JP2000249925A - 共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 - Google Patents
共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置Info
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- JP2000249925A JP2000249925A JP11056817A JP5681799A JP2000249925A JP 2000249925 A JP2000249925 A JP 2000249925A JP 11056817 A JP11056817 A JP 11056817A JP 5681799 A JP5681799 A JP 5681799A JP 2000249925 A JP2000249925 A JP 2000249925A
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、切り換えるビームスプリッタの個数
が増えても又は使用する共焦点ピンホールの数が増えて
も、共焦点ピンホールの調整回数を少なくして調整工数
を大幅に削減することである。 【解決手段】各励起用ビームスプリッタ33a〜33d
の相互間の角度データ及び各共焦点ピンホール40,4
4,48でのスポット光の位置データを求め、分光用フ
ィルタユニット37,38内の各分光用フィルタ37a
〜37c,38a〜38cの相互間の角度データ及び各
共焦点ピンホール40,44,48でのスポット光の位
置データを求め、これら角度データ及び位置データに基
づいて任意の励起用ビームスプリッタ33a〜33dと
各分光用フィルタ37a〜37c,38a〜38cとを
組み合わせたときの各共焦点ピンホール40,44,4
8の調整位置を演算し求める。
が増えても又は使用する共焦点ピンホールの数が増えて
も、共焦点ピンホールの調整回数を少なくして調整工数
を大幅に削減することである。 【解決手段】各励起用ビームスプリッタ33a〜33d
の相互間の角度データ及び各共焦点ピンホール40,4
4,48でのスポット光の位置データを求め、分光用フ
ィルタユニット37,38内の各分光用フィルタ37a
〜37c,38a〜38cの相互間の角度データ及び各
共焦点ピンホール40,44,48でのスポット光の位
置データを求め、これら角度データ及び位置データに基
づいて任意の励起用ビームスプリッタ33a〜33dと
各分光用フィルタ37a〜37c,38a〜38cとを
組み合わせたときの各共焦点ピンホール40,44,4
8の調整位置を演算し求める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光で標本の
焦点面を走査したときの標本からの光、特に蛍光を波長
別に分離して複数の光検出器で検出する共焦点レーザ顕
微鏡の調整方法及びその装置に関する。
焦点面を走査したときの標本からの光、特に蛍光を波長
別に分離して複数の光検出器で検出する共焦点レーザ顕
微鏡の調整方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】共焦点レーザ走査型顕微鏡は、レーザ光
を対物レンズにより集光して標本上(焦点面)にスポッ
ト光として結ばせるとともに、光走査手段によりこのス
ポット光を標本上に2次元走査し、標本からの光を共焦
点ピンホールを通して光検出器により検出するもので、
例えば特開平8−271792号公報に開示されてお
り、使用するレーザ波長や多様な蛍光色素に対応するた
めにレーザ光と標本からの光を分離するビームスプリッ
タを複数種類備えている。
を対物レンズにより集光して標本上(焦点面)にスポッ
ト光として結ばせるとともに、光走査手段によりこのス
ポット光を標本上に2次元走査し、標本からの光を共焦
点ピンホールを通して光検出器により検出するもので、
例えば特開平8−271792号公報に開示されてお
り、使用するレーザ波長や多様な蛍光色素に対応するた
めにレーザ光と標本からの光を分離するビームスプリッ
タを複数種類備えている。
【0003】このような共焦点レーザ走査型顕微鏡で
は、ビームスプリッタを切り換えたときにその角度がず
れると、共焦点ピンホール面での結像位置が変化するの
で、光が共焦点ピンホールを通過する光量を測定しなが
ら電動ステージ等で共焦点ピンホールを動かし、この共
焦点ピンホールの位置を補正する必要がある。そして、
この補正を各ビームスプリッタ毎に行ってその補正位置
をコンピュータに記憶させ、対応するビームスプリッタ
を光路に挿入したときにその補正位置に共焦点ピンホー
ルを動かしている。
は、ビームスプリッタを切り換えたときにその角度がず
れると、共焦点ピンホール面での結像位置が変化するの
で、光が共焦点ピンホールを通過する光量を測定しなが
ら電動ステージ等で共焦点ピンホールを動かし、この共
焦点ピンホールの位置を補正する必要がある。そして、
この補正を各ビームスプリッタ毎に行ってその補正位置
をコンピュータに記憶させ、対応するビームスプリッタ
を光路に挿入したときにその補正位置に共焦点ピンホー
ルを動かしている。
【0004】又、検出する標本からの光、すなわち蛍光
が複数波長に亘る場合には、例えば特開平6−1676
54号公報に記載されているように検出する光を波長毎
に分離し、これら波長毎にそれぞれ共焦点ピンホール、
光検出器を設けるようにしている。
が複数波長に亘る場合には、例えば特開平6−1676
54号公報に記載されているように検出する光を波長毎
に分離し、これら波長毎にそれぞれ共焦点ピンホール、
光検出器を設けるようにしている。
【0005】図5はかかる特開平6−167654号公
報に記載されている倒立型走査型レーザ顕微鏡における
光路を示した概略構成図であって、3つの標準ブロック
1〜3及び任意の数の付加的レーザモジーュル4,5か
らなっている。このうち標準ブロック1は顕微鏡鏡基で
あり、標準ブロック2はスキャンモジュールであり、標
準ブロック3は検出器モジュールである。
報に記載されている倒立型走査型レーザ顕微鏡における
光路を示した概略構成図であって、3つの標準ブロック
1〜3及び任意の数の付加的レーザモジーュル4,5か
らなっている。このうち標準ブロック1は顕微鏡鏡基で
あり、標準ブロック2はスキャンモジュールであり、標
準ブロック3は検出器モジュールである。
【0006】レーザ6から出力されたレーザ光は、シャ
ッタ7からビームスプリッタ8によりビームエキスパン
ダ9,10に偏向してコリメータレーザ光とし、次のビ
ームスプリッタ11によりコリメータレーザ光を偏向ユ
ニット12、13によりX、Y方向に偏向する。
ッタ7からビームスプリッタ8によりビームエキスパン
ダ9,10に偏向してコリメータレーザ光とし、次のビ
ームスプリッタ11によりコリメータレーザ光を偏向ユ
ニット12、13によりX、Y方向に偏向する。
【0007】この偏向ユニット12,13を通過後、コ
リメータレーザ光は、全反射ミラー14により対物レン
ズ15に偏向され、この対物レンズ15により図示しな
いプレパラート上の標本の焦点面に集光する。
リメータレーザ光は、全反射ミラー14により対物レン
ズ15に偏向され、この対物レンズ15により図示しな
いプレパラート上の標本の焦点面に集光する。
【0008】レーザ光によりプレパラートから発せられ
た蛍光乃至反射光は、対物レンズ15とビームスプリッ
タ11との間を同じ光路を通って反対方向に通過する。
た蛍光乃至反射光は、対物レンズ15とビームスプリッ
タ11との間を同じ光路を通って反対方向に通過する。
【0009】蛍光は、波長がレーザ光とは異なるからビ
ームスプリッタ11を通過する。そして、蛍光は、異な
るスペクトル通過特性を有する2つの別のビームスプリ
ッタ16,17及び全反射ミラー18を介して3つの並
列の共焦点検出チャネルに供給される。
ームスプリッタ11を通過する。そして、蛍光は、異な
るスペクトル通過特性を有する2つの別のビームスプリ
ッタ16,17及び全反射ミラー18を介して3つの並
列の共焦点検出チャネルに供給される。
【0010】これら共焦点検出チャネルは、それぞれ1
つの共焦点結像レンズ19〜21、1つの共焦点ピンホ
ール22〜24及びレーザ光を電気信号に変換するため
の光検出器25〜27を有し、3つの異なる波長での蛍
光分析ができる。なお、共焦点ピンホール22〜24
は、それぞれ芯合わせ、開口の大きさ調整が独立して可
能であり、各ビームスプリッタ16、17、18を別の
スペクトル特性のものに切り換えたときにはそれぞれ芯
合わせするものとなっている。
つの共焦点結像レンズ19〜21、1つの共焦点ピンホ
ール22〜24及びレーザ光を電気信号に変換するため
の光検出器25〜27を有し、3つの異なる波長での蛍
光分析ができる。なお、共焦点ピンホール22〜24
は、それぞれ芯合わせ、開口の大きさ調整が独立して可
能であり、各ビームスプリッタ16、17、18を別の
スペクトル特性のものに切り換えたときにはそれぞれ芯
合わせするものとなっている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
6−167654号公報に開示されているようにビーム
スプリッタ16、17、18を切換えるときに行う共焦
点ピンホール22〜24の芯調整は、数十μのピンホー
ル径を精密に合わせる必要があり、手間がかかるもので
