ES2970384T3 - Procedimiento para medir un valor de capacitancia - Google Patents
Procedimiento para medir un valor de capacitancia Download PDFInfo
- Publication number
- ES2970384T3 ES2970384T3 ES16739425T ES16739425T ES2970384T3 ES 2970384 T3 ES2970384 T3 ES 2970384T3 ES 16739425 T ES16739425 T ES 16739425T ES 16739425 T ES16739425 T ES 16739425T ES 2970384 T3 ES2970384 T3 ES 2970384T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- value
- integration
- voltage
- cycles
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/945—Proximity switches
- H03K17/955—Proximity switches using a capacitive detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
- G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/96—Touch switches
- H03K17/962—Capacitive touch switches
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
- G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
- G01D5/2403—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by moving plates, not forming part of the capacitor itself, e.g. shields
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
- G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
- G06F3/04182—Filtering of noise external to the device and not generated by digitiser components
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0441—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using active external devices, e.g. active pens, for receiving changes in electrical potential transmitted by the digitiser, e.g. tablet driving signals
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0442—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using active external devices, e.g. active pens, for transmitting changes in electrical potential to be received by the digitiser
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0443—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single layer of sensing electrodes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0444—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a single conductive element covering the whole sensing surface, e.g. by sensing the electrical current flowing at the corners
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0445—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using two or more layers of sensing electrodes, e.g. using two layers of electrodes separated by a dielectric layer
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0447—Position sensing using the local deformation of sensor cells
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0448—Details of the electrode shape, e.g. for enhancing the detection of touches, for generating specific electric field shapes, for enhancing display quality
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/96—Touch switches
- H03K2217/9607—Capacitive touch switches
- H03K2217/96071—Capacitive touch switches characterised by the detection principle
- H03K2217/960725—Charge-transfer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
La invención se refiere a un método para medir un valor de capacitancia CM de un elemento sensor capacitivo mediante un método de integración, en el que un terminal del elemento sensor está conectado eléctricamente a un primer terminal de un condensador de integración que tiene un valor de capacitancia CI conocido, que es alto en comparación con el valor de capacitancia CM del elemento sensor, en un nodo de circuito común, y en el que después de que se han llevado a cabo un número IZ de ciclos de integración, se mide una tensión UCI en el condensador de integración por medio de un A/D. convertidor. El método según la invención comprende las etapas del método de: a) definir un número N de ciclos de integración que se llevarán a cabo en un valor inicial NStart y determinar un valor final NEnd para el número N de ciclos de integración que se llevarán a cabo b) inicializar un valor de suma de voltaje UGes al valor de cero c) inicializar el número IZ de ciclos de integración ejecutados al valor de cero d) conectar el nodo de circuito común (3) y un segundo terminal (2'') del condensador de integración (2) a un potencial de tierra GND e) realizar el método de integración hasta que el número IZ de ciclos de integración ejecutados haya alcanzado el número N de ciclos de integración a realizar f) sumar el valor de tensión UCI(N) actualmente determinado mediante el A convertidor /D, al valor de suma de voltaje UGes g) aumentar el número N en un valor n, donde n es mayor o igual a 1 y es menor que NDiff = NEnd - NStart, h) repetir los pasos del método desde el paso e) hasta que el número N supere el valor final determinado NEnd i) evaluar el valor de la suma de tensiones UGes como resultado de la medición. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)
Description
DESCRIPCIÓN
Procedimiento para medir un valor de capacitancia
[0001] La invención se refiere a un procedimiento para medir un valor de capacitancia C<m>de un elemento sensor capacitivo mediante un procedimiento de integración, estando conectado eléctricamente en un nodo de circuito común un borne del elemento sensor con un primer borne de un condensador de integración con un valor de capacitancia Ci conocido, que es grande en comparación con el valor de capacitancia Cm del elemento sensor, y midiéndose después de haberse realizado un número IZ de ciclos de integración mediante un convertidor A/D una tensión U<ci>aplicada al condensador de integración.
[0002] Los procedimientos del tipo mencionado en este caso se usan para evaluar sensores de contacto o de proximidad capacitivos. Un sensor de este tipo puede detectar la presencia y, en caso de una configuración correspondiente, también el lugar de un contacto o la aproximación de un objeto, como por ejemplo un dedo del usuario o un lápiz, en una zona sensible. La zona sensible al contacto puede estar superpuesta a este respecto por ejemplo a una pantalla de visualización. En una aplicación de visualización, el sensor de contacto o proximidad puede permitir al usuario interactuar directamente con lo que está representado en la pantalla y no solo de forma indirecta, mediante un ratón o un aparato de entrada similar.
