IT8367601A1 - Sistemi di lenti obiettivo per infrarosso - Google Patents
Sistemi di lenti obiettivo per infrarossoInfo
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Description
"SISTEMI DI LENTI OBIETTIVO PER INFRAROSSO"
RIASSUNTO
Un sistema (15) di lenti obiettivo per infraros -oo C5 so comprende un primario (13) distanziato da un se-Z
condario (14) mediante un gruppo di sopporto (16). z<
> g Il primario (13) ed il secondario (14) sono allinea o z ti su un asse ottico comune (10) e sono disposti in oco nodo da formare una immagine reale (9) ad una superficie immagine esterna dalla radiazione infrarossa entrante nel sistema (15) attraverso una pupilla nello spazio oggetto (11)?. Il primario (13) ? auto-compensato per le aberrazioni cromatiche, ha un potere positivo ed ? fabbricato in materiale ?1 cui indice di rifrazione ? relativamente insensibile alla temperatura, quale triseleniuro di arsenico e/o
1
/ seleniuro di zinco'. Il secondario (14) ha un potere positivo, introduce aberrazioni cromatiche minime ed ? formato da una lente a potere positivo (C) e da una lente a potere negativo (D). La lente (C)
? formata da materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente insensibile alla temperatura,quale triseleniuro di arsenico". La lente (D) ? formata da un materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente sensibile, quale germanio, e la aberrazione termica introdotta dalla lente (D) ? disposta in modo da compensare le aberrazioni termiche introdotte dal primario (13) e dal secondario (14) provocate dalla dilatazione termica del gruppo di sopporto
(16) con il risultato che il sistema (15) ? reso sostanzialmente atermico passivamente.
La presente invenzione si riferisce a sistemi di lenti obiettivo per infrarosso per inviare una radiazione infrarossa ad un sistema di rivelazione dGi?BOGNINOVINou della radiazione".
L'arrivo di rivelatori di radiazione infrarossa ad elevata prestazione ha portato ad una richiesta per un.sistema di lenti obiettivo ad elevata prestazione, e sono stati sviluppati numerosi proget-*
ti in cui la risoluzione del sistema obiettivo ? limitata dalla diffrazione.
Un requisito imposto al sistema ? che esso sia sostanzialmente esente da aberrazioni cromatiche^ Ci? viene normalmente ottenuto nei sistemi conosciuti fabbricando la lente principale del sistemale non tutte le lenti del sistema, in germanio, poich? il germanio ha intrisecamente un valore molto basso del coefficiente di dispersione e conseguen temente introduce intrinsecamente valori molto
bassi di aberrazione cromatica.
Un altro requisito imposto al sistema ? che esso sia sostanzialmente esente da aberrazioni termiche, cio? la sua risoluzione di forma venga mantenuta su un ampio campo di temperature cui il sistema potrebbe essere sottoposto quando in uso'.
Sfortunatamente, l?indice di rifrazione del germanio, in confronto con la maggior parte degli altri materiali per infrarosso, ? molto sensibile alla
diGNINVAoNOuGIOB temperatura, cosicch? sebbene il germanio sia attraente per la eliminazione delle aberrazioni cromatiche, esso pone notevoli problemi per la eliminazione della aberrazione termica. Nel sistema conosciute la compensazione della aberrazione termica viene ottenuta utilizzando un gruppo complesso per sopportare le lenti in un modo tale che lo spostamento delle lenti provocato dalla dilatazione termica del gruppo di sopporto sia complementare con le variazioni delle caratteristiche ottiche delle lenti entro il campo di temperatura. Tale gruppo ? meccanicamente complesso e riduce la compattezza e semplicit? globale del sistema.
Uno scopo della presente invenzione ? quello di provvedere una forma perfezionata di sistema obiettivo per infrarosso per fornire una radiazione infrarossa ad un sistema di rivelazione della radiazione, in cui vengano eliminati o ridotti i precedenti svantaggi.
