ES2979267T3

ES2979267T3 - Perfilado de piedras preciosas

Info

Publication number: ES2979267T3
Application number: ES18737038T
Authority: ES
Inventors: Chetan Fulchandbhai Patel; Munjalkumar Dhirajlal Gajjar; Rahul Mahendra Kumar Gaywala
Original assignee: Sahajanand Technologies Pvt Ltd
Current assignee: Sahajanand Technologies Pvt Ltd
Priority date: 2017-06-08
Filing date: 2018-06-06
Publication date: 2024-09-25
Anticipated expiration: 2038-06-06
Also published as: US11029252B2; EP3635329B1; WO2018225089A1; US20200232930A1; EP3635329A1

Abstract

Se describen aspectos relacionados con el perfilado de piedras preciosas. Un sistema de perfilado de piedras preciosas (100) incluye un soporte (104) que puede girar mediante un actuador (108) y puede sujetar una piedra preciosa (106), teniendo la piedra preciosa (106) una marca de referencia (112). El sistema incluye una unidad de medición sin contacto (110) para determinar una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa (106) y una superficie de la piedra preciosa (106). Además, el sistema incluye un controlador (114) para girar la piedra preciosa (106) a través de una pluralidad de orientaciones y recibir la distancia medida entre un centro de rotación de la piedra preciosa (106) y una superficie de la piedra preciosa (106) en cada una de la pluralidad de orientaciones de la piedra preciosa (106). El controlador (114) puede generar un perfil de la piedra preciosa (106) basándose en la distancia recibida en la pluralidad de orientaciones. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN

Perfilado de piedras preciosas

Campo técnico

El presente objeto se refiere, en general, a la tecnología de piedras preciosas y especialmente, aunque no exclusivamente, al procesamiento de piedras preciosas.

Antecedentes

Las piedras preciosas son depósitos de origen natural de minerales y pueden incluir, por ejemplo, diamantes, cuarzo, ópalos, zafiros, rubíes, esmeraldas y topacio. Dado que las piedras preciosas son raras, son muy valoradas para su uso, por ejemplo, en ornamentación y joyería. El valor de estas piedras preciosas se debe a su color, brillo y forma en que transmiten, refractan o reflejan los rayos de luz. Para mejorar estas propiedades, las piedras preciosas en bruto se procesan, por ejemplo, cortando, facetando, dando forma y puliendo. El procesamiento de la piedra preciosa confiere ciertas características a la piedra preciosa. Por ejemplo, el valor de una piedra preciosa procesada está determinado de forma general por las 4 C, es decir, quilate (peso), claridad (transparencia), color y corte, que se ven afectados directa o indirectamente por la técnica de procesamiento. Por lo tanto, las técnicas para el procesamiento eficaz de piedras preciosas han sido áreas de investigación activa. Una de esas técnicas que permite un procesamiento eficaz de piedras preciosas es el perfilado de piedras preciosas. El documento US 2008/231833 A1 describe un aparato para determinar la localización de una inclusión en una piedra preciosa, y describe la definición<de una superficie exterior de la piedra preciosa mediante técnicas de barrido. El documento US>6<567 156 B1 describe>un método para examinar una piedra preciosa que incluye determinar la silueta de la piedra preciosa en tres dimensiones. El documento US 2017/021530 A1 describe un método para el procesamiento de piedras preciosas utilizando un dispositivo de captura de imágenes. El documento US 2010/250201 A1 describe un método para construir un modelo virtual de una piedra preciosa, que incluye realizar mediciones de la piedra preciosa para construir un modelo en 3D de una superficie exterior de la piedra preciosa.

Breve descripción de los dibujos

La descripción detallada se describe con referencia a las figuras adjuntas. En las figuras, el o los dígitos más a la izquierda de un número de referencia identifican la figura en la que aparece por primera vez el número de referencia. Se utilizan los mismos números en todos los dibujos para hacer referencia a características y componentes similares.

Las Figuras 1A y 1B ilustran distintas vistas de un esquema de un sistema de perfilado de piedras preciosas, según una realización del presente objeto.

La Figura 2 ilustra un esquema de un controlador para el sistema de perfilado de piedras preciosas, según una realización del presente objeto.

La Figura 3 ilustra un método para perfilar una piedra preciosa, según una realización del presente objeto.

