JP2000077784A - ファイバグレーティング半導体レーザ - Google Patents
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Abstract
能なファイバグレーティング半導体レーザを提供する。 【解決手段】 キャリア注入によって光の発生と光の増
幅とが行われる光導波路42、並びにこの光導波路42
の対向する端面に設けられた光出射面44および光反射
面46、を有する半導体光増幅器18と、光出射面44
から隔てて配置され、コア部の所定部位にこのコア部の
長手方向に沿って設けられた回折格子20を有し、この
回折格子20と光反射面46とにより所定の波長におい
て光共振を可能になるように光出射面44と光学的に結
合する光ファイバグレーティング22と、を備え、光フ
ァイバグレーティング22は、所定の波長において60
%より高い反射率を有する。
Description
ィング半導体レーザに関し、特に高周波特性が優れたフ
ァイバグレーティング半導体レーザに関する。
信システムとして波長多重(WDM)システムが注目を
あびている。現在、ITU規格のWDM波長間隔は、約
0.8nmである。このようなWDMシステムの光源と
して、LiNbO3外部変調器を使用した分布帰還型半
導体レーザ(DFB−LD)等が使用されている。これ
らの光源では、レーザ発振の波長はDFB−LDに設け
られた回折格子によって決定されている。
としては、ファイバグレーティング半導体レーザ(FG
L)もまた注目されている。このFGLは、半導体光増
幅器とこの一端面に面して配置された光ファイバグレー
ティングを備え、光ファイバグレーティングは、半導体
光増幅器の他端面およびファイバグレーティングの回折
格子が光共振器を構成するように配置されている。
うに約0.8nmであり、今後さらに波長間隔が狭くな
ることが考えられる。このように波長が高密度に多重化
されたWDMシステムを実現するに際して、FGLは、
その発振波長がファイバグレーティング内の回折格子の
Bragg波長によって決定される等の理由のため、W
DM用の光源としてDFB−LDに比べて有利な点を有
している。
化を鑑みると、高速の信号変調に対して発振波長の安定
性がより優れた光源が必要とされる。このため、発明者
は、FGLの発振波長の安定性を更に向上させることが
必要であると考えている。
化が可能なファイバグレーティング半導体レーザを提供
することにある。
いて、発明者はFGLの発振波長を安定化することに関
して検討を重ねてきた。この検討によって、発明者は次
にような結論に至った。
FGLが高速で変調されるので、DC的な波長安定性だ
けでなく、AC的な波長安定性もまた必要である。そし
て、このようなAC的波長安定性として、半導体光増幅
器の変調特性としてチャープ特性が重要な役割を演ず
る。つまり、高速で変調される半導体光増幅器は、変調
周波数で活性層のキャリア濃度が変化するので、この濃
度変化によって活性層の屈折率が変化する。チャープ特
性が顕著であれば、変調されているときの光スペクトル
は、変調されていないときのDC光スペクトルに比べ
て、半値幅(FWHM)がより広がる。信号光用の光源
が広い半値幅を持つと、波長間隔を短くできないので、
波長が多重化される光通信に使用する光源として好まし
くない。
特性を向上させるための検討を引き続き行った。その結
論として、FGLにおいてチャープ特性は、FGLの緩
和振動周波数を高くすることによってFGLの変調帯域
を広くすれば改善可能であるとの結論に至った。
数を高くするための様々な試行錯誤を行った結果、本発
明を次のような構成とすることとした。
導体レーザは、キャリア注入によって光の発生と光の増
幅とが行われる光導波路、並びにこの光導波路の対向す
る端面に設けられた光出射面および光反射面、を有する
半導体光増幅器と、コア部の所定部位にこのコア部の長
手方向に沿って設けられた回折格子を有し、この回折格
子と光反射面とにより所定の波長において光共振を可能
になるように光出射面と光学的に結合し、光出射面から
隔てて配置された光ファイバグレーティングと、を備
え、光ファイバグレーティングは、所定の波長において
60%より高い反射率を有する。
て所定の波長において光共振を可能になるように、光出
射面と光ファイバグレーティングと光学的に結合させ、
且つ光ファイバグレーティングの反射率を共振波長にお
いて60%より高くなるようにした。このため、光子密
度が増加する。したがって、緩和振動周波数を高くでき
る。
導体レーザでは、光導波路は光反射面から光出射面に至
