JP2000243232A - 電子放出素子、電子源基板および画像形成装置 - Google Patents

電子放出素子、電子源基板および画像形成装置

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JP2000243232A
JP2000243232A JP4552999A JP4552999A JP2000243232A JP 2000243232 A JP2000243232 A JP 2000243232A JP 4552999 A JP4552999 A JP 4552999A JP 4552999 A JP4552999 A JP 4552999A JP 2000243232 A JP2000243232 A JP 2000243232A
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JP
Japan
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electron
emitting device
emitting
voltage
substrate
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JP4552999A
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English (en)
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Masaaki Shibata
雅章 柴田
Masabumi Kiyougaku
正文 教學
Kazuya Miyazaki
和也 宮崎
Tomoko Maruyama
朋子 丸山
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Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子放出素子において、良好な電子放出特性
と高輝度を長時間にわたり実現する。 【解決手段】 基体と、基体上に形成された対向する一
対の素子電極と、素子電極と接続し間隙部を含む導電性
薄膜と、を有する電子放出素子であって、基体の二次電
子放出効率の最大値を2以下とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、電
子源基板およびその応用である表示装置等の画像形成装
置に係り、特に、新規な構成の表面伝導型電子放出素
子、それを用いた電子源基板および、その応用である表
示装置等の画像形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子として熱電子源と冷
陰極電子源の2種類が知られている。冷陰極電子源には
電界放出型(以下FE型と略す)、金属/絶縁層/金属
型(以下MIM型と略す)や表面伝導型電子放出素子等
がある。
【0003】FE型の例としては[W.P.Dyke&
W.W.Dolan,”Fieldemissio
n”,Advance in Electron Ph
ysics,8,89(1956)]あるいは[C.
A.Spindt,”Physical Proper
ties of thin−film field e
mission cathodes with mol
ybdenium cones”,J.Appl.Ph
ys.,47,5248(1976)]等が知られてい
る。
【0004】MIM型の例としては[C.A.Mea
d、”Operation of Tunnel−Em
ission Devices”,J.Apply.P
hys.32,646(1961)]等が知られてい
る。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
[M.I.Elinson、Radio Eng.El
ectronPhys.、10,1290,(196
5)]等がある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は基板上に形成さ
れた小面積の薄膜に、膜面に並行に電流を流すことによ
り、電子放出が生ずる現象を利用するものである。この
表面伝導型電子放出素子としては、前記エリンソン等に
よるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるもの
[G.Ditmmer,Thin Solid Fil
ms,9,317(1972)]、In23 /SnO
2 薄膜によるもの[M.Hartwell and
C.G.Fonsted,IEEE Trans.ED
Conf.,519(1975)]、カーボン薄膜に
よるもの[荒木久他:真空、第26巻、第1号、22頁
(1983)]等が報告されている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として前述のM.ハートウェルの素子構成を
図14に示す。同図において、1は絶縁性基板である。
4は導電性薄膜で、H型形状のパターンに、スパッタで
形成された金属酸化物薄膜等からなり、後述のフォーミ
ングと呼ばれる通電処理により線状の電子放出部5が形
成される。尚、図中の素子電極間隔Lは0.5〜1m
m、W’は0.1mmで設定されている。
【0008】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜4を予めフォ
ーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形
成するのが一般的であった。即ち、フォーミングとは前
記導電性薄膜4両端に直流電圧あるいは非常にゆっくり
とした昇電圧例えば1V/分程度を印加通電し、導電性
薄膜を局所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、電気的
に高抵抗な状態にした電子放出部5を形成することであ
る。尚、電子放出部5は導電性薄膜4の一部に亀裂が発
生しその亀裂付近から電子放出が行われる。前記フォー
ミング処理をした表面伝導型電子放出素子は、上述した
導電性薄膜4に電圧を印加し、素子に電流を流すことに
より、上述の電子放出部5より電子を放出せしめるもの
である。
【0009】一方、例えば特開平7−235255号に
開示されているように、フォーミングを終えた素子に対
して活性化処理と呼ばれる処理を施す場合がある。活性
化処理工程とは、この工程により、表面伝導型電子放出
素子の一対の対向する素子電極に電圧を印加したとき、
流れる電流(以下、素子電流Ifと呼ぶ)および真空中
