ITTO20001220A1 - Polimero organico per rivestimento antiriflesso e sua preparazione. - Google Patents
Polimero organico per rivestimento antiriflesso e sua preparazione. Download PDFInfo
- Publication number
- ITTO20001220A1 ITTO20001220A1 IT2000TO001220A ITTO20001220A ITTO20001220A1 IT TO20001220 A1 ITTO20001220 A1 IT TO20001220A1 IT 2000TO001220 A IT2000TO001220 A IT 2000TO001220A IT TO20001220 A ITTO20001220 A IT TO20001220A IT TO20001220 A1 ITTO20001220 A1 IT TO20001220A1
- Authority
- IT
- Italy
- Prior art keywords
- polymer
- formula
- alkyl
- independently hydrogen
- independently
- Prior art date
Links
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 title claims description 16
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims description 5
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 title description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 57
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 48
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 43
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 41
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 25
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2,2'-azo-bis-isobutyronitrile Substances N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 23
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 15
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims description 14
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 11
- 125000006527 (C1-C5) alkyl group Chemical group 0.000 claims description 9
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N Methyl ethyl ketone Natural products CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 125000004183 alkoxy alkyl group Chemical group 0.000 claims description 9
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 9
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 claims description 9
- 125000002768 hydroxyalkyl group Chemical group 0.000 claims description 9
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 9
- 239000003505 polymerization initiator Substances 0.000 claims description 9
- ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N diacetyl peroxide Chemical compound CC(=O)OOC(C)=O ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 8
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 7
- 125000004453 alkoxycarbonyl group Chemical group 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- CCFAKBRKTKVJPO-UHFFFAOYSA-N 1-anthroic acid Chemical compound C1=CC=C2C=C3C(C(=O)O)=CC=CC3=CC2=C1 CCFAKBRKTKVJPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 6
- MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N anthracene Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=CC=CC=C3C=C21 MWPLVEDNUUSJAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- LGJCFVYMIJLQJO-UHFFFAOYSA-N 1-dodecylperoxydodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCOOCCCCCCCCCCCC LGJCFVYMIJLQJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 claims description 4
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- MNCMBBIFTVWHIP-UHFFFAOYSA-N 1-anthracen-9-yl-2,2,2-trifluoroethanone Chemical compound C1=CC=C2C(C(=O)C(F)(F)F)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 MNCMBBIFTVWHIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- XGWFJBFNAQHLEF-UHFFFAOYSA-N 9-anthroic acid Chemical compound C1=CC=C2C(C(=O)O)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 XGWFJBFNAQHLEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FIHZWZBEAXASKA-UHFFFAOYSA-N Anthron Natural products COc1cc2Cc3cc(C)cc(O)c3C(=O)c2c(O)c1C=CC(C)C FIHZWZBEAXASKA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- JCJNNHDZTLRSGN-UHFFFAOYSA-N anthracen-9-ylmethanol Chemical compound C1=CC=C2C(CO)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 JCJNNHDZTLRSGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- YMNKUHIVVMFOFO-UHFFFAOYSA-N anthracene-9-carbaldehyde Chemical compound C1=CC=C2C(C=O)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 YMNKUHIVVMFOFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- KEQZHLAEKAVZLY-UHFFFAOYSA-N anthracene-9-carbonitrile Chemical compound C1=CC=C2C(C#N)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 KEQZHLAEKAVZLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- NUZWLKWWNNJHPT-UHFFFAOYSA-N anthralin Chemical compound C1C2=CC=CC(O)=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2O NUZWLKWWNNJHPT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- TZIQWQARHPGHIG-UHFFFAOYSA-N anthrarobin Chemical compound C1=CC=CC2=CC3=C(O)C(O)=CC=C3C(O)=C21 TZIQWQARHPGHIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N di-tert-butyl peroxide Chemical compound CC(C)(C)OOC(C)(C)C LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229960002311 dithranol Drugs 0.000 claims description 3
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 claims description 3
- QZZYYBQGTSGDPP-UHFFFAOYSA-N quinoline-3-carbonitrile Chemical compound C1=CC=CC2=CC(C#N)=CN=C21 QZZYYBQGTSGDPP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- KHUFHLFHOQVFGB-UHFFFAOYSA-N 1-aminoanthracene-9,10-dione Chemical compound O=C1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2N KHUFHLFHOQVFGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- UFEVLSIYHUUXBF-UHFFFAOYSA-N 2-amino-7-methylchromen-5-one Chemical compound O1C(N)=CC=C2C(=O)C=C(C)C=C21 UFEVLSIYHUUXBF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- ASDLSKCKYGVMAI-UHFFFAOYSA-N 9,10-dioxoanthracene-2-carboxylic acid Chemical compound C1=CC=C2C(=O)C3=CC(C(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 ASDLSKCKYGVMAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000005250 alkyl acrylate group Chemical group 0.000 claims description 2
- BHXIWUJLHYHGSJ-UHFFFAOYSA-N ethyl 3-ethoxypropanoate Chemical compound CCOCCC(=O)OCC BHXIWUJLHYHGSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N methyl 3-methoxypropanoate Chemical compound COCCC(=O)OC BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229920001688 coating polymer Polymers 0.000 claims 7
- 125000000027 (C1-C10) alkoxy group Chemical group 0.000 claims 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims 2
- HLGMTCSSRBPNOQ-MHWRWJLKSA-N (ne)-n-(anthracen-9-ylmethylidene)hydroxylamine Chemical compound C1=CC=C2C(/C=N/O)=C(C=CC=C3)C3=CC2=C1 HLGMTCSSRBPNOQ-MHWRWJLKSA-N 0.000 claims 1
- PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N anthraquinone Natural products CCC(=O)c1c(O)c2C(=O)C3C(C=CC=C3O)C(=O)c2cc1CC(=O)OC PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 150000004056 anthraquinones Chemical class 0.000 claims 1
- JPICKYUTICNNNJ-UHFFFAOYSA-N anthrarufin Chemical compound O=C1C2=C(O)C=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2O JPICKYUTICNNNJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 claims 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims 1
- 210000002945 adventitial reticular cell Anatomy 0.000 description 49
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 32
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 26
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 24
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 22
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 20
- OZAIFHULBGXAKX-VAWYXSNFSA-N AIBN Substances N#CC(C)(C)\N=N\C(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-VAWYXSNFSA-N 0.000 description 18
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 16
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 16
- 229940095095 2-hydroxyethyl acrylate Drugs 0.000 description 14
- OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxyethyl prop-2-enoate Chemical compound OCCOC(=O)C=C OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- QZPSOSOOLFHYRR-UHFFFAOYSA-N 3-hydroxypropyl prop-2-enoate Chemical compound OCCCOC(=O)C=C QZPSOSOOLFHYRR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 12
- NDWUBGAGUCISDV-UHFFFAOYSA-N 4-hydroxybutyl prop-2-enoate Chemical compound OCCCCOC(=O)C=C NDWUBGAGUCISDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 206010001513 AIDS related complex Diseases 0.000 description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- HGINCPLSRVDWNT-UHFFFAOYSA-N Acrolein Chemical compound C=CC=O HGINCPLSRVDWNT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 8
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 4
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 4
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 4
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 4
- ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-N triflic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C(F)(F)F ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000000008 (C1-C10) alkyl group Chemical group 0.000 description 3