る直線状の軸に沿って延び、この軸と光出射面の外向き
法線の成す角が0度より大きい所定の角度であるように
してもよい。
線との成す角を0度より大きい所定の角度にしたので、
半導体光増幅器自体が有する光共振器によるレーザ発振
が抑制される。
導体レーザでは、半導体光増幅器の光出射面と対面した
光ファイバグレーティングの一端部は、光出射面からの
光を集光可能にする形状を備えるようにしてもよい。
一端部に光出射面からの光を集束させるレンズ機能を有
する形状を備えれば、半導体光増幅器の光出射面との結
合効率を別個の集光レンズを設けることなく高めること
ができる。また、別個の集光レンズを設ける空間を設け
る必要がないので、半導体光増幅器と光ファイバグレー
ティングを光学的に直接に結合させることができる。こ
のため、当該ファイバグレーティング半導体レーザの共
振器長が長くなることが防止される。
導体レーザでは、光導波路は光反射面から光出射面に至
る軸に沿って延びこの軸と前記光出射面の外向き法線の
成す角が0度より大きい所定の角度であり、且つ光出射
面がこの光出射面の反射率を減少させる反射防止膜で覆
われているようにしてもよい。
角度を0度より大きい所定の角度にすると共に、光出射
面が反射防止膜で覆われるようにしたので、半導体光増
幅器自体が有する光共振器によるレーザ発振が更に抑制
される。
導体レーザでは、半導体光増幅器を搭載するペルチェ素
子を更に備えるようにしてもよい。
れば、FLGがモードホッピングしない温度範囲内に半
導体光増幅器の温度を制御できる。
に係わるファイバグレーティング半導体レーザ(以下、
FGLと記す)について図面を参照しながら詳細に説明
する。可能な場合には、同一の部分には同一の符号を付
してその説明を省略する。図1(a)は、FGL1を上
面から見た一部断面図であり、光ファイバグレーティン
グの配置が明確に示されるように該当部分について断面
が示されている。図1(b)は、図1(a)のA−A’
断面における縦断面図である。
と、FGL1の主要部は、搭載部材に収納されている。
搭載部材としては、例えばバタフライ型パッケージ(以
下、PKGと記す)10があり、以下、このPKG10
を使用する場合について説明を行う。
ティング挿入面を有し、これに隣接する2側面に複数の
リードピン36を有する。また、PKG10は、この2
側面および光ファイバクレーティング挿入面の両方に隣
接する底面を有し、その底面の内側面上にPKGの接地
端子に接続されている接地導電層を有する。この導電層
上には、ペルチェ素子12がその下面電極を対面させて
搭載されている。ペルチェ素子12は、上面電極と下面
電極との間に電流を流すことによって冷却素子として作
動する。ペルチェ素子12への電流の供給は、PKGの
側面に設けられたリードピン36を介して外部から行わ
れる。ペルチェ素子12の上面電極上には、導電性の搭
載部材14を挟んでチップキャリア16、24が搭載さ
れている。
器18が搭載されている。このチップキャリア16は、
良熱伝導体材料、例えば窒化アルミ(AlN)、アルミ
ナ(Al2O3)によって形成されているため、半導体光
増幅器18の動作中に発生した熱は、チップキャリア1
6を伝導してペルチェ素子12に到達し、電気的にPK
G10外に排出される。半導体光増幅器18は、その第
1の端面をPKG10の光ファイバグレーティング挿入
面に面して配置されている。本実施の形態においては、
半導体光増幅器18は、いわゆる斜め導波路構造を有す
るため、光ファイバグレーティング22が延びる方向の
軸34の方向と第1の端面の法線とが成す角度を0度よ
り大きい所定の角度にして配置される。
部を有し、これらの端部の一方は半導体光増幅器18の
第1の端面と対面していて、この端部と第1の端面とが
光学的に結合可能な位置に光ファイバグレーティング2
2が配置されている。第1の端面と光学的に結合してい
る端部が、半導体光増幅器18の第1の端面から出射さ
れた光がその端部から入射してコア部内に集束可能な所
定の形状、つまりレンズ機能を有する形状、を備える
と、この端部と半導体光増幅素子18との間には光学的
に高い結合効率が実現されるので好ましい。このような
光を集束可能な形状は、曲面および平面の少なくとも何
れかの面を有し、詳述すれば、曲率が一定の単一凸曲
面、異なる曲率の複数の凸曲面、複数の平面、またはこ
れらの組み合わせ、によって構成されることができる。
これらの加工は、研磨、エッチング、溶融等によって形
成可能であるが、この加工方法の一例を詳述すれば、治
具を用いて光ファイバグレーティング22の先端部近傍