Descripción detallada

El presente objeto se refiere a aspectos relacionados con el perfilado de piedras preciosas. Como se ha mencionado anteriormente, en los últimos tiempos han sido áreas de investigación activa técnicas, como el perfilado de piedras preciosas, que facilitan un procesamiento eficaz de piedras preciosas.

El perfilado de piedras preciosas se refiere al proceso de crear un perfil externo de una superficie de la piedra preciosa. Perfilar la piedra preciosa facilita la planificación del procesamiento de la piedra preciosa. Por ejemplo, basándose en el perfil, se determina el corte y la forma de la piedra preciosa que se conseguirá. De forma convencional, el perfil de la piedra preciosa se genera manualmente. Por ejemplo, la piedra preciosa se pone en un soporte y se capturan imágenes en direcciones arbitrarias para obtener el perfil. Sin embargo, es posible que las imágenes tomadas arbitrariamente no proporcionen una aproximación eficaz del perfil del diamante. Otras técnicas convencionales de perfilado de piedras preciosas implican el uso de máquinas avanzadas y caras con múltiples escáneres tridimensionales para escanear toda la superficie de la piedra preciosa y generar un perfil de la piedra preciosa. Si bien el perfil así generado por estas máquinas avanzadas es muy preciso, conlleva un considerable coste de inversión de capital en tales equipos.

El presente objeto se refiere a técnicas de perfilado de piedras preciosas que permiten la generación de un perfil de una piedra preciosa con el uso de equipos de bajo coste con una intervención manual limitada o nula. Por lo tanto, el perfilado de piedras preciosas conseguido según las técnicas del presente objeto proporciona un perfil considerablemente preciso de la piedra preciosa e implica un coste sustancialmente bajo en la generación del perfil. En otras palabras, el perfil generado según el presente objeto conseguido es un compromiso adecuado entre la precisión del perfil generado y el coste asociado al equipo utilizado para la generación del perfil.

Según un aspecto, el perfilado de piedras preciosas implica determinar una distancia del centro de rotación de la piedra preciosa a su superficie en distintas orientaciones, donde la distancia se mide con referencia a una marca de referencia en la superficie de la piedra preciosa. Estos valores de la distancia, por ejemplo, los radios de la piedra preciosa a lo largo de una o más líneas de referencia en su superficie, se utilizan para generar el perfil de la piedra preciosa.

En consecuencia, la invención proporciona un sistema de perfilado de piedras preciosas como se define en la reivindicación 1, un método para perfilar una piedra preciosa como se define en la reivindicación 3 y un controlador para un sistema de perfilado de piedras preciosas como se define en la reivindicación 5. Como se entenderá, la dimensión principal puede ser una dimensión, tal como los radios o la profundidad, que sea relevante para procesar la piedra preciosa.

Por ejemplo, el perfil puede incluir parámetros de corte para procesar la piedra preciosa, por ejemplo, puntos focales, altura, longitud de carrera, ángulos de bandas y profundidad para cada lado de bandas.

El perfilado de piedras preciosas, según el presente objeto, es conveniente y de bajo coste y, al mismo tiempo, determina el perfil de la piedra preciosa con una precisión sustancial. Por lo tanto, el perfilado de piedras preciosas del presente objeto facilita la optimización de los recursos utilizados para perfilar frente a la corrección con la que se genera el perfil de la piedra preciosa.

Estas y otras ventajas del presente objeto se describirán con mayor detalle junto con las siguientes figuras. Si bien los aspectos del perfilado de piedras preciosas pueden ejecutarse en cualquier número de configuraciones diferentes, las realizaciones se describen en el contexto del o de los siguientes dispositivos y métodos.

La Figura 1A y la Figura 1B ilustran esquemas de un sistema 100 de perfilado de piedras preciosas para generar un perfil de una piedra preciosa, tal como una piedra preciosa en bruto, según una realización del presente objeto. Mientras que la Figura 1A ilustra una vista superior del sistema 100 de perfilado de piedras preciosas, la Figura 1B ilustra una vista lateral del sistema 100 de perfilado de piedras preciosas. Para abreviar y facilitar la comprensión, la Figura 1A y la Figura 1B se describirán conjuntamente de ahora en adelante.

