JP2000214068A - 粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器およびその製作方法 - Google Patents
粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器およびその製作方法Info
- Publication number
- JP2000214068A JP2000214068A JP11327465A JP32746599A JP2000214068A JP 2000214068 A JP2000214068 A JP 2000214068A JP 11327465 A JP11327465 A JP 11327465A JP 32746599 A JP32746599 A JP 32746599A JP 2000214068 A JP2000214068 A JP 2000214068A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- array detector
- scattered light
- size distribution
- scattered
- particle size
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000009826 distribution Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 35
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000001739 density measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
粒径分布測定装置を提供すること。 【解決手段】 レーザ光源5からのレーザ光4を分散し
た粒子群に照射したときに生ずる散乱光の強度を各散乱
角ごとに検出する複数の散乱光検出素子を有するアレイ
検出器21を備え、各散乱光検出素子からの散乱光強度
信号に基づいて前記粒子群における粒径分布を測定する
ようにした装置において、前記アレイ検出器21とし
て、一つの検出平面に光軸を中心にして一つの半径方向
に設けられる複数の散乱光検出素子24a〜24nを、
それらの扇形角が一定になるようにするのではなく、予
め設定された幅内において最大の扇形角が得られるよう
に形成されてなるものを用いた。
Description
置並びにこの装置に用いるアレイ検出器およびその製作
方法に関する。
ザ光源からのレーザ光を分散した粒子群に照射したとき
に生ずる散乱光の強度を各散乱角ごとに検出する複数の
散乱光検出素子を有するアレイ検出器を備えている。
を示すもので、この図において、1は適宜の分散媒に測
定対象の粒子群を分散させた試料液2が供給される透明
な容器よりなる流通型のセル(フローセル)である。3
はこのセル1の一方の側(後方側)に設けられるレーザ
光源部で、例えば平行なレーザ光4を発するHe−Ne
レーザからなるレーザ光源5と、レーザ光4の進行方向
を90°ずつ変えるミラー6,7と、平行なレーザ4を
光束方向にを適宜拡大するビーム拡大器8などからな
る。
れる集光レンズで、その焦点位置にリング状のアレイ検
出器10が配置されている。このアレイ検出器10は、
図5に示すように、集光レンズ9の光軸に対応する位置
に形成される透過光検出素子11と、この透過光検出素
子11を中心として同心円状に、複数の円弧状で、か
つ、透過光検出素子11から遠ざかるにしたがって幅広
となる散乱光受光素子12a,12b,……,12nか
らなり、散乱光4Aを検出するための散乱光検出用素子
群12とからなる。なお、13はアイソレーションギャ
ップである。このようなアレイ検出器10は、セル1内
の粒子によって回折または散乱した光を各散乱角ごとに
それぞれ受光して、それらの光強度を測定する。なお、
前記透過光検出素子11は、光軸調整や試料液2の濃度
測定に用いられる。
光強度信号)を順次取り込み、AD変換器15に順次送
出するマルチプレクサ、16はAD変換器15の出力が
入力される演算処理装置としてのコンピュータである。
このコンピュータ16には、ディジタル信号に変換され
たアレイ検出器10の出力を、フラウンホーファ回折理
論やミー散乱理論に基づいて処理し、粒子群における粒
径分布を求めるためのプログラムが格納されている。1
7は演算結果などを表示するカラーディスプレイであ
る。
に試料液2を供給している状態で、レーザ光源5からの
レーザ光4を試料セル1に照射すると、このレーザ光4
は、セル1中の粒子によって回折または散乱する。この
回折光または散乱光4Aは、集光レンズ9によってアレ
イ検出器10上に入射し、アレイ検出器10を構成する
散乱光受光素子12a,12b,……,12nからの出
力は、それぞれプリアンプ(図示していない)によって
増幅された後、マルチプレクサ14に入力される。
イ検出器10によって得られた各散乱角ごとの光強度デ
ータ、つまりアナログ電気信号が所定の順序で順次取り
