ITTO20150229A1 - Procedimento per produrre bump in componenti elettronici, componente e prodotto informatico corrispondenti - Google Patents
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Description
DESCRIZIONE dell?invenzione industriale dal titolo:
?Procedimento per produrre bump in componenti elettronici, componente e prodotto informatico corrispondenti?
TESTO DELLA DESCRIZIONE
Campo tecnico
La presente descrizione si riferisce ai componenti elettronici.
Una o pi? forme di attuazione possono applicarsi alla produzione di ?bump? in componenti elettronici, quali per es. i circuiti integrati (IC, ?Integrated Circuit?).
Sfondo tecnologico
I cosiddetti bump possono essere usati per realizzare una collegamento elettrico e/o meccanico con un package e/o una scheda in componenti elettronici come i circuiti integrati (IC). Sono anche noti bump termici utilizzabili per realizzare di package nell?elettronica e nella optoelettronica in modo da aggiungere funzionalit? di gestione termica sulla superfice di un chip o a un altro componente elettrico.
Bump/colonne (?pillar?) possono essere prodotti con vari di processi.
Per esempio, si possono produrre bump per saldatura depositando un materiale (per es. una pasta o sferette per saldatura) e si possono produrre bump a colonna o pillar bump tramite crescita elettrolitica.
Processi come per es. l?elettroplaccatura o i processi di tipo electroless (E-less) possono comportare una mascheratura e una crescita elettrolitica. Questi possono dimostrare una limitazione intrinseca riguardo ai pillar ?verticali?, vale a dire quei bump che si estendono in una direzione longitudinale, generalmente rettilinea.
Una crescita diretta geometricamente risulta difficile da realizzare, cosicch? rilassare un passo (?pitch?) troppo ravvicinato dei bump comporta quasi inevitabilmente un?azione di redistribuzione, per es. attraverso una pluralit? di fasi litografiche e fasi di elettroplaccatura o di E-less.
I pillar bump possono comprendere sulla punta uno strato di saldatura per la saldatura a una scheda. Durante l?effettuazione delle prove termiche dei wafer, tale strato pu? rammollirsi ed essere danneggiato dalle sonde. Il danneggiamento pu? comprendere la formazione di cavit?. in In tali cavit? pu? essere intrappolata dell?aria in contatto con la scheda, il che pu? influenzare negativamente la vita utile del componente.
Scopo e sintesi
Lo scopo di una o pi? forme di attuazione ? di fornire perfezionamenti nella produzione di bump per componenti elettronici atti a superare gli inconvenienti delineati in precedenza.
Una o pi? forme di attuazione raggiungono tale scopo grazie a un procedimento avente le caratteristiche elencate nelle rivendicazioni seguenti.
Una o pi? forme di attuazione possono riferirsi a un corrispondente componente (per es. un componente microelettronico, come un circuito integrato).
Inoltre, una o pi? forme di attuazione possono riferirsi a un prodotto informatico caricabile nella memoria di almeno un elaboratore atto a pilotare un?apparecchiatura di stampa in 3D e comprendente porzioni di codice software per eseguire le fasi di stampa in 3D del procedimento di una o pi? forme di attuazione quando il prodotto ? eseguito su almeno un elaboratore. Cos? come qui utilizzato, un riferimento a un tale prodotto informatico intende essere equivalente a un riferimento a un mezzo leggibile da elaboratore contenente istruzioni per controllare un?apparecchiatura di stampa in 3D al fine di coordinare l?implementazione del procedimento secondo una o pi? forme di attuazione. Un riferimento ad ?almeno un elaboratore? intende evidenziare la possibilit? che una o pi? forme di attuazione siano implementate sotto forma modulare e/o distribuita.
Le rivendicazioni sono parte integrante della descrizione di uno o pi? esempi di forme di attuazione come qui forniti.
Una o pi? forme di attuazione possono basarsi sul riconoscimento che la stampa in 3D (fabbricazione additiva o AM (?Additive Manufacturing?)) sta diventando una tecnologia comune, con le dimensioni, la risoluzione, il passo disponibili che diventano sempre pi? accurati e con piccole dimensioni.
Una o pi? forme di attuazione rendono possibile formare in un singolo passo dei bump/pillar (per es. di metallo) comprendenti una o pi? strutture ?laterali? che sporgono di traverso alla direzione longitudinale del bump, e che possono essere usati per es. per trasportare segnali da due lati di un chip a un?area pi? ampia.
In una o pi? forme di attuazione, la struttura sporgente laterale pu? essere prodotta in un solo pezzo con il corpo del bump, vale a dire come un singolo pezzo di materiale, privo di qualsiasi giunzione (per es. saldatura), eliminando cos? qualsiasi resistenza (ohmica) eventualmente associata a tali giunzioni.
Breve descrizione delle figure
Una o pi? forme di attuazione saranno ora descritte, a puro titolo di esempio non limitativo, con riferimento alle figure annesse, nelle quali:
- la Figura 1 ? una rappresentazione schematica di un componente elettronico;
- la Figura 2 ? una rappresentazione schematica di un processo utilizzabile in una o pi? forme di attuazione; e - le Figure da 3 a 5 sono rappresentazioni schematiche dei risultati ottenibili in una o pi? forme di attuazione.
Si apprezzer? che, al fine di facilitare la comprensione delle forme di attuazione, le varie figure possono non essere state disegnate con una stessa scala.
Descrizione dettagliata
Nella descrizione che segue sono illustrati uno o pi? dettagli specifici, allo scopo di fornire una comprensione approfondita degli esempi delle forme di attuazione. Le forme di attuazione possono essere ottenute senza uno o pi? dei dettagli specifici, o con altri procedimenti, componenti, materiali, ecc. In altri casi, operazioni, materiali o strutture note non sono illustrate o descritte in dettaglio in modo tale che certi aspetti delle forme di attuazione non saranno resi poco chiari.
Un riferimento a ?una forma di attuazione? nel quadro della presente descrizione intende indicare che una particolare configurazione, struttura o caratteristica descritta con riferimento alla forma di attuazione ? compresa in almeno una forma di attuazione. Per cui, le frasi come ?in una forma di attuazione? che possono essere presenti in uno o pi? punti della presente descrizione non fanno necessariamente riferimento proprio alla stessa forma di attuazione. Inoltre, particolari conformazioni, strutture o caratteristiche possono essere combinate in un modo adeguato qualsiasi in una o pi? forme di attuazione. Vale a dire, una o pi? caratteristiche esemplificate in relazione a una certa figura possono essere applicate a una forma di attuazione qualsiasi come esemplificato in un?altra figura qualsiasi.
I riferimenti usati qui sono forniti semplicemente per convenienza e quindi non definiscono l?ambito di protezione o la portata delle forme di attuazione.
In tutte le figure, forme di attuazione di un componente elettronico sono indicate in generale come 10.
Tali forme di attuazione possono comprendere un circuito elettronico 12 quale un chip (o un ?die?), che pu? essere disposto su un substrato di supporto 14.
In una o pi? forme di attuazione, il substrato 14 pu? essere una scheda circuitale, come per es. una scheda a circuito stampato (PCB, ?Printed Circuit Board?).
In una o pi? forme di attuazione, il substrato pu? essere un die pad. In una o pi? forme di attuazione pu? non essere fornito un die pad.
In una o pi? forme di attuazione, il die 12 pu? essere disposto all?interno di un package o situato sulla superficie (per es. sul fondo) del package.
Quali che siano i dettagli delle forme di attuazione, il circuito elettronico 12 pu? comprendere dei die pad 16 che possono fornire un collegamento elettrico del circuito con il package e/o la scheda.
Per realizzare un percorso elettrico e/o un collegamento meccanico con il package e/o la scheda si possono realizzare dei cosiddetti bump (talvolta indicati come ?pillar?) 18 per es. facendoli crescere sui pad 16.
Nella Figura 3, e come ulteriormente discusso in seguito, ? rappresentato un cablaggio 20 esemplificativo di tali percorsi elettrici (per es. a un lead frame che comprende i pin del package - non visibile nella figura) saldato in una o pi? posizioni di collegamento elettrico 20a a un bump 18.
Nella Figura 4, e come discusso ulteriormente in seguito, ? rappresentato un bump 18 simile a una molla atto a fornire un accoppiamento meccanico con smorzamento delle sollecitazioni per es. a un package o a una scheda (non visibile nella Figura).
Nella Figura 5, e come discusso ulteriormente in seguito, ? rappresentato un bump 18 avente una sporgenza simile a una trave a sbalzo 18a atta a fare contatto con una sonda di test TP.
I bump 18 nelle Figure 3 a 5 sono pertanto genericamente esemplificativi di una o pi? forme di attuazione comprendenti almeno un bump 18 che si estende in una direzione longitudinale del bump 18, il bump 18 essendo realizzato, eventualmente come un singolo pezzo di materiale (per es. senza alcuna giunzione) con almeno una sporgenza (per es. i lati della testa allargata del bump 18 a forma di fungo o a forma di T della Figura 3, la porzione intermedia a forma di V del bump 18 della Figura 4, o la sporgenza simile a una trave a sbalzo 18a del bump 18 della Figura 5) che si estende dalla direzione longitudinale del bump 18.
La designazione stampa in 3D (o fabbricazione additiva, AM) si applica a vari processi che possono essere usati per produrre oggetti tridimensionali per mezzo di un processo additivo. In un tale processo, strati di materiale possono essere stesi successivamente per mezzo di una ?stampante 3D? che pu? essere considerata come una sorta di robot industriale.
Un processo di stampa in 3D pu? essere controllato da elaboratore, in modo tale che un oggetto con una certa sagoma/geometria possa essere prodotto partendo per es. da una sorgente di dati, vale a dire per mezzo di un prodotto informatico per pilotare un?apparecchiatura di stampa in 3D e comprendente porzioni di codice software per eseguire le fasi di un procedimento di stampa in 3D quando il prodotto ? eseguito su un tale elaboratore.
Il termine stampa in 3D ? stato usato originariamente per indicare quei processi che comportano una deposizione sequenziale di materiale per es. su un letto di polvere per mezzo di una testina di una stampante che somiglia sostanzialmente a una stampante a getto d?inchiostro. Il termine stampa in 3D ? ora usato correntemente per indicare una variet? di processi compresi per es. processi di estrusione o di sinterizzazione. Sebbene il termine fabbricazione additiva (AM) possa essere in effetti usato in questo senso pi? ampio, le due designazioni, stampa in 3D e fabbricazione additiva (AM) saranno usate qui sostanzialmente come sinonimi.
Come qui utilizzata, una formulazione come per es. ?stampa in 3D? e ?stampato in 3D? indicher? perci? un processo di fabbricazione additiva e un articolo prodotto tramite una fabbricazione additiva.
In una o pi? forme di attuazione, la tecnologia di stampa in 3D pu? essere basata sulla deposizione ripetuta di micro-strati di polveri di metallo che sono fusi o disciolti localmente, in modo tale da poter far crescere strutture di metallo.
Una o pi? forme di attuazione possono basarsi sul riconoscimento che, sebbene considerato come un processo intrinsecamente ?lento?, i recenti sviluppi della stampa in 3D/AM possono presentare - in relazione a materiali quali il rame (Cu), il nichel (Ni), lo stagno (Sn), varie leghe di metalli ? parametri che sono compatibili con la produzione di bump/colonne di componenti elettronici, come gli IC, per es. tramite micro-fusione di polveri metalliche per mezzo di un fascio laser.
La Figura 2 ? schematicamente esemplificativa della possibilit? di usare per es. una testina 3DH per stampa in 3D a getto di polvere/laser controllata da elaboratore per fare crescere strutture di metallo (Cu, Ni, Sn e cos? via) di bump/pillar 18.