ある。この調整を例えば励起用ビームスプリッタ11を
切換えたときは全ての共焦点ピンホール22〜24に対
して行う必要がある。また、ビームスプリッタ17を切
換えたときは共焦点ピンホール23の調整を行う必要が
あり、さらに、ビームスプリッタ16を切換えた時は二
つの共焦点ピンホール23,24を調整しなければなら
ない。つまり、共焦点ピンホール22〜24に至るまで
に一回でも分光用ビームスプリッタの反射があると調整
が必要になる。さらに、切換えるビームスプリッタの数
が増えたり、共焦点ピンホールの数を増やしたりすると
調整工数は増大する。
6−167654号公報に開示されているようにビーム
スプリッタ16、17、18を切換えるときに行う共焦
点ピンホール22〜24の芯調整は、数十μのピンホー
ル径を精密に合わせる必要があり、手間がかかるもので
ある。この調整を例えば励起用ビームスプリッタ11を
切換えたときは全ての共焦点ピンホール22〜24に対
して行う必要がある。また、ビームスプリッタ17を切
換えたときは共焦点ピンホール23の調整を行う必要が
あり、さらに、ビームスプリッタ16を切換えた時は二
つの共焦点ピンホール23,24を調整しなければなら
ない。つまり、共焦点ピンホール22〜24に至るまで
に一回でも分光用ビームスプリッタの反射があると調整
が必要になる。さらに、切換えるビームスプリッタの数
が増えたり、共焦点ピンホールの数を増やしたりすると
調整工数は増大する。
【0012】又、特開平8−271792号公報に開示
されているように、調整は1度のみにして、補正位置を
コンピュータに記憶させたとしても、例えば図2で励起
用ビームスプリッタ11の交換する数が3種類、分光用
ビームスプリッタフ16、17及び全反射ミラー18の
交換数が、ビームスプリッタ16では3個、ビームスプ
リッタ17で3個とすると、3*3+3*3*3+3=
39通りの調整を行った後に補正値をコンピュータに入
力することになり面倒である。
されているように、調整は1度のみにして、補正位置を
コンピュータに記憶させたとしても、例えば図2で励起
用ビームスプリッタ11の交換する数が3種類、分光用
ビームスプリッタフ16、17及び全反射ミラー18の
交換数が、ビームスプリッタ16では3個、ビームスプ
リッタ17で3個とすると、3*3+3*3*3+3=
39通りの調整を行った後に補正値をコンピュータに入
力することになり面倒である。
【0013】そこで本発明は、切換えるビームスプリッ
タの個数が増えても、又は使用する共焦点ピンホールの
数が増えても、共焦点ピンホールの調整回数を少なくし
て調整工数を大幅に削減できる共焦点レーザ顕微鏡の調
整方法及びその装置を提供することを目的とする。
タの個数が増えても、又は使用する共焦点ピンホールの
数が増えても、共焦点ピンホールの調整回数を少なくし
て調整工数を大幅に削減できる共焦点レーザ顕微鏡の調
整方法及びその装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の本発明
は、レーザ光を標本側に反射するとともに標本からの光
を透過するそれぞれ異なる波長特性を持った複数の励起
ビームスプリッタを保持し、これら励起ビームスプリッ
タのうちいずれか1つの励起ビームスプリッタをレーザ
光の光路上に配置する励起ビームスプリッタユニット
と、この励起ビームスプリッタにおける励起ビームスプ
リッタの透過光路上に少なくとも1段配置され、それぞ
れ異なる分光波長を持った複数の分光ビームスプリッタ
を保持し、これら分光ビームスプリッタのうちいずれか
1つを励起ビームスプリッタの透過光路上に配置する分
光ビームスプリッタユニットと、この分光ビームスプリ
ッタユニットに保持されているいずれか1つの分光ビー
ムスプリッタの反射光路上及び透過光路上にそれぞれ各
共焦点結像レンズ及びピンホールを介して配置された複
数の光検出器とを備え、複数の励起ビームスプリッタの
相互間の角度データ、共焦点ピンホール面での光の位置
データを求める第1の工程と、分光ビームスプリッタユ
ニットにおける複数の分光ビームスプリッタの相互間の
角度データ、共焦点ピンホール面での光の位置データを
求める第2の工程と、第1及び第2の工程で求められた
各角度データ及び各位置データに基づいて任意の励起ビ
ームスプリッタと分光ビームスプリッタとを組み合わせ
たときの各共焦点ピンホールの調整位置を求める第3の
工程と、を有する共焦点レーザ顕微鏡の調整方法であ
る。
は、レーザ光を標本側に反射するとともに標本からの光
を透過するそれぞれ異なる波長特性を持った複数の励起
ビームスプリッタを保持し、これら励起ビームスプリッ
タのうちいずれか1つの励起ビームスプリッタをレーザ
光の光路上に配置する励起ビームスプリッタユニット
と、この励起ビームスプリッタにおける励起ビームスプ
リッタの透過光路上に少なくとも1段配置され、それぞ
れ異なる分光波長を持った複数の分光ビームスプリッタ
を保持し、これら分光ビームスプリッタのうちいずれか
1つを励起ビームスプリッタの透過光路上に配置する分
光ビームスプリッタユニットと、この分光ビームスプリ
ッタユニットに保持されているいずれか1つの分光ビー
ムスプリッタの反射光路上及び透過光路上にそれぞれ各
共焦点結像レンズ及びピンホールを介して配置された複
数の光検出器とを備え、複数の励起ビームスプリッタの
相互間の角度データ、共焦点ピンホール面での光の位置
データを求める第1の工程と、分光ビームスプリッタユ
ニットにおける複数の分光ビームスプリッタの相互間の
角度データ、共焦点ピンホール面での光の位置データを
求める第2の工程と、第1及び第2の工程で求められた
各角度データ及び各位置データに基づいて任意の励起ビ
ームスプリッタと分光ビームスプリッタとを組み合わせ
たときの各共焦点ピンホールの調整位置を求める第3の
工程と、を有する共焦点レーザ顕微鏡の調整方法であ
る。
【0015】請求項2記載の本発明は、レーザ光を標本
側に反射するとともに標本からの光を透過するそれぞれ
異なる波長特性を持った複数の励起ビームスプリッタを
保持し、これら励起ビームスプリッタのうちいずれか1
つの励起ビームスプリッタをレーザ光の光路上に配置す
る励起ビームスプリッタユニットと、この励起ビームス
プリッタにおける励起ビームスプリッタの透過光路上に
少なくとも1段配置され、それぞれ異なる分光波長を持
った複数の分光ビームスプリッタを保持し、これら分光
ビームスプリッタのうちいずれか1つを励起ビームスプ
リッタの透過光路上に配置する分光ビームスプリッタユ
ニットと、この分光ビームスプリッタユニットに保持さ
れているいずれか1つの分光ビームスプリッタの反射光
路上及び透過光路上にそれぞれ各共焦点結像レンズ及び
各共焦点ピンホールを介して配置された複数の光検出器
と、分光ビームスプリッタユニットと共焦点ピンホール
との間に配置された共焦点結像レンズとを具備し、分光
ビームスプリッタユニットから共焦点ピンホールまで無
反射で光を到達させ、かつ励起ビームスプリッタから共
焦点結像レンズまで到達する光の分光フィルタによる反
射回数を1回以内とする共焦点レーザ顕微鏡の調整装置
である。
側に反射するとともに標本からの光を透過するそれぞれ
異なる波長特性を持った複数の励起ビームスプリッタを
保持し、これら励起ビームスプリッタのうちいずれか1
つの励起ビームスプリッタをレーザ光の光路上に配置す
る励起ビームスプリッタユニットと、この励起ビームス
プリッタにおける励起ビームスプリッタの透過光路上に
少なくとも1段配置され、それぞれ異なる分光波長を持
った複数の分光ビームスプリッタを保持し、これら分光
ビームスプリッタのうちいずれか1つを励起ビームスプ
リッタの透過光路上に配置する分光ビームスプリッタユ
ニットと、この分光ビームスプリッタユニットに保持さ
れているいずれか1つの分光ビームスプリッタの反射光
路上及び透過光路上にそれぞれ各共焦点結像レンズ及び
各共焦点ピンホールを介して配置された複数の光検出器
と、分光ビームスプリッタユニットと共焦点ピンホール
との間に配置された共焦点結像レンズとを具備し、分光
ビームスプリッタユニットから共焦点ピンホールまで無
反射で光を到達させ、かつ励起ビームスプリッタから共
焦点結像レンズまで到達する光の分光フィルタによる反
射回数を1回以内とする共焦点レーザ顕微鏡の調整装置
である。
【0016】
【発明の実施の形態】(1) 以下、本発明の一実施の形態
について図面を参照して説明する。
について図面を参照して説明する。
【0017】図1は共焦点レーザ走査型顕微鏡の調整装
置の構成図である。
置の構成図である。
【0018】レーザ装置30は、複数の波長を発振する
もので、そのレーザ出射端にはシングルモードのファイ
バ31が接続されている。このファイバ31の出射口に
は、コリメートレンズ32が配置されファイバ31から
出射された照明光を適切な大きさの径の平行光に整形す
るものとなっている。
もので、そのレーザ出射端にはシングルモードのファイ
バ31が接続されている。このファイバ31の出射口に
は、コリメートレンズ32が配置されファイバ31から
出射された照明光を適切な大きさの径の平行光に整形す
るものとなっている。
【0019】このコリメートレンズ32からのレーザ光
の光路上には、励起用ビームスプリッタユニット33が
配置されている。この励起用ビームスプリッタユニット
33は、図2に示すようにターレットの同心円上に反
射、透過の波長特性が異なる4個の励起用ビームスプリ
ッタ33a〜33dが配置されており、ここではビーム
スプリッタ33aが光路上に配置されている。
の光路上には、励起用ビームスプリッタユニット33が
配置されている。この励起用ビームスプリッタユニット
33は、図2に示すようにターレットの同心円上に反
射、透過の波長特性が異なる4個の励起用ビームスプリ
ッタ33a〜33dが配置されており、ここではビーム
スプリッタ33aが光路上に配置されている。
【0020】このビームスプリッタ33aにより反射さ
れたレーザ光は、XYガルバノメータミラー34により
2次元方向に偏向されるものとなっている。そして、レ
ーザ光は、瞳投影レンズ35を透過して図示しない顕微
鏡の結像レンズ、対物レンズを通過して標本上にスポッ
トを結び、かつこのスポットが、標本上を2次元に走査
する。
れたレーザ光は、XYガルバノメータミラー34により
2次元方向に偏向されるものとなっている。そして、レ
ーザ光は、瞳投影レンズ35を透過して図示しない顕微
鏡の結像レンズ、対物レンズを通過して標本上にスポッ
トを結び、かつこのスポットが、標本上を2次元に走査
する。
【0021】そして、標本からの光、ここでは蛍光は、
対物レンズから結像レンズ、瞳投影レンズ35、XYガ
ルバノメータミラー34というようにレーザ光を照射し
たときと同じ光路を逆方向に進む。そして、標本を照射
するレーザ光と標本からの蛍光とを分離する励起用ビー
ムスプリッタ33aを透過する。
対物レンズから結像レンズ、瞳投影レンズ35、XYガ
ルバノメータミラー34というようにレーザ光を照射し
たときと同じ光路を逆方向に進む。そして、標本を照射
するレーザ光と標本からの蛍光とを分離する励起用ビー
ムスプリッタ33aを透過する。
【0022】この励起用ビームスプリッタ33aの透過
光路上には、ミラー36が配置され、このミラー36の
反射光路上には、分光用ビームスプリッタ(以下、分光
用フィルタユニットと称する)37,38が配置されて
いる。このうち分光用フィルタユニット37には、図3
に示すように1チャンネル用の分光波長の異なるビーム
スプリッタ、ここではフィルタ37a〜37c及び1チ
ャンネルでは蛍光検出しないで後続側の2、3チャンネ
ル側に蛍光をスルーさせる光路補正ガラス37dが同心
円上に配置されている。
光路上には、ミラー36が配置され、このミラー36の
反射光路上には、分光用ビームスプリッタ(以下、分光
用フィルタユニットと称する)37,38が配置されて
いる。このうち分光用フィルタユニット37には、図3
に示すように1チャンネル用の分光波長の異なるビーム
スプリッタ、ここではフィルタ37a〜37c及び1チ
ャンネルでは蛍光検出しないで後続側の2、3チャンネ
ル側に蛍光をスルーさせる光路補正ガラス37dが同心
円上に配置されている。
【0023】また、分光用フィルタユニット38には、
図4に示すように2チャンネル用の分光波長の異なるフ
ィルタ38a〜38c及び2チャンネルでは蛍光検出し
ないで3チャンネル側に蛍光をスルーさせる光路補正ガ
ラス38dが同心円上に配置されている。ここで図1で
は光路上にフィルタ37a,38aが配置されている。
図4に示すように2チャンネル用の分光波長の異なるフ
ィルタ38a〜38c及び2チャンネルでは蛍光検出し
ないで3チャンネル側に蛍光をスルーさせる光路補正ガ
ラス38dが同心円上に配置されている。ここで図1で
は光路上にフィルタ37a,38aが配置されている。
【0024】これら分光用フィルタユニット37,38
のうち分光用フィルタ37aで反射された1チャンネル
用光路には、共焦点結像レンズ39、共焦点ピンホール
40、レーザ反射光をカットするバリアフィルタ41及
び1チャンネル光検出器42が配置されている。また、
分光用フィルタ38aで反射された2チャンネル用光路
には、共焦点結像レンズ43、共焦点ピンホール44、
レーザ反射光をカットするバリアフィルタ45及び2チ
ャンネル光検出器46が配置されている。そして、分光
用フィルタ38aを透過した3チャンネル用光路には、
共焦点結像レンズ47、共焦点ピンホール48、レーザ
反射光をカットするバリアフィルタ49及び3チャンネ
ル光検出器50が配置されている。
のうち分光用フィルタ37aで反射された1チャンネル
用光路には、共焦点結像レンズ39、共焦点ピンホール
40、レーザ反射光をカットするバリアフィルタ41及
び1チャンネル光検出器42が配置されている。また、
分光用フィルタ38aで反射された2チャンネル用光路
には、共焦点結像レンズ43、共焦点ピンホール44、
レーザ反射光をカットするバリアフィルタ45及び2チ
ャンネル光検出器46が配置されている。そして、分光
用フィルタ38aを透過した3チャンネル用光路には、
共焦点結像レンズ47、共焦点ピンホール48、レーザ
反射光をカットするバリアフィルタ49及び3チャンネ
ル光検出器50が配置されている。
【0025】反射ミラー36で反射した蛍光は、波長の
短い順に1チャンネル、2チャンネル、3チャンネルの
光路に分光用フィルタ37a,38aにより分けられ
る。このうち分光用フィルタ37aで反射した波長の蛍
光は、共焦点結像レンズ39により共焦点ピンホール4
0上に結像してバリアフィルタ41を透過して1チャン
ネルの光検出器42で検出される。
短い順に1チャンネル、2チャンネル、3チャンネルの
光路に分光用フィルタ37a,38aにより分けられ
る。このうち分光用フィルタ37aで反射した波長の蛍
光は、共焦点結像レンズ39により共焦点ピンホール4
0上に結像してバリアフィルタ41を透過して1チャン
ネルの光検出器42で検出される。
【0026】又、分光用フィルタ37aを透過して分光
用フィルタ38aで反射した波長の蛍光は、共焦点結像
レンズ43により共焦点ピンホール44上に結像してバ
リアフィルタ45を透過して2チャンネルの光検出器4
6で検出される。さらに、分光用フィルタ38aを透過
した波長の蛍光は、共焦点結像レンズ47により共焦点
ピンホール48上に結像してバリアフィルタ49を透過
して3チャンネルの光検出器50で検出されるものとな
っている。
用フィルタ38aで反射した波長の蛍光は、共焦点結像
レンズ43により共焦点ピンホール44上に結像してバ
リアフィルタ45を透過して2チャンネルの光検出器4
6で検出される。さらに、分光用フィルタ38aを透過
した波長の蛍光は、共焦点結像レンズ47により共焦点
ピンホール48上に結像してバリアフィルタ49を透過
して3チャンネルの光検出器50で検出されるものとな
っている。
【0027】これら共焦点ピンホール40,44,48
は、それぞれ各XY電動ステージ51,52,53に取
り付けられており、各光検出器42,46,50で検出
される光量が最大となるように芯出し調整されている。
は、それぞれ各XY電動ステージ51,52,53に取
り付けられており、各光検出器42,46,50で検出
される光量が最大となるように芯出し調整されている。
【0028】また、各分光用フィルタ37a,38aと
各共焦点ピンホール40,44,48の間には、それぞ
れ各共焦点結像レンズ39,43,47が設けられて、
かつこれら共焦点結像レンズ39,43,47と共焦点
ピンホール40,44,48との間には反射光学系が存
在しないものとなっている。
各共焦点ピンホール40,44,48の間には、それぞ
れ各共焦点結像レンズ39,43,47が設けられて、
かつこれら共焦点結像レンズ39,43,47と共焦点
ピンホール40,44,48との間には反射光学系が存
在しないものとなっている。
【0029】さらに励起用ビームスプリッタ33bから
各共焦点結像レンズ39,43,47に至るまでの光路
の間で、分光用のフィルタユニット37,38での反射
回数が1,2チャンネルでは1回、3チャンネルでは0
回と、いずれも1回以下となっている。
各共焦点結像レンズ39,43,47に至るまでの光路
の間で、分光用のフィルタユニット37,38での反射
回数が1,2チャンネルでは1回、3チャンネルでは0
回と、いずれも1回以下となっている。
【0030】このような構成では、共焦点ピンホール4
0,44,48上のスポット光の結像位置ずれの原因
が、反射部材の折り返し位置に影響されることなく、励
起用ビームスプリッタユニット33と反射する1個以下
の分光用フィルタユニット37,38の切換えによる角
度差のみに限定できる。
0,44,48上のスポット光の結像位置ずれの原因
が、反射部材の折り返し位置に影響されることなく、励
起用ビームスプリッタユニット33と反射する1個以下
の分光用フィルタユニット37,38の切換えによる角
度差のみに限定できる。
【0031】演算処理装置54は、1〜3チャンネルの
各光検出器42,46,50の各検出出力信号を受けて
各共焦点ピンホール40,44,48の各調整位置を求
めるもので、第1及び第2の位置データ演算手段55,
56及びピンホール調整位置演算手段57の各機能を有
している。
各光検出器42,46,50の各検出出力信号を受けて
各共焦点ピンホール40,44,48の各調整位置を求
めるもので、第1及び第2の位置データ演算手段55,
56及びピンホール調整位置演算手段57の各機能を有
している。
【0032】このうち第1の位置データ演算手段55
は、励起用ビームスプリッタユニット33における各励
起用ビームスプリッタ33a〜33dの相互間の角度デ
ータ、共焦点ピンホール48面での光の位置データを求
める機能を有している。
は、励起用ビームスプリッタユニット33における各励
起用ビームスプリッタ33a〜33dの相互間の角度デ
ータ、共焦点ピンホール48面での光の位置データを求
める機能を有している。
【0033】第2の位置データ演算手段56は、各分光
用フィルタユニット37,38のそれぞれにおける各分
光用フィルタ37a〜37c,38a〜38cの相互間
の角度データ、各共焦点ピンホール40,44面でのス
ポット光の位置データを求める機能を有している。
用フィルタユニット37,38のそれぞれにおける各分
光用フィルタ37a〜37c,38a〜38cの相互間
の角度データ、各共焦点ピンホール40,44面でのス
ポット光の位置データを求める機能を有している。
【0034】ピンホール調整位置演算手段57は、第1
及び第2の位置データ演算手段55,56でそれぞれ求
められた各角度データ及び各位置データに基づいて任意
の励起用ビームスプリッタ33a〜33dと各分光フィ
ルタ37a〜37c、38a〜38cとを組み合わせた
ときの各共焦点ピンホール40,44,48の調整位置
を求める機能を有している。
及び第2の位置データ演算手段55,56でそれぞれ求
められた各角度データ及び各位置データに基づいて任意
の励起用ビームスプリッタ33a〜33dと各分光フィ
ルタ37a〜37c、38a〜38cとを組み合わせた
ときの各共焦点ピンホール40,44,48の調整位置
を求める機能を有している。
【0035】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。
いて説明する。
【0036】先ず、各励起用ビームスプリッタ33a〜
33d、分光用フィルタ37a〜37c、38a〜38
cの切換えに伴う、共焦点ピンホール40,44,48
の調整値の演算について説明する。最初に、第1の位置
データ演算手段55の作動により各励起用ビームスプリ
ッタ33a〜33dの相互の角度データ、共焦点ピンホ
ール48面でのスポット光の位置データを求める。
33d、分光用フィルタ37a〜37c、38a〜38
cの切換えに伴う、共焦点ピンホール40,44,48
の調整値の演算について説明する。最初に、第1の位置
データ演算手段55の作動により各励起用ビームスプリ
ッタ33a〜33dの相互の角度データ、共焦点ピンホ
ール48面でのスポット光の位置データを求める。
【0037】励起用ビームスプリッタ33aを光路にい
れ、分光用フィルタユニット37の光路に光路補正ガラ
ス37dをセットするとともに分光用フィルタユニット
38の光路に光路補正ガラス38dをセットする。これ
ら補正ガラス37d,38dは、光の角度には影響せず
に光を平行移動させて、各共焦点結像レンズ39,4
3,47の中心付近に光が入射するようにする為のもの
である。そして、3チャンネルの検出器50の光量が最
大となるように共焦点ピンホール48を電動XYステー
ジ53により駆動、調整する。
れ、分光用フィルタユニット37の光路に光路補正ガラ
ス37dをセットするとともに分光用フィルタユニット
38の光路に光路補正ガラス38dをセットする。これ
ら補正ガラス37d,38dは、光の角度には影響せず
に光を平行移動させて、各共焦点結像レンズ39,4
3,47の中心付近に光が入射するようにする為のもの
である。そして、3チャンネルの検出器50の光量が最
大となるように共焦点ピンホール48を電動XYステー
ジ53により駆動、調整する。
【0038】次に、励起用ビームスプリッタ33b,3
3c,33dと順次切換えて、各々の励起用ビームスプ
リッタ33b,33c,33dに対して、各共焦点ピン
ホール48の位置調整を上記同様に行う。ここで、この
時のXY電動ステージ53の座標値(スポット光の位
置)が下記の値であったとする。
3c,33dと順次切換えて、各々の励起用ビームスプ
リッタ33b,33c,33dに対して、各共焦点ピン
ホール48の位置調整を上記同様に行う。ここで、この
時のXY電動ステージ53の座標値(スポット光の位
置)が下記の値であったとする。
【0039】 3チャンネルの共焦点ピンホール48の座標 励起用ビームスプリッタが33aのとき (X3a,Y3a) 励起用ビームスプリッタが33bのとき (X3b,Y3b) 励起用ビームスプリッタが33cのとき (X3c,Y3c) 励起用ビームスプリッタが33dのとき (X3d,Y3d) 左がX座標、右側がY座標。
【0040】従って、次にビームスプリッタ33aに対
するそれぞれのビームスプリッタの共焦点ピンホール4
8の調整位置の座標の変化量は下記のようになる。
するそれぞれのビームスプリッタの共焦点ピンホール4
8の調整位置の座標の変化量は下記のようになる。
