JP2000200420A - 波形整形装置およびこれを用いた再生信号処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスク表面上のディフェクトにより光デ
ィスクからの再生信号の信号レベルが大きく変動する場
合であっても、正しく再生信号を２値化することを可能
にする 【解決手段】 波形整形装置１００は、光ディスクに記
録された信号を再生する光ピックアップ回路２からの再
生信号を第１検波時定数で検波し再生信号の上側包絡線
を検出する第１検波回路３と、再生信号を第２検波時定
数で検波し再生信号の下側包絡線を検出する第２検波回
路４と、上側包絡線と下側包絡線とに重み付け係数で表
される重みを付けて平均値を演算する平均回路５と、再
生信号から平均回路により演算された平均値に対応する
信号を減算して波形整形信号を出力する減算回路７とを
備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は波形整形装置および
これを用いた再生信号処理装置に関し、特に光ピックア
ップより得られる再生信号を最適に２値化し、あるいは
アナログデジタル変換するための波形整形装置およびこ
れを用いた再生信号処理装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスクは様々な条件下で用い
られており、保管の仕方も個々人で大きく異なる。この
様な状況の中で、光ディスク表面に埃、ゴミ、傷が付く
ことは多々あり、これらがあっても安定に情報を読み出
すためには高精度な信号の判別が必要となる。

【０００３】特にＤＶＤ（ＤＩＧＩＴＡＬ ＶＥＲＳＡ
ＴＩＬＥ ＤＩＳＫ）のように高密度記録された光ディ
スクでは、最短ピット部でのＳＮＲが悪いため２値化時
のエラーを極力抑えることが要求される。

【０００４】一方、ＣＤ（ＣＯＭＰＡＣＴ ＤＩＳＫ）
では、記録変調方式としてＥＦＭ変調（ＥＩＧＨＴ Ｔ
Ｏ ＦＯＵＲＴＥＥＮ ＭＯＤＵＬＡＴＩＯＮ）、ま
た、ＤＶＤでは８−１６変調が用いられており、ディス
クへの記録パターンのスペクトラムが実質的にＤＣフリ
ーになるような変調方式で記録されている。この特性を
活かして、多くは２値化信号のデューティ比が５０：５
０になるように負帰還制御を実行し、２値化スライスレ
ベルを制御する２値化回路により再生している。

【０００５】図１３Ａを用いて２値化回路１３００を説
明する。光ピックアップ回路２は、光ディスク１から再
生した再生信号ＲＳを出力する。再生信号ＲＳは、容量
Ｃで容量結合され、所定のバイアス電圧、例えばＶＣＣ
／２が印加されてコンパレータ１１０の−側端子１１０
Ａに入力されると共に、コンパレータ１１０で＋側端子
１１０Ｂに入力される２値化スライスレベルと比較され
デジタル２値化される。

【０００６】コンパレータ１１０から出力される２値化
信号ＤＧ１の極性に応じてチャージポンプ１０１を駆動
し、チャージコンデンサ１０２に対してチャージアップ
あるいはチャージダウンが行われる。チャージコンデン
サ１０２に蓄えられたチャージ電圧は、バッファ１０３
で電流増幅され、ローパスフィルタ１０４でリップル除
去されてコンパレータ１００の＋側端子１１０Ｂへ入力
される。

【０００７】例えば、コンパレータ１００の−側端子１
１０Ａの電位が＋側端子１１０Ｂの電位に対して上がっ
た場合、コンパレータ１１０からの出力は０となり、チ
ャージポンプ１０１Ａがオンし、チャージコンデンサ１
０２の電位が上昇して、コンパレータ１００の＋側端子
１１０Ｂの入力電位が上昇し、コンパレータ１１０の＋
側端子１１０Ｂ と−側端子１１０Ａとの電位差が無く
なるように負帰還制御される。

【０００８】また、逆にコンパレータの−側端子１１０
Ａの電位が＋側端子１１０Ｂの電位に対して下がった場
合は、コンパレータ１１０の＋側端子１１０Ｂの入力電
位が下降し、コンパレータ１１０の＋側端子１１０Ｂ
と−側端子１１０Ａとの電位差が無くなるように負帰還
制御される。