o Secondo la presente invenzione, si provvede un 75
?3 ? sistema di lenti obiettivo per infrarosso destinato Z z a fornire una radiazione infrarossa ad un sistema <
> g di rivelazione della radiazione, detto sistema di g /-o lenti obiettivo comprendendo un primario ed un se co condario montati in relazione distanziata su un
gruppo di sopporto comune ed allineati su un asse ottico comune, in cui il primario ? sistemato per ricevere la radiazione infrarossa da una pupilla,
il secondario ? disposto per ricevere la radiazione dal primario e formarne una immagine reale di questo ad una superficie immagine esterna, il primario essendo sostanzialmente auto-compensato per
le aberrazioni cromatiche, con potere positivo, e fabbricato in materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente insensibile alla temperatura, il secondario ha un potere positivo, introduce aberrazioni cromatiche minime, ed ? formato da una lente con potere positivo fabbricata da materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente insensibile alla temperatura e da una lente con potere negativo fabbricata da materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente sensibile alla temperatura, la disposizione essendo tale che le aberrazioni termiche introdotte dal primario e gli spoo 3 stamenti relativi del primario e del secondario 3
O
provocati dalla dilatazione termica del gruppo di z <z sopporto siano compensati dalla aberrazione ter > o mica introdotta da detta lente con potere negati zo ?oQ vo in modo che il sistema obiettivo sia reso sostanzialmente atermico passivamente?.
Il primario pu? comprendere pi? di un elemento di lente, nel qual caso la compensazione della aberrazione cromatica viene ottenuta utilizzando due materiali differenti per gli elementi di len te in un modo conosciuto*. In tale disposizione, superfici rifrangenti degli elementi di lente s ??%
J?o preferibilmente sferiche o piane ed i materiali im piegati possono essere scelti da quelli numerati
2-9 nella seguente Tabella ???,
In alternativa, il primario pu? comprendere sol. tanto un unico elemento di lente, nel qual caso la compensazione della aberrazione cromatica viene o_t tenuta mediante scelta del materiale della lente, ma poich? vi ?/requisito che l'indice di rifrazione del materiale abbia una sensibilit? termica relativamente bassa, ci? pu? essere ottenuto soltanto con materiali correntemente conosciuti impiegando diamante';. In questo caso, l'elemento di lente pu? avere una superficie asferica per compensare le aberrazioni sostanzialmente monocromatiche introdotte da una finestra avente un potere ottico nullo o molto basso e attraverso cui la radiazione viene trasmessa prima della rifrazione da parte della lente primaria5".
Il secondario pu? comprendere soltanto due
diGN1oNAVu01GN0B elementi di lente di cui l'elemento con potere positivo ? fabbricato da un materiale il quale introduce aberrazioni cromatiche ma poich? tali aberrazioni vengono determinate in parte dal pot? re ottico, in parte dalla apertura ed in parte
dal coefficiente di dispersione del materiale,esse possono essere mantenute ad un valore minimo al quja le il loro effetto sulla prestazione del sistema del suo insieme sia trascurabile. Il materiale di questo elemento di lente pu? essere scelto tra quelli numerati 2-9 nella seguente Tabella VII.
L'elemento di lente con potere negativo del s?condario ? preferibilmente germanio il quale ? in trinsecamente esente da aberrazione cromatica,
ma a causa del suo potere negativo e del fatto che il suo indice di rifrazione ? relativamente sensi_ bile termicamente, la aberrazione termica introdotta, che ? una funzione del potere e del coefficiente termico dell'indice di rifrazione, pu? essere progettata per compensare le aberrazioni termiche introdotte nel sistema obiettivo dal primario e dagli altri elementi di lente del secondario e dagli spostamenti delle lenti introdotti dalla dilatazione termica del gruppo di sopporto51.
Si deve notare che la sensibilit? termica del-B0NG10VdANGiNIou l'indice di rifrazione ha l'effetto di influire sulla lunghezza focale di un elemento di lente.
Preferibilmente, il gruppo di sopporto delle lenti ? essenzialmente costituito da un singolo materiale, quale alluminio o acciaio inossidabile o inv.ar. Si deve notare che l'alluminio ha un coefficiente di dilatazione termica relativamente grande, ma grazie alla struttura ottica del sistema secondo la presente invenzione, lo spostamento delle lenti introdotto dall'alluminio pu? essere compensato. Ci? deriva dalla molto notevole compensa^ zione ottenibile dalla lente con potere negativo del secondario, specialmente quando questa lente ? fabbricata in germanio'; Conseguentemente, il gruppo di sopporto delle lenti pu? essere meccanicamente tanto semplice quanto possibile.
