ITTO970158A1 - Attrezzatura per la traslazione di segnali con spine cieche per l'ap- plicazione di forza. - Google Patents
Attrezzatura per la traslazione di segnali con spine cieche per l'ap- plicazione di forza. Download PDFInfo
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Description
Descrizione dell’invenzione industriale dal titolo: "Attrezzatura per la traslazione di segnali con spine cieche,per l'applicazione di forza".
Campo dell'invenzione
La presente invenzione riguarda il collaudo automatico di schede a circuiti stampati nudi, e, più particolarmente, riguarda un'attrezzatura per la traslazione di segnali per traslarè segnali, di prova da una scheda sotto esame ad una configurazione di sonde di prova in un tester, in cui l'attrezzatura possiede spine di traslazione cieche per contrastare la forza applicata con le spine di prova che contattano la scheda a circuiti stampati .
Sfondo dell'invenzione
Le attrezzature di collaudo automatico per controllare le schede a circuiti stampati hanno a lungo implicato l'impiego di una cosiddetta attrezzatura di prova a "letto di chiodi" in cui la scheda circuitale viene montata durante la prova. Questa attrezzatura di prova include un gran numero di sonde di prova caricate a molla simili a chiodi predisposte per costituire un contatto elettrico sotto la pressione della molla con designati punti di prova sulla scheda circuitale sotto esame, denominata anche unità sotto esame o "UUT". Qualsiasi particolare circuito tracciato su una scheda a circuiti integrati è verosimilmente differente da altri circuiti e, conseguentemente, il letto della disposizione di chiodi per contattare i punti di prova nella scheda deve venire realizzato su misura per quella particolare scheda circuitale. Quando il circuito che deve venire collaudato è progettato, viene selezionata una configurazione di punti di prova che devono venire utilizzati per controllarlo, e viene configurata una corrispendente serie di sonde di prova nell'attrezzatura di prova. Ciò implica tipicamente la trapanazione di una configurazione di fori i_n una piastra di sondaggio per l'accoppiamento con la serie realizzata su misura di sonde di prova e poi l'inserimento delle sonde di prova nei fori trapanati sulla piastra di prova. La scheda circuitale viene poi montata nell 'attrezzatura sovrapposta alla serie di sonde di prova. Durante la prova, le sonde caricate a molla vengono condotte nel contatto a pressione del.la molla con i punti di prova sulla scheda circuitale sotto esame. I segnali elettrici di prova vengono poi trasferiti dalla scheda alle sonde di prova e poi all'esterno dell'attrezzatura per la comunicazione con un analizzatore di prova elettronico ad alta velocità che rivela la continuità o l'assenza di continuità tra i vari punti di prova nei circuiti sulla scheda.
Sono stati utilizzati vari approcci in passato per condurre le sonde di prova e la scheda circuitale sotto esame nel contatto di pressione per .il collaudo. Una classe di queste attrezzature consiste di una "attrezzatura di prova cablata" in cui le sonde di prova sono singolarmente cablate con contatti d'interfaccia separati per l'impiego nella trasmissione dei segnali di prova dalle sonde all'analizzatore di prova esterno elettronicamente controllato. ..Queste attrezzature cablate vengono sovente denominate "attrezzature di prova a depressione" poiché viene applicata una depressione all'interno del corpo dell'attrezzatura di prova durante il collaudo per comprimere la scheda circuitale nel contatto con le sonde di prova. Le attrezzature di prova cablate realizzate su misura di simile struttura possono anche venire fabbricate uti.lizzando mezzi meccanici diversi dalla depressione per applicare la forza elastica necessaria per comprimere là scheda nel contatto con le sonde durante il collaudo.
L'avvolgimento del filo nudo o un'altra connessione delle sonde di prova, delle spine d'interfaccia e delie spine di trasferimento per l'impiego nell'attrezzatura di prova cablata possono richiedere tempo. Tuttavia, le attrezzature di prova cablate realizzate su misura sono particolarmente utili nel collaudo delle schede circuitali con disposizioni complesse di punti di prova e delle schede con basso volume di produzione dove gli analizzatori di prova elettronici più grandi e più complessi e costosi non sono pratici.