El sistema 100 de perfilado de piedras preciosas, según el presente objeto, proporciona una etapa de planificación en el ciclo de procesamiento de piedras preciosas. Como sugiere el nombre, en esta etapa, se genera un perfil, tal como<un perfil de superficie, de la piedra preciosa en bruto utilizando el sistema>100<de perfilado de piedras preciosas con>una precisión sustancial. Según un aspecto, el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas puede determinar una dimensión principal asociada a la piedra preciosa en diferentes orientaciones. La dimensión principal puede medirse con referencia a una marca de referencia en la superficie de la piedra preciosa. El sistema 100 de perfilado de piedras preciosas puede utilizar estos valores de la dimensión principal, por ejemplo, los radios de la piedra preciosa a lo largo de una o más líneas de referencia en su superficie, para generar el perfil de la piedra preciosa. En consecuencia, en<la fase de planificación, el sistema>100<de perfilado de piedras preciosas puede determinar diversas operaciones que>realizar y la forma de procesamiento posterior de la piedra preciosa en bruto puede trazarse según el perfil identificado. Como se entenderá, la piedra preciosa en bruto puede ser la piedra preciosa en estado natural, no procesado.

Según una realización del presente objeto, el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas puede incluir un bastidor 102 y un soporte 104 para sujetar una piedra preciosa 106, de forma que el soporte 104 pueda rotar con respecto al bastidor 102. Por ejemplo, en la posición donde la piedra preciosa 106 se monta en el soporte 104, el soporte 104 puede rotar alrededor de un eje central.

Para proporcionar el movimiento de rotación al soporte 104, el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas puede incluir uno o más accionadores 108 acoplados al soporte 104. En un ejemplo, el accionador 108 puede ser simplemente un motor, por ejemplo un servomotor, o un conjunto que incluya un motor y una caja de engranajes para generar una cantidad apropiada de par para hacer rotar el soporte 104. Además, el accionador 108 puede incluir otros conjuntos o componentes que pueden utilizarse para proporcionar un movimiento de rotación al soporte 104.

Además, como parte de la generación del perfil, el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas incluye una unidad 110 de medición sin contacto que está fija con respecto al soporte 104 y, por lo tanto, a la piedra preciosa 106. Como<se ha mencionado anteriormente, como parte de la generación del perfil, la unidad>110<de medición sin contacto debe>determinar una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa 106 y una superficie de la piedra preciosa 106 a lo largo de una marca 112 de referencia en la piedra preciosa 106. En un ejemplo, la piedra preciosa puede<tener una marca>112<de referencia en su superficie antes de montarla en el sistema>100<de perfilado de piedras>preciosas. En otras palabras, la piedra preciosa puede tener la referencia de antemano. En otro ejemplo, el sistema 100<de perfilado de piedras preciosas puede incluir un sistema de marcado (no mostrado) que puede utilizarse para>hacer la marca 112 de referencia en la piedra preciosa 106. Por ejemplo, la marca 112 de referencia puede tener la forma de una o más líneas continuas que discurran a lo largo de la periferia de la piedra preciosa 106. Por ejemplo,<en caso de que la piedra preciosa 106 sea sustancialmente esférica, la marca>112<de referencia puede tener la forma>de múltiples líneas que discurran a lo largo de la circunferencia de la esfera, formando cada una aproximadamente un círculo.

Además, el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas incluye un controlador 114 que se acopla al accionador 108 y a la unidad 110 de medición sin contacto. El controlador 114 puede accionar el accionador 108 para rotar la piedra preciosa 106 a través de una pluralidad de orientaciones o posiciones. En cada posición, la unidad 110 de medición sin contacto puede medir la dimensión principal de la piedra preciosa 106. La dimensión principal es una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa 106 y una superficie de la piedra preciosa 106. El controlador 114<puede recibir, desde la unidad>110<de medición sin contacto, la dimensión principal medida en cada orientación y,>basándose en ella, el controlador 110 puede generar un perfil de la piedra preciosa 106. Como se ha mencionado anteriormente, el perfil generado en la fase de planificación puede utilizarse para procesar posteriormente la piedra preciosa 106, por ejemplo, para cortar la piedra preciosa 106. El controlador 114 y sus componentes y funcionamiento<se explican con más detalle con referencia a la Figura>2<más adelante.>

