JP2000214586A - 感光性樹脂組成物、パタ―ンの製造法及び電子部品 - Google Patents
感光性樹脂組成物、パタ―ンの製造法及び電子部品Info
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Abstract
パターン性に優れる感光性樹脂組成物を提供する。 【解決手段】(a)一般式(1) 【化1】 (4つのRは、各々独立に炭化水素基であり、A−は一
般式(1)中のR4N+とイオン結合を形成する酸の陰
イオンである)で表わされるアンモニウム塩化合物及び
(b)ポリイミド前駆体を含有してなる感光性樹脂組成
物、パターンの製造法及び電子部品。
Description
及びこの組成物を用いたパターンの製造法並びに電子部
品に関する。
無機材料を用いて行われていた層間絶縁材料として、ポ
リイミド樹脂等のような耐熱性に優れた有機物が、その
特性を活かして使用されてきている。
の回路パターン形成は、基材表面へのレジスト材の造
膜、所定箇所への露光、エッチング等により不要箇所の
除去、基板表面の洗浄作業等の煩雑で多岐に亘工程を経
てパターン形成が行われることから、露光、現像による
パターン形成後も必要な部分のレジストを絶縁材料とし
てそのまま残して用いることができる耐熱感光材料の開
発が望まれている。
イミド、環化ポリブタジエン等をベースポリマとした耐
熱感光材料が提案されており、特に感光性ポリイミド
は、その耐熱性が優れていることや不純物の排除が容易
であること等の点から特に注目されている。
は、ポリイミド前駆体と重クロム酸塩からなる系(特公
昭49−17374号公報)が最初に提案されたが、こ
の材料は、実用的な光感度を有するとともに膜形成能が
高い等の長所を有する反面、保存安定性に欠け、ポリイ
ミド中にクロムイオンが残存すること等の欠点があり、
実用には至らなかった。
ば、ポリイミド前駆体に感光基を有する化合物を混合す
る方法(特開昭54−109828号公報)などが提案
されている。しかし、これらの感光性ポリイミドは保存
安定性が悪く、例えば室温放置における粘度安定性に問
題があるため、それに伴ってパターンの形状など現像特
性が初期値に比べ変動するという問題があった。
明は、製造法が容易で、特に保存安定性に優れる感光性
樹脂組成物を提供するものである。請求項3記載の発明
は、請求項1記載の発明の課題に加え、さらにパターン
性に優れる感光性樹脂組成物を提供するものである。
る感光性樹脂組成物の使用により良好な形状のパターン
が得られるパターン製造法を提供するものである。請求
項5記載の発明は、良好なパターンを表面保護膜、層間
絶縁膜等として有することにより、信頼性に優れる電子
部品を提供するものである。
(1)
式(1)中のR4N+とイオン結合を形成する酸の陰イ
オンである)で表わされるアンモニウム塩化合物及び
(b)ポリイミド前駆体を含有してなる感光性樹脂組成
物に関する。
を含有する感光性樹脂組成物に関する。また本発明は、
前記一般式(1)における、A−で表される基が硝酸、
ピクリン酸、カルボン酸及びスルホン酸からなる群より
選択される酸の陰イオンである感光性樹脂組成物に関す
る。
(b)成分の量100重量部に対して、0.01〜10
重量部である感光性樹脂組成物に関する。また本発明
は、前記の感光性樹脂組成物を支持基板上に塗布し乾燥
する工程、露光する工程、現像する工程及び加熱処理す
る工程を含むパターンの製造法に関する。また本発明
は、前記の製造法により得られるパターンの層を有して
なる電子部品に関する。
ニウム塩化合物は、H−Aで示される酸の水溶液を、R
4NOHの水溶液で中和した後、水を除去することで得
られる。Rで示される炭化水素基としては、メチル基、
エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基等の鎖状
アルキル基、イソプロピル基等の分岐アルキル基、シク
ロペンチル基、シクロヘキシル基等の環状アルキル基な
どのアルキル基、フェニル基、トルイル基等の芳香環を
有する芳香族基が好ましいものとして挙げられる。その
炭素原子数としては、1〜15のものが好ましい。これ
ら置換基は単独で又は2種類以上を組み合わせて使用さ
れる。
酸、ピクリン酸、各種カルボン酸、各種スルホン酸等か
ら選択される酸の陰イオンが良好なパターンを与えるこ
とができるので好ましい。前記各種カルボン酸としては
安息香酸、酢酸、トリフルオロ酢酸、フタル酸、オキシ
ジフタル酸、ピロメリット酸、3,3,4,4,−ベン
ゾフェノンテトラカルボン酸等のカルボキシル基を1〜
4有するものが好ましいものとして挙げられ、スルホン
酸としては、硫酸、トリフルオロメタンスルホン酸等が
好ましいものとして挙げられる。