に放出される電流(以下、放出電流Ieと呼ぶ)が、著
しく変化する工程である。
【0010】活性化工程は、有機物質を含有する雰囲気
下で、フォーミング処理同様、素子にパルス電圧の印加
を繰り返すことで行うことができる。この処理により、
雰囲気中に存在する有機物質から、炭素あるいは炭素化
合物が素子の少なくとも電子放出部に堆積し、素子電流
If,放出電流Ieが、著しく変化し、より良好な電子
放出特性を得ることができる。
【0011】以上のような電子放出素子を複数個形成し
た電子源基板を用い、蛍光体などからなる画像形成部材
と組み合わせることで画像形成装置を構成できる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年の
情報の高度化に伴うマルチメディア化の急激な進展によ
り、ディスプレイ等の画像形成装置に対して、更に高い
性能が求められてきている。すなわち、表示装置の大画
面化、省電力化、高精細化、高画質化、省スペース化等
である。
【0013】したがって、前述の電子放出素子において
は、電子放出素子を適用した画像形成装置が明るい表示
画像を安定して提供できるよう、高い効率で安定した電
子放出特性を更に長時間維持し続けられる技術が望まれ
ている。
【0014】ここで効率とは、表面伝導型電子放出素子
の素子電流Ifに対する放出電流Ieとの電流比をさ
す。
【0015】つまり、素子電流Ifはできるだけ小さ
く、放出電流Ieはできるだけ大きいことが望ましい。
【0016】高効率な電子放出特性を長時間にわたり安
定的に制御することができれば、例えば蛍光体を画像形
成部材とする画像形成装置においては、低電力で明るい
高品位な画像形成装置、例えばフラットテレビが実現で
きる。
【0017】放出電流Ieを大きくしようとすれば、電
子放出素子から放出された電子を画像形成部材に衝突さ
せるための加速電圧(Vaと呼ぶ)を大きくするのが有
効である。
【0018】一般には、電子放出素子と画像形成部材と
の距離を数mm〜数cm隔てて、数百V〜十数kV程度
のVaを印加する。
【0019】しかしながら、従来の電子放出素子にあっ
ては、基体として絶縁性の高いガラス基板を用いている
ため、電子放出素子や素子に電圧を供給するための配線
等の形成されていない部位、すなわち基板の露出した面
が帯電する場合があった。
【0020】この帯電のメカニズムは、詳しくは不明で
あるが、Vaが高くなるほど基体の露出面の電位が高く
なることが分かっている。この帯電による基体の露出面
の電位上昇が生じると、場合によっては、基体表面から
電子放出素子や配線に向かって放電が生じ、素子にダメ
ージを与えることがあった。
【0021】従って、大きなVaを印加して素子を駆動
する場合、上述の放電が電子放出素子の寿命を左右する
場合があり、上記電子放出素子を用いた画像表示装置の
品質を低下させる原因のひとつとなっていた。
【0022】本発明は、上記問題に鑑み、良好な電子放
出特性と高輝度を長時間にわたり実現する表面伝導型電
子放出素子、およびそれを用いた電子源および画像形成
装置を提供することを目的とするものである。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するために鋭意検討を行って成されたものであ
り、下述する構成のものである。
【0024】即ち、本発明の電子放出素子は、基体と、
基体上に形成された、対向する一対の素子電極と、素子
電極と接続し間隙部を含む導電性薄膜と、を有する電子
放出素子であって、該基体の二次電子放出効率の最大値
が2以下であることを特徴とする。上記電子放出素子と
しては、表面伝導型電子放出素子を好ましく用いること
ができる。上記基体がガラス基体を好ましく用いること
ができる。更に本発明は、電子源基板、画像形成装置を
包含する。
【0025】本発明の電子源基板は、入力信号に応じて
電子を放出する電子源基板であって、上記の電子放出素
子を、基体上に複数個配置したもので、好ましくは、個
々の素子の両端を配線に接続した電子放出素子の行を複
数もち、更に、入力信号を変調するための変調手段を有
することを特徴とする。更に好ましくは、基体に、互い
に電気的に絶縁されたm本のX方向金属配線とn本のY
方向金属配線との各交差部位において、電子放出素子の
一対の素子電極を前記X方向金属配線およびY方向金属
配線に各々接続し、電子放出素子をマトリクス状に配列
したことを特徴とするものである。
【0026】本発明の画像形成装置は、入力信号に基づ
いて画像を形成する装置であって、少なくとも、画像形
成部材と上記の電子源より構成されたことを特徴とする
ものである。
【0027】本発明の表面伝導型電子放出素子によれ
ば、基体を、二次電子放出効率の小さい材料で構成して
いるため、その表面における沿面放電が発生しにくく、
高いVaを印加した場合でも、放電等による素子の劣化
を抑制でき、その結果、安定した電子放出特性を長時間
にわたって維持し得る電子放出素子を実現できる。
【0028】更に、本発明の画像形成装置によれば、長
時間にわたり安定で良好な画像を形成できる。
【0029】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の好ましい実施態
様について述べる。まず、本発明にかかわる表面伝導型
電子放出素子の基本的な構成について説明する。
【0030】図1の(a)(b)は、それぞれ、本発明
にかかわる基本的な表面伝導型電子放出素子の構成を示
す平面図および断面図である。図1を用いて、本発明に
係る素子の基本的な構成を説明する。
【0031】図1において1は基体、2と3は素子電
極、4は導電性薄膜、5は間隙部である。基板1として
は、二次電子放出効率の最大値が2以下の材料を用いる
ことができる。特に、ガラス基板であれば、比較的安価
で、後述のように真空外囲器を構成する際に扱いやす
い。後述するように、二次電子放出効率が2を超える
と、基体表面と電子放出素子との間に電位差が生じた場
合、沿面放電が生じ易くなる。
【0032】なお、ここで言う二次電子放出効率は、電
位差が300V程度以上の場合に対する値である。
【0033】対向する素子電極2,3の材料としては導
電性を有するものであればどのようなものであっても構
わないが、例えばNi、Cr、Au、Mo、W、Pt、
Ti、Al、Cu、Pd等の金属或は合金およびPd、
Ag、Au、RuO2 、Pd−Ag等の金属或は金属酸
化物とガラス等から構成される印刷導体、In23
SnO2 等の透明導電体およびポリシリコン等の半導体
材料等が挙げられる。
【0034】素子電極間隔L、素子電極長さW、導電性
薄膜4の形状等は、この素子の応用形態等によって適宜
