JP2000077297A - ウェハへのレチクルパターンの転写方法 - Google Patents

ウェハへのレチクルパターンの転写方法

Info

Publication number
JP2000077297A
JP2000077297A JP10243410A JP24341098A JP2000077297A JP 2000077297 A JP2000077297 A JP 2000077297A JP 10243410 A JP10243410 A JP 10243410A JP 24341098 A JP24341098 A JP 24341098A JP 2000077297 A JP2000077297 A JP 2000077297A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
reticle
reticle pattern
patterns
exposure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10243410A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuhiko Nakagawa
保彦 中川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP10243410A priority Critical patent/JP2000077297A/ja
Publication of JP2000077297A publication Critical patent/JP2000077297A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ウェハにレチクルパターンを転写する際の制御
を容易にし、しかもその作業の高速化も図ることができ
るようにする。 【解決手段】レチクル1に対向させたウェハ2をレチク
ル1に対して相対回転させながらウェハ2への露光を行
うことにより、複数のレチクルパターンをウェハ2の周
方向に配列させるようにしてウェハ2の表面に順次投影
する露光処理工程と、ウェハ2の表面のうち露光処理工
程によってレチクルパターンが投影されていない部分を
レチクル1に対向させるように、ウェハ2をレチクル1
に対して相対移動させる露光位置変更工程とを有してお
り、露光処理工程と露光位置変更工程とを複数回にわた
って交互に繰り返す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本願発明は、シリコンウェハなどのウェハ
の表面にレチクルパターンを露光処理によって転写する
ための技術に関する。
【0002】本願明細書でいうレチクルパターンとは、
レチクルに描画されたパターンを意味する。レチクルと
は、狭義には、ホトリピータの露光によってホトマスク
(マスタマスク)の製造に用いられる原板をいうが、本
願明細書でいうレチクルとは、ウェハステッパで用いら
れる露光用のマスクを意味する。
【0003】
【従来の技術】周知のとおり、シリコンウェハなどのウ
ェハの表面にレチクルパターンを転写するには、ステッ
パ(レンズ縮小投影型露光機)を利用するのが一般的で
ある。また、レチクルパターンの転写方式としては、一
括転写方式と、ステップ・アンド・リピート方式とがあ
る。前者の方式は、多数のレチクルパターンを一括して
ウェハの表面に転写するために作業の高速性には優れる
ものの、ステッパやレチクルが大掛かりとなり、設備コ
ストやレチクルの製造コストが非常に高価となる。そこ
で、一般的には、後者のステップ・アンド・リピート方
式が多用されている。
【0004】従来におけるステップ・アンド・リピート
方式によるレチクルパターンの転写方法は、図17
(a)に示すように、まず、ウェハ8を互いに直交する
X,Y方向に移動自在なステージ(図示略)上に載置
し、その表面に1つのレチクルパターン9aを転写す
る。その後は、同図(b)に示すように、ウェハ8をX
方向に一定ピッチずつステップ送りさせながら、そのス
テップ送りのたびに露光を行うことにより、第1列の複
数のレチクルパターン9a〜9dを転写する。次いで、
上記ウェハ8をY方向およびX方向に移動させてから、
先の第1列の場合と同様に、ウェハ8をやはりX方向に
一定ピッチずつステップ送りさせながら露光を行うこと