(b)成分のポリイミド前駆体の樹脂の量100重量部
に対して、0.01〜10重量部とすることが好まし
く、0.05〜5重量部とすることがより好ましい。こ
の使用量が、0.01重量部未満であると、室温保管時
の粘度が低下もしくは上昇する傾向があり、10重量部
を超えると、現像後に得られる残膜特性、例えば現像パ
ターン性が劣る傾向がある。
ド前駆体としては、光により二量化又は重合する感光基
を有し、その感光基の二量化又は重合により、露光部分
が現像液により溶解しないか、溶解しにくくなる、いわ
ゆるネガ型の感光性ポリイミド前駆体であることが好ま
しい。
えば、テトラカルボン酸二無水物又はその誘導体と、ジ
アミンとがアミド結合を形成して得られる下記一般式
(2)の繰り返し単位を有するものが挙げられる。
基を示し、A1及びA2は各々独立にOH、OR1、N
HR2又はO−N+HR3R4R5であり、R1、
R2、R3、R4及びR5は各々独立に1価の有機基で
あり、Zは炭素炭素不飽和二重結合を有する1価の有機
基であり、nは0、1又は2であり、nが0の場合には
A1及びA2の少なくとも一方はOR1、NHR2又は
O−N+HR3R4R5であってそのR1、R2及びR
3は炭素炭素不飽和二重結合を有する1価の有機基であ
る)
の有機基は芳香環を含むことが好ましく、Yで示される
有機基は芳香環またはシロキサン結合を含むことが好ま
しい。前記芳香環としては、ベンゼン環、ナフタレン
環、ピリジン環等が挙げられる。X及びYとしては、1
つの芳香環から構成されるもの、2〜10の芳香環が単
結合、エーテル基、アルキレン基、フッ素化アルキレン
基、スルホニル基、スルホキシル基(−SO−)、カル
ボニル基等を介して結合したものが挙げられる。またこ
れらは、その芳香環上に炭化水素基、ハロゲン化炭化水
素基、ハロゲン原子等の置換基を有していてもよい。
示される1価の有機基としては、炭素数1〜10のアル
キル基、フェニル基、炭素炭素不飽和二重結合を有する
基などが挙げられるが、R1、R2及びR3が、炭素炭
素不飽和二重結合を有する一価の有機基の場合は、下記
一般式(3)
ェニル基、ビニル基及びプロペニル基からそれぞれ独立
に選択された基、R9は2価の有機基を示す)で表され
る一価の有機基が好ましいものとして挙げられる。
R6、R7及びR8のうちアルキル基としては炭素原子
数1〜4のものが挙げられる。また、R9で示される2
価の有機基としては、メチレン基、エチレン基、プロピ
レン基等の炭素原子数1〜4のアルキレン基が挙げられ
る。
と、Xに結合する2つのアミド基とは、全て芳香環に直
接結合することが好ましく、この場合、−COA1及び
−COA2で示される基は、いずれか一方のアミド基に
対してオルト位又はペリ位に位置することが好ましい。
ル基、アクリロイル基、メタクリロイル基を含む基など
が挙げられる。上記ポリイミド前駆体は、テトラカルボ
ン酸二無水物または誘導体、ジアミン及び必要に応じて
その他の化合物を材料として得られる。
例えば、オキシジフタル酸二無水物、ピロメリット酸二
無水物、3,3,4,4,−ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物、3,3,4,4,−ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物、1,2,5,6−ナフタレンテト
ラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−ナフタレンテ
トラカルボン酸二無水物、1,4,5,8−ナフタレン
テトラカルボン酸二無水物、2,3,5,6−ピリジン
テトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10−ペリレ
ンテトラカルボン酸二無水物、スルホニルジフタル酸無
水物、m− ターフェニルー3,3,4,4,−テトラ
カルボン酸二無水物、p− ターフェニルー3,3,
4,4,−テトラカルボン酸二無水物、1,1,1,
3,3,3,−ヘキサフルオロ−2,2,−ビス(2,
3−又は3,4,−ジカルボキシフェニル)プロパ二無
水物、2,2,−ビス(2,3−又は3,4−ジカルボ
キシフェニル)プロパン二無水物、2,2,−ビス{4
−(2,3−又は3,4−ジカルボキシフェノキシ)フ
ェニル}プロパン二無水物、1,1,1,3,3,3,
−ヘキサフルオロ−2,2,−ビス{4−(2,3−又
は3,4−ジカルボキシフェノキシ)フェニル}プロパ
ン二無水物等が挙げられ、これらは、単独で又は二種以
上を組み合わせて用いられる。
ないが、2,2´−ジメチル−4,4´−ジアミノビフ
ェニル、3,3´−ジメチル−4,4´−ジアミノビフ
ェニル、2,2´,6,6´−テトラメチル−4,4´
−ジアミノビフェニル、3,3´,5,5´−テトラメ