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 3
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 3
- -1 amino, thio Chemical group 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 3
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 3
- KBPLFHHGFOOTCA-UHFFFAOYSA-N 1-Octanol Chemical compound CCCCCCCCO KBPLFHHGFOOTCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BBMCTIGTTCKYKF-UHFFFAOYSA-N 1-heptanol Chemical compound CCCCCCCO BBMCTIGTTCKYKF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- STNJBCKSHOAVAJ-UHFFFAOYSA-N Methacrolein Chemical compound CC(=C)C=O STNJBCKSHOAVAJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AMQJEAYHLZJPGS-UHFFFAOYSA-N N-Pentanol Chemical compound CCCCCO AMQJEAYHLZJPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 2
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 2
- 230000001476 alcoholic effect Effects 0.000 description 2
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004218 chloromethyl group Chemical group [H]C([H])(Cl)* 0.000 description 2
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- MWKFXSUHUHTGQN-UHFFFAOYSA-N decan-1-ol Chemical compound CCCCCCCCCCO MWKFXSUHUHTGQN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000001028 difluoromethyl group Chemical group [H]C(F)(F)* 0.000 description 2
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 125000004216 fluoromethyl group Chemical group [H]C([H])(F)* 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- ZSIAUFGUXNUGDI-UHFFFAOYSA-N hexan-1-ol Chemical compound CCCCCCO ZSIAUFGUXNUGDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 150000002829 nitrogen Chemical class 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Substances N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZWRUINPWMLAQRD-UHFFFAOYSA-N nonan-1-ol Chemical compound CCCCCCCCCO ZWRUINPWMLAQRD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012074 organic phase Substances 0.000 description 2
- 125000004043 oxo group Chemical group O=* 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 125000006340 pentafluoro ethyl group Chemical group FC(F)(F)C(F)(F)* 0.000 description 2
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 2
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 2
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 125000003866 trichloromethyl group Chemical group ClC(Cl)(Cl)* 0.000 description 2
- 125000002023 trifluoromethyl group Chemical group FC(F)(F)* 0.000 description 2
- OBSHSWKHUYGFMF-UHFFFAOYSA-N 3,3-dimethoxy-2-methylprop-1-ene Chemical compound COC(OC)C(C)=C OBSHSWKHUYGFMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OBWGMYALGNDUNM-UHFFFAOYSA-N 3,3-dimethoxyprop-1-ene Chemical compound COC(OC)C=C OBWGMYALGNDUNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004342 Benzoyl peroxide Substances 0.000 description 1
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003377 acid catalyst Substances 0.000 description 1
- HFBMWMNUJJDEQZ-UHFFFAOYSA-N acryloyl chloride Chemical compound ClC(=O)C=C HFBMWMNUJJDEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001454 anthracenes Chemical class 0.000 description 1
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229920006037 cross link polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- VHRYZQNGTZXDNX-UHFFFAOYSA-N methacryloyl chloride Chemical compound CC(=C)C(Cl)=O VHRYZQNGTZXDNX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- SWAXTRYEYUTSAP-UHFFFAOYSA-N tert-butyl ethaneperoxoate Chemical compound CC(=O)OOC(C)(C)C SWAXTRYEYUTSAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CIHOLLKRGTVIJN-UHFFFAOYSA-N tert‐butyl hydroperoxide Chemical compound CC(C)(C)OO CIHOLLKRGTVIJN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005292 vacuum distillation Methods 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F120/00—Homopolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride, ester, amide, imide or nitrile thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F220/00—Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
- C08F220/02—Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
- C08F220/10—Esters
- C08F220/34—Esters containing nitrogen, e.g. N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
- G03F7/091—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antireflection means or light filtering or absorbing means, e.g. anti-halation, contrast enhancement
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Architecture (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Polymerization Catalysts (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Description
DESCRIZIONE dell'invenzione industriale dal titolo: "Polimero organico per rivestimento antiriflesso e sua preparazione",
DESCRIZIONE SFONDO DELL'INVENZIONE
1. Campo dell'invenzione
La presente invenzione si riferisce ad un polimero antiriflesso che è utile in un procedimento submicrolitografico, ad una composizione comprendente il polimero e ad un procedimento per la sua preparazione. In particolare, la presente invenzione si riferisce ad un polimero che può venire usato in uno strato di rivestimento antiriflesso per ridurre o prevenire la retroriflessione della luce e/oppure eliminare le onde stazionarie nello strato di fotoresist durante un procedimento submicrolitografico. La presente invenzione si riferisce anche ad una composizione comprendente il polimero e ad un metodo per il suo utilizzo.
2. Descrizione della tecnica precedente
Nella maggior parte dei procedimenti submicrolitografici le onde stazionarie e/oppure le tacche riflettenti delle onde si verificano tipicamente per effetto delle proprietà ottiche dello strato inferiore applicato su un substrato e/oppure per effetto dei cambiamenti nello spessore di una pellicola fotosensibile (cioè il fotoresist) applicata su di questo. Inoltre, i procedimenti submicrolitografici tipici presentano il problema dell'alterazione della CD (dimensione critica) causata dalla luce diffratta e/oppure riflessa dallo strato inferiore .
Una soluzione possibile consiste nell'applicare un rivestimento antiriflesso (cioè ARC) fra il substrato e la pellicola fotosensibile. ARC utili hanno una elevata assorbanza delle lunghezze d'onda della luce che vengono usate nei procedimenti submicrolitografici . Gli ARC possono essere un materiale inorganico o organico e vengono generalmente classificati come "assorbenti" o "interferenti" a seconda del meccanismo. Per un procedimento submicrolitografico usando la radiazione della linea I (lunghezza d'onda di 365 nm), vengono generalmente usate pellicole antiriflesso inorganiche. Tipicamente, materiali a base di TiN oppure carbonio amorfo (C amorfo) vengono usati per un ARC assorben-. te e materiali a base di SiON vengono tipicamente usati per un ARC interferente.
Le pellicole antiriflesso a base di SiON sono anche state adattate per procedimenti submicrolitografici che utilizzano una fonte di luce di KrF. Recentemente, è stato studiato l'uso di un composto organico come ARC. Si ritiene generalmente che ARC a base di un composto organico sia particolarmente utile in procedimenti submicroiitografici, in particolare quelli usando una fonte di luce di ArF.
Per essere utile come ARC, un composto organico deve avere molte proprietà fisiche diverse e desiderabili. Per esempio un ARC reticolato non deve essere solubile in solventi poiché la dissoluzione dell'ARC organico può causare spellatura dello strato di composizione fotoresist nel procedimento litografico. Un procedimento per ridurre la solubilità di ARC reticolato consiste nell'includere parti di reticolazione tali che quando reticolate l'ARC diventi reticolato e diventi insolubile nella maggior parte dei-solventi usanti nei procedimenti litografici. Inoltre, vi deve essere una quantità minima di spostamento (cioè diffusione) , se esiste, di prodotti, come acidi e/oppure ammine, al e dall'ARC. Se acidi si spostano dall'ARC ad un'area non esposta della pellicola di fotoresist positiva, il modello fotosensibile forma un sottosquadro. Se basi, come ammine, si diffondono dall'ARC ad un'area non esposta della pellicola di fotoresist, si verifica un fenomeno di allargamento. Inoltre, l'ARC deve avere una velocità di attacco chimico maggiore rispetto alla pellicola fotosensibile superiore (cioè il fotoresist) per permettere di eseguire il procedimento di attacco chimico uniformemente con la pellicola fotosensibile che serve come maschera. Preferibilmente, un ARC organico deve essere il più sottile possibile ed avere una eccellente proprietà di prevenzione della riflessione della luce.
Sebbene attualmente sia disponibile una varietà di materiali ARC, nessuno di questi materiali è utile in procedimenti submicrolitografici con laser a ArF. In assenza di un ARC, la luce irradiata penetra nella pellicola fotoresist e viene riflessa indietro o diffusa dai suoi strati inferiori oppure dalla superficie del substrato (per esempio un chip semiconduttore) , il che influenza la risoluzione e/oppure la formazione del modello di fotoresist. Quindi, vi è la necessità di un materiale per ARC che abbia elevata assorbanza delle lunghezze d'onda usate in procedimenti submicrolitografici. SOMMARIO DELL'INVENZIONE
Uno scopo della presente invenzione consiste nel provvedere un polimero organico che possa venire usato come materiale per ARC in procedimenti submicrolitografici con laser a ArF /193 nm) oppure laser a KrF (248 nm).
Un altro scopo della presente invenzione consiste nel provvedere un metodo per preparare un polimero organico che riduca o prevenga la diffusione e/oppure la riflessione della luce in procedimenti submicrolitografici .
Un ulteriore scopo della presente invenzione consiste nel provvedere una composizione di ARC comprendente tale polimero organico che previene o riduce la diffusione/riflessione e un procedimento per la sua produzione.
Ancora un ulteriore scopo della presente invenzione consiste nel provvedere un procedimento per la produzione di un modello fotoresist usando procedimenti submicrolitografici con laser a ArF con ridotto effetto di onda stazionaria.
Ancora un altro scopo della presente invenzione consiste nel provvedere un dispositivo semiconduttore che viene prodotto usando la composizione di ARC in un procedimento submicrolitografico.
DESCRIZIONE DETTAGLIATA DELL'INVENZIONE
Gruppi alchilici secondo la presente invenzione sono idrocarburi alifatici che possono essere gruppi a catena lineare o ramificata. I gruppi alchilici possono opzionalmente essere sostituiti con uno o più sostituenti, come alogeno, alchenile, alchinile, arile, ossidrile, ammino, tio, alcossile, carbossile, osso oppure cicloalchile . Lungo il gruppo alchilico si possono opzionalmente inserire uno o più atomi di ossigeno, zolfo oppure azoto sostituito o non sostituito. Esempi di gruppi alchilici comprendono metile, etile, i-propile, n-butile, t-butile, fluorometile, difluorometile, trifluorometile, clorometile, triclorometile e pentafluoroetile .
Un aspetto della presente invenzione provvede un polimero acrilato ed un ARC che lo comprende. In una realizzazione particolare, i polimeri hanno una elevata assorbanza delle lunghezze d'onda della luce di 193 nra e 248 nm. Il polimero può inoltre comprendere una parte reticolante tale che il polimero diventi reticolato quando riscaldato (cioè reticolato o "sottoposto a cottura forte"). Le parti di reticolazione possono comprendere un gruppo alcolico e altri gruppi funzionali che siano in grado di reagire con il gruppo alcolico per formare un reticolò. Si ritiene che la reticolazione del polimero migliori significativamente le proprietà do l'adesività e dissoluzione dell'ARC.
I polimeri della presente invenzione sono in grado di formare un elevato grado di reticolazione e avere elevata stabilità, cioè possono venire conservati per un lungo periodo di tempo senza alcuna significativa degradazione. In particolare, i polimeri ARC non reticolati della presente invenzione sono solubili nella maggior parte dei solventi idrocarburici; tuttavia, quando reticolati, sono praticamente insolubili nella maggior parte dei solventi. Quindi, i polimeri della presente invenzione possono venire applicati facilmente su un substrato e sono in grado di impedire i problemi di sottosquadro e allargamento che si possono verificare durante la formazione di un modello di fotoresist su materiali fotosensibili (cioè composizioni di fotoresist). Inoltre, gli ARC della presente invenzione hanno una velocità di attacco chimico maggiore rispetto alle pellicole fotosensibili convenzionali, ottenendo un rapporto di attacco chimico fra ARC e pellicola fotosensibili migliorato, cioè maggiore selettività dell'attacco chimico.
Una realizzazione della presente invenzione provvede un polimero ARC che è scelto dal gruppo costituito da un polimero di formula:
Formula2
Formula 3
o loro miscele,
in cui
Ra, Rb, Re e R12 sono indipendentemente idrogeno oppure alchile (preferibilmente metile) ;
Rd è alchile;
R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito oppure alcossialchile;
R10 e R11 sono indipendentemente alcossile Ci-C10 opzionalmente sostituito;
w, x e y sono frazioni di mole, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e
n è un numero intero da 1 a 4.
Gruppi alchilici secondo la presente invenzione sono idrocarburi alitatici che possono essere gruppi a catena lineare o ramificata. I gruppi alchilici··possono opzionalmente essere sostituiti con uno o più sostituenti, come alogeno, alchenile, alchinile, arile, ossidrile, ammino, tio, alcossile, carbossile, osso oppure cicloalchile. Inseriti lungo il gruppo alchilico vi possono opzionalmente essere uno o più atomi dì ossigeno, zolfo oppure azoto sostituito o non sostituito. Esempi di gruppi alchilici comprendono metile, etile, i-propile, nbutile, t-butile, fluorometile, difluorometile, trifluorometile, clorometile, triclorometile e pentafluoroetile.
I gruppi terminali di un polimero rappresentato nella presente descrizione dipendono dal particolare iniziatore di polimerizzazione usato. Inoltre, come usato in questa descrizione, si noterà che l'ordine delle unità monomeriche rappresentate in una formula di polimero non indica necessariamente l'ordine reale di tali unità monomeriche nel polimero. Le unità monomeriche rappresentate in una formula di polìmero intendono semplicemente indicare la presenza di tali unità monomeriche nel polimero. Inoltre, le variabili rappresentano il rapporto relativo totale di ciascuna unità. Per esempio, la quantità totale "w" nella Formula 1 precedente, può essere dispersa nel polimero (non necessariamente alle stesse concentrazioni) oppure tutta o la maggior parte di tale unità polimerica può essere concentrata in una particolare posizione del polimero .
Polìmeri di Formula 3 particolarmente utili comprendono i seguenti polimeri:
Formula 4 Formula 5 Formula 6 Formula 7 I polimeri delle Formule 4 a 7 possono venire reticolati portandoli a contatto con un composto contenente un alcool in presenza di un acido.
Un altro aspetto della presente invenzione provvede un procedimento per la produzione dei polimeri suddescritti.
Secondo un aspetto della presente invenzione, il polimero di Formula 1 viene prodotto mediante polimerizzazione di una miscela di monomeri comprendente il monomero 9-antraldeideossimaacrilato di formula:
e un menomero idrossialchilacrilato di formula:
in cui Ra, Rb, R1 a R9, w, x e n sono come quelli de-finiti in precedenza.
Il polimero di Formula 2 può venire preparato mediante polimerizzazione di una miscela di monome-ri comprendente il monomero 9-antraldeideossimaacrilato di formula:
e un monomero idrossialchilacrilato di formula:
e un monomero alchilacrilato di formula:
in cui Ra, Rb, Rc, Rd, R1 a R9, w, x, y e n sono come quelli definiti in precedenza.
Le reazioni di polimerizzazione suddescritte possono comprendere un iniziatore di polimerizzazione. Iniziatori di polimerizzazione adatti sono ben noti ad una persona di ordinaria esperienza nella tecnica e comprendono iniziatori di polimerizzazione che vengono usati nelle reazioni di polimerizzazione radicalica convenzionali come 2,2-azobisisobutirronitrile (AIBN) , perossido di acetile, perossido di laurile e perossido di t-butile.
Le reazioni di polimerizzazione suddescritte possono anche comprendere un solvente di'polimerizzazione. Solventi di polimerizzazione adatti sono ben noti ad una persona di ordinaria esperienza nella tecnica. Esempi di solventi di polimerizzazione comprendono solventi organici che vengono usati nella reazione di polimerizzazione convenzionale. Preferibilmente, il solvente di polimerizzazione viene scelto dal gruppo costituito da tetraidrofurano, toluene, benzene, metil etil chetone e diossano .
Preferibilmente, la reazione di polimerizzazione viene eseguita ad una temperatura nel campo da circa 50°C a circa 80°C.
Secondo un altro aspetto della presente invenzione, il polimero di Formula 3 viene prodotto polimerizzando (met)acroleina e facendo reagire il polimero risultante con alcool alchilico C1-C10. In una realizzazione particolare, (met)acroleina viene polimerìzzata a 60-70°C per 4-6 ore sotto vuoto in presenza di un iniziatore di polimerizzazione in un solvente organico. Il polimero risultante viene fatto reagire con alcool alchilico C1-C10 a temperatura ambiente per 20-30 ore in presenza di un catalizzatore acido, per esempio acido trifluororaetilsolfonico. Mentre si può usare qualsiasi dei solventi organici convenzionali usati nella reazione di polimerizzazione, preferibilmente il solvente organico per la polimerizzazione viene scelto dal gruppo costituito da tetraidrofurano (THF), cicloesanone, dimetilformammide, dimetilsolfossido, diossano, metil etil chetone, benzene, toluene, xilene e loro miscele. Preferibilmente, 1'iniziatore di polimerizzazione viene scelto dal gruppo costituito da AIBN, perossido di benzoile, perossido di acetile, perossido di laurile, t-butilperacetato, tbutilidroperossido e perossido di t-butile.
Esempi dell'alcool alchilico C1-C10 comprendono metanolo, etanolo, propanolo, butanolo, pentanolo, esanolo, eptanolo, ottanolo, nonanolo, decanolo e loro isomeri. In particolare si preferiscono metanolo ed etanolo.
Un altro aspetto della presente invenzione provvede una composizione per ARC comprendente il polimero di Formula 1, 2 o loro combinazioni. La composizione per ARC può inoltre comprendere il polimero di Formula 3.
La composizione per ARC della presente invenzione può anche comprendere un additivo. Additivi utili comprendono, ma non sono limitati a questi, derivati di entracene, scelti dal gruppo costituito da antracene, 9-antracenmetanolo, 9-antracencarbonitrile, acido 9-antracencarbossilico, ditranolo, 1,2,10-antracentriolo, acido antraflavonico, 9-antraldeideossima, 9-antraldeide, 2-ammino-7-metil-5-osso-5H- [1]benzopiran[2,3-b]benzopiridin-3-carbonitrile, 1-amminoantrachinone, acido antrachinon-2-carbossilico, 1,5-diidrossiantrachinone, antrone, 9-antriltrifluorometil chetone, derivati di 9-alchilantracene di formula:
derivati di carbossilantracene di formula:
9
derivati di carbossilantracene di formula:
e loro miscele, in cui R1, R2 e R3 sono quelli defi-niti in precedenza.
Un altro aspetto della presente invenzione provvede un procedimento per l'applicazione della composizione per ARC suddescritta su un substrato, per esempio un semiconduttore. In una realizzazione particolare, la composizione per ARC suddescritta viene miscelata con un solvente organico, applicata su un substrato (cioè uno strato di base) e riscaldata (cioè sottoposta a cottura forte). La soluzione può venire filtrata prima di venire applicata sul substrato. Tipicamente, si può usare qualsiasi solvente organico che disciolga almeno parzialmente la composizione per ARC. Tuttavia, sono particolarmente preferiti etil-3-etossipropionato, metil-3-metossipropionato, cicloesanone e propilen glicole metiletere acetato. La quantità di solvente usata è preferibilmente nel campo da circa il 200 a circa il 5.000% in peso del peso totale del polimero ARC usato.
Il riscaldamento del substrato rivestito viene preferibilmente eseguito ad una temperatura nel campo da circa 100°C a circa 300°C per un periodo da circa 10 s a circa 1.000 s. Il riscaldamento del substrato rivestito produce una pellicola di polimero ARC reticolato.
I presenti inventori hanno trovato che gli ARC della presente invenzione presentano elevata prestazione in procedimenti submicrolitografici, in particolare usando laser a KrF (248 nm), ArF (193 nm) e F2 (157 nm) come fonte di luce.
Secondo un altro aspetto ancora, la presente invenzione provvede un dispositivo semiconduttore prodotto usando la composizione per ARC suddescritta.
Scopi, vantaggi e nuove caratteristiche addizionali della presente invenzione saranno evidenti agli esperti nella tecnica dopo esame dei suoi seguenti esempi, che non intendono essere limitativi. Esempio I: sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimaacrilato- (2-idrossietilacrilato)] Sintesi di 9-antraldeideossimaacrilato
Ad una soluzione di tetraidrofurano, si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossima, 0,5 moli di piridina e 0,5 moli di cloruro di acriloile. La reazione viene controllata e quando non si verifica più una reazione significativa viene filtrata, diluita con acetato di etile e lavata con acqua. Si essicca la fase organica e si concentra mediante distillazione sotto vuoto per provvedere 9-antraldeideossimaacrilato di Formula 11. Resa: 82%.
11
Sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimaacrilato- (2-idrossietilacrilato)]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossimaacrilato, 0,5 moli di 2-idrossietilacrilato, 300 g di tetraidrofurano (THF) e 0,1-3 g di 2,2'-azobisisobutirronitrile (AIBN). Si riscalda la miscela di reazione da circa 60 a circa 75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La miscela di reazione viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimaacrilato-(2-idrossietilacrilato)] di Formula 12. Resa: 82%.
12
Esempio II: sintesi del copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (3-idrossipropilacrilato) ] In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossimaacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio I), 0,5 moli di 3-idrossipropilacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (3-idrossipropilacrilato)] di Formula 13. Resa: 82%.
13
Esempio III: sintesi del copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (4-idrossibutilacrilato) 1
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossimaacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio I), 0,5 moli di 4-idrossibutilacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-ésano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (4-idrossibutilacrilato) ] di Formula 14. Resa: 80%.
14
Esempio IV: sintesi del copolimero poli [9-antraldeideossimametacrilato- (2-idrossietilacrilato) Sintesi di 9-antraldeideossimametacrilato
Ad una soluzione di THF si aggiungono 0,5 moli di 9-arvtraldeideossima, 0,5 moli di piridina e 0,5 moli di cloruro di metacriloile . Si controlla la miscela di reazione e quando non si verifica più una reazione significativa si filtra, diluisce con acetato di etile e si lava con acqua. La fase organica viene essiccata e concentrata mediante distillazione sotto vuoto per provvedere 9-antraldeideossimametacrilato di Formula 15. Resa: 80%.
15
Sintesi del copolimero poli [9-antraldeideossimame-<•>tacrilato- (2-idrossietilacrilato) ]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossimametacrilato, 0,5 moli di 2-idrossietilacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli [9-antraldeideossimametacrilato- (2-idrossietilacrilato) ] dì Formula 16. Resa: 78%.
16
Esempio V: sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (3-idrossipropilacrilato)] In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossimametacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio IV), 0,5 moli di 3-idrossipropilacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (3-idrossipropilacrilato)] di Formula 17. Resa: 81%.
17
Esempio VI: sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (4-idrossibutilacrilato)] In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,5 moli di 9-antraldeideossimametacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio IV), 0,5 moli di 4-idrossibutilacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (4-idrossibutilacrilato)] di Formula 18. Resa: 80%.
Esempio VII: sintesi del copolimero di poli[9-antraldeideossimaacrilato- (2-idrossietilacrilato)-metilmetacrilato]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,3 moli di 9-antraldeideossimaacrilato, 0,5 moli dì 2-idrossietilacrilato, 0,2 moli di metilmetacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure nesano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimaacrilato- (2-idrossietilacrilato) -metilmetacrilato] di Formula 19. Resa: 79%.
19
Esempio VIII: sintesi del copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (3-idrossipropilacrilato) -metilmetacrilato]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,3 moli di 9-antraldeideossimaacrilato, 0,5 moli di 3-idrossipropilacrilato, 0,2 moli di metilmetacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimaacrilato- (3-idrbssipropilacrilato) -metilmetacrilato] di Formula 20. Resa: 80%.
Esempio IX: sintesi del copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (4-idrossibutilacrilato) -metilmetacrilato
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,3 moli di 9-antraldeideossimaacrilato, 0,5 moli di 4-idrossibutilacrilato, 0,2 moli di metilmetacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure nesano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli [9-antraldeideossimaacrilato- (4-idrossibutilacrilato) -metilmetacrilato] di Formula 21. Resa: 80%.
21
Esempio X: sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (2-idrossietilacrilato)-metil- . metacrilato]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si ag-r giungono 0,3 moli di 9-antraldeideossimametacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio IV), 0,5 moli di 2-idrossietilacrilato, 0,2 moli di metilmetacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (2-idrossietilacrilato)-metilmetacrilato] di Formula 22. Resa: 79%.
22
Esempio XI: sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (3-idrossipropilacrilato)-metilmetacrilato]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,3 moli di 9-antraldeideossimametacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio IV), 0,5 moli di 3-idrossipropilacrilato, 0,2 moli di metilmetacrilato, 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (3-idrossipropilacrilato)-metilmetacrilato] di Formula 23. Resa: 80%.
23
Esempio XII: sintesi del copolimero poli[9-antraldeideossimametacrilato- (4-idrossibutilacrilato)-metilmetacrilato]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 0,3 moli di 9-antraldeideossimametacrilato (preparato secondo il procedimento dell'Esempio IV),. 0,5 moli di 4-idrossibutilacrilato, 0,2 moli di metilmetacrilato,- 300 g di THF e 0,1-3 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 60-75°C per 5-20 ore sotto atmosfera di azoto. La soluzione risultante viene precipitata in etere etilico oppure n-esano e il precipitato viene filtrato ed essiccato per provvedere il copolimero poli [9-antraldeideossimametacrilato- (4-idrossibutilacri lato) -metilmetacrilato] di Formula 24. Resa: 78%.
Esempio XIII: sintesi della resina di poli [acroleindimetilacetale]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 100 g di acroleina, 66 g di THF e 2 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 65°C per 5 ore sotto vuoto. Il precipitato bianco (cioè poliacroleina) viene filtrato e lavato con etere etilico. Resa: 80%. In un pallone a fondo tondo da 1000 mi si aggiungono 80 g del solido bianco, 500 g di metanolo e 1 mi di acido trifluorometilsolfonico. La miscela risultante viene agitata a temperatura ambiente per 24 ore o più. Il solido bianco si discioglie con il procedere della reazione. Il progresso della reazione viene controllato usando uno spettrofotometro a IR. Quando la banda di assorbimento a 1690 cu<-1 >è praticamente scomparsa nello spettro IR, la miscela di reazione viene neutralizzata aggiungendo trietilammina. L'eccesso di metanolo viene allontanato mediante distillazione. Il residuo viscoso viene precipitato in acqua distillata ed essiccato sotto vuoto per ottenere il polimero di Formula 4.
Resa: 65%. Peso molecolare: 6.820. Polidìspersità: 1,60
<1>Η NMR (δ): 1,2-2,1 (3H), 3,0-3,8 (6H), 3,8-4,7 UH)
Esempio XIV: sintesi della resina di poli[acroleindietilacetale]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 100 g di acroleina, 66 g di THF e 2 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 65°C per 5 ore sotto vuoto. Il precipitato bianco (cioè poliacroleina) viene filtrato e lavato con etere etilico. Resa: 80%. In un pallone a fondo tondo da 1000 mi si aggiungono 80 g del solido bianco, 500 g di etanolo e 1 mi di acido trifluorometilsolfonico . La miscela risultante viene agitata a temperatura ambiente per 24 ore o più. Il solido bianco si di scioglie con il procedere della reazione. La reazione viene controllata usando uno spettrofotometro a IR. Quando la banda di assorbimento a 1690 cn<-1 >è praticamente scomparsa nello spettro IR, la miscela di reazione viene neutralizzata aggiungendo trietilammina. L'eccesso di etanolo viene allontanato mediante distillazione. Il residuo viscoso viene precipitato in acqua distillata ed essiccato sotto vuoto per ottenere il polimero di Formula 5.
Resa: 60%. Peso molecolare: 7.010. Polidispersità: 1,78
<1>H NMR (δ): 1,2-2,1 (9H), 3,0-3, 8 (4H), 3,8-4,7 (IH)
Esempio XV: sintesi della resina di poli[metacroleindimetilacetale]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 100 g di metacroleina, 66 g di THF e 2 g di AIBN. Si riscalda la miscela di reazione a 65°C per 5 ore sotto vuoto. Il precipitato bianco (cioè polimetacroleina) viene filtrato e lavato con etere etilico. In un pallone a fondo tondo da 1000 mi si aggiungono 80 g del solido bianco, 500 g di metanolo e 1 mi di acido trifluorometilsolfonico . La miscela risultante viene agitata a temperatura ambiente per 24 ore o più. Il solido bianco si discioglie con il procedere della reazione. La reazione viene controllata usando uno spettrofotometro a IR. Quando la banda di assorbimento a 1690 cm <-1 >è praticamente scomparsa nello spettro IR, la miscela di reazione viene neutralizzata aggiungendo trietilammina. L'eccesso di metanolo viene allontanato mediante distillazione. Il residuo viscoso viene precipitato in acqua distillata ed essiccato sotto vuoto per ottenere il polimero di Formula 6.