設計され、例えば、後述するテレビジョン等の表示装置
では、画面サイズに対応した画素サイズが設計され、と
りわけ、高品位テレビでは画素サイズが小さく高精細さ
が要求される。そのため、電子放出素子のサイズが限定
されたなかで十分な輝度を得るためには、十分な放出電
流が得られるように設計される。
【0035】素子電極間隔Lは、数十nmより数百μm
あり、素子電極の製造方法の基本となるフォトリソグラ
フィー技術、即ち、露光機の性能とエッチング方法等、
および素子電極間に印加する電圧により設定されるが、
好ましくは、数μmより数十μmである。
【0036】素子電極長さWおよび素子電極2,3の膜
厚dは、電極の抵抗値、前述したXY配線との結線、多
数配置された電子源の配置上の問題より適宜設計され、
通常は、素子電極の長さWは、数μmから数百μmであ
り、素子電極2,3膜厚dは、数nmより数μmであ
る。
【0037】導電性薄膜4には、良好な電子放出特性を
得るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが
好ましい。その膜厚は、素子電極2,3へのステップカ
バレージ、素子電極2,3間の抵抗値および後述するフ
ォーミング条件等を考慮して適宜設定される。
【0038】上記条件を満たす材料の例として、Ni、
Au、PdO、Pd、Pt等の導電材料をRs(シート
抵抗)が102 から107 /□の抵抗値を示す膜厚で形
成したものが好ましく用いられる。なおRsは、厚さが
t、幅がw、長さがlの薄膜の長さ方向に測定した抵抗
R、R=Rs(l/w)とおいたときに現われる値で、
抵抗率をρとすれば、Rs=ρ/tである。上記抵抗値
を示す膜厚はおよそ5nmから50nmの範囲にあり、
この膜厚範囲において、それぞれの材料の薄膜は微粒子
膜の形態を有している。
【0039】ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態あるいは微粒子が互いに隣接、あるい
は重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体
として島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。
【0040】微粒子の粒径は、数百pmから数百nmの
範囲、好ましくは、1nmから20nmの範囲である。
【0041】さて、前に例示した材料のなかでも、Pd
Oは、有機Pd化合物の大気中焼成により容易に薄膜形
成できること、半導体であるため比較的電気伝導度が低
く上記範囲の抵抗値Rsを得るための膜厚のプロセスマ
ージンが広いこと、間隙部形成後などに、容易に還元し
て金属Pdとすることができるので膜抵抗を低減し得る
こと、等から好適な材料である。しかしながら、本発明
の効果はPdOに限られることなく、また、上記例示し
た材料に限られるものではない。
【0042】間隙部5は、導電性薄膜4の一部に形成さ
れた、例えば亀裂等の高抵抗部であるが、後述する活性
化工程を経ることにより、炭素を主成分とした堆積物に
より、さらに狭い間隙部を有する構成となる。この間隙
部5に電圧が印加されると、電子が放出され、そのうち
の一部は素子電流Ifとなり、一部は真空中に放出さ
れ、放出電流Ieとなる。
【0043】間隙部5を有する電子放出素子の製造方法
としては様々な方法が考えられるが、その一例を図2に
示す。
【0044】以下、順をおって製造方法を図1および図
2に基づいて説明する。 1)基体1を洗剤、純水および有機溶剤により十分に洗
浄後、素子電極材料を、真空蒸着法、スパッタ法等によ
り堆積後、フォトリソグラフィー技術により素子電極
2,3を形成する(図2(a))。
【0045】2)基体1上に設けられた素子電極2と素
子電極3との間に、有機金属溶液を塗布して乾燥するこ
とにより、有機金属膜を形成する。なお、有機金属溶液
とは、前記Pd、Ni、Au、Pt等の金属を主元素と
する有機金属化合物の溶液である。この後、有機金属膜
を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング等によりパ
ターニングし、導電性薄膜4を形成する(図2
(b))。なお、ここでは、有機金属溶液の塗布法によ
り説明したが、導電性薄膜4の形成方法はこれに限るも
のでなく、真空蒸着法、スパッタ法、CVD法、分散塗
布法、ディッピング法、スピンナー法、インクジェット
法等によって形成される場合もある。
【0046】3)つづいて、フォーミングと呼ばれる通
電処理を、素子電極2,3間に電圧を不図示の電源によ
りパルス状電圧あるいは、昇電圧の印加により行うと、
導電性薄膜4の部位に構造の変化した間隙部5が形成さ
れる(図2(c))。この通電処理により導電性薄膜4
に形成された間隙部5の近傍から電子放出が生じる。
【0047】フォーミング処理以降の電気的処理は、図
3に示す測定評価装置内で行う。以下に測定評価装置を
説明する。図3は、図1で示した構成を有する素子の電
子放出特性を測定するための測定評価装置の概略構成図
である。図3において、1は基体、2および3は素子電
極、4は導電性薄膜、5は間隙部を示す。また、31は
素子に素子電圧Vfを印加するための電源、30は素子
電極2,3間の導電性薄膜4を流れる素子電流If測定
するための電流計、34は素子の電子放出部より放出さ
れる放出電流Ieを捕捉するためのアノード電極、33
はアノード電極34に電圧を印加するための高圧電源、
32は素子の電子放出部より放出される放出電流Ieを
測定するための電流計である。
【0048】電子放出素子の上記素子電流If、放出電
流Ieの測定にあたっては、素子電極2,3電源31と
電流計30とを接続し、該電子放出素子の上方に電源3
3と電流計32とを接続したアノード電極34を配置し
ている。また、電子放出素子およびアノード電極34は
真空装置内に設置され、その真空装置には不図示の排気
ポンプおよび真空計等の真空装置に必要な機器が具備さ
れており、所望の真空下で素子の測定評価を行えるよう
になっている。なお、排気ポンプは、オイルを使用しな
い、磁気浮上ターボポンプ、ドライポンプ等の高真空装
置系と更に、イオンポンプからなる超高真空装置系から
なる。また、真空装置全体、および電子放出素子は、不
図示のヒーターにより加熱できる。
【0049】なお、アノード電極の電圧を5kV〜10
kV、アノード電極と電子放出素子との距離Hは2mm
〜8mmの範囲で測定した。
【0050】フォーミング処理は、パルス波高値が定電
圧のパルスを印加する場合とパルス波高値を増加させな
がら、電圧パルスを印加する場合とがある。まず、パル
ス波高値が定電圧のパルスを印加の場合の電圧波形を図
4の(a)に示す。
【0051】図4の(a)中、T1およびT2は電圧波
形のパルス幅とパルス間隔であり、T1を1sec〜1
0msec、T2を10μsec〜100msecと
し、三角波の波高値(フォーミング時のピーク電圧)は
適宜選択する。
【0052】次に、パルス波高値を増加させながら、電
圧パルスを印加する場合の電圧波形を、図4の(b)に
示す。図4の(b)中、T1およびT2は電圧波形のパ
ルス幅とパルス間隔であり、T1を1sec〜10ms
ec、T2を10μsec〜100msecとし、三角
波の波高値(フォーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度づつ、増加させる。
【0053】なお、フォーミング処理の終了は、フォー
ミング用パルスの間に、導電性薄膜2を局所的に破壊、
変形しない程度の電圧例えば0.1V程度のパルス電圧
を挿入して素子電流を測定し、抵抗値を求め、例えば、
1MΩ以上の抵抗を示した時、フォーミングを終了とし
た。
【0054】以上説明した間隙部を形成する際に、素子
の電極間に三角波パルスを印加してフォーミング処理を
行っているが、素子の電極間に印加する波形は三角波に
限定することはなく、矩形波など所望の波形を用いても
よく、その波高値およびパルス幅、パルス間隔等につい
ても上述の値に限ることなく、間隙部が良好に形成され
るように、電子放出素子の抵抗値等にあわせて、適当な
値を選択する。
【0055】4)次に、フォーミングが終了した素子に
活性化処理を施す。活性化処理の工程は、有機物質を含
有する雰囲気下で行うが、この雰囲気は、例えば油拡散
ポンプやロータリーポンプなどを用いて真空容器内を排
気した場合に雰囲気内に残留する有機物質を利用して形
成することができる他、イオンポンプなどにより一旦十
分に排気した真空中に適当な有機物質を導入することに
よっても得られる。このときの好ましい有機物質の圧力
は、前述の応用の形態、真空容器の形状や、有機物質の
種類などにより異なるため場合に応じ適宜設定される。
【0056】適当な有機物質としては、アルカン、アル
ケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素
類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン
類、ニトリル類、フェノール、カルボン、スルホン酸等
の有機酸類等を挙げることが出来、具体的には、メタ
ン、エタン、プロパンなどCn2n+2で表される飽和炭
化水素、エチレン、プロピレンなどCn2n等の組成式
で表される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタ
ノール、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデ
ヒド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、
エチルアミン、フェノール、ベンゾニトリル、アセトニ
トリル、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用できる。
【0057】この処理により、雰囲気中に存在する有機
物質から、炭素が素子上に堆積し、素子電流If,放出
電流Ieが、著しく変化するようになる。
【0058】なお、活性化工程の終了判定は、素子電流
Ifおよび/または放出電流Ieを測定しながら、適宜
行う。パルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜
設定することができる。
【0059】5)こうして作製した電子放出素子に、好
ましくは、安定化工程を行う。この工程は、真空容器内
の有機物質を排気する工程である。真空容器内の圧力
は、1〜3×10-7Torr以下が好ましく、さらに1
×10-8Torr以下が特に好ましい。真空容器内を排
気するときには、真空容器全体を加熱して、真空容器内
壁や、電子放出素子に吸着した有機物質分子を排気しや
すくするのが好ましい。このときの加熱条件は、80〜
350℃、好ましくは200℃以上でできるだけ長時間
行なうのが望ましいが、特にこの条件に限るものではな
く、真空容器の大きさや形状、電子放出素子の構成など
の諸条件により適宜選ばれる条件により行う。
【0060】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。
【0061】このような真空雰囲気を採用することによ
り、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆積を抑制でき、
結果として素子電流If,放出電流Ieが安定する。
【0062】上述のような製造方法によって作製された
本発明を適用可能な電子放出素子の基本特性について図
3、図5を用いて説明する。図3に示した測定評価装置
により測定された放出電流Ieおよび素子電流Ifと素
子電圧Vfの典型的な例を図5に示す。なお、図5は、
放出電流Ieは素子電流Ifに比べて著しく小さいの
で、任意単位で示されており、いずれもリニアスケール
である。図5からも明らかなように、本電子放出素子は
放出電流Ieに対する三つの性質を有する。
【0063】まず第1に、本素子はある電圧(しきい値
電圧と呼ぶ、図5のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電圧Vt
h以下では放出電流Ieがほとんど検出されない。すな
わち、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧Vth
を持った非線形素子である。
【0064】第2に、放出電流Ieが素子電圧Vfに依
存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御でき
る。
【0065】第3に、アノード電極34に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。つ
まり、アノード電極34に捕捉される電荷量は、素子電
圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0066】以上のような表面伝導型電子放出素子の特
性を用いると、入力信号に応じて電子放出特性を容易に
制御できることになる。さらに、本発明にかかわる電子
放出素子は、長時間にわたって安定かつ高輝度な電子放
出特性を有するため、多方面への応用が期待できる。
【0067】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明による表面伝導型電子放
