ES2984411T3 - Receptor para un sistema de corriente de Foucault pulsada - Google Patents
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Abstract
La presente divulgación se refiere a un receptor para un sistema de corrientes parásitas pulsadas (PEC) configurado para detectar un campo electromagnético cambiante generado por corrientes parásitas inducidas en un objeto de un material eléctricamente conductor. El receptor comprende una bobina receptora eléctricamente conductora 20, un canal receptor de alto voltaje (HVRC), un canal receptor de bajo voltaje (LVRC) 22 y una protección contra sobretensión (OVP) 21 conectada entre la bobina receptora y el LVRC. El OVP comprende un circuito de polarización B, un diodo D conectado entre la bobina receptora y el circuito de polarización, y un condensador C conectado entre el circuito de polarización y el LVRC. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)
Description
DESCRIPCIÓN
Receptor para un sistema de corriente de Foucault pulsada
CAMPO TÉCNICO
La presente divulgación se refiere a un receptor para un sistema de corriente de Foucault pulsada (PEC, por sus siglas en inglés) que comprende un transmisor configurado para generar un campo electromagnético cambiante que induce corrientes de Foucault en un objeto de un material eléctricamente conductor dispuesto dentro del campo electromagnético, y el receptor configurado para detectar un cambio electromagnético cambiante generado por las corrientes de Foucault.
ANTECEDENTES
La PEC, p. ej., como se describe en el documento US 5.059.902, se ha aplicado con éxito a la medición de cantidades mecánicas, tales como la resistividad eléctrica, el grosor de láminas de metal no ferroso y la posición de borde. El método funciona mediante la creación de un campo magnético estático en la placa sometida a medición usando una corriente de CC en una bobina transmisora. A continuación, el campo magnético se elimina repentinamente al apagar la corriente, depositando la energía magnética en resistencias de carga adecuadas. Se mide el primer pulso resultante del corte de corriente y su integral se puede usar para determinar la distancia entre la placa y la bobina. Después de que la corriente en la bobina transmisora haya decaído, es posible iniciar una medición de las corrientes de Foucault inducidas en la placa por el cambio repentino del campo magnético aplicado. El cambio del campo magnético debido a la rápida caída de las corrientes de Foucault en la placa puede inducir una pequeña señal que puede medirse y analizarse con el fin de deducir la resistividad y el grosor de la placa.
La medición de la señal de la corriente de Foucault se realiza, normalmente, usando una bobina de receptor individual y un canal de receptor (RC, por sus siglas en inglés) de medición individual, especialmente diseñado para medir la señal de mV de la caída de corriente de Foucault. El pulso inicial resultante del corte de corriente del transmisor puede ser de varios cientos de voltios, por lo que el canal de medición de corrientes de Foucault también debe incluir algún tipo de protección contra sobretensión (OVP, por sus siglas en inglés).
La parte inicial de la caída de corriente de Foucault es independiente del grosor y puede usarse para obtener una medida de la resistividad de la placa. La última parte depende de la resistividad de lámina dividida por el grosor. Después de calcular la resistividad y la resistencia de lámina, se puede deducir el grosor de la placa, p. ej., como se describe en el documento US 6.661.224.
SUMARIO
Dado que el pulso inicial resultante del corte de corriente del transmisor puede ser de varios cientos de voltios, mientras que la parte final de la caída de corriente de Foucault está en el intervalo de mV, lo que da como resultado una señal de baja tensión (LV, por sus siglas en inglés), se usan dos canales de receptor, un canal de receptor de alta tensión (HVRC, por sus siglas en inglés) con baja ganancia y un canal de receptor de baja tensión (LVRC, por sus siglas en inglés) con alta ganancia, estando el LVRC protegido del pulso inicial por la OVP. A medida que se mide el pulso procedente de la bobina de receptor, en el instante de tiempo correcto, el circuito de OVP se conmuta del estado de bloqueo al estado de paso con el fin de presentar la señal de LV en la entrada del LVRC y (típicamente) amplificarla con suficiente ganancia.