En un ejemplo, la Figura 1B ilustra una ejecución de la determinación de la distancia realizada por la unidad 110 de medición sin contacto. Como puede verse en la Figura 1B, la unidad 110 de medición sin contacto tiene una posición fija con referencia a la piedra preciosa 106. En dicho ejemplo, una dirección de medición de la unidad 110 de medición sin contacto forma un ángulo © con un plano imaginario 116 que pasa por el centro de rotación de la piedra preciosa 106 y se extiende a lo largo de una dirección de la medición. Por ejemplo, la dirección de medición de la unidad 110<de medición sin contacto es a lo largo de una línea que conecta la unidad>110<de medición sin contacto con el centro>de rotación de la piedra preciosa 106. Dado que este ángulo © es fijo y también lo es la distancia entre la unidad 110 de medición sin contacto y el plano 116, el controlador 114, en dicho ejemplo, puede determinar la distancia total entre<el centro de rotación de la piedra preciosa 106 y la unidad>110<de medición sin contacto, por ejemplo, utilizando>relaciones trigonométricas. En otros ejemplos, pueden utilizarse otras relaciones matemáticas para determinar la distancia total. Esta distancia total sigue siendo fija ya que el centro de rotación de la piedra preciosa 106 y la unidad 110<de medición sin contacto siguen siendo fijos.>

Además, la unidad 110 de medición sin contacto puede medir directamente la distancia entre esta misma y la superficie de la piedra preciosa 106 y proporcionar esta distancia en cada orientación de la piedra preciosa 106 al controlador 114. En consecuencia, el controlador 114, en dicho ejemplo, puede determinar la dimensión principal, en cada orientación o posición de la piedra preciosa 106, basándose en la distancia total fija entre el centro de rotación de la<piedra preciosa 106 y la unidad>110<de medición sin contacto y la distancia variable entre la superficie de la piedra>preciosa 106 y la unidad 110 de medición sin contacto. El controlador 114 puede, por ejemplo, simplemente restar las dos distancias y obtener la dimensión principal en cada posición que, en dicho ejemplo, puede ser la distancia entre el centro de rotación y la superficie de la piedra preciosa 106 en cada posición.

La Figura 2 ilustra un esquema del controlador 114 para el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas, según una realización del presente objeto. En dicha realización, el controlador 114 puede ejecutarse como un microcontrolador, un microordenador y/o cualquier dispositivo que manipule señales basándose en instrucciones operativas. Según dicha realización, el controlador 114 puede incluir un procesador 200 y una memoria 202 de dispositivo. El procesador 200<puede ser una única unidad de procesamiento o varias unidades, todas ellas podrían incluir múltiples unidades>informáticas. El procesador 200 puede ejecutarse como uno o más microprocesadores, microordenadores, microcontroladores, procesadores de señales digitales, unidades de procesamiento central, máquinas de estados, sistemas de circuitos lógicos y/o cualquier dispositivo que manipule señales, basándose en instrucciones operativas. Entre otras capacidades, el o los procesadores 200 se proporcionan para extraer y ejecutar instrucciones legibles por ordenador almacenadas en la memoria 202 del dispositivo. La memoria 202 del dispositivo puede estar acoplada al<procesador>200<y puede incluir cualquier medio legible por ordenador conocido en la técnica, incluidos, por ejemplo,>memoria volátil, tal como memoria estática de acceso aleatorio (SRAM) y memoria dinámica de acceso aleatorio (DRAM), y/o memoria no volátil, tal como memoria de solo lectura (ROM),<r>O<m>programable borrable, memorias flash, discos duros, discos ópticos y cintas magnéticas.

Además, el controlador 114 puede incluir uno o varios módulos 204 y datos 206. Los módulos 204 y los datos 206 pueden estar acoplados al procesador 200. Los módulos 204, entre otras cosas, incluyen rutinas, programas, objetos, componentes, estructuras de datos, etc., que realizan tareas particulares o aplican tipos de datos abstractos particulares. Los módulos 204 también pueden implementarse como procesadores de señales, máquinas de estado, sistemas de circuitos lógicos y/o cualquier otro dispositivo o componente que manipule señales basándose en instrucciones operativas. Además, los módulos 204 pueden incluir programas o instrucciones codificadas que complementen aplicaciones o funciones realizadas por el controlador 114.