Resa: 65%. Peso molecolare: 6.800. Polidispersità: 1,63
<1>H NMR (δ): 1,2-2,1 (5H), 3,0-3, 8 (6H), 3,8-4,7 (IH)
Esempio XVI: sintesi della resina di poli [metacroleindietilacetale]
In un pallone a fondo tondo da 500 mi si aggiungono 100 g di metacroleina, 66 g di THF e 2 g di AIBN. Si riscalda la miscela dì reazione a 65°C per 5 ore sotto vuoto. Il precipitato bianco (cioè polimetacroleina) viene filtrato e lavato con etere etilico. In un pallone a fondo tondo da 1000 mi si aggiungono 80 g del solido bianco, 500 g di etanolo e 1 mi di acido trifluorometilsolfonico . La miscela risultante viene agitata a temperatura ambiente per 24 ore o più. Il solido bianco si discioglie con il procedere della reazione. La reazione viene controllata usando uno spettrofotometro a IR. Quando la banda di assorbimento a 1690 cm <-1 >è praticamente scomparsa nello spettro IR, la miscela di reazione viene neutralizzata aggiungendo trietilammina . L'eccesso di etanolo viene allontanato mediante distillazione. Il residuo viscoso viene precipitato in acqua distillata ed essiccato sotto vuoto per ottenere il polimero di Formula 7.
Resa: 61%. Peso molecolare: 7.200. Polidispersità: 2,0
<1>H NMR (δ): 1,2-2,1 (U H), 3,0-3,8 (4H), 3,8-4,7 (IH)
Esempio XVII: preparazione di ARC
Uno dei polimeri degli Esempi I a XII ed uno dei polimeri degli esempi XIII a XVI viene aggiunto ad una soluzione di propilen glicole metiletere acetato .(PGMEA). A questa soluzione si aggiunge opzionalmente lo 0,1-30% in peso di almeno un additivo scelto dal gruppo di derivati di antracene. La miscela risultante viene filtrata, applicata su una fetta di silicio e sottoposta a cottura forte a 100-300°C per 10-1.000 s per formare un ARC. Un materiale fotosensibile viene applicato sull'ARC così formato e visualizzato usando un procedimento submicrolitografico per formare un modello ultrafine .
I polimeri della presente invenzione comprendono un cromoforo che è in grado di assorbire la luce alle lunghezze d'onda che vengono usate in un procedimento submicrolitografico. Inoltre, il polimero non reticolato della presente invenzione è solubile nella maggior parte dei solventi idrocarburici, mentre il polimero reticolato (cioè sottoposto a cottura forte) è insolubile nella maggior parte dei solventi. Quindi, i polimeri della presente invenzione possono venire facilmente applicati su un substrato e sono in grado di impedire i problemi di sottosquadro e allargamento che si possono verificare durante la formazione di un modello di fotoresist su materiali fotosensibili (cioè coimposizioni di fotoresist) . Inoltre, poiché i polimeri della presente invenzione comprendono un polimero acrilato, lo strato di ARC risultante ha una velocità di attacco chimico maggiore rispetto alle pellicole fotosensibili (per esempio resine di fotoresist) , ottenendo un rapporto della selezione dell'attacco chimico significativamente migliorata fra l'ARC e la pellicola fotosensibile.
Gli ARC della presente invenzione riducono o eliminano la retroriflessione della luce dagli strati inferiori della pellicola fotosensibile oppure dalla superficie del substrato (per esempio un elemento semiconduttore) . Inoltre, gli ARC della presente invenzione riducono o eliminano l'effetto delle onde stazionarie dovuto ai cambiamenti di spessore nello strato di fotoresist durante un procedimento submicrolitograf ico usando laser a KrF (248 nm), ArF (193 nm) oppure F2 (157 nm) come fonte di luce. Quindi, gli ARC della presente invenzione sono utili nella formazione di modelli di fotoresist ultrafini. In particolare, l'uso degli ARC della presente invenzione in procedimenti submicrolitografici, porta alla formazione di modelli ultrafini stabili che sono adatti per dispositivi semiconduttori a DRAM 64M, 2456M, 1G, 4G e 16 G. I-noltre, poiché si forma un modello stabile, l'uso degli ARC della presente invenzione migliora grandemente la resa di produzione.
Mentre la presente invenzione è stata descritta in questa sede con riferimento a sue particolari realizzazioni, varie modifiche, cambiamenti e sostituzioni si intendono compresi nella descrizione precedente. Si noterà che in alcuni casi certe caratteristiche dell'invenzione verranno impiegate senza un corrispondente uso di altre caratteristiche, senza distaccarsi dal campo dell'invenzione come esposto in questa sede. Quindi, si possono apportare molte modifiche per adattare una particolare situazione o materiale agli insegnamenti dell'invenzione senza distaccarsi dal campo e dallo spirito essenziali della presente invenzione. Si intende che l'invenzione non è limitata alla particolare realizzazione descritta come modo migliore previsto per realizzare la presente invenzione, ma che l'invenzione comprenderà tutte le realizzazioni ed equivalenti che rientrano nel campo delle rivendicazioni allegate.
Claims (31)
- RIVENDICAZIONI 1. Polimero di formula: in cui Ra e Rb sono indipendentemente idrogeno oppure alchile; R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito oppure alcossialchile, w e x sono frazioni di mole, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e n è un numero intero da 1 a 4.
- 2. Polimero secondo la rivendicazione 1, in cui Ra e Rb sono indipendentemente idrogeno oppure metile.
- 3. Polimero secondo la rivendicazione 2, in cui Ra, Rb e Ri a Rg sono idrogeno; il rapporto fra w e x è 0,5:0,5 e n è 2, 3 oppure 4.
- 4. Polimero secondo la rivendicazione 2, in cui Ra è metile; Rb e R1 a R9 sono idrogeno; il rap-porto fra w e x è 0,5:0,5; e n è 2, 3 oppure 4.
- 5. Procedimento per la preparazione di un po-limero di formula:detto procedimento comprendendo le fasi di polimerizzare una miscela di monomeri in condizioni sufficienti a produrre detto polimero, in cui detta miscela di monomeri comprende un monomero di 9-antraldeideossimaacrilato di formula:e un monomero di idrossialchilacrilato di formulam cui Ra e Rb sono indipendentemente idrogeno o archile; R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossìdrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile; w e x sono frazioni di mole, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e n è un numero intero da 1 a 4.
- 6. Procedimento secondo la rivendicazione 5, in cui detta miscela di monomeri comprende inoltre un iniziatore di polimerizzazione. -
- 7. Procedimento secondo la rivendicazione 6, in cui detto iniziatore di polimerizzazione viene scelto dal gruppo costituito da 2,2-azobisisobutirronitrile, perossido di acetile, perossido di laurile e perossido di t-butile.
- 8. Procedimento secondo la rivendicazione 6, in cui detta miscela di monomeri comprende inoltre un solvente.
- 9.. Procedimento secondo la rivendicazione 8, in cui detto solvente viene scelto dal gruppo costituito da tetraidrofurano, toluene, benzene, metil etil chetone e diossano.
- 10. Procedimento secondo la rivendicazione 5, in cui detta fase di polimerizzazione comprende il riscaldamento di detta miscela di monomeri ad una temperatura nel campo da circa 50°C a circa 90°C.
- 11. Polimero di formula: in cui Ra, Rb e Rc sono indipendentemente idrogeno o alchile; Rd è alchile; R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile; w, x e y sono frazioni di moli, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e n è un numero intero da 1 a 4.
- 12. Polimero secondo la rivendicazione 11, in cui ciascuno di Ra, Rb e Rc è indipendentemente idrogeno oppure metile; e Rd è metile.
- 13. Polimero secondo la rivendicazione 12, in cui Ra, Rb e R1 a R9 sono idrogeno; Rc e Rd sono me-tile; il rapporto fra w, x, y è 0,3:0,5:0,2; e n è 2, 3 oppure 4.