Com'è menzionato in precedenza, le attrezzature di prova cablate realizzate su misura costituiscono una classe delle attrezzature per la trasmissione di segnali dall'attrezzatura a tester circuitale esterno. Un'ulteriore classe di attrezzature di prova consiste delle cosiddette attrezzature di prova "dedicate", anche note come "attrezzature del tipo a griglia", in cui la configurazione casuale dei punti di prova sulla scheda viene contattata mediante spine di traslazione che trasferiscono i segnali alle spine d'interfaccia disposte in una configurazione a griglia in un ricevitore. In questi tester del tipo a griglia, l'attrezzatura è generalmente meno complessa e più semplice rispetto alle attrezzature di prova cablate realizzate su misura.
Una tipica attrezzatura dedicata oppure a griglia contiene un'elettronica di prova con un enorme numero di commutatori che collegano le sonde di prova in una base a griglia ai córrispondenti circuiti di prova nell'analizzatore di prova elettronico. In una forma di realizzazione di un tester a griglia vengono impiegati fino a 40,000 commutatori. Quando viene collaudata una piastra nuda su un tale tester, l'attrezzatura per la traslazione di segnali sostiene le spine di traslazione che conseguono la comunicazione tra la configurazione a griglia delle sonde di prova della base a griglia e la configurazione esterna alla griglia dei punti di prova sulla scheda sotto esame. In un'attrezzatura secondo la tecnica nota vengono utilizzate le cosiddette "spine inclinabili" come spine di traslazione. Le spine inclinabili sono spine piene rettilinee montate in corrispendenti fori preventivamente trapanati nelle piastre di traslazione che costituiscono parte dell'attrezzatura per la traslazione di segnali. Le spine inclinabili possono inclinarsi con varie orientazioni tridimensionali per traslare segnali di prova separati dalla configurazione casuale esterna alla griglia dei punti di prova sulla scheda alla configurazione a griglia delle sonde di prova nella base a griglia.
In passato, le attrezzature di traslazione venivano costruite e assemblate con una pluralità di piastre di traslazione realizzate da un materiale plastico come il Lexan. Le piastre di traslazione vengono impilate nell'attrezzatura tra corrispondenti serie di distanziatori reciprocamente verticalmente allineati in modo da formare "isolatori a cappe" distanziati attorno alla periferia dell'attrezzatura. I distanziatori mantengono le piastre di traslazione in posizione fissa verticalmente reciprocamente distanziate e ragionevolmente reciprocamente parallele. Le piastre di traslazione a ciascun livello dell'attrezzatura presentano configurazione preventivamente trapanate di fori di allineamento che controllano la posizione di ciascuna spina inclinabile nell'attrezzatura per la traslazione di segnaii .
Tipicamente, il tester a griglia include un'attrezzatura di traslazione basale posizionata su una base a griglia ed una seconda o attrezzatura di traslazione sommitale posizionata su una base a griglia separata situata sopra l 'attrezzatura basale. L'attrezzatura sommitale è invertita sopra l'attrezzatura basale in modo tale che la scheda a circuiti stampati sotto esame sia inserita tra le piastre sommitali delle attrezzature sommitale e basale. L'attrezzatura di traslazione sommitale include gli stessi componenti come l'attrezzatura basale così che i punti di prova della superficie sommitale della scheda a circuiti stampati vengono verificati mediante l’attrezzatura sommitale e i punti di prova sulla superficie basale della scheda a circuiti stampati vengono simultaneamente verificati mediante 1'attrezzatura basale. Entrambe le serie di dati di prova vengono interpretate mediante un singolo analizzatore di prova elettronico.
In questa disposizione si verifica un inconveniente quando ricorre uno squilibrio nella densità delle spine di prova su una faccia della scheda a circuiti stampati per via delle posizioni degli elementi di connessione di prova. Ad esempio, la superficie sommitale della particolare scheda circuitale sotto esame può non presentare alcun punto di prova al centro della scheda circuitale. Le spine di prova contattano gli elementi di connessione di prova sulla scheda sotto pressione al centro della superficie inferiore, e per via dell'assenza della forza contraria dell'attrezzatura sommitale, la scheda a circuiti stampati viene piegata verso l'alto durante, la prova, cosa che può danneggiare l'unità sotto esame. Ciascuna spina di traslazione applica una forza di approssimativamente 6 fino a Θ once, che moltiplicata per il numero di-spine concentrate in una piccola area dell'unità sotto esame può creare una forza incontrastata fino a 500 libbre.