De forma adicional, en dicha ejecución, los datos 206 pueden servir, entre otras cosas, como un repositorio para almacenar datos que se procesen, reciban o generen como resultado de la ejecución de uno o más módulos en el o los módulos 204. Aunque los datos 206 se muestran internos al controlador 114, puede entenderse que los datos 206 pueden residir en un repositorio externo (no mostrado en la figura), que puede estar acoplado operativamente al controlador 114. En consecuencia, el controlador 114 puede estar provisto de una o varias interfaces de entrada/salida (I/O) (no mostradas) para comunicarse con el repositorio externo para obtener información de los datos 206. Las interfaces de I/O pueden incluir una variedad de interfaces de software y hardware, que pueden permitir que el controlador 114 se comunique con el repositorio externo y los componentes periféricos del sistema 100 de perfilado<de piedras preciosas, como el accionador 108 y la unidad>110<de medición sin contacto.>

Como se ha mencionado anteriormente, el controlador 114, cuando se emplea en el sistema 100 de perfilado de piedras preciosas, puede acoplarse operativamente al accionador 108 y a la unidad 110 de medición sin contacto. En funcionamiento, el controlador 114 puede hacer funcionar el accionador 108 para proporcionar una rotación completa a una piedra preciosa 106 montada en el soporte 104 acoplado al accionador 108. Mientras lo hace, el controlador 114 puede controlar al accionador 108 de modo que la piedra preciosa 106 rote de forma intermitente a través de una pluralidad de posiciones. Por ejemplo, el controlador 114 puede rotar la piedra preciosa 106 cada 10 grados de rotación, haciendo que la piedra preciosa 106 pase por 36 posiciones. En otro caso, dependiendo de la granularidad de los datos que recopilar para generar el perfil de la piedra preciosa 106, el controlador 114 puede rotar la piedra preciosa 106 cada 5 grados de rotación, haciendo rotar de este modo la piedra preciosa en 72 posiciones.

En cada posición, el controlador 114 puede controlar la unidad 110 de medición sin contacto para medir la distancia de la marca 112 de referencia en la piedra preciosa 106 desde la unidad 110 de medición sin contacto. En consecuencia, para cada una de las diversas posiciones por las que pasa la piedra preciosa 106, el controlador 114<puede obtener la distancia de la marca>112<de referencia en la superficie de la piedra preciosa 106 al dispositivo>110 de medición sin contacto.

Además, basándose en la distancia de la marca 112 de referencia desde la unidad 110 de medición sin contacto en la superficie de la piedra preciosa 106 en las posiciones respectivas de la piedra preciosa 106, el controlador 114 puede determinar la dimensión principal de la piedra preciosa 106 en cada una de las posiciones. En un ejemplo, el controlador 114 puede determinar la distancia basándose en la metodología explicada anteriormente con referencia a la Figura 1B anterior. En un ejemplo, la dimensión puede ser relevante para procesar la piedra preciosa 106 y puede<incluir el radio de la piedra preciosa 106 medido a lo largo de la marca>112<de referencia en caso de que la piedra>preciosa 106 sea sustancialmente esférica. En otras palabras, la dimensión principal puede ser la distancia entre el<centro de rotación y la superficie de la piedra preciosa 106 medida a lo largo de la marca>112<de referencia en la>superficie de la piedra preciosa 106.

Una vez conocida la dimensión principal, el controlador 114 puede generar un perfil de la piedra preciosa 106 basándose en la dimensión principal en cada posición de la piedra preciosa 106. En un ejemplo, el perfil puede incluir parámetros de corte para procesar la piedra preciosa 106, por ejemplo, incluidos puntos focales, altura, longitud de carrera, ángulos de bandas y profundidad para cada lado de bandas.

En otro ejemplo, el controlador 114 puede obtener directamente el valor medido de la dimensión principal de la unidad 110<de medición sin contacto, por ejemplo, en forma de la distancia del centro de rotación a la superficie de la piedra>preciosa 106 en cada una de las diversas posiciones en las que rota la piedra preciosa 106. Basándose en la medición obtenida, el controlador 114 puede generar el perfil de la piedra preciosa 106.

El método 300 se describe en la Figura 3 para generar un perfil de una piedra preciosa 106, o en otras palabras, para perfilar una piedra preciosa 106, según una ejecución del presente objeto. El orden en el que se describe el método 300 no pretende interpretarse como una limitación, y cualquier número de los bloques del método descrito puede combinarse en cualquier orden adecuado para ejecutar el método 300 o un método alternativo. Además, los bloques individuales pueden eliminarse del método 300 sin abandonar el ámbito del objeto como se define en las reivindicaciones.

El método 300 puede realizarse mediante dispositivos informáticos programados, por ejemplo, basándose en instrucciones recuperadas de medios legibles por ordenador no transitorios. Los medios legibles por ordenador pueden incluir instrucciones ejecutables por máquina o ejecutables por ordenador para realizar todo o parte del método descrito. Los medios legibles por ordenador pueden ser, por ejemplo, memorias digitales, medios de almacenamiento magnéticos, tales como discos magnéticos y cintas magnéticas, discos duros o medios de almacenamiento de datos legibles ópticamente.

En el presente ejemplo, el método 300 puede ser realizado por el controlador 114. Para abreviar la descripción de la Figura 3, los componentes del controlador 114 que realizan las diversas etapas del método 300 no se describen en detalle con referencia a la Figura 3. Estos detalles se proporcionan en la descripción con referencia a la Figura 2.

Con referencia al bloque 302, la piedra preciosa 106 montada en un soporte 104 rota a través de una pluralidad de orientaciones utilizando un accionador 108 bajo el control del controlador 114. Por ejemplo, dependiendo de la granularidad de los datos que se recogerán para generar el perfil de la piedra preciosa 106, el controlador 114 puede regular la rotación de la piedra preciosa 106. Por ejemplo, el controlador 114 puede rotar la piedra preciosa 106 cada 10 grados de rotación, haciendo pasar la piedra preciosa 106 por 36 posiciones o puede rotar la piedra preciosa 106 cada 5 grados de rotación, rotando así la piedra preciosa en 72 posiciones.

En el bloque 304, se mide la distancia de la marca 112 de referencia en la piedra preciosa 106 desde la unidad 110<de medición sin contacto en cada orientación, utilizando la unidad>110<de medición sin contacto fija con respecto a la>piedra preciosa 106.

En el bloque 306, se determina una dimensión principal de la piedra preciosa 106 en cada una de las orientaciones,<basándose en la distancia de la marca>112<de referencia desde la unidad>110<de medición sin contacto en la piedra>preciosa 106, en la orientación respectiva de la piedra preciosa 106. Como se ha explicado anteriormente, la dimensión principal es relevante para procesar la piedra preciosa 106. Por ejemplo, la dimensión principal puede ser la distancia<entre el centro de rotación y la superficie de la piedra preciosa>106<medida a lo largo de la marca>112<de referencia en>la superficie de la piedra preciosa 106. Por ejemplo, en caso de que la piedra preciosa 106 sea sustancialmente<esférica, la dimensión principal puede ser el radio de la piedra preciosa 106 medido a lo largo de la marca>112<de>referencia.

En el bloque 308, se genera un perfil de la piedra preciosa 106 basándose en la dimensión principal en cada orientación de la piedra preciosa 106. El perfil generado se realiza en la fase de planificación y puede utilizarse posteriormente para procesar la piedra preciosa 106. En un ejemplo, el perfil puede incluir parámetros de corte para procesar la piedra preciosa 106, por ejemplo, incluidos puntos focales, altura, longitud de carrera, ángulos de bandas y profundidad para cada lado de bandas.

<Aunque se describen ejecuciones para el perfilado de piedras preciosas, debe entenderse que el presente objeto no>se limita necesariamente a las características específicas de los sistemas o métodos descritos en la presente memoria. Más bien, las características y métodos específicos se describen como ejecuciones para el perfilado de piedras preciosas.

Claims

REIVINDICACIONES

1. Un sistema (100) de perfilado de piedras preciosas que comprende:

un soporte (104) para sujetar una piedra preciosa (106), teniendo la piedra preciosa (106) una marca (112) de referencia, en donde el soporte (104) puede rotar alrededor de un eje central; un accionador (108) acoplado al soporte (104) para rotar el soporte (104);

una unidad (110) de medición sin contacto fija con respecto al soporte (104), en donde la unidad (110) de medición sin contacto está configurada para determinar una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa (106) y una superficie de la piedra preciosa (106); y un controlador (114) configurado para:

accionar el accionador (108) para rotar la piedra preciosa (106) a través de una pluralidad de orientaciones;