La implementación del circuito de OVP con un conmutador en serie de estado sólido sencillo funciona suficientemente bien para mediciones de grosor de objetos relativamente gruesos, p. ej., placas, por ejemplo, de un grosor de al menos 0,5 mm. Desafortunadamente, a medida que disminuye el grosor del objeto, la medición se vuelve cada vez más difícil. En particular:
1) La relación de señal a ruido disminuye, lo que requiere un receptor de alta resolución y bajo ruido;
2) La caída de la señal de LV se vuelve más corta, lo que dificulta la adquisición y extracción de la información de resistividad. Esto requiere un sistema de bobina y una parte inicial asociada con un mayor ancho de banda; 3) El circuito de OVP necesita comportarse lo más parecida posible a una conmutación ideal con transitorios de conmutación despreciables. Los transitorios de conmutación largos pueden conducir al enmascaramiento de la señal de LV e imposibilitar la extracción de la información de resistividad y de grosor de esta.
Un objetivo de la presente invención es proporcionar un receptor de PEC mejorado, que incluye una OVP que facilita las mediciones de grosor también de objetos más delgados, p. ej., que tengan un grosor de menos de 0,5 mm.
De acuerdo con un aspecto de la presente invención, se proporciona un receptor para un sistema de corrientes de Foucault pulsadas (PEC) configurado para detectar un campo electromagnético cambiante generado por corrientes de Foucault inducidas en un objeto de un material eléctricamente conductor. El receptor comprende una bobina de receptor eléctricamente conductora, un canal de receptor de alta tensión (HVRC), un canal de receptor de baja tensión (LVRC) y una protección contra sobretensión (OVP) conectada entre la bobina de receptor y el LVRC. El OVP comprende un circuito de polarización B, un diodo D conectado entre la bobina de receptor y el circuito de polarización, y un condensador C conectado entre el circuito de polarización y el LVRC.
De acuerdo con otro aspecto de la presente invención, se proporciona un sistema de PEC que comprende un transmisor configurado para generar un campo electromagnético cambiante que induce corrientes de Foucault en un objeto de un material eléctricamente conductor dispuesto dentro del campo electromagnético, y una realización del receptor de la presente divulgación.
De acuerdo con otro aspecto de la presente invención, se proporciona un método de determinación de un grosor del objeto por medio de una realización del sistema de PEC de la presente divulgación. El método comprende, por medio del transmisor, inducir corrientes de Foucault en el objeto. El método también comprende, por medio de la medición del receptor, en función del tiempo, una tensión inducida en la bobina de receptor por el campo electromagnético cambiante generado por las corrientes de Foucault inducidas, en donde, para una tensión inducida en la bobina de receptor que esté por encima de un umbral de polarización proporcionado por el circuito de polarización, la OVP impida que el LVRC vea la tensión inducida y, para una tensión inducida en la bobina de receptor que esté por debajo del umbral de polarización, la OVP permita que el LVRC vea la tensión inducida. El método también comprende, basándose en la medición de la tensión, determinar el grosor del objeto.
De acuerdo con otro aspecto de la presente invención, que no está abarcado en el texto de las reivindicaciones, se proporciona un producto de programa informático que comprende componentes ejecutables por ordenador para hacer que un controlador del sistema de PEC realice una realización del método de la presente divulgación cuando los componentes ejecutables por ordenador se ejecutan en un circuito de procesamiento comprendido en el controlador.
El OVP se usa para proteger el LVRC del pico de tensión inicial, lo que permite que el LVRC mida las pequeñas tensiones (intervalo de mV) inducidas por las corrientes de Foucault de manera estable. Por medio del circuito de polarización, el diodo se polarizará directamente y, por ende, conducirá y permitirá que el LVRC detecte y mida la señal de la bobina de receptor, para tensiones bajas (por debajo del umbral de polarización, p. ej., una tensión de polarización) inducidas en la bobina de receptor, mientras que el diodo se polarizará inversamente y, por ende, bloqueará la tensión inducida para tensiones más altas (por encima de dicho umbral de polarización). Al seleccionar adecuadamente el umbral de polarización proporcionado por el circuito de polarización, se puede garantizar que el diodo conduzca únicamente cuando la señal de la bobina de receptor esté por debajo de un umbral adecuado, protegiendo, por ende, el LVRC de señales más altas. Por ende, la OVP opera sin, o con muy bajos, transitorios de conmutación, lo que da como resultado transitorios nulos o al menos mucho más bajos que cuando se usan conmutadores de semiconductores estándar. La impedancia en serie baja del diodo cuando está polarizado directamente y la impedancia en serie alta cuando está polarizado inversamente corresponden a un circuito de OVP que, para los requisitos de esta solicitud, está cerca de comportarse como un circuito abierto ideal en su estado de bloqueo y como un cortocircuito ideal en su estado de conducción.