により、同図(c)に示すように、第2列の複数のレチ
クルパターン9e〜9jを転写する。以後は、上記と同
様にして、ウェハ8をY方向およびX方向に移動させな
がら、露光処理を繰り返す。すると、同図(d)に示す
ように、ウェハ8の表面には、複数のレチクルパターン
9を縦横に整列させて転写することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の手段では、円形状のウェハ8内においてレチクルパ
ターン9をX方向とY方向とに直線的に配列させるよう
にしているに過ぎない。このため、従来では、ウェハ8
の外部にレチクルパターン9をはみ出さないようにし
て、ウェハ8の表面上に多数のレチクルパターン9をス
ペース効率良く転写できるようにするためのウェハ8の
移動制御が煩雑なものとなっていた。また、従来では、
ウェハ8のステップ送りを全て直線的な移動により行わ
せているが、このような直線的な動作はウェハ8を極め
て高い精度で高速で位置決めするにはさほど適する動作
ではなく、作業の高速化の点おいても未だ改善すべき余
地があった。その他、従来では、レチクルパターン9の
外形を矩形状にしているが、このような形状では、ウェ
ハ8の周縁部においてレチクルパターン9を有効に転写
できない領域が広い面積で発生する場合が多く、ウェハ
8に多くの無駄が発生する場合もあった。
【0006】本願発明は、このような事情のもとで考え
出されたものであって、ウェハにレチクルパターンを転
写する際の制御を容易にし、しかもその作業の高速化も
図ることができるようにすることをその課題としてい
る。
【0007】
【発明の開示】上記の課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。
【0008】本願発明によって提供されるウェハへのレ
チクルパターンの転写方法は、レチクルに対向させたウ
ェハを上記レチクルに対して相対回転させながら上記ウ
ェハへの露光を行うことにより、複数のレチクルパター
ンを上記ウェハの周方向に配列させるようにして上記ウ
ェハの表面に順次投影する露光処理工程と、上記ウェハ
の表面のうち上記露光処理工程によってレチクルパター
ンが投影されていない部分を上記レチクルに対向させる
ように、上記ウェハを上記レチクルに対して相対移動さ
せる露光位置変更工程とを有しており、かつ上記露光処
理工程と露光位置変更工程とを複数回にわたって交互に
繰り返すことに特徴づけられる。
【0009】本願発明においては、1回目の露光処理工
程によってウェハの表面に複数のレチクルパターンをウ
ェハの周方向に並べるように投影することができ、その
後露光位置変更工程を経て2回目の露光処理工程を行う
と、上記1回目の露光処理工程ではレチクルパターンを
投影することができなかった領域に対して複数のレチク
ルパターンをウェハの周方向に並べるように投影するこ
とできる。したがって、露光処理工程と露光位置変更工
程とを複数回にわたって交互に繰り返すことによって、
ウェハの表面の広い領域に対して、複数のレチクルパタ
ーンを放射状に配列したかたちで適切に転写することが
できることとなる。
【0010】本願発明では、たとえばウェハの中心から
所定距離の一定領域にウェハの周方向に並ぶ複数のレチ
クルパターンを投影させた後には、その領域よりもウェ
ハの中心から遠く離れた外側領域あるいはウェハの中心
寄りの内側領域にウェハの周方向に並ぶ複数のレチクル
パターンを投影するといった工程を繰り返すことによっ
て、ウェハの周方向に並ぶレチクルパターンの投影領域
をウェハの半径方向に順次広げてゆくことができる。し
たがって、円形状のウェハの外部にレチクルパターンが
はみ出さないようにして、ウェハの表面の広い領域にレ
チクルパターンを多数転写させるためのウェハの移動制
御は、レチクルパターンを互いに直交するX,Yの2方
向に直線的に配列させていた従来の手段と比較すると、
かなり容易なものにできる。また、本願発明の露光処理
工程では、ウェハの回転動作によってウェハのステップ
送りを行えばよく、これはウェハを回転させるためのモ
ータの回転角度を制御することによって高速でかつ高精
度で行うことができる。したがって、ウェハを常に直線
的に移動させていた従来の手段よりも作業の高速化を図
ることも可能となる。
【0011】本願発明の好ましい実施の形態では、上記
レチクルパターンの外形は、2等辺三角形であり、上記
ウェハの表面には、2等辺三角形の頂角が上記ウェハの
中心側を向く複数のレチクルパターンと、それら複数の
レチクルパターンどうしの隙間を埋めるように2等辺三
角形の頂角が上記ウェハの外周縁側を向く複数のレチク
ルパターンとを投影させる構成とすることができる。
【0012】このような構成によれば、2等辺三角形の
頂角がウェハの中心側を向く複数のレチクルパターンが
投影された部分の間に、それらのレチクルパターンとは
逆三角形の向きとなっている複数のレチクルパターンを
有効に投影することができる。したがって、ウェハの表
面には多数のレチクルパターンを面積効率良く転写する
ことができる。また、レチクルパターンの外形を2等辺
三角形とすれば、ウェハの利用率が高まる効果も期待で
きる。すなわち、レチクルパターンの外形を矩形状にし
た場合においては、ウェハの外周縁部の狭い領域におい
てそのレチクルパターンを有効に転写することができな
くなる場合であっても、レチクルパターンの外形が2等
辺三角形であれば、そのようなスペースにおいてもレチ
クルパターンを有効に転写できる場合が多くあり、ウェ
ハの無駄を少なくできる可能性を高めることが可能とな
る。
【0013】本願発明の他の好ましい実施の形態では、
上記2等辺三角形の頂角αは、α=360/n1 〔°〕
である(ただし、n1 は3以上の自然数である)。
【0014】このような構成によれば、レチクルパター
ンの2等辺三角形の頂角αが、360°の角度を半端が
生じないように等分できる角度であるから、ウェハの中
心周り(すなわち、ウェハの中心部の360°の角度範
囲)に複数のレチクルパターンを放射状に並べるように
投影させる場合には、それら複数のレチクルパターンど
うしを互いに隙間が生じないように配列することができ
る。したがって、ウェハの表面に無駄なスペースが一層
生じないようにできる。
【0015】本願発明の他の好ましい実施の形態では、
上記2等辺三角形の長さが等しい二辺のそれぞれの投影
長さLは、L=R/n2 である(ただし、Rはウェハの
半径であり、n2 は2以上の自然数である)。
【0016】このような構成によれば、レチクルパター
ンの外形である2等辺三角形の二辺の投影長さLは、ウ
ェハの半径を半端が生じないように等分できる長さであ
るから、レチクルパターンをウェハの中心からウェハの
外周縁に向けて並べるように投影した場合には、上記ウ
ェハの半径を丁度複数に等分するように複数のレチクル
パターンをウェハの半径方向に並べることができる。し
たがって、ウェハの外周縁部分においてレチクルパター
ンの転写がなされない無駄なスペース領域が広い面積で
発生することを一層適切に防止することが可能となる。
【0017】本願発明のその他の特徴および利点につい
ては、次の発明の実施の形態の説明から、より明らかに
なるであろう。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図面を参照しつつ具体的に説明する。
【0019】図1は、ウェハへのレチクルパターンの転
写方法に用いられるステッパの概略構造を示す側面断面
図である。図2は、レチクルパターンの外形の一例を示
す平面図である。図3は、レチクルパターンの外形の他
の例を示す平面図である。
【0020】まず、図1に示すステッパAの概略の構成
から説明する。このステッパAは、ウェハ2を支持する
ステージ3の上方に、レチクル1とレンズ5とを配置し
た構造を有しており、上記レチクル1の上方には露光用
の光を発する光源(図示略)が設けられている。上記ス
テージ3は、ウェハ2の裏面をたとえば真空吸着するこ
とによってウェハ2を保持可能であり、互いに直交する
X,Yの水平方向(図4以降の各図に記載)に移動自在
であるとともに、このステージ3の中心線C周りに回転
自在である。このステッパAは、光源から発せられた光
をレチクル1のレチクルパターンPに通過させて、その
光をレンズ5を利用してウェハ2の表面に集束させるこ
とにより、ウェハ2の表面に上記レチクルパターンPの
縮小画像を投影し、その転写(焼き付け)が行えるよう
に構成されたものである。上記ウェハ2の表面には、レ
チクルパターンの転写を可能とするフォトレジスト層
(図示略)が予め形成されている。
【0021】上記レチクル1には、図2に示すように、
たとえば計4つのレチクルパターンP(Pa〜Pd)が
設けられている。これら4つのレチクルパターンPのそ
れぞれは、図3に示すように、それらの外形(全体の輪
郭)が、辺a,b,cを有する2等辺三角形とされてお
り、長さが等しい二辺a,bに挟まれた頂角αは、たと
えば45°とされている。また、上記二辺a,bのそれ
ぞれの長さL’は、上記レチクルパターンPをウェハ2
の表面に縮小投影したときの長さLが、ウェハ2の半径
Rを2以上の自然数によって割り切れる値となるように
設定されている。むろん、図面上は省略しているが、上
記2等辺三角形の内側には、電子回路やそれに付随する
配線部などを作製するためのパターンが作製されてい
る。
【0022】図2において、計4つのレチクルパターン
P(Pa〜Pd)は、これら全体の外形が1つのレチク
ルパターンPと相似した2等辺三角形となるように互い
に隣接し合って並べられている。このように、1つのレ
チクル1に計4つのレチクルパターンP(Pa〜Pd)
を設ければ、後述するように、1回の工程によって4つ
のレチクルパターンをウェハ表面に一括して転写するこ
とができ、転写作業能率を高めることができる。
【0023】次に、上記ステッパAを用いてウェハ2の
表面にレチクルパターンPを実際に転写する工程につい
て説明する。
【0024】ただし、内容の理解を容易にするため、上
記レチクル1には、図3で示したレチクルパターンPが
1つだけ設けられているものとして説明する。また、ウ
ェハ2のサイズも小さなものとして説明する。ウェハ2
は、たとえばシリコンからなる半導体ウェハであり、そ
の形状は、図4に示すように、平面視円形状である。ま
た、このウェハ2の中心Oはステージ3の回転中心と一
致するようにステージ3上に位置決めされている。この
ウェハ2の外周縁の一部には、ウェハ2の位置基準とな
る切欠部20が設けられている。
【0025】上記ウェハ2の表面にレチクルパターンP
を多数転写するには、まず1回目の露光処理工程を行
う。この工程では、図4に示すように、まずウェハ2の
表面に1番目のレチクルパターンP1 を投影する。この
1番目のレチクルパターンP1の投影は、2等辺三角形
の頂角部分の頂点をウェハ2の中心Oに一致させるよう
にして行う。その後は、ステージ3を回転させることに
より、ウェハ2を図4の矢印N1方向に45°ずつ間欠
的に回転させながら、その回転動作のたびにステッパA
による露光処理を行う。これにより、図5に示すよう
に、ウェハ2の中心Oの周りには、計8つのレチクルパ
ターンP1 〜P8 を放射状に並べて投影することができ
る。レチクルパターンP1 〜P8 のそれぞれは頂角αが
45°の2等辺三角形であるから、ウェハ2の中心Oの
周りには上記計8つのレチクルパターンP1 〜P8 を隙
間なく並べて投影することができ、それら全体の輪郭を
正八角形とすることができる。
【0026】次いで、1回目の露光位置変更工程を行
う。この工程は、図6に示すように、ステージ3をX,
Y方向に移動させることにより、レチクルパターンP8
に対向していたレチクル1がウェハ2に対して同図の矢
印N2方向に相対移動するようにウェハ2を直線移動さ
せて、レチクルパターンP9 を投影可能に設定する工程
である。これにより、ウェハ2の表面に投影されるレチ
クルパターンの2等辺三角形の向きを先のレチクルパタ
ーンP1 〜P8 とは反対の向きに設定することができ
る。上記レチクルパターンP9 の投影位置は、たとえば
その底辺部分が先のレチクルパターンP4 の底辺部分に
隣接する位置である。
【0027】その後は、2回目の露光処理工程を行う。
この工程は、1回目の露光処理工程と同様な工程であ
り、上記レチクルパターンP9 をウェハ2の表面に投影
した後に、ステージ3を回転させることにより、ウェハ
2を同図の矢印N3方向に45°ずつ間欠的に回転させ
ながら、その回転動作のたびにステッパAによる露光処
理を行う工程である。このような工程によれば、図7に
示すように、上記計8つのレチクルパターンP1 〜P8
の周囲に、計8つのレチクルパターンP9 〜P16を等間
隔で放射状に配置して投影することができる。
【0028】上記2回目の露光処理工程の後には、2回
目の露光位置変更工程を行う。この工程は、図8に示す
ように、ステージ3をX,Y方向に移動させることによ
り、レチクルパターンP16に対向していたレチクル1が
ウェハ2に対して同図の矢印N4方向に相対移動するよ
うにウェハ2を移動させて、レチクルパターンP17を投
影可能に設定する工程である。これにより、ウェハ2の
表面に投影されるレチクルパターンの2等辺三角形の向
きを先のレチクルパターンP1 〜P8 と同一の向きに復
帰させることができる。上記レチクルパターンP9 の投
影位置は、先のレチクルパターンP12に隣接する位置で
ある。
【0029】その後は、3回目の露光処理工程を行う。
この工程は、1回目および2回目の露光処理工程と実質
的には同一手順の工程であり、ステージ3を回転させて
ウェハ2を同図の矢印N5方向に45°ずつ間欠的に回
転させながら、その回転動作のたびにステッパAによる
露光処理を行う工程である。このような工程によれば、
図9に示すように、先の計8つのレチクルパターンP9
〜P16のそれぞれの片側に、計8つのレチクルパターン
17〜P24を等間隔で配置して投影することができる。
【0030】上記工程の後には、3回目の露光位置変更
工程を行う。この工程は、図10に示すように、ステー
ジ3をX,Y方向に移動させることにより、レチクルパ
ターンP24に対向していたレチクル1がウェハ2に対し
て同図の矢印N6方向に相対移動するようにウェハ2を
移動させて、レチクルパターンP25を投影可能に設定す
る工程である。このレチクルパターンP25の投影位置
は、先のレチクルパターンP11,P23に挟まれた位置で
ある。
【0031】上記工程の後には、4回目の露光処理工程
を行う。この工程も、先の露光処理工程と実質的に同一
手順の工程であり、上記レチクルパターンP25をウェハ
2の表面に投影した後に、ウェハ2を同図の矢印N7方
向に45°ずつ間欠的に回転させながら、その回転動作
のたびにステッパAによる露光処理を行う工程である。
これにより、図11に示すように、計8つのレチクルパ
ターンP25〜P32を等間隔の放射状に配置させてウェハ
2の表面に投影することができる。
【0032】上記した一連の作業によれば、円形状のウ
ェハ2の表面に計32個のレチクルパターンP1 〜P32
をそれらの間に大きな隙間を生じさせないように密に並
べて転写することができる。また、ウェハ2に投影され
た各レチクルパターンの二辺の長さは、既述したとお
り、ウェハ2の半径を半端が生じないように2以上の自
然数で割り切れる値とされているために、上記計32個
のレチクルパターンP1〜P32の形成領域は、ウェハ2
の外周をかたちどった円に内接した正八角形となる。し
たがって、上記ウェハ2の表面のうち、レチクルパター
ンの投影がなされない部分の面積を小さくし、ウェハ2
の利用率を高めることもできる。
【0033】上記方法では、ウェハ2に直線移動と回転
移動とを行わせているが、ウェハ2を直線移動させる頻
度は非常に少なく、ウェハ2の移動の大部分は回転移動
によって行われており、しかもその回転角度は等角度の
ステップ送りとされている。したがって、レチクルパタ
ーンの投影に必要なウェハ2のステップ送りの制御が非
常に簡単となり、しかもそのステップ送りを高速で、か
つ正確に行うことが可能となる。
【0034】上記説明では、理解を容易にするために、
投影されたレチクルパターンに比べてウェハ2のサイズ
が比較的小さい場合を一例として説明したが、たとえば
図12に示すように、サイズが比較的大きなウェハ2A
を対象とする場合であっても、上述した一連の工程と同
様な工程を繰り返して実行すれば、上記ウェハ2Aの中
心Oの周りに多数のレチクルパターンP’を放射状に並
べて効率良く投影することが可能である。本願発明に係
る方法では、ウェハ2Aの中心Oの周りに放射状に並べ
て投影されるレチクルパターンP’の領域をウェハ2A
の半径方向に徐々に広げてゆくことによって、ウェハ2
Aの略全面に多数のレチクルパターンを順次投影するこ
とができるのである。
【0035】レチクル1として、図2で示した計4つの
レチクルパターンP(Pa〜Pd)を有するものを用い
れば、たとえば1回の露光工程によって、図11の符号
N8で示す領域の計4つのレチクルパターンP1
14,P19,P30に相当するパターンをウェハの表面に
一括して投影することができ、作業速度を4倍の速度に
高めることが可能である。なお、計4つのレチクルパタ
ーンP(Pa〜Pd)を有するレチクルを用いる場合で
あっても、上記4つのレチクルパターンP(Pa〜P
d)の全体の外形は、先のレチクルパターンPの外形と
相似形の2等辺三角形であるから、先に述べた一連の作