込まれる。そして、マルチプレクサ14によって取り込
まれたアナログ電気信号は直列信号にされて、AD変換
器15で順次ディジタル信号に変換され、さらに、コン
ピュータ16に入力される。そして、このコンピュータ
16においては、アレイ検出器10によって得られた各
散乱角ごとの光強度データを、フラウンホーファ回折理
論やミー散乱理論に基づいて処理し、前記試料液2中の
粒子の粒径分布が求められ、その結果がカラーディスプ
レイ17に表示されたり、メモリ装置(図示していな
い)に格納される。
検出器10は、ウェーハを所定の形状に切断して製作さ
れるが、従来においては、アレイ検出器10の散乱光検
出素子群12を構成する各素子12a〜12nの開き角
度を一定、例えば90°となるようにしていたので、次
のような不都合があった。すなわち、アレイ検出器10
においては、散乱光検出素子12a〜12nの散乱光検
出特性を互いに等しくなるようにする必要があるところ
から、図5に示すように、透過光検出素子11から遠ざ
かるにしたがって、散乱光検出素子12a〜12nの半
径方向および円周方向の寸法を漸次増大させ、その面積
も指数関数的に増大するように形成される。この場合、
各散乱光検出素子12a〜12nの開き角度が一定であ
ると、透過光検出素子11からの半径が大きくなるに伴
って、散乱光検出素子12a〜12nの有効な部分(図
5中の符号aで示す部分)の面積が大きくなり、このた
め、アレイ検出器10が大型化するとともに、これを保
持する装置などが大きくなるため、粒径分布測定装置が
大型化する。
アレイ検出器10の数も、前記開き角度が90°である
と、図5に示すように、4となり、ウェーハ1枚当たり
で製作できるアレイ検出器10の数は少なく、それだ
け、コストアップとなり、ひいては粒径分布測定装置が
高価になる。
たもので、その第1の目的は、アレイ検出器部分の構成
をコンパクトにした粒径分布測定装置を提供することで
あり、第2の目的は、この装置に用いる専有面積の小さ
いコンパクトなアレイ検出器を提供することであり、第
3の目的は、1枚のウェーハからアレイ検出器をできる
だけ多く製作できるアレイ検出器の製作方法を提供する
ことである。
るため、第1の発明では、レーザ光源からのレーザ光を
分散した粒子群に照射したときに生ずる散乱光の強度を
各散乱角ごとに検出する複数の散乱光検出素子を有する
アレイ検出器を備え、各散乱光検出素子からの散乱光強
度信号に基づいて前記粒子群における粒径分布を測定す
るようにした装置において、前記アレイ検出器として、
一つの検出平面に光軸を中心にして一つの半径方向に設
けられる複数の散乱光検出素子を、それらの扇形角が一
定になるようにするのではなく、予め設定された幅内に
おいて最大の扇形角が得られるように形成されてなるも
のを用いている(請求項1)。
明では、レーザ光源からのレーザ光を分散した粒子群に
照射したときに生ずる散乱光の強度を各散乱角ごとに検
出する複数の散乱光検出素子を有するアレイ検出器にお
いて、一つの検出平面に光軸を中心にして一つの半径方
向に設けられる複数の散乱光検出素子を、それらの扇形
角が一定になるようにするのではなく、予め設定された
幅内において最大の扇形角が得られるように形成してい
る(請求項2)。
明では、ウェーハから複数の散乱光検出素子を切り取る
ようにしたアレイ検出器の製作方法において、一つの検
出平面に光軸を中心にして一つの半径方向に設けられる
複数の散乱光検出素子を、それらの扇形角が一定になる
ようにするのではなく、予め設定された幅内において最
大の扇形角が得られるようにウェーハから切り取るよう
にしている(請求項3)。
うに、中心23から最も遠い位置にある散乱光検出素子
24nの幅Wn は、予め設定してある最大幅Wを超える
ことがなく、したがって、同じ素子数である場合、ウェ
ーハにおける専有面積を小さくすることができ、そのた
め、コンパクトでしかも安価なアレイ検出器が得られ
る。
実施の形態を示すもので、まず、図1は、粒径分布測定
装置の要部の構成を概略的に示す図である。この図にお
いて、図4に示した符号と同一のものは同一物であるの
で、それらの説明は省略する。21はアレイ検出器で、
垂直に立設された検出器保持部材22に取り付けられて
いる。このアレイ検出器21が図4および図5に示した
従来のアレイ検出器10と異なる点は、一つの検出平面
に光軸を中心にして一つの半径方向に設けられる複数の
散乱光検出素子を、それらの扇形角が一定になるように
するのではなく、予め設定された幅内において最大の扇
形角が得られるように形成されている点である。以下、
これについて、図2および図3を参照しながら説明す
る。
面的な構成を概略的に示すもので、この図において、2
3は光軸調整および濃度測定用の透過光検出素子であ
る。この透過光検出素子23は光軸に対応するものであ
る。そして、24a〜24nは、前記透過光検出素子2
3を中心として同心円状に、複数の円弧状で、かつ、透
過光検出素子23から遠ざかるにしたがってその半径方
向の寸法が漸次指数関数的に増大する散乱光受光素子で
ある。そして、扇形角が互いに等しい散乱光検出素子2
4a〜24dはその半径方向のみならず円周方向の寸法
も漸次増大し、扇形角が互いに異なる検出素子24e〜
24nは半径方向の寸法のみが漸次指数関数的に増大す
るように形成されている。25は透過光検出素子23お
よび散乱光検出素子24a〜24nの各素子の間に形成
されるアイソレーションギャップである。
前記散乱光検出素子24a〜24nの扇形角を、従来の
ように一定(例えば90°)になるようにしたものでは
なく、予め設定された幅内において最大の扇形角が得ら
れるようにしてある。すなわち、図2において、扇形の
中心に位置する透過光検出素子23に近い散乱光検出素
子、図示例では、符号24a〜24dについては、その
扇形角θは互いに等しく、例えば90°となるようにし
てあるが、透過光検出素子24dより外側に位置する散
乱光検出素子24e〜24nは、図中に符号Wで示す幅
が予め設定されているところから、それらの扇形角は徐
々に小さくなるようにしてあり、例えば、最も遠くの散
乱光検出素子24nの扇形角θn は30°以下になる場
合もある。
は、前記散乱光検出素子のうち24a〜24dは、半径
方向および円周方向の寸法が漸次指数関数的に増大し、
24e〜24nは半径方向の寸法のみが漸次指数関数的
に増大するといった条件を満たすため、予め設定された
幅寸法W内において最大の扇形角が得られるように形成
されているのである。このように構成されたアレイ検出
器21においては、全体が幅W×長さLからなる矩形状
の範囲内に納まることになり、その専有面積は従来のア
レイ検出器10に比べてかなり小さくなる。
えば図3に示すような直径が例えば8インチのウェーハ
25に、最大幅Wと長さLの矩形部分26を寸法取り
し、この矩形部分26の幅方向の中心の一端側に透過光
検出素子23となる部分を設定し、この設定された透過
光検出素子23を中心にして複数の散乱光検出素子24
a〜24nを、上記段落0016に記載したように形成
するのである。この発明のアレイ検出器21の製作方法
によれば、アレイ検出器21の専有面積が小さくなるこ
とから、1枚のウェーハ25から、従来と同様性能のア
レイ検出器21を、3〜4倍も多く製作することがで
き、それだけ、コストダウンが図れる。
21は、その透過光検出素子23が集光レンズ9の光軸
と一致するようにして検出器保持部材22に取り付けら
れる。
検出器21は、図2に示すように、中心23から最も遠
い位置にある散乱光検出素子の幅Wn は、予め設定して
ある最大幅Wを超えるないように製作されるため、透過
光検出素子23からの半径が大きくなるに伴って、散乱
光検出素子24a〜24nの有効な部分の面積が徒に増
大するといったことがなくなり、全体としてコンパクト
に構成される。したがって、同じ素子数である場合、ウ
ェーハ25における専有面積を小さくすることができ、
そのため、1枚のウェーハ25から従来に比べて数倍の
アレイ検出器21を製作することができ、製作コストが
低減される。そして、このようなコンパクトな形状のア
レイ検出器21を保持する装置22も従来より小型で簡
単な形状のものでよいから、粒径分布測定装置そのもの
の構成が小型化されるとともに、コストダウンが図れ
る。
ものではなく、種々に変形して実施することができる。
例えば、粒径分布測定装置としては、アレイ検出器21
のほかに、セル1の近傍に、セル1内の粒子によって回
折または散乱したレーザ光4Aのうちアレイ検出器21
では検出できないような大きな角度で散乱/回折した光
を各散乱角ごとに個別に検出する広角散乱光用光検出群
を設け、より微小な粒子の粒径分布の測定も併せてでき
るようにしてあってもよい。
ては、必ずしも平行である必要はなく、レーザ光源5と
して半導体レーザを用い、これとセル1との間に集光レ
ンズを設けるようにして、集光したレーザ光を照射する
ようにしてもよい。
さらに、測定対象は、液体中の粒子のみならず、気体中
に分散した粉体や粒子、固体中の粉体や粒体などであっ
てもよい。
ける散乱光検出素子の幅が一定に制限されるので、全体
としてアレイ検出器がコンパクトに構成される。そし
て、1枚のウェーハからより多くの多くのアレイ検出器
を製作することができ、アレイ検出器の製作コストが低
減される。そして、このようなコンパクトな形状のアレ
イ検出器の保持装置も小型化され、粒径分布測定装置そ
のものの構成が小型化されるとともに、コストダウンが
図れる。
略的に示す図である。
略的に示す図である。
の説明図である。
す図である。
図である。
24a〜24n…散乱光検出素子、25…ウェーハ、
θ,θn …扇形角。
Claims (3)
- 【請求項1】 レーザ光源からのレーザ光を分散した粒
子群に照射したときに生ずる散乱光の強度を各散乱角ご
とに検出する複数の散乱光検出素子を有するアレイ検出
器を備え、各散乱光検出素子からの散乱光強度信号に基
づいて前記粒子群における粒径分布を測定するようにし
た装置において、前記アレイ検出器として、一つの検出
平面に光軸を中心にして一つの半径方向に設けられる複
数の散乱光検出素子を、それらの扇形角が一定になるよ
うにするのではなく、予め設定された幅内において最大
の扇形角が得られるように形成されてなるものを用いた