【０００９】図１３Ｂに示す様な高周波の再生信号RＳ
が２値化回路１３００に入力された場合には、２値化回
路１３００が出力する２値化信号DG1の‘０’レベルＬ
０と‘１’レベルＬ１とのデューティー比が平均的に５
０：５０になるように負帰還２値化スライスレベルSLが
制御される。

【００１０】負帰還制御の応答性は、チャージポンプ１
０１の駆動電流値、チャージコンデンサ１０２の容量、
ローパスフィルタ１０４の時定数により決定される。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】光ディスク表面に埃、
ゴミ、傷等のディフェクトがある場合、これらにより光
ピックアップから出射されるレーザ光が遮られるため、
光ディスクからの再生信号の信号レベルがＤＣ的にも、
ＡＣ的にも大きく変動する。こうした信号変動に対して
も正しく再生信号を２値化するためには、２値化回路１
３００の制御応答性をより高めて、信号変動に追従する
ように設計すれば良い。

【００１２】しかしながら、光ディスクへの記録パター
ンのスペクトラムはディフェクト変動周波数付近（数Ｋ
ＨＺ以下）では完全にＤＣフリーではないため、２値化
回路１３００の制御応答性を高めるためにローパスフィ
ルタ１０４のカットオフ周波数を高くしていくと負帰還
信号、すなわち＋側入力端子１１０Bの入力に再生信号
の持つＤＣ変動分が外乱として混入し正しく２値化でき
なくなり、データスライスエラーが発生してジッタが増
大する。

【００１３】また、図１４に示す様に、２値化回路１３
００による２値化を実行する前にハイパスフィルタ１０
５を通して再生信号ＲＳの低域変動成分をカットし、傷
等のディフェクトによる信号変動があっても、再生信号
ＲＳの包絡線が上下対称となるようにしておけば、２値
化回路１３００の制御負担を軽減しデータスライスエラ
ーを軽減できる。

【００１４】しかしながら、ディフェクトが無い状態に
おいても定常的に再生信号ＲＳの低域変動成分をカット
してしまうため、低域変動成分情報の欠落によるスライ
スエラーが発生しジッタが増大する。

【００１５】本発明の目的は、２値化回路の制御負担を
軽減し、データスライスエラーあるいはジッタを大幅に
減少させることが可能な波形整形装置およびこれを用い
た再生信号処理装置を提供することにある。

【００１６】本発明の他の目的は、光ディスク表面上の
ディフェクトにより光ディスクからの再生信号の信号レ
ベルが大きく変動する場合であっても、正しく再生信号
を２値化することを可能にする波形整形装置およびこれ
を用いた再生信号処理装置を提供することにある。

【００１７】本発明のさらに他の目的は、ディフェクト
が無い状態においても正しく再生信号を２値化すること
を可能にする波形整形装置およびこれを用いた再生信号
処理装置を提供することにある。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明に係る波形整形装
置は、光ディスクに記録された信号を再生する光ピック
アップ回路からの再生信号を第１検波時定数で検波し前
記再生信号の上側包絡線を検出する第１検波回路と、前
記再生信号を第２検波時定数で検波し前記再生信号の下
側包絡線を検出する第２検波回路と、前記上側包絡線と
前記下側包絡線とに重み付け係数で表される重みを付け
て平均値を演算する平均回路と、前記再生信号から前記
平均回路により演算された前記平均値に対応する信号を
減算して波形整形信号を出力する減算回路とを備え、そ
のことにより上記目的が達成される。

【００１９】前記波形整形装置は、前記平均値を平滑化
して平滑化信号を出力するローパスフィルタをさらに含
み、前記減算回路は、前記再生信号から前記ローパスフ
ィルタ回路により出力される前記平滑化信号を減算して
もよい。

