ES3035434T3 - Measurement method, apparatus, and ray measurement device - Google Patents

Abstract

La presente solicitud se refiere al campo técnico de las baterías. Se describe un método de medición, un aparato y un dispositivo de medición de rayos. El método comprende: determinar un parámetro de calidad medido de dicha pieza, según la intensidad del rayo que atraviesa la pieza de trabajo bajo prueba; corregir dicho parámetro de calidad medido mediante una función de curva de desplazamiento respecto al entorno de medición en el que se encuentra la pieza, para obtener un parámetro de calidad corregido. Esta función de curva de desplazamiento se utiliza para representar el impacto de un factor ambiental del entorno de medición sobre el rayo. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN

Método y aparato de medición y dispositivo de medición de rayos

CAMPO TÉCNICO

Esta solicitud hace referencia al campo de las tecnologías de baterías y, en particular, a un método y un aparato de medición y a un dispositivo de radiación.

ANTECEDENTES

Con el rápido desarrollo de la tecnología física, la medición de parámetros másicos, tales como el grosor, el peso y la densidad superficial de la pieza de trabajo que se mide, se puede realizar de acuerdo con el principio de atenuación de rayos a medida que los rayos pasan a través de un objeto. Esto se aplica de manera gradual en diversos campos. Por ejemplo, en la producción de baterías, el grosor, el peso, la densidad superficial y otros parámetros másicos de las placas de electrodos de batería se miden mediante radiación.

En la actualidad, en la medición de un parámetro másico de la pieza de trabajo que se mide mediante radiación, el parámetro másico de la pieza de trabajo que se mide se calcula habitualmente basándose en la intensidad de radiación y en el coeficiente de atenuación de radiación, después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de trabajo que se mide. No obstante, un parámetro másico calculado basándose únicamente en la intensidad de radiación y en el coeficiente de atenuación de radiación, después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de trabajo que se mide, puede tener desviaciones con respecto al parámetro másico real de la pieza de trabajo que se mide, lo que puede conducir a una disminución en la precisión del parámetro másico medido.

El documento EP1950527A1 divulga un aparato de inspección de rayos X que comprende una unidad de obtención de imágenes de muestra, una unidad de generación de curvas ideales, una unidad de ajuste de curvas y una unidad de estimación másica como bloque de funciones generado por un ordenador de control.

El documento US3681595A divulga un método de estandarización de un medidor de peso base para medir el peso por unidad de área de un material en forma de lámina.

El documento US4692616A divulga un método y sistema de estandarización del medidor de peso base. El método incluye pasos de calibración para obtener dos curvas de calibración, una de las cuales está desplazada con respecto a la otra mediante una técnica de simulación de suciedad.

COMPENDIO

Las realizaciones de esta solicitud pretenden proporcionar un método y un aparato de medición y un dispositivo de medición de radiación, de manera que se resuelva el problema común actual de baja precisión de medición en la medición de un parámetro másico de una pieza de trabajo.

De acuerdo con un primer aspecto, una realización de esta solicitud proporciona un método de medición que incluye:

determinar un parámetro másico medido de una pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide; y

corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, para obtener el parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la radiación en el entorno de medición.

En esta realización de esta solicitud, el parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide se determina basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y, a continuación, el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de los factores ambientales sobre la radiación en el entorno de medición.

En esta realización de esta solicitud, el parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide se determina basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y, a continuación, el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición. De esta manera, se considera la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación de los rayos y el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de la curva de desplazamiento durante la medición, de modo que el parámetro másico medido esté más próxima a, o sea coherente con, un parámetro másico real, lo que mejora la precisión de la medición.

En algunas realizaciones, antes de corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, el método incluye, además:

demarcar al menos dos piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición, utilizándose la curva de calibración másica para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de las piezas de demarcación; y

ajustar la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica de un entorno estándar para obtener la función de la curva de desplazamiento, utilizándose la función de la curva de desplazamiento para caracterizar una cantidad de cambio en la transmitancia de radiación en el entorno de medición con relación al entorno estándar.

En estas realizaciones, la función de la curva de desplazamiento anterior se obtiene ajustando la curva de calibración másica obtenida por demarcación en el entorno de medición con respecto a la curva de calibración másica obtenida mediante medición en el entorno estándar, de modo que la curva de desplazamiento obtenida pueda reflejar mejor la influencia del entorno de medición sobre la transmitancia de radiación, haciendo así que el parámetro másico determinado final sea más preciso.

En algunas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos de contaminantes, así como también de factores influyentes objetivo, incluyendo los factores influyentes objetivo los factores ambientales que provocan un cambio en la transmitancia de radiación distinto del de los contaminantes.

En estas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos tanto de contaminantes como también de factores influyentes objetivo, de modo que no solo se considera la influencia de los contaminantes sobre la transmitancia de radiación, sino que también se considera la influencia de los factores influyentes objetivo sobre la transmitancia de radiación, lo que da como resultado un parámetro másico corregido más preciso.

En algunas realizaciones, el método incluye, además:

obtener un primer desplazamiento inicial y un segundo desplazamiento inicial mediante simulación, utilizándose el primer desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación solo bajo la influencia de un contaminante en el entorno de medición, en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y utilizándose el segundo desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y

actualizar la función de la curva de desplazamiento basándose en una relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial, donde la función de la curva de desplazamiento actualizada es un producto de la función de la curva de desplazamiento antes de la actualización y la relación.

En estas realizaciones, se obtienen en primer lugar el primer desplazamiento inicial generado bajo la influencia del contaminante en el entorno de medición y el segundo desplazamiento inicial generado en el entorno de medición (es decir, se incluyen la influencia del contaminante así como también de un factor influyente objetivo), posteriormente se calcula la relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial y en última instancia se actualiza la función de la curva de desplazamiento con respecto al producto de la función de la curva de desplazamiento ajustada y la relación, de modo que la función de la curva de desplazamiento generada tiene en cuenta tanto la influencia del contaminante sobre la radiación como también la influencia de otros factores sobre la radiación, lo que hace que la función de la curva de desplazamiento determinada sea más precisa y, por tanto, hace que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, cada desplazamiento inicial se calcula utilizando la siguiente fórmula:

donde C representa el desplazamiento inicial;

Ifrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno estándar; y

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar.

En estas realizaciones, la diferencia entre la transmitancia de radiación en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial y la transmitancia de radiación en el entorno estándar que se determina como el desplazamiento inicial hace que el desplazamiento inicial determinado sea más razonable, lo que hace de este modo que la función de la curva de desplazamiento actualizada caracterice con más precisión la influencia de cada factor ambiental sobre la radiación en el entorno de medición y mejore adicionalmente la precisión de medición del parámetro másico. En algunas realizaciones, cada curva de calibración másica se obtiene utilizando la siguiente fórmula:

dondeQrepresenta un parámetro másico medido de la pieza de demarcación calculado basándose en una intensidad de radiación y un coeficiente de atenuación de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de demarcación;

Q<1>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación;

prepresenta el coeficiente de atenuación de radiación;

Isrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

representa una intensidad de radiación de los rayos emitidos por una fuente de radiación; y

representa una intensidad de radiación de la pieza de demarcación.

En estas realizaciones, la fórmula anterior se utiliza para obtener cada curva de calibración másica, de modo que la curva de calibración másica obtenida se ajuste a la ley de Beer, lo que mejora de este modo la precisión de la curva de calibración másica y, por tanto, mejora adicionalmente la precisión del parámetro másico medido.

En algunas realizaciones, la demarcación de las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición incluye:

cuando se alcanza un período predeterminado, demarcar las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición.

En estas realizaciones, cuando se alcanza el periodo predeterminado, las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición se demarcan para obtener la curva de calibración másica del entorno de medición, lo que permite la actualización oportuna de la función de la curva de desplazamiento y, por tanto, hacer que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, la pieza de trabajo que se mide incluye una placa de electrodo de batería y el parámetro másico incluye la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

En estas realizaciones, se puede corregir una densidad superficial medida durante la producción de la placa de electrodo de batería, de modo que la densidad superficial medida esté más próxima a, o sea coherente con, una densidad superficial real, lo que mejora la precisión de medición de la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

De acuerdo con un segundo aspecto, una realización de esta solicitud proporciona además un aparato de medición que incluye:

un módulo de determinación de parámetros másicos medidos configurado para determinar un parámetro másico medido de una pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide; y

un módulo de corrección de parámetros másicos configurado para corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, para obtener el parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la radiación en el entorno de medición.

En esta realización de esta solicitud, el parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide se determina basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y, a continuación, el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición. De esta manera, se considera la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación de los rayos y el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de la curva de desplazamiento durante la medición, de modo que el parámetro másico medido esté más próxima a, o sea coherente con, un parámetro másico real, lo que mejora la precisión de la medición.

En algunas realizaciones, el aparato incluye, además:

un módulo de generación de curvas de calibración másica configurado para demarcar al menos dos piezas de demarcación en un entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición, utilizándose la curva de calibración másica para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de las piezas de demarcación; y

un módulo de generación de funciones de curvas de desplazamiento configurado para ajustar la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica de un entorno estándar con el fin de obtener la función de la curva de desplazamiento, utilizándose la función de la curva de desplazamiento para caracterizar una cantidad de cambio en la transmitancia de radiación en el entorno de medición con relación al entorno estándar.

En estas realizaciones, la función de la curva de desplazamiento anterior se obtiene ajustando la curva de calibración másica obtenida por demarcación en el entorno de medición con respecto a la curva de calibración másica obtenida mediante medición en el entorno estándar, de modo que la curva de desplazamiento obtenida pueda reflejar mejor la influencia del entorno de medición sobre la transmitancia de radiación, haciendo así que el parámetro másico determinado final sea más preciso.

En algunas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos de contaminantes, así como también de factores influyentes objetivo, incluyendo los factores influyentes objetivo los factores ambientales que provocan un cambio en la transmitancia de radiación distinto del de los contaminantes.

En estas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos tanto de contaminantes como también de factores influyentes objetivo, de modo que no solo se considera la influencia de los contaminantes sobre la transmitancia de radiación, sino que también se considera la influencia de los factores influyentes objetivo sobre la transmitancia de radiación, lo que da como resultado un parámetro másico corregido más preciso.

En algunas realizaciones, el aparato incluye, además:

un módulo de simulación configurado para obtener un primer desplazamiento inicial y un segundo desplazamiento inicial mediante simulación, utilizándose el primer desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación solo bajo la influencia de un contaminante en el entorno de medición, en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y utilizándose el segundo desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y

un módulo de actualización de funciones de curvas de desplazamiento configurado para actualizar la función de la curva de desplazamiento basándose en una relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial, donde la función de la curva de desplazamiento actualizada es un producto de la función de la curva de desplazamiento antes de la actualización y la relación.

En estas realizaciones, se obtienen en primer lugar el primer desplazamiento inicial generado bajo la influencia del contaminante en el entorno de medición y el segundo desplazamiento inicial generado en el entorno de medición (es decir, se incluyen la influencia del contaminante así como también de un factor influyente objetivo), posteriormente se calcula la relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial y en última instancia se actualiza la función de la curva de desplazamiento con respecto al producto de la función de la curva de desplazamiento ajustada y la relación, de modo que la función de la curva de desplazamiento generada tiene en cuenta tanto la influencia del contaminante sobre la radiación como también la influencia de otros factores sobre la radiación, lo que hace que la función de la curva de desplazamiento determinada sea más precisa y, por tanto, hace que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, cada desplazamiento inicial se calcula utilizando la siguiente fórmula:

donde C representa el desplazamiento inicial;

Ifrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno estándar; y

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar.

En estas realizaciones, la diferencia entre la transmitancia de radiación en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial y la transmitancia de radiación en el entorno estándar que se determina como el desplazamiento inicial hace que el desplazamiento inicial determinado sea más razonable, lo que hace de este modo que la función de la curva de desplazamiento actualizada caracterice con más precisión la influencia de cada factor ambiental sobre la radiación en el entorno de medición y mejore adicionalmente la precisión de medición del parámetro másico.

En algunas realizaciones, cada curva de calibración másica se obtiene utilizando la siguiente fórmula:

G = a -4 io g, i - / i r

t 1 u 1 a

dondeQrepresenta un parámetro másico medido de la pieza de demarcación calculado basándose en una intensidad de radiación y un coeficiente de atenuación de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de demarcación;

Q<1>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación;

prepresenta el coeficiente de atenuación de radiación;

lsrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

/ :

representa una intensidad de radiación de los rayos emitidos por una fuente de radiación; y

representa una intensidad de radiación de la pieza de demarcación.

En algunas realizaciones, el módulo de generación de curvas de calibración másica está configurado específicamente para:

cuando se alcanza un período predeterminado, demarcar las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición.

En estas realizaciones, cuando se alcanza el periodo predeterminado, las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición se demarcan para obtener la curva de calibración másica del entorno de medición, lo que permite la actualización oportuna de la función de la curva de desplazamiento y, por tanto, hacer que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, la pieza de trabajo que se mide incluye una placa de electrodo de batería y el parámetro másico incluye la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

En estas realizaciones, se puede corregir una densidad superficial medida durante la producción de la placa de electrodo de batería, de modo que la densidad superficial medida esté más próxima a, o sea coherente con, una densidad superficial real, lo que mejora la precisión de medición de la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

De acuerdo con un tercer aspecto, una realización de esta solicitud proporciona además un dispositivo de medición de radiación que incluye:

una fuente de radiación;

un detector de radiación, donde se proporciona un hueco entre el detector de radiación y la fuente de radiación, y el hueco está configurado para permitir que pase una pieza de trabajo que se mide;

al menos dos piezas de demarcación, donde las dos o más piezas de demarcación se disponen en un plano en el que se encuentra el hueco, y el grosor varía con la pieza de demarcación;

un conjunto de accionamiento conectado con las dos o más piezas de demarcación, donde el conjunto de accionamiento está configurado para impulsar el movimiento por separado de las piezas de demarcación hacia el hueco; y

un medio de control conectado eléctricamente con el conjunto de accionamiento, la fuente de radiación y el detector de radiación, donde el medio de control comprende el aparato de medición de acuerdo con el segundo aspecto.

En esta realización de esta solicitud, el dispositivo de medición de radiación puede realizar el método de medición anterior. De esta forma, se considera la influencia de los factores ambientales en la transmitancia de radiación de los rayos y el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de la curva de desplazamiento, obtenida por demarcación, durante la medición, de modo que el parámetro másico medido esté más próximo a, o sea coherente con, un parámetro másico real, lo que mejora la precisión de medición; y, además, las dos o más piezas de demarcación anteriores que se disponen en el hueco, que es para que pase la pieza de trabajo que se mide, pueden implementar la demarcación en el entorno de medición sin la necesidad de una demarcación fuera de línea, para hacer que la demarcación sea más conveniente y ahorre tiempo.

En algunas realizaciones, el dispositivo de medición de radiación incluye:

una primera pieza de demarcación y una segunda pieza de demarcación, donde la primera pieza de demarcación y la segunda pieza de demarcación están separadas a lo largo de una dirección desde la fuente de radiación hasta el detector de radiación; y

el conjunto de accionamiento está configurado para impulsar el movimiento por separado de la primera pieza de demarcación y la segunda pieza de demarcación hacia el hueco, e impulsar el movimiento simultáneo de la primera pieza de demarcación y la segunda pieza de demarcación hacia el hueco para formar una tercera pieza de demarcación.

En estas realizaciones, se pueden demarcar tres conjuntos de piezas de demarcación que utilizan dos piezas de demarcación, de manera que se genere una curva de calibración másica y, por tanto, la estructura del dispositivo de medición de radiación se hace más simple y se reduce la carga de trabajo de montaje y desmontaje de las piezas de demarcación.

De acuerdo con un cuarto aspecto, una realización de esta solicitud proporciona un dispositivo de medición de radiación, donde el dispositivo de medición de radiación incluye un procesador, una memoria y un programa o unas instrucciones almacenados en la memoria y que se pueden ejecutar en el procesador, y cuando el programa o las instrucciones son ejecutadas por el procesador, se implementan los pasos del método de acuerdo con el primer aspecto.

De acuerdo con un quinto aspecto, una realización de esta solicitud proporciona un medio de almacenamiento legible, donde el medio de almacenamiento legible almacena un programa o unas instrucciones, y cuando el programa o las instrucciones son ejecutadas por un procesador, se implementan los pasos del método de acuerdo con el primer aspecto.

La descripción anterior es simplemente una perspectiva general de las soluciones técnicas de esta solicitud. Para una mejor comprensión de los medios técnicos en esta solicitud de modo que se puedan implementar de acuerdo con el contenido de la memoria descriptiva, y para hacer que los anteriores y otros objetivos, características y ventajas de la presente solicitud sean más obvios y más fáciles de comprender, a continuación se describen realizaciones específicas de esta solicitud.

BREVE DESCRIPCIÓN DE LOS DIBUJOS

La figura 1 es un diagrama estructural esquemático de un dispositivo de medición de radiación de acuerdo con una realización de esta solicitud;

la figura 2 es un diagrama esquemático de una estructura parcial de un dispositivo de medición de radiación de acuerdo con una realización de esta solicitud;

la figura 3 es un diagrama de flujo esquemático de un método de medición de acuerdo con una realización de esta solicitud;

la figura 4 es un diagrama de curvas de un parámetro másico en una medición de una pieza de trabajo de acuerdo con una realización de esta solicitud;

la figura 5 es un diagrama esquemático de un aparato de medición de acuerdo con una realización de esta solicitud; y

la figura 6 es un diagrama esquemático de una estructura de hardware de un dispositivo de medición de radiación de acuerdo con una realización de esta solicitud.

DESCRIPCIÓN DE REALIZACIONES

A continuación se describen claramente las soluciones técnicas en las realizaciones de esta solicitud haciendo referencia a los dibujos anexos en las realizaciones de esta solicitud. Obviamente, las realizaciones descritas son algunas, aunque no todas, las realizaciones de esta solicitud. Todas las demás realizaciones obtenidas por personas con un conocimiento ordinario de la técnica, que se basan en las realizaciones de esta solicitud, se encontrarán dentro del alcance de protección de esta solicitud.

En la memoria descriptiva y las reivindicaciones de esta solicitud, los términos "primero", "segundo" y similares pretenden hacer una distinción entre objetos similares en lugar de indicar un orden o una secuencia particular. Se debe sobreentender que los datos utilizados de esta forma son intercambiables en circunstancias adecuadas, de modo que las realizaciones de esta solicitud se puedan implementar con otros órdenes distintos del orden ilustrado o descrito en la presente. Además, los objetos distinguidos por "primero", "segundo" y similares son en general de un mismo tipo, y las cantidades de los objetos no están limitadas, por ejemplo, puede haber uno o más primeros objetos. Además, en la memoria descriptiva y las reivindicaciones, "y/o" indica al menos uno de los objetos asociados, y el carácter "/" indica en general una relación "o" entre los objetos asociados contextualmente.

En la técnica relacionada, en el proceso de medición de los parámetros másicos tales como grosor, peso y densidad superficial de una pieza de trabajo que se mide basándose en el principio de atenuación de rayos a medida que los rayos pasan a través de un objeto, habitualmente solo se considera la atenuación de rayos provocada por la pieza de trabajo que se mide. No obstante, en un entorno de medición real, factores ambientales tales como contaminantes (por ejemplo, polvo y suciedad), temperatura y presión del aire en el entorno de medición también afectan a la atenuación de rayos. Por lo tanto, en el entorno de medición real, una intensidad de radiación medida es en realidad la intensidad de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y que se han visto afectados por factores ambientales. Para ser específicos, la intensidad de radiación medida es menor que la intensidad real de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide sin la influencia de los factores ambientales, de modo que un parámetro de medición calculado basándose en la intensidad de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y el coeficiente de atenuación de radiación se desvía de un parámetro másico real.

Se puede aprender que en la técnica relacionada, la precisión de los parámetros másicos medidos es baja debido a la atenuación de los rayos que se ven afectados por factores ambientales.

Para mejorar la precisión de la medición, utilizando radiación, de un parámetro másico de una pieza de trabajo que se mide, esta solicitud propone un método y un aparato de medición y un dispositivo de medición de radiación.

Haciendo referencia a la figura 1, la figura 1 es un diagrama estructural esquemático de un dispositivo de medición de radiación de acuerdo con una realización de esta solicitud. Tal como se muestra en la figura 1, el dispositivo de medición de radiación incluye una fuente de radiación 10, un detector de radiación 20, al menos dos piezas de demarcación 30, un conjunto de accionamiento 40 y un medio de control 50.

La fuente de radiación 10 está configurada para emitir rayos.

Se proporciona un hueco 101 entre el detector de radiación 20 y la fuente de radiación 10, donde el hueco 101 está configurado para permitir que pase una pieza de trabajo que se mide y el detector de radiación 20 está configurado para medir la intensidad de radiación de los rayos recibidos.

Cada una de las dos o más piezas de demarcación 30 se puede mover hacia el hueco 101 y el grosor varía con la pieza de demarcación.

El conjunto de accionamiento 40 está conectado con las dos o más piezas de demarcación 30 y el conjunto de accionamiento 40 está configurado para impulsar el movimiento de al menos una de las piezas de demarcación por separado hacia el hueco 101.

El medio de control 50 está conectado eléctricamente con el conjunto de accionamiento 40, la fuente de radiación 10 y el detector de radiación 20.

En esta realización de esta solicitud, durante la medición, cuando la pieza de trabajo que se mide se transfiere al hueco 101 entre el detector de radiación 20 y la fuente de radiación 10, el medio de control 50 puede obtener la intensidad de radiación de los rayos, medida mediante el detector de radiación 20, después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y, posteriormente, obtener un parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación y el coeficiente de atenuación de radiación de la pieza de trabajo que se mide; y, en última instancia, el parámetro másico medido se corrige utilizando una función de la curva de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide para obtener el parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se obtiene demarcando al menos dos piezas de demarcación 30 con rayos y la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición.

De esta forma, se considera la influencia de los factores ambientales en la transmitancia de radiación de los rayos y el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de la curva de desplazamiento, obtenida por demarcación, durante la medición, de modo que el parámetro másico medido esté más próximo a, o sea coherente con, un parámetro másico real, lo que mejora la precisión de medición; y, además, las dos o más piezas de demarcación 30 anteriores que se disponen en el hueco 101, que es para que pase la pieza de trabajo que se mide, pueden implementar la demarcación en el entorno de medición sin la necesidad de una demarcación fuera de línea, para hacer que la demarcación sea más conveniente y ahorre tiempo.

Durante el proceso de obtención de la función de la curva de desplazamiento mediante demarcación de las dos o más piezas de demarcación 30 con rayos, los medios de control 50 anteriores pueden controlar el conjunto de accionamiento 40 para impulsar el movimiento de una o más piezas de demarcación por separado hacia el hueco 101, de modo que los rayos pasen a través de múltiples conjuntos de piezas de demarcación con grosores diferentes durante la demarcación, y la intensidad de radiación de los rayos después de que los rayos hayan pasado a través de los múltiples conjuntos de piezas de demarcación con grosores diferentes (es decir, al menos dos piezas de demarcación 30) se mide mediante el detector de radiación 20. Basándose en las intensidades de radiación y en los coeficientes de atenuación de radiación correspondientes a los múltiples conjuntos de piezas de demarcación con grosores diferentes, y en los parámetros másicos reales de las piezas de demarcación, se genera la curva de calibración másica en el entorno de medición. La función de la curva de desplazamiento se obtiene mediante el ajuste de la curva de calibración másica en el entorno de medición con la curva de calibración másica en un entorno estándar predeterminado.