Per risolvere questo inconveniente, sono stati incorporati gli isolatori nella sezione centrale dell'attrezzatura corrispondente all'area dove nessun punto di contatto contatta gli elementi di connessione di prova. Tuttavia, questo tentativo si è dimostrato infruttuoso conseguendo non soltanto la flessione continuata della scheda a circuiti stampati, ma la flessione dell'intera attrezzatura sommitale, risultante nel danneggiamento sia della scheda circuitale che dell'attrezzatura di prova. Precisi dati di prova sono difficili da ottenere quando l'unità sotto esame e/o l'attrezzatura di prova si stanno flettendo.
Conseguentemente, esiste la necessità di un progetto per l'attrezzatura di prova che conferisce una certa forza contraria all'unità sotto esame in posizioni della scheda dove un significativo numero di elementi di connessione di prova sono situati soltanto su una superficie.
Compendio dell'invenzione
In breve, una forma di realizzazione della presente invenzione comprende un’attrezzatura,per la traslazione di segnali per un tester di schede a circuiti stampati del tipo avente una configurazione di sonde di prova su una base sul l a qual e è montata l ' attrezzatura per l a trasl azi one di segnali. L'attrezzatura del tester include sia un'attrezzatura sommitale che un'attrezzatura basale in cui l'attrezzatura sommitale è invertita sopra 11attrezzatura basale. Ciascuna attrezzatura per la traslazione di segnali comprende una pluralità di piastre di traslazione rigide sostanzialmente parallele e verticalmente distanziate aventi prestabilite configurazioni di fori preventivamente trapanati per sostenere le spine ‘di traslazione allo scopo di contattare i punti di prova sulla scheda a circuiti stampati sostenuta tra le attrezzature di traslazione sommitale e basale. Le spine di traslazione trasferiscono i segnali elettrici di prova tra i punti di prova sulla scheda a circuiti stampati e le sonde di prova nella base a griglia del tester.
In una forma di realizzazione, ciascuna attrezzatura per la traslazione di segnali include una pluralità di torri impilate di piastre di traslazione distanziate di identica struttura per sostenere le piastre di traslazione nelle .loro posizioni fissate, nell'attrezzatura per la traslazione di segnali. Ciascuna torre impilata presenta superfici di supporto per le piastre di traslazione Rer montare le piastre di traslazione a differenti livelli al'interno dell'attrezzatura. Ciascuna piastra di traslazione ha una specifica configurazione di fori preventivamente trapanati per accogliere le spine di traslazione utilizzate durante la prova. Le torri impilate mantengono le piastre ai vari livelli all'interno dell'attrezzatura con estrema precisione di parallelismo.
La piastra di traslazione sommitale dell'una e dell'altra attrezzatura per la traslazione di segnali, a seconda delle specifiche richieste dell'unità sotto esame, presenta un certo numero di fori ciechi trapanati nella piastra sommitale nelle posizioni corrispendenti alle posizioni in cui i punti di prova sulla faccia opposta della scheda circuitale vengono testati ed una forza incontrastata viene applicata mediante le spine di traslazione nella piastra di traslazione contenente i fori ciechi. I fori ciechi non vengono completamente trapanati attraverso la piastra sommitale ed essi ricevono le spine di traslazione cieche per applicare una certa forza contrastante alla scheda circuitale allo scopo di impedire l a flessione della scheda circuitale e dei componenti del l ' attrezzatura. I fori ci echi sono posi zi onati nella piastra sommitale e le spine di traslazione cieche contenute nei fori ciechi sono predisposte per applicare una certa forza di distribuzione alla scheda circuitale in aree prive di elementi di connessione di prova per contrastare la forza applicata agli elementi di connessione di prova sulla faccia opposta della scheda circuitale.
Ne consegue che, le forze contrastanti applicate durante la prova ritengono la scheda in una posizione piana fissa senza l'indebita flessione.
Questi ed altri aspetti dell'invenzione verranno più pienamente compresi facendo riferimento alla seguente descrizione dettagliata ed ai disegni al1egati .