出素子の複数個を基板上に配列し、例えば電子源あるい
は、画像形成装置を構成できる。
【0068】基板上の素子の配列については、例えば、
多数の電子放出素子を並列に配置し、個々の素子の両端
を配線にて結線した、電子放出素子の行を多数個配し
(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向に(列方向
と呼ぶ)、該電子源の上方の空間に設置された制御電極
(グリッドと呼ぶ)により電子を制御駆動する配列形態
(はしご型という)、および次に述べるm本のX方向配
線の上にn本のY方向配線を、層間絶縁層を介して設置
し、表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極にそれぞ
れ、X方向配線、Y方向配線を接続した配列形態が挙げ
られる。以降これを単純マトリクス配置と呼ぶ。
【0069】次に、この単純マトリクス配置について詳
述する。本発明にかかわる表面伝導型電子放出素子の前
述した3つの基本的特性の特徴によれば、表面伝導型電
子放出素子からの放出電子は、しきい値電圧以上では、
対向する素子電極間に印加するパルス状電圧の波高値と
巾で制御できる。一方、しきい値電圧以下では、殆ど放
出されない。この特性によれば、多数の電子放出素子を
配置した場合でも、個々の素子に、上記パルス状電圧を
適宜印加すれれば、入力信号に応じて、表面伝導型電子
放出素子を選択し、その電子放出量が制御できる事とな
る。
【0070】以下この原理に基づき構成した電子源基板
の構成について、図6を用いて説明する。配線62、6
3は、複数の電子放出素子に給電するためのものであ
る。m本のX方向配線63はDX1、DX2・・・DX
m、nのY方向配線62はDY1、DY2・・・DYn
からなり、それぞれ、多数の電子放出素子にほぼ均等な
電圧が供給されるように、材料、膜厚、配線幅等が設計
される。これらm本のX方向配線63とn本のY方向配
線62の間には、層間絶縁層64が設置され、電気的に
分離されて、マトリクス配線を構成する(このm,n
は、共に正の整数)。
【0071】層間絶縁層64の形状、材料、膜厚、製法
は、配線62と配線63の交差部の電位差に耐え得るよ
うに適宜設定できるが、配線同様、印刷法により形成で
きるものが好ましく、ガラスペーストを印刷して得られ
るガラスの厚膜層が用いられる。
【0072】図6に示した構成、すなわちマトリクス配
置の構成において、X方向配線63には、X方向に配列
した電子放出素子の行を選択するための走査信号を印加
する不図示の走査信号印加手段が接続され、Y方向配線
62には、Y方向に配列した電子放出素子の各列を入力
信号に応じて、変調するための不図示の変調信号発生手
段が接続される。
【0073】各電子放出素子に印加される駆動電圧は、
当該素子に印加される走査信号と変調信号の差電圧とし
て供給され、単純なマトリクス配線を用いて、個別の素
子を選択し、独立に駆動可能とすることができる。
【0074】一方、このほかに、並列に配置した多数の
電子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行
を多数個配し、この配線と直交する方向で、該電子放出
素子の上方に配した制御電極により、電子放出素子から
の電子を制御駆動するはしご状配置のもの等があるが、
本発明は、特にこれらの配置によって限定されるもので
はない。
【0075】次に、以上のようにして作製した電子源基
板を用いた、表示等に用いる画像形成装置について、図
7と図8を用いて説明する。図7は、画像形成装置の基
本構成図であり、図8は蛍光膜である。
【0076】図7において、71は電子放出素子を複数
配した電子源基板、72は電子源基板71を固定したリ
アプレート、77はガラス基板74の内面に蛍光膜75
とメタルバック76等が形成されたフェースプレートで
あり、73は支持枠である。リアプレート72、支持枠
73およびフェースプレート77をフリットガラス等を
塗布し、大気中あるいは、窒素中で加熱焼成すること
で、封着して、外囲器79を構成する。ここで、フリッ
トガラスは、基板の熱膨張率にあわせたものを用いる
と、剥がれや基板の変形、割れ等を生じにくくなるため
好ましい。
【0077】外囲器79は、上述の如く、フェースプレ
ート77、支持枠73、リアプレート72で構成した
が、リアプレート72は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート72は不要であり、基板7
1に直接支持枠73を封着し、フェースプレート77、
支持枠73、基板71で外囲器79を構成しても良い。
【0078】一方、フェースプレート77、リアプレー
ト72間に、スペーサーとよばれる不図示の支持体を設
置することにより、大気圧に対して十分な強度をもつ外
囲器79を構成することもできる。
【0079】図8は、蛍光膜である。蛍光膜75は、モ
ノクロームの場合は蛍光体のみから成るが、カラーの蛍
光膜の場合は、蛍光体の配列によりブラックストライプ
あるいはブラックマトリクスなどと呼ばれる黒色導電材
81と蛍光体82とで構成される。ブラックストライ
プ、ブラックマトリクスが設けられる目的は、カラー表
示の場合必要となる3原色蛍光体の、各蛍光体82間の
塗り分け部を黒くすることで混色等を目立たなくするこ
とと、蛍光膜75における外光反射によるコントラスト
の低下を抑制することにある。ブラックストライプ等の
黒色導電材81の材料としては、通常良く用いられてい
る黒鉛を主成分とする材料だけでなく、導電性があり、
光の透過および反射が少ない材料であればこれに限るも
のではない。
【0080】ガラス基板74に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法、印刷法等
が用いられる。
【0081】また、蛍光膜75の内面側には通常メタル
バック76が設けられる。メタルバック76の目的は、
蛍光体82の発光のうち内面側への光をフェースプレー
ト77側へ鏡面反射させることにより輝度を向上させる
こと、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として
作用させること、外囲器79内で発生した負イオンの衝
突によるダメージからの蛍光体82の保護等である。メ
タルバック76は、蛍光膜75作製後、蛍光膜75の内
面側表面の平滑化処理(通常フィルミングと呼ばれる)
を行い、その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させるこ
とで作製できる。
【0082】フェースプレート77には、更に蛍光膜7