In modo diverso rispetto ai bump/pillar tradizionali, che possono essere puramente lineari, per es. colonne verticali, i bump di una o pi? forme di attuazione possono comprendere forme pi? complesse, come curve, biforcazioni, disegni a zig-zag e cos? via, ovverosia bump di metallo che possono essere realizzati, per es. come un singolo pezzo di materiale (per es. senza alcuna giunzione), con almeno una sporgenza che si estende dalla direzione longitudinale del bump 18.
Queste strutture di bump possono estendere la capacit? di intercollegamento di un circuito (per es. un chip) 12 all?ambiente circostante, come un package o una scheda a circuito stampato (PCB).
Per esempio, in una o pi? forme di attuazione, la crescita dei bump di metallo 18 pu? iniziare dai pad 16 del circuito (per es. in Al) formando una giunzione tra il metallo di base del pad e le polveri di metallo fuse fatte crescere su di esso attraverso il processo di stampa in 3D.
In una o pi? forme di attuazione, l?estensione e la direzione di crescita possono essere selezionate in funzione del layout che si desidera ottenere.
In una o pi? forme di attuazione, la collegamento finale pu? avere luogo per es. tramite fusione o saldatura, eventualmente dopo avere girato (capovolto) e posizionato il chip 12 sul substrato 14.
Una o pi? forme di attuazione possono cos? comportare la produzione di un insieme di bump elettricamente conduttivi (per es. di metallo) per un componente elettronico 10 per es. per mezzo di una stampa in 3D (fabbricazione additiva).
Produrre i bump 18 tramite una stampa in 3D apre la strada a una variet? di nuove applicazioni possibili.
Per esempio, fondere polveri di metallo con un fascio laser nella stampa in 3D rende possibile far crescere bump di metallo su wafer a semiconduttore.
In una o pi? forme di attuazione, i bump o pillar possono essere fatte crescere con una geometria che comprende sagome complesse, per es. sagome non lineari, compresi per es. cambiamenti di direzione, eventualmente come un singolo pezzo di materiale con almeno una sporgenza che si estende dalla direzione longitudinale del bump 18.
Una o pi? forme di attuazione possono facilitare molto per es. un rilassamento di un passo troppo ravvicinato dei bump ridistribuendo il layout associato di un?area pi? ampia.
Le Figure da 3 a 5 sono esempi di rappresentazioni schematiche di una o pi? forme di attuazione.
Per esempio, la Figura 3 ? un esempio di un bump 18 a forma di fungo o a T con una porzione di testa allargata che si estende trasversalmente, per es. in entrambe le direzioni, rispetto alla porzione del ?gambo? del fungo o della forma a T, vale a dire nella direzione longitudinale (verticale nella figura) del bump 18, formando cos? pi? posizioni 20a per connettere il cablaggio elettrico 20.
La Figura 4 ? un esempio della possibilit? di produrre un bump 18 simile a una molla, per es. con la forma di una molla a balestra atta a fornire un accoppiamento meccanico per es. a un package o una scheda (non visibile nella Figura) con smorzamento delle sollecitazioni. Un tale dispositivo pu? essere efficace nel ridurre la sollecitazione sulle strutture di semiconduttore (per es. silicio) durante l?assemblaggio del circuito. Questo ? di nuovo un esempio di un bump 18 che comprende una porzione (intermedia) flessibile, per es. a forma di V, che sporge almeno marginalmente rispetto alla direzione longitudinale (di nuovo verticale nella figura) del bump 18.
La Figura 5 esemplifica la possibilit? di produrre un bump 18 avente una sporgenza laterale 18a, simile a una trave a sbalzo, che si estende a partire dalla direzione longitudinale del bump 18 (ancora una volta verticale nella figura) in modo da poter fare contatto con una sonda di test TP evitando cos? un contatto (e un possibile danneggiamento) della porzione superiore (?cap?) del bump 18, eventualmente da saldare. In effetti, in una struttura ?a cactus? come esemplificata nella Figura 5, uno strato di saldatura (per es. di stagno) fornito nella punta del bump 18 pu? essere lasciato intatto dalla sonda TP, mentre la sporgenza laterale 18a pu? presentare una superficie regolare di un materiale duro, come per es. il rame.
Una forma di attuazione come esemplificata nella Figura 5 pu? essere vantaggiosa rispetto ai dispositivi di test tradizionali che comprendono pad ?gemelli?, vale a dire coppie di pad adiacenti (uno per fornire una collegamento elettrico, l?altro a fini di test) alla superficie del chip, limitando cos? la possibilit? di integrare una circuiteria del chip sotto i pad.
Fermi restando i principi di fondo, i dettagli e le forme di attuazione possono variare, anche in modo apprezzabile, rispetto a quanto ? illustrato qui puramente a titolo di esempio non limitativo, senza uscire con ci? dall?ambito di protezione.
L?ambito di protezione ? determinato dalle rivendicazioni che seguono.
Claims (10)
- RIVENDICAZIONI 1. Procedimento per produrre componenti elettronici (10) comprendenti almeno un circuito (12) con almeno un bump (18) per fornire un collegamento (20) per il circuito (12), detto bump (18) estendendosi in una direzione longitudinale del bump (18), il procedimento comprendendo produrre detto almeno un bump (18) con almeno una sporgenza che si estende in allontanamento da detta direzione longitudinale.
- 2. Procedimento secondo la rivendicazione 1, comprendente produrre detta almeno una sporgenza in un solo pezzo con detto almeno un bump (18).
- 3. Procedimento secondo la rivendicazione 1 o la rivendicazione 2, comprendente produrre detto almeno un bump (18) con una forma simile a fungo o a T, con una testa allargata che sporge trasversalmente rispetto a detta direzione longitudinale per fornire una pluralit? di posizioni di collegamento (20a).
- 4. Procedimento secondo la rivendicazione 1 o la rivendicazione 2, comprendente produrre detto almeno un bump (18) con una forma non lineare comprendente una porzione flessibile incurvata, preferibilmente a forma di V, che sporge almeno marginalmente in allontanamento da detta direzione longitudinale.
- 5. Procedimento secondo la rivendicazione 1 o la rivendicazione 2, comprendente produrre detto almeno un bump (18) con una sporgenza (18a) laterale, preferibilmente a sbalzo, configurata per fare contatto con una sonda di test (TP).
- 6. Procedimento secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, comprendente produrre detto almeno un bump (18) tramite stampa in 3D.
- 7. Procedimento secondo la rivendicazione 6, comprendente provvedere detto circuito (12) di almeno un pad di circuito elettricamente conduttivo (12) e far crescere detto almeno un bump (18) tramite stampa in 3D su almeno un pad del circuito (12).
- 8. Procedimento secondo la rivendicazione 6 o la rivendicazione 7, comprendente produrre detto almeno un bump (18) stampando in 3D almeno un materiale scelto tra rame, nichel e stagno.
- 9. Componente elettronico (10), preferibilmente circuito integrato, comprendente almeno un bump (18) prodotto con il procedimento secondo una qualsiasi delle rivendicazioni da 1 a 8.
- 10. Prodotto informatico caricabile nella memoria di un elaboratore per pilotare un?apparecchiatura di stampa in 3D e comprendente porzioni di codice software per eseguire le fasi del procedimento secondo una qualsiasi delle rivendicazioni da 6 a 8 quando il prodotto ? eseguito su un tale elaboratore.