チル−4,4´−ジアミノビフェニル、4,4,−(又
は3,4,−、3,3,−、2,4,−、2,2,−)
ジアミノジフェニルエーテル、4,4,−(又は3,
4,−、3,3,−、2,4,−、2,2,−)ジアミ
ノジフェニルメタン、4,4,−(又は3,4,−、
3,3,−、2,4,−、2,2,−)ジアミノジフェ
ニルスルホン、4,4,−(又は3,4,−、3,3,
−、2,4,−、2,2,−)スルフィド、3,3,−
ジアミノジフェニルスルホン及びパラフェニレンジアミ
ン、メタフェニレンジアミン、p−キシリレンジアミ
ン、m−キシリレンジアミン、o− トリジン,o−ト
リジンスルホン、4,4,−メチレン−ビス−(2,6
−ジエチルアニリン)、4,4,−メチレン−ビス−
(2,6−ジイソプロピルアニリン)、2,4−ジアミ
ノメシチレン、1,5,−ジアミノナフタレン、4,
4,−ベンゾフェノンジアミン、ビス−{4−(4,−
アミノフェノキシ)フェニル}スルホン、1,1,1,
3,3,3−ヘキサフルオロ−2−,2−ビス(4−ア
ミノフェニル)プロパン、2,2−ビス{4−(4,−
アミノフェノキシ)フェニル}プロパン、3,3,−ジ
メチル−4,4,−ジアミノジフェニルメタン、3,
3,5,5,−テトラメチル−4,4,−ジアミノジフ
ェニルメタン、ビス{4−(3,−アミノフェノキシ)
フェニル}スルホン及び2,2−ビス(4−アミノフェ
ニル)プロパンが好ましく、これらは単独又は二種以上
を組み合わせて用いられる。
10の整数である)で示されるジアミノポリシロキサン
等の脂肪族ジアミンを用いてもよい。
溶媒としては、生成するポリイミド前駆体を完全に溶解
する極性溶媒が一般に好ましく、例えば、N−メチル−
2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,
N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、テ
トラメチル尿素、ヘキサメチルリン酸トリアミド及びγ
−ブチロラクトン等が挙げられる。
エステル類、ラクトン類、エーテル類、ハロゲン化炭化
水素類、炭化水素類、例えば、アセトン、ジエチルケト
ン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シ
クロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチ
ル、シュウ酸ジエチル、マロン酸ジエチル、ジエチルエ
ーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチ
レングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフラ
ン、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエタン、1,4
−ジクロロブタン、トリクロロエタン、クロロベンゼ
ン、o−ジクロロベンゼン、ヘキサン、ヘプタン、オク
タン、ベンゼン、トルエン、キシレン等も使用すること
ができる。これらの有機溶媒は、単独で又は二種類以上
を組み合わせて使用される。
は、炭素炭素不飽和二重結合とアミノ基またはその四級
化塩の基を有する化合物が、ポリアミド酸のカルボキシ
ル基とアミノ基またはその四級化塩の基の部分でイオン
結合した形を呈するポリイミド前駆体、エステル結合を
介して側鎖に炭素炭素不飽和二重結合を有するポリアミ
ド酸エステル、アミド結合を介して側鎖に炭素炭素不飽
和二重結合を有するポリアミド酸アミド等の共有結合を
介して側鎖に炭素炭素不飽和二重結合を導入されたポリ
イミド前駆体などがある。
合で炭素炭素不飽和二重結合を導入した形のポリイミド
前駆体を含む組成物の現像に好適である。イオン結合で
炭素炭素不飽和二重結合を導入する場合、前記炭素炭素
不飽和二重結合とアミノ基またはその四級化塩の基とを
有する化合物の使用量は、光硬化性、耐熱性等の点から
ポリアミド酸の有するカルボキシル基と等モル±50モ
ル%となる量とすることが好ましい。
その四級化塩の基とを有する化合物の例としては次の化
合物が挙げられる。N,N−ジメチルアミノエチルアク
リレート、N,N−ジメチルアミノプロピルアクリレー
ト、N,N−ジメチルアミノエチルメタクリレート、
N,N−ジメチルアミノプロピルメタクリレート、N,
N−ジメチルアミノブチルアクリレート、N,N−ジメ
チルアミノブチルメタクリレート、N,N−ジエチルア
ミノエチルアクリレート、N,N−ジエチルアミノプロ
ピルアクリレート、N,N−ジエチルアミノエチルメタ
クリレート、N,N−ジエチルアミノプロピルメタクリ
レート、N,N−ジエチルアミノブチルアクリレート、
N,N−ジエチルアミノブチルメタクリレート。
て、光重合開始剤を含むことがこの悪しい。光重合開始
剤としては、特に制限はないが、例えば、ミヒラーズケ
トン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエ
ーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、2−t−ブ
チルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、4,
4,−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、アセト
フェノン、ベンゾフェノン、チオキサントン、2,2−
ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、1−ヒドロ
キシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−[4
−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−1−
プロパノン、ベンジル、ジフェニルジスルフィド、フェ
ナンスレンキノン、2−イソプロピルチオキサントン、
リボフラビンテトラブチレート、2,6−ビス(p−ジ
エチルアミノベンザル)−4−メチル−4−アザシクロ
ヘキサノン、N−エチル−N−(p−クロロフェニル)
グリシン、N−フェニルジエタノールアミン、2−(o
−エトキシカルボニル)オキシイミノ−1,3−ジフェ
ニルプロパンジオン、1−フェニル−2−(o−エトキ
シカルボニル)オキシイミノプロパン−1−オン、3,
3,4,4,−テトラ(t −ブチルパーオキシカルボ
ニル)ベンゾフェノン、3,3,−カルボニルビス(7
−ジエチルアミノクマリン)、ビス(シクロペンタジエ
ニル)−ビス−[2,6−ジフルオロ−3−(ピリ−1
−イル)フェニル]チタン等が挙げられる。これらは、
単独又は二種以上を組み合わせて用いられる。
に対して、0.01〜30重量%とすることが好まし
く、0.05〜10重量%とすることがより好ましい。
この使用量が、0.01重量%未満では、光感度が劣る
傾向があり、30重量%を超えると、フィルムの機械特
性が劣る傾向がある。
要に応じて、炭素炭素不飽和二重結合を有する付加重合
性化合物を含有することができる。付加重合性化合物と
しては、例えば、ジエチレングリコールジアクリレー
ト、トリエチレングリコールジアクリレート、テトラエ
チレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコー
ルジメタクリレート、トリエチレングリコールジメタク
リレート、テトラエチレングリコールジメタクリレー
ト、トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチ
ロールプロパントリアクリレート、トリメチロールプロ
パンジメタクリレート、トリメチロールプロパントリメ
タクリレート、1,4−ブタンジオールジアクリレー
ト、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、1,4
−ブタンジオールジメタクリレート、1,6−ヘキサン
ジオールメタクリレート、ペンタエリスリトールトリア
クリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレー
ト、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、ペンタ
エリスリトールテトラメタクリレート、スチレン、ジビ
ニルベンゼン、4−ビニルトルエン、4−ビニルピリジ
ン、N−ビニルピロリドン、2−ヒドロキシエチルアク
リレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、1,
3−アクリロイルオキシ−2−ヒドロキシプロパン、
1,3−メタクリロイルオキシ−2−ヒドロキシプロパ
ン、メチレンビスアクリルアミド、N,N−ジメチルア
クリルアミド、N−メチロールアクリルアミド等が挙げ
られる。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて
使用される。
成分の量に対して、1〜200重量%とすることが好ま
しい。この使用量が、1重量%未満では、現像液への溶
解性等の感光特性が劣る傾向があり、200重量%を超
えると、フィルムの機械特性が劣る傾向がある。
要に応じて、ビスアジド化合物を含有することができ
る。ビスアジド化合物としては、例えば、
み合わせて用いられる。
の量に対して、0.01〜30重量%とすることが好ま
しく、0.05〜10重量%とすることがより好まし