Grazie alla presente invenzione,la superficie immagine esterna del sistema obiettivo rimane sostan zialmente in una posizione nello spazio entro un ampio intervallo di temperature, e conseguentemente quando un sistema di rivelazione ? sistemato a t_a le superficie immagine, la risoluzione del sistema obiettivo viene mantenuta sostanzialmente costante'. Si deve tuttavia notare che quando il sistema obiel: tivo secondo la presente invenzione deve essere uti dGiANIVBONG!ONou lizzato con un sistema di rivelazione il quale sia esso stesso soggetto ad uno spostamento provocato dalia dilatazione termica del proprio sopporto,la compensazione termica ottenibile entro il sistema obiettivo ? sufficiente a permettere una variazione nella posizione della superficie immagine, cos? da compensare il movimento della superficie di rivelazione del sistema rivelatore. Inoltre, la superficie immagine pu? essere progettata in modo da essere piana o curva, il che per il fissaggio di dif^ ferenti sistemi rivelatori pu? essere vantaggioso.
Si pu? ottenere una risoluzione limitata della dif frazione prossima ed in alcune strutture del sistema obiettivo tutte le superfici rifrangenti possono essere fatte sferiche e con un raggio di curvatura sufficientemente grande perch? sia possibile la simultanea fabbricazione in massa di elementi di lent Verr? ora descritta una forma di realizzazione della presente invenzione a titolo di esempio, con riferimento al disegno schematico allegato ed alle o 30 tabelle allegate1. ?5 o Come viene illustrato nel disegno, un sistema 2
Z
< > obiettivo 15 ? formato da un primario 13 e da un O o secondario 14 allineati su un asse ottico comune z oGQ 10. H sistema obiettivo 15 ? del tipo rifrattore focale ed accetta fasci di raggi paralleli entro il campo di visione da una pupilla di entrata pf formata nello spazio oggetto 11 e produce fasci
di raggi convergenti nel campo di visione che ?OT ma una immagine 9 nello spazio immagine 12.
Il primario 13 ? formato da un elemento di leti te A con potere positivo e da un
9
fd*UUr
B con potere negativo, i due elementi insieme formando un doppietto e provvedendo basse aberrazioni cromatiche1.? Il secondario 14 ? formato da un elemento di lente C con potere positivo e da un elemento di lente D con potere negativo, ognuno dei quali, insieme, ed in particolare l'elemento di len te produce basse aberrazioni cromatiche, l'elemen to di lente D essendo fabbricato in un materiale il quale ha un coefficiente termico dell'indice di rifrazione notevolmente maggiore di quello dei materiali che formano gli elementi di lente A,B,C.
Gli elementi di lente A,B,C e D hanno rispettive o 75 superfici rifrangenti 1,2; 3,4; 5,6 e 7,8?. Le su ?D O
periici rifrangenti 1,2,3,4,5,6,7 e 8 sono ognuna Z z < > sostanzialmente sferica?, cio? se esse non sono reajl g ? mente sferiche esse sono "sferiche" con il signifi z oco cato della tecnicaf. Il potere ottico e la distanza tra i vari elementi di lente A,B,C e D sono disp? sti in modo che l'immagine reale 9 sia vicina alla superficie rifrangente 8 e sia esterna al sistema obiettivo 15^
Gli elementi di lente A,B,C e D sono sopportati in posizione da un gruppo di sopporto 16 illustrato schematicamente , ma che ? formato essenzialmente da un singolo materiale e privo-di componenti,complessi di compensazione termica.
I quattro elementi di lente A,B,C,D, i quali formano insieme il sistema obiettivo 15, sono for mati da almeno tre differenti materiali, l'elemento di lente con potere positivo C pu? essere formato dallo stesso materiale di quello dell'el^ mento di lente con potere positivo (A) oppure negativo (B) del primario 13". L'elemento di lente
(D) con potere negativo ? fabbricato da un materiale che in confronto con i materiali che formano gli altri tre elementi di lente A,B,C, ha una minore dispersione ed un elevato coefficiente termico dell*indice di rifrazione.
La posizione relativa dei due elementi di lente in ognuno del primario e secondario 13,14, ? secondaria, cio? essi possono essere scambiati in posizione se si desidera cosicch?, per esempio, il pri mario 13 abbia l'elemento B adiacente alla pupilla f- BONG^VAdlMK'KGiou I due elementi di lente positivi A,C possono e^ sere fabbricati da uno qualsiasi dei materiali elen. cati nella Tabella VII, escluso il germanio, i materiali preferibili essendo i numeri 2_9ri L'elemento negativo B pu? anche essere fabbricato da uno qualsiasi di questi materiali, escluso il germanio, i materiali preferibili essendo i numeri 10 e 11 \
nella Tabella VII'. Il germanio ? inadatto per l'im piego in elementi di lente A o B a causa del suo elevato coefficiente termico di indice di rifrazione, ma a causa di questo fatto e della sua bassa dispersione, esso ? ideale per l'impiego nell'elemento di lente D con potere negativo.
