JP2000215610A

JP2000215610A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JP2000215610A
Application number: JP11008784A
Authority: JP
Inventors: Atsushi Kiyuuzaki; 篤史宮▲ざき▼; Hiroyuki Yamaguchi; 博之山口; Mutsumi Iguchi; 睦井口
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1999-01-18
Filing date: 1999-01-18
Publication date: 2000-08-04

Abstract

(57)【要約】【課題】光ディスク記録再生装置において、ディスク
や装置のばらつきや、装置の動作状態によらず再生信号
振幅を目標の振幅に調整することを目的とする。【解決手段】ピックアップ２の出力信号はその振幅を
アッテネータ７で変化され再生信号として出力される。
再生信号はエンベロープ検出回路３において振幅が検出
され、低域通過フィルタ９と平均化処理部１０を通して
アッテネータ制御部１３へ入力される。アッテネータ設
定値制御部１３は再生信号が目標の振幅となるようにア
ッテネータ７を設定する。上記構成の光ディスク装置に
おいてトラッキング制御部２０の動作やモータ４の回転
速度に応じて低域通過フィルタ９の特性や平均化処理部
１０の平均回数を変更し、またアドレス部検出回路１６
の出力に応じてスイッチ１１をＯＦＦすることで、ディ
スク種別や装置の動作状態に影響なく再生信号振幅を調
整できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク記録再
生装置に用いられる、再生信号振幅を調整する機能に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスク記録再生装置におい
て、多種類の反射率の異なる光ディスクの記録再生を行
う装置の開発がなされている。反射率の異なる光ディス
クを再生するには、反射率の異なるディスク毎に再生信
号の振幅を調整する必要があった。従来の技術では、再
生信号振幅の振幅を検出し、振幅が目標値になるように
利得が可変のアンプを制御する手法が知られている（例
えば、特開平９−１１５１４２号公報）。

【０００３】図１９に従来の再生信号振幅を調整する機
能を備えた光ディスク装置の一般的な例を示す。光ディ
スク１に記録されている情報はピックアップ部２で読み
出され電気信号に変換される。ピックアップ部２の出力
は利得を可変に設定できるアンプ１９１に入力され、ア
ンプ１９１で増幅された信号は再生信号として図１９に
記載しないディスクに記録されたデータを復元して再生
する回路に出力され、かつエンベロープ検出回路３に出
力される。エンベロープ検出回路３はアンプ１９１から
入力された信号の振幅を検出して出力する。エンベロー
プ検出回路３の出力は制御回路１９２に出力される。制
御回路１９２は内部にあらかじめ設定してある目標値と
エンベロープ検出回路３から入力された信号を比較し、
その差分がなくなるようにアンプ１９１の利得を調整す
る。利得が調整されたアンプ１９１からは目標となる振
幅で再生信号が出力される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来の技術では、トラ
ッキング制御が動作していない時は、光ビームがトラッ
クを横断する毎にトラックとトラックの間のデータが記
録されていない部分を通過するので再生信号のエンベロ
ープが大きく変動し目標の振幅の再生信号を出力する事
が出来なかった。また、ディスクを回転速度を速くする
と、それに伴い再生信号の帯域が高くなり、一方で再生
信号のエンベロープ検出回路の帯域は無限ではなく実際
には制限されているため、前記エンベロープ検出回路の
出力と実際の再生信号の振幅が異なる場合があり、再生
信号の振幅を目標値に調整することができなかった。ま
た、回路のオフセットやディスクの傷や欠陥に応じて前
記エンベロープ検出回路の出力が変化するので調整結果
に誤差を生じるという問題があった。従って、従来の技
術では再生信号の振幅を調整する時の装置の動作状態が
限定されていた。しかし、近年、同一の装置において複
数種類のディスクを再生する光ディスク装置の開発がな
されており、装置の動作状態に依存せずに再生信号の振
幅調整が可能である必要が出てきた。例えば、フォーカ
スレンズを最適な位置に移動させるフォーカス位置調整
を行う手順を用いて具体的に説明する。フォーカス位置
調整は、再生信号の振幅が最大になるようにフォーカス
最適位置を求める制御であるが、再生信号の最大振幅が
ディスク種別毎に異なることから前記エンベロープ検出
回路の出力信号の入力範囲を大きくとる必要がある。一
方で入力値を取り扱う回路の分解能は制限があるため、
入力信号の精度が低下し、結果としてフォーカス位置調
整の調整精度が悪くなる。フォーカス位置調整の調整精
度を高くするには、フォーカス位置を調整する以前に、
再生信号の振幅をディスク種別によらず略略一定の振幅
に調整し前記エンベロープ検出回路の出力信号の入力範
囲を小さくする必要がある。ここで、フォーカス位置が
調整されていないと、トラッキング制御に用いるトラッ
キングエラー信号が正しく出力されないことがありトラ
ッキング制御が行えない可能性がある。そのため、フォ
ーカス位置調整はトラッキング制御を行う以前に実施す
る必要がある。しかし、前述したように従来の技術で
は、再生信号の振幅を調整するためにはトラッキング制
御が行われている必要があり、結果としてフォーカス位
置調整の調整精度を高くすることができなかった。この
問題を解決するためには、トラッキング制御が行われる
以前に再生信号の振幅が調整できればよい。以上の例は
トラッキング制御の動作状態について説明したが、その
他ディスクの回転速度等、装置の動作状態に制限なく再
生信号の振幅を調整できることが望ましい。本発明は、
装置の動作状態の影響なく再生信号の振幅を調整するこ
とを目的とする。

【０００５】また、書き換え可能なディスク等ではデー
タが記録されていない領域（未記録部）があり、再生信
号が出力されない。従って従来の技術では、未記録部に
光ビームが位置しているときに再生信号の振幅を調整す
ると、利得を変化させても前記エンベロープ検出回路の
出力が変化しないため、再生信号の振幅を調整すること
ができないという問題があった。本発明は、未記録部を
検出して、確実にディスクの記録部に光ビームが位置す
る時に再生信号の振幅を調整することを目的とする。

【０００６】また、データを識別するためのアドレスが
記録されている領域（アドレス部）を有するディスクに
おいて再生信号の振幅を調整する際は、光ビームがアド
レス部に位置する時に再生信号の振幅が異なる為前記エ
ンベロープ検出回路の出力が変動するので、従来の技術
では調整誤差が生じるという問題があった。本発明は、
アドレス部を有するディスクにおいて、アドレス部に影
響されずに再生信号の振幅を調整することを目的とす
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、エンベロープ検出回路の出力信号を入力
する手段として低域通過フィルタや入力信号を平均して
出力する平均化処理部を設け、トラッキングサーボの動
作状態やスピンドルモーターの回転速度などの装置の動
作状態に応じて、前記低域通過フィルタの通過特性や平
均化処理部の平均回数等の条件を可変に設定できるよう
にし、かつ調整目標値を可変に設定できるようにしたも
のである。

【０００８】また、光ビームが未記録部に位置する時に
再生信号振幅が誤調整されることを避けるために、エン
ベロープ検出回路の出力に閾値を設け、閾値以下の場合
は再生信号の振幅調整を実行せず、光ビームの位置を一
定の距離だけ変更した後、再度、エンベロープ検出回路
の出力を閾値と比較し、閾値以上になるまで光ビームを
移動させる動作を繰り返すことにより、確実に記録部で
再生信号の振幅を調整できるようにしたものである。

【０００９】また、アドレス部を有するディスクにおい
てアドレス部におけるエンベロープ信号の変動の影響な
く再生信号の振幅を調整できるようにするため、アドレ
ス部を検出し、アドレス部が検出されている期間はエン
ベロープ信号の出力を停止するようにしたものである。

【００１０】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、ディスクに記録された情報を再生する再生手段と、
前記再生手段の出力を増幅する利得を可変に設定できる
増幅部と、前記増幅部の出力から振幅を検出する振幅検
出部と、前記振幅検出部の出力を平滑化処理する平滑化
処理部と、前記平滑化処理部の出力に応じて前記増幅部
の利得を設定して前記増幅部の出力を所定の振幅にする
利得設定部を有し、装置の動作状態に応じて前記平滑化
処理部の平滑化処理を変化させることを特徴とする光デ
ィスク装置で、振幅調整を行う際の装置動作状態が限定
されないという作用を有する。

【００１１】本発明の請求項２記載の発明は、請求項１
記載の光ディスク装置において利得設定部は平滑化処理
部の出力を所定の目標値となるように増幅部の利得を設
定する事によって前記増幅部の出力を所定の振幅にする
ようにしたもので、再生信号の振幅調整を行う際の装置
動作状態が限定されないという作用を有する。

【００１２】本発明の請求項３記載の発明は、請求項２
記載の光ディスク装置において装置の動作状態に応じて
目標値を変化させるようにしたもので、再生信号の振幅
を調整する際に装置動作状態に応じて生じる整誤差を少
なくするという作用を有する。

【００１３】本発明の請求項４記載の発明は、請求項３
記載の光ディスク装置において再生手段をディスク上の
トラックに追従させるトラッキング制御が動作している
時と動作していない時で目標値を変化させるもので、再
生信号の振幅調整を行う際のトラッキング制御状態が限
定されないという作用を有する。

【００１４】本発明の請求項５記載の発明は、請求項４
記載の光ディスク装置においてトラッキング制御が動作
していない時はトラッキング制御が動作している時に対
して目標値を低くするもので、再生信号の振幅調整を行
う際のトラッキング制御状態が限定されないという作用
を有する。

【００１５】本発明の請求項６記載の発明は、請求項１
記載の光ディスク装置において再生手段をディスク上の
トラックに追従させるトラッキング制御が動作している
時と動作していない時で平滑化処理部の平滑化処理を変
化させるもので、再生信号の振幅調整を行う際のトラッ
キング制御状態が限定されないという作用を有する。

【００１６】本発明の請求項７記載の発明は、請求項４
及び５記載の光ディスク装置においてトラッキング制御
が動作してない時に利得設定部を動作させ増幅部の利得
を設定した後、トラッキング制御が動作している時に利
得設定部を動作させ増幅部の利得を再度設定するもの
で、トラッキング制御が動作してない時に幅検出部の出
力をフォーカス位置調整の調整精度を向上させるのに必
要な振幅にし、かつトラッキング制御が動作している時
にディスクに記録されている情報を再生するのに必要な
振幅に調整することができるという作用を有する。

【００１７】本発明の請求項８記載の発明は、請求項７
記載の光ディスク装置において増幅部の設定値を記憶す
る設定記憶手段を有し、トラッキング制御が動作してい
ない時の前記増幅部の設定値を前記記憶手段に記憶して
おきトラッキング制御が動作している時に前記増幅部の
利得の設定可能な範囲を前記設定記憶手段に記憶されて
いる設定値に対して一定量増減させた範囲に制限するも
ので、トラッキング制御が動作している時に再生信号の
振幅を調整する時間を短縮できるという作用を有する。

【００１８】本発明の請求項９記載の発明は、請求項８
記載の光ディスク装置において増幅部の利得の設定可能
な範囲の一番低い設定から順に大きい設定に変化させて
振幅検出部の出力を目標値にするもので、トラッキング
制御が動作している時に再生信号の振幅を調整する時間
を短縮できるという作用を有する。

【００１９】本発明の請求項１０記載の発明は、請求項
１記載の光ディスク装置においてディスクの傷やごみの
付着あるいは欠陥を検出するディフェクト検出部を有
し、前記ディフェクト検出部がディスクの傷やごみの付
着あるいは欠陥を検出した時は振幅検出部の出力を停止
するもので、ディスクの傷、ごみの付着、欠陥における
振幅検出部の出力の変動に影響なく再生信号の振幅を調
整できるという作用を有する。

【００２０】本発明の請求項１１記載の発明は、請求項
１記載の光ディスク装置において再生手段が走査中のト
ラックを外れた事を検出するオフトラック検出部を有
し、前記オフトラック検出部が捜査中のトラックを再生
手段が外れた事を検出した時は振幅検出部の出力を停止
するもので、再生手段が走査中のトラックを外れた事に
よる振幅検出部の出力の変動に影響なく再生信号の振幅
を調整できるという作用を有する。