[0003] Hay una serie de diferentes tipos de sensores de contacto, como por ejemplo sensores de contacto resistivos, sensores de contacto con ondas acústicas superficiales y sensores de contacto capacitivos, habiéndose extendido entre tanto más los que se indican en último lugar, con los que en particular puede detectarse también una simple aproximación.
[0004] Cuando un objeto tiene contacto con la superficie de un sensor de contacto capacitivo o se aproxima a la misma, se produce una variación del valor de capacitancia del sensor. El objetivo de un aparato de control del sensor asignado o del procedimiento de medición usado por este es procesar esta variación de la capacitancia para detectar el contacto o la aproximación que la provoca. La dificultad especial en este sentido está en que los valores de capacitancia de los sensores y, en particular, las variaciones que han de detectarse son muy pequeños. Por este motivo, para su medición se usan frecuentemente llamados procedimientos de integración, en los que se transmiten en varios ciclos sucesivos pequeñas cantidades de carga del elemento sensor, cuyo valor de capacitancia es relativamente pequeño y variable, a un condensador de integración con un valor de capacitancia fijo conocido y claramente más grande.
[0005] Por la publicación para información de solicitud de patente alemana DE 102010041 464 A1, así como por el modelo de utilidad alemán DE 299 24 441 U1 se conocen respectivamente procedimientos para medir un valor de capacitancia de un elemento sensor capacitivo según el preámbulo de la reivindicación 1. Los procedimientos para medir un valor de capacitancia descritos en este caso son procedimientos de integración del tipo que se acaba de mencionar, estando conectado eléctricamente un borne del elemento sensor con un primer borne del condensador de integración en un nodo de circuito común.
[0006] Para la realización de la medición se usan varios métodos. Por ejemplo, después de realizar un número especificado de los llamados ciclos de integración, la tensión aplicada al condensador de integración que resulta de la suma de las transferencias de carga que han tenido lugar a este respecto puede medirse y digitalizarse mediante un convertidor A/D. Como resultado de la medición, se usa la tensión medida propiamente dicha, o su valor digitalizado, o el valor de la capacitancia de medición calculado a partir de este valor y las magnitudes constantes conocidas de la capacitancia del condensador de integración, la tensión de alimentación y el número de ciclos de integración. Alternativamente a ello, también puede medirse en cada ciclo de integración individual la tensión aplicada al condensador de integración terminarse la medición cuando se alcance un valor umbral especificado. En este caso, la magnitud de medición es el número de ciclos de integración realizados hasta alcanzar la tensión umbral.
[0007] Un procedimiento del último tipo descrito, en el que la magnitud de medición relevante es un número de ciclos de integración realizados en último lugar, se conoce, por ejemplo, por la publicación para información de solicitud de patente europea EP 2717 136 A1.
[0008] La resolución de estos procedimientos de medición y, por lo tanto, el límite para poder distinguir entre dos estados o valores de capacitancia, depende en gran medida de la resolución del convertidor A/D usado. Mediante un convertidor A/D solo pueden registrarse tensiones en determinados niveles discretos. Estos niveles también se denominan intervalos de cuantificación. Por lo tanto, se cuantifica el rango a medir, es decir, se divide en rangos discretos, en este caso en niveles de tensión. Durante una medición se asigna por lo tanto a la tensión real, es decir, la que se ha medido de manera analógica, el valor del siguiente nivel superior o inferior como valor de medición digital, según cuál de estos niveles se encuentre más cerca del mismo. La desviación de la tensión real del nivel de tensión emitido por el convertidor A/D es el error de cuantificación. Por lo tanto, en la medida en la que se habla a continuación del valor de tensión medido por el convertidor A/D, esto se refiere respectivamente al valor digital del nivel de tensión emitido por el convertidor A/D.
[0009]La ventaja del procedimiento de acuerdo con la presente invención en comparación con el que se ha descrito anteriormente está en que se consigue una mayor resolución del resultado de medición con una resolución idéntica del convertidor A/D.