- 14. Polimero secondo la rivendicazione 12, in cui Ra, Re e Rd sono metile; Rb e R1 a R9 sono idrogeno; il rapporto fra w, x, y è 0,3:0,5:0,2; e n è 2, 3 oppure 4.
- 15. Procedimento per la produzione di un polimero di formula:detto procedimento comprèndendo le fasi di polimerizzare una miscela di monomeri in condizioni sufficienti a produrre detto polimero, in cui detta miscela di monomeri comprende un monomero di 9-antraldeideossimaacrilato di formula:un monomero di idrossialchilacrilato di formula:ed un monomero di alchilacrilato di formula:in cui Ra, Rb e Rc sono indipendentemente idrogeno oppure alchile; Rd è alchile; R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile; w, x e y sono frazioni di mole, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e n è un numero intero da 1 a 4.
- 16. Procedimento secondo la rivendicazione 15, in cui detta miscela di monomeri comprende inoltre un iniziatore di polimerizzazione.
- 17. Procedimento secondo la rivendicazione 16, in cui detto iniziatore viene scelto dal gruppo costituito da 2,2-azobisisobutirronitrile, perossido di acetile, perossido di laurile e perossido di t-butile.
- 18. Procedimento secondo la rivendicazione 16, in cui detta miscela di monomeri comprende inoltre un solvente.
- 19. Procedimento secondo la rivendicazione 18, in cui detto solvente viene scelto dal gruppo costituito da tetraidrofurano, toluene, benzene, metil etil chetone e diossano.
- 20. Procedimento secondo la rivendicazione 15, in cui detta fase di polimerizzazione comprende il riscaldamento di detta miscela di monomeri fino ad una temperatura nel campo da circa 50 “C a circa 90°C.
- 21. Composizione di rivestimento antiriflesso comprendente un polimero di formula:o loro miscele, in cui Ra, Rb e Rc sono indipendentemente idrogeno oppure alchile; Rd è alchile; R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile; w, x e y sono frazioni di mole, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e n è un numero intero da 1 a 4.
- 22. Composizione di rivestimento antiriflesso secondo la rivendicazione 21, comprendente inoltre un polimero di formula:in cui 10 e R11 sono indipendentemente alcossile C1-C10 opzionalmente sostituito; e R12 è idrogeno o alchile.
- 23. Composizione di rivestimento antiriflesso secondo la rivendicazione 22, comprendente inoltre un additivo scelto dal gruppo costituito da antracene, 9-antracenmetanolo, 9-antracencarbonitrile, acido 9-antracencarbossilico, ditranolo, 1,2,10-antracentriolo, acido antraf lavonico, 9-antraldeideossima, 9-antraldeide, 2-ammino-7-metil-5-osso-5H- [1]benzopiran [2,3-b]benzopiridin-3-carbonitrile, 1-amminoantrachinone, acido antrachinon-2-carbossilico, 1,5-diidrossiantrachinone, antrone, 9-antriltrif luorometil chetone, 9-alchilantracene di formula:carbossilantracene di formula:carbossilantracene di formula:e loro miscele in cui R1, R2 e R3 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alchile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile .
- 24. Procedimento per la preparazione di un rivestimento antiriflesso su un substrato, detto procedimento comprendendo le fasi di: (a) miscelare un solvente organico ed un polimero per rivestimento antiriflesso per produrre almeno una soluzione di polimero per rivestimento antiriflesso parzialmente disciolto, in cui detto polimero per rivestimento antiriflesso comprende un polimero di formula:o loro miscele, in cui Ra, Rb, Re e Ri2 sono indipendentemente idrogeno oppure alchile; Rd è alchile; R1 a R9 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alcossicarbonile, carbossile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile; R10 e R1 sono indipendentemente alcossile C1-C10 opzionalmente sostituito; w, x e y sono frazioni di mole, ciascuna delle quali è indipendentemente nel campo da 0,01 a 0,99; e n -.è un numero intero da 1 a 4; (b) applicare detta soluzione di polimero per rivestimento antiriflesso su un substrato; e (c) riscaldare detto substrato rivestito per formare un substrato rivestito con polimero antiriflesso.
- 25. Procedimento secondo la rivendicazione 24, comprendente inoltre la fase di filtrare detta soluzione di polimero per rivestimento antiriflesso prima di detta fase di rivestimento.
- 26. Procedimento secondo la rivendicazione 24, in cui detto solvente organico viene scelto dal gruppo costituito da etil-3-etossipropionato, metil-3-metossipropionato, cicloesanone, propilen glicole metiletere acetato e loro miscele.
- 27. Procedimento secondo la rivendicazione 26, in cui la quantità di detto solvente organico è da circa il 200 a circa il 5.000% in peso del peso totale di detto polimero per rivestimento antiriflesso.
- 28. Procedimento secondo la rivendicazione 24, in cui detta fase di riscaldamento comprende il riscaldamento di detto substrato rivestito fino ad una temperatura nel campo da circa 100°C a circa 300°C.
- 29- Procedimento secondo la rivendicazione 24, in cui detta soluzione di polimero per rivestimento antiriflesso comprende inoltre un additivo scelto dal gruppo costituito da antracene, 9-antracenmetanolo, 9-antracencarbonitrile, acido 9-antracencarbossilico, ditranolo, 1,2,10-antracentriolo, acido antraflavonico, 9-antraldeideossima, 9-antraldeide, 2-ammino-7-metil-5-osso-5H-[llbenzop'iran[2,3-b]benzopiridin-3-carbonitrile, 1-amminoantrachinone, acido antrachinon-2-carbossilico, 1,5-diidrossiantrachinone, antrone, 9-antriltrifluorometil chetone, 9-alchilantracene di formula:carbossilantracene di formula:carbossilantracene di formula:e loro miscele, in cui R1, R2 e R3 sono indipendentemente idrogeno, ossidrile, alchile, idrossialchile, oppure alchile C1-C5 opzionalmente sostituito, oppure alcossialchile.
- 30. Procedimento secondo la rivendicazione 29, in cui la quantità di detto additivo presente in detta soluzione di polimero per rivestimento antiriflesso è nel campo da circa lo 0,1 a circa il 30% in peso di detta soluzione di polimero per rivestimento antiriflesso.