【００２１】本発明の請求項１２記載の発明は、請求項
１０記載の光ディスク装置においてトラッキング制御が
動作していない時はディフェクト検出部の動作を停止す
るものでトラッキング制御動作していない時に前記ディ
フェクト検出部が誤動作する影響を防ぐ作用を有する。

【００２２】本発明の請求項１３記載の発明は、請求項
１１記載の光ディスク装置においてトラッキング制御が
動作していない時はオフトラック検出部の動作を停止す
るもので、トラッキング制御動作していない時に前記オ
フトラック部が誤動作する影響を防ぐ作用を有する。

【００２３】本発明の請求項１４記載の発明は、請求項
１記載の光ディスク装置においてディスクの回転周期を
検出する周期検出器を有し、前記周期検出器の出力に応
じて平滑化処理部における平滑化処理を変更するもの
で、振幅検出部の出力の変動がディスク回転周期に応じ
て変化する影響を取り除く作用を有する。

【００２４】本発明の請求項１５記載の発明は、請求項
１４記載の光ディスク装置において周期検出器にて検出
したディスク回転時間以上の期間にわたって平滑化処理
を行うもので、振幅検出部の出力の変動がディスク偏心
によって変化する影響を取り除く作用を有する。

【００２５】本発明の請求項１６記載の発明は、請求項
３記載の光ディスク装置においてディスクの回転周期を
検出する周期検出器を有し、前記周期検出器の出力に応
じて目標値を変更するもので、ディスクの回転周期に応
じて前記再生手段から振幅検出部の動作帯域を越える周
波数の信号が入力された際に、振幅検出部における出力
が低下するのに合わせて目標値を設定することでディス
ク回転周期が限定されずに再生信号の振幅調整が行える
という作用を有する。

【００２６】本発明の請求項１７記載の発明は、請求項
１６記載の光ディスク装置において周期検出器の出力が
減少するにつれて目標値を小さくするもので、ディスク
の回転周期に応じて前記再生手段から振幅検出部の動作
帯域を越える周波数の信号が入力された際に、振幅検出
部における出力が低下するのに合わせて目標値を低く設
定することでディスク回転周期が限定されずに再生信号
の振幅調整が行えるという作用を有する。

【００２７】本発明の請求項１８記載の発明は、請求項
１記載の光ディスク装置において平滑化処理部に遮断特
性を変更することが可能な低域通過フィルタで構成した
もので、平滑化処理部を容易に構成出来るという作用を
有する。

【００２８】本発明の請求項１９記載の発明は、請求項
１記載の光ディスク装置において平滑化処理部の平滑化
処理を加算回数を外部より設定可能な加算平均処理とし
たもので平滑化処理部を容易に構成出来るという作用を
有する。

【００２９】本発明の請求項２０記載の発明は、請求項
１９記載の光ディスク装置においてトラッキング制御が
動作していない時はトラッキング制御が動作している時
に対して加算平均処理の加算回数を増加するもので、ト
ラッキング制御が動作していない時にトラッキング制御
が動作している時に比べて変動量が大きくなる前記振幅
検出部の出力の変動を平滑できるという作用を有する。

【００３０】本発明の請求項２１記載の発明は、請求項
１記載の光ディスク装置において再生手段は光ビームを
ディスクに照射する光源とディスクからの反射光あるい
は透過光を受光する検出器よりなり、前記光源が発光し
ていない時に振幅検出部の出力値を記憶するオフセット
記憶手段を有し、前記光源が発光している時に振幅検出
部の出力値から前記オフセット記憶手段に記憶されてい
る値を減算するもので、振幅検出部によって発生する装
置毎に異なるオフセットの影響を取り除くという作用が
有る。

【００３１】本発明の請求項２２記載の発明は、光ディ
スク装置において、ディスクに記録された情報を再生す
る再生手段と、前記再生手段をディスク半径方向に移動
させる移動手段と、前記再生手段が未記録部に位置する
ことを検出する未記録部検出手段と、前記再生手段の出
力を増幅する利得を可変に設定できる増幅部と、前記増
幅部の出力から振幅を検出する振幅検出部と、前記振幅
検出部の出力に応じて前記増幅部の利得を設定して前記
増幅部の出力を所定の振幅にする利得設定部を有し、前
記未記録部検出手段が未記録部に再生手段が位置するこ
とを検出した時に検出しない位置まで前記移動手段によ
り再生手段を移動させるもので、未記録部で再生信号振
幅が誤って調整されてしまうことを防ぐ作用がある。

【００３２】本発明の請求項２３記載の発明は、請求項
２２記載の光ディスク装置において未記録部検出手段は
振幅検出部の出力が所定の値以下の時に再生手段が未記
録部に位置することを検出するもので、未記録部検出部
を容易に構成できるという作用がある。

【００３３】本発明の請求項２４記載の発明は、光ディ
スク装置においてディスクに記録された情報を再生する
再生手段と、前記再生手段の出力を増幅する利得を可変
に設定できる増幅部と、前記増幅部の出力から振幅を検
出する振幅検出部と、前記振幅検出部の出力に応じて前
記増幅部の利得を設定して前記増幅部の出力を所定の振
幅にする利得設定部と、ディスク上の領域を識別するた
めのアドレスが記録されているアドレス部に前記再生手
段が位置していることを検出するアドレス部検出手段を
有し、前記再生手段がアドレス部に位置することを前記
アドレス部検出手段が検出した時は前記振幅検出部の出
力を停止するもので、アドレス部で振幅検出部の出力が
変動する影響を取り除くという作用が有る。

【００３４】本発明の請求項２５記載の発明は、請求項
２４記載の光ディスク装置において、トラッキング制御
が動作していない時はアドレス部検出手段の動作を停止
するもので、トラッキング制御動作していない時に前記
アドレス検出手段が誤動作する影響を防ぐ作用を有す
る。

【００３５】（実施の形態１）図１は、本発明の第一の
実施形態の光ディスク装置を示すブロック図である。図
１において、２はディスク１に照射した光ビームの反射
光を電気信号に変換して出力するピックアップ部、４は
ディスク１を回転させるためのスピンドルモータ、５は
ピックアップ部２を搭載しディスク１の半径方向に移動
可能な構造のトラバース、６はトラバース制御や検索制
御を司るトラバース制御部１９からのトラバース制御信
号を受けてトラバース５をディスク１の半径方向に駆動
するトラバースモータである。

【００３６】前記ピックアップ部２の出力信号はその減
衰率を多段階に切り替えることの出来るアッテネータ７
へ入力され、アッテネータ７はアッテネータ設定値制御
部１３からの設定値に応じて入力信号の減衰率を変化さ
せその後固定の増幅率で増幅して出力する。アッテネー
タ７から出力された信号は、エンベロープ検出回路３で
そのエンベロープを検出し出力される。エンベロープ検
出回路３の出力信号はＡ／Ｄ変換器８に入力される。Ａ
／Ｄ変換器８の出力は、一次遅れ要素で構成される低域
通過フィルタ９に入力される。

【００３７】低域通過フィルタ９の出力はスイッチ１１
を介して平均化処理部１０に入力されており、平均化処
理部１０への入力はスイッチ１１のコントロール端子へ
の入力によってＯＮ／ＯＦＦ切替可能なように構成され
ている。スイッチ１１のコントロール信号の詳細につい
ては後述する。

【００３８】平均化処理部１０は、アッテネータ設定値
制御部１３から平均処理を行う為の平均回数を示すデー
タを入力される。平均化処理部１０は、１４０μｓ毎に
入力値を加算し、加算した回数をカウントする。加算し
たカウント数がアッテネータ設定値制御部１３から設定
された平均回数となるまで加算を繰り返す。カウント数
が平均回数となった時に、加算した和を平均回数で除算
して得た値を平均値として出力する。平均化処理部１０
は、加算処理中にスイッチ１１がＯＦＦとなった時に直
前に加算した値を再び加算する処理をスイッチ１１がＯ
Ｎになるまで繰り返す。

【００３９】平均化処理部１０の出力はアッテネータ設
定値制御部１３に入力される。

【００４０】アッテネータ設定値制御部１３は、入力さ
れた値がアッテネータ設定値制御部１３内に設定されて
いる調整目標値になるようにアッテネータ７の設定を行
う。アッテネータ設定値制御部１３の詳細な動作につい
ては図２のフローチャートを用いて後述する。

【００４１】ピックアップ部２から出力信号は、ディス
クの傷やゴミの付着であるディフェクト上に光ビームが
位置したことを検出するディフェクト検出回路１４と光
ビームがトラックに追従している際に、走査中のトラッ
クから外れかかった事を検出するオフトラック検出回路
１５にも入力される。ディフェクト検出回路１４はピッ
クアップ部２の出力信号の振幅が一定値以下となったと
きに光ビームがディフェクト上にあるとして’Ｈ’レベ
ルを、それ以外の時には’Ｌ’レベルとなる２値の信号
を出力する。出力された信号は論理和回路Ａ及び論理積
回路Ｂを通ってスイッチ１１のコントロール端子へ入力
される。

【００４２】オフトラック検出回路１５は、ピックアッ
プ部２からの出力信号を用いて、ディスクのトラック上
に光ビームが位置している時に’Ｌ’の信号を出力し、
トラックを外れたときにＨの信号出力する回路である。
オフトラック検出回路１５の動作原理については後述す
る。出力された信号は論理和回路Ａ及び論理積回路Ｂを
通ってスイッチ１１のコントロール端子へ入力される。

【００４３】１６は、ピックアップ部２の出力信号が入
力され、ディスクに記録するまたは記録されているデー
タを識別するためのアドレスを記録してある領域を検出
するアドレス部検出回路で、光ビームがアドレスを記録
してある領域を通過している時に’Ｈ’となり、データ
が記録されている領域を通過している時に’Ｌ’を出力
する。アドレス部検出回路１６の動作についても後述す
る。出力された信号は論理和回路Ａ及び論理積回路Ｂを
通ってスイッチ１１のコントロール端子へ入力される。

【００４４】トラッキング制御部２０はディスク１上に
形成されているトラックに光ビームを追従させるための
トラッキングサーボを行う制御ブロックである。トラッ
キング制御の具体的構成および動作に関する説明は省略
するが、トラッキング制御部２０はトラッキングサーボ
が動作し光ビームがトラックに追従している時に’
Ｈ’、それ以外で’Ｌ’となる２値の信号を出力する。
トラッキング制御部２０の出力は論理積回路Ｂに入力さ
れる。また、アッテネータ設定値制御部１３にも入力さ
れる。

【００４５】論理和回路Ａは、ディフェクト検出回路１
４の出力信号とオフトラック検出回路１５の出力信号と
アドレス部検出回路１６の出力信号の論理和をとり、論
理回積路Ｂの一方の入力端子に出力する。論理積回路Ｂ
は、論理和回路Ａの出力信号とトラッキング制御部２０
の出力信号の論理積をとってスイッチ１１のコントロー
ル端子へ信号を出力する。

【００４６】スイッチ１１のコントロール端子は’Ｈ’
の入力を受けたときにそのスイッチをＯＦＦに切り替
え、’Ｌ’の入力を受けたときにそのスイッチをＯＮに
切り替える動作を行う。スイッチ１１の切り替え動作に
ついて、図１６に示す表を用いて説明する。スイッチ１
１はトラッキング制御部２０がトラッキング制御動作を
行っておらず、Ｌの信号を出力している際に常にＯＮと
なる。トラッキング制御部２０が動作して光ビームがト
ラックに追従している際は、ディフェクト検出回路１４
とオフトラック検出回路１５とアドレス部検出回路１６
のいずれかの信号が’Ｈ’となったときにスイッチ１１
がＯＦＦとなる。

【００４７】スピンドルモータ４は、回転あたり２４個
のパルスを生成するＦＧ回路１７が取り付けられてお
り、その出力はパルスの周期をカウントする周期カウン
タ１８へ入力される。周期カウンタ１８は内部で生成し
ているクロックを用いて入力パルスの１周期の時間をカ
ウントし、カウント値をアッテネータ設定値制御部１３
へ出力する。周期カウンタ１８の出力値を用いたアッテ
ネータ設定制御部１３の動作については図２を用いて後
述する。

【００４８】１２は、ピックアップ部２に搭載され光ビ
ームを照射する半導体レーザーの発光パワーを制御する
レーザー制御部である。レーザー制御部１２の構成要素
及び動作については省略するが、レーザーが発光してい
る時に’Ｈ’となり、レーザーが発光していないとき
に’Ｌ’となる２値の信号を出力する。レーザー制御部
１２の出力はアッテネータ設定値制御部１３へ入力され
る。レーザー制御部１２の出力信号を用いたアッテネー
タ設定値制御部１３の動作についても図２を用いて後述
する。

【００４９】トラバース制御部１９へはアッテネータ設
定値制御部１３からのトラバースの移動を指示する制御
信号とトラバース移動距離と移動方向の情報が入力され
る。トラバース制御部１９の具体的な構成及び動作につ
いての説明は省略するが、アッテネータ設定値制御部１
３から出力されるトラバース移動指示を受けた際に、ア
ッテネータ設定値制御部１３から設定された移動方向に
移動距離設定値に相当する距離だけトラバース５を駆動
して移動させる。

【００５０】次に図１における構成要素の各部の機能に
ついて詳細に説明する。

【００５１】アッテネータ７の構成を説明する。説明を
簡単にするため、まず２ｂｉｔで設定されて４段階に減
衰率を切り替える事が可能な構成のアッテネータを図３
を用いて説明する。図３において、アッテネータ値設定
部３１は外部から２ｂｉｔで設定値を入力され、設定値
に応じてアッテネータ部３２にある４個のスイッチＳＷ
１〜ＳＷ４のＯＮ／ＯＦＦ切り替え動作を行うコントロ
ール端子に’Ｈ’，’Ｌ’２値の信号を出力する。スイ
ッチＳＷ１〜ＳＷ４は’Ｈ’の入力を受けたときにＯＮ
となる。アッテネータ部３２は、内部に直列に抵抗Ｒ１
〜Ｒ４が接続されており、抵抗Ｒ１の片側はスイッチＳ
Ｗ１とアッテネータ部３２への入力端子に接続され、抵
抗Ｒ４の片側は接地されている。各抵抗間の接点はそれ
ぞれスイッチＳＷ２，ＳＷ３，ＳＷ４と接続されてお
り、各スイッチの他方の端子はアンプ３３の入力端子に
結合されている。アッテネータ部３２は、スイッチＳＷ
１〜ＳＷ４の切り替え動作に応じて外部から入力された
信号を分圧してアンプ３３へ出力する。抵抗Ｒ１〜Ｒ４
の抵抗値は等しく設定されている。アンプ３３は入力さ
れた信号を２倍の増幅率で増幅して出力する。図４を用
いて図３の構成要素の動作を説明する。アッテネータ値
設定部３１へ入力された設定値が０の場合はＳＷ４がＯ
Ｎとなりそれ以外のＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３はＯＦＦと
なる。このときアッテネータ部３２への入力信号はＲ４
／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４）＝１／４に分圧されて出
力され、アンプ３３によって２倍になるので結果として
１／２倍されて出力される。アッテネータ値設定部３１
へ入力された設定値が１の場合はＳＷ３がＯＮとなりそ
れ以外のＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ４はＯＦＦとなる。この
ときアッテネータ部３２への入力信号は抵抗Ｒ４＋Ｒ３
／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４）＝１／２に分圧されて出
力され、アンプ３３によって２倍になるので結果として
１倍されて出力される。アッテネータ値設定部３１へ入
力された設定値が２の場合はＳＷ２がＯＮとなりそれ以
外のＳＷ１，ＳＷ３，ＳＷ４はＯＦＦとなる。このとき
アッテネータ部３２への入力信号は抵抗Ｒ４＋Ｒ３＋Ｒ
２／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４）＝３／４に分圧されて
出力され、アンプ３３によって２倍になるので結果とし
て３／２倍されて出力される。アッテネータ値設定部３
１へ入力された設定値が３の場合はＳＷ１がＯＮとなり
それ以外のＳＷ２，ＳＷ３，ＳＷ４はＯＦＦとなる。こ
のときアッテネータ部３２への入力信号は分圧されずに
出力され、アンプ３３によって２倍されて出力される。
従って、アッテネータ７は４段階の設定で、入力信号を
１／２から２倍の範囲で増幅して出力する。

【００５２】実施例１記載のアッテネータ７は実際には
４ｂｉｔ設定可能な構成となっており、１６段階の増幅
率が設定可能である。図５にアッテネータ７の設定値と
増幅率の関係を示した。アッテネータ７の設定値が０の
時は１／４倍されて出力され、１５の時は４倍されて出
力される。

【００５３】次に、図６においてエンベロープ検出回路
３の構成を示す。図６の６１は増幅率が一定のアンプで
あり、入力された信号を１２．５倍に増幅して出力す
る。アンプ６１において増幅された信号はクランプ回路
６２に入力される。クランプ回路６２は、入力された信
号の振幅の下側を０ｍＶでクランプする。クランプ回路
６２の出力は検波回路６３に入力される。検波回路６３
は、下側をクランプされて入力された信号のピーク電圧
を検波して出力する。従って、エンベロープ検出回路３
は入力された信号のＡＣ振幅に相当する信号を出力す
る。実際にはクランプ回路６２はアナログ回路で構成さ
れている為、その出力には装置毎に異なる一定のオフセ
ットが存在し、クランプレベルが０ｍＶにならない。再
生信号の振幅を調整する際には、このオフセットの影響
を取り除く必要がある。具体的には図２を用いて説明す
るが、エンベロープ検出回路３へ信号の入力がない状態
で、エンベロープ検出回路３の出力信号を測定してお
き、以後エンベロープ検出回路３へ信号が入力された際
に、エンベロープ検出回路３の出力から測定したオフセ
ットを取り除く処理を行う。以後の説明では、クランプ
回路６２によって発生するオフセット量を３７０ｍＶと
する。

【００５４】Ａ／Ｄ変換器８は０Ｖから２．５Ｖの入力
信号を８ｂｉｔのデジタル値に変換して出力する。入力
が０Ｖの時に０を出力し、入力が２．５Ｖの時に２５５
を出力する。従って、約１０ｍＶの入力をデジタル値の
１に変換する。

【００５５】次に、オフトラック検出回路１５の動作原
理を簡単に説明する。

【００５６】ディスク１のトラックには凸形状のピット
でデータが記録されている。トラック上に光ビームが照
射されるとピットによって光の回折現象が発生し、ディ
スクで反射されピックアップ部２内部のディテクタで受
ける光量は小さくなる。従って、データが記録されてい
るトラック上に光ビームがある時にピックアップ部２の
出力は、光ビームがピットを通過している際に低いレベ
ルとなり、ピットがないところを通過している時では回
折が発生しないため高いレベルとなる。つまり、ピット
の有無による変調が発生する。しかし、光ビームが走査
しているトラックを外れてトラックとトラックの間のピ
ット列が存在しない位置にある時は、ピットの有無によ
る変調がないので、ピックアップ部２の出力信号はＤＣ
の高いレベルが出力される。図７−（ａ）は、ディスク
１をトラックに対して垂直方向に切った断面と光ビーム
が走査中のトラックを外れて、トラックを横断してる方
向を模式的に表した図である。光ビームは（ａ）に示さ
れる矢印の方向に一定の速度でトラックを横断したとす
る。（ｂ）は、その場合のピックアップ部２から出力さ
れる信号の波形を時間軸で示したものである。光ビーム
がトラック上に位置する際にピットの有無による変調が
ピックアップ部２から出力され、トラックとトラック間
に位置している際に高いレベルのＤＣ値がピックアップ
部２から出力される。また、図中に縦に記されている破
線は（ａ）〜（ｄ）図に対する時間の同期を示してい
る。オフトラック検出回路１５は、ピックアップ部２の
出力信号の振幅の下側のレベルを検波する。（ｃ）は、
（ｂ）のピックアップ部２の出力波形の下側のレベル
を、オフトラック検出回路１５内部で検波した様子を示
したものである。そして、オフトラック検出回路１５
は、検波した信号のピークの１／２のレベルより高い電
圧を’Ｈ’，低い電圧を’Ｌ’とする２値の信号に変換
して出力する。（ｄ）に、２値化したオフトラック検出
回路１５の出力信号の波形を示す。従って、オフトラッ
ク検出回路１５は、光ビームがトラック上に位置してい
る時に’Ｌ’となり光ビームがオフトラックしたとき
に’Ｈ’となる信号を出力する。

【００５７】次に、低域通過フィルタ９の動作について
説明する。エンベロープ検出回路３において、入力信号
１周期のピークレベルを検波した後に、続いて入力され
る１周期のピークレベルを検波するまで、エンベロープ
検出回路３の出力が検波回路６３固有の時定数で減少し
ていく。図８に示すのは、エンベロープ検出回路３の出
力が一定の時定数で減少する様子を示したものである。
図８−（ａ）はエンベロープ検出回路３への入力信号を
縦軸を電圧、横軸を時間軸で示したものであり、図中に
縦に記されている破線は（ａ）〜（ｃ）図に対する時間
の同期を示している。（ｂ）は、（ａ）図に示される信
号の下側のレベルを、クランプ回路６２によってクラン
プして出力した信号の波形を示し、（ｃ）は、（ｂ）図
に示される信号を検波回路６３に入力した際に、入力信
号のピークレベルを検波して出力した信号の波形を示し
ている。（ｃ）に示すように、検波回路６３において
（ｂ）に示す信号のピークレベルを時間ｔ１のタイミン
グで検波したのち、次に時間ｔ２のタイミングでピーク
を検波するまで検波回路６３の出力は一定の時定数で減
少する。この減少は、エンベロープ検出回路３の出力値
の変動の原因になる。低域通過フィルタ９は、上記原因
によって発生する変動成分を平滑化するのに用いる。こ
こで、この変動成分の周波数となる、検波回路６３にお
けるピークレベルの検波周波数について図９を用いて説
明する。図９−（ａ）は、光ビームがディスク回転にと
もないトラックにそってピット上を通過している様子を
模式的に表したものであり、（ｂ）は、図中に縦に記し
た破線で（ａ）図と同期を示すように、クランプ回路６
２から出力される信号の波形を横軸を時間として縦軸を
電圧で示したものである。（ａ）と（ｂ）に示すよう
に、スポット直径以上の長さを持つピットに光ビームが
照射された際にクランプ回路６２の出力はピークレベル
になる。従って、検波回路６３においてピークを検波し
た後、出力が一定の時定数で減少することによって生じ
る変動の周波数は、記録されているデータすなわちピッ
トの有無と、光ビームがトラックを走査する速度に依存
する。上記原因によって発生する変動成分を平滑化する
ためには、低域通過フィルタ９のカットオフ周波数を上
記変動の最低周波数以下にする。例えば、ＣＤのような
ディスクを再生する場合で説明する。ピット長１１Ｔ、
スペース長１１Ｔのフレーム同期信号が記録されている
部分を光ビームが通過している時にピットの有無による
変調周波数が最も低くなり、この周波数は標準速度でデ
ィスクが回転している場合で約２００ｋＨｚとなる。こ
こで、一次遅れ要素もつ低域通過フィルタ９において、
上記原因によって発生するエンベロープ検出回路３の出
力信号の変動を１／１０に抑圧するようにした場合、カ
ットオフ周波数が２０ｋＨｚ以下の特性をもつフィルタ
で構成すればよい。

【００５８】次に、周期カウンタ１８の構成を説明す
る。周期カウンタ１８は、ＦＧ回路１７の出力パルスを
入力し、その立ち上がりエッジから次に立ち上がりエッ
ジまでの間隔を、内部で生成しているクロックで計数す
るカウンタである。例えば、内部で生成しているクロッ
クの周波数を３．０ＭＨｚとし、ディスクは２１０ｒｐ
ｍで回転しているとする。ＦＧ回路１７はディスク１回
転につき２４個のパルスを出力するので、周期カウンタ
１８への入力信号の周波数は２１０÷６０×２４＝８４
Ｈｚとなる。このとき立ち上がりエッジから次の立ち上
がりエッジが入力するまでの時間は１／８４＝１１．９
ｍｓであり、従って、周期カウンタ１８の出力は１１．
９ｍｓ×３０００ｋＨｚ＝３５７００となる。

【００５９】次に図１０を用いてアドレス部検出回路１
６の構成を説明する。１０１はピックアップ部２から信
号が入力され、入力信号を一定のスライスレベルで２値
化するデータスライス回路である。データスライス回路
１０１の出力はアドレスを識別するアドレス読みとり回
路１０２に入力される。アドレス読みとり回路１０２
は、データスライス回路１０１の出力から、光ビームが
ディスクに記録されているデータを識別する為のアドレ
スを走査している事を判断し、アドレスを識別した時点
に’Ｈ’となり、光ビームがデータを走査している際
に’Ｌ’となる信号をアドレス部ゲート信号生成回路１
０３に出力する。アドレス部ゲート信号生成回路１０３
は内部にタイマーが内蔵されており、入力信号の立ち下
がりエッジから、内部で生成する基準クロックを用いて
カウントし、光ビームが次のアドレスが記録されている
領域に到達する時間に相当する期間経過したら’Ｈ’と
なり、その後アドレス読みとり回路１０２が’Ｌ’とな
るのに同期して’Ｌ’となる信号を出力する。次に、図
１１を用いてアドレス部検出回路１６の動作を説明す
る。図１１−（ａ）は、ディスク回転によって光ビーム
がトラックに沿って移動している様子を模式的に表した
ものである。トラックはセクタ単位で等分に分割されて
形成されており、セクタ先頭にそのセクタのデータを識
別するためのアドレスが記録されている（以下、この領
域をアドレス部と呼び、データを記録・再生される領域
をデータ部と呼ぶことにする）。光ビームが（ｂ）に示
す矢印の方向に一定の速度で移動している際に、アドレ
ス読みとり回路１０２の出力のタイミングチャートを
（ｂ）に、アドレス部ゲート信号生成回路１０３の出力
のタイミングチャート（ｃ）に示す。光ビームがアドレ
ス部に位置し、アドレス読みとり回路１０２にてアドレ
スが識別された時点で、（ｂ）に示すようにアドレス読
みとり回路１０２の出力信号が’Ｈ’となる。アドレス
読みとり回路１０２は、識別されたアドレスから光ビー
ムのトラック上の位置を判断し、光ビームがデータ部に
到達した時に’Ｌ’の信号を出力する。アドレス部ゲー
ト信号生成回路１０３は内蔵されたタイマーを用いて、
入力信号が’Ｌ’となった時点より所定時間経過した
後、’Ｈ’となる信号を出力する。アドレス部ゲート信
号生成回路１０３の出力はアドレス読みとり回路１０２
の出力が’Ｌ’となると同時に’Ｌ’となる。アドレス
部ゲート信号生成回路１０３のタイマーが計測する所定
時間は、所定時間経過後にちょうど光ビームが後続する
次のアドレス部の先頭に位置するように設定されてい
る。したがってアドレス部ゲート信号生成回路１０３の
出力は図１１―（ｃ）に示すように、光ビームがアドレ
ス部上に位置している期間’Ｈ’となる。

【００６０】続いて、これまで説明した各構成要素が連
携して動作することによって実現される機能について図
２を用いて説明する。アッテネータ設定値制御部１３は
演算器と複数のメモリと入出力装置を有するマイコン等
のプロセッサで構成されており、図２は、アッテネータ
設定値制御部１３の動作を示すフローチャートである。

【００６１】ここでは、異なる特性を持つ複数種類のデ
ィスクの再生信号の振幅を調整する際に発揮される各種
機能を説明する為に、データ部とアドレス部とで構成さ
れるセクタを有するディスクを再生する場合を想定し、
アッテネータ設定値制御部１３の機能を時系列で説明し
ていく。アッテネータ設定値制御部１３の機能は、レー
ザーが発光していない状態と、光ビームがデータの記録
されていない領域にある時と、トラッキングサーボが動
作しいない時と、トラッキングサーボが動作している時
とに分けられる。

【００６２】まず、はじめにレーザーが発光していない
時の動作について説明する。図２の処理に先だって、デ
ィスク１はスピンドルモータ４によって所定の速度で回
転され、半導体レーザーは発光しておらずレーザー制御
部１２は’Ｌ’の信号を出力しているとする。また、こ
のときトラッキングサーボは非動作であり、トラッキン
グ制御部２０は’Ｌ’の信号を出力し、論理積回路Ｂ
が’Ｌ’を出力するのでスイッチ１１が常にＯＮの状態
となっているとする。クランプ回路６２によって発生す
るオフセットは装置毎に異なるので、このまま再生信号
の振幅を調整するとこのオフセットにより誤差が生じて
しまう。従って、クランプ回路６２によって発生するオ
フセットを測定して、補正する処理を行う。この処理
は、レーザーが発光してない時にピックアップ部２の出
力する信号が０となるため、Ａ／Ｄ変換器８から出力さ
れる値がクランプ回路６２のオフセットを示すことを利
用して行う。以降では、実際には装置毎に異なるクラン
プ回路６２のオフセットを説明の簡略化のため前述した
ように３７０ｍＶとして説明をおこなう。

【００６３】まず、レーザー制御部１２が’Ｌ’の出力
をしているので、Ａ０処理部からＢ１処理部へ分岐す
る。エンベロープ検出回路３から出力されるオフセット
はＤＣであり、低域通過フィルタ９をそのまま通過して
出力される。低域通過フィルタ９の出力に変動はないの
で、Ｂ１処理部では平均化処理部１０の平均回数を１に
設定する。平均化処理部１０は低域通過フィルタ９から
値を入力し、そのまま出力する。エンベロープ検出回路
３から出力されるオフセットが３７０ｍＶで、Ａ／Ｄ変
換器８の入力が約１０ｍＶあたりに１ｂｉｔの値を出力
するので、１０進数とした場合３７が出力される。続く
Ｂ２処理部では入力値３７をオフセット格納用のメモリ
ＭＥＭ−ＯＦＳに格納して処理を終了する。以後フロー
チャート、およびその説明ではＭＥＭ−ＯＦＳに蓄積さ
れている値をＸ、数値をあげての具体説明では３７がＭ
ＥＭ−ＯＦＳに格納されているとして説明する。

【００６４】次に、光ビームがディスク上のデータが記
録されていない領域に位置する時の動作について説明す
る。以下の説明では、データが未記録のトラックからな
る領域に光ビームが位置する事を、未記録部にあると呼
ぶことにし、光ビームがデータが記録されているトラッ
クからなる領域に位置することを、記録部にあると呼ぶ
ことにする。

【００６５】ディスク１はスピンドルモータ４によって
所定の速度で回転され、半導体レーザーはレーザー制御
部１２により所定のパワーで発光し、光ビームは図示し
ないフォーカス制御手段によってディスク１上で所定の
集束状態になるように制御されているとする。またトラ
ッキング制御部２０によってトラッキングサーボ動作は
行われておらず、光ビームはディスクの未記録部にある
とする。このとき、レーザー制御部１２は’Ｈ’の信号
を出力し、トラッキング制御部２０は’Ｌ’の信号を出
力している。スイッチ１１は論理積回路Ｂが’Ｌ’を出
力するので常にＯＮの状態となっている。また、エンベ
ロープ検出回路３によって発生する回路オフセットを格
納するメモリＭＥＭ−ＯＦＳにはＸ＝３７が格納されて
いる。

【００６６】光ビームがディスクの未記録部にあるとき
は、ピットの有無による変調が存在しない。また、トラ
ッキングサーボ動作が行われていない為、データを記録
するために設けられている溝を光ビームが横断してお
り、溝と溝間でピックアップ部２の出力が変動する。し
かし、この変動量は、クランプ回路６２によってクラン
プされ、クランプ回路６２は略一定のＤＣ値を出力す
る。図１２−（ａ）に光ビームが溝を横断している際に
変動するピックアップ部２の出力波形を、（ｂ）に
（ａ）と同時に出力されるクランプ回路６２の出力波形
を示す。（ｂ）に示されるように、ピットの有無による
変調が存在しないときはクランプ回路６２の出力は略一
定のＤＣ値となる。従って、光ビームがディスクの未記
録部にある時に再生信号の振幅調整を行おうとした場
合、クランプ回路６２の出力が常にクランプレベルとな
るためアッテネータ７を最大に設定しても目標となる振
幅を持った信号出力を得ることが出来ない。このため、
光ビームがディスクの未記録部にある際は、以下に説明
する処理を行うことによって、ディスクの記録部まで光
ビームを移動させる。光ビームがディスクの未記録部に
あることを判断するには、クランプ回路６２の出力がク
ランプレベルとなることを利用して行う。

【００６７】以下この処理について図２を用いて説明す
る。

【００６８】まず、Ａ０処理部でレーザー制御部１２の
出力が’Ｈ’なのでＡ１処理部に分岐する。Ａ１処理部
ではアッテネータ７の初期設定行う。初期設定する設定
値は、後述するメモリＭＥＭ−ＡＴＥＮＤに格納されて
いる値を用いる。ここで、再生信号の振幅調整が１度も
実行されていない場合、ＭＥＭ−ＡＴＥＮＤには固定の
設定値としてアッテネータ７の増幅率が２倍となる設定
値が格納されているものとする。従って、アッテネータ
７に増幅率が２倍となる値を設定する。また、後述する
メモリＭＥＭ−ＣＮＴを０に設定する。そしてＡ２処理
部で平均化処理部１０に平均回数を設定する。光ビーム
がディスクの未記録部にある時はクランプ回路６２の出
力はＤＣなので変動しない。従って、光ビームが未記録
部にあるかどうかを判断するためには平均回数を多くと
る必要はない。しかし、ノイズ等の外乱の混入による誤
判断を避けるため、平均回数は１０回程度に設定してお
く。続くＡ３処理部では、平均化処理部１０の出力値か
らクランプ回路６２によって発生するオフセット分を取
り除く為、ＭＥＭ−ＯＦＳに格納されている値Ｘ＝３７
を減算する処理を行い結果Ｙを得る。光ビームがディス
クの未記録部にある時は、平均化処理部１０からはクラ
ンプ回路６２のオフセット分の３７が出力されるため、
Ｙは３７−３７＝０となる。Ａ４処理部で未記録部を検
出する為の閾値ｘたとえば２と値Ｙを比較する。値Ｙは
０なので閾値ｘ＝２より小さい為Ｃ１処理部へ移行す
る。Ｃ１処理部では、光ビームがディスクの未記録部に
あるかどうかを判断した回数をカウントする為のメモリ
ＭＥＭ−ＣＮＴに１を加算する。続くＣ２処理部では、
ＭＥＭ−ＣＮＴが特定の値ｙたとえば５以下かどうかを
判断して分岐する。Ｃ２処理部におけるｙの意味すると
ころについては後述する。ＭＥＭ−ＣＮＴが５以下の場
合としてＣ３処理部に移動する。Ｃ３処理部では外周方
向に特定の距離たとえば１ｃｍトラバース５を移動させ
るように、トラバース制御部１９に対して移動方向と移
動距離を示した値とトラバース移動指令信号を出力す
る。トラバース制御部１９はアッテネータ設定値制御部
１３からのトラバース移動指令信号を受けてトラバース
５を１ｃｍ外周方向へ移動させた後、再びＡ４処理を繰
り返す。Ｃ２処理部はトラバース５が最外周位置に移動
したかどうかを判断するためのものである。具体的に説
明すると、ＭＥＭ−ＣＮＴにトラバース５が１ｃｍずつ
移動した回数が示されており、値ｙにはトラバース５の
移動動作可能な回数の上限値が示されている。直径１２
ｃｍの光ディスクでは、最内周位置から最外周位置まで
トラバース５が移動可能な距離は約５ｃｍである。