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|---|---|---|---|---|
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| US20230005870A1 (en) * | 2021-07-01 | 2023-01-05 | Macom Technology Solutions Holdings, Inc. | 3d printed interconnects and resonators for semiconductor devices |
| DE102021209486A1 (de) * | 2021-08-30 | 2023-03-02 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Elektronikanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2622741A1 (fr) * | 1987-11-04 | 1989-05-05 | Nec Corp | Structure pour connexion de substrats a coefficients de dilatation thermique differents |
| US5998864A (en) * | 1995-05-26 | 1999-12-07 | Formfactor, Inc. | Stacking semiconductor devices, particularly memory chips |
| US6207549B1 (en) * | 1996-10-01 | 2001-03-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of forming a ball bond using a bonding capillary |
| US20020171133A1 (en) * | 2000-06-20 | 2002-11-21 | Sammy Mok | Systems for testing and packaging integrated circuits |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5506756A (en) * | 1994-01-25 | 1996-04-09 | Intel Corporation | Tape BGA package die-up/die down |
| JP3213292B2 (ja) * | 1999-07-12 | 2001-10-02 | ソニーケミカル株式会社 | 多層基板、及びモジュール |
| US6610591B1 (en) * | 2000-08-25 | 2003-08-26 | Micron Technology, Inc. | Methods of ball grid array |
| US6703069B1 (en) * | 2002-09-30 | 2004-03-09 | Intel Corporation | Under bump metallurgy for lead-tin bump over copper pad |
| JP4050732B2 (ja) * | 2004-08-30 | 2008-02-20 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置およびその製造方法 |
| US7517787B2 (en) * | 2005-03-22 | 2009-04-14 | Intel Corporation | C4 joint reliability |
| US7371673B2 (en) * | 2005-05-17 | 2008-05-13 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for attaching an IC package to a PCB assembly |
| US20070085220A1 (en) * | 2005-10-19 | 2007-04-19 | Hortaleza Edgardo R | Re-enforced ball-grid array packages for semiconductor products |
| JP5366674B2 (ja) * | 2008-06-27 | 2013-12-11 | パナソニック株式会社 | 実装構造体および実装方法 |
| US7909621B1 (en) * | 2010-01-05 | 2011-03-22 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Socket connector having contact terminal tail with split solder ball retained thereon and method fabricating the same |
| US8237274B1 (en) * | 2010-05-13 | 2012-08-07 | Xilinx, Inc. | Integrated circuit package with redundant micro-bumps |
| JP2012191123A (ja) * | 2011-03-14 | 2012-10-04 | Renesas Electronics Corp | 半導体集積回路装置およびその製造方法ならびにそれを用いた電子システム |
| KR20130044050A (ko) * | 2011-10-21 | 2013-05-02 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 패키지 및 적층 반도체 패키지 |
| US9935028B2 (en) * | 2013-03-05 | 2018-04-03 | Global Circuit Innovations Incorporated | Method and apparatus for printing integrated circuit bond connections |
| US9401338B2 (en) * | 2012-11-29 | 2016-07-26 | Freescale Semiconductor, Inc. | Electronic devices with embedded die interconnect structures, and methods of manufacture thereof |
| US8937009B2 (en) * | 2013-04-25 | 2015-01-20 | International Business Machines Corporation | Far back end of the line metallization method and structures |
| US9786633B2 (en) * | 2014-04-23 | 2017-10-10 | Massachusetts Institute Of Technology | Interconnect structures for fine pitch assembly of semiconductor structures and related techniques |
| US20170333941A1 (en) * | 2014-10-28 | 2017-11-23 | President And Fellows Of Harvard College | High energy efficiency phase change device using convex surface features |
-
2015
- 2015-04-24 IT ITTO2015A000229A patent/ITTO20150229A1/it unknown
- 2015-12-28 US US14/980,616 patent/US20160315059A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2622741A1 (fr) * | 1987-11-04 | 1989-05-05 | Nec Corp | Structure pour connexion de substrats a coefficients de dilatation thermique differents |
| US5998864A (en) * | 1995-05-26 | 1999-12-07 | Formfactor, Inc. | Stacking semiconductor devices, particularly memory chips |
| US6207549B1 (en) * | 1996-10-01 | 2001-03-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of forming a ball bond using a bonding capillary |
| US20020171133A1 (en) * | 2000-06-20 | 2002-11-21 | Sammy Mok | Systems for testing and packaging integrated circuits |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| JACOB A. SADIE ET AL: "Three-Dimensional Inkjet-Printed Interconnects using Functional Metallic Nanoparticle Inks", ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS, vol. 24, no. 43, 11 November 2014 (2014-11-11), DE, pages 6834 - 6842, XP055245039, ISSN: 1616-301X, DOI: 10.1002/adfm.201401312 * |
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