【００２０】前記重み付け係数は、１：１であってもよ
い。

【００２１】前記重み付け係数は、前記再生信号のアシ
ンメトリ量に基づいて決定されてもよい。

【００２２】前記波形整形装置は、前記アシンメトリ量
を検出するアシンメトリ検出回路をさらに備えてもよ
い。

【００２３】前記第１検波時定数と前記第２検波時定数
との少なくとも一方は、前記光ディスク上の光スポット
のスポット径に実質的に比例するように決定されてもよ
い。

【００２４】前記第１検波時定数と前記第２検波時定数
との少なくとも一方は、前記光ディスクの再生線速度に
実質的に反比例するように決定されてもよい。

【００２５】前記ローパスフィルタのカットオフ周波数
は、前記光ディスク上の光スポットのスポット径に実質
的に反比例するように決定されてもよい。

【００２６】前記ローパスフィルタのカットオフ周波数
は、前記光ディスクの再生線速度に実質的に比例するよ
うに決定されてもよい。

【００２７】前記波形整形装置は、前記再生信号の振幅
の低下を表すドロップアウトを検出するドロップアウト
検出回路をさらに備え、前記ドロップアウト検出回路に
より前記ドロップアウトが検出されたときは、前記第１
検波時定数とを前記第２検波時定数との少なくとも一方
が短く設定されてもよい。

【００２８】前記波形整形装置は、前記再生信号の振幅
の低下を表すドロップアウトを検出するドロップアウト
検出回路をさらに備え、前記ドロップアウト検出回路に
より前記ドロップアウトが検出されたときは、前記ロー
パスフィルタ回路のカットオフ周波数が高く設定されて
もよい。

【００２９】本発明のある局面に従えば、ディフェクト
通過時に発生する再生信号変動を抑圧し、２値化回路の
制御負担を大幅に軽減することができ、定常時再生時の
ジッタを悪化させずにデータスライスエラーを大幅に減
少させる作用・効果を奏する。

【００３０】本発明の他の局面に従えば、比較的簡単な
回路構成で２値化回路の制御負担を大幅に軽減すること
ができ、定常時再生時のジッタを悪化させずにデータス
ライスエラーを大幅に減少させる作用・効果を奏する。

【００３１】本発明のさらに他の局面に従えば、平均回
路における平均演算の上下包絡線に対する重み付け係数
は、再生信号のアシンメトリ量に比例して決定するの
で、記録条件に依らず２値化回路の制御負担を軽減する
ことができ、定常時再生時のジッタを悪化させずにデー
タスライスエラーを大幅に減少させる作用・効果を奏す
る。

【００３２】本発明のさらに他の局面に従えば、光スポ
ットのスポット径に基づいて最適な波形整形を行い、定
常時再生時のジッタを悪化させずにデータスライスエラ
ーを大幅に減少させる作用・効果を奏する。

【００３３】本発明のさらに他の局面に従えば、再生線
速度に基づいて最適な波形整形を行い、定常時再生時の
ジッタを悪化させずにデータスライスエラーを大幅に減
少させる作用・効果を奏する。

【００３４】本発明のさらに他の局面に従えば、通常再
生時のジッタ性能と、ディフェクト通過時の波形整形性
能を両立させる作用・効果を有する。

【００３５】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
の形態を詳細に説明する。

【００３６】（実施の形態１）以下本発明の実施の形態
１に係る再生信号処理装置２００を図１を用いて説明す
る。再生信号処理装置２００は、波形整形装置１００と
２値化回路１３００とを備える。

【００３７】波形整形装置１００は、光ディスク１に記
録された信号を再生する光ピックアップ回路２からの再
生信号ＲＳを所定の時定数で検波を行い上側包絡線ＲＳ
Ｕを検出する第１の検波回路３と、光ピックアップ回路
２からの再生信号ＲＳを所定の時定数で検波を行い下側
包絡線ＲＳＤを検出する第２の検波回路４と、上側包絡
線ＲＳＵと下側包絡線ＲＳＤとの平均値ＡＶＥを求める
平均回路５と、平均回路５で得られた平均値ＡＶＥを平
滑化するローパスフィルタ６と、光ピックアップ回路２
からの再生信号ＲＳからローパスフィルタ６で得られた
平滑化信号ＳＭ１を減算する減算回路７とを備える。２
値化回路１３００は、減算回路７が出力する波形整形信
号ＳＳを２値化して２値化信号を出力する。

【００３８】実施の形態１の波形整形装置１００の動作
を図２を用いて説明する。光ディスク１に記録された信
号は光ピックアップ回路２を用いて読み出される。光デ
ィスク１上に傷等のディフェクトがあった場合、再生信
号ＲＳに図２Ａに示すような乱れＤ１が発生する。