5の導電性を高めるため、蛍光膜75の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0083】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行なう必要がある。
【0084】外囲器79は、不図示の排気管を通じ、1
×10-7Torr程度の真空度にした後、封止がおこな
われる。また、外囲器79の封止後の真空度を維持する
ために、ゲッター処理を行なう場合もある。これは、外
囲器79の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱
あるいは高周波加熱等の加熱法により、外囲器79内の
所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、
蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が
主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえば1
×10-5ないしは1×10-7Torrの真空度を維持す
るものである。
【0085】以上により完成した本発明に係る画像表示
装置において、各電子放出素子には、容器外端子Dox
1ないしDoxm、Doy1ないしDoynを通じ、電
圧を印加することにより、電子放出させ、高圧端子78
を通じ、メタルバック76あるいは透明電極(不図示)
に数kV以上の高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍
光膜75に衝突させ、励起・発光させることで画像を表
示するものである。
【0086】なお、以上述べた構成は、表示等に用いら
れる好適な画像形成装置を作製する上で必要な概略構成
であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述の内
容に限られるものではなく、画像装置の用途に適するよ
う適宜選択する。
【0087】
【実施例】以下、実施例を挙げて、本発明をさらに詳述
する。 (実施例1)本実施例にかかわる基本的な表面伝導型電
子放出素子の構成は、図1の(a)(b)の平面図およ
び断面図と同様である。
【0088】本実施例にかかわる表面伝導型電子放出素
子の製造法は、基本的には図2と同様である。以下、図
1、図2を用いて、本実施例に関わる素子の基本的な構
成および製造法を説明する。
【0089】以下、順をおって製造方法の説明を図1お
よび図2に基づいて説明する。 工程−a 最初に、清浄化したV25 −P25 −Cs2 Oガラ
ス(二次電子放出効率δmax=1.6、Vmax=3
50V)基板1上に、素子電極2,3と所望の素子電極
間ギャップLとなるべきパターンをホトレジスト(RD
−2000N−41日立化成社製)で形成し、電子ビー
ム蒸着法により、厚さ5nmのTi、厚さ100nmの
Niを順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶剤
で溶解し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極
間隔Lは3μmとし、素子電極の幅Wが300μmを有
する素子電極2,3を形成した。
【0090】工程−b 膜厚100nmのCr膜を真空蒸着により堆積し、後述
の導電性薄膜4の形状に対応する開口を有するようにパ
ターニングし、そのうえに有機パラジウム化合物溶液
(ccp4230奥野製薬(株)社製)をスピンナーに
より回転塗布、300℃で12分間の加熱焼成処理をし
た。また、こうして形成された主元素としてPdよりな
る微粒子からなる導電性薄膜4の膜厚は10nm、シー
ト抵抗Rsは2×104 Ω/□であった。なお、ここで
述べる微粒子膜とは、前述したように、複数の微粒子が
集合した膜である。
【0091】工程−c Cr膜および焼成後の導電性薄膜4を酸エッチャントに
よりエッチングして所望のパターンの導電性薄膜4を形
成した。以上の工程により、基体1上に、素子電極2,
3および導電性薄膜4を形成した。
【0092】工程−d 次に、この基体1を図3の測定評価装置に設置し、真空
ポンプにて排気し、1×10-8Torrの真空度に達し
た後、素子に素子電圧Vfを印加するための電源31に
より、素子電極2,3間に電圧を印加し、フォーミング
処理を行なった。フォーミング処理の電圧波形は図4の
(b)に示したものである。
【0093】図4の(b)中、T1びT2は電圧波形の
パルス幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1m
sec、T2を10msecとし、矩形波の波高値は
0.1Vステップで昇圧し、フォーミング処理を行なっ
た。また、フォーミング処理中は、同時に、0.1Vの
電圧で、フォーミング用パルスの間に抵抗測定パルスを
挿入し、抵抗を測定した。なおフォーミング処理の終了
は、抵抗測定パルスでの測定値が、約1MΩ以上になっ
た時とし、同時に、素子への電圧の印加を終了した。
【0094】工程−e 続いて、活性化工程を行なうために、ベンゾニトリルを
スローリークバルブを通して真空装置内に導入し、1.
0×10-6Torrを維持した。次にフォーミング処理
した素子に、図9に示した波形で波高値を14Vで活性
化処理をした。すなわち、測定評価装置内で、素子電流
Ifを測定しながら、素子電極間にパルス電圧を印加し
た。約30分でIf値がほぼ飽和したため、通電を停止
し、スローリークバルブを閉め、活性化処理を終了し
た。
【0095】工程−f 続いて、安定化工程を行なった。真空装置および電子放
出素子をヒーターにより加熱して約250℃に維持しな
がら真空装置内の排気を続けた。20時間後、ヒーター
による加熱をやめ、室温に戻したところ真空装置内の圧
力は5×10-1 0 Torr程度に達した。
【0096】続いて、電子放出特性の測定を行なった。
アノード電極34と電子放出素子の間の距離Hを4mm
とし、高圧電源33によりアノード電極34に10kV
の電位を与えた。この状態で、電源31を用いて素子電
極2、3の間に波高値14Vの矩形パルス電圧を印加し
て、電流計30および電流計32により、本実施例の素
子および比較例の素子の素子電流Ifおよび放出電流I
eをそれぞれ測定した。
【0097】なお、測定中、基体1の露出した表面の電
位を表面電位計で測定したところ、数分間で300V以
上の電位上昇が見られた。
【0098】本実施例の素子の電子放出特性は、素子電
流If=4.0mA、放出電流Ie=25.3μA、電
子放出効率η(=Ie/If)=0.63%であり、長