[0010]De acuerdo con la invención esto se consigue mediante las siguientes etapas de procedimiento:
a) Fijar un número N de ciclos de integración a realizar a un valor inicial Nstart y determinar un valor final NEnd para el número N de ciclos de integración a realizar
b) Inicializar un valor de suma de tensiones UGes al valor cero
c) Inicializar el número IZ de ciclos de integración realizados al valor cero
d) Conectar el nodo de circuito común (3) y un segundo borne (2") del condensador de integración (2) a un potencial de tierra GND
e) Realizar el proceso de integración hasta que el número IZ de ciclos de integración realizados haya alcanzado el número N de ciclos de integración a realizar
f) Sumar el valor de tensión Uci(N) actualmente determinado mediante el convertidor A/D al valor de suma de tensiones UGes
g) Aumentar el número N sumando un valor n, siendo n superior o igual a 1 e inferior a Ndh= NEnd - NStart, h) Repetir las etapas de procedimiento desde la etapa e) hasta que el número N rebase el valor final NEnd determinado
i) Evaluar el valor de suma de tensiones UGes como resultado de medición.
[0011]En una configuración ventajosa del procedimiento de acuerdo con la invención está previsto que el procedimiento de integración comprenda las siguientes etapas de procedimiento:
e1) Mantener libre de potencial el nodo del circuito común (3), aplicándose simultáneamente una tensión de alimentación Uv conocida al segundo borne (2") del condensador de integración (2)
e2) Separar la tensión de alimentación Uv del segundo borne (2") del condensador de integración (2), conectándose simultáneamente el nodo del circuito común (3) con el potencial de tierra GND
e3) Aumentar el número de ciclos de integración IZ realizados sumando el valor uno y repetir las etapas de procedimiento desde la etapa e1) hasta que el número IZ de ciclos de integración realizados haya alcanzado el número N de ciclos de integración a realizar actualmente especificado
e4) Medir la tensión Uci(N) aplicada al condensador de integración (2) mediante el convertidor A/D (4).
[0012]A continuación, la invención se explicará con referencia al dibujo adjunto.
[0013]A este respecto muestran:
la figura 1:a) una representación esquemática de la disposición de medición para la realización del procedimiento de acuerdo con la invención
b) una representación de la secuencia temporal de una integración con N ciclos de integración como diagrama de control de tiempos de los interruptores de a)
la figura 2:el curso de la tensión Uci(N) aplicada al condensador de integración como función del número N de los ciclos de integración
[0014]El dibujo muestra en la figura 1 a) una disposición de medición para realizar el procedimiento de acuerdo con la invención para medir un valor de capacitancia Cmde un elemento sensor capacitivo 1 en una representación esquemática como diagrama de conexiones. El elemento sensor 1 forma a este respecto, por ejemplo, un sensor de contacto, por ejemplo en forma de un electrodo, que tiene una capacitancia propia con un valor de capacitancia Cmcon respecto a un potencial de masa o tierra relativo. En caso de un contacto o una aproximación al electrodo, por ejemplo de un dedo de un usuario, este valor de capacitancia Cmcambia por la capacitancia de contacto, que este presenta con respecto al potencial de masa o tierra.
[0015]En un nodo de circuito común 3, un borne del elemento sensor 1 está conectado eléctricamente con un primer borne 2' de un condensador de integración 2. El valor de capacitancia Ci conocido del condensador de integración 2 es a este respecto grande en comparación con el valor de capacitancia Cma determinar del elemento sensor 1. El nodo de circuito común 3 está conectado además con un primer interruptor S1 y, dependiendo de la posición del interruptor, puede conectarse mediante este a elección con el potencial de masa o tierra GND o con una tensión de alimentación fija Uv o puede estar libre de potencial, es decir, mantenerse abierto (NC).
[0016]Un segundo borne 2" del condensador de integración 2 está conectado eléctricamente con un segundo interruptor S2 y, dependiendo de la posición del interruptor, puede conectarse mediante este a elección con el potencial de masa o tierra<g>N<d>o con una tensión de alimentación fija Uv o puede conectarse con una entrada de un convertidor A/D 4.
[0017]Para medir el valor de capacitancia Cmse usa un procedimiento de integración en principio conocido, en el que se transfieren en varios ciclos sucesivos pequeñas cantidades de carga del elemento sensor 1 al condensador de integración 2. Después de un número N de estas transferencias de carga denominadas ciclos de integración, se mide mediante el convertidor A/D 4 la tensión U<ci>(N) aplicada en este momento al condensador de integración 2. La tensión Uci(N) es directamente proporcional al valor de capacitancia C<m>y por lo tanto una medida de este. Un desarrollo a modo de ejemplo de un procedimiento de integración de este tipo se describe con ayuda del diagrama de control de tiempos mostrado en la figura 1 b) de los interruptores S1 y S2 de la figura 1 a), representando las siguientes etapas el desarrollo de un ciclo de integración (Integration Cycle):
[0018]El nodo de circuito común 3 conectado con el primer borne 2' del condensador de integración 2 se mantiene abierto y, por lo tanto, libre de potencial mediante el interruptor S1, aplicándose simultáneamente mediante el interruptor S2 la tensión de alimentación Uv al segundo borne 2" del condensador de integración 2. A continuación, se separa la tensión de alimentación Uv mediante el interruptor S2 del segundo borne 2" del condensador de integración 2 y este se mantiene libre de potencial, conectándose simultáneamente el nodo de circuito común 3 mediante el interruptor S2 al potencial de tierra GND.