い。この使用量が、0.01重量%未満では、光感度が
劣る傾向があり、30重量%を超えると、フィルムの機
械特性が劣る傾向がある。
らに保存時の安定性を高めるために、ラジカル重合禁止
剤又はラジカル重合抑制剤を含有することができる。ラ
ジカル重合禁止剤又はラジカル重合抑制剤としては、例
えば、p−メトキシフェノール、ジフェニル−p−ベン
ゾキノン、ベンゾキノン、ハイドロキノン、ピロガロー
ル、フェノチアジン、レソルシノール、オルトジニトロ
ベンゼン、パラジニトロベンゼン、メタジニトロベンゼ
ン、フェナントラキノン、N−フェニル−1−ナフチル
アミン、N−フェニル−2−ナフチルアミン、クペロ
ン、フェノチアジン、2,5−トルキノン、タンニン
酸、パラベンジルアミノフェノール、ニトロソアミン類
等が挙げられる。これらは単独で又は2種類以上を組み
合わせて使用される。
剤の使用量は、(b)成分の量100重量部に対して、
0.01〜30重量部とすることが好ましく、0.05
〜10重量部とすることがより好ましい。この使用量
が、0.01重量部未満であると、保存時の安定性が劣
る傾向があり、30重量部を超えると、光感度及びフィ
ルムの機械特性が劣る傾向がある。
プレー法、スクリーン印刷法、回転塗布法等によってシ
リコンウエーハ、金属基板、セラミック基板等の支持基
材上に塗布され、溶剤を適度に加熱乾燥することにより
粘着性のない塗膜とすることができる。この塗膜上に、
所望のパターンが描かれたマスクを通して活性光線又は
化学線を照射し露光する。照射する活性光線又は化学線
としては、超高圧水銀灯を用いるコンタクト/プロキシ
ミテイ露光機、ミラープロジェクション露光機、i線ス
テッパ、g線ステッパ、その他の紫外線、可視光源や、
X線、電子線を用いることができる。照射後、未照射部
を現像液で溶解除去することにより所望のネガパターン
を得る。
メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミ
ド、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキ
シド、テトラメチル尿素、ヘキサメチルリン酸トリアミ
ド、γ−ブチロラクトン、水、或いはアルコール類、ケ
トン類、エステル類、ラクトン類、エーテル類、ハロゲ
ン化炭化水素類、炭化水素類、例えば、メタノール、エ
タノール、イソプロピルアルコール、アセトン、ジエチ
ルケトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケト
ン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸
ブチル、シュウ酸ジエチル、マロン酸ジエチル、ジエチ
ルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、ジ
エチレングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフ
ラン、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエタン、1,
4−ジクロロブタン、トリクロロエタン、クロロベンゼ
ン、o−ジクロロベンゼン、ヘキサン、ヘプタン、オク
タン、ベンゼン、トルエン、キシレン等が、単独で又は
二種類以上を組み合わせて使用される。その他、水酸化
テトラメチルアンモニウム水溶液やトリエタノールアミ
ン水溶液等の塩基性溶液等が用いられる。現像後は必要
に応じて水又は貧溶媒でリンスが行われる。これにより
得られたパターンを加熱することにより、感光剤と溶媒
を完全に除去した安定な高耐熱性ポリイミドパターンを
得る。
することが好ましく、200〜400℃とすることがよ
り好ましい。この加熱温度が、150℃未満であると、
ポリイミド膜の機械特性及び熱特性が低下する傾向があ
り、500℃を超えると、ポリイミド膜の機械特性及び
熱特性が低下する傾向がある。
0時間とすることが好ましい。この加熱時間が、0.0
5時間未満であると、ポリイミド膜の機械特性及び熱特
性が低下する傾向があり、10時間を超えると、ポリイ
ミド膜の機械特性及び熱特性が低下する傾向がある。
半導体用表面保護膜、多層配線板の層間絶縁膜等に使用
することができる。本発明の感光性樹脂組成物を用いた
表面保護膜は、SiNや封止剤等との接着性に優れるた
め、本発明の感光性樹脂組成物から得られた表面保護膜
を用いた半導体素子は、極めて信頼性に優れるものとな
る。
形成される表面保護膜や層間絶縁膜を有すること以外は
特に制限されず、様々な構造をとることができる。本発
明の電子部品の一例として、半導体装置の製造工程の一
例を以下に説明する。
程図である。図において、回路素子を有するSi基板等
の半導体基板は、回路素子の所定部分を除いてシリコン
酸化膜等の保護膜2で被覆され、露出した回路素子上に
第1導体層が形成されている。前記半導体基板上にスピ
ンコート法等で層間絶縁膜としてのポリイミド樹脂等の
膜4が形成される(工程(a))。
ク系の感光性樹脂層5が前記層間絶縁膜4上にスピンコ
ート法で形成され、公知の写真食刻技術によって所定部
分の層間絶縁膜4が露出するように窓6Aが設けられて
いる(工程(b))。
ッ化炭素等のガスを用いるドライエッチング手段によっ
て選択的にエッチングされ、窓6Bがあけられている。
ついで窓6Bから露出した第1導体層3を腐食すること
なく、感光樹脂層5のみを腐食するようなエッチング溶
液を用いて感光樹脂層5が完全に除去される(工程
(c))。
導体層7を形成させ、第1導体層3との電気的接続が完
全に行われる(工程(d))。3層以上の多層配線構造
を形成する場合は、上記の工程を繰り返して行い各層を
形成することができる。
例では、この表面保護膜を前記感光性重合体組成物をス
ピンコート法にて塗布、乾燥し、所定部分に窓6Cを形
成するパターンを描いたマスク上から光を照射した後ア
ルカリ水溶液にて現像してパターンを形成し、加熱して
ポリイミド膜とする。このポリイミド膜は、導体層を外
部からの応力、α線などから保護するものであり、得ら
れる半導体装置は信頼性に優れる。なお、上記例におい
て、層間絶縁膜を本発明の感光性樹脂組成物を用いて形
成することも可能である。
が、本発明は何らこれにより制限を受けない。 合成例1(テトラアルキルアンモニウム塩化合物の合
成) 攪拌機を備えたフラスコに水30mlを加えた後、テト
ラブチルアンモニウムブロマイド9.7gを加え、氷冷
下、撹拌しながらトリフルオロメタンスルホン酸4.5
gをゆっくりと加えた。室温で1時間撹拌した後、得ら
れた反応液をろ過し、得られた固形物を水にて洗浄し
た。この固形物を真空乾燥してテトラアルキルアンモニ
ウム塩化合物9.2gを得た。
2,2´−ジメチル−4,4´−ジアミノビフェニル1
0g及びN−メチル−2−ピロリドン70gを加え、室
温で撹拌溶解した。ここに、オキシジフタル酸二無水物
15gを添加して、8時間撹拌し、粘稠なポリアミド酸
樹脂溶液を得た。
ウム塩化合物0.1gとポリアミド酸樹脂溶液10gを
撹拌混合し、さらに下記構造式で示されるビスアジド化
合物(AZ) 0.027g、アミノベンゾフェノン化
合物(CM)0.027g、オキシム化合物(OX)
0.054gおよび3−ジメチルアミノプロピルメタク
リレート 1.5gの各成分を加えて撹拌溶解後、フィ
ルタ濾過して粘度50ポイズの感光性樹脂組成物溶液を
得た。
ところ、粘度が初期値に比べ0.7ポイズ低下していた
のみでほとんど粘度変化がないことが確認された。また
この溶液をシリコンウエハ上に滴下し、スピンコートし
た。次にホットプレートを用いて90℃、150秒加熱
し12μmの塗膜を形成した後、パターンマスクし、i
線ステッパで露光した。これを、さらに110℃、60
秒間加熱し、N−メチル−2−ピロリドン/水(重量比
75/25)混合溶液を用いてパドル現像し、エタノー
ルでリンスしたところ、放置前のものと同様の良好なレ
リーフパターンが得られた。
塩化合物を添加せずに、それ以外は、実施例と全く同様
の配合で、全く同様に処理したところ、粘度が初期値に
比べ10ポイズも低下していた。またその室温放置後の
樹脂を使用した場合、未露光部において現像液に対する
溶解性が低下し、同様の現像時間内では全くパターンは
形成されなかった。
塩化合物の量を1.0g添加し、それ以外は実施例と全
く同様の配合で全く同様に処理したところ、粘度45ポ
イズの感光性樹脂組成物溶液を得た。この溶液を遮光条
件のもと、30日間室温放置を行ったところ、粘度が初
期値に比べ0.5ポイズ低下していたのみでほとんど粘
度変化がないことが確認された。またこの溶液を用いて
実施例1十同様のパターン処理を行ったところ、放置前
のものと同様に良好なレリーフパターンが得られた。
は、製造法が容易で特に保存安定性に優れる。請求項3
記載の感光性樹脂組成物は、請求項1記載の発明の効果
を奏し、さらにパターン性に優れる。
保存安定性に優れる感光性樹脂組成物の使用により良好
な形状のパターンが得られる。請求項5記載の電子部品
は、良好なパターンを表面保護膜、層間絶縁膜等として
有することにより、信頼性に優れる。
る。
4…層間絶縁膜層、5…感光樹脂層、 6A、6B、6
C…窓、 7…第2導体層、 8…表面保護膜層。
Claims (6)
- 【請求項1】(a)一般式(1) 【化1】 (4つのRは、各々独立に炭化水素基であり、A−は一
般式(1)中のR4N+とイオン結合を形成する酸の陰
イオンである)で表わされるアンモニウム塩化合物及び
(b)ポリイミド前駆体を含有してなる感光性樹脂組成
物。 - 【請求項2】さらに(c)光重合開始剤を含有する請求
項1記載の感光性樹脂組成物。 - 【請求項3】一般式(1)における、A−で表される基
が硝酸、ピクリン酸、カルボン酸及びスルホン酸からな
る群より選択される酸の陰イオンである請求項1又は2
記載の感光性樹脂組成物。 - 【請求項4】(a)成分の量が、(b)成分の量100
重量部に対して、0.01〜10重量部である請求項
1,2又は3記載の感光性樹脂組成物。 - 【請求項5】請求項1〜4のいずれかに記載の感光性樹
脂組成物を支持基板上に塗布し乾燥する工程、露光する
工程、現像する工程及び加熱処理する工程を含むパター
ンの製造法。 - 【請求項6】請求項5記載の製造法により得られるパタ
ーンの層を有してなる電子部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01839299A JP4123615B2 (ja) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | 感光性樹脂組成物、パターンの製造法及び電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP01839299A JP4123615B2 (ja) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | 感光性樹脂組成物、パターンの製造法及び電子部品 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000214586A true JP2000214586A (ja) | 2000-08-04 |
| JP4123615B2 JP4123615B2 (ja) | 2008-07-23 |
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ID=11970446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01839299A Expired - Fee Related JP4123615B2 (ja) | 1999-01-27 | 1999-01-27 | 感光性樹脂組成物、パターンの製造法及び電子部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP4123615B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007084798A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-04-05 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び半導体装置 |
| WO2008007673A1 (en) * | 2006-07-13 | 2008-01-17 | Nippon Steel Chemical Co., Ltd. | Flexible light guide and laminate board for optical/electrical composite wiring board |
| JP2015108053A (ja) * | 2013-12-04 | 2015-06-11 | 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 | ポリイミド前駆体、該ポリイミド前駆体を含む樹脂組成物、それを用いたパターン硬化膜の製造方法及び半導体装置 |
-
1999
- 1999-01-27 JP JP01839299A patent/JP4123615B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP5235136B2 (ja) * | 2006-07-13 | 2013-07-10 | 新日鉄住金化学株式会社 | 可とう性光導波路及び光−電気複合配線板用積層板 |
| JP2015108053A (ja) * | 2013-12-04 | 2015-06-11 | 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 | ポリイミド前駆体、該ポリイミド前駆体を含む樹脂組成物、それを用いたパターン硬化膜の製造方法及び半導体装置 |
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| JP4123615B2 (ja) | 2008-07-23 |
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