時間駆動し続けたが、特に放電等は発生せず、良好な特
性を維持した。
【0099】(比較例1)本比較例では、基体1として
石英ガラス(二次電子放出効率δmax=2.1、Vm
ax=400V)基板を用いた他は、実施例1と同様の
構成であり、同様の製造法により電子放出素子を作製し
たものである。本比較例の素子を、実施例1と同様に電
子放出特性の測定を行なった。
【0100】アノード電極34と電子放出素子の間の距
離Hを4mmとし、高圧電源33によりアノード電極3
4に10kVの電位を与えた。この状態で、電源31を
用いて素子電極2,3の間に波高値14Vの矩形パルス
電圧を印加して、電流計30および電流計32により、
本実施例の素子および比較例の素子の素子電流Ifおよ
び放出電流Ieをそれぞれ測定した。
【0101】なお、測定中、基体1の露出した表面の電
位を表面電位計で測定したところ、数分間で300V以
上の電位上昇が見られた。
【0102】本実施例の素子の電子放出特性は、素子電
流If=4.0mA、放出電流Ie=24.0μA、電
子放出効率η(=Ie/If)=0.60%であった
が、駆動し始めて数分間の後、放電が発生し、素子特性
が大きく劣化した。
【0103】(実施例2)本実施例は、多数の表面伝導
電子放出素子を単純マトリクス配置した画像形成装置の
例である。電子源基板の一部を図10に示す。また、図
中のA−A’断面図を図11に示す。但し図10、図1
1で、同じ記号を示したものは、同じものを示す。ここ
で1は基体、63は図6のDXmに対応するX方向配線
(上配線とも呼ぶ)、62は図6のDYn対応するY方
向配線(下配線とも呼ぶ)、4は導電性薄膜、2,3は
素子電極、5は間隙部、64は層間絶縁層である。
【0104】次に製造方法を図12および13により工
程順に具体的に説明する。 工程−a 清浄化したV25 −P25 −Cs2 Oガラス(二次
電子放出効率δmax=1.6、Vmax=350V)
基体1上に、スパッタ法により厚さ5nmのTi、厚さ
50nmのPtを順次堆積する。その後、素子電極2,
3のパターンをフォトレジストで形成し、ドライエッチ
ング処理によって素子電極2,3のパターン以外のPt
/Ti堆積層を除去し、最後にフォトレジストパターン
を除去して、素子電極2,3を形成する(図12の
(a))。
【0105】工程−b 素子電極2,3を形成した基体1上に、スクリーン印刷
により、配線62のパターンをAgペーストを用いて形
成し、乾燥後、500℃で焼成し、Agからなる所望の
形状の配線62を形成する(図12の(b))。
【0106】工程−c 次に層間絶縁層64のパターンを、スクリーン印刷によ
り、ガラスペーストを用いて形成し、乾燥後、500℃
で焼成する。十分な絶縁性を得るために、再度、ガラス
ペーストを印刷、乾燥、焼成を繰り返して、ガラスから
なる所望の形状の層間絶縁層64を形成する(図12の
(c))。
【0107】工程−d 層間絶縁層64を形成した部位において下配線62と交
差するように、上配線63のパターンを、スクリーン印
刷により、Agペーストを用いて形成し、乾燥後、50
0℃で焼成し、Agからなる所望の形状の上配線63を
形成する(図13の(a))。以上の工程により、素子
電極2,3が配線62,63によってマトリクス状に結
線された、基板が形成できる。
【0108】工程−e 次に、導電性薄膜4を素子電極2,3のギャップ間にま
たがるように形成する。導電性薄膜4の形成は、有機パ
ラジウム溶液をインクジェット法により所望の位置に塗
布し、350℃で30分間の加熱焼成処理をする。こう
してPdOを主成分とする微粒子からなり、膜厚は約1
0nmの導電性薄膜4を得る(図13の(b))。以上
の工程a〜eにより基体1上に下配線62、層間絶縁層
64、上配線63、素子電極2,3および導電性薄膜4
を形成し、電子源基板を作製した。
【0109】以下に、本実施例の電子源基板を用いて、
画像形成装置を構成した例を、図7と図1を用いて説明
する。以上のようにして作製した電子源基板71をリア
プレート72上に固定した後、電子源基板71の5mm
上方に、フェースプレート77(ガラス基板74の内面
に蛍光膜75とメタルバック76が形成されて構成され
る)を支持枠73を介し配置し、フェースプレート7
7、支持枠73、リアプレート72の接合部にフリット
ガラスを塗布し、大気中で400℃で30分焼成するこ
とで封着した。
【0110】蛍光膜75は、モノクロームの場合は蛍光
体のみから成るが、本実施例では蛍光体はストライプ形
状を採用し、先にブラックストライプを形成し、その間
隙部に各色蛍光体を塗布し、蛍光膜75を作製した。ブ
ラックストライプの材料として通常良く用いられている
黒鉛を主成分とする材料を用いた。ガラス基板74に蛍
光体を塗布する方法はスラリー法を用いた。
【0111】また、蛍光膜75の内面側には通常メタル
バック76が設けられる。メタルバックは、蛍光膜75
作製後、蛍光膜75の内面側表面の平滑化処理(通常フ
ィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸
着することで作製した。
【0112】フェースプレート77には、更に蛍光膜7
5の電気等の伝導率を高めるため、蛍光膜75の外面側
に透明電極(不図示)が設けられる場合もあるが、本実
施例では、メタルバックのみで十分な伝導率が得られた
ので省略した。
【0113】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行った。
【0114】以上のようにして完成したガラス容器内の
雰囲気を排気管(図示せず)を通じ真空ポンプにて排気
し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dox1ない
しDoxmとDoy1ないしDoynを通じ素子電極
2,3に電圧を印加し、導電性薄膜4をフォーミング処
理した。フォーミング処理の電圧波形は、図3の(b)
と同様である。
【0115】本実施例ではT1を1msec、T2を1
0msecとし、約1×10-5Torrの真空雰囲気下
で行った。
【0116】その後、一旦、真空ポンプにて排気しなが
ら、ガラス容器全体を200℃で2時間加熱した。この
とき、PdOを主成分とする導電性薄膜4は熱還元さ
れ、Pdを主成分とする膜となった。
【0117】次に、パネル内の圧力が10-8Torr台
に達するまで排気を続けた後、パネルの排気管より、全
圧が1×10-6Torrとなるように有機物質をパネル
内に導入し、維持した。容器外端子Dox1ないしDo
xmとDoy1ないしDoynを通じ素子電極2,3間
に、15Vの波高値のパルス電圧を印加し、活性化処理
