36, incluso en el caso de una ligera calibración errónea del dispositivo de procesamiento por láser 10 en la dirección z. Peldaños de este tipo del patrón de exploración escalonado situados fuera del objeto de ensayo 36 están indicados con líneas discontinuas en 44’ en la Figura 2.

Las estructuras de decoloración generadas en el objeto de ensayo 36 comprenden, además, una línea circular 50 situada esencialmente paralela al plano x,y que puede corresponder, por ejemplo, a un intervalo de exploración x,y máximo disponible del dispositivo de procesamiento por láser 10 o que puede discurrir dentro de un intervalo de exploración x,y máximo de este tipo a distancia de sus límites exteriores. Por ejemplo, la línea circular 50 puede generarse con un diámetro como es típico para un colgajo corneal generado mediante técnica de láser en el marco de un tratamiento Fs-LASIK. Diámetros habituales del colgajo se encuentran, por ejemplo, en el intervalo entre 9 y 11 mm. La línea circular 50 puede tener de manera correspondiente, por ejemplo, un diámetro de 10 u 11 mm. Si se puede reconocer totalmente y no distorsionada en el objeto de ensayo 36 como decoloración anular, esto es un indicio de que al menos el intervalo de exploración requerido para la generación del colgajo está disponible de manera ilimitada.

La Figura 5 muestra una variante en la que el patrón de decoloración inscrito en el objeto de ensayo 36 comprende dos pares de líneas de referencia 46 en ángulo recto entre sí en la proyección x,y. Esto posibilita incorporar en el objeto de ensayo 36, en dos direcciones perpendiculares entre sí, en cada caso un patrón de decoloración escalonado o ascendente en línea recta de otro modo.

Como alternativa a un patrón de decoloración ascendente escalonado, la Figura 6 muestra una superficie de decoloración 52 plana, la cual en el caso del punto de vista de la Fig. 6 que representa un corte x,z, aparece como línea recta. La superficie de decoloración 52 puede realizarse, por ejemplo, mediante una pluralidad de barridos lineales del foco del haz que discurren uno junto a otro en el plano de la superficie de decoloración 52. Estos barridos lineales forman juntos un patrón de exploración plano, cuyas partes situadas por fuera del objeto de ensayo 36 están indicadas en la Figura 6 con líneas discontinuas en 52’. De manera similar al caso de las bandas de decoloración 44, la precisión de calibración del dispositivo de procesamiento por láser 10 puede enjuiciarse con ayuda de la posición de la línea de punción en la que la superficie de decoloración 52 incide sobre la superficie exterior 48 del objeto de ensayo 36 (el término de punción ha de entenderse aquí de forma gráfica, dado que el patrón escalonado formado por las bandas de decoloración 44, así como la superficie de decoloración 52 no se prolongan, naturalmente, por fuera del objeto de ensayo 36; para un observador que mira a la superficie exterior 48 parece, sin embargo, que la superficie exterior 48 es puncionada por el patrón de bandas o bien por la superficie de decoloración 52).

Las Figuras 7a y 7b ilustran el caso de que en el caso de un objeto de ensayo con dos pares de líneas de referencia 46 perpendiculares entre sí (de manera correspondiente a la variante de la Figura 5) se incorpora en el objeto de ensayo 36, en asociación a cada par de líneas de referencia, una superficie de decoloración plana similar a la representación de la Figura 6. Se reconocen las líneas de barrido que parten del foco del haz para la realización de la superficie de decoloración. Éstas están designadas con 54 y se encuentran lo suficientemente juntas una con otra como para que en el caso del observador aparezca una impresión de decoloración de la superficie. Tanto en la Figura 7a como en la Figura 7b la respectiva superficie de decoloración punciona la superficie exterior del objeto de ensayo 36 dentro de la zona de punción nominal establecida entre el correspondiente par de líneas de referencia, es decir, se presenta una calibración adecuada.

En el caso de la forma de realización mostrada en la Figura 8, el objeto de ensayo 36 está constituido multicapa y presenta una capa intermedia 56 de un material distinto al de las zonas del objeto de ensayo 36 situadas por encima en la dirección z y por debajo de la capa intermedia 56. El material de la capa intermedia 56 muestra otra reacción de interacción con la radiación láser irradiada en el marco del ensayo de calibración que las restantes zonas de material del objeto de ensayo 36. Por ejemplo, la interacción de la radiación láser con el material de la capa intermedia 56 conduce a otra decoloración que en las restantes zonas de material del objeto de ensayo 36. En el caso de una distancia z dada de la capa intermedia 56 de la superficie exterior 48 del objeto de ensayo 36, con ayuda de la distancia mutua de los puntos de punción de la superficie de decoloración 52 a través de la superficie exterior 48 y la capa intermedia 56 se puede comprobar no solo la calibración z en cuanto a un posible desplazamiento z, sino también se puede realizar una comprobación en cuanto a la escalada correcta del eje z del sistema de coordenadas utilizado por el dispositivo de procesamiento por láser 10. Para el establecimiento inequívoco del punto de punción de la superficie de decoloración 52 a través de la capa intermedia 56 puede ser ventajoso realizar el objeto de ensayo 36 con una superficie lateral pulida, preferiblemente rectilínea, de modo que tanto la superficie de decoloración 52 como la capa intermedia 56 se pueden reconocer en una vista lateral. Para ello, el objeto de ensayo 36 puede estar realizado, por ejemplo, como medio disco o cuarto de disco.

Las Figuras 9 y 10 muestran, de un modo no a escala real, dos ejemplos de realización que no representan parte de la invención, en los que las estructuras de procesamiento incorporadas en el objeto de ensayo 36 representan cortes que conducen a una división del objeto de ensayo 36 en objetos parciales 36a, 36b. Por ejemplo, de la superficie exterior 48 del objeto de ensayo se puede recortar un objeto parcial a modo de placa (Figura 9) o un objeto parcial escalonado a modo de escalera (Figura 10). Mediante una medición del grosor del objeto parcial 36b recortado en la dirección z pueden extraerse a continuación conclusiones sobre la precisión de la calibración z del dispositivo de procesamiento por láser 10. La medición del grosor puede llevarse a cabo, por ejemplo, con medios de medición ópticos, acústicos o mecánicos. Como alternativa a una medición del objeto parcial 36b es imaginable medir la profundidad z de la depresión de la superficie que ha surgido en el objeto parcial 36a restante como resultado del desprendimiento del objeto parcial 36b.

Después de la aplicación de las estructuras de procesamiento en el objeto de ensayo 36, la unidad de control 22 del dispositivo de procesamiento por láser 10 puede provocar la emisión de un requerimiento en el monitor 24, el cual solicita al usuario introducir a través del aparato de entrada 26 si el ensayo de calibración fue un éxito o no. En función de la entrada del usuario, la unidad de control 22 provoca entonces una liberación o un bloqueo del dispositivo de procesamiento por láser 10 para posteriores operaciones oculares.

En el caso de una forma de realización preferida, pueden estar previstas precauciones adecuadas con el fin de eliminar por succión vapor y/o partículas que puedan resultar en la generación de las estructuras de procesamiento en el objeto de ensayo.

Claims (11)

REIVINDICACIONES

1. Procedimiento para comprobar la precisión del posicionamiento del foco de un dispositivo láser (10) diseñado para la emisión de radiación láser pulsada y enfocada, cuya posición (18) del foco puede ser regulada tanto en como transversalmente a la dirección de propagación de la radiación láser, en donde el dispositivo láser presenta un elemento de contacto (30) transparente para la radiación láser con una superficie de apoyo (34) para el apoyo de un objeto a procesar, en donde el procedimiento comprende las etapas:

- colocar un objeto de ensayo (36) transparente para la radiación láser al menos en una zona de procesamiento en la superficie de apoyo,

- irradiar la radiación láser en el objeto de ensayo apoyado en la superficie de apoyo y mover en este caso la posición del foco de acuerdo con un patrón de ensayo predefinido para generar estructuras de procesamiento (44, 46, 50, 52) permanentes en el objeto de ensayo,

caracterizado por que las estructuras de procesamiento comprenden al menos una primera estructura de decoloración (44, 52) que contrasta ópticamente con zonas de material circundantes del objeto de ensayo (36), la cual en el objeto de ensayo (36) asciende a lo largo de una dirección de extensión de la estructura que discurre transversalmente, en particular en línea recta oblicuamente, a la dirección de propagación de la radiación láser hasta una superficie exterior (48) del objeto de ensayo orientada hacia la superficie de apoyo (34), por que las estructuras de procesamiento comprenden, además, una segunda estructura de decoloración que contrasta ópticamente con zonas de material circundantes del objeto de ensayo (36), la cual forma una o más marcas de referencia (46) para una zona de punción nominal (47) de la primera estructura de decoloración a través de la superficie exterior (48) del objeto de ensayo (36), y

por que se comprueba si la primera estructura de decoloración (44, 52) perfora la superficie exterior (48) del objeto de ensayo (36) por dentro o por fuera de la zona de punción nominal (47).

2. Procedimiento según la reivindicación 1, en el que la primera estructura de decoloración (44) representa un patrón de bandas a base de una pluralidad de bandas de decoloración consecutivas a lo largo de la dirección de extensión de la estructura.

3. Procedimiento según la reivindicación 2, en el que las bandas de decoloración (44) están orientadas con su plano de la banda ortogonalmente con respecto a la dirección de propagación de la radiación.

4. Procedimiento según la reivindicación 3, en el que bandas (44) consecutivas por pares tienen una distancia mutua en la dirección de propagación de la radiación de a lo sumo 10 pm, mejor a lo sumo 8 pm, todavía mejor a lo sumo 6 pm y, por ejemplo, 5 pm.

5. Procedimiento según una de las reivindicaciones 2 a 4, en el que bandas (44) consecutivas por pares tienen una distancia mutua en el caso de proyección en un plano ortogonal con respecto a la dirección de propagación de la radiación.

6. Procedimiento según la reivindicación 1, en el que la primera estructura de decoloración (52) representa una superficie de decoloración plana que asciende oblicuamente a la dirección de propagación de la radiación láser hasta la superficie exterior del objeto de ensayo.

7. Procedimiento según una de las reivindicaciones anteriores, en el que las marcas de referencia (46) forman un par de líneas de marcaje que discurren una junto a otra paralelamente a distancia para el marcaje de la zona de punción nominal (47).

8. Procedimiento según una de las reivindicaciones anteriores, en el que el patrón de ensayo prevé la generación de una tercera estructura de decoloración (50) que contrasta ópticamente con respecto a zonas de material circundantes del objeto de ensayo (36), la cual discurre junto al límite exterior de un campo de posicionamiento para la posición del foco, disponible predefinido y ortogonal con respecto a la dirección de propagación de la radiación.

9. Procedimiento según una de las reivindicaciones anteriores, en el que el objeto de ensayo (36) está hecho, al menos en su zona de procesamiento, de un material transparente en el intervalo de longitudes de onda visible.

10. Procedimiento según una de las reivindicaciones anteriores, en el que el objeto de ensayo está estructurado multicapa al menos en su zona de procesamiento y la reacción de interacción sobre la radiación láser irradiada es distinta en diferentes capas de material del objeto de ensayo.

11. Procedimiento según una de las reivindicaciones anteriores, que comprende, además:

- liberar el dispositivo láser (10) para un tratamiento con láser del ojo humano, caso de determinar el éxito de la comprobación del dispositivo láser,

- bloquear el dispositivo láser para un tratamiento con láser del ojo humano, caso de determinar un fracaso de la comprobación del dispositivo láser,

- determinar el éxito o fracaso de la comprobación en base a una entrada del usuario a través de un dispositivo de entrada (26) del dispositivo láser.