Si deve notare che i materiali sinora trattati sono stati per l'impiego nella gamma di lunghezze d?onda di 8-13 micron, tuttavia questi ed altri materiali sono disponibili i quali possono provvedere propriet? simili nella banda di lunghezze d'onda di 3-5 micron;
Il sistema 15 ? a fuoco fisso, ma un qualsiasi elemento di lente o combinazione di elementi di lente pu? essere spostato assialmente per adatta^ re bersagli nello spazio oggetto a distanze diverse*. Ci? non influisce sulla compensazione ter diG!NANoVOuGINBO mica, ma richiede l'introduzione di sistemi me? canici attivi nel gruppo di sopporto 16.
A titolo di esempio specifico, il sistema 15 pu? essere fabbricato con gli elementi di lente A e C fabbricati in BSA(numero 4 nella Tabella VII), l'elemento di lente B essere fabbricato in seleniuro di zinco (numero 10 nella Tabella VII) e l'elemento di lente D essere fabbricato in germanio (numero 1 nella Tabella VII). In questo caso, i parametri del sistema sono definiti nelle Tabelle I-VI seguenti di cui le Tabelle I e II sono particolari ad una temperatura di 20?C,le Tabelle III e IV
sono particolari ad una temperatura di 80?C, e le Tabelle V e VI sono particolari ad una temperatura di -40?cf; Tutti gli elementi di lente sono sopportati da un gruppo 16 fabbricato in alluminio.
Si vede dalle Tabelle I-VI che al fuoco migliore, il sistema a 80?C e -40*C ? fuori fuoco di soltan to -15 micron e 13 micron rispettivamente in rela o negativi e positivi. '5 zione al fuoco a 20?C, i segni di sfuocatura/indi O Z
cand? che il sistema obiettivo 15 in s? ? legger z<
> mente sovracompensato per gli effetti termici. Ta o oz le "sfuocatura" del sistema obiettivo 15 in s? ? om sufficiente a compensare la variazione nella posizione della superficie di rivelazione di una forma conosciuta di sistema di rivelazione derivante dal la dilatazione termica del sistema rivelatore ste^s so. Un materiale del gruppo di sopporto con un coefficiente di dilatazione termica maggiore dell'a_l luminio potrebbe correggere il sistema obiettivo
15 totalmente per questo oppure il sistema ottico potrebbe essere leggermente riottimizzato senza variare i materiali delle lenti se si richiedesse
un sistema obiettivo totalmente compensato';
Il sistema obiettivo 15 dettagliato ha una lunghezza focale effettiva di 51 mm, adatta un campo diagonale totale di 5? e produce coni convergenti
di raggi funzionalianti a f/i,5 il che ? estremamen te adatto per parecchi rivelatori.
Il sistema obiettivo delle Tabelle I-VI ? uno
di una famiglia di sistemi che possono essere gra duati per una lunghezza focale effettiva (che ?
la lunghezza indicata EFL nel disegno), aperture, o 1*55 campo e rapporto focale. In ogni caso, il sistema O produce una piccolissima distorsione e non vi ? z z riduzione di luminosit? ai margini dell'immagine'. O O
La pupilla $ dello spazio oggetto pu? variare Z oco di posizione sia allontanandosi dal primario 13,
sia entro l'intercapedine d'aria tra il primario
13 ed il secondario 14 a seconda della degradazio
ne di risoluzione tollerabile che ? considerata
accettabile1,
TABELLA I
Super- Raggio di Diametro di Voce ficie Distanza curvatura Materiale apertura
Pupilla* 0 0 Piana Aria 35,0
A 1 0 57,24 Aria 35,24
2 3,250 209,89 As2Se3(BSA) 34,78
3 0,750 389,38 Aria 34,57
B
,4 1,250 99,97 ZnSe 33,73
5 50?,000 27,46 Aria 16,38
C
6 2,500 342,17 As Se3(BSA) 15,68 o -o 's
7 0,500 531,15 Aria 14,86 z D z < 8 1,250 59,23 Ge 14,28 > o o Piano im Diametro ?z 14,015 Piana Aria o magine ? immagine m 4,4
x Angolo di campo massimo alla pupilla di entrata = 5? ? Al fuoco migliore mediato sul campo massimo^.