Breve descrizione dei disegni
La FIGURA 1 è uno schema a blocchi semplificato che mostra i componenti di un tester dedicato o del tipo a griglia e di un'attrezzatura per,· traslazione di segnali costruiti e assemblati secondo i principi della presente invenzione;
la FIGURA 2 è una vista semischematica in elevazione che mostra un'attrezzatura per la traslazione di segnali costruita e assemblata secondo i principi della presente invenzione; e
la FIGURA 3 è una vista laterale frammentaria dell'attrezzatura della FIGURA 2 che mostra in dettaglio la disposizione di un foro e una spina ciechi.
Descrizione dettagliata
Riferendosi allo schema a blocchi semplificato della FIGURA 1, un tester per schede a circuiti stampati del tipo a griglia include una base a griglia 10 avente una serie di sonde di prova caricate a molla 12 disposte su una configurazione a griglia bidimensionale. Le sonde di prova schematicamente mostrate nella FIGURA 1 includono preferibi1mente una serie ortogonale di righe e colonne uniformemente distanziate di sonde di prova che possono essere allineate, ad esempio, su centri di 100 millesimi di pollice. I pistoncini caricati a molla delle sonde di prova 12 sporgono oltre la superficie della base a griglia uniformemente ^attraverso la serie di sonde. Un'attrézzatura ,per la traslazione di segnali 14 sostiene una scheda a circuiti stampati 16 sotto esame (denominata anche "unità sotto esame" oppure "UUT"). L'attrézzatura per la traslazione di segnali serve come interfaccia tra la serie di punti di prova 18 sulla scheda sotto esame e le sonde di prova 12 nella base a griglia 10. Sebbene nella FIGURA 1 vengano mostrate soltanto un’attrezzatura di traslazione basale e una base a griglia, va da sè che esistono anche un'attrezzatura di traslazione sommitale ed una base a griglia com'è descritto più dettagliatamente nel seguito. Un analizzatore di prova elettronico esterno 20 è elettricamente connesso ai punti di prova nella scheda sotto esame attraverso le spine di prova nell'attrezzatura per la traslazione di segnali. Queste spine di prova (delle quali ve ne possono essere numerosi tipi) sona generalmente indicate dal numero 22.
L'analizzatore di prova 20 contiene circuiti di interrogazione elettronici per interrogare elettronicamente i separati punti di prova 18 della scheda sotto esame allo scopo di determinare se esiste o meno una connessione elettrica tra due qualsiasi dati punti di prova. Le connessioni elettriche rivelate tra i punti di prova della scheda testata vengono elettronicamente confrontate con risultati di riferimento memorizzati ottenuti dalla precedente interrogazione dei punti di prova di una scheda campione a circuiti stampati senza difetti. La scheda testata è buona se i risultati della prova coincidono con i risultati di riferimento memorizzati, ma se esiste qualsiasi inconveniente nei circuiti sulla schedaj l'inconveniente viene rivelato dai risultati della prova e la scheda difettosa può quindi venire separata dalle schede buone.
In una forma di reaiizzazione, i circuiti elettronici di interrogazione comprendono una pluralità di piastre a circuiti stampati (talvolta denominate "switch card") aventi componenti elettronici e circuiti stampati per eseguire .la verifica elettronica. Ciascuna sonda di prova utilizzata nella procedura di prova è rappresentata come accoppiata all'elettronica di prova attraverso un corrispondente commutatore 24 che porta all'analizzatore di prova. In un dato tester del tipo a griglia, possono essere presenti fino a 40,000 commutatori disponibili per la verifica dei vari punti di prova nella scheda sotto esame.
L'attrezzatura per la traslazione di segnali' 14 include una serie di piastre di traslazione verticalmente distanziate e parallele che possono comprendere una piastra sommitale 26, una piastra superiore 28 brevemente distanziata dalla piastra sommitale, una piastra inferiore 30 approssimativamente ad un livello intermedio del1 <1>attrezzatura per la traslazione di segnali, ed una piastra basale 32 in corrispondenza della base dell'attrezzatura per la traslazione di segnali. Le piastre di traslazione sono sostenute in posizioni parallele verticalmente distanziate mediante montanti a gradini 35 (denominati anche torri di impilamento) che mantengono l'attrezzatura insieme come un'unità rigida. La FIGURA 1 mostra l'impiego di quattro piastre di traslazione nel1'attrezzatura di traslazione; vengono comunemente utilizzate e sono più dettagliatamente descritte nel seguito un numero maggiore di piastre di traslazione. Le torri di impilamento 35 sono inoltre schematicamente mostrate nella FIGURA 1 e sono più dettagliatamente mostrate nella FIGURA 2. In una forma di realizzazione, l'attrezzatura per la traslazione di segnali comprende un'attrezzatura venduta col nome commerciale di "ValuGrid" dalla Everett Charles Technologies, 1'assegnataria della presente domanda.