[0019]Durante el transcurso de una medición, las etapas de este ciclo de integración se llevan a cabo repetidamente, concretamente hasta que el número IZ de ciclos de integración realizados haya alcanzado un número N especificado (fase de integración).
[0020]Posteriormente, se mide mediante el convertidor A/D 4 la tensión U<ci>(N) aplicada al condensador de integración 2 después de estos N ciclos de integración, conectándose el segundo borne 2" del condensador de integración 2 mediante el interruptor S2 con la entrada del convertidor A/D 4 (fase de detección).
[0021]El valor de tensión U<ci>(N) (digital) medido se transmite a un equipo de control y evaluación 5 para su posterior procesamiento y evaluación. El equipo de control y evaluación 5 controla el desarrollo de todo el procedimiento descrito y comprende para ello por ejemplo un microcontrolador como elemento central.
[0022]De acuerdo con la presente invención, la medición con N ciclos de integración que se acaba de describir forma parte de una secuencia de orden superior, que comprende varias mediciones de este tipo, con respectivamente diferentes valores del número N de ciclos de integración a realizar, concretamente de la siguiente manera, que también se deduce claramente de la representación mostrada en la figura 2 del curso de la tensión U<ci>(N) aplicada al condensador de integración 2 como función del número N de ciclos de integración:
En primer lugar, el número N de ciclos de integración a realizar se fija a un valor inicial Nstart para la primera medición en el marco de la secuencia de orden superior. Simultáneamente se determina un valor objetivo o final NEnd para el número N de ciclos de integración a realizar como máximo para la última medición en el marco de la secuencia de orden superior. Un valor de suma de tensiones UGes se inicializa al valor cero.
[0023]El número IZ de ciclos de integración realizados se inicializa al principio al valor cero. Además, para inicializar el proceso de medición, se conecta el nodo de circuito común 3 conectado con el primer borne 2' del condensador de integración 2 y el segundo borne 2" del condensador de integración 2 con el potencial de tierra GND y, por lo tanto, la tensión Uci aplicada al condensador de integración 2 se pone a cero (fase de reseteo).
[0024]A continuación, se lleva a cabo el procedimiento de integración anteriormente descrito, concretamente hasta que el número IZ de ciclos de integración realizados, que se incrementa en cada realización sumándose el valor uno, haya alcanzado el número N actualmente válido de ciclos de integración a realizar. A continuación, se determina mediante el convertidor A/D el valor de tensión U<ci>(N) aplicado al condensador de integración 2 y este se suma al valor de suma de tensiones UGes actualmente válido.
[0025]A continuación, se aumenta el número N de ciclos de integración a realizar sumándose un valor n y se repiten las etapas descritas en el párrafo anterior con el nuevo número N. A este respecto, ni se resetea el número IZ de ciclos de integración realizados ni se elimina la tensión actualmente aplicada al condensador de integración 2, de modo que efectivamente solo se realizan otros n ciclos de integración, aumentando a este respecto correspondientemente la tensión aplicada al condensador de integración 2. El valor de aumento n es a este respecto al menos igual a 1 e inferior a la diferencia Noiff = NEnd - Nstart entre el valor inicial Nstart y el valor objetivo o final NEnd. Para obtener una cantidad no demasiado pequeña de mediciones con respectivamente N ciclos de integración como parte de la secuencia de orden superior, el valor de aumento n se elegirá por regla general significativamente más pequeño que Noiff. A este respecto, o bien puede variar de una etapa a otra o adoptar un valor constante de, por ejemplo, n=1, n=2, n=3 u otro valor. La repetición de la etapa descrita en el párrafo anterior con el nuevo número N se realiza hasta que el número N rebase el valor final NEnd determinado al principio.
[0026]En la figura 1b), esto se está representado a modo de ejemplo para n=2 con ayuda de las dos primeras fases de integración y detección. La primera fase de integración comprende a este respecto Nstart ciclos de integración. A continuación tiene lugar la primera fase de detección, en la que se mide la tensión Ua(Nstart) actualmente aplicada al condensador de integración 2.
[0027]En la siguiente, segunda fase de integración, se llevan a cabo otros n=2 ciclos de integración, de modo que la tensión Uci(Nstart 2) aplicada al condensador de integración 2 resulta ahora de un total de Nstart+ 2 ciclos de integración. La medición continúa de esta manera hasta que se mida finalmente como último valor la tensión Uc i(NEnd).
[0028]El valor de suma de tensiones UGes sumado hasta este momento a partir de las tensiones U<ci>(N) respectivamente medidas se evalúa en este caso como resultado de la medición.
[0029]Como se ha descrito, en el valor de suma de tensiones UGes se tienen en cuenta como sumandos los valores de tensión Uci(N) individualmente medidos. Cada uno de estos valores de tensión Uci(N) se ha determinado a este respecto mediante el convertidor A/D 4 y, por lo tanto, está sujeto a un error de cuantificación, como ya se ha explicado anteriormente. A este respecto, la cuantificación se ejecuta linealmente en el rango de medición, es decir, la altura de nivel de los niveles de tensión emitidos por el convertidor A/D 4 es respectivamente la misma. No obstante, puesto que el curso de la tensión Uci(N) aplicada al condensador de integración 2 como función del número N de ciclos de integración no es lineal, como puede verse en la figura 2, resulta una distribución estadística de los errores de cuantificación, que en suma conduce al menos a una compensación parcial de los mismos.
Claims (4)
1. Procedimiento para medir un valor de capacitancia C<m>de un elemento sensor capacitivo (1) mediante un procedimiento de integración, estando conectado eléctricamente en un nodo de circuito común (3) un borne del elemento sensor (1) con un primer borne (2') de un condensador de integración (2) con un valor de capacitancia C<i>conocido, que es grande en comparación con el valor de capacitancia C<m>del elemento sensor (1), y midiéndose después de haberse realizado un número IZ de ciclos de integración mediante un convertidor A/D (4) una tensión U<ci>aplicada al condensador de integración (2), mientras que el nodo del circuito común (3) está conectado con un potencial de masa (GND),
caracterizado porlas etapas de procedimiento:
a) Fijar un número N de ciclos de integración a realizar a un valor inicial NStart y determinar un valor final NEnd para el número N de ciclos de integración a realizar
b) Inicializar un valor de suma de tensiones UGes al valor cero
c) Inicializar el número IZ de ciclos de integración realizados al valor cero
d) Conectar el nodo del circuito común (3) y un segundo borne (2") del condensador de integración (2) al potencial de tierra GND
e) Realizar el proceso de integración hasta que el número IZ de ciclos de integración realizados haya alcanzado el número N de ciclos de integración a realizar
f) Sumar el valor de tensión U<ci>(N) actualmente determinado mediante el convertidor A/D al valor de suma de tensiones UGes
g) Aumentar el número N sumando un valor n, siendo n superior o igual a 1 e inferior a N<dh>= NEnd - NStart, h) Repetir las etapas de procedimiento desde la etapa e) hasta que el número N rebase el valor final NEnd determinado
i) Evaluar el valor de suma de tensiones UGes como resultado de medición.
2. Procedimiento según la reivindicación 1, siendo el valor n del aumento un valor constante.
3. Procedimiento según la reivindicación 1, variando el valor n del aumento de etapa a etapa.
4. Procedimiento según una de las reivindicaciones 1 a 3, comprendiendo el procedimiento de integración las siguientes etapas de procedimiento:
e1) Mantener libre de potencial el nodo del circuito común (3), aplicándose simultáneamente una tensión de alimentación Uv conocida al segundo borne (2") del condensador de integración (2)
e2) Separar la tensión de alimentación Uv del segundo borne (2") del condensador de integración (2), conectándose simultáneamente el nodo del circuito común (3) con el potencial de tierra GND
e3) Aumentar el número de ciclos de integración IZ realizados sumando el valor uno y repetir las etapas de procedimiento desde la etapa e1) hasta que el número IZ de ciclos de integración realizados haya alcanzado el número N de ciclos de integración a realizar actualmente especificado
e4) Medir la tensión U<ci>(N) aplicada al condensador de integración (2) mediante el convertidor A/D (4).
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102015008485.2A DE102015008485A1 (de) | 2015-07-01 | 2015-07-01 | Verfahren zum Messen eines Kapazitätswertes |
| PCT/EP2016/065190 WO2017001510A1 (de) | 2015-07-01 | 2016-06-29 | Verfahren zum messen eines kapazitätswertes |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ES2970384T3 true ES2970384T3 (es) | 2024-05-28 |
Family
ID=56418492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| ES16739425T Active ES2970384T3 (es) | 2015-07-01 | 2016-06-29 | Procedimiento para medir un valor de capacitancia |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11079880B2 (es) |
| EP (1) | EP3317968B1 (es) |
| JP (1) | JP6607972B2 (es) |
| CN (1) | CN107810603B (es) |
| DE (1) | DE102015008485A1 (es) |
| ES (1) | ES2970384T3 (es) |
| WO (1) | WO2017001510A1 (es) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102017006980A1 (de) * | 2017-07-22 | 2019-01-24 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Erkennen einer Annäherung an ein Sensorelement |
| DE102017009705A1 (de) * | 2017-10-18 | 2019-04-18 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Erkennen einer Annäherung an ein Sensorelement |
| DE102018113267A1 (de) * | 2018-06-04 | 2019-12-05 | Huf Hülsbeck & Fürst Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Auswerten von Kapazitätswerten einer kapazitiven Sensorelektrode und kapazitive Annäherungssensoranordnung |
| DE102020001919A1 (de) | 2020-03-25 | 2021-09-30 | Kostal Automobil Elektrik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Wechseln eines Status eines ein- oder zweidimensionalen, berührungsempfindlichen Arrays kapazitiver Sensorelemente |
| DE102020215511B4 (de) | 2020-12-09 | 2022-10-20 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Analoge Frontendarchitektur für kapazitiven Drucksensor |
| CN115774977A (zh) * | 2021-09-08 | 2023-03-10 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 一种等效电容的确定方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (54)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4193063A (en) * | 1978-05-15 | 1980-03-11 | Leeds & Northrup Company | Differential capacitance measuring circuit |
| JP2820530B2 (ja) * | 1989-09-28 | 1998-11-05 | エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー | センサ信号を処理するための装置 |
| US5461321A (en) * | 1993-09-17 | 1995-10-24 | Penberthy, Inc. | Apparatus and method for measuring capacitance from the duration of a charge-discharge charge cycle |
| GB9825435D0 (en) * | 1998-11-20 | 1999-01-13 | Philipp Harald | Charge transfer capacitance measurement circuit |
| DE29924441U1 (de) * | 1998-11-20 | 2003-10-16 | Philipp, Harald, Southampton, Hampshire | Kapazitätsmessung mittels Ladungstransfer |
| US6466036B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-10-15 | Harald Philipp | Charge transfer capacitance measurement circuit |
| DE10035192C1 (de) * | 2000-07-20 | 2001-10-11 | Carl Mahr Holding Gmbh | Kapazitiver Wegaufnehmer für stromsparende Messgeräte |
| JP2002168893A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Agilent Technologies Japan Ltd | 高精度容量測定装置および方法 |
| US6828802B2 (en) * | 2002-08-16 | 2004-12-07 | Rosemount Inc. | Pressure measurement device including a capacitive sensor in an amplifier feedback path |
| JP4455201B2 (ja) * | 2004-07-20 | 2010-04-21 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 検出回路 |
| US7777501B2 (en) * | 2005-06-03 | 2010-08-17 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for sigma delta capacitance measuring using shared component |
| US7902842B2 (en) * | 2005-06-03 | 2011-03-08 | Synaptics Incorporated | Methods and systems for switched charge transfer capacitance measuring using shared components |
| US7454967B2 (en) * | 2006-07-10 | 2008-11-25 | Lv Sensors, Inc. | Signal conditioning methods and circuits for a capacitive sensing integrated tire pressure sensor |
| US8207944B2 (en) * | 2006-12-19 | 2012-06-26 | 3M Innovative Properties Company | Capacitance measuring circuit and method |