Struttura di sopporto tutta in alluminio in cui
ogni elemento di lente e piano immagine sono collegati in serie al diametro di apertura massimo*/ Tutti i dati forniti a 20?cf;
TABELLA li
Media quadratica approssimativa delle dimensioni dei pun-
ti al piano immagine* (in micron)
Campo Monocromatico a a Policromatico su (massimo = 5?) .10,0 micron 8,0-12,0 micron
Assiale 1,8 3,1
1/2 3,2 6,8
3/4 6,4 10,5
Totale 11,4 15,6
o ?o ?3 x Al fuoco migliore mediato sul campo. O z fi Fornito come una misura accumulata equiponderata di tre z < > lunghezze d'onda, le lunghezze d'onda essendo 8,0, 10,0 o
e 12,0 micron^ o z oOQ Tutti i dati forniti a 20?C.
Super Raggio di Diametro di Voce Distanza Materiale
ficie curvatura apertura
Pupilla 0 Piana Aria 35,00
1 0,008 57,32 Aria 35,24 2 3,254 210,1 7 As2Se3(BSA) 34,79
3 0,753 589,66 Aria 34,57 B
4 1,251 100,02 ZnSe 33,73
5 50,074 27,49 Aria 16,34 6 2,503 342,63 As2Se3 (BSA) 15,63
7 0,504 531 ,35 Aria 14,81
o 70 8 1,250 59,25 Ge 14,23 *3
O
Piano Diametro im-^ fi 14,000 Pi ana Aria magine <
4,4 g - o z Angolo di campo massimo alla pupilla di entrata = 5?'; oco fi Al fuoco migliore mediato sul campo massimo'.
Struttura di sopporto tutta in alluminio in cui ogni elemento di lente e piano immagine sono collegati in serie al diametro di apertura massimo.
Tutti i dati fom iti.a 80?C.
?o
etti
fili
Media quadratica approssimativa delle dimensioni dei punti al piano immagine* (in micron)
Campo Monocromatico a Policromatico su (massimo = 5?) 10,0 micron 6,0-12,0 micron
Assiale 1,5 3,1
1/2 2,9 6,7
1/4 6,2 10.4
Totale 11,1 15.5
x Al fuoco migliore mediato sul campo.
o & Fornito come una misura accumulata equiponderaia "5
O
di tre lunghezze d'onda, le lunghezze d'onda essendo 8,0, 10,0 e 12,0 micron.
Tutti i dati fom iti a 80?C. O O
o
16
Voce Superfi^ Raggio di Diametro di Distanza Materiale
eie curvatura apertura
Pupilla 0 Piana Aria 35,00
1 -0,008 57,17 Aria 35,24 A
2 3,246 209,61 As2Se3 (BSA) 34,79
3 0,747 589,10 Aria 34,58 B
4 1.249 99,93 ZnSe 33,74
5 49,925 27,42 Aria 16,42 C
6 2,497 341,72 A?2Se3 (BSA) 15,72
7 0,496 530,96 Aria 14,92 D
8 1,250 59,21 Ge 14,33 o T3
0 Diametro Piano fi 9 14,028 Piana Aria immagine Z immagine z ;_ :_ ?d_ < o
x Angolo di campo massimo alla pupilla di entrata = 5? 0 z oCQ fi Al fuoco migliore mediato sul campo massimo.
Struttura di sopporto tutta in alluminio in cui ogni
elemento di lente e piano immagine sono collegati
in serie al diametro di apertura massimo.
Tutti i dati forniti a -40?C
TABELLA VI
Media quadratica approssimativa delle dimensioni dei punti al piano immagine (in micron)
Campo Monocromatico a ^Policromatico su 10,0 micron 8,0-12,0 micron (massimo ~ 5?)
Assiale 2,5 3,4
1/2 3.7 7,0
1/4 6.8 10,7
Totale 11,8 15,9
Al fuoco migliore mediato sul campor.
Fornito come una misura accumulata equiponderata
di tre lunghezze d'onda, le lunghezze d'onda essen do 8,0, 10,0 e 12,0 micron.