を固定して、この先端部を研磨することによって形成す
る方法がある。なお、このような先端を形成することを
先球加工するという。
2の一端部に集束可能なレンズを備えれば、別個の凸レ
ンズを設けること無く、半導体光増幅器18からの光を
光ファイバグレーティング22のコア部へ集光できる。
このため、光ファイバグレーティング22と光出射面と
の光結合効率を高めることができる。また、FGLの構
成部品の削減できるので、FGLを小型化する上に好ま
しい。更に、別個のレンズが不要になるため、半導体光
増幅器18と光ファイバグレーティング22とを光学的
に直接結合することが可能になる。このため、レーザの
共振器長の増加を抑えることができるので、FGLの高
周波特性の劣化を抑えることができる。
ズ形状を有する一の端部から所定の距離離れたコア部内
の位置に回折格子22が設けられている。このような回
折格子22を形成するために好適な光ファイバは、酸化
ゲルマニウムを所定量含むと共に所定の屈折率を有する
コア部と、このコア部の周囲に設けられコア部より小さ
い屈折率を有するクラッド部とを備えている。そして、
この光ファイバに紫外線を照射することによってコア部
に屈折率の異なる領域を複数の箇所に設けたものであ
る。このような領域は、周期的に設けられていることが
好ましい。このようにして形成された光ファイバグーレ
ティング22は、反射率、線幅、回折格子長によって特
徴づけられる。このような特性の一例を示せば、 反射率Rfg: 80% 光波長=1.55μm 線幅δλ : 0.2nm 回折格子長L: 5mm となる。このように、60%を越える反射率の光ファイ
バグーレティングを用いてFGLを作製すると、光子密
度を増加させることができる。
ール28の中央部に設けられた開口部に挿入され、その
先端部分は、フェルール28の一の端面から所定の長さ
だけ突出している。フェルール28は、スリーブ30に
支持されている。スリーブ30は、PKG10の光ファ
イバグレーティング挿入面に固定されている光ファイバ
グレーティング導入部材の内側のスリーブ挿入部に固定
されている。
フェルール支持部に固定されている。これによって、半
導体光増幅器18の第1の端面と光ファイバグレーティ
ング22との位置関係が固定される。すなわち、半導体
光増幅器18の第1の端面が、光ファイバグレーティン
グ22の端部と光学的に結合可能なように、半導体光増
幅器18および光ファイバグレーティング22のそれぞ
れの光軸が調芯される。
ード(以下、PDと記す)26が搭載されている。PD
26の受光面は、半導体光増幅器18の第1の端面と対
向する第2の端面に対面している。このため、半導体光
増幅器18の出射光の強度を検知するためのモニタPD
として作動する。この信号も、またリードピン36を介
して外部へ取り出される。
載部材14上には、チップキャリア16を挟んで半導体
光増幅器18が設けらている。このため、FLG1がモ
ードホッピングしない温度範囲内に半導体光増幅器18
の温度を制御できるので、FGL1の発振特性は温度に
よる変動が低減される。加えて、光ファイバグレーティ
ング22もまた、フェルール28に挿入された状態で搭
載部材14に対して固定されている。このため、半導体
光増幅器18および光ファイバグレーティング22の両
方をペルチェ素子12を用いて同時に温度制御すること
ができるので、半導体光増幅器18および光ファイバグ
レーティング22をほぼ同じ温度に保つことが可能にな
る。故に、半導体光増幅器18、光ファイバグレーティ
ング22、およびこれらの支持部材の熱的な形状の変化
に伴う光学的な結合の変動を抑制することができる。し
たがって、FGL1の内部損失の増加を抑制して、温度
の変動に対して安定したFGLを提供できる。
れる半導体光増幅器18および光ファイバグレーティン
グ22のみを特に示したFGLの斜視図である。
は、回折格子20を備えた光ファイバグレティング22
と組み合わされてFGLの主要部を構成している。半導
体光増幅器18は、キャリア注入によって光の発生およ
び増幅が行なわれる光導波路42を備え、その光導波路
42は、光出射面44および光反射面46に挟まれてい
る。光出射面44は、半導体光増幅器18の第1の端面
に設けられ、光ファイバグレーティング22の一端部4
8と対面している。光反射面46は、半導体光増幅器1
8の第2の端面に設けられ、PD26の受光面と対面し
ている。
8の第1の端面から第2の端面に至る方向に延び、光導
波路42内の光の信号方向に平行な一直線軸64に沿っ
て設けられている。図2に示した本実施の形態では、こ