L'attrezzatura per la traslazione di segnali include una serie di spine,di traslazione standard come spine inclinabili (rappresentate schematicamente in corrispondenza del numero 22) che attraversano le piastre di traslazione 26, 28, 30 e 32. Per semplicità, la FIGURA 1 mostra soltanto alcune delle spine di traslazione standard. Le spine inclinabili che attraversano la piastra basale 32 dell'attrezzatura per la traslazione di segnali sono in allineamento con la configurazione a griglia delle sonde di prova 12 nella base a griglia 10. Le porzioni sommitali delle spine inclinabili, che attraversano la piastra sommitale 26, sono allineate in una configurazione esterna alla griglia per accoppiarsi con la configurazione casuale dei punti di prova 18 sull'UUT. In tal modo, le spine di prova possono venire leggermente inclinate con varie orientazioni tridimensionali utilizzate per la traslazione tra la configurazione a griglia in corrispondenza della base e la configurazione esterna alla griglia in corrispondenza della sommità. Le spine inclinabili standard attraversano i fori passanti nella piastra basale, i fori passanti nelle piastre inferiore e superiore, e la configurazione di fori passanti nella piastra sommitale. I fori in ciascuna delle piastre di traslazione .vengono trapanati in configurazioni prevalentemente diagonali e le configurazioni di trapanatura vengono controllate mediante un software computerizzato standard secondo ben note procedure. Le spine di traslazione vengono ritenute nell'attrezzatura mediante un foglio elastomerico di ritenzione delle spine 34.
La FIGURA 2 mostra un'attrezzatura secondo i principi della presente invenzione che consiste di un'attrezzatura basale 36 e di un'attrezzatura sommitale 38. L'attrezzatura sommitale 38 è direttamente montata sull'attrezzatura basale 36 in una. disposizione invertita. Le attrezzature sommitale e.basale includono piastre di traslazione 42 che sono montate su torri di impilamento separate 44 di identica struttura posizionate attorno alla periferia delle attrezzature. La FIGURA 2 mostra una forma di realizzazione di un'attrezzatura in cui le attrezzature sommitale e basale possiedono ciascuna otto piastre di traslazione separate identificate, rispettivamente, dai numeri di riferimento 40a fino a 40h per 1 ' attrezzatura sommitale e 42a fino a 42h per l'attrezzatura basale. In - questa forma di realizzazione, dieci torri di· impilamento 44 sostengono le piastre di traslazione nell'attrezzatura. I fori di allineamento sono distanziati attorno alla periferia delle piastre di traslazione .per ricevere le torri di impi1amento che vengono bloccate in posto nella piastra di traslazione. La struttura specifica, l'allineamento, e la posizione delle torri di bloccaggio sono descritti in dettaglio nella domanda di brevetto statunitense del richiedente No. di serie 09/531,720, depositata il 21 Settembre, 1995, la cui descrizione viene qui incorporata con questo riferimento.
Durante l'uso, le piastre di traslazione sono impilate sulla sommità di ciascuna torre di impilamento in sequenza prestabilita. Le attrezzature di traslazione comprendono inoltre una pluralità di distanziatori di plastica stampata 46ché costituiscono montanti isolatori per sostenere ulteriormente le piastre di traslazione in allineamento parallelo.
Come si vede meglio nella FIGURA 3, ciascuna piastra di traslazione presenta una corrispendente configurazione unica di fori preventivamente trapanati 49 per ritenere le spine inclinabili 47 in corrispondenza del dati livello della attrezzatura per la traslazione di segnali. La FIGURA 3 illustra quella porzione dell'attrezzatura sommital e 38 e dell'attrezzatura basale 36 comprese nelle linee a trattini mostrate al centro della FIGURA 2. Più.specificatamente, la FIGURA 3 mostra fori 49a fino a 49f nella piastra sommitale 42a dell'attrezzatura basale 36, e nella piastra sommitale 40a dell'attrezzatura sommitale 38. Spine inclinabili 47a fino a 47f sono posizionate nei fori 49a fino a 49f per contattare elementi di connessione di prova 50a fino a 50f sulle superfici superiore e inferiore della scheda a circuiti stampati 16. Le sonde di prova caricate a molla 12 (FIGURA 2) producono una certa forza sulle spine inclinabili 47a fino a 47f per il contatto elettrico con gli elementi di connessione di prova 50a fino a 50f.
