JP2000232122A - 半導体チップの接続部材及びその製造方法とその接続部材を用いた半導体チップの接続方法 - Google Patents

半導体チップの接続部材及びその製造方法とその接続部材を用いた半導体チップの接続方法

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JP2000232122A
JP2000232122A JP11033638A JP3363899A JP2000232122A JP 2000232122 A JP2000232122 A JP 2000232122A JP 11033638 A JP11033638 A JP 11033638A JP 3363899 A JP3363899 A JP 3363899A JP 2000232122 A JP2000232122 A JP 2000232122A
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wiring board
conductor
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thermoplastic resin
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Masayuki Sasaki
正行 佐々木
Hideaki Sakaguchi
秀明 坂口
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Shinko Electric Industries Co Ltd
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  • Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体チップの電極と配線基板の導体パッド
とを複雑な工程を踏まずに容易に接続できる半導体チッ
プの接続部材を得る。 【解決手段】 高融点材料からなる導体コア100の上
下面に低融点材料からなる導体層110を形成してなる
接続部材本体120の側面に導体層110とその融点が
ほぼ同一の熱可塑性樹脂層130を形成して半導体チッ
プの接続部材Aを形成する。そして、その接続部材Aを
配線基板の導体パッド上に載置した後、その接続部材A
上に半導体チップの電極を重ね合わせる。次いで、接続
部材Aを加熱して、接続部材Aの導体層110及び熱可
塑性樹脂層130を溶融させる。そして、その溶融させ
た導体層110により、半導体チップの電極と配線基板
の導体パッドとを導体コア100を介して接続する。そ
れと共に、その溶融させた熱可塑性樹脂層130によ
り、半導体チップを配線基板に接合する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップの電
極と配線基板の導体パッドとを接続するのに用いる半導
体チップの接続部材、及びその接続部材の製造方法、並
びにその接続部材を用いて半導体チップの電極と配線基
板の導体パッドとを接続する半導体チップの接続方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】半導体チップの電極を配線基板の導体パ
ッドに接続する場合には、従来一般に、次のようにして
いる。図21に示したように、配線基板10の導体パッ
ド20上に共晶はんだ等の低融点はんだからなる導体層
30を塗布又は印刷等により形成している。半導体チッ
プ40の電極50には、高融点はんだからなるはんだバ
ンプ60を形成している。はんだバンプの頂部60a
は、プレス機等を用いて平押している。そして、半導体
チップ40に並ぶ複数の各電極50に形成されたはんだ
バンプの頂部60aの高さを一律に同一高さに整えてい
る。次いで、半導体チップの電極50に形成されたはん
だバンプ60を、それに対応する配線基板の導体バンプ
20に形成された導体層30に重ね合わせて、半導体チ
ップ40を配線基板10に載置している。次いで、図2
2に示したように、配線基板10と半導体チップ40と
を共にリフロー炉に入れて加熱し、配線基板の導体パッ
ド20に形成された導体層30を加熱、溶融させてい
る。そして、その溶融させた導体層30により、半導体
チップの電極50と配線基板の導体パッド20とを、高
融点はんだからなるはんだバンプ60を介して、はんだ
付けしている。その後、半導体チップ40と配線基板1
0との間に、樹脂等からなるアンダーフィル材70を充
填している。そして、そのアンダーフィル材70を介し
て、半導体チップ40と配線基板10とを接合してい
る。そして、半導体チップ40を配線基板10にフリッ
プチップボンディング方法により表面実装している。
【0003】ここで、上記のようにして、半導体チップ
40と配線基板10とをアンダーフィル材70を介して
強固に接合している理由は、半導体チップ40と配線基
板10との膨張係数の差に基づく熱応力が半導体チップ
40と配線基板10との間に繰り返し加わった場合に、
その熱応力により、半導体チップの電極50を配線基板
の導体パッド20に接続している脆弱な低融点はんだか
らなる導体層30が金属疲労により破断等して、半導体
チップの電極50と配線基板の導体パッド20との良好
な電気的接続性が損なわれる虞があるからである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようにして、半導体チップの電極50と配線基板の導体
パッド20とを接続した場合には、その半導体チップの
電極50にはんだバンプ60を形成したり、配線基板の
導体パッド20に低融点はんだからなる導体層30を塗
布又は印刷等により形成したりしなければならず、その
はんだバンプ60や導体層30の形成作業に多大な手数
と時間を要した。
【0005】また、半導体チップ40の複数の各電極5
0に形成したはんだバンプの頂部60aを平押して、そ
の各はんだバンプの頂部60aの高さを一律に同一高さ
に整える作業にも多大な手数と時間を要した。
【0006】また、半導体チップ40と配線基板10と
の間にアンダーフィル材70を充填して、そのアンダー
フィル材70を介して、半導体チップ40と配線基板1
0とを強固に接合する作業にも多大な手数と時間を要し
た。
【0007】本発明は、このような課題に鑑みてなされ
たもので、上記のような複雑な工程を踏まずに、半導体
チップの電極と配線基板の導体パッドとを安定させて確
実に接続できる半導体チップの接続方法と、それに用い
る半導体チップの接続部材及びその接続部材の製造方法
を提供しようとするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の半導体チップの接続部材は、高融点
材料からなる柱状の導体コアの上面とその下面に、低融
点材料からなる導体層を形成してなる接続部材本体の側
面に、前記導体層とその融点がほぼ同一の熱可塑性樹脂
層を形成してなることを特徴としている。
【0009】また、本発明の第2の半導体チップの接続
部材は、高融点材料からなる柱状の導体コアの側面に、
低融点材料からなる導体層を形成してなる接続部材本体
の側面に、前記導体層とその融点がほぼ同一の熱可塑性
樹脂層を形成してなることを特徴としている。
【0010】また、本発明の第1の半導体チップの接続
方法は、次の工程を含むことを特徴としている。 a.配線基板に形成された導体パッド上に本発明の第1
又は第2の半導体チップの接続部材を載置する工程。 b.半導体チップの電極を前記接続部材上に重ね合わせ
て、半導体チップを前記配線基板に載置する工程。 c.前記配線基板の導体パッド上に重ね合わせた接続部
材を加熱して、その接続部材の低融点材料からなる導体
層及び熱可塑性樹脂層を溶融させ、その溶融させた導体
層により、前記半導体チップの電極と配線基板の導体パ
ッドとを接続部材の導体コアを介して接続すると共に、
その溶融させた熱可塑性樹脂層により、半導体チップの
電極と配線基板の導体パッドとの接続箇所及びそれに連
なる半導体チップ部分と配線基板部分とを連続して覆っ
て、その熱可塑性樹脂層を介して、半導体チップと配線
基板とを接合する工程。
【0011】この第1又は第2の半導体チップの接続部
材を用いた第1の半導体チップの接続方法においては、
そのa工程において、配線基板の導体パッド上に第1又
は第2の接続部材を載置するだけで良く、その配線基板
の導体パッドに導体層を塗布又は印刷等により多大な手
数を掛けて形成する作業を省くことができる。また、そ
のb工程において、半導体チップの電極は、上記の第1
又は第2の接続部材上に重ね合わせるだけで良く、半導
体チップの電極に高融点はんだ等からなるはんだバンプ
を多大な手数と時間を掛けて形成する作業を省くことが
できる。加えて、はんだバンプの頂部を平押して、その
はんだバンプの頂部の高さを一律に同一高さに整える面
倒な作業を省くことができる。また、そのc工程におい
て、半導体チップの電極と配線基板の導体パッドとの接
続箇所及びそれに連なる半導体チップ部分と配線基板部
分とを熱可塑性樹脂層により連続して覆うことができ
る。そして、その熱可塑性樹脂層を介して、半導体チッ
プと配線基板とを強固に接合できる。そして、半導体チ
ップと配線基板との間にアンダーフィル材を充填して、
そのアンダーフィル材により半導体チップと配線基板と
を強固に接合する面倒な作業を省くことができる。そし
て、半導体チップの電極と配線基板の導体パッドとを接
続する作業の大幅な簡易化とその容易化とが図れる。
【0012】本発明の第1の半導体チップの接続部材の
製造方法は、導体コア形成用材料からなるコア板の上面
とその下面に、低融点材料からなる導体層を形成してな
る接続部材本体形成板を形成した後、その接続部材本体
形成板をその厚さ方向にポンチにより打ち抜いて、柱状
の接続部材本体を形成し、次いで、その接続部材本体を
溶融させた熱可塑性樹脂中に浸漬して、その接続部材本
体の周囲に熱可塑性樹脂層を形成した後、その接続部材
本体の上面とその下面とに形成した熱可塑性樹脂層を研
磨により除去して、第1の接続部材を形成することを特
徴としている。
【0013】この第1の半導体チップの接続部材の製造
方法においては、コア板の上面とその下面に導体層を形
成してなる接続部材本体形成板をその厚さ方向にポンチ
により打ち抜いて、導体コアの上面とその下面に導体層
を形成してなる一定の高さの柱状の接続部材本体を形成
できる。次いで、その接続部材本体の周囲に熱可塑性樹
脂層を形成した後、その接続部材本体の上面とその下面
とに形成した熱可塑性樹脂層を研磨により除去して、一
定の高さの第1の接続部材を形成できる。
【0014】本発明の第2の半導体チップの接続部材の
製造方法は、導体コア形成用材料からなるコア棒の側面
に、低融点材料からなる導体層を形成してなる接続部材
本体形成棒を形成し、次いで、その接続部材本体形成棒
を溶融させた熱可塑性樹脂中に浸漬して、その接続部材
本体形成棒の側面に熱可塑性樹脂層を形成した後、その
熱可塑性樹脂層を側面に形成した接続部材本体形成棒を
一定長さに輪切り切断して、第2の接続部材を形成する
ことを特徴としている。
【0015】この第2の半導体チップの接続部材の製造
方法においては、コア棒の側面に導体層を形成して、接
続部材本体形成棒を形成できる。次いで、その接続部材
本体形成棒の側面に熱可塑性樹脂層を形成した後、その
熱可塑性樹脂層を側面に形成した接続部材本体形成棒を
一定長さ輪切り切断して、一定の高さの柱状の第2の接
続部材を形成できる。
【0016】本発明の第2の半導体チップの接続方法
は、次の工程を含むことを特徴としている。 a.半導体チップの電極上に本発明の第1又は第2の半
導体チップの接続部材を載置する工程。 b.配線基板に形成された導体パッドを前記接続部材上
に重ね合わせて、配線基板を前記半導体チップに載置す
る工程。 c.前記半導体チップの電極上に重ね合わせた接続部材
を加熱して、その接続部材の低融点材料からなる導体層
及び熱可塑性樹脂層を溶融させ、その溶融させた導体層
により、前記配線基板の導体パッドと半導体チップの電
極とを接続部材の導体コアを介して接続すると共に、そ
の溶融させた熱可塑性樹脂層により、配線基板の導体パ
ッドと半導体チップの電極との接続箇所及びそれに連な
る配線基板部分と半導体チップ部分とを連続して覆っ
て、その熱可塑性樹脂層を介して、半導体チップと配線
基板とを接合する工程。
【0017】この第1又は第2の接続部材を用いた第2
の半導体チップの接続方法においては、そのa工程にお
いて、半導体チップの電極上に第1又は第2の接続部材
を載置するだけで良く、半導体チップの電極に多大な手
数と時間を掛けて高融点はんだ等からなるはんだバンプ
を形成する作業を省くことができる。加えて、はんだバ
ンプの頂部を平押して、そのはんだバンプの頂部の高さ
を一律に同一高さに整える面倒な作業を省くことができ
る。また、そのb工程において、配線基板の導体パッド
を、上記の接続部材上に重ね合わせるだけで良く、その
配線基板の導体パッドに導体層を塗布又は印刷等により
多大な手数を掛けて形成する作業を省くことができる。
また、そのc工程において、配線基板の導体パッドと半
導体チップの電極との接続箇所及びそれに連なる配線基
板部分と半導体チップ部分とを熱可塑性樹脂層により連
続して覆うことができる。そして、その熱可塑性樹脂層
を介して、配線基板と半導体チップとを強固に接合でき
る。そして、半導体チップと配線基板との間にアンダー
フィル材を充填して、そのアンダーフィル材により半導
体チップと配線基板とを強固に接合する面倒な作業を省
くことができる。そして、半導体チップの電極と配線基
板の導体パッドとを接続する作業の大幅な簡易化とその
容易化とが図れる。
【0018】また、この第1又は第2の半導体チップの
接続方法に用いる第1又は第2の接続部材には、高融点
材料からなる導体コアが含まれていて、第1又は第2の
半導体チップの接続方法において、半導体チップの電極
と配線基板の導体パッドとを接続する際に、その半導体
チップの電極と配線基板の導体パッドとの間に、導体コ
アを芯材として残存させることができる。そして、その
導体コアを介して、半導体チップの電極と配線基板の導
体パッドとを安定させて接続できる。
【0019】本発明の第1又は第2の半導体チップの接
続方法においては、そのa工程において、配線基板の導
体パッド又は半導体チップの電極に塗布したフラックス
を介して、第1又は第2の接続部材をそれを載置する配
線基板の導体パッド又は半導体チップの電極に仮付けす
ることを好適としている。
【0020】この第1又は第2の半導体チップの接続方
法にあっては、そのa工程において、粘着性のあるフラ
ックスを用いて、第1又は第2の接続部材を配線基板の
導体パッド又は半導体チップの電極に仮付けできる。そ
して、その接続部材が、配線基板の導体パッド又は半導
体チップの電極から脱落するのを防ぐことができる。
【0021】また、本発明の第1又は第2の半導体チッ
プの接続方法においては、b工程において、半導体チッ
プの電極又は配線基板の導体パッドに塗布したフラック
スを介して、第1又は第2の接続材料にそれに重ね合わ
せる半導体チップの電極又は配線基板の導体パッドを仮
付けすることを好適としている。
【0022】この本発明の第1又は第2の半導体チップ
の接続方法にあっては、そのb工程において、粘着性の
あるフラックスを用いて、半導体チップの電極又は配線
基板の導体パッドを第1又は第2の接続部材に仮付けで
きる。そして、その接続部材から半導体チップの電極又
は配線基板の導体パッドが脱落するのを防ぐことができ
る。
【0023】上記のa工程又はb工程において、フラッ
クスを半導体チップの電極又は配線基板の導体パッドに
塗布する本発明の第1又は第2の半導体チップの接続方
法においては、そのc工程において、半導体チップの電
極と配線基板の導体パッドとの接続箇所を洗浄して、そ
の接続箇所に付着したフラックスを除去することを好適
としている。
【0024】この第1又は第2の半導体チップの接続方
法にあっては、そのc工程において、半導体チップの電
極と配線基板の導体パッドとの接続箇所に付着したフラ
ックスを、洗浄して除去できる。そして、そのフラック
スにより、半導体チップの電極や配線基板の導体パッド
が、腐蝕等して、その電気的特性が損なわれるのを防ぐ
ことができる。
【0025】本発明の第1又は第2の半導体チップの接
続部材においては、接続部材本体の上面及びその下面に
露出した熱可塑性樹脂層の上端面及びその下端面に接着
剤層を形成した構造とすることを好適とし、本発明の第
1又は第2の半導体チップの接続部材の製造方法におい
ては、接続部材本体の上面及びその下面に露出した熱可
塑性樹脂層の上端面及びその下端面に接着剤層を形成す
ることを好適とし、本発明の第1又は第2の半導体チッ
プの接続方法においては、第1又は第2の接続部材に、
接続部材本体の上面及びその下面に露出した熱可塑性樹
脂層の上端面及びその下端面に接着剤層を形成したもの
を用いることを好適としている。
【0026】この第1又は第2の接続部材を用いた第1
又は第2の半導体チップの接続方法にあっては、接続部
材本体の下面に露出した熱可塑性樹脂層の下端面に形成
された接着剤層を用いて、第1又は第2の接続部材を配
線基板の導体パッド又は半導体チップの電極に動かぬよ
うに接合できる。そして、その接続部材が、配線基板の
導体パッド又は半導体チップの電極から脱落するのを防
ぐことができる。それと共に、接続部材本体の上面に露
出した熱可塑性樹脂層の上端面に形成された接着剤層を
用いて、半導体チップの電極又は配線基板の導体パッド
を第1又は第2の接続部材に動かぬように接合できる。
そして、その接続部材から半導体チップの電極又は配線
基板の導体パッドが脱落するのを防ぐことができる。
【0027】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。図1と図2は本発明の第1の半導体チ
ップの接続部材の好適な実施の形態を示し、図1はその
斜視図、図2はその正面断面図である。以下に、この第
1の接続部材を説明する。
【0028】図の第1の接続部材は、円柱状、角柱状又
はそれらに近い形状(図では、円柱状)をした高融点材
料からなる導体コア100の上面とその下面に低融点材
料からなる導体層110を形成してなる三層構造の接続
部材本体120の側面に、導体層110とその融点がほ
ぼ同一の熱可塑性樹脂層130を形成した構造をしてい
る。導体層110は、共晶はんだ等の低融点はんだ又は
導電性ペーストを乾燥等させて形成した導体から形成し
ている。熱可塑性樹脂層130は、例えば約200℃に
加熱することにより溶融可能なポリイミド樹脂を用いて
形成している。
【0029】接続部材本体120は、その外径を、半導
体チップの電極50や配線基板の導体パッド20の外径
に合わせて、約100〜150μmに形成している。導
体コア100は、その丈を、約50〜100μmに形成
している。導体コア100の上下面の導体層110は、
その丈を、約20μmに形成している。そして、その溶
融させた導体層110により、導体コア100の側面と
それに連なる半導体チップの電極50及び配線基板の導
体パッド20の側面を過不足なく覆うことができるよう
にしている。
【0030】図1と図2に示した第1の接続部材Aは、
以上のように構成している。
【0031】次に、この第1の接続部材Aの製造方法で
あって、本発明の第1の半導体チップの接続部材の製造
方法を説明する。
【0032】図3に示したように、導体コア形成材料の
高融点はんだ(例えば、Pbを90重量%含み、Snを
10重量%含むはんだ)又は銅から形成された厚さが約
50〜100μmのコア板200の上面とその下面に、
厚さが約20μmの低融点材料からなる導体層110を
形成してなる接続部材本体形成板220を形成してい
る。導体層110は、共晶はんだ等の低融点はんだ又は
導電性ペーストを乾燥等させてなる導体から形成してい
る。次いで、その接続部材本体形成板220を、図3に
示したように、その厚さ方向にポンチ210により打ち
抜いている。そして、その接続部材本体形成板220か
ら約90〜140μmの丈の一定の高さの柱状の接続部
材本体120を形成している。
【0033】次いで、その接続部材本体120を、溶融
させた熱可塑性樹脂132中に浸漬している。具体的に
は、図4に示したように、加熱して溶融させた熱可塑性
樹脂132が収容された熱可塑性樹脂槽230内に接続
部材本体120を浸漬した後、その接続部材本体120
を熱可塑性樹脂槽230内から取り出している。そし
て、その接続部材本体120の周囲に、熱可塑性樹脂層
130を隙間なく連続して形成している。
【0034】その後、その接続部材本体120の上面と
その下面に形成した熱可塑性樹脂層130を研磨により
除去している。そして、一定の高さの柱状の第1の接続
部材Aを形成している。
【0035】この第1の半導体チップの接続部材の製造
方法は、以上の工程からなり、この第1の接続部材の製
造方法においては、コア板200の上面とその下面に導
体層110を形成してなる接続部材本体形成板220を
その厚さ方向にポンチ210により打ち抜いて、一定の
高さの柱状の接続部材本体120を形成できる。次い
で、その接続部材本体120の周囲に熱可塑性樹脂層1
30を形成した後、その接続部材本体120の上面とそ
の下面とに形成した熱可塑性樹脂層130を研磨により
除去して、一定の高さの柱状の第1の接続部材Aを形成
できる。
【0036】図5と図6は本発明の第2の半導体チップ
の接続部材の好適な実施の形態を示し、図5はその斜視
図、図6はその正面断面図である。以下に、この第2の
接続部材を説明する。
【0037】図の第2の接続部材は、円柱状、角柱状又
はそれらに近い形状(図では、円柱状)をした高融点材
料からなる導体コア100の側面に、低融点材料からな
る導体層110を隙間なく連続して形成してなる二重構
造の接続部材本体140の側面に、導体層110とその
融点がほぼ同一の熱可塑性樹脂層130を形成した構造
をしている。導体層110は、共晶はんだ等の低融点は
んだ又は導電性ペーストを乾燥等させて形成した導体か
ら形成している。熱可塑性樹脂層130には、例えばポ
リイミド樹脂を用いて形成している。
【0038】導体コア100は、その外径を、約60〜
110μmに形成している。導体コア100の側面を覆
う導体層110は、その厚さを、約20μmに形成して
いる。そして、接続部材本体140の外径を、半導体チ
ップの電極50や配線基板の導体パッド20の外径に合
わせて、約100〜150μmに形成している。導体コ
ア100及びその側面を覆う導体層110は、その丈
を、約90〜140μmに形成している。そして、その
溶融させた導体層110により、導体コア100の側面
とそれに連なる半導体チップの電極50及び配線基板の
導体パッド20の側面を過不足なく覆うことができるよ
うにしている。
【0039】図5と図6に示した第2の接続部材Bは、
以上のように構成している。
【0040】次に、この第2の接続部材Bの製造方法で
あって、本発明の第2の半導体チップの接続部材の製造
方法を説明する。
【0041】図7に示したように、導体コア形成用材料
の高融点はんだ(例えば、Pbを90重量%含み、Sn
を10重量%含むはんだ)又は銅から形成されたコア棒
300の側面に、低融点材料からなる導体層110を隙
間なく連続して形成してなる接続部材本体形成棒310
を形成している。次いで、その接続部材本体形成棒31
0を溶融させた熱可塑性樹脂132中に浸漬している。
具体的には、図7に示したように、加熱して溶融させた
熱可塑性樹脂132が収容された熱可塑性樹脂槽230
内に接続部材本体形成棒310を浸漬した後、その接続
部材本体形成棒310を熱可塑性樹脂槽230内から取
り出している。そして、その接続部材本体形成棒310
の側面に熱可塑性樹脂層130を形成している。
【0042】その後、その熱可塑性樹脂層130を側面
に形成してなる接続部材本体形成棒310を、図8に示
したように、約90〜140μmの一定長さに輪切り切
断している。そして、一定の高さの柱状の第2の接続部
材Bを形成している。
【0043】図7と図8に示した第2の接続部材Bの製
造方法は、以上の工程からなり、この第2の接続部材B
の製造方法においては、コア棒300の側面に導体層1
10を形成して、接続部材本体形成棒310を形成でき
る。次いで、その接続部材本体形成棒310の側面に熱
可塑性樹脂層130を形成した後、その熱可塑性樹脂層
130を側面に形成してなる接続部材本体形成棒310
を一定長さに輪切り切断して、一定の高さの柱状の第2
の接続部材Bを形成できる。
【0044】次に、この第1の接続部材A又は第2の接
続部材Bを用いて半導体チップの電極50と配線基板の
導体パッド20とを接続する半導体チップの接続方法で
あって、本発明の第1の半導体チップの接続方法の好適
な実施の形態を説明する。
【0045】図9に示したように、配線基板10に形成
された導体パッド20上に前述の第1の接続部材Aを載
置している。又は図11に示したように、配線基板10
に形成された導体パッド20上に前述の第2の接続部材
Bを載置している。そして、本発明の第1の半導体チッ
プの接続方法のa工程を行っている。
【0046】次いで、図10に示したように、半導体チ
ップの電極50を配線基板の導体パッド20に載置した
第1の接続部材A上に重ね合わせて、半導体チップ40
を配線基板10に載置している。又は図12に示したよ
うに、半導体チップの電極50を配線基板の導体パッド
20に載置した第2の接続部材B上に重ね合わせて、半
導体チップ40を配線基板10に載置している。そし
て、本発明の第1の半導体チップの接続方法のb工程を
行っている。
【0047】その後、半導体チップ40及び配線基板1
0を共にリフロー炉に入れて、加熱している。そして、
半導体チップの電極50を重ね合わせた第1の接続部材
A又は第2の接続部材Bを加熱して、その第1の接続部
材A又は第2の接続部材Bの低融点材料からなる導体層
110及び熱可塑性樹脂層130を溶融させている。そ
して、その溶融させた導体層110により、半導体チッ
プの電極50と配線基板の導体パッド20とを接続して
いる。具体的には、図13に示したように、その溶融さ
せた導体層110により、第1の接続部材A又は第2の
接続部材Bの高融点材料からなる導体コア100の側面
とそれに連なる半導体チップの電極50及び配線基板の
導体パッド20の側面とを連続して覆っている。その際
には、高融点材料からなる導体コア100を、溶融させ
ずに、芯材として残している。そして、その導体コア1
00を介して、配線基板の導体パッド20と半導体チッ
プの電極50とを安定させて接続している。それと共
に、その溶融させた熱可塑性樹脂層130により、半導
体チップの電極50と配線基板の導体パッド20との接
続箇所及びそれに連なる半導体チップ40部分と配線基
板10部分とを連続して覆っている。そして、その熱可
塑性樹脂層130を介して、半導体チップ40と配線基
板10とを強固に接合している。そして、半導体チップ
40を配線基板10にフリップチップボンディング方法
により表面実装している。そして、本発明の第1の半導
体チップの接続方法のc工程を行っている。
【0048】図9ないし図13に示した第1の半導体チ
ップの接続方法は、以上の工程からなる。この第1の接
続部材A又は第2の接続部材Bを用いた第1の半導体チ
ップの接続方法においては、そのa工程において、配線
基板の導体パッド20上に第1の接続部材A又は第2の
接続部材Bを載置するだけで良く、その配線基板の導体
パッド20に導体層30を塗布又は印刷等により多大な
手数を掛けて形成する作業を省くことができる。また、
そのb工程において、半導体チップの電極50は、上記
の第1の接続部材A又は第2の接続部材B上に重ね合わ
せるだけで良く、半導体チップの電極50に高融点はん
だ等からなるはんだバンプ60を多大な手数と時間を掛
けて形成する作業を省くことができる。また、はんだバ
ンプの頂部60aを平押して、そのはんだバンプの頂部
60aの高さを一律に同一高さに整える面倒な作業を省
くことができる。また、そのc工程において、熱可塑性
樹脂層130を介して、半導体チップ40と配線基板1
0とを強固に接合できる。そして、半導体チップ40と
配線基板10との間にアンダーフィル材70を充填し
て、そのアンダーフィル材70により、半導体チップ4
0と配線基板10とを強固に接合する面倒な作業を省く
ことができる。そして、半導体チップの電極50と配線
基板の導体パッド20とを接続する作業の大幅な簡易化
とその容易化とが図れる。
【0049】次に、前述の第1の接続部材A又は第2の
接続部材Bを用いて半導体チップの電極50と配線基板
の導体パッド20とを接続する半導体チップの接続方法
であって、本発明の第2の半導体チップの接続方法の好
適な実施の形態を説明する。
【0050】図14に示したように、半導体チップの電
極50上に前述の第1の接続部材Aを載置している。又
は図16に示したように、半導体チップの電極50上に
前述の第2の接続部材Bを載置している。そして、本発
明の第2の半導体チップの接続方法のa工程を行ってい
る。
【0051】次いで、図15に示したように、配線基板
に形成された導体パッド20を半導体チップの電極50
に載置した第1の接続部材A上に重ね合わせて、配線基
板10を半導体チップ40に載置している。又は図17
に示したように、配線基板の導体パッド20を半導体チ
ップの電極50に搭載した第2の接続部材B上に重ね合
わせて、配線基板10を半導体チップ40に搭載してい
る。そして、本発明の第2の半導体チップの接続方法の
b工程を行っている。
【0052】その後、半導体チップ40及び配線基板1
0を共にリフロー炉に入れて、加熱している。そして、
配線基板の導体パッド20を重ね合わせた第1の接続部
材A又は第2の接続部材Bを加熱して、その第1の接続
部材A又は第2の接続部材Bの低融点材料からなる導体
層110及び熱可塑性樹脂層130を溶融させている。
そして、その溶融させた導体層110により、配線基板
の導体パッド20と半導体チップの電極50とを接続し
ている。具体的には、図18に示したように、その溶融
させた導体層110により、第1の接続部材A又は第2
の接続部材Bの導体コア100の側面とそれに連なる半
導体チップの電極50及び配線基板の導体パッド20の
側面とを連続して覆っている。その際には、高融点材料
からなる導体コア100を、溶融させずに、芯材として
残している。そして、その導体コア100を介して、配
線基板の導体パッド20と半導体チップの電極50とを
安定させて接続している。それと共に、その溶融させた
熱可塑性樹脂層130により、配線基板の導体パッド2
0と半導体チップの電極50との接続箇所及びそれに連
なる配線基板10部分と半導体チップ40部分とを連続
して覆っている。そして、その熱可塑性樹脂層130を
介して、配線基板10と半導体チップ40とを強固に接
合している。そして、半導体チップ40を配線基板10
にフリップチップボンディング方法により表面実装して
いる。そして、本発明の第2の半導体チップの接続方法
のc工程を行っている。
【0053】図14ないし図18に示した第2の半導体
チップの接続方法は、以上の工程からなる。この第1の
接続部材A又は第2の接続部材Bを用いた第2の半導体
チップの接続方法においては、そのa工程において、半
導体チップの電極50上に第1の接続部材A又は第2の
接続部材Bを載置するだけで良く、半導体チップの電極
50に高融点はんだ等からなるはんだバンプ60を多大
な手数と時間を掛けて形成する作業を省くことができ
る。また、はんだバンプの頂部60aを平押して、その
はんだバンプの頂部60aの高さを一律に同一高さに整
える面倒な作業を省くことができる。また、そのb工程
において、配線基板の導体パッド20を、第1の接続部
材A又は第2の接続部材B上に重ね合わせるだけで良
く、その配線基板の導体パッド20に導体層30を塗布
又は印刷等により多大な手数を掛けて形成する作業を省
くことができる。また、そのc工程において、熱可塑性
樹脂層130を介して、配線基板10と半導体チップ4
0とを強固に接合できる。そして、半導体チップ40と
配線基板10との間にアンダーフィル材70を充填し
て、そのアンダーフィル材70により、半導体チップ4
0と配線基板10とを強固に接合する面倒な作業を省く
ことができる。そして、半導体チップの電極50と配線
基板の導体パッド20とを接続する作業の大幅な簡易化
とその容易化とが図れる。
【0054】上述の第1又は第2の半導体チップの接続
方法においては、そのa工程において、図9、図10、
図11、図12、図14、図15、図16又は図17に
示したように、配線基板の導体パッド20又は半導体チ
ップの電極50に塗布した粘着性のあるフラックス12
0を介して、第1の接続部材A又は第2の接続部材Bを
それを載置する配線基板の導体パッド20又は半導体チ
ップの電極50に動かぬように仮付けすると良い。そし
て、半導体チップの電極50と配線基板の導体パッド2
0とを接続する際に、第1の接続部材A又は第2の接続
部材Bが配線基板の導体パッド20又は半導体チップの
電極50から脱落するのを防ぐと良い。
【0055】上述の第1又は第2の半導体チップの接続
方法においては、そのb工程において、図9、図10、
図11、図12、図14、図15、図16又は図17に
示したように、半導体チップの電極50又は配線基板の
導体パッド20に塗布した粘着性のあるフラックス12
0を介して、第1の接続部材A又は第2の接続部材Bに
それに重ね合わせる半導体チップの電極50又は配線基
板の導体パッド20を動かぬように仮付けすると良い。
そして、半導体チップの電極50と配線基板の導体パッ
ド20とを接続する際に、第1の接続部材A又は第2の
接続部材Bから半導体チップの電極50又は配線基板の
導体パッド20が脱落するのを防ぐと良い。
【0056】前述の第1又は第2の半導体チップの接続
部材においては、図19又は図20に示したように、接
続部材本体120、140の上面及びその下面に露出し
た熱可塑性樹脂層130の上端面及びその下端面に接着
剤層400を形成すると良い。また、前述の第1又は第
2の半導体チップの接続部材の製造方法においては、接
続部材本体120、140の上面及びその下面に露出し
た熱可塑性樹脂層130の上端面及びその下端面に接着
剤層400を形成すると良い。また、前述の第1又は第
2の半導体チップの接続方法においては、第1の接続部
材A又は第2の接続部材Bに、接続部材本体120、1
40の上面及びその下面に露出した熱可塑性樹脂層13
0の上端面及びその下端面に接着剤層400を形成した
ものを用いると良い。
【0057】そして、その接続部材本体120、140
の上面及びその下面に露出した熱可塑性樹脂層130の
上端面及びその下端面に形成された接着剤層400を用
いて、第1の接続部材A又は第2の接続部材Bを配線基
板の導体パッド20及び半導体チップの電極50に動か
ぬように接合すると良い。そして、その第1の接続部材
A又は第2の接続部材Bを用いて半導体チップの電極5
0と配線基板の導体パッド20とを接続する際に、その
第1の接続部材A又は第2の接続部材Bが配線基板の導
体パッド20及び半導体チップの電極50から脱落する
のを防いだり、その第1の接続部材A又は第2の接続部
材Bから半導体チップの電極50及び配線基板の導体パ
ッド20が脱落するのを防いだりすると良い。そして、
第1の接続部材A又は第2の接続部材Bを用いて、半導
体チップの電極50と配線基板の導体パッド20とを的
確に接続できるようにすると良い。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1又は
第2の半導体チップの接続部材を用いた本発明の半導体
チップの接続方法によれば、本発明の第1又は第2の半
導体チップの接続部材を用いて、複雑な工程を踏まず
に、半導体チップの電極と配線基板の導体パッドとをは
んだ付け等により容易かつ迅速に接続できる。そして、
半導体チップをフリップチップボンディング方法により
配線基板に表面実装する作業の大幅な簡易化とその容易
化とが図れる。
【0059】また、熱可塑性樹脂層を介して、半導体チ
ップと配線基板とを強固に接合できる。そして、半導体
チップと配線基板との間にアンダーフィル材を充填し
て、そのアンダーフィル材により半導体チップと配線基
板とを強固に接合する面倒な作業を省くことができる。
【0060】本発明の第1又は第2の半導体チップの接
続部材の製造方法によれば、本発明の第1又は第2の半
導体チップの接続部材を容易かつ的確に形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の半導体チップの接続部材の斜視
図である。
【図2】本発明の第1の半導体チップの接続部材の正面
断面図である。
【図3】本発明の第1の半導体チップの接続部材の製造
工程説明図である。
【図4】本発明の第1の半導体チップの接続部材の製造
工程説明図である。
【図5】本発明の第2の半導体チップの接続部材の斜視
図である。
【図6】本発明の第2の半導体チップの接続部材の正面
断面図である。
【図7】本発明の第2の半導体チップの接続部材の製造
工程説明図である。
【図8】本発明の第2の半導体チップの接続部材の製造
工程説明図である。
【図9】本発明の第1の半導体チップの接続方法の工程
説明図である。
【図10】本発明の第1の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図11】本発明の第1の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図12】本発明の第1の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図13】本発明の第1の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図14】本発明の第2の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図15】本発明の第2の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図16】本発明の第2の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図17】本発明の第2の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図18】本発明の第2の半導体チップの接続方法の工
程説明図である。
【図19】本発明の第1の半導体チップの接続部材の正
面断面図である。
【図20】本発明の第2の半導体チップの接続部材の正
面断面図である。
【図21】従来の半導体チップの接続方法の工程説明図
である。
【図22】従来の半導体チップの接続方法の工程説明図
である。
【符号の説明】
10 配線基板 20 導体パッド 30 導体層 40 半導体チップ 50 電極 60 はんだバンプ 60a はんだバンプの頂部 70 アンダーフィル材 100 導体コア 110 導体層 120、140 接続部材本体 130 熱可塑性樹脂層 132 熱可塑性樹脂 200 コア板 210 ポンチ 220 接続部材本体形成板 230 熱可塑性樹脂槽 300 コア棒 310 接続部材本体形成棒 400 接着剤層 A 第1の接続部材 B 第2の接続部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5E085 BB26 CC01 DD01 EE15 FF08 HH01 JJ25 5E319 BB01 BB12 5F044 LL13

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高融点材料からなる柱状の導体コアの上
    面とその下面に、低融点材料からなる導体層を形成して
    なる接続部材本体の側面に、前記導体層とその融点がほ
    ぼ同一の熱可塑性樹脂層を形成してなる半導体チップの
    接続部材。
  2. 【請求項2】 高融点材料からなる柱状の導体コアの側
    面に、低融点材料からなる導体層を形成してなる接続部
    材本体の側面に、前記導体層とその融点がほぼ同一の熱
    可塑性樹脂層を形成してなる半導体チップの接続部材。
  3. 【請求項3】 導体コアが、高融点はんだ又は銅からな
    り、導体層が低融点はんだ又は導電性ペーストを用いて
    形成された導体からなり、熱可塑性樹脂層がポリイミド
    樹脂からなる請求項1又は2記載の半導体チップの接続
    部材。
  4. 【請求項4】 接続部材本体の上面及びその下面に露出
    した熱可塑性樹脂層の上端面及びその下端面に接着剤層
    を形成した請求項1、2又は3記載の半導体チップの接
    続部材。
  5. 【請求項5】 導体コア形成用材料からなるコア板の上
    面とその下面に、低融点材料からなる導体層を形成して
    なる接続部材本体形成板を形成した後、その接続部材本
    体形成板をその厚さ方向にポンチにより打ち抜いて、柱
    状の接続部材本体を形成し、次いで、その接続部材本体
    を溶融させた熱可塑性樹脂中に浸漬して、その接続部材
    本体の周囲に熱可塑性樹脂層を形成した後、その接続部
    材本体の上面とその下面とに形成した熱可塑性樹脂層を
    研磨により除去して、請求項1記載の接続部材を形成す
    ることを特徴とする半導体チップの接続部材の製造方
    法。
  6. 【請求項6】 導体コア形成用材料からなるコア棒の側
    面に、低融点材料からなる導体層を形成してなる接続部
    材本体形成棒を形成し、次いで、その接続部材本体形成
    棒を溶融させた熱可塑性樹脂中に浸漬して、その接続部
    材本体形成棒の側面に熱可塑性樹脂層を形成した後、そ
    の熱可塑性樹脂層を側面に形成した接続部材本体形成棒
    を一定長さに輪切り切断して、請求項2記載の接続部材
    を形成することを特徴とする半導体チップの接続部材の
    製造方法。
  7. 【請求項7】 コア板又はコア棒を、高融点はんだ又は
    銅を用いて形成し、導体層を低融点はんだ又は導電性ペ
    ーストを用いて形成し、熱可塑性樹脂層をポリイミド樹
    脂を用いて形成する請求項5又は6記載の半導体チップ
    の接続部材の製造方法。
  8. 【請求項8】 接続部材本体の上面及びその下面に露出
    した熱可塑性樹脂層の上端面及びその下端面に接着剤層
    を形成する請求項5、6又は7記載の半導体チップの接
    続部材の製造方法。
  9. 【請求項9】 次の工程を含むことを特徴とする半導体
    チップの接続方法。 a.配線基板に形成された導体パッド上に請求項1、2
    又は3記載の接続部材を載置する工程。 b.半導体チップの電極を前記接続部材上に重ね合わせ
    て、半導体チップを前記配線基板に載置する工程。 c.前記配線基板の導体パッド上に重ね合わせた接続部
    材を加熱して、その接続部材の低融点材料からなる導体
    層及び熱可塑性樹脂層を溶融させ、その溶融させた導体
    層により、前記半導体チップの電極と配線基板の導体パ
    ッドとを接続部材の導体コアを介して接続すると共に、
    その溶融させた熱可塑性樹脂層により、半導体チップの
    電極と配線基板の導体パッドとの接続箇所及びそれに連
    なる半導体チップ部分と配線基板部分とを連続して覆っ
    て、その熱可塑性樹脂層を介して、半導体チップと配線
    基板とを接合する工程。
  10. 【請求項10】 次の工程を含むことを特徴とする半導
    体チップの接続方法。 a.半導体チップの電極上に請求項1、2又は3記載の
    接続部材を載置する工程。 b.配線基板に形成された導体パッドを前記接続部材上
    に重ね合わせて、配線基板を前記半導体チップに載置す
    る工程。 c.前記半導体チップの電極上に重ね合わせた接続部材
    を加熱して、その接続部材の低融点材料からなる導体層
    及び熱可塑性樹脂層を溶融させ、その溶融させた導体層
    により、前記配線基板の導体パッドと半導体チップの電
    極とを接続部材の導体コアを介して接続すると共に、そ
    の溶融させた熱可塑性樹脂層により、配線基板の導体パ
    ッドと半導体チップの電極との接続箇所及びそれに連な
    る配線基板部分と半導体チップ部分とを連続して覆っ
    て、その熱可塑性樹脂層を介して、半導体チップと配線
    基板とを接合する工程。
  11. 【請求項11】 接続部材に、請求項4記載の接続部材
    を用いる請求項9又は10記載の半導体チップの接続方
    法。
  12. 【請求項12】 a工程において、配線基板の導体パッ
    ド又は半導体チップの電極に塗布したフラックスを介し
    て、前記接続部材をそれを載置する配線基板の導体パッ
    ド又は半導体チップの電極に仮付けする請求項9、10
    又は11記載の半導体チップの接続方法。
  13. 【請求項13】 b工程において、半導体チップの電極
    又は配線基板の導体パッドに塗布したフラックスを介し
    て、前記接続材料にそれに重ね合わせる半導体チップの
    電極又は配線基板の導体パッドを仮付けする請求項9、
    10、11又は12記載の半導体チップの接続方法。
  14. 【請求項14】 c工程において、半導体チップの電極
    と配線基板の導体パッドとの接続箇所を洗浄して、その
    接続箇所に付着したフラックスを除去する請求項12又
    は13記載の半導体チップの接続方法。
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