JP2000215609A

JP2000215609A - 記録再生装置、記録再生方法及び記録媒体

Info

Publication number: JP2000215609A
Application number: JP11009966A
Authority: JP
Inventors: Masahito Shiokawa; 雅人塩川
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1999-01-19
Filing date: 1999-01-19
Publication date: 2000-08-04

Abstract

(57)【要約】【課題】経年変化により再生信号品質が変動しても、ビ
ット誤り率を最適に維持することができる記録再生装置
を提供する。【解決手段】本発明の記録再生装置は、ある一定の動作
時間が経過する度に、等化器のパラメタＰの設定値の候
補Ｐ（１）,Ｐ（２）,...,Ｐ（Ｎ）を等化器へ設定し、
前記各パラメタに対する誤り個数Ｅ（１）,Ｅ
（２）,...,Ｅ（Ｎ）を求める。次に、前記Ｎ個の誤り
個数の中で最小の誤り個数Ｅ（Ｋ）を求め、Ｅ（Ｋ）が
計測されたときに設定されていたパラメタ値Ｐ（Ｋ）を
計算する。前記Ｐ（Ｋ）を等化器へ再設定することによ
り、ビット誤り率は常に最適に維持される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、記録再生装置、記
録再生方法及び記録媒体に関し、特に、磁気ディスク装
置等のディジタル再生信号処理回路の制御を改良した記
録再生装置、記録再生方法及び記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の再生信号処理回路は、磁
気ディスクや光ディスク等において再生ビット列のビッ
ト誤り率を低下させることを目的として用いられてい
る。例えば「１９９６年１２月、電子情報通信学会論文
誌C-II、Vol.７９-C-II、Ｎo.１２、７３１-７３９頁」
の文献において、同文献中の７３２頁には、磁気記録の
再生信号をパーシャルレスポンス（Partial Response:
以下、ＰＲという）等化し、等化後の信号を最尤検出す
るというPartial Response Maximum Likelihood:ＰＲＭ
Ｌ信号処理回路の図が示されている。

【０００３】図１６は従来のＰＲＭＬ回路の構成を示す
ブロック図である。図１６に示すように、従来のＰＲＭ
Ｌ回路は、記録信号を生成するための手段として変調器
２、プリコーダ４、ドライバ５、記録ヘッド６を備えて
いる。また従来のＰＲＭＬ回路は、再生信号からデータ
を復元するための手段として再生ヘッド７、アンプ８、
ＡＧＣ回路９、ＰＲ等化器１０、ビタビ検出器１１、復
調器１２を備えている。

【０００４】従来のＰＲＭＬ回路によれば、まず、デー
タ入力端子１から入力された記録すべきデータ列（記録
データ）Ｗ４は変調器２によって変調符号化が施され、
記録ビット列（変調符号データ）Ｗ３を生成する。変調
符号化の規則としては、前述した文献でも紹介されてい
るように、８/９変調等が知られている。

【０００５】次いで、変調符号データＷ３はプリコーダ
４に入力され、ここで前述した文献の７３３頁に示され
ているプリコーディングが施される。プリコーディング
により、プリコーダ４から出力された記録信号Ｗ１はゼ
ロのラン長が適切に制限されるようになる。記録信号Ｗ
１はドライバ５に入力され、記録電流に変換され記録ヘ
ッド６に入力される。

【０００６】次いで、記録データの再生を行う際には、
再生ヘッド７から出力された再生信号は、まず、アンプ
８とＡＧＣ（Auto Gain Control）回路９によって再生
信号処理を施すのに適正な信号レベルにまで増幅され
る。ＡＧＣ９から出力される再生信号Ｒ１はＰＲ等化器
１０によってＰＲ等化され、ＰＲ波形のＰＲ等化信号Ｒ
２となる。ここで、ＰＲ波形とはナイキスト波形の重畳
波形であり、再生信号の値を識別する時刻ｔ＝ｉ*Ｔ,ｉ
＝０,１,２,・・・における信号レベルが、特定の値だ
けをとるような信号をいう。ここで、Ｔはビット転送周
波数の逆数である。例えば、ＰＲクラス４（ＰＲ４）の
波形は、時刻ｔ＝ｉ＊Ｔ,ｉ＝０,１,２,・・・における
信号レベルが０及び±１の３値をとる。Extended ＰＲ
クラス４（ＥＰＲ４）の波形は時刻ｔ＝ｉ*Ｔ,ｉ＝０,
１,２,・・・における信号が０,±１及び±２の５値を
とる。

【０００７】ＰＲ等化されたＰＲ等化信号Ｒ２はビタビ
検出器１１によって最尤検出される。最尤検出の操作を
行うと、ＰＲ等化器１０の出力信号であるＰＲ等化信号
Ｒ２をレベルスライスによって判定するよりも、ビット
誤り率（以下、ＢＥＲ（BitError Rate）という）を低
減させることができる。また、ＰＲ等化信号Ｒ２はＡＧ
Ｃ９へもフィードバックされ、ＡＧＣ９の出力を一定レ
ベルとするための制御に用いられる。

【０００８】ビタビ検出器１１から出力される出力信号
Ｒ３は、復調器１２によって復調され、再生データＲ４
としてデータ出力端子２０から出力される。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】一般に、磁気ディスク
では、媒体表面のダスト等の影響により、磁気ヘッドの
浮上量が製造時から変化することがある。この浮上量の
変化により磁気ヘッドが生成する再生パルスの形状も変
化する。この時、従来技術で述べたＰＲＭＬ信号処理チ
ャネルの特にＰＲ等化器の特性が、再生パルス形状の変
化に適応できれば、再生信号処理後のＢＥＲは劣化する
ことなく維持される。

【００１０】ＰＲ等化器には、回路の消費電力の低減と
回路規模縮小の観点から、アナログフィルタが用いられ
ることが多い。ところが、ＰＲ等化器がアナログフィル
タから構成されていると、その伝達特性を再生パルス形
状の変化に適合させることは困難である。これらの問題
を以下で詳細に説明する。（１）浮上量変化に伴う再生パルス形状の変化に関す
る説明図１４、図１５を参照して、浮上量変化に伴う再生パル
ス形状の変化を説明する。磁気ディスク装置では、その
動作が長期間に渡ると、記録媒体表面上にダストが発生
し、これによりヘッドの浮上量が、製造時の浮上量から
変化することがある。再生ヘッドは、記録媒体表面から
浮上量だけ離れた位置における磁界分布に基づいて再生
パルスを発生させる。そのため、ヘッド浮上量が変化す
ると再生パルスのパルス幅も変化する。

【００１１】図１４は、浮上量拡大前後の磁気ヘッドの
位置と移動軌跡を示す説明図である。この図１４は記録
媒体１１１の磁化反転位置近傍の磁界の様子を示したも
のである。記録媒体１１１内には磁化１１５、１１６が
記録されている。磁化１１５,１１６の先端の中央部分
は記録磁化が反転する部分であり、前記磁化反転部から
は磁界１１２として表した磁界が生じる。磁界１１２は
媒体表面から離れるに従い、より広い空間に分布するよ
うになり、その磁束密度が減少する。図１４中、１１３
は浮上量拡大前（製造時）の磁気ヘッド、１１７は浮上
量拡大前の磁気ヘッドの移動軌跡、１１４は浮上量拡大
後の磁気ヘッド、１１８は浮上量拡大後の磁気ヘッドの
移動軌跡を示す。

【００１２】図１４からわかるように、浮上量拡大後の
磁気ヘッド１１４は、浮上量拡大前の磁気ヘッド１１３
よりも高い位置にあるため、磁気ヘッド１１４は、磁気
ヘッド１１３に比べ、磁化反転位置を通過する際、より
広い空間に分布しかつ減衰した磁界１１２の垂直成分を
受ける。その結果、磁気ヘッド１１３と磁気ヘッド１１
４が発生する再生パルスは異なったものになる。

【００１３】図１５（Ａ）,（Ｂ）は、それぞれ図１４
の磁気ヘッド１１３,１１４が作る孤立パルスの模式図
である。図１５の（Ａ）と（Ｂ）を比較すると、浮上量
が拡大した磁気ヘッド１１４が作る孤立パルス１２２
は、浮上量が拡大する前の磁気ヘッド１１３が作る孤立
パルス１２１に比べて、時間方向のパルス幅が拡大する
ことがわかる。（２）アナログ等化器により構成されたＰＲ等化器の、
適応制御に関する問題の説明アナログ等化器は、ディジタル等化器に比べ回路規模を
削減でき、消費電力を低くおさえられる。そのためＰＲ
等化器はアナログ等化器によって実現されることが多
い。ところが、アナログ等化器をＰＲ等化器に用いた場
合、そのパラメタを適応制御して得られる等化器の伝達
特性は、必ずしもＢＥＲを最小にする伝達特性にはなら
ない。これを図１０から図１３までの図面を参照して説
明する。

【００１４】従来の例えばFinite Impulse Response（F
IR）型ディジタル等化器を用いたＰＲ等化器は、Least
Mean Square（LMS）アルゴリズムにより等化器伝達関数
が適応制御される。その際、適応制御に利用されるのは
等化器出力信号である。

【００１５】図１０は適切にＥＰＲ４等化された信号の
信号識別時刻における値の頻度分布を示すグラフであ
る。図１０に示すように、ＥＰＲ４等化された信号は
０,±０.５,±１の５値付近に分布する。LMSアルゴリズ
ムは、図１０の５個の頻度分布が、各分布の中央値
（０,±０.５,±１）により近く分布するように等化器
の制御を行う。すなわち、LMSアルゴリズムは、図１０
の各分布の標準偏差が最小となるように等化器を適応制
御するのである。このようにして得られた等化器伝達特
性は、ＢＥＲを最小にするものになっている。

【００１６】一方、アナログ等化器を用いた場合、等化
器出力信号の標準偏差だけを観察していたのでは、ＢＥ
Ｒを最小にする等化器特性は得られない。これを、７次
等リプル等化器にブースト特性を加えた等化器を例に挙
げて示す。前述した等化器に関しては、例えば文献「１
９９７年１２月、１９９７ IEEE International Solid-
State Circuits Conference（ISSCC'９７）予稿集、３
２０,３２１及び４７９頁」にＰＲ等化器への適用事例
が示されている。

【００１７】この等化器はカットオフ周波数ｆcとブー
スト量Ｂによって伝達特性が決定され、ｆcの２倍まで
群遅延特性が平坦なためパルス伝送チャネルの等化器と
して好適な等化器である。またｆc,Ｂを適当に設定する
ことによりＰＲ等化器としての伝達関数を実現すること
が可能である。

【００１８】前記７次等リプル・ブースト特性におい
て、ｆcをデータ転送周波数の０.２５倍に固定し、ブー
スト量を変化させた場合のゲインの周波数特性を図１３
に示す。この図１３は、ＰＲ等化器のブースト量を４ｄ
Ｂから１３ｄＢまで１ｄＢ刻みで変えた場合のＰＲ等化
器伝達特性を示すグラフである。

【００１９】図１１は、前記７次等リプル・ブースト特
性をもつ等化器をＰＲ等化器に使用してＰＲＭＬチャネ
ルを構成し、再生信号のパルス形状は固定させ、前記等
化器のブースト量を変化させた場合の、等化器出力信号
の標準偏差の変化を示したものであり、ＰＲ等化器のブ
ースト量と標準偏差との関係を示すグラフである。図１
１からわかるように、ブースト量が９ｄＢの時に標準偏
差が最小となる。

【００２０】図１２は、図１１の特性を求めた場合と同
一の再生信号、同一の等化器を用いて、ビタビ検出器の
出力信号における誤りビット数を求め、ＰＲ等化器のブ
ースト量と誤りビット数との関係を示すグラフである。
各ブースト量設定時において再生したビット数はどれも
同一なので、誤りビット数が最小のブースト量が、ＢＥ
Ｒを最小にするブースト量となる。図１２からわかるよ
うに、ブースト量が７ｄＢの時に誤りビット数が最小と
なる。

【００２１】このように、標準偏差を最小にするブース
ト量とＢＥＲを最小にするブースト量とは異なることに
なる。従って、仮に磁気ディスクの動作中に再生信号パ
ルスの形状が変化した際、従来のように等化器出力信号
の標準偏差を利用して等化器伝達関数の適応制御を試み
ても、誤りビット数を最小化する制御、すなわちＢＥＲ
を最小化する制御は困難であるといえる。

【００２２】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたものであり、再生磁気ヘッドの浮上量変化など、デ
ィスク装置の経年変化によって記録再生チャネルの特性
が変化した場合であっても、前記特性変化によるＰＲＭ
Ｌ再生信号処理後のビット誤り率の劣化を防止すること
ができる記録再生装置、記録再生方法及び記録媒体を提
供することを目的とする。

【００２３】

【課題を解決するための手段】本発明の記録再生装置
は、その再生信号処理回路に、等化器のパラメタPの設
定値の候補P（１）,P（２）,・・・,P（Ｎ）を記憶する
手段と、前記等化器のパラメタPを等化器へ設定する手
段と、参照データビット列を生成する手段と、前記参照
データビット列をセクタ領域に記録する手段と、前記記
録された参照データを再生する手段と、前記再生手段に
よって再生されたデータビット列と、前記参照データ生
成手段が生成したデータビット列とを比較し誤り個数を
計測する手段と、前記各パラメタP（１）,P（２）,・・
・,P（Ｎ）各々が等化器に設定された場合に計測された
前記誤り個数Ｅ（１）,Ｅ（２）,・・・,Ｅ（Ｎ）を記
憶する手段と、前記記憶されたＮ個の誤り個数から、最
小の誤り個数が計測されたときに設定されていたパラメ
タ値P（Ｋ）を計算する手段とを備え、ある一定の動作
時間が経過する度に、前記誤り個数を最小にするパラメ
タ値P（Ｋ）を計算し等化器へ再設定することを特徴と
するものである。

【００２４】ユーザデータの記録再生を行う通常動作モ
ードと、前記参照データを記録する記録動作モードと、
前記参照データを再生する再生動作モードの切り替えを
行う切替手段を有してもよい。ここで、切替手段は、例
えば、後述するスイッチ３，１２，１５である。

【００２５】前記パラメタ値は、例えばブースト量であ
る。

【００２６】本発明の記録再生方法は、（１）参照デー
タを生成し、その参照データを、ユーザデータを記録再
生する領域とは別に設けられたセクタ領域に記録する工
程と、（２）等化器のパラメタ値を記憶する手段によっ
て記憶されているパラメタ値を等化器へ設定する工程
と、（３）前記セクタ領域に記録された参照データを再
生して信号処理を行い、前記信号処理後のデータのビッ
ト列と前記生成された参照データのビット列とを比較
し、誤りビット数を計算し、その誤りビット数を記憶す
る工程と、（４）等化器のパラメタ値を記憶する手段に
記憶されている各パラメタ値に対して、順次前記（２）
の工程及び（３）の工程を繰り返す工程と、（５）各パ
ラメタ値に対する誤りビット数のうち最小の誤りビット
数が計測されたときに設定されていたパラメタ値を計算
する工程と、（６）前記最小値になるパラメタ値を等化
器へ再設定する工程と、を有することを特徴とするもの
である。