La función del condensador de bloqueo de corriente continua (CC) es impedir que el LVDC vea la polarización, p. ej., tensión de polarización o corriente de polarización, que es CC y, por ende, bloqueada por el condensador.
Cabe señalar que cualquier característica de cualquiera de los aspectos se puede aplicar a cualquier otro aspecto, cuando corresponda. Asimismo, cualquier ventaja de cualquiera de los aspectos se podrá aplicar a cualquiera de los demás aspectos. Otros objetivos, características y ventajas de las realizaciones adjuntas serán evidentes a partir de la siguiente divulgación detallada, de las reivindicaciones dependientes adjuntas, así como de los dibujos.
En general, todos los términos utilizados en las reivindicaciones deben interpretarse de acuerdo con su significado habitual en el campo técnico, a menos que se definan explícitamente de otro modo en el presente documento. Todas las referencias a "un/el elemento, aparato, componente, medio, etapa, etc." se deben interpretar en sentido general como referidas a al menos una instancia del elemento, aparato, componente, medio, etapa, etc., a menos que se indique explícitamente lo contrario. Las etapas de cualquier método divulgado en el presente documento no se tienen que realizar en el orden exacto divulgado, a menos que se indique explícitamente. El uso de "primero", "segundo", etc. para diferentes características/componentes de la presente divulgación solo tiene como objetivo distinguir las características/componentes de otras características/componentes similares y no impartir ningún orden o jerarquía a las características/componentes.
BREVE DESCRIPCIÓN DE LOS DIBUJOS
Se describirán realizaciones, a modo de ejemplo, con referencia a los dibujos adjuntos, en los que:
La figura 1 es un diagrama de bloques esquemático de una realización del sistema de PEC de la presente invención.
La figura 2 es un diagrama de circuito esquemático de una realización del receptor de la presente invención.
La figura 3 es un diagrama de circuito esquemático de una realización de la cadena de receptores de LV de conformidad con la presente invención.
La figura 4 es un diagrama de circuito esquemático de otra realización de la cadena de receptores de LV de conformidad con la presente invención.
La figura 5 es un diagrama de bloques esquemático de un controlador de conformidad con algunas realizaciones de la presente invención.
La figura 6 es un diagrama de flujo esquemático de un método de conformidad con algunas realizaciones de la presente invención.
DESCRIPCIÓN DETALLADA
Las realizaciones se describirán ahora más completamente en lo sucesivo con referencia a los dibujos adjuntos, en los que se muestran determinadas realizaciones. Sin embargo, son posibles otras realizaciones en muchas formas diferentes dentro del alcance de la presente divulgación. Más bien, las siguientes realizaciones se proporcionan a modo de ejemplo para que esta divulgación sea minuciosa y completa, y transmitirán completamente el alcance de la divulgación a los expertos en la técnica. Los números similares se refieren a elementos similares a lo largo de la descripción.
La figura 1 ilustra una realización de un sistema de PEC 10 dispuesto para medir el grosor d de un objeto 1, típicamente una placa (que también puede denominarse lámina o tira de metal) de un material eléctricamente conductor no ferroso, tal como Al, teniendo el objeto un primer lado 4a (aquí inferior) y un segundo lado 4b (aquí superior). En la figura, el objeto 1 en forma de placa tiene un eje longitudinal que es perpendicular al plano de la figura.
El sistema de PEC 10 comprende un transmisor 2 y un receptor 3. En la figura, tanto el transmisor 2 como el receptor 3, específicamente la bobina de transmisor y la bobina de receptor, respectivamente, de estos están dispuestos en el mismo lado del objeto 1, y esto es preferente en algunas realizaciones. Sin embargo, en algunas otras realizaciones, la bobina de receptor puede estar dispuesta en el lado opuesto del objeto 1 en relación con la bobina de transmisor.
El sistema de PEC 10 puede comprender un controlador 6 para controlar el transmisor 2 y el receptor 3 mediante señalización de control, p. ej., como se ilustra mediante las líneas discontinuas en la figura. El controlador puede estar formado como un dispositivo individual, o estar parcial o totalmente integrado con el transmisor y/o receptor. El controlador 6 puede, p. ej., comprender un dispositivo controlador central que esté dispuesto individual del transmisor y receptor, y uno o varios dispositivos controladores distribuidos integrados con el transmisor y/o receptor.
La figura 2 ilustra una realización del receptor 3. El receptor 3 comprende una bobina de receptor 20, en la que se puede formar una corriente del receptor, inducida por el campo electromagnético cambiante resultante del corte de la corriente del transmisor y, luego, por la caída de las corrientes de Foucault en el objeto 1. La corriente del receptor se emite como una señal a un RC que comprende un HVRC 23 que, típicamente, siempre recibe la señal (independientemente de la tensión) y un LVRC 22 que está protegido por una OVP 21 de la señal cuando tiene una tensión que es más alta que un umbral predeterminado. El OVP 21 está conectado entre la bobina de receptor 20 y el LVRC 22. En la señal, pueden realizarse mediciones de tensión mediante el HVRC 23 y el LVRC 22 para determinar las propiedades del objeto 1. Se puede conectar un amplificador al LVRC para facilitar la medición de las tensiones relativamente bajas (intervalo de mV) en este.
La figura 3 ilustra una realización de la cadena de receptores de LV del receptor 3. El OVP 21 está conectado entre la bobina de receptor 20 y el LVRC 22. El OVP comprende al menos un circuito de polarización B, al menos un diodo D conectado entre la bobina de receptor 20 y el circuito de polarización B, y al menos un condensador C conectado entre el circuito de polarización B y el LVRC 22. En la realización de la figura 3, la OVP 21 comprende circuitería de lado positivo, conectada al terminal positivo de la bobina de receptor 20, y circuitería de lado negativo, conectada al terminal negativo de la bobina de receptor. Cada uno de los circuitos de lado positivo y negativo comprende un circuito de polarización B, un diodo D conectado entre la bobina de receptor 20 y el circuito de polarización B, y un condensador C conectado entre el circuito de polarización B y el LVRC 22. Se señala que el diodo D de la circuitería de lado negativo es antiparalelo al diodo D de la circuitería de lado positivo.
El circuito de polarización B está configurado para proporcionar un umbral de polarización, p. ej., por medio de una tensión de polarización V (V+ o V- en el ejemplo de la figura 3), o una corriente de polarización, para polarizar directa o inversamente el diodo D, dependiendo de la tensión inducida en la bobina de receptor 20. El umbral de polarización puede, p. ej., ser el valor absoluto |V| de una tensión de polarización V+ o V- más el valor absoluto de cualquier caída de tensión en el diodo D. El diodo D está polarizado inversamente cuando el valor absoluto de la tensión inducida en la bobina de receptor 20 está por encima del umbral de polarización, impidiendo entonces la OVP 21 que el LVRC vea la tensión inducida 22, y el diodo D está polarizado directamente cuando el valor absoluto de la tensión inducida en la bobina de receptor 20 está por debajo del umbral de polarización, permitiendo entonces que la OVP 21 vea la tensión inducida por el LVRC 22. Típicamente, el umbral de polarización proporcionado por el circuito de polarización B de la circuitería de lado negativo es el mismo que el umbral de polarización proporcionado por el circuito de polarización B de la circuitería de lado positivo, p. ej., el valor absoluto de una tensión de polarización V (posiblemente ajustada para cualquier caída de tensión sobre el diodo D).
La figura 4 ilustra otra realización de la cadena de receptores de LV del receptor 3. En esta realización, la OVP 21 únicamente está conectada a un terminal (positivo o negativo) de la bobina de receptor 20. Aparte de no tener ambos circuitos de lado positivo y negativo, el análisis relacionado con la realización de la figura 3 también es pertinente para la realización de la figura 4.
Independientemente de la realización de la OVP 21 (de conformidad con la figura 3 o la figura 4, o cualquier otra realización), el al menos un diodo D es preferentemente muy rápido en la conmutación entre sus estados de conducción (polarización directa) y bloqueo (polarización inversa), yviceversa.El diodo D puede, p. ej., ser un diodo de radiofrecuencia (RF).