ことを特徴とする粒径分布測定装置。 - 【請求項2】 レーザ光源からのレーザ光を分散した粒
子群に照射したときに生ずる散乱光の強度を各散乱角ご
とに検出する複数の散乱光検出素子を有するアレイ検出
器において、一つの検出平面に光軸を中心にして一つの
半径方向に設けられる複数の散乱光検出素子を、それら
の扇形角が一定になるようにするのではなく、予め設定
された幅内において最大の扇形角が得られるように形成
したことを特徴とするアレイ検出器。 - 【請求項3】 ウェーハから複数の散乱光検出素子を切
り取るようにしたアレイ検出器の製作方法において、一
つの検出平面に光軸を中心にして一つの半径方向に設け
られる複数の散乱光検出素子を、それらの扇形角が一定
になるようにするのではなく、予め設定された幅内にお
いて最大の扇形角が得られるようにウェーハから切り取
るようにしたことを特徴とするアレイ検出器の製作方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32746599A JP3658256B2 (ja) | 1998-11-20 | 1999-11-17 | 粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10-331106 | 1998-11-20 | ||
| JP33110698 | 1998-11-20 | ||
| JP32746599A JP3658256B2 (ja) | 1998-11-20 | 1999-11-17 | 粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000214068A true JP2000214068A (ja) | 2000-08-04 |
| JP3658256B2 JP3658256B2 (ja) | 2005-06-08 |
Family
ID=26572513
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32746599A Expired - Lifetime JP3658256B2 (ja) | 1998-11-20 | 1999-11-17 | 粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3658256B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007527997A (ja) * | 2004-03-06 | 2007-10-04 | マイケル トレイナー, | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
| US7499809B2 (en) | 2004-08-30 | 2009-03-03 | Horiba, Ltd. | Particle size distribution analyzer |
| WO2019021621A1 (ja) * | 2017-07-26 | 2019-01-31 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
-
1999
- 1999-11-17 JP JP32746599A patent/JP3658256B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007527997A (ja) * | 2004-03-06 | 2007-10-04 | マイケル トレイナー, | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
| JP2012103259A (ja) * | 2004-03-06 | 2012-05-31 | Michael Trainer | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
| JP2016026301A (ja) * | 2004-03-06 | 2016-02-12 | トレイナー, マイケルTRAINER, Michael | 粒子のサイズおよび形状を決定する方法および装置 |
| US7499809B2 (en) | 2004-08-30 | 2009-03-03 | Horiba, Ltd. | Particle size distribution analyzer |
| WO2019021621A1 (ja) * | 2017-07-26 | 2019-01-31 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
| US11874224B2 (en) | 2017-07-26 | 2024-01-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3658256B2 (ja) | 2005-06-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2825644B2 (ja) | 粒子寸法分析方法および装置 | |