Fori ciechi 52a fino a 52d sono trapanati nella piastra sommitale 40a dell’attrezzatura sommitale, sopra la regione della scheda a circuiti stampati 16 dove non sono situati elementi di connessione di prova. I fori ciechi 52a fino a 52d sono verticalmente allineati con i corrispondenti elementi di connessione di prova 50c fino a 50f situati nella piastra sommitale 42a del1’attrezzatura basale. Le spine cieche 54a fino a 54f sono posizionate nei fori ciechi 52a fino a 52d per applicare le forze contrastanti le forze applicate dalle spine inclinabili 47c fino a 47f che sono posizionate nell'attrezzatura basale in contatto con gli elementi di connessione di prova 50c fino a 50f. Le spine cieche 54a fino a 54d sono in contatto non elettrico con la scheda a circuiti stampati poiché i fori ciechi 52a fino a 52d non sono interamente trapanati attraverso la piastra sommitale 40a, lasciando uno strato di materiale plastico elettroisolante spesso approssimativamente 15 fino a 20 millesimi di pollice tra i fori e l'unità sotto esame. Lo strato 56 presenta una faccia basale piatta continua con la faccia basale della piastra di traslazione 40a per il contatto con l'UUT. Le spine cieche 54 sono preferibilmente in contatto non elettrico con la scheda a circuiti stampati per impedire l'eventualità di danneggiare l'unità sotto esame. La forza contrastante delle spine cieche viene applicata mediante le sonde di prova caricate a molla 12 del 1'attrezzatura sommitale 38. In alternativa, i fori ciechi possono attraversare interamente la piastra sommitale e spine inclinabili ottuse possono venire utilizzate per applicare la forza contrastante.
Com'è meglio mostrato nella FIGURA 3, le spine cieche sono spine piene rettilinee della stessa dimensione e configurazione come le spine di traslazione. _ Pertanto, i diametri dei fori ciechi possono essere gli stessi come i diametri dei fori passanti standard per le spine di traslazione. Le spine cieche sono preferibilmente verticalmente allineate nell'attrezzatura, al contrario delle spine di traslazione che possono essere spine inclinabili posizionate in una qualsiasi delle date orientazioni tridimensionali.
Il software dell'attrezzatura è progettato per riconoscere la posizione delle spine cieche che sporgono dall'attrezzatura in corrispondenza delle sonde di prova 15 fino a 20 millesimi di pollice più alte delle spine inclinabili che contattano gli elementi di connessione di prova. Il software è programmato in modo tale che le sonde di prova che contattano le spine cieche compensino la pressione applicata dalle sonde dovuta alla differenza di altezza per le spine cieche, così che le pressioni applicate su entrambe le facce della scheda sono sostanzialmente,uniformi. Tuttavia, il software del sistema è progettato in modo tale che i segnali elettrici di prova non vengano applicati alle spine cieche.
Va da sè che, sebbene l'invenzione sia stata descritta riguardo alla superficie superiore di una scheda a circuiti stampati avente un'area senza elementi di connessione di prova, la disposizione a foro e spina ciechi può venire incorporata nell'una o nell'altra piastra sommitale dell'attrezzatura sommitale o basale per compensare lo squilibrio della forza della spina inclinabile dovuto alla densità degli elementi di contatto di prova su una qualsiasi data superficie dell'unità sotto esame.
Claims (15)
- RIVENDICAZIONI 1. Attrezzatura per la traslazione di segnali per un tester di schede a circuiti stampati avente una configurazione di sonde di prova su una base sulla quale è montata l'attrezzatura per la traslazione di segnali, l'attrezzatura per la traslazione di segnali comprendendo: una pluralità di piastre di traslazione rigide sostanzialmente parallele e verticalmente distanziate sostenute in una posizione fissa nell'attrezzatura per la traslazione di segnali éd aventi conf igurazioni prescelte di fori allineati nelle piastre di traslazione per contenere e sostenere spine di traslazione estendentisi attraverso le piastre di traslazione e per posizionare le spine di traslazione allo scopo di contattare punti di prova sotto pressione su una scheda a circuiti stampati sostenuta in una posizione sostanzialmente orizzontale adiacente ad una piastra di traslazione superiore dell'attrezzatura per la traslazione di segnali, le spine di traslazione traslando segnali elettrici di prova tra i punti di prova sulla scheda a circuiti stampati e le sonde di prova sulla base del tester; uno o più fori ciechi nella piastra di traslazione superiore per l’allineamento con una regione della scheda a circuiti stampati dove non è situato alcun punto di prova, ciascun foro cieco estendendosi soltanto attraverso una porzione dello spessore della piastra di traslazione superiore di modo che la restante porzione della piastra di traslazione in allineamento con il foro cieco si trova in contatto non elettrico con detta regione della scheda circuitale; e gna spina cieca separata estendentesi attraverso le piastre di traslazione dell'attrezzatura e in ciascun foro cieco nella piastra di traslazione superiore, per applicare una forza equilibratrice alla scheda a circuiti stampati in risposta alla pressione applicata sull'altra faccia della scheda opposta alla regione non contenente alcun punto di pròva.
- 2. Attrezzatura per la traslazione di segnali secondo la rivendicazione 1, in cui la restante porzione non conduttiva di ciascun foro cieco* ha uno spessore compreso nell'intervallo da circa 15 a circa 20 millesimi di pollice.
- 3. Attrezzatura per la ,traslazione di segnali secondo la rivendicazione 1, in cui le spine cieche comprendono spine piene rettilinee di dimensione e configurazione simile alle spine di traslazione.
- 4. Attrezzatura per la traslazione di segnali per un tester di schede a circuiti stampati del tipo avente una configurazione di sonde di prova su una base sulla quale è montata l'attrezzatura per la traslazione di segnali, l'attrezzatura per la traslazione di segnali comprendendo: un'attrezzatura di traslazione basale; un'attrezzatura di traslazione sommitale assialmente allineata in posizione invertita sopra l'attrezzatura di traslazione basale; ciascuna attrezzatura di traslazione sommitale e basale comprendendo una pluralità di piastre di traslazione rigide sostanzialmente parallele e verticalmente distanziate sostenute in posizione fissa ed aventi prescelte configurazioni di fori allineati nelle piastre di traslazione per contattare e sostenere le spine di traslazione che attraversano le piastre di traslazione e posizionare le spine di traslazione per contattare punti di prova sotto pressione sulle superfici sommitale e basale di una scheda a circuiti stampati sostenuta in pqsizione sostanzialmente orizzontale, rispettivamente, tra la ppiastra sommital e dell'attrezzatura sommitale e la piastra sommitale dell'attrezzatura basale, le spine traslando segnali elettrici di prova tra i punti di prova sulla scheda a circuiti stampati e le sonde di prova alla base del tester; e spine cieche di prova che si estendono attraverso le piastre di traslazione in una delle attrezzature per la traslazione di segnali e nei corrispendenti fori ciechi della piastra di traslazione superiore adiacente alla scheda circuitale per applicare non elettricamente una forza equilibratrice alla regione della scheda circuitale non contenente alcun punto di prova sulla faccia della scheda contraria alla forza applicata ai punti di prova sulla scheda dalle spine di traslazione nell'altra attrezzatura per la traslazione di segnali.
- 5. Attrezzatura secondo la rivendicazione 4, in cui il foro cieco si estende parzialmente attraverso la piastra di traslazione superiore definendo uno strato di materiale non conduttivo nella piastra sommitale tra il foro cieco e la.scheda a circuiti stampati.
- 6. Attrezzatura secondo 1a^rivendicazione 5, in cui lo strato ha uno spessore compreso nell'intervallo da circa 15 a circa 20 millesimi di pollice.
- 7. Attrezzatura secondo la rivendicazione 4, in cui le spine cieche comprendono spine piene rettilinee simili in dimensione e configurazione alle spine di traslazione.
- 8. Attrezzatura per la traslazione di segnali per un tester di schede a circuiti stampati del tipo avente una configurazione di sonde di prova su una base sulla quale è montata 1'attrezzatura per la traslazione di segnali, l'attrezzatura per la traslazione di segnali comprendendo: un'attrezzatura basale; un 'attrezzatura sommitale assialmente allineata in posizione invertita sopra l'attrezzatura basale, ciascuna attrezzatura basale e attrezzatura sommitale essendo montata su una base separata; ciascuna attrezzatura sommitale e basale comprendendo una pluralità di piastre di traslazione rigide sostanzialmente parallele e verticalmente distanziate sostenute in posizione fissa ed aventi prescelte configurazioni di fori allineati nelle piastre di traslazione per contenere e sostenere le spine di traslazione che attraversano le piastre di traslazione e posizionare le spine di traslazione per contattare punti di prova sotto pressione su una scheda a circuiti stampati sostenuta in posizione sostanzialmente orizzontale tra la piastra sommital e dell'attrezzatura sommitale e la piastra sommitale dell'attrezzatura basale, le spine traslando segnali elettrici di prova tra i punti di prova sulla scheda a circuiti stampati e le sonde di prova alla base del tester; e una pluralità di spine cieche di prova situate all'interno dei fori ciechi nell'attrezzatura sommitale adiacente alla scheda a circuiti stampati in corrispondenza di una posizione sulla scheda dove non è situato alcun punto di prova, le spine cieche essendo assialmente allineate con le spine di traslazione che traslano i segnali elettrici di prova tra i punti di prova sulla scheda a circuiti stampati .
- 9. Attrezzatura secondo la rivendicazione 8, in cui i fori ciechi si estendono sostanzialmente attraverso la piastra sommitale definendo uno strato nella piastra sommitale tra il foro cieco e la scheda a circuiti stampati.
- 10. Attrezzatura secondo la rivendicazione 9, in cui lo strato ha uno spessore compreso nell’intervallo da circa 15 a circa 20 millesimi di pollice.
- 11. Attrezzatura per la traslazione di segnali per montare una scheda a circuiti stampati in un tester per schede a circuiti stampati in modo tale che la configurazione delle sonde di prova nel tester sia elettricamente connessa ai punti di prova sulla scheda a circuiti stampati per mezzo di spine di traslazione montate del1'attrezzatura per la traslazione di segnali tra i punti di prova sulla scheda e le sonde di prova nel tester, ed in cui la scheda a circuiti stampati sotto esame presenta una regione di bassa densità dei punti di prova e un'adiacente regione di densità dei punti di prova superiore sulla stessa faccia della scheda, l'attrezzatura per la traslazione di segnali comprendendo piastre di traslazione distanziate per montare le spine di traslazione nel1'attrezzatura, le spine di traslazione estendendosi attraverso le piastre di trasiazione.e costituendo un contatto elettrico con i corrispondenti punti di prova in detta regione di maggiore densità sulla scheda, 1'attrezzatura per la traslazione di segnali montando inoltre una pluralità di spine per contrastare la forza per costituire un contatto a pressione non· elettrico con la regione di bassa densità di punti di prova sulla scheda a circuiti stampati le spine per contrastare la forza avendo una distribuzione su detta regione di bassa densità dei punti di prova che controbilancia la distribuzione di forza superiore applicata alla regione di densità superiore dei punti di prova sulla stessa area bidimensionale sull'altra faccia della scheda.
- 12. Attrezzatura secondo la rivendicazione 11, in cui le spine per contrastare la forza sono verticalmente allineate con i punti di prova in detta regione di densità superiore dei punti di prova sulla faccia opposta della scheda.
- 13. Attrezzatura secondo la rivendicazione 11, in cui le spine di traslazione e le spine per contrastare la forza hanno sostanzialmente lo stesso diametro.
- 14. Attrezzatura secondo la rivendicazione 13, in cui le spine di traslazione e le spine per contrastare la forza sono spine piene rettilinee.
- 15. Attrezzatura secondo la rivendicazione 11,* in cui le spine per contrastare la forza si estendono attraverso le piastre di- traslazione del1'attrezzatura e nei corrispondenti fori ciechi della piastra di , traslazione superiore dell'attrezzatura che sono parzialmente trapanati attraverso lo spessore della piastra di traslazione superiore.
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