【００３９】再生信号ＲＳを２値化回路１３００へ直接
入力すると、上側包絡線ＲＳＵと下側包絡線ＲＳＤとの
ほぼ平均値付近を追従する負帰還２値化スライスレベル
ＳＬ１により２値化が行われる。しかし、ディフェクト
による乱れＤ１の周期が短いときには負帰還２値化スラ
イスレベルＳＬ１はディフェクトによる乱れＤ１に追従
しきれず、スライスエラーが発生してしまう。

【００４０】図２Ａを参照して、第１検波回路３は、光
ピックアップ回路２からの再生信号ＲＳを検波して上側
包絡線ＲＳＵを検出する。第２検波回路４は、光ピック
アップ回路２からの再生信号ＲＳを検波して下側包絡線
ＲＳＤを検出する。

【００４１】図２Ｂを参照して、平均回路５は上側包絡
線ＲＳＵと下側包絡線ＲＳＤに対し重み付け係数Ｍ：Ｎ
で表される重みを付けて平均値ＡＶＥを演算する。

【００４２】図２Ｃを参照して、ローパスフィルタ６
は、平均値ＡＶＥに含まれる検波ノイズ成分を除去し、
ディフェクトがあった場合の再生信号ＲＳに含まれる有
害なＤＣ変動成分のみを抽出した平滑化信号ＳＭ１を出
力する。

【００４３】図２Ｄを参照して、減算回路７は、再生信
号ＲＳから平滑化信号ＳＭ１を減算することにより、上
下対称に整形された波形整形信号ＳＳを出力する。

【００４４】このように前処理整形された波形整形信号
ＳＳを２値化回路１３００に入力すると、負帰還２値化
スライスレベルＳＬ２はディフェクトによる乱れＤ１の
周期が短いときにも変化が少なく、周期が短いディフェ
クトによる乱れＤ１に充分追従できるため、スライスエ
ラーを大幅に減少させることができる。なお、平均回路
５の一例としては、図３のような構成で簡単に実現でき
る。

【００４５】図４を参照して、再生信号RSの周波数スペ
クトラムを説明する。前述した図１４の様なハイパスフ
ィルタ１０５を用いた方法では、領域Ｓで表される再生
信号ＲＳの成分から領域Ａ１で表される成分がハイパス
フィルタ１０５で除去されてしまうため、領域Ａ１で表
される成分の欠落によるジッタの増加が発生する。

【００４６】しかし、実施の形態１に示した様に、上側
包絡線ＲＳＵおよび下側包絡線ＲＳＤに対して、重み付
け係数Ｍ：Ｎで表される重みを付けて平均値ＡＶＥを演
算し、再生信号ＲＳから平均値ＡＶＥに対応する平滑化
信号ＳＭ１を減算する方法を用いれば、再生信号ＲＳの
成分の欠落は領域Ｂ１のように小さくなる。このため、
ジッタの悪化を最小限に抑えることができ、ディフェク
ト通過時のスライス性能と、通常再生時のジッタ性能を
両立させることが可能である。

【００４７】なお、平均回路５における平均演算の上下
包絡線に対する重み付け係数Ｍ：Ｎを１：１とすると、
簡単な回路構成で波形整形装置を実現できる。この平均
回路５は、例えば図５の様な回路構成を有する平均回路
５Ａで実現できる。

【００４８】（実施の形態２）図６は、実施の形態２に
係る再生信号処理装置２００Ａの構成を示す。図１を参
照して前述した再生信号処理装置２００の構成要素と同
一の構成要素には同一の参照符号を付している。これら
の構成要素の詳細な説明は省略する。

【００４９】波形整形装置１００Ａは、アシンメトリ検
出回路８をさらに備える。平均回路５の平均演算の上下
包絡線に対する重み付け係数Ｍ：Ｎは、再生信号ＲＳの
アシンメトリ量に比例して決定される。

【００５０】アシンメトリは、一般にディスクカッティ
ング条件及び記録条件により発生する。記録ピットが大
きく書かれる傾向にある場合には、２値化後のデューテ
ィが５０：５０となる負帰還２値化スライスレベルは再
生信号の中間レベルの位置よりも上（または下）にずれ
る。逆に記録ピットが小さく書かれる傾向にある場合に
は、負帰還２値化スライスレベルは再生信号の中間レベ
ルの位置よりも下（または上）にずれる。負帰還２値化
スライスレベルと再生信号の中間レベルの位置との間の
ずれ量をアシンメトリ量という。