【００６９】Ｃ１処理部でＭＥＭ−ＣＮＴが５になった
ときトラバース５が５ｃｍ移動したときなので、トラバ
ース５は最外周位置に移動したことを意味する。最内周
から最外周までトラバース５を移動させた際に、値Ｙが
ｘ以上にならない場合、トラバース５は光ビームをディ
スクの記録部に移動させることに失敗したことを意味す
るので、処理を異常として終了する。トラバース５がデ
ィスクの記録部に移動した際は、アッテネータ７の増幅
率が２倍となるように設定されているので、ピックアッ
プ部２の出力振幅が５ｍＶだとしても１０ｍＶまで増幅
され、アンプ６１において１２．５倍されて１２５ｍＶ
がＡ／Ｄ変換器８に入力される。前述したようにエンベ
ロープ検出回路３にはオフセットが存在するので１２５
ｍＶ＋３７０ｍＶ＝４９５ｍＶがＡ／Ｄ変換器８に入力
される事により、平均化処理部１０の出力は４９とな
る。従って値Ｙは４９−３７＝１２となり、閾値ｘが２
の時、Ａ４処理部において値Ｙがｘ以上と判断されるの
でＡ５処理部へ移行する。続くＡ５処理部以降の処理
は、アッテネータ７の設定値を操作して再生信号の振幅
を調整する処理である。

【００７０】前述した処理が行われた事により光ビーム
がディスクの記録部に移動した。以降の処理は光ビーム
がディスクの記録部に位置しトラッキングサーボ動作が
おこなわれていない時の処理と全く同一であるので、ト
ラッキングサーボ動作がおこなわれていない場合を想定
してＡ５処理部以降の処理を説明する。図１の各構成要
素は、光ビームがディスクの未記録部にある場合と同様
に動作している。

【００７１】一般に、フォーカスサーボの安定を図る目
的で、ディスクからの再生信号の振幅が最大になるよう
にフォーカス制御目標位置を変更する、フォーカス位置
調整機能が搭載されている光ディスク装置がある。フォ
ーカス位置調整機能において再生信号の振幅を判断する
には、エンベロープ検出回路３の出力を用いる。ここ
で、ピックアップ部２から出力される再生信号の振幅は
ディスク種別によって異なり、従って再生信号の振幅の
最大値も異なる。ここで、複数種類のディスクを同一の
光ディスク装置において再生可能に構成されている装置
においてフォーカス位置調整を実施する為には、フォー
カス位置調整機能においてエンベロープ検出回路３の出
力信号を入力する回路の入力可能範囲を大きくする必要
が生じる。しかし、入力値を取り扱う回路の分解能は制
限があるため、結果として入力値の精度が低下し、フォ
ーカス位置調整の調整精度が低くなる。この問題を回避
しフォーカス位置調整の調整精度を高くするには、前記
回路の入力可能範囲を小さくする必要があり、そのた
め、フォーカス位置調整を行う以前に再生信号の振幅調
整を行いディスク種別に影響無く再生信号の振幅を略略
同一にする。ここで、フォーカス位置が調整されていな
いとトラッキング制御に用いるトラッキングエラー信号
が正しく出力されないことがあり、従ってトラッキング
サーボ動作ができない可能性がある。そのためフォーカ
ス位置調整はトラッキングサーボ動作を行う前に実施す
るほうがよい。従って、再生信号の振幅調整もトラッキ
ングサーボが動作する以前に行う。

【００７２】まず、Ａ５処理部において、トラッキング
制御部２０から出力される信号の’Ｈ’，’Ｌ’２値の
極性により分岐する。トラッキングサーボ動作が行われ
ていない場合、トラッキング制御部２０は’Ｌ’の信号
を出力しており、Ｄ１処理部へ移行する。低域通過フィ
ルタ９は前述したように検波回路６３において生じる変
動成分を平滑可して平均化処理部１０へ出力している。
光ビームがトラックを横断している際に、トラックとト
ラックの間に光ビームが位置する時はピットの有無によ
る変調がないのでエンベロープ検出回路３の出力は、ク
ランプ回路６２によって発生する回路オフセットレベル
になる。これは、光ビームがトラックを１本横断する際
にエンベロープ検出回路３の出力がピークレベルから回
路オフセットのレベルまで変動する事を意味する。平均
化処理部１０はこの変動量を平均して出力する。平均化
処理部１０は、光ビームがトラックを１本横断するのに
要する最大時間以上平均処理を行う必要がある。光ビー
ムがトラックを１本横断するのに要する最大時間はディ
スクの回転速度と偏心量によって異なるが、ディスク１
回転に要する時間以内に収まる。従って、ディスク１回
転に要する時間以上平均処理を動作させる。また、光ビ
ームがトラックを横断することによりエンベロープ検出
回路３の出力がピークレベルからオフセットレベルまで
変動する周期に同期して平均処理を終了しないと、エン
ベロープ検出回路３の出力がピークレベルからオフセッ
トレベルまで変化する周期の最大半周期分に相当する誤
差が平均化処理部１０の出力結果に発生する。この誤差
の影響を低減するためにディスク１回転ではなく、数回
転する時間、例えば３回転する時間平均処理を行う。具
体的に説明する。ディスクの回転速度は４３２０ｒｐｍ
としたときＦＧ回路１７の出力パルスの一周期は５．７
８μｓとなるので周期カウンタ１８は１７をアッテネー
タ設定値制御部１３に出力する。Ｄ２処理部においてア
ッテネータ設定値制御部１３は、周期カウンタ１８の出
力値が１７であることから逆にディスクの回転速度が４
３２０ｒｐｍであることを求め、１回転に要する時間が
１３．８ｍｓであるので、３回転に要する時間４１．４
ｍｓだけ平均化処理部１０が動作するように平均回数を
４１４００μｓ÷１４０μｓ＝２９５回に設定する。

【００７３】次に、アッテネータ設定値制御部１３にお
いて、アッテネータ７の設定値を決定する手順について
説明する。まず、Ｄ２処理部では、アッテネータ７の設
定可能な範囲の上限を限定する値を格納するメモリＭＥ
Ｍ−ＡＴＬＭＴＵに、アッテネータ７の最大設定限界で
ある、増幅率が４倍となる設定値を、下限を限定する値
を格納するメモリＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＬに、アッテネー
タ７の最小設定限界である、増幅率が１／４倍となる設
定値を設定する。次に、Ｄ３処理部でアッテネータ設定
値制御部１３で用いる調整目標値をメモリＭＥＭ−ＲＦ
ＲＥＦに設定する。具体的にアッテネータ設定値制御部
における調整目標値について説明する。目標とする再生
信号の振幅を１００ｍＶとして説明する。ここで、１０
０ｍＶの入力はアンプ６１において１２．５倍されるた
めエンベロープ検出回路３の出力は１００×１２．５＝
１２５０となるため、Ａ／Ｄ変換器８の出力は１２５と
なる。従って、平均化処理部１０の出力値として目標と
する値は１２５となる。ところで、ディスクの回転速度
が速くなるにつれて光ビームがピット列を通過する速度
は速くなり、結果としてエンベロープ検出回路３に入力
される信号の変調周波数も高くなるが、エンベロープ検
出回路３の動作帯域は有限であり、入力信号が動作限界
に近い周波数の場合は検波回路６３において正しくピー
クレベルが検波できない時があり、このとき検波回路６
３の出力が低くなる。検波回路６３の出力が１０％低く
なるとした時、平均化処理部１０の出力値も１０％低く
なる。従って、周期カウンタ１８の出力値からディスク
の回転速度を判断し、エンベロープ検出回路３の動作帯
域を越えるディスクの回転速度の場合、検波回路６３に
おける出力低下に応じて調整目標値を小さく設定する。
具体的に説明する。ＣＤと同じ変調度のディスクの場
合、検波回路６３におけるピークの検波周波数が最も高
いのは、光ビームがピット長４Ｔ及びスペース長３Ｔを
通過している場合と考えられ、４３２０ｒｐｍの時４．
９３９ＭＨｚになる。このとき、検波回路６３の動作周
波数を越えており出力が１０％低下するとする。ここ
で、同様に５４００ｒｐｍの時は６．１７０ＭＨｚとな
り１５％低下するとし、５９４０ｒｐｍの時は２０％低
下するとする。アッテネータ設定値制御部１３は、この
ようにディスクの回転速度に応じて検波回路６３におい
て出力が低下する割合を換算する情報を保有している。
前述したようにアッテネータ設定値制御部１３は、周期
カウンタ１８の出力が１７であることからディスクの回
転速度が４３２０ｒｐｍであることを求め、検波回路６
３の出力低下率を換算する情報から、検波回路６３の出
力が１０％低下することを求める。そして調整目標値１
２５を１０％低くした値１１２を調整目標値とする。ま
た、トラッキング制御が動作していないときは前述した
ように、トラックとトラックの間のピットが存在しない
領域を光ビームが通過している時に、エンベロープ検出
回路３の出力がクランプレベルになるため、平均化処理
部１０において平均して出力された値は、検波回路６３
におけるピークレベルに対して減少する。アッテネータ
７の設定によってクランプ回路６２のピークレベルが変
化するため、平均化処理部１０の出力の減少量もアッテ
ネータ７の設定に応じて変化する。しかし、アッテネー
タ７の出力を平均すると、この減少量は一律にピークレ
ベルからクランプレベルを減じた値の１／２になる。具
体的に示すと、アッテネータ７の出力が１００ｍＶの場
合、クランプ回路６２のオフセットを前述した処理で取
り除いて考えるとピークレベルが１００ｍＶでクランプ
レベルが０ｍＶに相当するので、平均すると１／２の５
０ｍＶになる。従って、調整目標値は１／２にすればよ
い。１２５の１／２をさらに前述の目標値１１２から減
じて、６２にする。この値をＤ３処理部ではメモリＭＥ
Ｍ−ＲＦＲＥＦに設定する。続いてＡ９処理部へ移行す
る。

【００７４】Ａ９処理部以降の動作については、後述す
るトラッキングサーボ動作が行われているときの説明に
おいて具体的な数値を用いて行う事にする。ここでは図
２に示すフローチャートに示す動作の概略を簡単に説明
する。