【００２７】前記（１）の工程は、等化器伝達特性を最
適化する最適化動作時の記録動作時ごとに行われてもよ
く、例えば装置製造時のように最適化動作時の前に予め
行われてもよい。

【００２８】前記パラメタ値は、例えばブースト量であ
る。

【００２９】本発明の記録媒体は、（１）参照データを
生成し、その参照データを、ユーザデータを記録再生す
る領域とは別に設けられたセクタ領域に記録する処理
と、（２）等化器のパラメタ値を記憶する手段によって
記憶されているパラメタ値を等化器へ設定する処理と、
（３）前記セクタ領域に記録された参照データを再生し
て信号処理を行い、前記信号処理後のデータのビット列
と前記生成された参照データのビット列とを比較し、誤
りビット数を計算し、その誤りビット数を記憶する処理
と、（４）等化器のパラメタ値を記憶する手段に記憶さ
れている各パラメタ値に対して、順次前記（２）の処理
及び（３）の処理を繰り返す処理と、（５）各パラメタ
値に対する誤りビット数のうち最小の誤りビット数が計
測されたときに設定されていたパラメタ値を計算する処
理と、（６）前記最小値になるパラメタ値を等化器へ再
設定する処理と、をコンピュータに実行させるプログラ
ムを記録したことを特徴とする。

【００３０】消費電力及び回路規模の削減のため、ＰＲ
等化器として例えば７次等リプル・ブースト等の特性を
もつようなアナログフィルタを採用することが考えられ
る。この時、同フィルタの出力信号の標準偏差を利用し
たのでは、フィルタの特性をＢＥＲが最小となるように
適応制御することはできない。装置の信頼性を保つため
にはＢＥＲが最小となる等化器特性を得ることが必要で
ある。

【００３１】本発明によれば、磁気ヘッドの再生信号形
状が変化しても、ＢＥＲが最小となるＰＲ等化器特性を
得ることができるように、ＢＥＲそのものを直接に観察
しながら、ＢＥＲを最小とするＰＲ等化器特性を求める
ことができる。

【００３２】例えば、図１２は、計算機シミュレーショ
ンによって、ＰＲ等化器のパラメタであるブースト量を
４, ５,・・・, １３ｄＢと１０通りに変化させ、各ブ
ースト量が指定されたＰＲ等化器を用い、誤りビット数
の計測を行った結果を示す。ここで、再生ヘッドはどの
ブースト量に対しても同一箇所のテスト用セクタ（セク
タとは記録媒体上にデータビットを記録する領域）から
信号を読んでいる。図１２より、誤り個数が最小となる
のは７ｄＢなので、ＰＲ等化器のブースト量には７ｄＢ
を指定すれば良い。

【００３３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図９（Ａ）は、本発明の記録再生
装置の一般的な構成を示すブロック図である。図９
（Ａ）に示すように、本発明の記録再生装置は、最小の
ＢＥＲを与えるＰＲ等化器１０のパラメタ値を求めるた
めに、従来のＰＲＭＬ信号処理部１５０の他に、ＰＲ等
化器１０の伝達特性を最適化するように制御するための
制御部１６０を有する。この制御部１６０は、次の
（ａ）から（ｉ）までの手段を備えている。

【００３４】（ａ）は参照データ生成手段である。この
手段は、記録動作時及び再生動作時において参照データ
を生成する手段である。

【００３５】（ｂ）は誤りビット数計測手段である。こ
の手段は、ＰＲ等化器１０のパラメタの値（例えばブー
スト量）毎に、再生データ中の誤りビット個数を計測、
累計し記憶する手段である。

【００３６】参照データは、テスト用セクタ（ｃ）に記
憶される。テスト用セクタ（ｃ）は、参照データが記憶
される特別なセクタ（記録媒体上の記憶領域）であり、
通常のユーザデータを記録・再生する領域とは別に設け
られる。

【００３７】（ｄ）はＰＲ等化器１０のパラメタ値を記
憶するパラメタ値記憶手段である。この手段は、ＰＲ等
化器１０へ与えるパラメタ値（例えばブースト量）を記
憶しておく手段である。例えば図１２の各誤り個数を求
める際には、本手段において４,５,・・・,１３ｄＢの
各ブースト量を記憶する。

【００３８】（ｅ）は誤りビット数を記憶する誤りビッ
ト数記憶手段である。この手段は、パラメタ値記憶手段
（ｄ）が記憶したパラメタ値毎に、誤りビット数計測手
段（ｂ）が累計した誤りビット数を記憶する手段であ
る。

【００３９】（ｆ）は最小値インデックス計算手段であ
る。この手段は、誤りビット数記憶手段（ｅ）に記憶さ
れた誤りビット数から、最小値を求め、その最小値が誤
りビット数記憶手段（ｅ）の中で何番目に記憶されてい
るか、その番号（インデックス）を求める手段である。
例えば、図１２では７ｄＢすなわち第４番目のブースト
量に対する誤り個数、すなわち第４番目の誤り個数が最
小になっている。この時本手段はインデックスとして４
を出力する。

【００４０】（ｇ）はパラメタ値をＰＲ等化器１０へ設
定するパラメタ値設定手段である。（ｈ）は参照データ
を記録する参照データ記録手段である。（ｉ）は記録さ
れた参照データを再生する参照データ再生手段である。

【００４１】次に、以上に示した各手段の動作手順を示
す。ＰＲ等化器１０にはＮ個のパラメタ値が指定可能で
あるものとする。

【００４２】まず、参照データ生成手段（ａ）が参照デ
ータを生成し、参照データ記録手段（ｈ）により前記参
照データをテスト用セクタ（ｃ）へ記録する（手順
１）。

【００４３】次いで、ＰＲ等化器１０のパラメタ値を記
憶するパラメタ値記憶手段（ｄ）において、第１番目に
記憶されているパラメタ値をＰＲ等化器１０へ設定する
（手順２）。

【００４４】次いで、参照データ再生手段（ｉ）により
テスト用セクタ（ｃ）に記録されたデータを再生し、Ｐ
ＲＭＬ信号処理を行う。同時に参照データ生成手段
（ａ）は参照データを生成し、前記信号処理後のデータ
と前記参照データの両方が誤りビット数計測手段（ｂ）
へ入力される（手順３）。

【００４５】次いで、誤りビット数計測手段（ｂ）は、
テスト用セクタ（ｃ）に記録されたデータの再生が終了
するまでの間、前記信号処理後のデータと前記参照デー
タとの照合を行い、誤りビット数を累計し累計値を誤り
ビット数記憶手段（ｅ）の第１番目の記憶部へ記憶する
（手順４）。

【００４６】次いで、手順２に戻り、パラメタ値記憶手
段（ｄ）において、第２番目に記憶されているパラメタ
値、第３番目に記憶されているパラメタ値、・・・、第
Ｎ番目に記憶されているパラメタ値の各々のパラメタ値
に対して、手順３、手順４をこの順序で繰り返して行
う。この時、パラメタ値記憶手段（ｄ）において、第２
番目に記憶されているパラメタがＰＲ等化器１０へ設定
された場合には、手順４の誤りビット数記憶手段（ｅ）
において、第２番目の記憶部に前記パラメタ値指定時の
誤り個数を記憶する。パラメタ値記憶手段（ｄ）におい
て第３番目のパラメタ値、第４番目のパラメタ値、・・
・、第Ｎ番目のパラメタ値が指定された場合には、同様
に誤りビット数記憶手段（ｅ）の第３番目の誤りビット
数記憶部、第４番目の誤りビット数記憶部、・・・、第
Ｎ番目の誤りビット数記憶部の各々へ誤りビット数を記
憶する（手順５）。

【００４７】次いで、Ｎ個すべてのパラメタ値に対する
誤り個数が求められたら、最小値インデックス計算手段
（ｆ）は、誤りビット数記憶手段（ｅ）に記憶されたＮ
個の誤り個数から最小値を求め、かつその最小値のイン
デックスＫを求める（手順６）。

【００４８】最後に、パラメタ値記憶手段（ｄ）は、第
Ｋ番目に記憶されたパラメタ値をＰＲ等化器１０へ出力
する。前記パラメタ値はパラメタ値設定手段（ｇ）によ
り、ＰＲ等化器１０に再設定される。

【００４９】以上の手順によりＢＥＲに関して最適なパ
ラメタが設定されたＰＲ等化器１０が得られる。

【００５０】図１は本発明の記録再生装置のより具体的
な構成を示すブロック図である。図１に示すように、本
発明の記録再生装置は、データ入力端子１から変調器
２、プリコーダ４、ドライバ５を経て記録ヘッド６へ至
る記録チャネル、再生ヘッド７からアンプ８、ＡＧＣ
９、ＰＲ等化器１０、ビタビ検出器１１、復調器１３を
経てデータ出力端子２０へ至る再生チャネル、及び参照
データ生成器１４、スイッチ３，１２，１５、誤り個数
カウンタ１７、等化器特性制御器１８、コントローラ１
９を有する。

【００５１】また、本発明の記録再生装置は「通常動
作」及び「最適化動作」という２種類の動作を行う。各
動作においては、スイッチ３,１２,１５はそれぞれ制御
信号Ｃ１,Ｃ２,Ｃ３によって制御され、これら３個の制
御信号Ｃ１,Ｃ２,Ｃ３はコントローラ１９からそれぞれ
制御信号端子Ｔ１,Ｔ２,Ｔ３を経由して接続されてい
る。同様に、参照データ生成器１４は制御信号Ｃ４によ
って制御され、制御信号Ｃ４はコントローラ１９から制
御信号端子Ｔ４を経由して接続されている。コントロー
ラ１９は又、本発明の記録再生装置の動作時間を管理す
る機能を有し、動作時間が一定時間に達したら、前記各
制御信号のレベルを適切に切り替えて動作モードの切り
替え、スイッチの切り替え等を行う。

【００５２】更に、以下に示す発明の実施の形態では、
ＰＲ等化器のパラメタ値として、ＰＲ等化器のブースト
量を例として用いる。

【００５３】以下、本発明の通常動作時及び最適化動作
時について、ＥＰＲ４ＭＬチャネルを構成する場合を例
にして説明する。（１）通常動作通常動作とは、ユーザデータの記録再生を行う動作をい
う。通常動作時には、コントローラ１９は制御信号Ｃ
１,Ｃ２をそれぞれハイレベル、ローレベルとし、これ
によりスイッチ３は端子Ｓ１へ接続するよう制御され、
スイッチ１２は端子Ｓ４へ接続するよう制御される。ス
イッチ１５は通常動作とは無関係である。

【００５４】通常動作時、データ入力端子１から入力さ
れた記録データＷ４は、変調器２によって変調符号デー
タＷ３に符号化される。変調器２は従来と同一のものが
用いられる。変調符号データＷ３はプリコーダ４とドラ
イバ５によって、例えば１-７変調が用いられている場
合にはNon Return to Zero Inversion（NRZI）変換、８
/９変調が用いられている場合にはInterleaved Non Ret
urn to Zero Inversion（INRZI）変換が施され、記録信
号Ｗ１となる。NRZIやINRZIは従来技術に採用されてい
るものと同一である。その後、記録ヘッド６によって記
録媒体上に信号Ｗ１と同一の波形が記録される。

【００５５】通常動作時において、記録データ再生時に
は、媒体上に磁化の向きとして記録された記録データは
再生ヘッド７により再生される。前記波形列はアンプ８
を経由し、ＡＧＣ９によってある一定のレベルへ増幅さ
れた再生信号Ｒ１となる。磁気ヘッド７には例えばMagn
etic Resistive（ＭＲ）ヘッドを用いてもよい。また、
アンプ８、ＡＧＣ９は従来と同一のものを用いる。

【００５６】次いで、再生信号Ｒ１はＰＲ等化器１０へ
入力されＰＲ等化波形であるＰＲ等化信号Ｒ２となる。
ＰＲ等化器１０は、例えば７次等リプル・ブースト特性
を備えたアナログフィルタで実現可能である。より具体
的には、７次等リプル・ブースト特性をもつＰＲ等化
器１０がＥＰＲ４波形へ等化する特性をもつためには、
前記フィルタのカットオフ周波数をデータ転送周波数の
０.２５倍程度に定めればよい。また、前記フィルタの
ブースト量は、媒体の線記録密度と再生ヘッドの孤立波
形に依存する。前記ブースト量には、等化器最適化動作
において求められたＢＥＲを最小とする値が用いられ
る。

【００５７】次いで、ＰＲ等化信号Ｒ２はビタビ検出器
１１へ入力される。ビタビ検出器１１は、ＰＲ等化信号
Ｒ２がＥＰＲ４等化されておりその信号レベルが信号識
別時刻において５個の値すなわち０±０.５,±１のいず
れかの値をとることを前提として、ビタビ検出を行う。
ビタビ検出器１１は従来提案されているビタビ検出器と
同様の構成により実現される。ビタビ検出器１１から出
力されたビット列のビタビ検出器出力信号Ｒ３はビッ
ト'０'及び'１'からなる。出力信号Ｒ３はスイッチ１２
の端子Ｓ４を経由して復調器１３へ入力され、復調器１
３では変調器２に施された変換の逆の変換が行われてユ
ーザデータである再生データＲ４となり、データ出力端
子２０から出力される。復調器１３は従来提案されてい
る復調器と同様に構成される。（２）最適化動作次に、最適化動作を説明する。最適化動作とは、図１の
「信号Ｒ３のＢＥＲを最小にする等化器伝達特性」を求
める動作をいう。この動作において、まず記録動作が行
われ、次に再生動作が行われる。各動作を図１を参照し
て以下に説明する。（２−１）記録動作最適化動作において、記録動作を行う場合には、コント
ローラ１９が出力する制御信号Ｃ１、Ｃ３はそれぞれロ
ーレベル、ハイレベルとなり、これによりスイッチ３は
端子Ｓ２へ接続するよう制御され、スイッチ１５は端子
Ｓ５へ接続するよう制御される。スイッチ１２は本動作
とは無関係である。

【００５８】記録動作時、まずテスト用セクタには、他
のセクタと同様に、データ記録部分に先立って同期回復
用系列が記録される。前記同期回復用系列はこの後の部
分に記録されるデータ部分の先頭を識別するために記録
される。同期回復用系列が記録された後、コントローラ
１９は参照データ生成器１４の動作を開始させるため、
制御信号Ｃ４としてパルス信号を制御信号端子Ｔ４から
送る。参照データ生成器１４は前記制御信号Ｃ４を受け
て、内部バッファ６３（後述する図２参照）の初期化を
行った後動作を開始し、参照データ生成器１４からは参
照データ列Ｕが出力される。参照データ生成器１４の例
としては、長さが１セクタ分（数千ビット程度）のメモ
リ素子を備え、メモリ内部に前記長さの２元擬似乱数列
を記憶し、それを順次読み出しビット列Ｕとして出力す
ればよい。参照データ生成器１４の他の例として図２に
示した線形帰還シフトレジスタ回路を用いる方法もあ
る。

【００５９】参照データＵはスイッチ１５の端子Ｓ５及
びスイッチ３の端子Ｓ２を経由した後、通常動作時と同
様にプリコーダ４、ドライバ５を経由して記録ヘッド６
により記録媒体へ記録される。なお、最適化動作の記録
動作時、参照データＵは、ユーザデータが記録される領
域とは別の、特別に設けられたテスト用セクタに記録さ
れる。また、ディスク上をディスク半径位置を基準にし
た複数のゾーンに分け各ゾーン毎に独立した記録密度を
定める場合には、前記テスト用セクタは前記各ゾーン内
に独立して設けるものとする。（２−２）再生動作最適化動作において、再生動作を行う場合には、コント
ローラ１９は制御信号Ｃ２,Ｃ３をそれぞれローレベ
ル、ハイレベルとし、これによりスイッチ１２は端子Ｓ
３へ接続するよう制御され、スイッチ１５は端子Ｓ６へ
接続するよう制御される。スイッチ３は再生動作とは無
関係である。

【００６０】再生動作時にはテスト用セクタに記録され
たデータが再生される。再生動作時、まず等化器特性制
御器１８は、制御信号ＣＲのレベルがローレベルからハ
イレベルへ変化したと同時に、ブースト量ＢとしてＢ
（１）をＰＲ等化器１８へ設定する。等化器特性制御器
１８にはブースト量としてＮ個の値: Ｂ（１）,Ｂ
（２）,・・・, Ｂ（Ｎ）が記憶されているが、制御器
１８はこれらの値のうちでまずＢ（１）をＰＲ等化器１
０へ出力するのである。この後、再生ヘッド７はテスト
用セクタに記録されたデータを再生する。再生ヘッド７
の出力信号はアンプ８とＡＧＣ９を経由した後に、ブー
スト量Ｂ（１）が設定されたＰＲ等化器１０を経由して
ビタビ検出器１１で処理され２元データビット列の出力
信号Ｒ３となり、誤り個数カウンタ１７に入力される。

【００６１】一方、再生動作時において参照データ生成
器１４は参照データＵを出力する。参照データＵの出力
は制御信号Ｃ４のパルスにより開始される。コントロー
ラ１９はテスト用セクタの先頭に記録されている同期回
復用系列を受信し、コントローラ１９は前記系列をもと
にして制御信号Ｃ４の出力タイミングを定める。信号Ｃ
４の出力タイミングは、誤り個数カウンタ１７の入力に
おいて、テスト用セクタから読み出されるＲ３と参照デ
ータＵとのビット列として位相が一致するように定めら
れる。

【００６２】参照データＵはスイッチ１５の端子Ｓ６を
経由して誤り個数カウンタ１７に入力される。誤り個数
カウンタ１７は、端子Ｔ１０から入力される制御信号Ｃ
Ｒがハイレベルになってからローレベルに戻るまでの
間、２個の入力データＵとＲ３との間の比較を行い、異
なるビットが発生した数の合計すなわち誤りビット数を
カウントする。制御信号ＣＲがローレベルに戻った後、
誤り個数カウンタ１７は観測された誤り個数Ｅを等化器
特性制御器１８に出力する。前記誤り個数をＥ（１）と
する。

【００６３】ここまでの再生動作においては、ＰＲ等化
器１０へ設定されていたブースト量はＢ（１）であっ
た。次に制御信号ＣＲがハイレベルになると、等化器特
性制御器１８はＰＲ等化器１０へブースト量としてＢ
（２）を設定する。この後、制御信号ＣＲがローレベル
へ変化するまでの間、ブースト量がＢ（１）であった場
合と同様にして、再生動作が行われ、誤り個数Ｅが誤り
個数カウンタ１７により計算されて等化器特性制御器１
８に入力される。ブースト量がＢ（２）の時に観測され
た誤り個数をＥ（２）とする。同様の手順で、等化器特
性制御器１８は、制御信号ＣＲがハイレベルになる度に
ブースト量をＢ（３）,Ｂ（４）,・・・, Ｂ（Ｎ）と変
え、それぞれに対する誤り個数Ｅ（３）,Ｅ（４）,・・
・, Ｅ（Ｎ）が誤り個数カウンタ１７において計測され
る。

【００６４】等化器特性制御器１８は上記誤り個数カウ
ンタ１７によって計測されたＮ個の誤り個数の中から最
小の誤り個数を求める機能を有する。それがＥ（Ｋ）で
あったとすると、等化器特性制御器１８はＢ（Ｋ）をＰ
Ｒ等化器１０へ設定する。以上で最適化動作の再生動作
は終了する。（３）参照データ生成器１４の説明図２は、参照データ生成器を説明するための説明図であ
る。図２に示すように、参照データ生成器１４は、１２
個の遅延素子６１、３個の排他的論理和計算素子６２、
１２個のバッファ６３、１個のスイッチ６４を有する。
図２において、Ａ１,Ａ２,・・・, Ａ１２は各バッファ
６３内に記録された記憶ビットを示す。また、バッファ
６３はスイッチ６４を経由して遅延素子６１に接続され
ている。遅延素子６１と排他的論理和計算素子６２は原
始多項式Ｘ¹²＋Ｘ⁶＋Ｘ⁴＋Ｘ＋１によって定められる線
形帰還シフトレジスタを構成している。

【００６５】次に、参照データ生成器１４の動作を説明
する。図２でＡ１にはビット'１'が、Ａ２からＡ１２ま
でにはビット'０'が入力される。制御信号Ｃ４としてパ
ルス信号が受信されると、スイッチ６４はＯＮ状態とな
り、Ａ１からＡ１２までのビット値が遅延素子６１に入
力される。この後スイッチ６４はＯＦＦ状態となる。

【００６６】次いで、遅延素子６１はそれぞれ自身の右
隣へ記録ビットをシフトし、かつ遅延素子列の途中から
分岐した３個のタップへもビット値を出力する。このシ
フト動作を繰り返すことによって、遅延素子列の右端か
らは周期４０９５の擬似乱数が信号Ｕとして出力され
る。（４−１）等化器特性制御器１８の構成図３は、等化器特性制御器を説明するための説明図であ
る。図３に示すように、等化器特性制御器１８は、セレ
クタ３１、誤り個数バッファ３２、最小値インデックス
計算回路３３、ブースト量バッファ３４、セレクタ３５
を有する。等化器特性制御器１８へは誤り個数Ｅ、制御
信号ＣＲが入力され、等化器特性制御器１８からはブー
スト量Ｂが出力される。

【００６７】セレクタ３１は、制御信号ＣＲのレベル変
化に応じて、入力端子Ｘと接続させる出力端子を定める
機能を有する。セレクタ３１において初期状態ではＸは
どの出力端子へも接続されていないが、制御信号ＣＲレ
ベルの最初の立ち上がりによりＸとＸ１とが接続され
る。次の制御信号ＣＲレベルの立ち上がりによりＸとＸ
２とが接続される。以下、制御信号ＣＲレベルの立ち上
がる度に、Ｘと接続される出力端子はＸ３,Ｘ４,・・
・, ＸＮと切り替えられる。

【００６８】誤り個数バッファ３２は、Ｎ個の誤り個数
記憶部を備え、セレクタ３１の端子Ｘ１,Ｘ２,・・・,
ＸＮから出力されるＮ個の誤り個数Ｅ（１）,Ｅ
（２）,・・・, Ｅ（Ｎ）を独立に記憶する機能を有す
る。前記記憶されたＮ個の誤り個数は独立の端子から最
小値インデックス計算回路３３の入力端子Ｙ１,Ｙ２,・
・・, ＹＮへ向けて出力される。

【００６９】最小値インデックス計算回路３３は、入力
端子Ｙ１,Ｙ２,・・・, ＹＮから入力されるＮ個の誤り
個数Ｅ（１）,Ｅ（２）,・・・, Ｅ（Ｎ）に対して、ま
ずそれら誤り個数のうちの最小値を求める。次いで、最
小値インデックス計算回路３３は、前記最小値となった
誤り個数が、入力端子Ｙ１,Ｙ２,・・・, ＹＮのうちの
どの端子から入力された誤り個数であるかを求める。前
記最小値となった誤り個数が、入力端子の第Ｋ番目の端
子から入力された誤り個数であったとすると、回路３３
はＫを出力端子Ｙからセレクタ３５の入力端子Ｔ５へ向
け出力する（以下、Ｋをインデックスと呼ぶ）。

【００７０】ブースト量バッファ３４は、ＰＲ等化器１
０へ設定するＮ個のブースト量Ｂ（１）,Ｂ（２）,・・
・,Ｂ（Ｎ）を記憶する機能を有する。前記各ブースト
量はセレクタ３５の入力端子Ｚ１,Ｚ２,・・・, ＺＮへ
向け出力される。

【００７１】セレクタ３５は、端子Ｔ６から入力される
制御信号ＣＲをもとに入力端子Ｚ１,Ｚ２,・・・, ＺＮ
のいずれか１つと出力端子Ｚとを接続する機能、及び端
子Ｔ５から入力されるインデックスＫをもとに入力端子
ＺＫと出力端子Ｚとを接続する機能を有する。セレクタ
３５において初期状態ではＺはどの入力端子へも接続さ
れない。制御信号ＣＲレベルが最初に立ち上がると、Ｚ
１とＺとが接続される。次の制御信号ＣＲレベルの立ち
上がりによりＺ２とＺとが接続される。以下、制御信号
ＣＲレベルの立ち上がる度に、Ｚと接続される入力端子
はＺ３,Ｚ４,,,, ＺＮと切り替えられる。次に、（Ｎ＋
１）回目の制御信号ＣＲレベルの立ち上がりにより、端
子Ｔ５から入力されるインデックスＫをもとに入力端子
ＺＫとＺとが接続される。以上の動作により、セレクタ
３５はブースト量ＢとしてＢ（１）,Ｂ（２）,・・・,
Ｂ（Ｎ）,Ｂ（Ｋ）を出力するようになる。（４-２）等化器特性制御器１８の動作次に、等化器特性制御器１８の動作をまとめると次のよ
うになる。

【００７２】第１回目の制御信号ＣＲの信号レベルの立
ち上がりにおいて、セレクタ３５では入力端子Ｚ１が出
力端子Ｚへ接続される。

【００７３】ブースト量Ｂ（１）が端子Ｚから出力され
る。

【００７４】セレクタ３１では入力端子Ｘが出力端子Ｘ
１へ接続される。

【００７５】誤り個数Ｅが端子Ｘから誤り個数バッファ
Ｅ（１）に入力される。

【００７６】同様に第ｎ回目（ｎ＝２,・・・,Ｎ）の制
御信号ＣＲの信号レベルの立ち上がりにおいて、セレク
タ３５では入力端子ＺＮが出力端子Ｚへ接続される。

【００７７】ブースト量Ｂ（Ｎ）が端子Ｚから出力され
る。セレクタ３１では入力端子Ｘが出力端子ＸＮへ接続
される。誤り個数Ｅが端子Ｘから誤り個数バッファＥ
（Ｎ）に入力される。

【００７８】第（Ｎ＋１）回目の制御信号ＣＲの信号レ
ベルの立ち上がりにおいて、セレクタ３５ではインデッ
クスＫに基づき入力端子ＺＫが出力端子Ｚへ接続され
る。ブースト量Ｂ（Ｋ）が端子Ｚから出力される。（５）最小値インデックス計算回路の構成と動作図４及び図５は最小値インデックス計算回路を説明する
ための説明図である。図４はブースト量の個数Ｎが４個
の場合に対して構成された最小値インデックス回路３３
の一例を示し、３個の比較器４１、２個のセレクタ４
２、変換器４３を有する。

【００７９】比較器４１は入力端子IＮ１及びIＮ２から
入力された２個の値のうちIＮ１からの入力値が小さい
場合にはＯＵＴ端子から０を出力し、それ以外の場合に
はＯＵＴ端子から１を出力する機能を有する。セレクタ
４２は端子Ｓへの入力値が０の場合には、端子IＮ１か
らの入力値を端子ＯＵＴから出力し、それ以外の場合に
は端子IＮ２からの入力値を端子ＯＵＴから出力する機
能を有する。変換器４３は端子Ｆ，Ｇ，Ｈそれぞれから
の入力値COMP１,COMP２,COMP３と端子ＯＵＴからの出力
値Ｋとの関係を図５の表に示すように定める機能を有す
る。

【００８０】図４で、入力端子Ｙ１,Ｙ２,Ｙ３,Ｙ４そ
れぞれから誤り個数Ｅ（１）,Ｅ（２）,Ｅ（３）,Ｅ
（４）が入力される。前記４個の誤り個数はまず２個の
比較器４１と２個のセレクタ４２に入力される。前記２
個の比較器４１それぞれではＥ（１）とＥ（２）、Ｅ
（３）とＥ（４）が比較され、比較結果が０または１の
信号COMP１,COMP２となって変換器４３に入力される。

【００８１】一方、前記誤り個数Ｅ（１）,Ｅ（２）,Ｅ
（３）,Ｅ（４）は２個のセレクタ４２のIＮ１,IＮ２端
子へも入力される。セレクタ４２では端子Ｓより入力さ
れる値に従い、前記値が０ならば端子IＮ１から入力さ
れた信号をＯＵＴ端子から出力し、前記値が０ならばI
Ｎ２から入力された信号をＯＵＴ端子から出力する。

【００８２】前記２個のセレクタ４２のＯＵＴ端子から
出力された信号は、図４の右側に配置された比較器４１
のＩＮ１、ＩＮ２端子に入力され、前記比較器４１にお
いて入力値の大小によりCOMP３の値が決定され変換器４
３へ向けて出力される。変換器４３では、入力された３
個の値から、図５に示した関係により出力信号Ｋを定め
る。例えば、COMP１が１、COMP２が１、COMP３が０の場
合には、出力信号Ｋは２となる。（６）誤り個数カウンタ１７の説明図６は、誤り個数カウンタを説明するための説明図であ
る。図６に示すように、誤り個数カウンタ１７は、排他
的論理和計算素子５１、アップカウンタ５２を有する。
排他的論理和計算素子５１は、２個の入力値からその排
他的論理和を計算する機能を有する。アップカウンタ５
２は、ＣＬＫ端子に入力されるクロック信号ＣＬＯＣＫ
に同期して動作し、端子ＣＬＥＡＲからの入力信号レベ
ルがハイレベルである間は、ＥＮＡＢＬＥ端子からの入
力信号がハイレベルである間のクロック回数をカウント
する機能を有する。信号ＣＬＯＣＫはテスト用セクタ内
の先頭部に記録されている同期回復用ビット列を、再生
することによって生成される。アップカウンタ５２は
又、端子ＣＬＥＡＲからの入力信号レベルがハイレベル
からローレベルへ変化した時点で、前記カウントしたク
ロック回数を０に初期化する機能を有する。

【００８３】制御信号端子Ｔ１０からの制御信号ＣＲが
ローレベルからハイレベルへ立ち上がった後、パルス信
号Ｃ４が参照データ生成器１４へ伝送されると、参照信
号Ｕとビタビ検出器出力信号Ｒ３とが排他的論理和計算
素子５１に入力される。排他的論理和計算素子５１は各
信号識別時刻において参照信号Ｕとビタビ検出器出力信
号Ｒ３との排他的論理和をアップカウンタ５２に出力す
る。出力信号Ｒ３と参照信号Ｕが同一で誤りが無い場合
には、排他的論理和計算素子５１の出力は０であり、そ
れ以外の場合には１となる。前記０または１の信号はア
ップカウンタ５２に入力され、ここで誤りビット数がカ
ウントされ、カウント結果は逐次、誤り個数信号Ｅとし
て出力される。制御信号ＣＲがハイレベルからローレベ
ルへ立ち下がると、前記カウント結果は０へ初期化され
る。（７）全体の動作手順の説明次に、本発明の実施の形態全体の動作手順を図７及び図
８を参照して説明する。

【００８４】図７（Ａ）は、「通常動作」及び「最適化
動作」の間の実行順序を示したフローチャートである。
本発明装置の動作が開始されると、図７の手順７１でま
ず最適化動作が行われ、手順７２において累積時間Ｔw
に０が指定される。ここで、累積時間Ｔwとは、前回最
適化動作が行われた後の通常動作の実行時間の累積時間
をいう。

【００８５】その後、手順７３において通常動作が行わ
れる。累積時間Ｔwはコントローラ１９によって管理さ
れており、Ｔwがある閾値Ｔhを超えない間（Ｔw<Ｔh）
は図７の条件分岐７４により通常動作が繰り返される。
条件分岐７４においてＴw＝Ｔhが満たされると、手順７
１により最適化動作が行われ、その後動作累積時間Ｔは
再び０に戻される。閾値Ｔhとしては、装置が設置され
ている場所の振動、温度などの使用環境にもよるが、概
ね数十時間から数百時間程度を指定すればよい。

【００８６】図７（Ｂ）は通常動作の動作手順を示した
フローチャートである。通常動作時、まずコントローラ
１９は手順７５に示すように制御信号Ｃ１,Ｃ２のレベ
ルを決める。すなわち、制御信号Ｃ１をハイレベルと
し、制御信号Ｃ２をローレベルとする。その結果、図１
において通常動作が行われるようにスイッチ３,１２が
制御される。次いで、上述した手順と同様の手順によっ
てデータの記録再生動作が行われる。

【００８７】図８は最適化動作の動作手順を示したフロ
ーチャートである。最適化動作時、まずコントローラ１
９は記録セクタとしてテスト用セクタを指定するととも
に、手順７６に示すように制御信号Ｃ１,Ｃ３のレベル
を決めてスイッチ３,１５を制御し図１において最適化
動作の記録動作のための回路を構成する。

【００８８】次いで、手順７７においてコントローラ１
９は制御信号Ｃ４としてパルスを参照データ生成器１４
へ送る。同時にテスト用セクタに記録されたビットの再
生が開始される。

【００８９】参照データのテスト用セクタへの記録が終
了したら、手順７８に示したように制御信号Ｃ２,Ｃ３
のレベルを定めてテスト用セクタに記録された参照信号
の再生動作を行う。

【００９０】再生動作においては、まず手順７９により
コントローラ１９内部の変数ｉを１に定め、図８の手順
８０により制御信号ＣＲのレベルを立ち上げる。これに
より等化器特性制御器１８の各セレクタの結線が、等化
器特性制御器１８の説明で述べたように定められ、ＰＲ
等化器１０にはブースト量Ｂ（１）が設定される。

【００９１】次いで、手順８１でコントローラ１９は制
御信号Ｃ４としてパルスを参照データ生成器１４へ送
り、同時にテスト用データの再生を行う。前記データの
再生中に生じたビタビ検出出力信号Ｒ３の誤りビット数
Ｅは誤り個数カウンタ１７により集計され、等化器特性
制御器１８へＥ（１）として入力される。テスト用セク
タのデータ再生が終了したら、制御信号ＣＲはローレベ
ルに戻され、分岐８２でｉがＮを超えるまでは手順８０
へ戻される。以上の手順８０から手順８１、分岐８２、
ｉを１加える手順８３を経て手順８０へ戻る動作をＮ回
繰り返すことによってＥ（ｉ）,ｉ＝１,２,・・・,Ｎ
が求められる。

【００９２】次いで、手順８４によってインデックスＫ
が求められ、手順８５,８６によって誤り個数を最小に
するＢ（Ｋ）がＰＲ等化器１０のブースト量に設定され
て最適化動作が終了する。

【００９３】次に、本発明の他の実施の形態を説明す
る。この実施の形態では、テスト用セクタへの参照デー
タの記録を、装置の製造時に１度行いその後は行わない
ことを特徴とする。

【００９４】前述した発明の実施の形態で述べた記録再
生装置では、最適化動作時の記録動作時において、ま
ず、テスト用セクタへ参照データを記録していた。とこ
ろがこの記録動作は必ずしも最適化動作毎に行う必要は
ない。そこで最適化動作時の記録動作を装置の製造時に
１度行い、最適化動作時には再生動作のみを行えば、最
適化動作の動作手順の数を削減できる。

【００９５】図８を参照すると、他の実施の形態では、
処理手順７６,７７,７８は削除され、Ｓtａrtから直接
処理手順７９へ動作手順を移す。これにより最適化動作
時の再生動作においては記録動作が行われなくなる。

【００９６】次に、本発明のさらに他の実施の形態を説
明する。この実施の形態では、図９（Ｂ）に示すよう
に、上記説明された等化器の伝達特性を最適化する最適
化処理をコンピュータに実行させるための最適化処理プ
ログラムを記録した記録媒体２００を有する。この記録
媒体２００は、磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、半導体メ
モリその他の記録媒体であってもよい。

【００９７】この最適化処理プログラムは、記録媒体２
００から制御部１６０に読み込まれ、制御部１６０は、
その最適化処理プログラムに従い、主に次のような処理
を実行する。（１）参照データを生成し、その参照データを、ユーザ
データを記録再生する領域とは別に設けられたセクタ領
域に記録する処理（２）等化器のパラメタ値を記憶する手段によって記憶
されているパラメタ値を等化器へ設定する処理（３）前記セクタ領域に記録された参照データを再生し
て信号処理を行い、前記信号処理後のデータのビット列
と前記生成された参照データのビット列とを比較し、誤
りビット数を計算し、その誤りビット数を記憶する処理（４）等化器のパラメタ値を記憶する手段に記憶されて
いる各パラメタ値に対して、順次前記（２）の処理及び
（３）の処理を繰り返す処理（５）各パラメタ値に対する誤りビット数のうち最小の
誤りビット数が計測されたときに設定されていたパラメ
タ値を計算する処理（６）前記最小値になるパラメタ値を等化器へ再設定す
る処理。

【００９８】本発明は、上記実施の形態に限定されるこ
とはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範
囲内において、種々の変更が可能である。

【００９９】

【発明の効果】本発明によれば、等化器の伝達特性を定
めるパラメタ値を変化させ、各パラメタ値を等化器に設
定した場合の誤りビット数を、各パラメタ値毎に計測し
記憶する手段を設けたので、ＰＲＭＬ信号処理回路を構
成する等化器が、伝達特性を適応制御することが困難な
等化器である場合であっても、前記等化器の伝達特性
を、ＢＥＲを最小にする特性に設定することが可能とな
る。その結果、記録再生装置の信頼性が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の記録再生装置の具体的な構成を示すブ
ロック図である。

【図２】参照データ生成器を説明するための説明図であ
る。

【図３】等化器特性制御器を説明するための説明図であ
る。

【図４】最小値インデックス計算回路を説明するための
説明図である。

【図５】最小値インデックス計算回路を説明するための
説明図である。

【図６】誤り個数カウンタを説明するための説明図であ
る。

【図７】（Ａ）は「通常動作」及び「最適化動作」の間
の実行順序を示したフローチャート、（Ｂ）は通常動作
の動作手順を示したフローチャートである。

【図８】最適化動作の動作手順を示したフローチャート
である。

【図９】（Ａ）は、本発明の記録再生装置の一般的な構
成を示すブロック図、（Ｂ）は、本発明のさらに他の形
態を説明するためのブロック図である。

【図１０】ＥＰＲ４等化された信号の信号識別時刻にお
ける値の頻度分布を示すグラフである。

【図１１】ＰＲ等化器のブースト量と標準偏差との関係
を示すグラフである。

【図１２】ＰＲ等化器のブースト量と誤りビット数との
関係を示すグラフである。

【図１３】ＰＲ等化器のブースト量を４ｄＢから１３ｄ
Ｂまで１ｄＢ刻みで変えた場合のＰＲ等化器伝達特性を
示すグラフである。

【図１４】浮上量拡大前後の磁気ヘッドの位置と移動軌
跡を示す説明図である。

【図１５】（Ａ）及び（Ｂ）は、それぞれ図１４の磁気
ヘッドが作る孤立パルスの模式図である。

【図１６】従来のＰＲＭＬ回路の構成を示すブロック図
である。

【符号の説明】

１：データ入力端子２：変調器３：スイッチ４：プリコーダ５：ドライバ６：記録ヘッド７：再生ヘッド８：アンプ９：ＡＧＣ回路１０：ＰＲ等化器１１：ビタビ検出器１２：スイッチ１３：復調器１４：参照データ生成器１５：スイッチ１７：誤り個数カウンタ１８：等化器特性制御器１９：コントローラ２０：データ出力端子３１：セレクタ３２：誤り個数バッファ３３：最小値インデックス計算回路３４：ブースト量バッファ３５：セレクタ４１：比較器４２：セレクタ４３：変換器５１：排他的論理和計算素子５２：アップカウンタ６１：遅延素子６２：排他的論理和計算素子６３：バッファ６４：スイッチ７１から８６本発明装置の動作手順

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】等化器に設定されるパラメタ値を記憶する
パラメタ値記憶手段と、前記パラメタ値を等化器へ設定するパラメタ値設定手段
と、参照データを生成する参照データ生成手段と、前記参照データを、ユーザデータを記録再生する領域と
は別に設けられたセクタ領域に記録する参照データ記録
手段と、前記記録された参照データを再生する参照データ再生手
段と、前記参照データ再生手段によって参照データを記録した
セクタ領域から再生されたデータビット列と、前記参照
データ生成手段が生成したデータビット列とを比較し誤
りビット数を計測する誤りビット数計測手段と、前記パラメタ値記憶手段に記録された各パラメタ値の各
々が等化器に設定された場合に計測された前記誤りビッ
ト数を記憶する誤りビット数記憶手段と、前記誤りビット数記憶手段に記憶された誤りビット数の
うち、最小の誤りビット数が計測されたときに設定され
ていたパラメタ値を計算する最小値計算手段とを備え、前記最小値計算手段により計算された前記誤りビット数
を最小にするパラメタ値を、前記パラメタ値設定手段に
より前記等化器へ再設定する、ことを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】ユーザデータの記録再生を行う通常動作モ
ードと、前記参照データを記録する記録動作モードと、
前記参照データを再生する再生動作モードの切り替えを
行う切替手段を有することを特徴とする請求項１に記載
の記録再生装置。
【請求項３】前記パラメタ値は、ブースト量であること
を特徴とする請求項１又は２に記載の記録再生装置。
【請求項４】（１）参照データを生成し、その参照デー
タを、ユーザデータを記録再生する領域とは別に設けら
れたセクタ領域に記録する工程と、（２）等化器のパラ
メタ値を記憶する手段によって記憶されているパラメタ
値を等化器へ設定する工程と、（３）前記セクタ領域に
記録された参照データを再生して信号処理を行い、前記
信号処理後のデータのビット列と前記生成された参照デ
ータのビット列とを比較し、誤りビット数を計算し、そ
の誤りビット数を記憶する工程と、（４）等化器のパラ
メタ値を記憶する手段に記憶されている各パラメタ値に
対して、順次前記（２）の工程及び（３）の工程を繰り
返す工程と、（５）各パラメタ値に対する誤りビット数
のうち最小の誤りビット数が計測されたときに設定され
ていたパラメタ値を計算する工程と、（６）前記最小値
になるパラメタ値を等化器へ再設定する工程と、を有す
ることを特徴とする記録再生方法。
【請求項５】前記（１）の工程は、等化器伝達特性を最
適化する最適化動作時の記録動作時ごとに行われること
を特徴とする請求項４に記載の記録再生方法。
【請求項６】前記（１）の工程は、等化器伝達特性を最
適化する最適化動作時の前に予め行われることを特徴と
する請求項４に記載の記録再生方法。
【請求項７】前記パラメタ値は、ブースト量であること
を特徴とする請求項４乃至６のいずれか１つの項に記録
再生方法。
【請求項８】（１）参照データを生成し、その参照デー
タを、ユーザデータを記録再生する領域とは別に設けら
れたセクタ領域に記録する処理と、（２）等化器のパラ
メタ値を記憶する手段によって記憶されているパラメタ
値を等化器へ設定する処理と、（３）前記セクタ領域に
記録された参照データを再生して信号処理を行い、前記
信号処理後のデータのビット列と前記生成された参照デ
ータのビット列とを比較し、誤りビット数を計算し、そ
の誤りビット数を記憶する処理と、（４）等化器のパラ
メタ値を記憶する手段に記憶されている各パラメタ値に
対して、順次前記（２）の処理及び（３）の処理を繰り
返す処理と、（５）各パラメタ値に対する誤りビット数
のうち最小の誤りビット数が計測されたときに設定され
ていたパラメタ値を計算する処理と、（６）前記最小値
になるパラメタ値を等化器へ再設定する処理と、をコン
ピュータに実行させるプログラムを記録した記録媒体。