【００５１】図７Ａを参照して、アシンメトリが発生し
た場合には、通常再生時の負帰還２値化スライスレベル
ＳＬ３が再生信号ＲＳの中間レベルＭＬからアシンメト
リ量ＡＳＱだけずれる。負帰還２値化スライスレベルＳ
Ｌ３と上側包絡線ＲＳＵとの距離と負帰還２値化スライ
スレベルＳＬ３と下側包絡線ＲＳＤとの距離との比Ｓ：
Ｔを、アシンメトリ係数ＡＳＣと呼ぶ。

【００５２】負帰還２値化スライスレベルＳＬ３は、デ
ィフェクトによる乱れＤ１に対応する期間では、アシン
メトリ係数ＡＳＣ＝Ｓ：Ｔを保ったまま変動する。しか
し、ディフェクトによる乱れＤ１の周期が短いときには
負帰還２値化スライスレベルＳＬ３はディフェクトによ
る乱れＤ１に追従しきれず、スライスエラーが発生して
しまう。

【００５３】図７Ｂを参照して、平均回路５は、平均演
算の上下包絡線ＲＳＵ、ＲＳＤに対する重み付け係数
Ｍ：Ｎを、アシンメトリ検出回路８が出力するアシンメ
トリ係数ＡＳＣ（＝Ｓ：Ｔ）に設定し、アシンメトリ係
数ＡＳＣ（＝Ｓ：Ｔ）で表される重みを付けて平均値Ａ
ＶＥ１を演算する。

【００５４】図７Ｃを参照して、ローパスフィルタ６
は、平均値ＡＶＥ１に含まれる検波ノイズ成分を除去
し、平滑化信号ＳＭ２を出力する。図７Ｄを参照して、
減算回路７は、再生信号ＲＳから平滑化信号ＳＭ２を減
算することにより、波形整形信号ＳＳ１を出力する。

【００５５】図７Ｄに示すように、重み付け係数Ｍ：Ｎ
を、アシンメトリ係数ＡＳＣ（＝Ｓ：Ｔ）に設定すると
負帰還２値化スライスレベルＳＬ３変動が最小となり、
光ビームがディフェクトを通過する時のスライス性能を
より一層向上させることが可できる。

【００５６】なお、アシンメトリが発生した場合に、重
み付け係数Ｍ：Ｎ＝１：１としても、図７Ｄに示す負帰
還２値化スライスレベルＳＬ３の振れは若干大きくなる
ものの、実用上は問題ないレベルに収まる。

【００５７】アシンメトリ検出回路８は、例えば図８に
示す構成をとり得る。アシンメトリ検出回路８は、再生
信号ＲＳのピーク検出を行うピーク検出回路９、再生信
号ＲＳのＤＣレベルを求める第２のローパスフィルタ１
０、再生信号ＲＳのボトム検出を行うボトム検出回路１
１、第２の減算回路１２Ａ，１２Ｂおよびアシンメトリ
係数演算回路１２Ｃを備える。アシンメトリ係数演算回
路１２Ｃは、ピーク検出回路９とローパスフィルタ回路
１０の差と、ピーク検出回路９とローパスフィルタ回路
１０の差とからアシンメトリ係数ＡＳＣ（＝Ｓ：Ｔ）を
算出する。

【００５８】第１の検波回路３と第２の検波回路４との
少なくとも１つの検波時定数は、光ディスク１の表面上
での光スポットのスポット径に実質的に比例して決定さ
れ得る。

【００５９】図９Ａ及び図９Ｃは、光ディスク１の表面
の同じ大きさのディフェクトＤＦ上を異なるスポット径
Ｄ１、Ｄ２の光スポットＳＰ１、ＳＰ２が通過する様子
を示している。また、図９Ｂ及び図９Ｄは、それぞれの
場合における再生信号ＲＳの変動を示している。

【００６０】光スポットＳＰ１のスポット径Ｄ１は、光
スポットＳＰ２のスポット径Ｄ２のｎ倍であるとする
（ｎ＞１）。スポット径Ｄ１がスポット径Ｄ２のｎ倍で
あると、図９Ｂに示す再生信号ＲＳ１の落ち込み速度
は、図９Ｄに示す再生信号ＲＳ２の落ち込み速度の１／
ｎ倍となり、再生信号ＲＳ１は再生信号ＲＳ２よりも緩
やかに落ち込む。