の両面44、46が略平行になるように光導波路42の
対向する端面が構成され、また光出射面44および光反
射面46のそれぞれの法線と軸64との成す角度はθ
(≧0°)である。
例えば、InGaAsP/InPのダブルヘテロ構造の
ファブリペロ型半導体レーザチップと類似の半導体層の
積層構成を有している。n型InP半導体基板50の一
主面上には、半導体光増幅器18の第1の端面から第2
の端面に至る方向の軸に沿って延びる帯状に設けられた
n型InP半導体クラッド部52、アンドープInGa
AsP半導体光導波路42、およびp型InP半導体ク
ラッド部54がこの順に設けられ、これらは、基板50
の主面上にメサ状に形成されたストライプ部42、5
2、54を構成する。電流ブロック部56は、光出射面
44および光反射面46と異なる一対の対向面において
にストライプ部42、52、54を挟むように基板50
上に設けられている。このため、ストライプ部42、5
2、54は電流ブロック層56によって埋め込まれてい
る。ストライプ部42、52、54および電流ブロック
部56上には、ストライプ部42、52、54が延びる
方向に沿って設けられた開口部を有する絶縁層58が設
けられ、この開口部上にはp型半導体部に対する電極6
0が設けられている。一方、基板50の一主面と対向す
る面(裏面)にはn型半導体部に対する電極62が設け
られている。
長に応じて、半導体レーザ等において採用されている任
意の層構造、例えばMQW、を有することができ、また
キャリア閉じ込め部と光閉じ込め部を分離することもで
き、発光する光の波長に応じて所定のバンドギャップの
半導体層が選択される。
射面46と異なる一対の対向面においてそれぞれn型ク
ラッド層52およびp型クラッド層54と接して、且つ
この対向面と異なる一対の対向面において電流ブロック
部56と接している。また、n型クラッド部52、p型
クラッド部54、および電流ブロック部56は、光導波
路44より屈折率の小さい。このため、光導波路44に
おいて発生した光を光導波路44内に閉じ込めることが
可能となる。
導波路42の一方の端面に設けられている。光出射面4
4は、例えば半導体光増幅器18の劈開を利用して形成
されたものであって、直線軸64とこの面46の外向き
法線との成す角度としては0度より大きい所定の角度θ
が好ましい。このように、角度θを設定することによっ
て、光出射面44と光反射面46との間の光の寄生共振
を十分に低く抑えることができるからである。このよう
な角度としては、低反射博形成後の反射率0.1%が再
現性良く得られる7°〜15°の範囲が好ましい。ま
た、光出射面44には、更に光の反射を抑えるために光
反射防止膜を設けることが好ましい。光反射防止膜とし
ては、例えば誘電体膜(SiN膜)がある。このように
反射防止膜を設けることによって、光出射面44におけ
る反射率を10-3程度まで低くすることが可能である、
更に、光出射面44に対して、例えば7°程度の角度を
もって形成された光導波路42を併用すれば、10-5程
度まで反射率を低下させることができるので、光の寄生
共振を十分に抑圧できる。
る光導波路42の他方の端面に設けられている。光反射
面46は、例えば半導体光増幅器18の劈開を利用して
形成されたものであって、直線軸64と光反射面46の
外向き法線との成す角度は0度以上の所定の角度にする
ことが可能であり、特に反射率を高めるために0°が好
ましい。本実施の形態では、半導体光増幅器18の製造
が容易になるので、その角度を光出射と同じθとした。
一般には、光出射面44の外向き法線と軸64とが成す
角度、および、光反射面46の外向き法線と軸64とが
成す角度を、それぞれ独立して決定することができる。
光反射面46は光導波路42を伝搬する光を反射するよ
うに光出射面に比べて高い反射率を有する面であって、
このため、その表面に光反射膜を設けることが好まし
い。光反射膜として、例えば誘電体多層膜(SiN/α
−Si膜)がある。
作を図3を参照しながら簡単に説明する。図3は、図2
の半導体光増幅器18において特に反射防止膜66およ
び光反射膜68を備えたFGLの主要部を図2のC−
C’断面線に対応する断面図であり、光導波路44およ
び光ファイバグレーティング22のコア部および回折格
子を含む平面を表している。
ング22は、軸34に沿って設けられ、また光導波路4
2は、光出射面44の法線と角度θを成す軸64に沿っ
て光出射面44から光反射面46まで延びている。光フ
ァイバグレーティング22の一端部70は、光出射面4
4から隔置されている。軸34と軸64との成す角度は