業工程と同様な工程によって複数のレチクルパターンの
投影作業を進めてゆけばよい。
【0036】上記複数のレチクルパターンPの転写処理
が施されたウェハ2は、次のようにして、そのダイシン
グ作業も円滑に行うことができる。
【0037】すなわち、ウェハ2をたとえばダイヤモン
ドカッタを用いて切断する場合には、まずウェハ2を図
13に示す角度位相に設定した状態において、Y方向に
延びる直線L1〜L3に沿ってダイヤモンドカッタを移
動させる。この場合、直線L1の部分については、その
直線通りにウェハ2を切断する。これに対し、直線L
2,L3の部分については、レチクルパターンP1 ,P
2 ,P4 ,P5 を切断しないように非連続状に切断す
る。これにより、複数のレチクルパターンの外形線のう
ち、図13に示すウェハ2の角度においてY方向に延び
る外形線の各所を切断することができる(図13〜図1
6においては、ウェハ2の切断箇所を太線で示してい
る)。次いで、ウェハ2を矢印N9方向に45°回転さ
せて、図14に示す角度位相に設定してから、Y方向に
延びる直線L1〜L3に沿ってダイヤモンドカッタを移
動させ、先の図13に示した場合と同様にウェハ2を切
断する。以後は、上記同様に、ウェハ2を矢印N9方向
に等角度で回転させつつ、その回転のたびにウェハ2の
Y方向の切断を行う。すると、複数のレチクルパターン
1 〜P32の2等辺三角形の各辺のうち、長さが等しい
二辺に相当する部分の全てについての切断作業を行うこ
とができる。
【0038】また、図15に示すように、ウェハ2の角
度位相を先の図13に示す角度位相とは22.5°だけ
ずらせた状態にすると、複数のレチクルパターンの底辺
に相当する4箇所の直線部分をY方向に沿わせることが
できる。したがって、このような状態において、ダイヤ
モンドカッタをY方向に延びる直線L4〜L7に沿って
移動させれば、上記4箇所の直線部分を簡単に切断する
ことができる。その後は、上記ウェハ2を矢印N10方
向に45°回転させて、図16に示す角度位相に設定し
てから、やはり先の場合と同様に、直線L4〜L7に沿
ってダイヤモンドカッタを移動させる。このような工程
を繰り返せば、複数のレチクルパターンの2等辺三角形
の各辺のうち、底辺に相当する部分の全てについて順次
効率良く切断することができる。したがって、2等辺三
角形状の半導体チップを適切に得ることができる。
【0039】むろん、ウェハ2のダイシング作業では、
ダイヤモンドカッタに代えて、レーザ照射装置を用いて
もよいが、この場合についても上述したのと同様な工程
でダイシングを行うことができる。また、ダイヤモンド
カッタやレーザ照射装置を移動させる手段に代えて、ウ
ェハ2をY方向に直線移動させるようにしてもよい。さ
らに、図13に示すL1〜L3に沿ったウェハ2の切断
作業が終了した後に、ウェハ2を45°ずつ回転させる
手段に代えて、たとえばウェハ2を22.5°ずつ回転
させる手段を適用することもできる。このような手段に
よれば、図13に示したウェハ2の切断作業が終了した
後には、ウェハ2が図15に示す角度位相となるため、
複数のレチクルパターンの底辺に相当する部分の切断作
業を実行することができる。そして、その後は、さらに
ウェハ2を22.5°だけ回転させることによって、図
14に示した切断作業を行うことができ、レチクルパタ
ーンの辺a,bに対応する部分の切断作業と底辺cに対
応する部分の切断作業とを交互に行うことによって、2
等辺三角形状の半導体チップを得ることができる。ま
た、図12に示したウェハ2Aのダイシングも、上述し
たのと同様な方法で行うことができる。
【0040】本願発明に係るウェハへのレチクルパター
ンの転写方法の具体的な構成は、上述した実施形態に限
定されず、各作業工程の具体的な構成は種々に変更自在
である。
【0041】上記実施形態では、レチクルパターンの外
形を頂角が45°の2等辺三角形とし、ウェハ2の中心
Oの周りに複数のレチクルパターンを隙間なく放射状に
並べて投影できるようにしているが、本願発明はこれに
限定されない。本願発明では、2等辺三角形の頂角α
を、α=360/N1 〔°〕の関係(ただし、N1 は3
以上の自然数である)にすれば、複数のレチクルパター
ンをウェハの中心周りに隙間なく放射状に並べることが
可能である。ただし、本願発明は、レチクルパターンの
外形を、上述の式の関係を満たさない2等辺三角形にし
てもよいことは勿論のこと、レチクルパターンの外形を
三角形以外の形状にしてもかまわない。本願発明に係る
方法は、レチクルパターンの外形を、たとえば四角形状
に形成した場合にも適用することが可能である。
【0042】その他、本願発明では、ウェハをレチクル
に対して相対回転させながら行う露光処理工程と、この
露光処理工程の後に行う露光位置変更工程との具体的な
繰り返し回数は、レチクルパターンのサイズとウェハの
サイズとの関係に左右されるものであり、その具体的な
回数もとくに限定されるものではない。むろん、ウェハ
の種類なども限定されない。ウェハは、必ずしも真円で
なくてもよく、外周の一部に比較的大きな切欠部が設け
られていてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】ウェハへのレチクルパターンの転写方法に用い
られるステッパの概略構造を示す側面断面図である。
【図2】レチクルパターンの外形の一例を示す平面図で
ある。
【図3】レチクルパターンの外形の他の例を示す平面図
である。
【図4】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平面
図である。
【図5】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平面
図である。
【図6】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平面
図である。
【図7】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平面
図である。
【図8】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平面
図である。
【図9】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平面
図である。
【図10】レチクルパターンの転写方法の工程を示す平
面図である。
【図11】レチクルパターンの転写が終了した状態を示
す平面図である。
【図12】大径のウェハにレチクルパターンを転写した
状態を示す一部省略平面図である。
【図13】ダイシング工程を示す平面図である。
【図14】ダイシング工程を示す平面図である。
【図15】ダイシング工程を示す平面図である。
【図16】ダイシング工程を示す平面図である。
【図17】(a)〜(d)は、従来のレチクルパターン
の転写方法を示す説明図である。
【符号の説明】
A ステッパ P レチクルパターン 1 レチクル 2 ウェハ 3 ステージ 5 レンズ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レチクルに対向させたウェハを上記レチ
    クルに対して相対回転させながら上記ウェハへの露光を
    行うことにより、複数のレチクルパターンを上記ウェハ
    の周方向に配列させるようにして上記ウェハの表面に順
    次投影する露光処理工程と、 上記ウェハの表面のうち上記露光処理工程によってレチ
    クルパターンが投影されていない部分を上記レチクルに
    対向させるように、上記ウェハを上記レチクルに対して
    相対移動させる露光位置変更工程とを有しており、か
    つ、 上記露光処理工程と露光位置変更工程とを複数回にわた
    って交互に繰り返すことを特徴とする、ウェハへのレチ
    クルパターンの転写方法。
  2. 【請求項2】 上記レチクルパターンの外形は、2等辺
    三角形であり、上記ウェハの表面には、2等辺三角形の
    頂角が上記ウェハの中心側を向く複数のレチクルパター
    ンと、それら複数のレチクルパターンどうしの隙間を埋
    めるように2等辺三角形の頂角が上記ウェハの外周縁側
    を向く複数のレチクルパターンとを投影させる、請求項
    1に記載のウェハへのレチクルパターンの転写方法。
  3. 【請求項3】 上記2等辺三角形の頂角αは、α=36
    0/n1 〔°〕である(ただし、n1 は3以上の自然数
    である)、請求項2に記載のウェハへのレチクルパター
    ンの転写方法。
  4. 【請求項4】 上記2等辺三角形の長さが等しい二辺の
    それぞれの投影長さLは、L=R/n2 である(ただ
    し、Rはウェハの半径であり、n2 は2以上の自然数で
    ある)、請求項2または3に記載のウェハへのレチクル
    パターンの転写方法。
JP10243410A 1998-08-28 1998-08-28 ウェハへのレチクルパターンの転写方法 Pending JP2000077297A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10243410A JP2000077297A (ja) 1998-08-28 1998-08-28 ウェハへのレチクルパターンの転写方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10243410A JP2000077297A (ja) 1998-08-28 1998-08-28 ウェハへのレチクルパターンの転写方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000077297A true JP2000077297A (ja) 2000-03-14

Family

ID=17103458

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10243410A Pending JP2000077297A (ja) 1998-08-28 1998-08-28 ウェハへのレチクルパターンの転写方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000077297A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2752365B2 (ja) マルチレベル・レチクル
US7870514B2 (en) Method of designing a pattern
EP0955566A2 (en) Semiconductor device and alignment method
US4488806A (en) Shot arranging method in a divisional printing apparatus
JP2006126823A (ja) 可変矩形型電子ビーム露光装置及びパターン露光・形成方法
CN102955366B (zh) 一种投影曝光装置与拼接方法
US5780188A (en) Lithographic system and method for exposing a target utilizing unequal stepping distances
JP2019035874A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2009216844A (ja) 縮小投影露光装置用レチクルおよびそれを用いた露光方法
US6071658A (en) Proximity effect correction method for mask production
JP2000077297A (ja) ウェハへのレチクルパターンの転写方法
JPS5968928A (ja) 半導体装置の製造方法
CN112824971B (zh) 目标版图和掩膜版版图的修正方法及半导体结构
KR102069905B1 (ko) 포토마스크의 제조 방법
US10295911B2 (en) Extreme ultraviolet lithography system that utilizes pattern stitching
JP2005114865A (ja) 稠密構造物品の製造方法及びそこで用いる露光用マスク、並びにマイクロレンズアレイ
JPH01293616A (ja) 半導体集積回路の製造方法
CN110361927B (zh) 光刻模型生成方法以及opc修正方法
CN214751320U (zh) 光刻系统
CN214375821U (zh) 多阶曝光装置
KR20050052103A (ko) 반도체소자의 노광방법
JPH022606A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5839015A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS61283125A (ja) 半導体装置の製造方法及びそれに使用する露光用フオトマスク
JP2024110005A (ja) 露光装置、露光方法及び物品の製造方法