【００６１】第１の検波回路３は、検波信号ＤＳ１、Ｄ
Ｓ２を用いて再生信号ＲＳ１、ＲＳ２をそれぞれ検波す
る。検波信号ＤＳ１の検波時定数Ｔ１は、検波信号ＤＳ
２の検波時定数Ｔ２のｎ倍に決定される。このように第
１の検波回路３の検波時定数は、光スポットのスポット
径に実質的に比例して決定される。第２の検波回路４の
検波時定数も同様に光スポットのスポット径に実質的に
比例して決定される。

【００６２】検波時定数Ｔ１、Ｔ２は再生信号ＲＳ１、
ＲＳ２の落ち込みを検出できるように決定すればよいの
で、検波時定数Ｔ１、Ｔ２は、図９Ｂ，図９Ｄ中の検波
信号ＤＳ１、ＤＳ２の傾きが確保できるように短く決定
すればよい。

【００６３】しかし、必要以上に検波時定数を短くして
急激に落ち込む再生信号を検出しようとすると、不必要
な検波ノイズを拾うため、光スポット形状を考えて適正
な検波時定数を設定をする必要がある。

【００６４】検波時定数を、光スポットのスポット径に
実質的に比例して決定すれば、不必要な検波ノイズを拾
うことなく、ディフェクト通過時のスライス性能と、通
常再生時のジッタ性能とを両立させることができる。

【００６５】第１の検波回路３あるいは第２の検波回路
４の検波時定数は、再生線速度に実質的に反比例するよ
うに決定され得る。図１０Ａおよび図１０Ｂは、同じ大
きさのディフェクトを線速度を変化させて光ビームが通
過したときの再生信号ＲＳの変動を示している。図１０
Ａは、１倍速再生時における再生信号ＲＳの変動を示
す。図１０Ｂは、ｎ倍速再生時における再生信号ＲＳの
変動を示す。

【００６６】図１０Ｂに示すように、図１０Ａに比べ再
生線速度がｎ倍になると、再生信号の落ち込み速度もｎ
倍になるため、最適な検波時定数は１／ｎになる。この
ように、検波時定数は、再生線速度に実質的に反比例す
るように決定される。

【００６７】ローパスフィルタ回路６のカットオフ周波
数は、光ディスク表面上での光スポットのスポット径に
実質的に反比例するように決定され得る。図９Ａおよび
図９Bに示すように、光スポット径がｎ倍になると、再
生信号の落ち込み速度は１／ｎ倍になり、光スポットの
光スポット径が１／ｎ倍になると、再生信号の落ち込み
速度はｎ倍になる。

【００６８】再生信号の落ち込み速度がｎ倍になると、
平滑化信号ＳＭ１に含まれる有害な信号変動（図７Ｃ）
の周波数がｎ倍になる。周波数がｎ倍の信号変動を通過
させるために、ローパスフィルタ回路６のカットオフ周
波数もｎ倍に設定する必要がある。

【００６９】従って、光スポット径が１／ｎ倍になる
と、ローパスフィルタ回路６のカットオフ周波数はｎ倍
に設定される。このように、ローパスフィルタ回路６の
カットオフ周波数は、光スポットのスポット径に実質的
に反比例するように決定される。

【００７０】ローパスフィルタ回路６のカットオフ周波
数を光スポットのスポット径に実質的に反比例するよう
に決定すると、ディフェクト通過時のスライス性能と、
通常再生時のジッタ性能とを両立させることができる。

【００７１】また、ローパスフィルタ回路６のカットオ
フ周波数は、再生線速度に実質的に比例するように決定
され得る。図１０Ｂに示すように、再生線速度がｎ倍に
なると、ディフェクト通過時の再生信号の落ち込み速度
もｎ倍になる。

【００７２】再生信号の落ち込み速度がｎ倍になると、
平滑化信号ＳＭ１に含まれる有害な信号変動（図７Ｃ）
の周波数がｎ倍になる。周波数がｎ倍の信号変動を通過
させるために、ローパスフィルタ回路６のカットオフ周
波数もｎ倍に設定する必要がある。