- 31. Dispositivo semiconduttore prodotto mediante un procedimento secondo la rivendicazione 24.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-1999-0061344A KR100427440B1 (ko) | 1999-12-23 | 1999-12-23 | 유기 반사방지 화합물 및 그의 제조방법 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| ITTO20001220A0 ITTO20001220A0 (it) | 2000-12-22 |
| ITTO20001220A1 true ITTO20001220A1 (it) | 2002-06-22 |
| IT1320867B1 IT1320867B1 (it) | 2003-12-10 |
Family
ID=19628987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| IT2000TO001220A IT1320867B1 (it) | 1999-12-23 | 2000-12-22 | Polimero organico per rivestimento antiriflesso e sua preparazione. |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6548613B2 (it) |
| JP (1) | JP3960750B2 (it) |
| KR (1) | KR100427440B1 (it) |
| CN (1) | CN1200014C (it) |
| DE (1) | DE10063263A1 (it) |
| FR (2) | FR2802935B1 (it) |
| GB (1) | GB2357511B (it) |
| IT (1) | IT1320867B1 (it) |
| NL (1) | NL1016942C2 (it) |
| TW (1) | TWI265934B (it) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100574486B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2006-04-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
| KR100687850B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2007-02-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
| KR100721182B1 (ko) | 2000-06-30 | 2007-05-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
| KR100721181B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2007-05-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
| KR100687851B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2007-02-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
| KR100480235B1 (ko) * | 2002-07-18 | 2005-04-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 반사방지막 조성물 및 이를 이용한 포토레지스트의패턴 형성 방법 |
| US7056826B2 (en) * | 2003-01-07 | 2006-06-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Method of forming copper interconnects |
| KR101156973B1 (ko) * | 2005-03-02 | 2012-06-20 | 주식회사 동진쎄미켐 | 유기 반사방지막 형성용 유기 중합체 및 이를 포함하는 유기 조성물 |
| US7704670B2 (en) * | 2006-06-22 | 2010-04-27 | Az Electronic Materials Usa Corp. | High silicon-content thin film thermosets |
| US7666575B2 (en) | 2006-10-18 | 2010-02-23 | Az Electronic Materials Usa Corp | Antireflective coating compositions |
| KR100870746B1 (ko) * | 2006-11-27 | 2008-11-26 | 삼성전자주식회사 | 패턴 형성 방법 및 이를 이용한 커패시터 제조 방법 |
| US8026040B2 (en) | 2007-02-20 | 2011-09-27 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Silicone coating composition |
| EP2121808A1 (en) | 2007-02-27 | 2009-11-25 | AZ Electronic Materials USA Corp. | Silicon-based antifrelective coating compositions |
| WO2015150508A1 (de) * | 2014-04-04 | 2015-10-08 | Basf Se | Wässrige polymerzusammensetzungen |
| WO2015189095A1 (de) * | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Basf Se | Polyurethane mit reduzierter aldehydemission |
| KR102662122B1 (ko) * | 2016-06-01 | 2024-04-30 | 주식회사 동진쎄미켐 | 네거티브 톤 현상 공정에 이용되는 유기 반사방지막 형성용 조성물 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3100077A1 (de) | 1981-01-03 | 1982-08-05 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Lichtempfindliches gemisch, das einen naphthochinondiazidsulfonsaeureester enthaelt, und verfahren zur herstellung des naphthochinondiazidsulfonsaeureesters |
| US4822718A (en) | 1982-09-30 | 1989-04-18 | Brewer Science, Inc. | Light absorbing coating |
| US5674648A (en) | 1984-08-06 | 1997-10-07 | Brewer Science, Inc. | Anti-reflective coating |
| US5525457A (en) | 1994-12-09 | 1996-06-11 | Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. | Reflection preventing film and process for forming resist pattern using the same |
| DE19516470A1 (de) * | 1995-05-05 | 1996-11-07 | Roehm Gmbh | Verfahren zur Herstellung von Oximmethacrylaten |
| US5886102A (en) * | 1996-06-11 | 1999-03-23 | Shipley Company, L.L.C. | Antireflective coating compositions |
| US5948847A (en) * | 1996-12-13 | 1999-09-07 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Undercoating composition for photolithographic patterning |
| JP3854367B2 (ja) * | 1997-06-04 | 2006-12-06 | Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 | 光吸収性ポリマー、光吸収膜形成性組成物及び光吸収膜とそれを用いた反射防止膜 |
| US5919599A (en) * | 1997-09-30 | 1999-07-06 | Brewer Science, Inc. | Thermosetting anti-reflective coatings at deep ultraviolet |
| JP4053631B2 (ja) * | 1997-10-08 | 2008-02-27 | Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 | 反射防止膜又は光吸収膜用組成物及びこれに用いる重合体 |
| US6190839B1 (en) * | 1998-01-15 | 2001-02-20 | Shipley Company, L.L.C. | High conformality antireflective coating compositions |
| KR100363695B1 (ko) * | 1998-12-31 | 2003-04-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기난반사방지중합체및그의제조방법 |
| KR100465864B1 (ko) * | 1999-03-15 | 2005-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 난반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |
| KR100395904B1 (ko) * | 1999-04-23 | 2003-08-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |
| KR100310252B1 (ko) * | 1999-06-22 | 2001-11-14 | 박종섭 | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |
| KR100355604B1 (ko) * | 1999-12-23 | 2002-10-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 난반사 방지막용 중합체와 그 제조방법 |
-
1999
- 1999-12-23 KR KR10-1999-0061344A patent/KR100427440B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-12-19 DE DE10063263A patent/DE10063263A1/de not_active Withdrawn
- 2000-12-21 NL NL1016942A patent/NL1016942C2/nl not_active IP Right Cessation
- 2000-12-21 TW TW089127532A patent/TWI265934B/zh active
- 2000-12-21 JP JP2000388729A patent/JP3960750B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-12-22 US US09/747,364 patent/US6548613B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-12-22 IT IT2000TO001220A patent/IT1320867B1/it active
- 2000-12-22 FR FR0016962A patent/FR2802935B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 2000-12-22 GB GB0031419A patent/GB2357511B/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-12-25 CN CNB001362372A patent/CN1200014C/zh not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-05-04 FR FR0106011A patent/FR2808027B1/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2802935B1 (fr) | 2003-03-28 |
| KR100427440B1 (ko) | 2004-04-17 |
| IT1320867B1 (it) | 2003-12-10 |
| GB2357511A (en) | 2001-06-27 |
| US20010034427A1 (en) | 2001-10-25 |
| NL1016942A1 (nl) | 2001-06-26 |
| JP2001192422A (ja) | 2001-07-17 |
| NL1016942C2 (nl) | 2002-05-01 |
| KR20010057925A (ko) | 2001-07-05 |
| FR2808027A1 (fr) | 2001-10-26 |
| GB2357511B (en) | 2003-04-02 |
| DE10063263A1 (de) | 2001-06-28 |
| US6548613B2 (en) | 2003-04-15 |
| ITTO20001220A0 (it) | 2000-12-22 |
| FR2802935A1 (fr) | 2001-06-29 |
| TWI265934B (en) | 2006-11-11 |
| FR2808027B1 (fr) | 2006-01-20 |
| GB0031419D0 (en) | 2001-02-07 |
| CN1200014C (zh) | 2005-05-04 |
| JP3960750B2 (ja) | 2007-08-15 |
| CN1308089A (zh) | 2001-08-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100465864B1 (ko) | 유기 난반사방지 중합체 및 그의 제조방법 | |
| KR100395904B1 (ko) | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 | |
| US6489432B2 (en) | Organic anti-reflective coating polymer and preparation thereof | |
| ITTO20001220A1 (it) | Polimero organico per rivestimento antiriflesso e sua preparazione. | |
| KR100549574B1 (ko) | 유기 반사 방지막용 중합체 및 그의 제조방법 | |
| ITTO20000606A1 (it) | Polimero organico antiriflettente e procedimento per la sua produzione | |
| CN100398571C (zh) | 有机抗反射化合物及其制备方法 | |
| KR100465866B1 (ko) | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 | |
| KR100721182B1 (ko) | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 | |
| KR100419962B1 (ko) | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 | |
| TWI247969B (en) | Organic anti-reflective coating polymer, anti-reflective coating composition comprising the same and methods of preparation thereof | |
| KR100687851B1 (ko) | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 | |
| KR100721181B1 (ko) | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 | |
| KR100351458B1 (ko) | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 | |
| KR100351459B1 (ko) | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |