JP2000246649A - 研磨用パッド - Google Patents

研磨用パッド

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JP2000246649A
JP2000246649A JP5524699A JP5524699A JP2000246649A JP 2000246649 A JP2000246649 A JP 2000246649A JP 5524699 A JP5524699 A JP 5524699A JP 5524699 A JP5524699 A JP 5524699A JP 2000246649 A JP2000246649 A JP 2000246649A
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polishing pad
pad
wafer
polishing
shore hardness
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JP5524699A
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Tsutomu Yamada
山田  勉
Tomio Kubo
富美夫 久保
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Okamoto Machine Tool Works Ltd
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Okamoto Machine Tool Works Ltd
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 絶縁膜と金属層間の段差が小さく、厚み均一
性に優れたウエハを与える、耐熱性に優れたCMP研磨
用パッドの提供。 【解決手段】 ウエハ表面に研磨パッドを押圧し、ウエ
ハチャック機構のスピンドル軸と研磨パッドのスピンド
ル軸を回転させることにより回転するウエハ面に回転す
る研磨パッドを摺擦させてウエハを研磨するのに用いら
れる研磨パッドにおいて、該研磨パッドのウエハ面を摺
擦する樹脂表面層は、粒径が0.1μm以下のベ−マイ
ト砥粒を含有することを特徴とする、ウエハ研磨用パッ
ド。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶デバイス、ウ
エハデバイス、磁気ディスク等、特にパタ−ン模様が施
されたウエハ、あるいはウエハ表面にパタ−ン模様を形
成させる際に用いるCMP研磨用パッドに関する。
【0002】
【従来の技術】液晶デバイス、ウエハデバイス等の半導
体素子の製造工程において、デバイス素子が形成された
ワ−ク(被加工物)を研磨することは行われている。例
えば、シリコンウエハ鏡面にアルミニウムを蒸着して回
路パタ−ンを形成し、その上にBPSG、PTEOSま
たは酸化珪素等の絶縁膜を積層形成した後、この絶縁膜
を研磨パッドにより平坦に研磨し、さらにその上に素子
の内部構造を形成することが行われている。
【0003】また、シリコン基板の表面に形成された絶
縁膜に形成されたスル−ホ−ルに蒸着により銅膜を形成
し、銅膜を研磨して銅配線を形成させることも行われ
る。半導体ウエハの研磨パッドとしては、ポリエステル
不織布にポリウレタン樹脂を含浸させ、硬化させたベロ
アタイプパッド、ポリエステル不織布基材の上に熱可塑
性樹脂を溶解したウレタンプレポリマ−溶液を塗布し、
硬化させて人工皮革の表面層を形成させたスエ−ドタイ
プパッド、発泡ポリウレタンの弾性研磨層に硬練り不活
性ニトリルゴム層を積層した複層構造パッド(USP3
504457号)、ショア硬度60〜80、空隙率45
〜70%の発泡ポリウレタン弾性研磨層の下に空隙率4
0〜60%のより硬い発泡ポリウレタン弾性支持層を接
着剤で貼着した複層構造パッド(特開平7−26621
9号)が使用されている。
【0004】さらに、研磨速度を向上させるために、シ
リカ、酸化セリウム、アルミナ等の砥粒を15〜50重
量%含有させたウレタン発泡弾性体パッドを使用するこ
とも提案されている(特開平6−114742号、同8
−290356号)。しかしながら、回路形成のアルミ
ニウムや銅のメタル層の上に形成された酸化珪素、酸化
テルル、酸化アルミニウム等の絶縁膜を研磨パッドで研
磨剤スラリ−を供給しながらCMP研磨し、メタルライ
ンが露出するまで絶縁膜を磨くにおいて、全体を平坦に
研磨することと、メタルラインが削り込まれ過ぎないよ
うにする必要があり、パッドがショア硬度50〜75の
弾性体の柔らかいものではウエハの厚み均一性は5〜1
0%と良好であるが、段差が2000〜4500オング
ストロ−ムと高い欠点があり、逆にショア硬度80〜1
10の硬質パッドを用いると、段差は500〜1000
オングストロ−ムと良好であるが、厚み均一性が15〜
20%と損なわれる。
【0005】さらに前述の旧モ−ス硬度が7〜10と硬
い研磨砥粒を含有させたパッドは、研磨速度が速いが、
巨大粒子(二次凝集粒子)が含まれ易いので得られるウ
エハの段差が大きい欠点がある。
【0006】近時、CMP研磨されたウエハの段差が2
00〜800オングストロ−ム、厚み均一性が2〜8%
であることが要求されている。かかる要求性能を満たす
パッドとして、特開平7−266219号公報はダイヤ
フラムに固定された円環状のウエハストッパ−に保持さ
れたキャリヤ−にウエハを揺動自在に付着し、研磨パッ
ドとしてショア硬度80〜100の硬質表面層とショア
硬度50〜70の発泡ポリウレタン弾性支持層よりなる
複層構造のパッドを用いることを提案する。
【0007】このパッドは前記要求性能を満たすが、研
磨速度の向上が望まれている。また、特開平10−30
3152号公報は、ヘッド内のダイヤフラムに揺動自在
に取り付けたパッドを用い、チャック機構に取り付けた
ウエハをCMP研磨することを提案するが、パッドの構
造を開示するものではない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、厚み均一性
に優れ、段差が小さいデバイス液晶、デバイスウエハを
与え、かつ、研磨速度が速い研磨用パッドの提供を目的
とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、ワ−ク表面に
研磨パッドを押圧し、ワ−クチャック機構のスピンドル
軸と研磨パッドのスピンドル軸を回転させることにより
回転するワ−ク面に回転する研磨パッドを摺擦させてワ
−クを研磨するのに用いられる研磨パッドにおいて、該
研磨パッドのワ−ク面を摺擦する樹脂表面層は、ベ−マ
イト砥粒を5〜50重量%含有する、ウエハ研磨用パッ
ドを提供するものである。パッドに柔らかいベ−マイト
砥粒を含有させたことにより、厚み均一性、段差の程度
を低下させることなく、ワ−クの研磨速度を速めること
ができた。
【0010】本発明はまた、前記パッドとして、樹脂表
面層のショア硬度(ASTM−D2240)が75〜1
00のものを用いる。ショア硬度が75〜100のもの
を用いることにより、得られるワ−クの厚み均一性と段
差のバランスが向上する。
【0011】本発明はさらに、前記パッドとして、ショ
ア硬度が85〜100である樹脂表面層とショア硬度5
0〜75の弾性支持層を有する複層構造体を用いる。弾
性支持層のクッション性によりパッドの樹脂表面層のワ
−クへのなじみを良好とする。
【0012】前記パッドは、樹脂表面層の厚みが0.5
〜1.5mm、弾性支持層の厚みが1〜3mmである。
これら厚みとすることにより、パッドの樹脂表面層のワ
−クへのなじみを良好とし、厚み均一性に優れ、段差の
小さいワ−クを与える。前記パッドの弾性支持層は、空
隙率が30〜70%の樹脂発泡体である。パッドが圧縮
され、圧縮された空隙内の空気の反発力によりパッドの
硬質樹脂表面層のワ−クへのなじみが良好とする。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、発明を詳細に説明する。本
発明の研磨パッドは、ワ−ク面を摺擦する硬質樹脂表面
層が、粒径0.1μm以下のベ−マイト砥粒を5〜50
重量%、好ましくは5〜15重量%含有する。ベ−マイ
トの含有量が5重量%未満では研磨速度の向上に寄与し
ない。また、50重量%を超えてはパッドのクッション
性が低下し、パッドのワ−ク表面への追従性が損なわれ
る。
【0014】ベ−マイトは、旧モ−ス硬度が3〜4と低
く、柔らかい砥粒であり、アルミナ水和物の一種で、A
l・OOHまたはAl2・xH2Oまたはスラリ−中の陰
イオンと結合したAl2・xH2O(y酸)で示される。
酸としては塩酸、酢酸、硝酸等が挙げられる。粒径は、
0.1μm以下、好ましくは0.01〜0.03μmで
ある。ベ−マイトは、アルミナ水和物の一種のジプサイ
ト、バイアライト等を180〜250℃の温度で加圧水
熱処理するか、ポリエチレンやポリプロピレンの合成に
用いられるチグラ−触媒成分のトリイソプロポキシアル
ミニウムを加水分解することにより製造される粉体状ま
たはコロイド状のものである。
【0015】ベ−マイトはパッドの樹脂表面層に5〜5
0重量%の割合で含有させる。ウエハの主素材は、ウ
レタン樹脂発泡体、ポリエステル繊維、ポリビニルア
ルコ−ル繊維、ナイロン繊維等の繊維の不織布の表面
に、発泡性ウレタンプレポリマ−溶液を塗布、含浸さ
せ、ついで発泡させたもの、前記不織布に、エチレン
・酢酸ビニル共重合体を発泡性ウレタンプレポリマ−と
共に溶解した溶液を塗布、含浸させ、ついで発泡させた
もの、ショア硬度の異なるウレタン発泡体同士を接着
剤で貼付したもの、空隙率が30〜70%のウレタン
樹脂発泡体の表面に発泡性ウレタンプレポリマ−溶液を
塗布、含浸させ、ついで発泡させたもの、ウレタン樹
脂発泡体の表面に不織布を載せ、ついでこの不織布の表
面に、発泡性ウレタンプレポリマ−溶液を塗布、含浸さ
せ、ついで発泡させたもの、等が利用できる。
【0016】なかでも、ショア硬度が85〜100であ
る硬質ウレタン樹脂表面層と、ショア硬度50〜75、
空隙率が30〜70%のウレタン樹脂発泡体の弾性支持
層よりなる複層構造体が好ましい。硬質樹脂表面層の厚
みは、0.5〜1.5mm、弾性支持層の厚みは1〜3
mmが好ましい。
【0017】ウレタン樹脂としては、ポリオ−ル等の活
性水素含有化合物と鎖延長剤とポリイソシアネ−ト化合
物とを反応させて得られる一般にウレタン発泡体形成材
料が用いられる。ポリオ−ルとしては、エチレングリコ
−ル、テトラメチレングリコ−ル、トリメチロ−ルプロ
パン、等の分子量が50〜500と小さい鎖延長剤の役
割のポリオ−ルと、ポリエチレンアジペ−ト、ポリオキ
シテトラメチレンアジペ−ト、ポリエチレングリコ−
ル、ポリプロピレングリコ−ル等の分子量が600〜2
000の項分子量のポリオ−ルとの混合物が好ましい。
必要により、乳酸、酒石酸、リンゴ酸、マロン酸、クエ
ン酸のように水酸基とカルボン酸を有する有機酸を配合
してもよい。
【0018】活性水素含有化合物としては、前述のポリ
オ−ルの他に、ジアミノジフェニルメタンが利用でき
る。ポリイソシアネ−ト化合物としては、イソシアネ−
ト基を2個以上有する化合物で、例えば、4,4'−ジ
フェニルメタンジイソシアネ−ト、2,4−トリレンジ
イソシアネ−ト、これらポリイソシアネ−トとポリオ−
ルとを反応させたウレタンプレポリマ−等が使用され
る。活性水素含有化合物(OH基、NH2基またはSH
基含有有機化合物)とポリイソシアネ−ト化合物の用い
る割合は、活性水素1当量に対し、NCO基が1.02
〜1.2当量である。
【0019】これら成分の他に溶剤のジメチルホルムア
ミド等の有機溶剤、水やフレオン等の発泡剤、シリコン
オイル等の気泡調整剤、エチレン・酢酸ビニル共重合
体、塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体等の熱可塑性樹脂
が配合される。ベ−マイトの発泡性ウレタン樹脂溶液へ
の配合は、ポリオ−ル等の活性水素含有化合物に固体潤
滑剤、ベ−マイト、気泡調整剤、触媒を配合し、ついで
攪拌下にポリイソシアネ−トをジメチルホルムアミド等
の溶剤で溶解した液を加え、均一に混合する。
【0020】パッドの製造はこの混合液を型内に注入
し、常温〜40℃で15〜60分放置して発泡、硬化さ
せ、ついで硬化物の表面をグラインダ−で研磨あるいは
スライサ−で切削して表面に気泡が露呈した発泡体を得
ることにより行なう。また、ウレタン発泡体の表面に前
記混合液を塗布、含浸させ、ついで発泡・硬化させるこ
とにより行う。
【0021】発泡体の空隙率(発泡倍率)、ショア硬度
は用いる原料の種類、組成比により調整する。パッドが
単層のときは、クッション性と研磨速度のバランスから
ショア硬度が75〜100のものを、複層構造のとき
は、ワ−クと摺擦するパッドの樹脂表面層のショア硬度
は、85〜100、支持体層の弾性発泡体のそれは50
〜75が好ましい。樹脂表面層のショア硬度を上記範囲
とすることにより得られるワ−クのデバイスを構成する
金属層と絶縁層の段差を小さくし、かつ、ワ−クとのな
じみを良好とする。支持層のショア硬度と空隙率を前述
の範囲とすることによりワ−クとパッドの硬質な樹脂表
面層との当接圧力を均等化する。パッドの樹脂表面層
は、特開平7−266219号公報の図5に開示される
ように研磨パッドに供給される研磨剤スラリ−がパッド
全面に均一に供給されるように格子状の幅1.5〜2m
mの溝を設けてもよい。
【0022】ウエハの研磨は、特開平10−30315
2号公報や特開平7−266219号公報に開示される
パッド揺動またはウエハ揺動タイプの研磨装置を用いて
行なうのが好ましい。研磨パッドのウエハへの当接圧力
は、0.01〜0.5kg/cm2で、ウエハを保持す
るチャックの回転数は30〜300rpm、パッドの回
転数は40〜1000rpmである。研磨パッドはバキ
ュ−ムチャック機構に吸着されているウエハ上を0.1
〜3cm/秒で往復させるのが好ましい。
【0023】ウエハ研磨中は、研磨剤スラリ−または研
磨液、または純水を研磨パッドまたはウエハ表面に供給
して行う。研磨剤スラリ−としては、酸化セリウム、ア
ルミナ、ベ−マイト、ニ酸化マンガン、シリカ等の粒径
が0.01〜0.1μmの微細な砥粒を1〜15重量%
含有する酸性またはアルカリ性水分散液、または過酸化
水素水分散液が用いられる。必要によりスラリ−には、
硝酸、酢酸、燐酸、アンモニウム水、テトラメチルアン
モニウムヒドロキシド、マレイン酸水素テトラメチルア
ンモニウム等のpH調整剤が配合される。
【0024】
【実施例】200mm径のシリコン基板のシリコン酸化
膜上の低誘電率有機膜に形成されたスル−ホ−ルにMO
CVD方式で0.8μm厚銅張りされたウエハを、0.
02〜0.05μmのシリカ粒子を5重量%、過酸化水
素水、マレイン酸水素テトラメチルアンモニウム、テト
ラメチルアンモニウムヒドロキシドおよびメチルエチル
セルロ−スを含有するpH7.2の研磨剤スラリ−を研
磨パッドの中央に供給しつつ、銅膜厚みを0.2μmま
で、ウエハと研磨パッドを各々140rpmの回転数で
回転させて平坦化処理し、銅配線を形成する研磨加工を
行った。
【0025】研磨終了後、パッドを無加重とし、研磨剤
スラリ−の供給を止め、純水に切り替えウエハの洗浄を
行った。上記研磨パッドの素材樹脂のウレタン樹脂とし
て、ジエチレングリコ−ル、リンゴ酸、ポリオキシテト
ラメチレンアジペ−ト、分子量1000のポリエチレン
グリコ−ル、4,4'−ジフェニルメタンジイソシアネ
−トと2,4−トリレンジイソシアネ−トの混合物、ジ
メチルホルムアミド(DMF)、シリコンオイル、トリ
エチレンジアミンおよび水からなる原料を用い、これに
粒径0.03〜0.05μmのベ−マイトを配合して形
成した次に示すパッドを用いた。
【0026】実施例1 ベ−マイト 5重量%を含有する空隙率25%、ショア
硬度92、厚み1.2mmの硬質ウレタン樹脂表面層
と、空隙率45%、ショア硬度65、厚み2.0mmの
ウレタン発泡樹脂支持層の積層構造のパッド。
【0027】実施例2 ベ−マイト 10重量%を含有する空隙率20%、ショ
ア硬度95、厚み1.2mmの硬質ウレタン樹脂表面層
と、空隙率45%、ショア硬度65、厚み2.0mmの
ウレタン発泡樹脂支持層の積層構造のパッド。
【0028】比較例1 空隙率26%、ショア硬度94、厚み1.2mmの硬質
ウレタン樹脂表面層と、空隙率45%、ショア硬度6
5、厚み2.0mmのウレタン発泡樹脂支持層との積層
構造パッド。
【0029】比較例2 0.05〜0.1μmのシリカ粒子 35重量%を含有
する空隙率40%、ショア硬度75、厚み3.3mmの
ウレタン発泡樹脂パッド。
【0030】比較例3 空隙率26%、ショア硬度94、厚み3.3mmの硬質
ウレタン発泡樹脂のパッド。
【0031】磨速度および研磨されたウエハの厚さ均一
性、段差(ディッシング:単位はオングストロ−ム)
は、次の通りであった。 研磨速度(μm/分) 均一性(%) 段差(A) 実施例1 1.2 2.5 400 実施例2 1.3 3.0 450 比較例1 1.1 7.0 850 比較例2 0.8 5.0 1000 比較例3 1.4 12.0 400
【0032】
【発明の効果】本発明の研磨パッドは、絶縁膜と金属層
間の段差が小さく、厚さ均一性に優れたウエハを与える
CMP研磨用に優れたパッドである。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ワ−ク表面に研磨パッドを押圧し、ワ−
    クチャック機構のスピンドル軸と研磨パッドのスピンド
    ル軸を回転させることにより回転するワ−ク面に回転す
    る研磨パッドを摺擦させてワ−クを研磨するのに用いら
    れる研磨パッドにおいて、 ワ−ク面を摺擦する該研磨パッドの樹脂表面層は、ベ−
    マイト砥粒を5〜50重量%含有することを特徴とす
    る、研磨用パッド。
  2. 【請求項2】 ワ−ク面を摺擦する研磨パッドの樹脂表
    面層のショア硬度は75〜100であることを特徴とす
    る、請求項1に記載の研磨用パッド。
  3. 【請求項3】 研磨パッドは、ショア硬度が85〜10
    0である樹脂表面層とショア硬度50〜75の弾性支持
    層を有する複層構造体である、請求項1または2に記載
    の研磨用パッド。
  4. 【請求項4】 研磨パッドは、樹脂表面層の厚みが0.
    5〜1.5mm、弾性支持層の厚みが1〜3mmであ
    る、請求項3に記載の研磨用パッド。
  5. 【請求項5】 研磨パッドの弾性支持層は、空隙率が3
    0〜70%の樹脂発泡体である、請求項3に記載の研磨
    用パッド。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003324087A (ja) * 2002-04-26 2003-11-14 Toyobo Co Ltd 研磨材
JP2005329491A (ja) * 2004-05-19 2005-12-02 Nitta Haas Inc 仕上げ研磨用研磨布
JP2008537908A (ja) * 2004-12-21 2008-10-02 エシロール・ランテルナシオナル(カンパニー・ジェネラル・ドプティク) 研磨ホイール
JP2011005606A (ja) * 2009-06-26 2011-01-13 Nitta Haas Inc 研磨パッド
JP2011009584A (ja) * 2009-06-26 2011-01-13 Nitta Haas Inc 研磨パッド

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