【００７３】従って、再生線速度がｎ倍になると、ロー
パスフィルタ回路６のカットオフ周波数はｎ倍に設定さ
れる。このように、ローパスフィルタ回路６のカットオ
フ周波数は、再生線速度に実質的に比例するように決定
される。

【００７４】ローパスフィルタ回路６のカットオフ周波
数を再生線速度に実質的に比例するように決定すると、
ディフェクト通過時のスライス性能と、通常再生時のジ
ッタ性能とを両立させることが可能である。

【００７５】（実施の形態３）図１１は、実施の形態３
に係る再生信号処理装置２００Ｂの構成を示す。図１を
参照して前述した再生信号処理装置２００の構成要素と
同一の構成要素には同一の参照符号を付している。これ
らの構成要素の詳細な説明は省略する。

【００７６】波形整形装置１００Ｂは、再生信号ＲＳの
振幅の低下を表すドロップアウトを検出するドロップア
ウト検出回路１３をさらに備える。

【００７７】ドロップアウト検出回路１３がドロップア
ウトを検出すると、第１の検波回路３と第２の検波回路
４との少なくとも１つの検波時定数は短く設定される。
これによりドロップアウトが検出される時には、ディフ
ェクト区間における変動の激しい再生信号に対する包絡
線検波の追従性を高めることができるとともに、ドロッ
プアウトが検出されない通常再生時には第１または第２
の検波回路３，４で発生する検波ノイズ等を抑圧できる
ため、通常再生時のジッタ性能とディフェクト通過時の
波形整形性能とを両立させることができる。

【００７８】図１２は、実施の形態３に係る他の再生信
号処理装置２００Ｃの構成を示す。図１１を参照して前
述した再生信号処理装置２００Ｂの構成要素と同一の構
成要素には同一の参照符号を付している。これらの構成
要素の詳細な説明は省略する。

【００７９】ドロップアウト検出回路１３がドロップア
ウトを検出すると、ローパスフィルタ６のカットオフ周
波数は高く設定される。これによりドロップアウトが検
出される時には、再生信号の変動の激しいディフェクト
区間において発生する有害な信号変動を通過させること
ができ、またドロップアウトが検出されない通常再生時
には第１または第２の検波回路３，４で発生する検波ノ
イズ等を抑圧できるため、通常再生時のジッタ性能とデ
ィフェクト通過時の波形整形性能とを両立することがで
きる。

【００８０】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、光ディス
ク表面上のディフェクトにより光ディスクからの再生信
号の信号レベルが大きく変動する場合であっても、正し
く再生信号を２値化することを可能にする波形整形装置
を提供することができる。

【００８１】また本発明によれば、ディフェクトが無い
状態においても正しく再生信号を２値化することを可能
にする波形整形装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態１における波形整形装置のブロック
図。