| US7460441B2 (en) * | 2007-01-12 | 2008-12-02 | Microchip Technology Incorporated | Measuring a long time period |
| DE102007009070A1 (de) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | OCé PRINTING SYSTEMS GMBH | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen eines elektrischen Potentials sowie von elektrischen Ladungen ein einem Drucker oder Kopierer |
| US8436263B2 (en) * | 2007-06-29 | 2013-05-07 | Cypress Semiconductor Corporation | Noise resistant capacitive sensor |
| US8169238B1 (en) * | 2007-07-03 | 2012-05-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to frequency converter |
| US8570053B1 (en) * | 2007-07-03 | 2013-10-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitive field sensor with sigma-delta modulator |
| EP2167983A4 (en) * | 2007-07-11 | 2013-05-29 | Marimils Oy | METHOD AND DEVICE FOR THE CAPACITIVE COLLECTION OF OBJECTS |
| US8319505B1 (en) * | 2008-10-24 | 2012-11-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance |
| TWI357501B (en) * | 2008-03-25 | 2012-02-01 | Raydium Semiconductor Corp | Evaluation circuit for capacitance and method ther |
| TWI361280B (en) * | 2008-07-18 | 2012-04-01 | Raydium Semiconductor Corp | Evaluation circuit for capacitance and method thereof |
| CN101655524B (zh) * | 2008-08-20 | 2012-09-05 | 瑞鼎科技股份有限公司 | 电容值测量电路及其方法 |
| US8836350B2 (en) * | 2009-01-16 | 2014-09-16 | Microchip Technology Incorporated | Capacitive touch sensing using an internal capacitor of an analog-to-digital converter (ADC) and a voltage reference |
| US8552994B2 (en) * | 2009-09-25 | 2013-10-08 | Atmel Corporation | Method and apparatus to measure self-capacitance using a single pin |
| US8624870B2 (en) * | 2010-04-22 | 2014-01-07 | Maxim Integrated Products, Inc. | System for and method of transferring charge to convert capacitance to voltage for touchscreen controllers |
| US8508493B2 (en) * | 2010-06-21 | 2013-08-13 | Pixart Imaging Inc. | Reduction of electromagnetic interference in a capacitive touchscreen system |
| EP2428774B1 (en) * | 2010-09-14 | 2013-05-29 | Stichting IMEC Nederland | Readout system for MEMs-based capacitive accelerometers and strain sensors, and method for reading |
| US8344928B2 (en) * | 2010-11-10 | 2013-01-01 | Stmicroelectronics Asia Pacific Pte Ltd. | Method and apparatus for capacitance sensing |
| FR2968485A1 (fr) * | 2010-12-01 | 2012-06-08 | St Microelectronics Rousset | Procede de detection de proximite a partir d'un ensemble de touches tactiles formees sur un blindage |
| FR2968486A1 (fr) * | 2010-12-01 | 2012-06-08 | St Microelectronics Rousset | Procede de detection de proximite a partir d'un ensemble de touches tactiles |
| DE102011010620B4 (de) * | 2011-02-08 | 2014-07-17 | Brose Fahrzeugteile Gmbh & Co. Kommanditgesellschaft, Hallstadt | Verfahren zum Messen einer Kapazität |
| US8729911B2 (en) * | 2011-04-19 | 2014-05-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Usage of weighting matrices in multi-phase scanning modes |
| US11320946B2 (en) * | 2011-04-19 | 2022-05-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitive panel scanning with reduced number of sensing circuits |
| CH705869A1 (fr) * | 2011-12-02 | 2013-06-14 | Advanced Silicon S A | Interface et procédé de lecture de capteur capacitif. |
| EP2618164B1 (fr) * | 2012-01-20 | 2014-07-16 | EM Microelectronic-Marin SA | Procédé de mesure d'un paramètre physique et circuit électronique d'interface d'un capteur capacitif pour sa mise en oeuvre |
| GB2499242A (en) * | 2012-02-10 | 2013-08-14 | Alterix Ltd | methods of operating excitation circuitry and/or measurement circuitry in a digitiser and a method of manufacturing a transducer for a digitiser |
| JP5922494B2 (ja) * | 2012-05-24 | 2016-05-24 | 横河電機株式会社 | 物理量測定装置、物理量測定方法 |
| EP2667156B1 (en) * | 2012-05-25 | 2015-10-21 | Nxp B.V. | Capacitive position sensor system |
| EP2717136B1 (en) * | 2012-10-02 | 2017-07-12 | Nxp B.V. | Capacitive position sensor system |
| CN103837163A (zh) * | 2012-11-26 | 2014-06-04 | 矽创电子股份有限公司 | 电容感测电路 |