recibir la distancia de una marca (112) de referencia en la piedra preciosa (106) desde la unidad (110) de medición sin contacto en cada una de la pluralidad de orientaciones;

medir, utilizando la unidad (110) de medición sin contacto, una dimensión principal de la piedra preciosa (106) en cada una de la pluralidad de orientaciones, siendo la dimensión principal una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa (106) y una superficie de la piedra preciosa (106) a lo largo de la marca (112) de referencia, basándose en la distancia de la marca (112) de referencia desde la unidad (110) de medición sin contacto en la piedra preciosa (106) en la orientación respectiva de la piedra preciosa (106), en donde la dimensión principal es relevante para el procesamiento de la piedra preciosa (106);

y generar un perfil de la piedra preciosa (106) basándose en la dimensión principal en cada orientación de la piedra preciosa (106), en donde la piedra preciosa (106) se procesa basándose en el perfil.

2. El sistema (100) de perfilado de piedras preciosas según la reivindicación 1, en donde el controlador (114) debe determinar, a partir del perfil generado, los parámetros de corte para procesar la piedra preciosa (106), comprendiendo los parámetros de corte puntos focales, altura, longitud de carrera, ángulos de bandas y profundidad para cada lado de bandas.

3. Un método para perfilar una piedra preciosa (106), comprendiendo el método:

rotar, utilizando un accionador (108), la piedra preciosa (106) montada en un soporte (104) a través de una pluralidad de orientaciones;

medir, utilizando una unidad (110) de medición sin contacto fijada con respecto a la piedra preciosa (106), una distancia de una marca (112) de referencia en la piedra preciosa (106) desde la unidad (110) de medición sin contacto en cada una de la pluralidad de orientaciones; medir, utilizando la unidad (110) de medición sin contacto, una dimensión principal de la piedra preciosa (106) en cada una de la pluralidad de orientaciones, siendo la dimensión principal una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa (106) y una superficie de la piedra preciosa (106) a lo largo de la marca (112) de referencia, basándose en la distancia de la marca (112) de referencia desde la unidad (110) de medición sin contacto en la piedra preciosa (106) en la orientación respectiva de la piedra preciosa (106), en donde la dimensión principal es relevante para procesar la piedra preciosa (106); y

generar un perfil de la piedra preciosa (106) basándose en la dimensión principal en cada orientación de la piedra preciosa (106), en donde la piedra preciosa (106) se procesa basándose en el perfil.

4. El método según la reivindicación 3, en donde la generación del perfil comprende determinar parámetros de corte para procesar la piedra preciosa (106), comprendiendo los parámetros de corte puntos focales, altura, longitud de carrera, ángulos de bandas y profundidad para cada lado de bandas.

5. Un controlador (114) para un sistema (100) de perfilado de piedras preciosas según la reivindicación 1 o la reivindicación 2, en donde el controlador (114) está configurado para:

operar un accionador (108) para proporcionar una rotación completa a una piedra preciosa (106) montada en un soporte (104), en donde la piedra preciosa (106) rota de forma intermitente a través de una pluralidad de posiciones;

averiguar, desde una unidad (110) de medición sin contacto, una distancia de una marca (112) de referencia en la piedra preciosa (106) desde la unidad (110) de medición sin contacto en cada una de la pluralidad de posiciones;

determinar, desde la unidad (110) de medición sin contacto, una dimensión principal de la piedra preciosa (106) en cada una de la pluralidad de posiciones, siendo la dimensión principal una distancia entre un centro de rotación de la piedra preciosa (106) y una superficie de la piedra preciosa (106) medida a lo largo de la marca (112) de referencia, basándose en la distancia de<la marca (>112<) de referencia desde la unidad (>110<) de medición sin contacto en la piedra preciosa>(106) en la posición respectiva de la piedra preciosa (106), en donde la dimensión principal es relevante para procesar la piedra preciosa (106); y

generar un perfil de la piedra preciosa (106) basándose en la dimensión principal en cada posición de la piedra preciosa (106), en donde la piedra preciosa (106) se procesa basándose en el perfil.

6<. El controlador (114) según la reivindicación 5, en donde el controlador (114) debe determinar los parámetros>de corte para procesar la piedra preciosa (106), comprendiendo los parámetros de corte puntos focales,<altura, longitud de carrera, ángulos de bandas y profundidad para cada lado de bandas.>