Tutti i dati forniti a -40?Cl
BONdGO?GIViNNIou
TABELLA VII
Indice di rifrazio- Coefficiente Coefficiente Coefficiente Materiali ne a 10,0 micron di dispersione termico di di termico dell'inprimario latazione X 10^/?C dice di rifrazione X107/?C
Ge 4,00320 0,00187 61 3960
2 GaAs 3^27789 0,01067 57
3 BS2 2,85632 0,00503
4 BSA 2,77880 0,00568 220 740
5 CdTe 2,67517 0,00544 50 951
6 TI 1173 2,60037 0,00772 158 790
7 AMTIR1 2,49748 0,00589 130 850
8 BS1 2,49143 0,00670 128 700
9 TI20 2',49166 0,00679 133 719
1G ZnSe 2,40652 0,01216 78 520
11 ZnS 2,20030 0,02651. 68 463
ro
x Nel campo di lunghezze d'onda di 8,0-12,0 micron*'!
Tutti i dati approssimativi e fom iti a circa 20?C.
L7
BONGIOVANNI Guido
Claims (4)
1.- Sistema di lente obiettivo per infrarosso
(15) per inviare radiazione infrarossa ad un siste^ ma rivelatore di radiazione, detto sistema di lente obiettivo essendo caratterizzato dalla combinazione di un primario (13) e di un secondario (14) montati in relazione distanziata su un gruppo di sopporto comune (16) e allineati su un asse ottico comune (10), in cui il primario (13) ? disposto per ricevere radiazione infrarossa da una pupilla ({2f),
il secondario (14) ? disposto per ricevere la radiao -o zione d?l primario (13) e per formare una sua imma "5
O
gine reale (9) ad una superficie immagine esterna, Z z < il primario (13) essendo sostanzialmente auto-com > g o pensato per le aberrazioni eromatiche,con potere z o03 positivo e fabbricato di materiale il cui indice
di rifrazione ? relativamente insensibile alla temperatura, il secondario (14) ha potere positivo, introduce aberrazioni cromatiche minime ed ? formato da una lente (C) con potere positivo fabbricata di materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente insensibile alla temperatura e da una lente (D) con potere negativo fabbricata da materiale il cui indice di rifrazione ? relativamente sensibile alla temperatura, la disposizione essendo
tale che le aberrazioni termiche introdotte dal primario (13) e gli spostamenti relativi del primario (13) e del secondario (14) provocati dalla dilatazione termica del gruppo di sopporto (16) sono compensati dalla aberrazione termica introdotta da detta lente (D) con potere negativo in modo che il sistema obiettivo (15) venga reso sostanzialmente atermico passivamente'.
2^.- Sistema di lenti obiettivo secondo la rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che detto primario (13) ? formato da due elementi di lente (AfB) poco discosti e formanti un doppietto'.
3*.- Sistema di lenti obiettivo secondo la rivendicazione 2, caratterizzato dal fatto che detto doppietto ? formato da un elemento di lente (A) in triseleniuro di arsenico (BSA) e da un elemento di lente (B) in seleniuro di zinco?".
4.- Sistema di lenti obiettivo secondo una qualdiGINANa?VNOGIuB siasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che dette lente (C) con potere positivo ? formata da un singolo elemento di lente e detta lent$ (D) con potere negativo ? formata da un singolo elemento di lente1.
5\- Sistema di lenti obiettivo secondo la rivendicazione 4, caratterizzato dal fatto che detta lente (C) con potere positivo ? formata da un elemento di lente di triseleniuro di arsenico (BSA), e detta lente (D) con potere negativo ? formata da un elemento di lente in germanio^
6*,- Sistema di lenti obiettivo secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che detto gruppo di sopporto comune
(16) ? fabbricato in alluminio^.
- Sistema di lenti obiettivo secondo la rivendicazione 1, e ulteriormente caratterizzato dal fat to di essere come indicato nelle Tabelle I-VI*.
8!t,- Sistema di lenti obiettivo secondo la rivendicazione 1,in combinazione con un sistema di rivelazione della radiazione avente ima superficie di rivelazione disposta a detta immagine reale e caratterizzato dal fatto che la combinazione ? resa sostanzialmente atermica passivamente scegliendo il grado di aberrazione termica introdotto da detta
diGNINAoVQGIuNQB lente (D) con potere negativo per compensare le aberrazioni termiche introdotte dal primario (13), dagli spostamenti relativi del primario (13) e
del secondario (14) provocati dalla dilatazione
/
termica del gruppo di sopporto comune (16) e dalla dilatazione termica del sistema rivelatore'^
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