を行った。このように、フォーミング、活性化処理を行
ない、間隙部5を形成した(図13の(c))。
【0118】次に10-6Torr程度の圧力まで排気
し、不図示の排気管をガスバーナーで熱することで溶着
し外囲器の封止を行った。
【0119】最後に封止後の圧力を維持するために、高
周波加熱法でゲッター処理を行った。
【0120】以上のように完成した本発明の画像表示装
置において、各電子放出素子には、容器外端子Dox1
ないしDoxm,Doy1ないしDoynを通じ、走査
信号および変調信号を不図示の信号発生手段よりそれぞ
れ印加することにより、電子放出させ、高圧端子78を
通じ、メタルバック76、あるいは透明電極(不図示)
に10kVの高圧を印加し、電子ビームを加速し、蛍光
膜75に衝突させ、励起・発光させることで画像を表示
した。
【0121】本実施例における画像表示装置は、テレビ
ジョンとして十分満足できる輝度で良好な画像を長時間
にわたって安定に表示することができた。
【0122】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、基
体として二次電子放出係数が2以下と小さい材料を用い
たため、高いVaを印加しても放電等の影響が無く、安
定な電子放出電流を長時間にわたり取り出すことが可能
な電子放出素子を提供できる。
【0123】さらには、入力信号に応じて電子を放出す
る電子源基板においては、本発明の電子放出素子を、基
板上に複数個配置して電子源を構成することにより、ま
た、個々の素子の両端を配線に接続した電子放出素子の
行を複数もち、更に、入力信号を変調するための変調手
段を有している配置法、あるいは、基板に、互いに電気
的に絶縁されたm本のX方向配線とn本のY方向配線と
の各交差部位において、電子放出素子の一対の素子電極
をX方向金属配線およびY方向金属配線に各々接続し、
電子放出素子をマトリクス状に配列した配置とする電子
源基板とすることで、各電子放出素子が、良好な電子放
出特性を長時間にわたり保持し得る電子源を提供でき
る。
【0124】また、本発明の画像形成装置においては、
画像形成部材と本発明の電子源基板より構成され、入力
信号に基づいて画像を形成するため、電子放出特性の安
定性と寿命の向上がなされ、例えば蛍光体を画像形成部
材とする画像形成装置においては、高品位な画像形成装
置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る基本的な表面伝導型電子放出素
子の構成を示す図である。
【図2】 本発明に係る表面伝導型電子放出素子の基本
的な製造方法を説明するための図である。
【図3】 本発明に係る表面伝導型電子放出素子の特性
評価に用いる測定評価装置の図である。
【図4】 本発明に係るフォーミング処理における電圧
波形の一例を示す図である。
【図5】 本発明に係る表面伝導型電子放出素子の放出
電流、素子電流、および素子電圧の関係の典型例を示す
図である。
【図6】 本発明に係る電子源基板の構成を示す図であ
る。
【図7】 本発明に係る画像形成装置の基本構成を示す
図である。
【図8】 図7の画像形成装置に用いられる蛍光膜を示
す図である。
【図9】 本発明に好適な活性化パルスの形状である。
【図10】 本発明の実施例2の電子源の構成の一部を
示す図である。
【図11】 図10のA−A′断面図である。
【図12】 本発明の実施例2の電子源の製造工程を説
明するための図である。
【図13】 本発明の実施例2の電子源の製造工程を説
明するための図である。
【図14】 従来の表面伝導電子放出素子の構成を示す
図。
【符号の説明】
1:基体、2,3:素子電極、4:導電性薄膜、5:間
隙部、30:素子電極2,3間の導電性薄膜を流れる素
子電流Ifを測定するための電流計、31:電子放出素
子に素子電圧Vfを印加するための電源、32:素子の
電子放出部より放出される放出電流Ieを測定するため
の電流計、33:アノード電極34に電圧を印加するた
めの高圧電源、34:アノード電極、62:Y方向配
線、63:X方向配線、64:層間絶縁層、71:電子
源基板、72:リアプレート、73:支持枠、74:フ
ェースプレート用ガラス基板、75:蛍光膜、76:メ
タルバック、77:フェースプレート、78:高圧端
子、79:外囲器、81:黒色導電材、82:蛍光体。
フロントページの続き (72)発明者 宮崎 和也 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 (72)発明者 丸山 朋子 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 Fターム(参考) 5C036 EE01 EE09 EF01 EF06 EF09 EG02 EG12 EH21

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体と、該基体上に形成された対向する
    一対の素子電極と、該素子電極と接続し間隙部を含む導
    電性薄膜と、を有する電子放出素子であって、該基体の
    二次電子放出効率の最大値が2以下であることを特徴と
    する電子放出素子。
  2. 【請求項2】 前記電子放出素子は、表面伝導型電子放
    出素子であることを特徴とする請求項1に記載の電子放
    出素子。
  3. 【請求項3】 前記基体がガラス基体である請求項1ま
    たは2に記載の電子放出素子。
  4. 【請求項4】 入力信号に応じて電子を放出する電子源
    基板であって、請求項1〜3のいずれかに記載の電子放
    出素子を、基体上に複数個配置したことを特徴とした電
    子源基板。
  5. 【請求項5】 前記電子放出素子を複数個並列に配置
    し、個々の素子の両端を金属配線に接続した電子放出素
    子の行を複数もち、更に、前記入力信号の変調手段を有
    することを特徴とする請求項4に記載の電子源基板。
  6. 【請求項6】 互いに電気的に絶縁されたm本のX方向
    金属配線とn本のY方向金属配線との各交差部位におい
    て、前記電子放出素子の一対の素子電極を前記X方向金
    属配線およびY方向金属配線に各々接続し、前記電子放
    出素子をマトリクス状に配列したことを特徴とする請求
    項5に記載の電子源基板。
  7. 【請求項7】 入力信号にもとづいて、画像を形成する
    装置であって、少なくとも、画像形成部材と請求項4か
    ら6のいずれかに記載の電子源基板より構成されたこと
    を特徴とする画像形成装置。
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