【００７５】Ａ９処理部では、アッテネータ７の設定範
囲の下限を示すＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＬに格納されている
値をアッテネータ７に設定する。続くＡ１０処理部で
は、ＭＥＭ−ＯＦＳに格納されているクランプ回路６２
における回路オフセットに相当する値Ｘ＝３７を平均化
処理部１０の出力値から減算する処理を行い結果をＹ’
とする。続くＡ１１処理部では値Ｙ’と、調整目標値を
示すＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されている値の大小比較
をする。入力データがＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されて
いる値を超えない場合、現在設定されているアッテネー
タ７の設定値では目標とする再生信号の振幅が得られて
いないとして、Ａ１２処理部で、ＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに
格納されている調整目標値と現在の再生信号の振幅を表
すＹ’の値との差分値をメモリＭＥＭ−Ｗ１に格納し、
Ａ１３処理部において現在のアッテネータ７の設定値か
ら１段階上にアッテネータ７を設定し増幅率を上げる。
続くＡ１４処理部で現在のアッテネータ７の設定値がア
ッテネータ７の設定の上限値を示すＭＥＭ−ＡＴＬＭＴ
Ｕに格納されている値未満と判断された場合、アッテネ
ータ７の設定値をさらに増加することが可能なので、Ａ
１０処理部に戻り、再びＡ１０処理部以降の処理を繰り
返す。Ａ１４処理部において、アッテネータ７の設定値
が上限を示すＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＵに格納されている値
と等しくなったとき、これ以上アッテネータ７を設定で
きないので処理を終了する。Ａ１１処理部で現在の再生
信号の振幅を表す値Ｙ’がＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納さ
れている調整目標値を超えたときは、Ａ１５処理部で現
在の振幅を表す値Ｙ’とＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納され
ている調整目標値との差分値をメモリＭＥＭ−Ｗ２に格
納し、Ａ１６処理部において前回のアッテネータ７の設
定におけるＹ’の値とＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されて
いる調整目標値との差分値ＭＥＭ−Ｗ１と今回のアッテ
ネータ７の設定における差分値ＭＥＭ−Ｗ２の値を比較
する。ＭＥＭ−Ｗ１に格納されている値がＭＥＭ−Ｗ２
に格納されている値より大きいときは今回のアッテネー
タ設定値がＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されている調整目
標値に近いので目標とする再生信号の振幅に対して最も
最適に調整されたと考えられるので、現在の設定値を、
アッテネータ７の最終設定値を格納するメモリＭＥＭ−
ＡＴＥＮＤに格納して処理を終了する。ＭＥＭ−Ｗ２に
格納されている値のほうが大きいときは前回設定したア
ッテネータ７の設定値がＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納され
ている調整目標値に近いので前回のアッテネータ７の設
定値の時が目標とする再生信号の振幅付近になると考え
られるので、Ａ１７処理部でアッテネータ７の設定値を
現在の設定値から１段階下の増幅率に減らすように設定
し直した後、設定値をＭＥＭ−ＡＴＥＮＤに格納して処
理を終了する。以上の動作により、目標とする再生信号
の振幅に調整することができる。

【００７６】ここで、ピックアップ部２の出力を５２ｍ
Ｖとした場合で具体的に計算すると、アッテネータ７の
設定を２倍の増幅率を持つようにした時には、前述した
検波回路６３の出力低下が１０％と平均化処理部１０に
おいて平均する値が１／２になる事を加味しアンプ６１
が１２．５倍の増幅率をもつので、５２×２×０．９×
１／２×１２．５＝５８５ｍＶとなり、従って、値Ｙ’
は５８となる。また、アッテネータ７の設定をもう１段
階上の９／４倍の増幅率を持つようにした場合は同様に
５２×９／４×０．９×１／２×１２．５＝６５８ｍＶ
となり、従って、値Ｙ’は６５となる。調整目標値ＭＥ
Ｍ−ＲＦＲＥＦは前述したように６２なので、調整目標
値と値Ｙ’の差分値はアッテネータ７が９／４倍の増幅
率を持つように設定した場合の方が少なく、結果として
アッテネータ７の設定値は９／４倍の増幅率を持つよう
に設定される。

【００７７】次に、トラッキングサーボが動作している
ときの機能について説明する。トラッキングサーボが動
作していないときに行った再生信号の振幅調整は、調整
誤差を生じやすいという問題がある。理由としては、前
述したように光ビームがトラックを横断する際にエンベ
ロープ検出回路３の出力がクランプ回路６２のピークレ
ベルからオフセットレベルまで変動するので、平均化処
理部１０の出力値が１／２になり調整精度が悪くなるこ
とが上げられる。また、平均化処理部１０の出力は完全
には１／２とならない為、調整誤差を生じる。従って、
トラッキングサーボが動作している時に、再度、再生信
号の振幅を調整する方が望ましい。しかし、装置の起動
時間を短くするために、１度再生信号の振幅は調整され
ていることを前提として処理の実行時間を短縮して行
う。以下具体的に動作を説明する。ここでは、トラッキ
ングサーボが動作してないときに調整された再生信号の
振幅は５２×９／４＝１１７ｍＶであり、このときのア
ッテネータ７が９／４倍の増幅率を持つように設定され
ていたとする。

【００７８】まず、トラッキングサーボが動作している
ときの図１の各構成要素の動作状態を説明する。

【００７９】ディスク１の回転速度はトラッキングサー
ボが動作していない時の４３２０ｒｐｍから変化して、
２０００ｒｐｍでスピンドルモータ４によって回転され
ているとする。半導体レーザーはレーザー制御部１２に
より所定パワーで発光し、フォーカス制御手段によって
ディスク１上で所定の集束状態になるように制御されて
いる。このとき、レーザー制御部１２は’Ｈ’の信号を
出力している。またトラッキング制御部２０によってト
ラッキングサーボ動作が行われており、光ビームはディ
スクの記録部に位置するトラックに追従しているものと
し、トラッキング制御部２０は’Ｈ’の信号を出力して
いる。また、ディフェクト検出回路１４及びオフトラッ
ク検出回路１５及びアドレス部検出回路１６は’Ｌ’を
出力し、論理積回路Ｂが’Ｌ’となりスイッチ１１がＯ
Ｎの状態であるとする。ディフェクト検出回路１４及び
オフトラック検出回路１５及びアドレス部検出回路１６
が’Ｈ’を出力する場合の動作は後述する。また、ディ
スク１回転に要する時間が３０ｍｓなのでＦＧ回路１７
の出力パルス１周期は１．２５ｍｓとなり、周期カウン
タ１８より３７５３の値がアッテネータ設定値制御部１
３に入力されている。また、エンベロープ検出回路３に
よって発生する回路オフセットを格納するメモリＭＥＭ
−ＯＦＳにはＸ＝３７が格納されており、アッテネータ
７の設定値を格納するメモリＭＥＭ−ＡＴＥＮＤにはト
ラッキングサーボが動作していないときの処理で最終的
に設定された９／４倍の増幅率に相当する設定値が格納
されているとする。

【００８０】まず、レーザー制御部１２の出力がＨなの
でＡ０処理部からＡ１処理部に分岐する。Ａ１処理部で
はアッテネータ７の初期設定行う。初期設定する設定値
は、ＭＥＭ−ＡＴＥＮＤに設定されている値９／４倍の
設定値を設定する。また、メモリＭＥＭ−ＣＮＴを０に
設定する。続くＡ２処理部では、前述したように平均化
処理部１０にノイズ等の外乱の混入を考慮して平均回数
として１０回を設定する。Ａ３処理部では、平均化処理
部１０の出力値からＭＥＭ−ＯＦＳに格納されている値
Ｘ＝３７を減算する処理を行い結果をＹとする。そして
Ａ４処理部で光ビームが未記録部にあることを検出する
為の閾値ｘ＝２と値Ｙを比較する。このときアッテネー
タ７から１１７ｍＶが出力されており、値Ｙは１４６と
なるのでＡ５処理部へ移行する。トラッキング制御部２
０は’Ｈ’の信号を出力しているのでＡ６処理部へ移
る。Ａ６処理部では平均化処理部１０に平均回数を設定
する。トラッキングサーボが動作しているときは前述し
たような、光ビームがトラックを横断することによって
発生するエンベロープ検出回路３の出力変動はない。し
かし、ディスクの成膜は均一ではなく、光ビームがディ
スク１回転に相当する時間トラックを走査している際
に、エンベロープ検出回路３の出力信号は変動する場合
がある。従ってディスクが１回転する時間３０ｍｓの間
Ａ／Ｄ変換器８の出力を平均するように、アッテネータ
設定値制御部１３は平均化処理部１０へ平均回数３００
００÷１４０＝２１４回を設定する。ここで、トラッキ
ングサーボが動作している時は以前に再生信号の振幅が
調整されており、再生信号の振幅は目標とする振幅値の
近傍にあるといえる。アッテネータ７は現在設定されて
いる設定値から２〜３段階変化させるだけで調整が可能
であることが想定される。具体的には、９／４倍の増幅
率に相当する設定値に設定されている場合は７／４倍か
ら１１／４倍の増幅率に相当する設定値の中のいずれか
の設定となる。Ａ７処理部では処理時間を短縮させるた
め、アッテネータ７の設定可能な範囲の上限を限定する
値を格納するメモリＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＵに１１／４倍
の増幅率に相当する値を、下限を限定する値を格納する
メモリＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＬに７／４倍の増幅率に相当
する値を設定する。この処理により、続くＡ８処理部以
降の処理で不要なアッテネータ７の設定を行う事によっ
て要する時間をなくす。Ａ８処理部ではＤ３処理部と同
様に調整目標値をＭＥＭ−ＲＦＲＥＦへ設定する。ここ
で、前述したように目標とする再生信号の振幅はアッテ
ネータ７の出力で１００ｍＶとなるように調整すること
にする。アッテネータ７の出力が１００ｍＶの時、Ａ／
Ｄ変換器８の出力は１２５である。ここで、ディスク回
転速度が２０００ｒｐｍのとき、検波回路６３における
ピーク検波周波数の最大周波数は２．２８４ＭＨｚとな
り、検波回路６３の動作周波数限界を越えていないもの
とする。アッテネータ設定値制御部１３は周期カウンタ
１８の値３７５３からディスクの回転数を２０００ｒｐ
ｍと求め、内部に保有する、検波回路６３における出力
低下の割合を換算する情報から調整目標値を下げる必要
ないと判断する。従って、ＭＥＭ−ＲＦＲＥＦには１２
５を設定する。続いてＡ９処理部では、アッテネータ７
の設定範囲の下限を示すＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＬに格納さ
れている７／４倍の増幅率に相当する値をアッテネータ
７に設定する。ここで、ピックアップ部２の出力が５２
ｍＶで、エンベロープ検出回路３において発生する回路
オフセットは３７０ｍＶである。ピックアップ部２の出
力はアッテネータ７で７／４倍されて９１ｍＶとなる。
従ってエンベロープ検出回路３の出力は、アンプ６１で
１２．５倍されて、さらに回路オフセットを加えて１５
０７ｍＶとなる。

【００８１】このとき、平均化処理部１０の出力は１５
０となる。続くＡ１０処理部では、平均化処理部１０の
出力値１５０からＭＥＭ−ＯＦＳに格納されている値Ｘ
＝３７を減算する処理を行い結果をＹ’＝１１３とす
る。Ａ１１処理部ではＹ’の値と、調整目標値を示すＭ
ＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されている値の大小比較をす
る。Ｙ’＝１１３はＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されてい
る１２５以下なのでＡ１２処理部に移行する。Ａ１２処
理部で、ＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納された値とＹ’の値
との差分値である１２をメモリＭＥＭ−Ｗ１に格納し、
Ａ１３処理部において現在のアッテネータ７の７／４倍
の増幅率に相当する設定値から１段階上の２倍の増幅率
に相当する設定値にアッテネータ７を設定する。続いて
Ａ１４処理部に移り、現在の２倍の増幅率に相当するア
ッテネータ７の設定値とＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＵに格納さ
れている値を比較する。ＭＥＭ−ＡＴＬＭＴＵには１１
／４倍の増幅率に相当する値が格納されている為、現在
のアッテネータ７の設定値の方が小さいとしてＡ１０処
理部へ移行する。このとき平均化処理部１０の出力値は
１６７であり、Ａ１０処理部でＹ’＝１６７−３７＝１
３０となる。続くＡ１１処理部においてＹ’の値がＭＥ
Ｍ−ＲＦＲＥＦに格納されている値より大きいのでＡ１
５処理部でＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されている値と
Ｙ’の値の差分値である５をメモリＭＥＭ−Ｗ２に格納
する。続いてＡ１６処理部においてＭＥＭ−Ｗ１とＭＥ
Ｍ−Ｗ２に格納されている値を比較する。ＭＥＭ−Ｗ１
には１２が格納されており、ＭＥＭ−Ｗ２には５が格納
されているので今回のアッテネータ設定値が調整目標値
であるＭＥＭ−ＲＦＲＥＦに格納されている値に近いと
判断して、現在の２倍の増幅率に相当する設定値をメモ
リＭＥＭ−ＡＴＥＮＤに格納して処理を終了する。従っ
て、アッテネータ７は２倍の増幅率に相当する設定値が
選択され、出力信号の振幅は目標とする振幅近傍の１０
４ｍＶとなる。

【００８２】次に光ビームがディフェクトを通過した際
の動作を説明する。ディフェクトはディスク表面に付着
した汚れやキズの事で、光ビームがディフェクト上を通
過するとピットの有無による変調振幅が小さくなり、結
果としてピックアップ部２の出力信号の振幅は減少す
る。従って、検波回路６３においてピークレベルが低下
するのでエンベロープ検出回路３出力が変動する。この
変動の為、ディフェクトを通過している時に平均化処理
部１０を動作させると平均化処理部１０の出力値に誤差
が生じてしまう。トラッキング制御部２０がトラッキン
グサーボ動作を行っている際は、ディフェクト検出回路
１４が光ビームがディフェクト上を通過している事を検
出した際に’Ｈ’の信号を出力し、結果としてスイッチ
１１がＯＦＦとなる。平均化処理部１０は、ディフェク
ト検出回路１４が’Ｌ’の信号を出力しスイッチ１１が
ＯＮとなるまで、スイッチ１１がＯＦＦとなる直前に入
力した値を加算する処理を続ける。これにより光ビーム
がディフェクトを通過した際に発生するエンベロープ検
出回路３の出力信号の変動が平均化処理部１０の出力値
に影響するのを防ぐ事ができる。図１３を用いてその動
作を簡単に説明する。図１３−（ａ）はＡ／Ｄ変換器８
の出力値を横軸を時間として示したものである。（ｂ）
は破線に同期を示すように横軸を時間として（ａ）に示
される値が入力されたときの平均化処理部１０の出力値
を示し、（ｃ）は横軸を時間としたときのディフェクト
検出回路１４の出力を示している。（ｃ）と（ａ）に示
されるようにディフェクトが検出されている間はエンベ
ロープ検出回路３が上記理由により変動するため、Ａ／
Ｄ変換器８の出力が変動する。しかし、スイッチ１１が
ＯＦＦとなるので平均化処理部１０においてはディフェ
クトを検出する以前の入力値を加算平均するため、
（ｂ）に示すように出力にディフェクトの影響がない。
トラッキングサーボ動作していないときは、光ビームが
トラックを横断するために、ピックアップ部２の出力信
号の振幅が低下しディフェクト検出回路１４は’Ｈ’を
出力してしまう。従って、平均化処理部１０の入力が不
正規に停止される事をさけるため、トラッキング制御部
２０が’Ｌ’の信号を出力している間スイッチ１１は常
にＯＮの状態となる。

【００８３】次に光ビームがオフトラックした際の動作
について説明する。オフトラックとは光ビームが走査中
のトラックから外れてピット列の存在しない位置にある
事を意味する。光ビームがオフトラックするとピックア
ップ部２においてピットの有無による変調がなくなり、
結果としてピックアップ部２の出力信号の振幅は減少す
る。これはエンベロープ検出回路３出力の変動の要因と
なる。トラッキング制御部２０がトラッキングサーボの
動作を行っている際は、オフトラック検出回路１５が光
ビームがオフトラックしている事を検出した際に’Ｈ’
の信号を出力し、結果としてスイッチ１１がＯＦＦとな
る。平均化処理部１０は、オフトラック検出回路１５
が’Ｌ’の信号を出力しスイッチ１１がＯＮとなるま
で、スイッチ１１がＯＦＦとなる直前に入力した値を加
算する処理を続ける。これにより光ビームがオフトラッ
クした際に発生するエンベロープ検出回路３の出力信号
の変動が平均化処理部１０の出力値に影響するのを防ぐ
事ができる。図１４を用いてその動作を簡単に説明す
る。図１４−（ａ）はＡ／Ｄ変換器８の出力値を横軸を
時間として示したものである。（ｂ）は破線に同期を示
すように横軸を時間として（ａ）に示される値が入力さ
れたときの平均化処理部１０の出力値を示し、（ｃ）は
横軸を時間としたときのオフトラック検出回路１５の出
力を示している。（ｃ）と（ａ）に示されるようにオフ
トラックが検出されている間はエンベロープ検出回路３
が上記理由により変動するため、Ａ／Ｄ変換器８の出力
が変動する。しかし、スイッチ１１がＯＦＦとなるので
平均化処理部１０においてはオフトラックを検出する以
前の入力値を加算平均するため、（ｂ）に示すように出
力にオフトラックの影響がない。トラッキングサーボ動
作していないときは、光ビームがトラックを横断する度
にオフトラック検出回路１５の出力信号が’Ｈ’、’
Ｌ’変化する。従って、平均化処理部１０の入力が不正
規に停止される事をさけるため、トラッキング制御部２
０が’Ｌ’の信号を出力している間スイッチ１１は常に
ＯＮとなる。

【００８４】次に、光ビームがアドレス部を通過した際
の動作について説明する。ＤＶＤ−ＲＡＭディスクと同
様な構造のアドレス部を保有しているディスクにおい
て、アドレス部はピットで形成され、データ部はレーザ
ーの照射パワーの変化によってデータを記録する構造と
なっている。従って、アドレス部とデータ部ではピック
アップ部２において出力される変調信号の振幅が異な
る。データ部における振幅を目標とする振幅に調整する
ことが目的であり、アドレス部における振幅の変化はエ
ンベロープ検出回路３出力の変動の要因となる。従っ
て、トラッキング制御部２０がトラッキングサーボの動
作を行っている時は、アドレス部検出回路１６が光ビー
ムがアドレス部を通過している事を検出した際に’Ｈ’
の信号を出力し、結果としてスイッチ１１がＯＦＦとな
る。平均化処理部１０は、アドレス部検出回路１６がＬ
の信号を出力しスイッチ１１がＯＮとなるまで、スイッ
チ１１がＯＦＦとなる直前に入力した値を加算する処理
を続ける。これにより光ビームがアドレス部を通過した
際に発生するエンベロープ検出回路３の出力信号の変動
が平均化処理部１０の出力値に影響する事を防止でき
る。図１５を用いてその動作を簡単に説明する。図１５
−（ａ）はＡ／Ｄ変換器８の出力値を横軸を時間として
しめしたものである。（ｂ）は破線に同期を示すように
横軸を時間として（ａ）に示される値が入力されたとき
の平均化処理部１０の出力値を示し、（ｃ）は横軸を時
間としたときのアドレス部検出回路１６の出力を示して
いる。（ｃ）と（ａ）に示されるようにアドレス部が検
出されている間はエンベロープ検出回路３が上記理由に
より変動するため、Ａ／Ｄ変換器８の出力が変動する。
しかし、スイッチ１１がＯＦＦとなるので平均化処理部
１０においてはアドレス部を検出する以前の入力値を加
算平均するため、（ｂ）に示すように出力にアドレス部
の影響がない。トラッキングサーボ動作していないとき
は、光ビームがトラックを横断するために、アドレス部
ゲート信号生成回路１０３内部のタイマーにおいて、光
ビームがアドレス部を一度通過した後に次にアドレス部
に到達するまでの時間を正確に求める事が出来ず、結果
としてアドレス部検出回路１６の出力信号が正しいもの
とならない可能性がある。従って、平均化処理部１０の
入力が不正規に停止される事をさけるため、トラッキン
グ制御部２０が’Ｌ’を出力しているときはアドレス部
検出回路１６の動作状態とは無関係にスイッチ１１がＯ
Ｎの状態になる。

【００８５】以上により、アッテネータ設定値制御部１
３の機能が動作することで、装置の動作状態に影響な
く、再生信号の振幅が目標となる振幅に調整が可能であ
る。

【００８６】（実施の形態２）図１７は、本発明の第二
の実施形態の光ディスク装置を示すブロック図である。
図１７の説明では、図１に示す実施の形態１と同一の構
成要素には同一の番号を付してその説明を省略する。

【００８７】図１７において、スイッチ１１の出力は遮
断特性が可変に設定可能な低域通過フィルタ１７１に入
力される。低域通過フィルタ１７１はアッテネータ設定
値制御部１３より遮断特性を示す定数を設定される。低
域通過フィルタ１７１は設定された定数に応じて遮断特
性を変更することで、図１における低域通過フィルタ９
の機能と平均化処理部１０の機能を代替え機能し、アッ
テネータ設定値制御部１３へ出力する。具体的に説明す
ると、低域通過フィルタ１７１のカットオフ周波数を２
０ｋＨｚ以下に設定する事で、図１における低域通過フ
ィルタ９と同様な機能を果たし、かつ周期カウンタ１８
の出力値及びトラッキング制御部２０の動作状態に応じ
てさらに低いカットオフ周波数を設定することで平均化
処理部１０と同様な機能を果たす。

【００８８】低域通過フィルタ１７１の具体的な動作に
ついて図１８を用いて説明する。図１８の説明において
も図２と同様の処理においては図２と同一な番号を付し
てその説明を省略する。

【００８９】はじめに、レーザーが発光していない状態
の時の動作について説明する。Ａ０処理部においてレー
ザー制御部１２が’Ｌ’を出力しているのでＢＳ１処理
部において低域通過フィルタ１７１にカットオフ周波数
を決定する定数を設定する。レーザーが発光していない
時はＡ／Ｄ変換器８から、前述したようにエンベロープ
検出回路３によって発生した回路オフセットが出力され
ている。この回路オフセットは装置毎にＤＣ値として出
力される。従って低域通過フィルタ１７１はその機能を
動作させる必要がないため、アッテネータ設定値制御部
１３は低域通過フィルタ１７１のカットオフ周波数とし
て設定可能な周波数の上限例えば５０ｋＨｚとなるよう
な定数を設定する。続くＢＳ２処理部では低域通過フィ
ルタ１７１の出力をオフセット格納用のメモリＭＥＭ−
ＯＦＳに格納して処理を終了する。

【００９０】次に、光ビームが未記録部にある時の動作
について説明する。ＡＳ１処理部で低域通過フィルタ１
７１にカットオフ周波数を決定する定数を設定する。前
述したように、光ビームがディスクの未記録部にあると
きはエンベロープ検出回路３の出力がクランプ回路６２
におけるクランプレベルになり出力の変動はないので、
レーザーが発光していない時の処理と同様に低域通過フ
ィルタ１７１のカットオフ周波数としては最大の５０ｋ
Ｈｚを設定する。続くＡＳ３処理部では、低域通過フィ
ルタ１７１の出力値からＭＥＭ−ＯＦＳに格納されてい
る値Ｘを減算する処理を行い結果をＹとする。以後の処
理は図２と同様である。

【００９１】次に、トラッキングサーボが動作していな
い時の動作について説明する。まず、図８を用いて説明
したように、エンベロープ検出回路３の出力は検波回路
６３において一定の時定数で減少するため、エンベロー
プ検出回路３の出力が変動する。低域通過フィルタ１７
１はこの変動成分を平滑化するために、前述したように
図１の低域通過フィルタ９と同様の２０ｋＨｚ以下のカ
ットオフ周波数を持つように構成する必要がある。ま
た、トラッキングサーボが動作していないときは、光ビ
ームがトラックを横断する際に、トラックとトラックの
間のピットの存在しない場所に光ビームが位置するとき
に、エンベロープ検出回路３の出力はクランプ回路６２
のクランプレベルとなる。低域通過フィルタ１７１はク
ランプ回路６２におけるピークレベルからクランプレベ
ルまでの出力変動を平滑化する処理を行う。この変動量
はアッテネータ７の設定に応じて変化する。しかし、再
生信号が目標となる振幅近傍となったときに発生する変
動量を抑圧すればよく、また図２を用いて説明したよう
にアッテネータ７の設定は設定範囲の下限から設定する
動作を行うため、目標となる振幅近傍となったときの変
動量以上の変動は考えなくてもよい。従って、アッテネ
ータ７の出力信号の目標振幅が１００ｍＶなので、光ビ
ームがトラックを横断する際に発生する変動量として約
１００ｍＶまで考えればよい。また、光ビームがトラッ
クを横断する際にエンベロープ検出回路３において出力
される変動の周波数は、偏心量とディスクの回転速度に
応じて変化する。しかし、最低となる周波数はディスク
の回転速度に応じて一意に決まる。光ビームがトラック
を１本横断する際の最低周波数はディスクが４３２０ｒ
ｐｍで回転している場合、回転周波数の７２Ｈｚにな
る。ここで、Ａ／Ｄ変換器８は１０ｍＶの入力に対して
１の値を出力するので、アッテネータ設定値制御部１３
への最大入力誤差を１以下に抑える為、低域通過フィル
タ１７１において上記変動を１／１０の１０ｍＶまで抑
圧することを考える。このとき、カットオフ周波数とし
て７．２Ｈｚとなるように設定すればよい。前述したよ
うに２０ｋＨｚ以下のカットオフ周波数なので図８に示
した変動成分も合わせて平滑化される。従って、ＤＳ１
処理部においてアッテネータ設定値制御部１３は、周期
カウンタ１８が出力している値１７からディスクの回転
速度が４３２０ｒｐｍである事を求め、低域通過フィル
タ１７１に対して７．２Ｈｚのカットオフ周波数を設定
する。

【００９２】以後の処理は図２における説明と同様な動
作を行う。

【００９３】最後に、トラッキングサーボが動作してい
る場合の動作について説明する。トラッキングサーボが
動作中は、光ビームがトラックを横断する事によって発
生する変動成分はない。従って低域通過フィルタ１７１
は図８を用いて説明した検波回路６３の出力変動を平滑
化するのに用いられる。従って、ＡＳ６処理部において
アッテネータ設定値制御部１３は、低域通過フィルタ１
７１に２０ｋＨｚのカットオフ周波数となるように定数
を設定する。以後の処理はＡＳ１０９処理部を除いて図
２における説明と同様な動作を行う。

【００９４】ＡＳ１０処理部はＡ１０処理における平均
化処理部１０の代わりに低域通過フィルタ１７１の出力
値からメモリＭＥＭ−ＯＦＳに格納されている値Ｘを減
じた値をＹ’とする処理である。

【００９５】以上の実施の形態は各制御部を独立した回
路構成で示したが、図１のＡ／Ｄ変換機８以下に続く構
成要素で、低域通過フィルタ９，平均化処理部１０，ス
イッチ１１，アッテネータ設定値制御部１３，論理和回
路Ａ、論理積回路Ｂ及び図１７の低域通過フィルタ１７
１は演算器とメモリを有するマイコン等のプロセッサを
用いてソフトウェアのみで構成することができ、またそ
れ以外のアッテネータ７を除く構成要素は既存の光ディ
スク装置における標準的な構成要素であるため、コスト
の上昇がほとんどなく実現できる。

【００９６】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、反射率の
異なる光ディスク毎に再生信号を目標とする振幅に調整
できるだけでなく、装置の動作状態に応じて再生信号の
振幅を調整できるので、トラッキングサーボが動作して
いない時のフォーカス位置調整の調整精度を向上できる
という有利な効果が得られる。またさらに、装置の動作
状態によらず調整できるということから、再生信号の読
み出しエラーが生じた時などに装置動作状態を変えずに
再度再生信号の振幅を調整することができるという有利
な効果も得られる。また、本発明によれば、データが記
録されていない未記録領域が多い光ディスクにおいて、
確実に記録部において再生信号の振幅調整ができるとい
う有利な効果が得られる。また、本発明によれば、アド
レス部を有する光ディスクに対して、アドレス部の影響
を受けずにデータ部の再生信号の振幅を目標の振幅に調
整できるという有利な効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施形態を示すブロック図

【図２】図１中のアッテネータ設定値制御部における動
作を示したフローチャート

【図３】図１中のアッテネータの構成図

【図４】図１中のアッテネータの動作説明のための図

【図５】図１中のアッテネータの設定値を示した図

【図６】図１中のエンベロープ検出回路の構成図

【図７】図１中のオフトラック検出回路の動作説明のた
めの図

【図８】図６のエンベロープ検出回路の動作説明のため
の図

【図９】図６中の検波回路においてピークレベルを検波
する周波数の説明のための図

【図１０】図１中のアドレス部検出回路の構成図

【図１１】図１中のアドレス部検出回路の動作説明のた
めの図

【図１２】光ビームが未記録のトラック上の溝を横断し
ている際の図１中のクランプ回路の動作説明のための図

【図１３】図１中のディフェクト検出回路が動作してい
る際の平均化処理部の動作を説明した図

【図１４】図１中のオフトラック検出回路が動作してい
る際の平均化処理部の動作を説明した図

【図１５】図１中のアドレス部検出回路が動作している
際の平均化処理部の動作を説明した図

【図１６】図１中のスイッチ１１の動作を説明するため
の図

【図１７】本発明の第二の実施形態を示すブロック図

【図１８】図１７中のアッテネータ設定値制御部におけ
る動作を示したフローチャート

【図１９】従来の再生信号振幅調整機能を備えた光ディ
スクの例を示すブロック図

【符号の説明】

１光ディスク２ピックアップ部３エンベロープ検出回路４スピンドルモータ５トラバース６トラバースモータ７アッテネータ８Ａ／Ｄ変換器９低域通過フィルタ１０平均化処理部１１スイッチ１２レーザー制御部１３アッテネータ設定値制御部１４ディフェクト検出回路１５オフトラック検出回路１６アドレス部検出回路１７ＦＧ回路１８周期カウンタ１９トラバース制御部２０トラッキング制御部ＳＷ１スイッチ１ＳＷ２スイッチ２ＳＷ３スイッチ３ＳＷ４スイッチ４Ｒ１抵抗１Ｒ２抵抗２Ｒ３抵抗３Ｒ４抵抗４３１アッテネータ値設定値３２アッテネータ部３３アンプ６１アンプ６２クランプ回路６３検波回路１０１データスライス回路１０２アドレス読みとり回路１０３アドレス部ゲート信号生成回路１７１低域通過フィルタ１９１アンプ１９２制御回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者井口睦大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内Ｆターム(参考） 5D044 BC06 CC04 DE46 FG04 5D090 AA01 BB04 CC04 EE13 FF02

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ディスクに記録された情報を再生する再
生手段と、前記再生手段の出力を増幅する利得を可変に
設定できる増幅部と、前記増幅部の出力から振幅を検出
する振幅検出部と、前記振幅検出部の出力を平滑化処理
する平滑化処理部と、前記平滑化処理部の出力に応じて
前記増幅部の利得を設定して前記増幅部の出力を所定の
振幅にする利得設定部を有し、装置の動作状態に応じて
前記平滑化処理部の平滑化処理を変化させることを特徴
とする光ディスク装置。
【請求項２】利得設定部は平滑化処理部の出力を所定
の目標値となるように増幅部の利得を設定する事によっ
て前記増幅部の出力を所定の振幅にすることを特徴とす
る請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】装置の動作状態に応じて目標値を変化さ
せることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】再生手段をディスク上のトラックに追従
させるトラッキング制御が動作している時と動作してい
ない時で目標値を変化させることを特徴とする請求項３
記載の光ディスク装置。
【請求項５】トラッキング制御が動作していない時は
トラッキング制御が動作している時に対して目標値を低
くすることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装
置。
【請求項６】再生手段をディスク上のトラックに追従
させるトラッキング制御が動作している時と動作してい
ない時で平滑化処理部の平滑化処理を変化させることを
特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】トラッキング制御が動作してない時に利
得設定部を動作させ増幅部の利得を設定した後、トラッ
キング制御が動作している時に利得設定部を動作させ増
幅部の利得を再度設定することを特徴とする請求項４ま
たは６記載の光ディスク装置。
【請求項８】増幅部の設定値を記憶する設定記憶手段
を有し、トラッキング制御が動作していない時の前記増
幅部の設定値を前記記憶手段に記憶しておきトラッキン
グ制御が動作している時に前記増幅部の利得の設定可能
な範囲を前記設定記憶手段に記憶されている設定値に対
して一定量増減させた範囲に制限することを特徴とする
請求項７記載の光ディスク装置。
【請求項９】増幅部の利得の設定可能な範囲の一番低
い設定から順に大きい設定に変化させて振幅検出部の出
力を目標値にすることを特徴とする請求項８記載の光デ
ィスク装置。
【請求項１０】ディスクの傷やごみの付着あるいは欠
陥を検出するディフェクト検出部を有し、前記ディフェ
クト検出部がディスクの傷やごみの付着あるいは欠陥を
検出した時は振幅検出部の出力を停止することを特徴と
する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１１】再生手段が走査中のトラックを外れた
事を検出するオフトラック検出部を有し、前記オフトラ
ック検出部が捜査中のトラックを再生手段が外れた事を
検出した時は振幅検出部の出力を停止することを特徴と
する請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１２】トラッキング制御が動作していない時
はディフェクト検出部の動作を停止することを特徴とす
る請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１３】トラッキング制御が動作していない時
はオフトラック検出部の動作を停止することを特徴とす
る請求項１１記載の光ディスク装置。
【請求項１４】ディスクの回転周期を検出する周期検
出器を有し、前記周期検出器の出力に応じて平滑化処理
部における平滑化処理を変更することを特徴とする請求
項１記載の光ディスク装置。
【請求項１５】周期検出器にて検出したディスク回転
時間以上の期間にわたって平滑化処理を行うことを特徴
とする請求項１４記載の光ディスク装置。
【請求項１６】ディスクの回転周期を検出する周期検
出器を有し、前記周期検出器の出力に応じて目標値を変
更することを特徴とする請求項３記載の光ディスク装
置。
【請求項１７】周期検出器の出力が減少するにつれて
目標値を小さくすることを特徴とする請求項１６記載の
光ディスク装置。
【請求項１８】平滑化処理部に遮断特性を変更するこ
とが可能な低域通過フィルタで構成したことを特徴とす
る請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項１９】平滑化処理部の平滑化処理は加算回数
を外部より設定可能な加算平均処理とすることを特徴と
する請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項２０】トラッキング制御が動作していない時
はトラッキング制御が動作している時に対して加算平均
処理の加算回数を増加することを特徴とする請求項１９
記載の光ディスク装置。
【請求項２１】再生手段は光ビームをディスクに照射
する光源とディスクからの反射光あるいは透過光を受光
する検出器よりなり、前記光源が発光していない時に振
幅検出部の出力値を記憶するオフセット記憶手段を有
し、前記光源が発光している時に振幅検出部の出力値か
ら前記オフセット記憶手段に記憶されている値を減算す
ることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項２２】ディスクに記録された情報を再生する
再生手段と、前記再生手段をディスク半径方向に移動さ
せる移動手段と、前記再生手段が未記録部に位置するこ
とを検出する未記録部検出手段と、前記再生手段の出力
を増幅する利得を可変に設定できる増幅部と、前記増幅
部の出力から振幅を検出する振幅検出部と、前記振幅検
出部の出力に応じて前記増幅部の利得を設定して前記増
幅部の出力を所定の振幅にする利得設定部を有し、前記
未記録部検出手段が未記録部に再生手段が位置すること
を検出した時に検出しない位置まで前記移動手段により
再生手段を移動させることを特徴とする光ディスク装
置。
【請求項２３】未記録部検出手段は振幅検出部の出力
が所定の値以下の時に再生手段が未記録部に位置するこ
とを検出すること特徴とする請求項２２記載の光ディス
ク装置。
【請求項２４】ディスクに記録された情報を再生する
再生手段と、前記再生手段の出力を増幅する利得を可変
に設定できる増幅部と、前記増幅部の出力から振幅を検
出する振幅検出部と、前記振幅検出部の出力に応じて前
記増幅部の利得を設定して前記増幅部の出力を所定の振
幅にする利得設定部と、ディスク上の領域を識別するた
めのアドレスが記録されているアドレス部に前記再生手
段が位置していることを検出するアドレス部検出手段を
有し、前記再生手段がアドレス部に位置することを前記
アドレス部検出手段が検出した時は前記振幅検出部の出
力を停止することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２５】トラッキング制御が動作していない時
はアドレス部検出手段の動作を停止することを特徴とす
る請求項２４記載の光ディスク装置。