Entre los múltiples conjuntos anteriores de piezas de demarcación con grosores diferentes, cada conjunto de piezas de demarcación puede contener una sola pieza de demarcación. Por ejemplo, si la curva de calibración másica anterior se genera mediante la medición de las intensidades de radiación correspondientes a N (N puede ser un número entero mayor de, o igual a, 3) conjuntos de piezas de demarcación, se pueden configurar N piezas de demarcación con grosores diferentes en el dispositivo de medición de radiación anterior, y el conjunto de accionamiento 40 impulsa el movimiento de cada una de las N piezas de demarcación por separado hacia el hueco 101 anterior para implementar la demarcación de cada pieza de demarcación.

Como alternativa, entre los múltiples conjuntos anteriores de piezas de demarcación con grosores diferentes, cada conjunto de piezas de demarcación puede contener múltiples piezas de demarcación, es decir, durante la demarcación, el conjunto de accionamiento 40 puede impulsar el movimiento de una o más de M (M puede ser un número entero mayor de, o igual a, 2) piezas de demarcación hacia el hueco 101; y cuando se impulsa el movimiento de múltiples piezas de demarcación hacia el hueco 101, los rayos pueden pasar a través de las múltiples piezas de demarcación en secuencia para implementar la demarcación de un conjunto de piezas de demarcación formado por combinación de múltiples piezas de demarcación.

En algunas realizaciones, tal como se muestra en la figura 2, el dispositivo de medición de radiación incluye:

una primera pieza de demarcación 31 y una segunda pieza de demarcación 32, donde la primera pieza de demarcación 31 y la segunda pieza de demarcación 32 están separadas a lo largo de una dirección desde la fuente de radiación 10 hasta el detector de radiación 20.

El conjunto de accionamiento 40 está configurado para impulsar el movimiento por separado de la primera pieza de demarcación 31 y la segunda pieza de demarcación 32 hacia el hueco 101, e impulsar el movimiento simultáneo de la primera pieza de demarcación 31 y la segunda pieza de demarcación 32 hacia el hueco 101 para formar una tercera pieza de demarcación.

De esta forma, se pueden demarcar tres conjuntos de piezas de demarcación que utilizan dos piezas de demarcación, de manera que se genere una curva de calibración másica y, por tanto, la estructura del dispositivo de medición de radiación se hace más simple y se reduce la carga de trabajo de montaje y desmontaje de las piezas de demarcación.

Sin duda, el dispositivo de medición de radiación anterior puede estar provisto de tres o más piezas de demarcación y el conjunto de accionamiento 40 puede impulsar el movimiento de cada pieza de demarcación hacia el hueco 101 por separado o de manera simultánea, de modo que se puedan demarcar más conjuntos de demarcación, haciendo, por tanto, que la curva de calibración másica generada sea más precisa.

En algunas realizaciones, el dispositivo de medición de radiación anterior puede incluir además una carcasa 60 y el detector de radiación 20, el conjunto de accionamiento 40 y las dos o más piezas de demarcación 30 se disponen en la carcasa 60. La carcasa 60 está provista de un orificio pasante 102, donde el orificio pasante 102 está situado entre la fuente de radiación 10 y el detector de radiación 20. Los rayos emitidos por la fuente de radiación 10 pueden pasar a través del orificio pasante 102 y ser recibidos por el detector de radiación 20. Cada una de las dos o más piezas de demarcación 30 pueden ser impulsadas mediante el conjunto de accionamiento 40 hasta el orificio pasante 102, de modo que durante la demarcación, los rayos entran en la pieza de demarcación a través del orificio pasante 102, pasan a través de la pieza de demarcación y entran en el receptor de detección.

En algunas realizaciones, el conjunto de accionamiento 40 anterior puede incluir al menos dos elementos de accionamiento. Los dos o más elementos de accionamiento se corresponden con las dos o más piezas de demarcación 30 anteriores, cada elemento de accionamiento está conectado con su pieza de demarcación correspondiente y cada elemento de accionamiento está configurado para impulsar el movimiento de su pieza de demarcación correspondiente.

Haciendo referencia a la figura 3, la figura 3 es un diagrama de flujo esquemático de un método de medición de acuerdo con una realización de esta solicitud y aplicado al dispositivo de medición de radiación anterior. Tal como se muestra en la figura 3, el método incluye los siguientes pasos.

Paso 301. Determinar un parámetro másico medido de una pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide.

Paso 302. Corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, para obtener el parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición.

En esta realización de esta solicitud, el parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide se determina basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y, a continuación, el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición. De esta manera, se considera la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación de los rayos y el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de la curva de desplazamiento durante la medición, de modo que el parámetro másico medido esté más próxima a, o sea coherente con, un parámetro másico real, lo que mejora la precisión de la medición.

En el paso 301, cuando la pieza de trabajo que se mide se mueve hacia el hueco entre la fuente de radiación y el detector de radiación, el dispositivo de medición de radiación anterior puede obtener la intensidad de radiación de los rayos después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de trabajo que se mide mediante la medición con el detector de radiación.

La pieza de trabajo anterior que se mide puede ser cualquier pieza de trabajo que requiera la medición de al menos un parámetro másico tal como el grosor, el peso y la densidad superficial durante la producción. La pieza de trabajo que se mide puede ser una pieza de trabajo con forma de lámina o placa, tal como una lámina de aluminio o una lámina de cobre. Específicamente, la pieza de trabajo anterior que se mide puede ser una placa de electrodo de batería durante la producción de la batería y, además, la pieza de trabajo que se mide puede ser una placa de electrodo de batería durante el recubrimiento.

Tras obtener la intensidad de radiación anterior, el dispositivo de medición de radiación puede obtener un parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación y el coeficiente de atenuación de radiación de la pieza de trabajo que se mide.

El coeficiente de atenuación de radiación anterior se puede obtener mediante demarcación de al menos dos piezas de demarcación con los rayos emitidos por la fuente de radiación, y cada pieza de demarcación es una pieza de trabajo estándar que tiene el mismo coeficiente de atenuación de la radiación, o uno similar, que la pieza de trabajo que se mide. Se conocen los parámetros másicos reales de cada pieza de trabajo estándar y el grosor varía con la pieza de demarcación.

El coeficiente de atenuación de radiación anterior obtenido mediante la demarcación de al menos dos piezas de demarcación con rayos se puede calcular utilizando la siguiente fórmula (1):

donde

prepresenta el coeficiente de atenuación de radiación;

Q<1>representa un parámetro másico real (por ejemplo, grosor, peso o densidad superficial) de la pieza de demarcación I entre las dos o más piezas de demarcación anteriores;

Q<2>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación 2 entre las dos o más piezas de demarcación anteriores, y es diferente;

I<I>representa la intensidad de radiación de los rayos después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación 1; y

I<2>representa la intensidad de radiación de los rayos después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación 2.

Cabe destacar que la obtención del coeficiente de atenuación de radiación mediante la demarcación de al menos dos piezas de demarcación con rayos se puede realizar cuando se sustituye la fuente de radiación o cuando se cambia un material de la pieza de trabajo que se mide y similares.

La obtención de un parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide, basándose en la intensidad de radiación y el coeficiente de atenuación de radiación de la pieza de trabajo que se mide, puede ser introducir la intensidad de radiación y el coeficiente de atenuación de radiación en un modelo de cálculo de parámetros másicos medidos predeterminado para obtener el parámetro másico medido mediante cálculo utilizando el modelo de cálculo de parámetros másicos medidos. El proceso de obtención de un parámetro másico medido utilizando el modelo de cálculo de parámetros másicos medidos es ampliamente conocido en la técnica y no se describe en la presente.