| JP2930710B2 (ja) | 偏光強度差分散乱を使用する粒子寸法分析 | |
| US5767967A (en) | Method and device for precise counting and measuring the particulates and small bodies | |
| US4053229A (en) | 2°/90° Laboratory scattering photometer | |
| US4537507A (en) | Dual beam maximum intensity laser sizing system | |
| US5781649A (en) | Surface inspection of a disk by diffraction pattern sampling | |
| JP2000121540A (ja) | 粒径分布測定装置 | |
| TW201706593A (zh) | 在雷射暗場系統中用於斑點抑制之方法及裝置 | |
| US6236458B1 (en) | Particle size distribution measuring apparatus, including an array detector and method of manufacturing the array detector | |
| JP2863874B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| JP3258889B2 (ja) | 散乱式粒度分布測定装置における光軸調整方法 | |
| JP2000214068A (ja) | 粒径分布測定装置並びにこの装置に用いるアレイ検出器およびその製作方法 | |
| JP2862077B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| JP3285309B2 (ja) | 光検出器 | |
| US6285736B1 (en) | Method for X-ray micro-diffraction measurement and X-ray micro-diffraction apparatus | |
| JPH0546937B2 (ja) | ||
| JP4994722B2 (ja) | 超小角x線散乱測定の測定結果表示方法、及び超小角x線散乱測定に基づく配向度の解析方法 | |
| US3932762A (en) | Apparatus for measuring radiation angle dependence | |
| JP2626009B2 (ja) | 粒度分布測定装置 | |
| Wein | Small-angle scatter measurement | |
| JP3258904B2 (ja) | 散乱光検出器 | |
| JP4105888B2 (ja) | 粒子径分布測定装置 | |
| EP0909375A1 (en) | Spectrometer | |
| JP2001272355A (ja) | 異物検査装置 | |
| JP3258890B2 (ja) | 散乱式粒度分布測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041108 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041124 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050124 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050308 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050311 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3658256 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110318 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110318 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120318 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130318 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130318 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130318 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140318 Year of fee payment: 9 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |