ES3051167T3 - A measurement apparatus and a method for correcting measures therefrom - Google Patents
A measurement apparatus and a method for correcting measures therefromInfo
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Abstract
Un aparato de medición (400) que comprende un sensor de medición (100) y un dispositivo de cálculo (300), cada uno con medios de alimentación eléctrica proporcionales respectivos (250) y (350), el aparato de medición (400) tiene una conexión eléctrica para alimentación y control, así como para comunicación de datos con el dispositivo de cálculo (300), el sensor de medición (100) comprende además un medio de medición (110), una memoria protegida de lectura, escritura y borrado (130) con una pluralidad de tabulaciones de calibración que incluyen una pluralidad de tabulaciones de calibración primarias (150), una pluralidad de tabulaciones de calibración secundarias (170) y una pluralidad de tabulaciones de calibración degenerativas (210) junto con una dirección de aplicación (230); y el dispositivo de cálculo (300) comprende un receptor de datos (310), un calculador de corrección (370), una unidad de entrada y salida (390) que incluye un configurador (305); en donde la tabulación de calibración se genera previamente en una condición controlada y es independiente del dispositivo computacional (300) con el que se empareja posteriormente el medio de medición. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)
Description
[0001] DESCRIPCIÓN
[0002] Un aparato de medición y método para corregir las mediciones a partir del mismo
[0003] Campo de la invención
[0004] La presente invención se refiere a la medición, particularmente a la medición de parámetros analógicos, y más particularmente a un aparato de medición y un método para el mismo.
[0005] Antecedentes
[0006] La presente invención se divulga con la técnica y la ciencia de la medición actual; sin embargo, es aplicable con igual eficacia a aparatos y métodos de medición de la velocidad de un automóvil o la cantidad de salsa de mayonesa en un sándwich, y cualquier otra medición basada en efectos.
[0007] La medición de parámetros es una etapa conocida e importante en cualquier actividad sensible a la calidad del resultado. Se sabe que el uso de un transductor basado en efectos permite realizar mediciones seguras y eficaces. Ejemplo: medimos la temperatura midiendo la expansión del mercurio o de cualquier otro líquido adecuado.
[0008] Tal medición tiene esencialmente un sensor de medición y un dispositivo de salida que imparte un valor de medición.
[0009] Todo sensor de medición basado en efectos tiene errores al detectar el parámetro. El error puede deberse a la construcción del sensor, y o debido al entorno y o debido al envejecimiento. Lo mismo se aplica al dispositivo de salida.
[0010] También se sabe que tal error es diferente para el mismo diseño y proceso de fabricación del sensor de medición, así como del dispositivo de salida, principalmente debido a variaciones de fabricación. A modo de ejemplo, un transformador de corriente convencional que detecta la corriente primaria por su efecto magnético y a continuación reproduce una corriente secundaria tiene algún error introducido en cada etapa, incluyendo, entre otros, la fabricación del cable, el bobinado del cable, la colocación del cable en un núcleo, la generación del campo magnético y después la corriente secundaria, etcétera.
[0011] Se sabe que un dato de error, que es esencialmente una tabulación de factor de error en valores discretos de medición y que también se conoce como carta de calibración, es generable, para conocer el error introducido debido a cualquier razón. El documento GB2552948 divulga un método para obtener un conjunto de puntos de calibración a partir de un conjunto de datos de muestra para realizar la calibración en dispositivos de medición que implica añadir un punto de muestra correspondiente al error más grande a una lista de puntos de calibración basada en el error más grande.
[0012] Cuando el sensor de medición y los dispositivos de medición están conectados entre sí para formar un aparato de medición o un sistema de medición, en el que cualquier sensor de medición está conectado a cualquier dispositivo de medición, el error acumulativo o del sistema es error del dispositivo sensor error del dispositivo de medición. En tales casos, no es posible compensar las imprecisiones de medición del sensor. Por lo tanto, si se requiere una mayor precisión, tanto las precisiones individuales del sensor como la del dispositivo de medición deben ser altas. Calibrar el sensor de forma independiente y emparejarlo en el momento de la conexión al dispositivo de medición permite eliminar la falta de precisión del sensor. Esto sólo se podría haber logrado en el curso normal si una unidad específica de sensor y una unidad específica de dispositivo de medición se considerasen juntas como un par o si las dos se integrasen como un sistema de medición y se calibrasen para la medición final con técnicas de eliminación de errores. Este concepto limita significativamente la flexibilidad industrial e infla el coste.
[0013] La presente invención aborda eficazmente esta necesidad y brecha industrial.
[0014] Objetivos
[0015] El objetivo es inventar un instrumento que proporcione una medición precisa de un parámetro deseado. Otro objetivo es inventar un instrumento que proporcione una medición precisa de un parámetro deseado sobre un amplo rango.
[0016] Otro objetivo más es inventar un instrumento que pueda utilizarse para la medición de diferentes parámetros. Otro objetivo más es inventar un instrumento que utilice eficazmente la información de calibración del sensor de medición utilizado.
[0017] Otro objetivo más es inventar un instrumento cuyos componentes se calibren independientemente.
[0019] Otro objetivo más es inventar un instrumento cuyo sensor sea cambiable y el instrumento no necesite calibración acumulativa.
[0021] Compendio de la invención
[0023] La presente invención es un aparato de medición que comprende un sensor de medición y un dispositivo de cálculo. El sensor de medición comprende un medio de medición, una memoria de lectura-escritura-borrado protegida que tiene una pluralidad de tabulaciones de calibración que incluyen una pluralidad de tabulaciones de calibración primarias y/o una pluralidad de tabulaciones de calibración secundarias y/o una pluralidad de tabulaciones de calibración degenerativas junto con una dirección de aplicación, y un medio de alimentación eléctrica proporcional.
[0025] Una tabulación de calibración es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real de una función y, correspondientemente, un valor virtual de la función del sensor. El valor virtual incluye un valor medido, un valor predicho y/o un valor proyectado. La tabulación de calibración se genera para cada medio de medición individual en una condición controlada e independiente del dispositivo de cálculo con el medio de medición que se va a emparejar posteriormente. Una tabulación de calibración es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real de una función primaria y, correspondientemente, un valor medido de la función primaria del sensor. Una tabulación de calibración secundaria es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real de una función de soporte y, correspondientemente, un valor medido de la función secundaria del sensor.
[0027] Un medio de medición incluye uno o más medios de medición primarios y uno o más medios de medición secundarios. Una tabulación de calibración degenerativa es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor de una función degenerativa y, correspondientemente, un valor predicho de la función primaria del sensor. El valor predictivo de la función primaria es algorítmico, estadístico o basado en conocimiento. La dirección de aplicación del sensor de medición es un conjunto de detalles permanentes de nivel uno y nivel dos del sensor de medición. Para el sensor de medición de corriente, el detalle permanente de nivel uno es una relación de transformación de medición de corriente como 200/5, lo que significa un transformador de corriente con una clasificación primaria de 200 amperios y una clasificación secundaria de 5 amperios, un valor de temperatura permisible. Los detalles permanentes de nivel dos son un número de serie que identifica una fuente y un período de producción. El dispositivo de cálculo comprende un receptor de datos, un calculador de corrección, una unidad de entrada y salida que incluye un configurador y un medio de alimentación eléctrica proporcional. El receptor de datos recibe una dirección de aplicación, un valor de medición y datos de calibración seleccionados del sensor de medición.
[0029] El configurador es configurado por el usuario para establecer nombres y unidades de medida de funciones primarias, nombres y unidades de medida de funciones secundarias, nombres y unidades de medida de funciones degenerativas. El configurador también es configurado por el usuario para expresiones algebraicas o expresiones de Boolean para los datos pertenecientes a cada función. Los expertos en la materia conocen bien este comportamiento de diferentes muestras de los mismos sensores de medición, y que es inevitable debido a las variaciones de fabricación de una muestra a otra muestra. La presente invención corrige esta anomalía de forma efectiva, asociando cualquier sensor de medida con cualquier dispositivo de cálculo. El aparato de medición tiene el sensor de medición conectado eléctricamente para alimentación y/o control, así como para comunicación de datos con el dispositivo de cálculo en donde se configuran las funciones. La conexión eléctrica es una conexión mediante cable o por radio, o una combinación de las mismas. Las técnicas para tal conexión son bien conocidas y cambian rápidamente, por lo que no se detallarán en el presente documento para garantizar la claridad en los detalles inventivos. Cuando se activa el aparato de medición, el dispositivo de cálculo busca y recibe la dirección de aplicación del sensor de medición. En el caso ilustrativo donde el sensor de medición es un sensor de medición de corriente, el dispositivo de cálculo recibe al menos una relación de transformación. El dispositivo de cálculo busca y recibe un valor medido Y<MP>de una función primaria. Este valor medido Y<MP>es un valor virtual. A continuación, el dispositivo de cálculo busca un valor real inmediatamente inferior y un valor virtual correspondiente (X<LP>, Y<LS>), y un valor real inmediatamente superior y un valor virtual correspondiente superior (X<HP>, Y<HP>) de la tabulación de calibración primaria. A partir de estos dos valores, el dispositivo de cálculo calcula un contorno lineal o no lineal de un segmento de calibración y calcula un valor real X<MP>. A modo de ilustración, el contorno lineal se calcula aplicando una expresión matemática conocida como Y=mX+c donde m es una pendiente del contorno y c es una constante, y estas se podrían calcular fácilmente resolviendo dos ecuaciones algebraicas. El contorno no lineal también se calcula utilizando dos o más valores del gráfico. La selección de la expresión que se va a utilizar se basa en la aplicación del aparato de medición según la presente invención.
[0031] De igual forma, el dispositivo de cálculo busca y recibe un valor medido Y<MS>de una función primaria. Este valor medido Y<MS>es un valor virtual. El dispositivo de cálculo a continuación busca un valor real inmediatamente
inferior y un valor virtual correspondiente (X<LS>, Y<LS>), y un valor real inmediatamente superior y un valor virtual correspondiente superior (X<HS>, Y<HS>) de la tabulación de calibración secundaria. A partir de estos dos puntos, el dispositivo de cálculo calcula un contorno lineal o no lineal de un segmento de calibración y calcula un valor real X<MS>.
[0032] A continuación, el dispositivo de cálculo determina una función degenerativa con referencia a un envejecimiento en tiempo real y calcula un valor predicho de la función primaria. El dispositivo de cálculo calcula un valor corregido de la función primaria tomando en el cálculo todos los valores reales de la función primaria, la función secundaria y la función degenerativa.
[0033] Como una variación, cuando un sensor de medición conectado a un dispositivo de cálculo no devuelve datos, el dispositivo de cálculo considera un valor de defecto, generalmente un UNO numérico. En otras palabras, un sensor de medición que es simplemente un sensor convencional sin memoria también se puede utilizar con un dispositivo de cálculo.
[0034] Breve descripción de los dibujos
[0035] La Figura 1 es un diagrama de bloques de un aparato según la presente invención.
[0036] La Figura 2 es un diagrama de bloques de un sensor de medición según la presente invención. Las Figuras 3A a 3D son tablas de calibración ilustrativas de diferentes parámetros de medición.
[0037] La Figura 4 es un diagrama de bloques de un dispositivo de cálculo según la presente invención.
[0038] La Figura 5A es una representación gráfica de diferentes curvas de calibración, mientras que la Figura 5B, 5C es una representación gráfica de un conjunto de puntos de calibración utilizados para la corrección de la medición.
[0039] Las Figuras 6A, 6B y 6C son una representación gráfica de un conjunto ilustrativo de valores reales y virtuales para llegar a una medida corregida.
[0040] Descripción detallada de los dibujos
[0041] La presente invención se describe con la ayuda de los dibujos adjuntos. La invención tiene una amplia aplicación y la explicación y las ilustraciones no deben interpretarse como limitantes de la invención.
[0042] La Figura 1, la presente invención es un aparato de medición400que comprende un sensor de medición100y un dispositivo de cálculo300.
[0043] Para facilitar la comprensión fácil e inequívoca de la invención, los dibujos y la descripción ilustran un sensor de medición de corriente eléctrica y un dispositivo de cálculo de corriente eléctrica.
[0044] Figura 2, el sensor de medición100comprende un medio de medición110, una memoria de lectura-escrituraborrado130protegida que tiene una pluralidad de tabulaciones de calibración que incluyen una pluralidad de tabulaciones150de calibración primarias y/o una pluralidad de tabulaciones170de calibración secundarias y/o una pluralidad de tabulaciones de calibración degenerativas210junto con una dirección de aplicación230, y un medio250de alimentación eléctrica proporcional.
[0045] Una tabulación de calibración es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real410de una función y, correspondientemente, un valor virtual420de la función del sensor. El valor virtual420incluye un valor medido, un valor predicho y/o un valor proyectado. La tabulación de calibración150, 170 y 210se genera para cada medio de medición individual en una condición controlada e independiente del dispositivo de cálculo300con el que el medio de medición110se va a emparejar posteriormente. A modo de ejemplo, para un sensor de medición de corriente CA, se genera una tabulación del error de relación pasando un valor conocido de corriente CA desde el devanado primario del transformador de corriente y capturando el valor de corriente CA según lo informado por el devanado secundario del transformador de corriente. Aquí, el valor conocido corresponde al valor real de la función y el valor informado corresponde al valor virtual de la función.
[0046] Una tabulación150de calibración primaria es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real410de una función primaria y, correspondientemente, un valor medido de la función primaria del sensor.
[0047] Correspondientemente, un sensor de medición de corriente ac es un transformador de corriente convencional con un devanado primario y un devanado secundario. Muchas veces, el devanado primario es simplemente un único conductor que pasa a través de una ventana de un núcleo ferromagnético. Tal un único conductor constituye UNA vuelta del devanado primario, mientras que en el núcleo ferromagnético se dispone un número relativamente grande de vueltas. Un sensor de medición de dc puede comprender un sensor Hall.
[0048] Para un sensor de medición de corriente, la tabulación de calibración primaria150es generalmente un conjunto de valores155de corriente real discreto,un valor de corriente medido correspondiente157y un valor159de error de ángulo de fase medido correspondiente,Figura 3A.
[0049] Una tabulación de calibración secundaria170es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real de una función de soporte y, correspondientemente, un valor medido de la función secundaria del sensor. Para el sensor de medición de corriente, la tabulación170de calibración secundaria es generalmente un conjunto de valores175de frecuencia discreto,un valor de desviación de corriente medido correspondiente177y un valor179de desviación de error de ángulo de fase medido correspondiente, Figura 3B.
[0050] También, para el sensor de medición de corriente, la tabulación170de calibración secundaria es generalmente un conjunto de valores195de temperatura operacional discretos,un valor197de desviación de corriente medido correspondiente y un valor199de desviación de error de ángulo de fase medido correspondiente,Figura 3C.
[0051] Consecuentemente, un medio de medición110incluye uno o más medios de medición primarios y uno o más medios de medición secundarios. Para un aparato de medición de corriente, el medio de medición primario es un devanado primario y uno secundario enrollados sobre un núcleo ferromagnético, mientras que el medio secundario es, entre otros, una medición de frecuencia, una medición de temperatura, una medición de humedad, una medición de vibración.
[0052] Una tabulación210de calibración degenerativa es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor de una función degenerativa y, correspondientemente, un valor predicho de la función primaria del sensor. La función degenerativa es una medida de tiempo o uso del sensor de medición de corriente que requiere una recalibración del sensor de medición de corriente, Figura 3D. El valor predictivo de la función primaria es algorítmico, estadístico o basado en conocimiento.
[0053] Para el sensor de medición de corriente, la tabulación210de calibración degenerativa es un conjunto215de período de tiempo en meses o años según las pautas de la industria, y un valor217de desviación de corriente predicho correspondiente y un valor219de desviación de error de ángulo de fase predicho correspondiente,Figura 3D.
[0054] La dirección de aplicación230del sensor de medición100es un conjunto de detalles permanentes de nivel uno y nivel dos del sensor de medición100. Para el sensor de medición de corriente100, el detalle permanente de nivel uno es una relación de transformación de medición de corriente como 200/5, lo que significa un transformador de corriente con una clasificación primaria de200amperios y una clasificación secundaria de 5 amperios, un valor de temperatura permisible. Los detalles permanentes de nivel dos son un número de serie que identifica una fuente y un período de producción.
[0055] Figura 4, el dispositivo de cálculo300comprende un receptor de datos310, un calculador de corrección370, una unidad de entrada y salida390que incluye un configurador305y un medio de alimentación eléctrica proporcional350.
[0056] El receptor de datos310recibe una dirección de aplicación230, un valor de medición330y datos de calibración seleccionados340del sensor de medición100.
[0057] El configurador305es configurado por el usuario para establecer nombres y unidades de medida de funciones primarias, nombres y unidades de medida de funciones secundarias, nombres y unidades de medida de funciones degenerativas.
[0058] Ejemplo:
[0059] Nombre Unidades de medida
[0060] Corriente eléctrica Amperio
[0061] Intensidad eléctrica Voltios
[0062] Temperatura °Centígrados
[0063] Uso Mes
[0064] El configurador305también es configurado por el usuario para expresiones algebraicas o expresiones de Boolean para los datos pertenecientes a cada función. Ejemplo - datos de alguna función se deben usar como un multiplicador tal como son, mientras que para otra función puede ser necesario sumar o restar los datos de una constante, que generalmente es numérica UNO, o puede ser una función aditiva o sustractiva en lugar de
un multiplicador.
[0065] La Figura 5A muestra gráficamente una relación entre el valor real410de una función y correspondientemente los valores virtuales420de la función de diferentes sensores de medición. Los valores virtuales también son diferentes para diferentes muestras del mismo tipo de sensor de medición para el mismo valor real. Los expertos en la materia conocen bien este comportamiento de diferentes muestras de los mismos sensores de medición, y que es inevitable debido a las variaciones de fabricación de una muestra a otra. La presente invención corrige esta anomalía de forma efectiva, asociando cualquier sensor de medida100con cualquier dispositivo de cálculo300.
[0066] El aparato de medición400tiene el sensor de medición100conectado eléctricamente para alimentación y/o control, así como para comunicación de datos con el dispositivo de cálculo300en donde se configuran las funciones. La conexión eléctrica es una conexión mediante cable o por radio, o una combinación de las mismas. Las técnicas para tal conexión son bien conocidas y cambian rápidamente, y no se elaboran aquí para garantizar la claridad en los detalles inventivos.
[0067] Cuando se activa el aparato de medición400, el dispositivo de cálculo300busca y recibe la dirección de aplicación230del sensor de medición100. En el caso ilustrativo donde el sensor de medición es un sensor100de medición de corriente, el dispositivo de cálculo300recibe al menos una relación de transformación. Figura 5B, el dispositivo de cálculo300busca y recibe un valor502medido Y<MP>de una función primaria. Este valor502medido Y<MP>es un valor virtual. A continuación, el dispositivo de cálculo300busca un valor real inmediatamente inferior y un valor510virtual correspondiente (X<LP,>Y<LS>), y un valor real inmediatamente superior y un valor520virtual correspondiente superior (X<HP>, Y<HP>) de la tabulación de calibración150primaria. A partir de estos dos valores510y520,el dispositivo de cálculo calcula un contorno lineal o no lineal de un segmento de calibración550y calcula un valor501real X<MP>.
[0068] A modo de ilustración, el contorno lineal se calcula aplicando una expresión matemática conocida como Y=mX+c donde m es una pendiente del contorno y c es una constante, y estas se podrían calcular fácilmente resolviendo dos ecuaciones algebraicas.
[0069] El contorno no lineal también se calcula utilizando dos o más valores del gráfico. La selección de la expresión que se va a utilizar se basa en la aplicación del aparato de medición según la presente invención.
[0070] De igual forma, Figura 5C, el dispositivo de cálculo busca y recibe un valor504medido Y<MS>de una función secundaria. Este valor504medido Y<MS>es un valor virtual. El dispositivo de cálculo300a continuación busca un valor real inmediatamente inferior y un valor virtual511correspondiente (X<LS>, Y<LS>), y un valor real inmediatamente superior y un valor521virtual correspondiente superior (X<HS>, Y<HS>) de la tabulación170de calibración secundaria. A partir de estos dos puntos, el dispositivo de cálculo calcula un contorno lineal o no lineal de un segmento de calibración551y calcula un valor503real X<MS>.
[0071] A continuación, el dispositivo de cálculo300determina una función degenerativa con referencia a un envejecimiento en tiempo real y calcula un valor predicho de la función primaria.
[0072] El dispositivo de cálculo300calcula un valor corregido de la función primaria tomando en el cálculo todos los valores reales de la función primaria, la función secundaria y la función degenerativa.
[0073] Ejemplo: Para un sensor de medición de corriente de 4 años que mide 66 amperios a una frecuencia medida de 46 Hz y a una temperatura medida de 56°C, un valor corregido de la función primaria de corriente calculada, de acuerdo con la Figura 6A, 6B, 6C y 3D respectivamente, sería
[0074] = 66,07 x 1,09 x (1+1,13) x (1+0,1) amperios
[0075] Como una variación, cuando un sensor de medición100conectado a un dispositivo de cálculo300no devuelve datos, el dispositivo de cálculo300considera un valor de defecto, generalmente un UNO numérico. En otras palabras, un sensor de medición100que es simplemente un sensor convencional sin memoria también se puede utilizar con un dispositivo de cálculo300.
[0076] La esencia de la invención es que el sensor y el dispositivo no necesitan calibrarse juntos en la fábrica o en el sitio y, por lo tanto, el sensor de medición100y/o el dispositivo de cálculo300con dirección de aplicación compatible230son reemplazables y/o actualizables en una fecha posterior. Igualmente importante se puede usar un sensor económico y el aparato según la presente invención proporciona un resultado preciso gracias al método inventivo.
Claims (12)
1. REIVINDICACIONES
1. Un aparato de medición 400 que comprende un sensor de medición 100 y un dispositivo de cálculo 300, teniendo cada uno medios de alimentación eléctrica 250 y 350 correspondientes respectivos, teniendo el aparato de medición 400 una conexión eléctrica para alimentación y control, así como comunicación de datos con el dispositivo de cálculo 300, caracterizado por que;
el sensor de medición 100 comprende un medio de medición 110, una memoria de lectura-escritura-borrado 130 protegida que tiene una pluralidad de tabulaciones de calibración que incluyen una pluralidad de tabulaciones de calibración primarias 150 y una pluralidad de tabulaciones de calibración secundarias 170 y una pluralidad de tabulaciones de calibración degenerativas 210 junto con una dirección de aplicación 230; y el dispositivo de cálculo 300 comprende un receptor de datos 310, un calculador de corrección 370, una unidad de entrada y salida 390 que incluye un configurador 305;
en donde,
la tabulación de calibración 150, 170 y 210 se genera previamente en una condición controlada e independiente del dispositivo de cálculo 300 con el que el medio de medición 110 se va a emparejar posteriormente; el medio de medición 110 incluye uno o más medios de medición primarios y uno o más medios de medición secundarios;
la tabulación de calibración primaria 150 es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real 410 de una función primaria y, correspondientemente, un valor medido de la función primaria del sensor;
la tabulación de calibración secundaria 170 es un conjunto de datos discretos que proporciona un valor real de una función de soporte y, correspondientemente, un valor medido de la función secundaria del sensor; la tabulación de calibración degenerativa 210 es un conjunto de datos discretos que proporcionan un valor de una función degenerativa y correspondientemente un valor predicho de la función primaria del sensor, la función degenerativa es una medida de tiempo y/o uso del sensor de medición de corriente que necesita una recalibración del sensor de medición de corriente, el valor predictivo de la función primaria es algorítmico, estadístico o basado en conocimiento;
el receptor de datos 310 recibe una dirección de aplicación 230, que es un detalle permanente del sensor de medición 100, un valor de medición 330 y datos de calibración seleccionados 340 del sensor de medición 100; el configurador 305 es configurado por el usuario para establecer nombres y unidades de medida de funciones primarias, nombres y unidades de medida de funciones secundarias, nombres y unidades de medida de funciones degenerativas, y para expresiones algebraicas y expresiones de Boolean para datos que pertenecen a cada función.
2. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde el sensor de medición 100 es un sensor de medición de corriente eléctrica.
3. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde la tabulación 150 de calibración primaria es generalmente un conjunto de valores 155 de corriente real discreto, un valor 157 de corriente medido correspondiente y un valor 159 de error de ángulo de fase medido correspondiente.
4. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde la tabulación 170 de calibración secundaria es generalmente un conjunto de valores 175 de corriente real discreto, un valor 177 de desviación de corriente medido correspondiente y un valor 179 de error de ángulo de fase medido correspondiente.
5. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde la tabulación 170 de calibración secundaria es un conjunto de valores 195 de temperatura operaciones discretos, un valor 197 de desviación de corriente medido correspondiente y un valor de desviación de error de ángulo de fase medido correspondiente 199.
6. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde el medio de medición primario es un devanado primario y uno secundario enrollados sobre un núcleo ferromagnético, mientras que el medio secundario es cualquiera o todos de una medición de frecuencia, una medición de temperatura, una medición de humedad, una medición de vibración.
7. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde la tabulación 210 de calibración degenerativa es un conjunto de período de tiempo 215 en meses o años según las pautas de la industria, y un valor 217 de desviación de corriente predicho correspondiente y un valor 219 de desviación de error de ángulo de fase
predicho correspondiente.
8. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde la dirección de aplicación 230 del sensor de medición 100 es un conjunto de detalles permanentes de nivel uno y nivel dos del sensor de medición 100.
9. El aparato de medición 400 según la reivindicación 1, en donde la conexión eléctrica es una conexión mediante cable o por radio, o una combinación de las mismas.
10. Un método para medir un valor corregido de una o más funciones primarias mediante un aparato de medición 400 que comprende un sensor de medición 100 y un dispositivo de cálculo 300, comprendiendo el método las etapas de:
i. emparejar el dispositivo de cálculo 300 con el sensor de medición 100 configurando una dirección de aplicación 230 y una o más funciones primarias, y una o más funciones secundarias y una o más funciones degenerativas;
ii. buscar y recibir por el dispositivo de cálculo 300 un valor medido YMP 502 de una función primaria; iii. buscar y recibir por el dispositivo de cálculo 300 un valor real inmediatamente inferior y un valor virtual correspondiente (XLP, Y<LS>) 510, y un valor real inmediatamente superior y un valor 520 virtual correspondiente superior (XH<P>, Y<HP>) de la tabulación de calibración 150 primaria;
iv. calcular mediante el dispositivo de cálculo 300 un contorno lineal o no lineal de un segmento de calibración 550;
v. calcular por el dispositivo de cálculo 300 de un valor real XM<P>501;
vi. buscar y recibir por el dispositivo de cálculo 300 un valor medido YMS 504 de una función secundaria; vii. buscar y recibir por el dispositivo de cálculo 300 un valor real inmediatamente inferior y un valor virtual correspondiente (XL<S>, Y<LS>) 511, y un valor real inmediatamente superior y un valor virtual correspondiente superior (XHS, 521 de la tabulación de calibración secundaria 170;
viii. calcular mediante el dispositivo de cálculo 300 un contorno lineal o no lineal de un segmento de calibración 551;
ix. calcular por el dispositivo de cálculo 300 un valor real XMS 503;
x. determinar mediante el dispositivo de cálculo 300 una función degenerativa con referencia a un envejecimiento en tiempo real;
xi. seleccionar por parte del dispositivo de cálculo 300 un valor de desviación predicho de la función primaria; xii. calcular mediante el dispositivo de cálculo 300 un valor corregido de la función primaria tomando en el cálculo todos los valores reales de la función primaria, la función secundaria y la función degenerativa.
11. El método según la reivindicación 10, en donde el dispositivo de cálculo 300 considera un valor de defecto al buscar y no recibir un valor virtual 420.
12. El método según la reivindicación 10, en donde el sensor de medición 100 es cualquier sensor de medición 100 con una dirección de aplicación 230 compatible.
Applications Claiming Priority (2)
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