En algunas realizaciones de la presente invención, el diodo D, cuando está polarizado directamente, tiene una impedancia o resistencia en serie baja para funcionar cerca de ser un cortocircuito ideal, p. ej., que tenga un valor absoluto de impedancia en serie de, como máximo, 2 Q, p. ej., dentro del intervalo de 0,5-1,5 Q, tal como 1 Q. Por el mismo motivo, adicionalmente o como alternativa, en algunas realizaciones de la presente invención, el diodo D, cuando está polarizado directamente, tiene un valor absoluto de impedancia en serie de, como máximo, una décima parte del valor absoluto de una impedancia de entrada del LVRC 22. De manera similar, para funcionar cerca de ser un circuito abierto ideal cuando está polarizado inversamente, el diodo D puede comportarse principalmente como un condensador en serie pequeño, p. ej., de 500 fF. En algunas realizaciones, el circuito de polarización B está configurado para proporcionar un umbral de polarización de manera que el diodo D tenga dicho valor absoluto de impedancia en serie. Adicionalmente o como alternativa, el circuito de polarización B está configurado para proporcionar el umbral de polarización por medio de una tensión de polarización V, p. ej., un valor absoluto de la tensión de polarización, dentro del intervalo de 1-3 V.
Preferentemente, para reducir el valor absoluto requerido de la tensión de polarización V o la corriente de polarización para proporcionar el umbral de polarización deseado, la caída de tensión en el diodo D, cuando está polarizado directamente, debería ser relativamente baja, tal como de, como máximo, 1 V, p. ej., dentro del intervalo de 0,5-0,9 V. En algunas realizaciones de la presente invención, el umbral de polarización está al menos un 20 % por encima (es decir, 1,2 veces) de la caída de tensión del diodo D cuando está polarizado directamente.
La figura 5 ilustra esquemáticamente una realización del controlador 6 de la presente divulgación. El controlador 6 comprende circuitería de procesamiento 61, p. ej., una unidad central de procesamiento (CPU). El circuito 61 de procesamiento puede comprender una o una pluralidad de unidades de procesamiento en forma de microprocesador(es). Sin embargo, otros dispositivos adecuados con capacidades informáticas podrían estar comprendidos en el circuito 61 de procesamiento, por ejemplo, un circuito integrado de aplicación específica (ASIC), una matriz de puertas programables en campo (FPGA) o un dispositivo lógico programable complejo (CPLD). El circuito 61 de procesamiento está configurado para ejecutar uno o varios programas informáticos o software (SW) 63 almacenados en un almacenamiento 62 de datos de una o varias unidades de almacenamiento, por ejemplo, una memoria. La unidad de almacenamiento se considera un medio legible por ordenador, que forma un producto de programa informático 62 junto con el SW 63 almacenados en esta como componentes ejecutables por ordenador, como se analiza en el presente documento y puede, por ejemplo, tener la forma de una memoria de acceso aleatorio (RAM), una memoria flash u otra memoria de estado sólido o un disco duro, o ser una combinación de los mismos. El circuito 61 de procesamiento también se puede configurar para almacenar datos en el almacenamiento 62, según sea necesario. El controlador 6 puede configurarse para realizar una realización del método de la presente divulgación.
La figura 6 ilustra algunas realizaciones del método de la presente invención. El método sirve para determinar un grosor d del objeto 1 por medio de una realización del sistema de PEC 10 de la presente divulgación. El método comprende, por medio del transmisor 2, inducir S1 corrientes de Foucault en el objeto 1. A continuación, por medio del receptor 3, el método comprende medir S2, en función del tiempo, una tensión inducida en la bobina de receptor 20 por el campo electromagnético cambiante generado por las corrientes de Foucault inducidas S1. Para una tensión (p. ej., un valor absoluto de esta) inducida en la bobina de receptor 20 que esté por encima de un umbral de polarización (p. ej., representado por una tensión de polarización V) proporcionado por el circuito de polarización B, la OVP 21 impida que el LVRC vea la tensión inducida 22 (es decir, el diodo D bloquea). Para una tensión (p. ej., un valor absoluto de esta) inducida en la bobina de receptor 20 que esté por debajo del umbral de polarización (p. ej., representado por una tensión de polarización V), la OVP 21 permita que el LVRC vea la tensión inducida (es decir, el diodo D conduce). Entonces, basándose en la medición S2 de la tensión, se determina S3 el grosor d del objeto 1.
En algunas realizaciones de la presente invención, el grosor d es inferior a 0,5 mm, p. ej., dentro del intervalo de 0,5 mm a 0,1 mm, tal como de 0,4 mm a 0,2 mm. Las realizaciones de la presente invención pueden usarse también para objetos más gruesos, pero las ventajas de la invención en relación con la técnica anterior son más pronunciadas para objetos 1 delgados. Las realizaciones de la presente invención pueden usarse convenientemente para grosores d al menos tan pequeños como 0,1 mm, a veces incluso más pequeños.