【図２Ａ】ディフェクトを有する光ディスクの再生信号
波形の一例を示す図。

【図２Ｂ】実施の形態１におけるディフェクトを有する
光ディスクの再生信号波形に重み付をして得た平均値を
示す図。

【図２Ｃ】実施の形態１におけるディフェクトを有する
光ディスクの再生信号波形に含まれる変動成分を示す
図。

【図２Ｄ】実施の形態１におけるディフェクトを有する
光ディスクの再生信号波形を上下対称とした図。

【図３】実施の形態１における平均回路の一例を示す
図。

【図４Ａ】再生信号の周波数スペクトラムを示す図。

【図４Ｂ】実施の形態１における再生信号の周波数スペ
クトラムを示す図。

【図５】実施の形態１における重み付け係数が１：１の
場合の平均回路の一例を示す図。

【図６】実施の形態２における波形整形装置を示す図。

【図７Ａ】再生信号波形の一例を示す図。

【図７Ｂ】実施の形態２における再生信号波形に重み付
をして得た平均値を示す図。

【図７Ｃ】実施の形態２における再生信号波形に含まれ
る変動成分を示す図。

【図７Ｄ】実施の形態２における再生信号波形と負帰還
２値化スライスレベルとの関係を示す図。

【図８】実施の形態２におけるアシンメトリ検出回路の
一例を示す図。

【図９Ａ】ディフェクトを通過する大きいスポット径を
有する光スポットの説明図。

【図９Ｂ】大きいスポット径を有する光スポットがディ
フェクトを通過する場合の再生信号の落ち込みの説明
図。

【図９Ｃ】ディフェクトを通過する小さいスポット径を
有する光スポットの説明図。

【図９Ｄ】小さいスポット径を有する光スポットがディ
フェクトを通過する場合の再生信号の落ち込みの説明
図。

【図１０Ａ】再生線速度が通常の場合の再生信号の変動
を示す図。

【図１０Ｂ】再生線速度が速い場合の再生信号の変動を
示す図。

【図１１】実施の形態３における波形整形装置を示す
図。

【図１２】実施の形態３における他の波形整形装置を示
す図。

【図１３Ａ】２値化回路のブロック図。

【図１３Ｂ】２値化回路に入力される高周波再生信号の
説明図。

【図１４】従来の波形整形回路を説明するための図。

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ 光ピックアップ回路 ３ 第１の検波回路 ４ 第２の検波回路 ５ 平均回路 ６ ローパスフィルタ ７ 減算回路 ８ アシンメトリ検出回路 ９ ピーク検出回路 １０ 第２のローパスフィルタ １１ ボトム検出回路 １２Ａ、１２Ｂ 第２の減算回路 １３ ドロップアウト検出回路 １１０ コンパレータ １０１ チャージポンプ １０２ チャージコンデンサ １０３ バッファ １０４ ローパスフィルタ １０５ ハイパスフィルタ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青木 和弘 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 兼上 陽一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに記録された信号を再生する
   光ピックアップ回路からの再生信号を第１検波時定数で
   検波し前記再生信号の上側包絡線を検出する第１検波回
   路と、 前記再生信号を第２検波時定数で検波し前記再生信号の
   下側包絡線を検出する第２検波回路と、 前記上側包絡線と前記下側包絡線とに重み付け係数で表
   される重みを付けて平均値を演算する平均回路と、 前記再生信号から前記平均回路により演算された前記平
   均値に対応する信号を減算して波形整形信号を出力する
   減算回路とを備える波形整形装置。
2. 【請求項２】 前記波形整形装置は、前記平均値を平滑
   化して平滑化信号を出力するローパスフィルタをさらに
   含み、 前記減算回路は、前記再生信号から前記ローパスフィル
   タ回路により出力される前記平滑化信号を減算する、請
   求項１記載の波形整形装置。
3. 【請求項３】 前記重み付け係数は、１：１である、請
   求項１記載の波形整形装置。
4. 【請求項４】 前記重み付け係数は、前記再生信号のア
   シンメトリ量に基づいて決定される、請求項１記載の波
   形整形装置。
5. 【請求項５】 前記波形整形装置は、前記アシンメトリ
   量を検出するアシンメトリ検出回路をさらに備える、請
   求項４記載の波形整形装置。
6. 【請求項６】 前記第１検波時定数と前記第２検波時定
   数との少なくとも一方は、前記光ディスク上の光スポッ
   トのスポット径に実質的に比例するように決定される、
   請求項１記載の波形整形装置。
7. 【請求項７】 前記第１検波時定数と前記第２検波時定
   数との少なくとも一方は、前記光ディスクの再生線速度
   に実質的に反比例するように決定される、請求項１記載
   の波形整形装置。
8. 【請求項８】 前記ローパスフィルタのカットオフ周波
   数は、前記光ディスク上の光スポットのスポット径に実
   質的に反比例するように決定される、請求項２記載の波
   形整形装置。
9. 【請求項９】 前記ローパスフィルタのカットオフ周波
   数は、前記光ディスクの再生線速度に実質的に比例する
   ように決定される、請求項２記載の波形整形装置。
10. 【請求項１０】 前記波形整形装置は、前記再生信号の
    振幅の低下を表すドロップアウトを検出するドロップア
    ウト検出回路をさらに備え、 前記ドロップアウト検出回路により前記ドロップアウト
    が検出されたときは、前記第１検波時定数とを前記第２
    検波時定数との少なくとも一方が短く設定される、請求
    項１記載の波形整形装置。
11. 【請求項１１】 前記波形整形装置は、前記再生信号の
    振幅の低下を表すドロップアウトを検出するドロップア
    ウト検出回路をさらに備え、 前記ドロップアウト検出回路により前記ドロップアウト
    が検出されたときは、前記ローパスフィルタ回路のカッ
    トオフ周波数が高く設定される、請求項２記載の波形整
    形装置。