En el paso 302, después de obtener el parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide, el dispositivo de medición de radiación puede corregir el parámetro másico medido basándose en una función de la curva de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide.

La función de la curva de desplazamiento se puede obtener mediante la demarcación de al menos dos piezas de demarcación con rayos y la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición.

La obtención de la función de la curva de desplazamiento mediante la demarcación de al menos dos piezas de demarcación con rayos puede ser: obtener las intensidades de radiación de los rayos después de que los rayos hayan pasado a través de las dos o más piezas de demarcación por separado, calcular el parámetro másico medido de cada pieza de demarcación basándose en la intensidad de radiación y en el coeficiente de atenuación de radiación correspondiente a la pieza de demarcación, introducir cada parámetro másico medido y el parámetro másico real correspondiente en la función de la curva inicial y, posteriormente, encontrar soluciones de los valores de parámetros en la función de la curva inicial para obtener la función de la curva de desplazamiento.

Por ejemplo, cuando la función de la curva inicial anterior es una función lineal primaria binaria, los coeficientes de escalamiento así como también las constantes de variables independientes en la función lineal primaria binaria se pueden obtener mediante resolución basándose en cada parámetro másico medido y su parámetro de medición temporal correspondiente, y la función de la curva de desplazamiento anterior se puede obtener mediante actualización de la función lineal primaria binaria con los coeficientes de escalamiento y las constantes resueltos.

En algunas realizaciones, antes de corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, el método incluye, además:

demarcar al menos dos piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición, utilizándose la curva de calibración másica para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de las piezas de demarcación; y

ajustar la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica de un entorno estándar para obtener la función de la curva de desplazamiento, utilizándose la función de la curva de desplazamiento para caracterizar una cantidad de cambio en la transmitancia de radiación en el entorno de medición con relación al entorno estándar.

En estas realizaciones, la función de la curva de desplazamiento anterior se obtiene ajustando la curva de calibración másica obtenida por demarcación en el entorno de medición con respecto a la curva de calibración másica obtenida mediante medición en el entorno estándar, de modo que la curva de desplazamiento obtenida pueda reflejar mejor la influencia del entorno de medición sobre la transmitancia de radiación, haciendo así que el parámetro másico determinado final sea más preciso.

La demarcación de al menos dos piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición puede ser: determinar, basándose en los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados de las piezas de demarcación en el entorno de medición, los puntos de coordenadas correspondientes en un sistema de coordenadas predeterminado, y representar la curva utilizando los puntos de coordenadas correspondientes a las dos o más piezas de demarcación para obtener la curva de calibración másica anterior. El sistema de coordenadas predeterminado puede ser un sistema de coordenadas con un parámetro másico medido y un parámetro másico nominal como ejes, respectivamente, y similares.

La curva de calibración másica anterior del entorno estándar se utiliza para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de las piezas de demarcación, en el entorno estándar predeterminado. El proceso de generación de una curva de calibración másica del entorno estándar es similar al proceso de generación de una curva de calibración másica del entorno de medición descrito anteriormente y no se repite en la presente.

El entorno estándar predeterminado anterior se puede sobreentender como un entorno predeterminado en el que no hay ningún factor ambiental que no sea el aire que tenga un efecto sobre la transmitancia de radiación de los rayos, o un entorno en el que los factores ambientales presentes tienen una influencia despreciable en la transmitancia de radiación de los rayos.

Por ejemplo, el entorno estándar puede ser un entorno en el que se filtra el polvo en el aire y tiene una temperatura estándar, presión estándar y similares; y en dicho entorno sin polvo, con una temperatura estándar, presión estándar y similares, la influencia del entorno sobre la transmitancia de radiación de los rayos es despreciable.

El ajuste de la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica de un entorno estándar para obtener la función de la curva de desplazamiento puede ser: realizar un ajuste aproximado mediante líneas rectas de la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a la curva de calibración másica del entorno estándar para obtener una función lineal. Por ejemplo, la función de la curva de desplazamiento obtenida es una función de tipo a bQ, siendo a y b constantes y siendo Q el parámetro másico medido.

En algunas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos de contaminantes, así como también de factores influyentes objetivo, incluyendo los factores influyentes objetivo los factores ambientales que provocan un cambio en la transmitancia de radiación distinto del de los contaminantes.

En estas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos tanto de contaminantes como también de factores influyentes objetivo, de modo que no solo se considera la influencia de los contaminantes sobre la transmitancia de radiación, sino que también se considera la influencia de los factores influyentes objetivo sobre la transmitancia de radiación, lo que da como resultado un parámetro másico corregido más preciso.

En algunas realizaciones, el método incluye, además:

obtener un primer desplazamiento inicial y un segundo desplazamiento inicial mediante simulación, utilizándose el primer desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación solo bajo la influencia de un contaminante en el entorno de medición, en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y utilizándose el segundo desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y

actualizar la función de la curva de desplazamiento basándose en una relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial, donde la función de la curva de desplazamiento actualizada es un producto de la función de la curva de desplazamiento antes de la actualización y la relación.

En estas realizaciones, se obtienen en primer lugar el primer desplazamiento inicial generado bajo la influencia del contaminante en el entorno de medición y el segundo desplazamiento inicial generado en el entorno de medición (es decir, se incluyen la influencia del contaminante así como también de un factor influyente objetivo), posteriormente se calcula la relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial y en última instancia se actualiza la función de la curva de desplazamiento con respecto al producto de la función de la curva de desplazamiento ajustada y la relación, de modo que la función de la curva de desplazamiento generada tiene en cuenta tanto la influencia del contaminante sobre la radiación como también la influencia de otros factores sobre la radiación, lo que hace que la función de la curva de desplazamiento determinada sea más precisa y, por tanto, hace que el parámetro másico medido sea más preciso.

La obtención de un primer desplazamiento inicial mediante simulación puede ser: ajustar los valores de parámetros de los factores influyentes objetivo en el entorno de medición anterior con respecto a valores de parámetros que no tienen influencia o una influencia despreciable en la transmitancia de radiación de los rayos, de modo que solo los contaminantes en el entorno tengan influencia sobre la transmitancia de radiación de los rayos; y calcular la desviación de la transmitancia de radiación en el entorno en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar.

Por ejemplo, la temperatura en el entorno de medición se puede ajustar con respecto a la temperatura estándar y la presión se puede ajustar con respecto a la presión estándar, de modo que solo los contaminantes tales como el polvo o la suciedad en el entorno de medición afecten a la transmitancia de radiación de los rayos, y se calcula la desviación de la transmitancia de radiación en el entorno en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar para obtener el primer desplazamiento inicial.

La obtención de un segundo desplazamiento inicial mediante simulación puede ser: calcular la desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición anterior en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar, es decir, el segundo desplazamiento inicial tiene en cuenta la influencia de los contaminantes y los factores influyentes objetivo en la transmitancia de la radiación.

Cada uno de los desplazamientos iniciales anteriores se puede calcular basándose en la transmitancia de radiación en un entorno correspondiente de esta y la transmitancia de radiación en el entorno estándar. Por ejemplo, la relación de la transmitancia de los dos se determina como el desplazamiento inicial anterior.

En algunas realizaciones, cada desplazamiento inicial se calcula utilizando la siguiente fórmula:

donde

C Representa el desplazamiento inicial;

Ifrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno estándar; y

/ ;

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar.

En estas realizaciones, la diferencia entre la transmitancia de radiación en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial y la transmitancia de radiación en el entorno estándar que se determina como el desplazamiento inicial hace que el desplazamiento inicial determinado sea más razonable, lo que hace de este modo que la función de la curva de desplazamiento actualizada caracterice con más precisión la influencia de cada factor ambiental sobre la radiación en el entorno de medición y mejore adicionalmente la precisión de medición del parámetro másico.

En algunas realizaciones, cada curva de calibración másica se obtiene utilizando la siguiente fórmula:

donde

Qrepresenta un parámetro másico medido de la pieza de demarcación calculado basándose en una intensidad de radiación y un coeficiente de atenuación de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de demarcación;

Q<1>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación;

prepresenta el coeficiente de atenuación de radiación;

Isrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire (es decir, el objeto que se mide no está presente en el hueco) en el entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

representa una intensidad de radiación de los rayos emitidos por una fuente de radiación; y

representa una intensidad de radiación de la pieza de demarcación.

En estas realizaciones, la fórmula anterior se utiliza para obtener cada curva de calibración másica, de modo que la curva de calibración másica obtenida se ajuste a la ley de Beer, lo que mejora de este modo la precisión de la curva de calibración másica y, por tanto, mejora adicionalmente la precisión del parámetro másico medido.

En algunas realizaciones, la demarcación de las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición incluye:

cuando se alcanza un período predeterminado, demarcar las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición.

En estas realizaciones, cuando se alcanza el periodo predeterminado, las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición se demarcan para obtener la curva de calibración másica del entorno de medición, lo que permite la actualización oportuna de la función de la curva de desplazamiento y, por tanto, hacer que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, la pieza de trabajo que se mide incluye una placa de electrodo de batería y el parámetro másico incluye la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

En estas realizaciones, se puede corregir una densidad superficial medida durante la producción de la placa de electrodo de batería, de modo que la densidad superficial medida esté más próxima a, o sea coherente con, una densidad superficial real, lo que mejora la precisión de medición de la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

Para facilitar la comprensión del método de medición proporcionado en esta realización de esta solicitud, el proceso de medición del peso de una pieza de trabajo utilizando el método se describe en la presente como sigue.

Se pueden demarcar al menos dos piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica 41 del entorno de medición, tal como se muestra en la figura 4. La curva de calibración másica 41 se corresponde con la siguiente fórmula (3-1):

(3-D,

donde

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno de medición; y

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno de medición.

Además, se pueden demarcar al menos dos piezas de demarcación en el entorno estándar para obtener una curva de calibración másica 42 del entorno de medición, tal como se muestra en la figura 4. La curva de calibración másica 42 se corresponde con la siguiente fórmula (3-2):

donde

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno estándar; y

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar, donde la influencia del aire en la transmitancia de radiación es despreciable en un entorno estándar, es decir,

es aproximadamente igual a

La curva de calibración másica 41 y la curva de calibración másica 42 se ajustan a líneas rectas para obtener una curva de desplazamiento 43 mostrada en la figura 4, que se puede expresar mediante una función tal como a bQ (es decir, una función de la curva de desplazamiento). La curva de desplazamiento 43 anterior tiene un punto de inflexión A, es decir, la curva de desplazamiento 43 se puede expresar en realidad como a1 b1Q, así como también a2 b2Q.

Asimismo, suponiendo que el primer desplazamiento inicial y el segundo desplazamiento inicial se calculan por separado utilizando la fórmula (2) anterior, se puede obtener una curva de desplazamiento 44 actualizada usando la siguiente fórmula (4) (es decir, la función de la curva de desplazamiento actualizada):

Por lo tanto, en la medición real, la función de la curva de desplazamiento actualizada se puede obtener utilizando la fórmula (4) anterior y, posteriormente, se puede actualizar el parámetro másico medido, lo que se puede realizar utilizando la siguiente fórmula (5):

Haciendo referencia a la figura 5, la figura 5 es un diagrama estructural esquemático de un aparato de medición de acuerdo con una realización de esta solicitud. Tal como se muestra en la figura 5, el aparato 500 incluye:

un módulo de determinación de parámetros másicos medidos 501 configurado para determinar un parámetro másico medido de una pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide; y

un módulo de corrección de parámetros másicos 502 configurado para corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, para obtener el parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la radiación en el entorno de medición.

En esta realización de esta solicitud, el parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide se determina basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide y, a continuación, el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de desplazamiento del entorno de medición en el que se encuentra la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación en el entorno de medición. De esta manera, se considera la influencia de los factores ambientales sobre la transmitancia de radiación de los rayos y el parámetro másico medido se corrige utilizando la función de la curva de desplazamiento durante la medición, de modo que el parámetro másico medido esté más próxima a, o sea coherente con, un parámetro másico real, lo que mejora la precisión de la medición.

En algunas realizaciones, el aparato incluye, además:

un módulo de generación de curvas de calibración másica configurado para demarcar al menos dos piezas de demarcación en un entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición, utilizándose la curva de calibración másica para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de las piezas de demarcación; y

un módulo de generación de funciones de curvas de desplazamiento configurado para ajustar la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica de un entorno estándar con el fin de obtener la función de la curva de desplazamiento, utilizándose la función de la curva de desplazamiento para caracterizar una cantidad de cambio en la transmitancia de radiación en el entorno de medición con relación al entorno estándar.

En estas realizaciones, la función de la curva de desplazamiento anterior se obtiene ajustando la curva de calibración másica obtenida por demarcación en el entorno de medición con respecto a la curva de calibración másica obtenida mediante medición en el entorno estándar, de modo que la curva de desplazamiento obtenida pueda reflejar mejor la influencia del entorno de medición sobre la transmitancia de radiación, haciendo así que el parámetro másico determinado final sea más preciso.

En algunas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos de contaminantes, así como también de factores influyentes objetivo, incluyendo los factores influyentes objetivo los factores ambientales que provocan un cambio en la transmitancia de radiación distinto del de los contaminantes.

En estas realizaciones, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos tanto de contaminantes como también de factores influyentes objetivo, de modo que no solo se considera la influencia de los contaminantes sobre la transmitancia de radiación, sino que también se considera la influencia de los factores influyentes objetivo sobre la transmitancia de radiación, lo que da como resultado un parámetro másico corregido más preciso.

En algunas realizaciones, el aparato 500 incluye, además:

un módulo de simulación configurado para obtener un primer desplazamiento inicial y un segundo desplazamiento inicial mediante simulación, utilizándose el primer desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación solo bajo la influencia de un contaminante en el entorno de medición, en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y utilizándose el segundo desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y

un módulo de actualización de funciones de curvas de desplazamiento configurado para actualizar la función de la curva de desplazamiento basándose en una relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial, donde la función de la curva de desplazamiento actualizada es un producto de la función de la curva de desplazamiento antes de la actualización y la relación.

En estas realizaciones, se obtienen en primer lugar el primer desplazamiento inicial generado bajo la influencia del contaminante en el entorno de medición y el segundo desplazamiento inicial generado en el entorno de medición (es decir, se incluyen la influencia del contaminante así como también de un factor influyente objetivo), posteriormente se calcula la relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial y en última instancia se actualiza la función de la curva de desplazamiento con respecto al producto de la función de la curva de desplazamiento ajustada y la relación, de modo que la función de la curva de desplazamiento generada tiene en cuenta tanto la influencia del contaminante sobre la radiación como también la influencia de otros factores sobre la radiación, lo que hace que la función de la curva de desplazamiento determinada sea más precisa y, por tanto, hace que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, cada desplazamiento inicial se calcula utilizando la siguiente fórmula:

donde C representa el desplazamiento inicial;

Ifrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial;

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno estándar; y

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar.

En estas realizaciones, la diferencia entre la transmitancia de radiación en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial y la transmitancia de radiación en el entorno estándar que se determina como el desplazamiento inicial hace que el desplazamiento inicial determinado sea más razonable, lo que hace de este modo que la función de la curva de desplazamiento actualizada caracterice con más precisión la influencia de cada factor ambiental sobre la radiación en el entorno de medición y mejore adicionalmente la precisión de medición del parámetro másico.

En algunas realizaciones, cada curva de calibración másica se obtiene utilizando la siguiente fórmula:

dondeQrepresenta un parámetro másico medido de la pieza de demarcación calculado basándose en una intensidad de radiación y un coeficiente de atenuación de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de demarcación;

Q<1>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación;

Ijrepresenta el coeficiente de atenuación de radiación;

Isrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente a la curva de calibración másica;

n

representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente a la curva de calibración másica; y

representa una intensidad de radiación de la pieza de demarcación.

En estas realizaciones, la fórmula anterior se utiliza para obtener cada curva de calibración másica, de modo que la curva de calibración másica obtenida se ajuste a la ley de Beer, lo que mejora de este modo la precisión de la curva de calibración másica y, por tanto, mejora adicionalmente la precisión del parámetro másico medido.

En algunas realizaciones, el módulo de generación de curvas de calibración másica está configurado específicamente para:

cuando se alcanza un período predeterminado, demarcar las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición.

En estas realizaciones, cuando se alcanza el periodo predeterminado, las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición se demarcan para obtener la curva de calibración másica del entorno de medición, lo que permite la actualización oportuna de la función de la curva de desplazamiento y, por tanto, hacer que el parámetro másico medido sea más preciso.

En algunas realizaciones, la pieza de trabajo que se mide incluye una placa de electrodo de batería y el parámetro másico incluye la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

En estas realizaciones, se puede corregir una densidad superficial medida durante la producción de la placa de electrodo de batería, de modo que la densidad superficial medida esté más próxima a, o sea coherente con, una densidad superficial real, lo que mejora la precisión de medición de la densidad superficial de la placa de electrodo de batería.

El aparato de medición de acuerdo con esta realización de esta solicitud tiene detalles similares a los del método de medición descrito anteriormente junto con la realización mostrada en la figura 3 y se pueden obtener efectos técnicos correspondientes. Para una mayor brevedad de la descripción, los detalles no se repiten en la presente.

La figura 6 es un diagrama esquemático de una estructura de hardware de un dispositivo de medición de radiación de acuerdo con una realización de esta solicitud.

El dispositivo de medición de radiación puede incluir un procesador 601 y una memoria 602 que almacena instrucciones de programas informáticos.

Específicamente, el procesador 601 puede incluir una unidad central de procesamiento (CPU) o un circuito integrado de aplicación específica (ASIC), o se puede configurar como uno o más circuitos integrados que implementan las realizaciones de esta solicitud.

La memoria 602 puede incluir una memoria masiva para datos o instrucciones. A modo de ejemplo y sin carácter limitante, la memoria 602 puede incluir una unidad de disco duro (HDD), una unidad de disquete, una memoria flash, un disco óptico, un disco magnético, una cinta magnética o una unidad de bus de serie universal (USB) o una combinación de dos o más de estos. En algunos ejemplos, la memoria 602 puede incluir medios extraíbles o no extraíbles (o fijos), o la memoria 602 es una memoria en estado sólido no volátil. En algunas realizaciones, la memoria 602 puede estar situada dentro o fuera de un aparato de batería.

En algunas realizaciones, la memoria 602 puede ser una memoria de sólo lectura (ROM). En una realización, la ROM puede ser una ROM programada con máscara, una ROM programable (PROM), una PROM borrable (EPROM), una PROM borrable eléctricamente (EEPROM), una ROM regrabable eléctricamente (EAROM) o una memoria flash, o una combinación de dos o más de estas.

La memoria 602 puede incluir una memoria de solo lectura (ROM), una memoria de acceso aleatorio (RAM), un dispositivo multimedia de almacenamiento en disco, un dispositivo multimedia de almacenamiento óptico, un dispositivo de memoria flash, un dispositivo de almacenamiento de memoria eléctrico, óptico u otro dispositivo de almacenamiento de memoria físico/tangible. Por lo tanto, en general, la memoria incluye uno o más medios de almacenamiento tangibles (no transitorios) legibles por ordenador (por ejemplo, un dispositivo de memoria) codificados con software que incluyen instrucciones ejecutables por ordenador, y cuando el software es ejecutado (por ejemplo, por uno o más procesadores), los medios de almacenamiento legibles por ordenador pueden realizar las operaciones descritas al hacer referencia al método de acuerdo con un aspecto de esta divulgación.

El procesador 601 implementa el método en la realización mostrada en la figura 3 mediante la lectura y ejecución de las instrucciones de programas informáticos almacenadas en la memoria 602, y logra los efectos técnicos correspondientes, que se logran en la realización mostrada en la figura 3 mediante la realización de su método/sus pasos. Para una mayor brevedad de la descripción, los detalles no se repiten en la presente.

En una realización, el dispositivo de medición de radiación puede incluir además una interfaz de comunicación 603 y un bus 604. Tal como se muestra en la figura 6, el procesador 601, la memoria 602 y la interfaz de comunicación 603 están conectados y tienen una comunicación total entre sí a través del bus 604.

La interfaz de comunicación 603 está configurada principalmente para implementar la comunicación entre los módulos, aparatos, unidades y/o dispositivos en las realizaciones de esta solicitud.

El bus 604 incluye hardware, software o ambos, y acopla los componentes de dispositivos de facturación de tráfico de datos en línea entre sí. A modo de ejemplo y sin carácter limitante, el bus puede incluir un puerto de gráficos acelerado (AGP) u otros buses de gráficos, un bus de arquitectura estándar industrial mejorada (EISA), un bus frontal (FSB), una interconexión de hipertransporte (HT), un bus de arquitectura estándar industrial (ISA), una interconexión de ancho de banda ilimitado, un bus LPC (low pin count), un bus de memoria, un bus de arquitectura de micro canal (MCA), un bus de interconexión de componentes periféricos (PCI), un bus PCI-Express (PCI-X), un bus SATA (serial advanced technology attachment), un bus local de la asociación para estándares electrónicos y de vídeo (VLB) u otro bus adecuado, o una combinación de dos o más de estos. Cuando sea apropiado, el bus 604 puede incluir uno o más buses. Aunque en las realizaciones de esta solicitud se describen e ilustran buses específicos, en esta solicitud se considera cualquier bus o interconexión adecuado.

El dispositivo de medición de radiación puede realizar el método de medición en las realizaciones de esta solicitud, lo que implementa de este modo el método y aparato de medición descritos junto con las figuras 3 y 4.

Además, junto con el método y aparato de medición en las realizaciones anteriores, una realización de esta solicitud puede proporcionar un medio de almacenamiento informático para su implementación. El medio de almacenamiento informático almacena instrucciones de programas informáticos; y, cuando las instrucciones de programas informáticos son ejecutadas por un procesador, se implementa el método de medición de acuerdo con una cualquiera de las realizaciones anteriores.

Claims (15)

1. REIVINDICACIONES 1. Un método de medición para medir un parámetro másico de una pieza de trabajo que se mide, comprendiendo el método: determinar (301) un parámetro másico medido de la pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide; caracterizado por que el método comprende, además: corregir (302) el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, para obtener un parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la radiación en el entorno de medición.
2. 2. El método de acuerdo con la reivindicación 1, que comprende además, antes de la corrección (302), que el parámetro másico medido utiliza una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición: demarcar al menos dos piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición, utilizándose la curva de calibración másica para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de cada una de las piezas de demarcación; y ajustar la curva de calibración másica del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica de un entorno estándar para obtener la función de la curva de desplazamiento, utilizándose la función de la curva de desplazamiento para caracterizar una cantidad de cambio en la transmitancia de radiación en el entorno de medición con relación al entorno estándar, donde, preferentemente, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos de contaminantes, así como también de factores influyentes objetivo, comprendiendo los factores influyentes objetivo los factores ambientales que provocan un cambio en la transmitancia de radiación distinto del de los contaminantes.
3. 3. El método de acuerdo con la reivindicación 2, que comprende, además: obtener un primer desplazamiento inicial y un segundo desplazamiento inicial mediante simulación, utilizándose el primer desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación solo bajo la influencia de un contaminante en el entorno de medición, en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y utilizándose el segundo desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y actualizar la función de la curva de desplazamiento basándose en una relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial, donde la función de la curva de desplazamiento actualizada es un producto de la función de la curva de desplazamiento antes de la actualización y la relación.
4. 4. El método de acuerdo con la reivindicación 3, donde cada desplazamiento inicial se calcula utilizando la siguiente fórmula: c = / , / / a - / ; / / ; donde C representa el desplazamiento inicial; Ifrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente al desplazamiento inicial; larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial; representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en el entorno estándar; y representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar, y/o donde cada curva de calibración másica se obtiene utilizando la siguiente fórmula:

   dondeQrepresenta un parámetro másico medido de la pieza de demarcación calculado basándose en una intensidad de radiación y un coeficiente de atenuación de la radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de demarcación; Q<1>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación; prepresenta el coeficiente de atenuación de radiación; Isrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación en un entorno correspondiente a la curva de calibración másica; larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente a la curva de calibración másica; representa una intensidad de radiación de los rayos emitidos por una fuente de radiación; y representa una intensidad de radiación de la pieza de demarcación.
5. 5. El método de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 2 a 4, donde la demarcación de al menos dos piezas de demarcación en un entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición comprende: cuando se alcanza un período predeterminado, demarcar las dos o más piezas de demarcación en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica del entorno de medición.
6. 6. El método de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 5, donde la pieza de trabajo que se mide comprende una placa de electrodo de batería y el parámetro másico comprende una densidad superficial de la placa de electrodo de batería.
7. 7. Un aparato de medición (500), que comprende: un módulo de determinación de parámetros másicos medidos (501) configurado para determinar un parámetro másico medido de una pieza de trabajo que se mide basándose en la intensidad de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de trabajo que se mide; caracterizado por que el aparato de medición (500) comprende, además: un módulo de corrección de parámetros másicos (502) configurado para corregir el parámetro másico medido utilizando una función de la curva de desplazamiento de la pieza de trabajo que se mide en un entorno de medición, para obtener un parámetro másico corregido de la pieza de trabajo que se mide, donde la función de la curva de desplazamiento se utiliza para caracterizar la influencia de factores ambientales sobre la radiación en el entorno de medición.
8. 8. El aparato (500) de acuerdo con la reivindicación 7, que comprende, además: un módulo de generación de curvas de calibración másica configurado para demarcar al menos dos piezas de demarcación (30) en un entorno de medición para obtener una curva de calibración másica (41) del entorno de medición, utilizándose la curva de calibración másica (41) para caracterizar una relación entre los parámetros másicos medidos y los parámetros másicos nominales predeterminados, de cada una de las piezas de demarcación (30); y un módulo de generación de funciones de curvas de desplazamiento configurado para ajustar la curva de calibración másica (41) del entorno de medición con respecto a una curva de calibración másica (42) de un entorno estándar con el fin de obtener la función de la curva de desplazamiento, utilizándose la función de la curva de desplazamiento para caracterizar una cantidad de cambio en la transmitancia de radiación en el entorno de medición con relación al entorno estándar, donde, preferentemente, el entorno de medición es diferente del entorno estándar en términos de contaminantes, así como también de factores influyentes objetivo, comprendiendo los factores influyentes objetivo los factores ambientales que provocan un cambio en la transmitancia de radiación distinto del de los contaminantes, y donde, preferentemente, el módulo de generación de la curva de calibración másica está configurado específicamente para: cuando se alcanza un período predeterminado, demarcar las dos o más piezas de demarcación (30) en el entorno de medición para obtener una curva de calibración másica (41) del entorno de medición.
9. 9. El aparato (500) de acuerdo con la reivindicación 8, que comprende, además: un módulo de simulación configurado para obtener un primer desplazamiento inicial y un segundo desplazamiento inicial mediante simulación, utilizándose el primer desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación solo bajo la influencia de un contaminante en el entorno de medición, en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y utilizándose el segundo desplazamiento inicial para caracterizar una desviación de la transmitancia de radiación en el entorno de medición en comparación con la transmitancia de radiación en el entorno estándar; y un módulo de actualización de funciones de curvas de desplazamiento configurado para actualizar la función de la curva de desplazamiento basándose en una relación del segundo desplazamiento inicial con respecto al primer desplazamiento inicial, donde la función de la curva de desplazamiento actualizada es un producto de la función de la curva de desplazamiento antes de la actualización y la relación.
10. 10. El aparato (500) de acuerdo con la reivindicación 9, donde cada desplazamiento inicial se calcula utilizando la siguiente fórmula: c=r f n. -/;//; donde C representa el desplazamiento inicial; Ifrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación (30) en un entorno correspondiente al desplazamiento inicial; larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente al desplazamiento inicial; í1 f 1 representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación (30) en el entorno estándar; y representa una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno estándar, y/o donde cada curva de calibración másica se obtiene utilizando la siguiente fórmula:

    dondeQrepresenta un parámetro másico medido de la pieza de demarcación (30) calculado basándose en una intensidad de radiación y un coeficiente de atenuación de radiación de los rayos que han pasado a través de la pieza de demarcación (30); Q<1>representa un parámetro másico real de la pieza de demarcación (30); Ijrepresenta el coeficiente de atenuación de radiación; Isrepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través de la pieza de demarcación (30) en un entorno correspondiente a la curva de calibración másica; larepresenta una intensidad de radiación medida después de que los rayos hayan pasado a través del aire en el entorno correspondiente a la curva de calibración másica; representa una intensidad de radiación de los rayos emitidos por una fuente de radiación (10); y representa una intensidad de radiación de la pieza de demarcación (30).
11. 11. El aparato (500) de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 7 a 10, donde la pieza de trabajo que se mide comprende una placa de electrodo de batería y el parámetro másico comprende una densidad superficial de la placa de electrodo de batería.
12. 12. Un dispositivo de medición de radiación, que comprende: una fuente de radiación (10); un detector de radiación (20), donde se proporciona un hueco (101) entre el detector de radiación (20) y la fuente de radiación (10) y el hueco (101) está configurado para permitir que pase una pieza de trabajo que se mide; al menos dos piezas de demarcación (30), donde cada una de las piezas de demarcación (30) se puede mover hacia el hueco (101) y el grosor varía con la pieza de demarcación (30); un conjunto de accionamiento (40), donde el conjunto de accionamiento (40) está conectado con las dos o más piezas de demarcación (30) y el conjunto de accionamiento (40) está configurado para impulsar el movimiento de al menos una de las piezas de demarcación (30) hacia el hueco (101); y un medio de control (50) conectado eléctricamente con el conjunto de accionamiento (40), la fuente de radiación (10) y el detector de radiación (20), donde el medio de control (50) comprende el aparato de medición (500) de acuerdo con la reivindicación 7.
13. 13. El método de acuerdo con la reivindicación 12, que comprende: una primera pieza de demarcación (31) y una segunda pieza de demarcación (32), donde la primera pieza de demarcación (31) y la segunda pieza de demarcación (32) están separadas a lo largo de una dirección desde la fuente de radiación (10) hasta el detector de radiación (20); y el conjunto de accionamiento (40) está configurado para impulsar el movimiento por separado de la primera pieza de demarcación (31) y la segunda pieza de demarcación (32) hacia el hueco (101) e impulsar el movimiento simultáneo de la primera pieza de demarcación (31) y la segunda pieza de demarcación (32) hacia el hueco (101) para formar una tercera pieza de demarcación.
14. 14. Un dispositivo de medición de radiación de acuerdo con la reivindicación 12, que comprende un procesador (601), una memoria (602) y un programa o unas instrucciones almacenados en la memoria (602) y que se pueden ejecutar en el procesador (601), donde, cuando el programa o las instrucciones son ejecutados por el procesador (601), se implementan los pasos del método de medición de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6.
15. 15. Un medio de almacenamiento legible, que comprende un programa o unas instrucciones que, cuando son ejecutados por un procesador (601), dan como resultado la realización de los pasos del método de medición de acuerdo con una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6.