αであり、この角度αは、光出射面44において屈折の
法則を適用することによって決定される。
んで両側にp型半導体層およびn型半導体層を備えたp
nダイオードを有している。このため、このダイオード
を順方向にバイアスすることによって、クラッド層5
2、54から光導波路44へ電子およびホールが注入さ
れる。これらのキャリアは、再結合することによってあ
る波長の自然放出光を発生する。この自然放出光は、光
導波路42に閉じ込められ、光導波路42においては誘
導放出を引き起こして、この誘導放出光と共に伝搬する
(図3のA、B)。これらの光は、反射率の高い光反射
面46においてはほぼ反射され(C)、一方、光出射面
44においてはほぼ透過する(D)。透過光(D )
は、光ファイバグレーティング22の端部に達して
(E)、レンズ形状にされた端部70を有するコア部7
2に集光される。この光はコア部72の周囲にクラッド
部74にが設けられているので、コア部72に閉じ込め
られて伝搬する。コア部72に設けられた回折格子20
に達すると、回折格子20の波長選択特性に従って波長
選択され、また回折格子20の反射率に応じて、光の一
部は反射され(F)、また残りは透過して引き続きコア
部72を伝搬し(G)、所望のレーザ光として出力され
る。回折格子20によって反射された光(F)は、端部
70から半導体光増幅器18の光出射面44に向けて放
出される(H)。この光は、光出射面44から半導体光
増幅器18に入射して(I)、光導波路42を伝搬し
(A,B)、引き続き誘導放出を引き起こして、また新
たな自然放出光と一緒になって、光増幅される。
て、図4〜図6を参照しながら説明する。
性図であり、横軸には変調周波数がGHzで、縦軸には
光出力の応答特性がdB単位で示されている。この特性
は、あるバイアス電流において、この電流値に0.1%
の強度変調をかけた変調電流に対する光出力の周波数応
答特性を求めることによって得られる。図4を参照する
と、反射率Rfg=20%、50%、80%を有する光
ファイバグレーティングの特性が示され、−3dBの帯
域で比較すると、Rfg=20%では3GHz程度、R
fg=50%では6GHz程度であるが、反射率が60
%を越えたRfg=80%においては帯域は7.5GH
z程度まで広くなっている。
えるようにすると、レーザの高周波特性を向上できるこ
と、つまり広帯域化を達成できることを示している。
性図であり、横軸には変調周波数がGHzで、縦軸には
チャープ特性がMHz/mA単位で示されている。この
特性は、あるバイアス電流において、この電流に小信号
(例えば、バイアス電流の0.1%)の強度変調をかけ
た変調電流に対する光スペクトルの半値幅(FWHM)
の広がりを測定することによって得られる。図5を参照
すると、反射率Rfg=20%、50%、80%を有す
る光ファイバグレーティングの特性が示され、半値幅の
最大値、および最大値をとる周波数において比較する
と、Rfg=20%では約2GHzにおいてピーク値9
00MHz/mAをとり、Rfg=50%では約3.5
GHzにおいて約720MHhz/mAであるが、反射
率が60%を越えたRfg=80%においては約4GH
zにおいて約680MHzである。
半値幅のピーク値が小さくなるだけでなく、ピーク値を
とる周波数も高くできる。つまり、この特性は反射率を
高くして60%を越えるようにすれば、高い周波数で変
調されているレーザのチャープ特性を向上できることを
示している。
性図であり、横軸には光ファイバグレーティングの反射
率が示され、縦軸には、2.5GpsNRZ伝送および
5GpsNRZ伝送におけるチャープ特性がMHz/m
A単位で示されている。この特性は、あるバイアス電流
において、この電流値の0.1%の強度変調をかけた変
調電流に対する光スペクトルの半値幅(FWHM)の広
がりを測定することによって得られる。図6の場合も、
また反射率Rfgが高くして60%を越えるようにする
と、チャープ特性(光スペクトルの半値幅)を小さくす
ることができることを示している。つまり、5Gbps
NRZ伝送を行う場合においても、反射率を60%より
大きいFGLを使用すれば、反射率20%のFGLを用
いて2.5GpsNRZ伝送を行う場合のチャープ特性
よりも優れた特性が達成されるのである。図6に示した
チャープ特性を具体的に記載すれば、 のそれぞれに対して、2.5GbpsNRZ伝送の場合
においては、 5GbpsNRZ伝送の場合においては、 となる。なお、単位は、MHz/mAである。
射率が高くなるにつれて帯域が広がり、また半値幅のピ