| US8823396B2 (en) * | 2013-01-11 | 2014-09-02 | Nokia Corporation | Apparatus and associated methods |
| US9383395B1 (en) * | 2013-04-26 | 2016-07-05 | Parade Technologies, Ltd. | Charge balancing converter using a passive integrator circuit |
| JP6396478B2 (ja) * | 2013-09-27 | 2018-09-26 | センセル インコーポレイテッドSensel,Inc. | タッチセンサ検出システム及び方法 |
| EP2933711B1 (en) * | 2014-04-16 | 2020-03-25 | Nxp B.V. | Smart card and manufacturing method |
| DE102014007236A1 (de) * | 2014-05-16 | 2015-11-19 | Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Messen eines Kapazitätswertes |
| US9606670B2 (en) * | 2014-09-30 | 2017-03-28 | Synaptics Incorporated | Real-time spectral noise monitoring for proximity sensing device |
| EP3035173B1 (en) * | 2014-12-15 | 2018-02-07 | Nxp B.V. | User interface unit, electronic device and manufactoring method |
| EP3059553B1 (en) * | 2015-02-23 | 2018-05-02 | EM Microelectronic-Marin SA | Electronic measurement circuit |
| US9703436B2 (en) * | 2015-05-29 | 2017-07-11 | Synaptics Incorporated | Hybrid large dynamic range capacitance sensing |
| US20170090609A1 (en) * | 2015-09-25 | 2017-03-30 | Synaptics Incorporated | Oversampled step and wait system for capacitive sensing |
| US9817537B1 (en) * | 2016-10-12 | 2017-11-14 | Uico, Inc. | Capacitive touch sensing system using switched capacitor analog signal processing |
| DE102017110976B8 (de) * | 2017-05-19 | 2018-12-06 | Infineon Technologies Austria Ag | Selbstoszillierender Mehrrampen-Umsetzer und Verfahren zum Umsetzen einer Kapazität in ein digitales Signal |
-
2015
- 2015-07-01 DE DE102015008485.2A patent/DE102015008485A1/de not_active Withdrawn
-
2016
- 2016-06-29 ES ES16739425T patent/ES2970384T3/es active Active
- 2016-06-29 CN CN201680036320.XA patent/CN107810603B/zh active Active
- 2016-06-29 JP JP2017568297A patent/JP6607972B2/ja active Active
- 2016-06-29 WO PCT/EP2016/065190 patent/WO2017001510A1/de not_active Ceased
- 2016-06-29 EP EP16739425.3A patent/EP3317968B1/de active Active
-
2017
- 2017-12-15 US US15/843,624 patent/US11079880B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6607972B2 (ja) | 2019-11-20 |
| US11079880B2 (en) | 2021-08-03 |
| CN107810603A (zh) | 2018-03-16 |
| DE102015008485A1 (de) | 2017-01-05 |
| CN107810603B (zh) | 2021-06-18 |
| WO2017001510A1 (de) | 2017-01-05 |
| EP3317968B1 (de) | 2023-11-22 |
| US20180106843A1 (en) | 2018-04-19 |
| JP2018523400A (ja) | 2018-08-16 |
| EP3317968A1 (de) | 2018-05-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2970384T3 (es) | Procedimiento para medir un valor de capacitancia | |
| ES2688394T3 (es) | Procedimiento para medir un valor de capacidad | |
| CN110568951B (zh) | 压力信号处理 | |
| EP2279470B1 (en) | Capacitive voltage divider touch sensor | |
| JP2009508086A5 (es) | ||
| JP2011508236A5 (es) | ||
| US20170010130A1 (en) | Pliable capacitive structure apparatus and methods | |
| JPS63282669A (ja) | 電気部品のキャパシタンスと抵抗を測定するための方法及び装置 | |
| ATE529754T1 (de) | Verfahren und schaltungsanordnung zum messen einer kapazität | |
| JP2015518218A5 (es) | ||
| EP2902888B1 (en) | Touch panel calibration system | |
| CN106461713A (zh) | 静电电容测量装置、静电电容型面状传感器装置以及静电电容型液位检测装置 | |
| JPH05273324A (ja) | 容量型センサを評価しかつテストするための回路装置 | |
| US9506964B2 (en) | Method and device for characterizing or measuring a floating capacitance | |
| US11860022B2 (en) | Capacitive sensing utilizing a differential value indication | |
| KR20210154139A (ko) | 이중 극성 상호 용량 액체 감지 | |
| JP7122687B2 (ja) | 静電容量検出装置 | |
| KR101109495B1 (ko) | 커패시턴스 측정 회로의 캘리브레이션 방법 및 캘리브레이션이 적용된 터치스크린 장치 | |
| Brookhuis et al. | Three-axial force sensor with capacitive read-out using a differential relaxation oscillator | |
| JP5039169B2 (ja) | 容量検出装置、抵抗検出装置 | |
| JP6629102B2 (ja) | 入力装置とその制御方法及びプログラム | |
| EP3018484A1 (en) | Device and method for measuring electrical variables of analog sensors | |
| CN102439546A (zh) | 通过电容器充电时间识别多点触摸坐标的多点触摸识别电阻式触摸屏 | |
| CN111630779B (zh) | 用于机动车辆的在多个检测区域处检测存在的方法和装置 | |
| US12523554B2 (en) | Resistive and capacitive force sensor and method of operating the same |