La presente divulgación se ha descrito principalmente anteriormente con referencia a algunas realizaciones. Sin embargo, como apreciará fácilmente un experto en la técnica, otras formas de realización distintas a las divulgadas anteriormente son igualmente posibles dentro del alcance de la presente divulgación, como se define por las reivindicaciones adjuntas.
Claims (10)
1. Un receptor (3) para un sistema de corriente de Foucault pulsada, PEC, (10) configurado para detectar un campo electromagnético cambiante generado por corrientes de Foucault inducidas en un objeto (1) de un material eléctricamente conductor, comprendiendo el receptor:
una bobina de receptor (20) eléctricamente conductora;
un canal de receptor de alta tensión, HVRC, (23);
un canal de receptor de baja tensión, LVRC, (22); y
una protección contra sobretensiones, OVP, (21) conectada entre la bobina de receptor (20) y
el LVRC (22),caracterizado por quela OVP comprende:
un circuito de polarización (B);
un diodo (D) conectado entre la bobina de receptor (20) y el circuito de polarización (B); y
un condensador (C) conectado entre el circuito de polarización (B) y el LVRC (22);
en donde el circuito de polarización (B) está configurado para proporcionar un umbral de polarización para una polarización directa o polarización inversa del diodo (D), dependiendo de una tensión inducida en la bobina de receptor (20) ; y
en donde el condensador (C) está configurado para impedir que el LVRC vea una tensión o corriente de polarización del circuito de polarización (B).
2. El receptor de la reivindicación 1, en donde el diodo (D) es un diodo de radiofrecuencia, RF.
3. El receptor de cualquier reivindicación anterior, en donde el diodo (D), cuando está polarizado directamente, tiene un valor absoluto de impedancia en serie de, como máximo, 2 Q, p. ej., dentro del intervalo de 0,5-1,5 Q, tal como 1 Q.
4. El receptor de cualquier reivindicación anterior, en donde el diodo (D), cuando está polarizado directamente, tiene un valor absoluto de impedancia en serie de, como máximo, una décima parte del valor absoluto de una impedancia de entrada del LVRC (22).
5. El receptor de la reivindicación 3 o 4, en donde el circuito de polarización (B) está configurado para proporcionar un umbral de polarización de manera que el diodo (D) tenga dicho valor absoluto de impedancia en serie.
6. Un sistema de PEC (10) que comprende:
un transmisor (2) configurado para generar un campo electromagnético cambiante que induce corrientes de Foucault en un objeto (1) de un material eléctricamente conductor dispuesto dentro del campo electromagnético; y el receptor (3) de cualquier reivindicación anterior.
7. Un método de determinación de un grosor (d) del objeto (1) por medio del sistema de PEC (10) de la reivindicación 6, comprendiendo el método:
por medio del transmisor (2), inducir (S1) corrientes de Foucault en el objeto (1);
por medio del receptor (3), medir (S2), en función del tiempo, una tensión inducida en la bobina de receptor (20) por el campo electromagnético cambiante generado por las corrientes de Foucault inducidas (S1), en donde:
para una tensión inducida en la bobina de receptor (20) que esté por encima de un umbral de polarización (V) proporcionado por el circuito de polarización (B), la OVP (21) impida que el LVRC vea la tensión inducida (22), y para una tensión inducida en la bobina de receptor (20) que esté por debajo del umbral de polarización (V), la OVP (21) permita que el LVRC vea la tensión inducida; y
basándose en la medición (S2) de la tensión, determinar (S3) el grosor (d) del objeto (1).
8. El método de la reivindicación 7, en donde el grosor (d) es inferior a 0,5 mm, p. ej., dentro del intervalo de 0,5 mm a 0,1 mm, tal como de 0,4 mm a 0,2 mm.
9. El método de cualquier reivindicación 7-8, en donde el diodo (D), cuando está polarizado directamente, tiene una caída de tensión de, como máximo, 1 V, p. ej., dentro del intervalo de 0,5-0,9 V.
10. El método de cualquier reivindicación 7-9, en donde el umbral de polarización (V) está al menos un 20 % por encima de la caída de tensión del diodo (D) cuando está polarizado directamente.
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