ーク値が小さくなると共に、さらにそのピーク値をとる
周波数も高くなる。このような特性は、反射率を高くす
ることによって、高周波数で変調されているレーザのチ
ャープ特性が向されたことを示している。
アス電流としては、熱の影響を考慮すると高々100m
A程度に制限される。一方、波長間隔50GHzのWD
Mシステムを考えた場合に許される波長の広がりは、5
0/2=25GHzとなり、100%の変調をかけた場
合、チャープ量は、25/100=0.25GHz/m
A程度以下にする必要がある。したがって、反射率が6
0%を越えたファイバグレーティングのチャープ量は、
260MHz/mAであるから、このファイバグレーテ
ィングを用いてGLを構成すると、2.5GbpsNZ
R信号のWDM(50GHz間隔)用のレーザモジュー
ルが作成可能となる。
いて、光ファイバグレーティングに形成された回折格子
の反射率を高くすることは、レーザの出力光が減少する
ために光通信システムの光源として好ましくないと一般
に信じられていた。このため、今まで試みられていなか
った。しかしながら、発明者は、回折格子の反射率を高
くすることによって、このようなレーザの緩和振動周波
数を高くできることに着目し、WDMシステムに必要と
される波長多重化に好適な、高速度の変調に対して発振
波長の安定性がより優れた光源を実現した。
に説明したように、本発明に係わるファイバグレーティ
ング半導体レーザは、光ファイバグレーティング内に設
けられる回折格子の反射率を60%より大きくしたの
で、緩和振動周波数を大きくすることができる。このた
め、変調可能な周波数帯域が広くできると共に、レーザ
のチャープ特性が改善され変調時のチャープ量を小さく
できる。
信号変調用光源として好適なファイバグレーティング半
導体レーザが提供される。
面図であり、光ファイバグレーティングの配置が明確に
示されるように該当部分について断面が示されている。
図1(b)は、図1(a)のA−A’断面における縦断
面図である。
半導体光増幅器18および光ファイバグレーティング2
2のみを特に示したFGLの斜視図である。
C’断面に対応する断面にて示した断面図である。
である。
である。
である。
ザ)、10…バタフライ型パッケージ(PKG)、12
…ペルチェ素子、14…搭載部材、16、24…チップ
キャリア、18…半導体光増幅器、22…光ファイバグ
レーティング、26…フォトダイオード(PD)、30
…スリーブ、36…リードピン、42…光導波路、44
…光出射面、46…光反射面、50…n型InP半導体
基板50、52…n型InP半導体クラッド部、56…
電流ブロック部、58…絶縁層58、66…反射防止
膜、68…光反射膜、70…レンズ形状にされた端部、
72…コア部、74…クラッド部74、
Claims (5)
- 【請求項1】 キャリア注入によって光の発生と光の増
幅とが行われる光導波路、並びにこの光導波路の対向す
る端面に設けられた光出射面および光反射面、を有する
半導体光増幅器と、 コア部の所定部位にこのコア部の長手方向に沿って設け
られた回折格子を有し、この回折格子と前記光反射面と
により所定の波長において光共振を可能になるように前
記光出射面と光学的に結合し、前記光出射面から隔てて
配置された光ファイバグレーティングと、を備え、 前記光ファイバグレーティングは、前記所定の波長にお
いて60%より高い反射率を有する、ファイバグレーテ
ィング半導体レーザ。 - 【請求項2】 前記光導波路は前記光反射面から前記光
出射面に至る直線状の軸に沿って延び、この軸と前記光
出射面の外向き法線の成す角が0度より大きい所定の角
度である、ことを特徴とする請求項1に記載のファイバ
グレーティング半導体レーザ。 - 【請求項3】 前記半導体光増幅器の光出射面と対面し
た前記光ファイバグレーティングの一端部は、前記光出
射面からの光を集光可能にする形状を備える、ことを特
徴とする請求項1に記載のファイバグレーティング半導
体レーザ。 - 【請求項4】 前記光導波路は前記光反射面から前記光
出射面に至る軸に沿って延びこの軸と前記光出射面の外
向き法線の成す角が0度より大きい所定の角度であり、
且つ前記光出射面がこの光出射面の反射率を減少させる
反射防止膜で覆われている、ことを特徴とする請求項1
に記載のファイバグレーティング半導体レーザ。 - 【請求項5】 前記半導体光増幅器を搭載するペルチェ
素子を更に備える、ことを特徴とする請求項1に記載の
ファイバグレーティング半導体レーザ。
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