【0041】励起用ビームスプリッタ33bについて (ΔRX3b,ΔRY3b)=(X3b−X3a,Y3
b−Y3a) 励起用ビームスプリッタ33cについて (ΔRX3c,ΔRY3c)=(X3c−X3a,Y3
c−Y3a) 励起用ビームスプリッタ33dについて (ΔRX3d,ΔRY3d)=(X3d−X3a,Y3
d−Y3a) 左がX成分、右がY成分の座標の変化量を示す。
b−Y3a) 励起用ビームスプリッタ33cについて (ΔRX3c,ΔRY3c)=(X3c−X3a,Y3
c−Y3a) 励起用ビームスプリッタ33dについて (ΔRX3d,ΔRY3d)=(X3d−X3a,Y3
d−Y3a) 左がX成分、右がY成分の座標の変化量を示す。
【0042】ここで、共焦点結像レンズ39,43,4
7の焦点距離をfとすると、基準となるビームスプリッ
タ33aに対する、他の励起用ビームスプリッタ33
b,33c,33dの角度差は下記のようになる。
7の焦点距離をfとすると、基準となるビームスプリッ
タ33aに対する、他の励起用ビームスプリッタ33
b,33c,33dの角度差は下記のようになる。
【0043】励起用ビームスプリッタ33bについて (ΔθRXb,ΔθRYb)={tan-1(ΔRX3b
/f),tan-1(ΔRY3b/f)} 励起用ビームスプリッタ33cについて (ΔθRXc,ΔθRYc)={tan-1(ΔRX3c
/f),tan-1(ΔRY3c/f)} 励起用ビームスプリッタ33dについて (ΔθRXd,ΔθRYd)={tan-1(ΔRX3d
/f),tan-1(ΔRY3d/f)} 左がX成分の角度差、右がY成分の角度差を示す。
/f),tan-1(ΔRY3b/f)} 励起用ビームスプリッタ33cについて (ΔθRXc,ΔθRYc)={tan-1(ΔRX3c
/f),tan-1(ΔRY3c/f)} 励起用ビームスプリッタ33dについて (ΔθRXd,ΔθRYd)={tan-1(ΔRX3d
/f),tan-1(ΔRY3d/f)} 左がX成分の角度差、右がY成分の角度差を示す。
【0044】次に、第2の位置データ演算手段56の作
動により分光用フィルタユニット37,38内の複数の
分光用フィルタ37a〜37c,38a〜38cの相互
間の角度データ、各共焦点ピンホール40,44面での
スポット光の位置データを求める。
動により分光用フィルタユニット37,38内の複数の
分光用フィルタ37a〜37c,38a〜38cの相互
間の角度データ、各共焦点ピンホール40,44面での
スポット光の位置データを求める。
【0045】光路上に基準となる励起用ビームスプリッ
タ33aを入れ、分光用フィルタユニット37の分光用
フィルタを37aにセットする。そして、1チャンネル
の光検出器42の光量が最大となるように、共焦点ピン
ホール40を電動XYステージ51により駆動、調整す
る。
タ33aを入れ、分光用フィルタユニット37の分光用
フィルタを37aにセットする。そして、1チャンネル
の光検出器42の光量が最大となるように、共焦点ピン
ホール40を電動XYステージ51により駆動、調整す
る。
【0046】同様に、分光用フィルタユニット37の分
光用フィルタを37b,37cと順次切換えて、各々の
分光用フィルタ37b,37cに対して共焦点ピンホー
ル40の位置調整を行う。ここで、このときのXY電動
ステージ51(スポット光の位置)の座標値が下記の値
であったとする。
光用フィルタを37b,37cと順次切換えて、各々の
分光用フィルタ37b,37cに対して共焦点ピンホー
ル40の位置調整を行う。ここで、このときのXY電動
ステージ51(スポット光の位置)の座標値が下記の値
であったとする。
【0047】1チャンネル共焦点ピンホール(40)に
ついて 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ37a
の組み合わせは (X3a7a,Y3a7a) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ37b
の組み合わせは (X3a7b,Y3a7b) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ37c
の組み合わせは (X3a7c,Y3a7c) 従って、分光用フィルタ37aに対するそれぞれの分光
用フィルタ37a〜37cの共焦点ピンホール40の調
整位置の座標の変化量は下記のようになる。
ついて 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ37a
の組み合わせは (X3a7a,Y3a7a) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ37b
の組み合わせは (X3a7b,Y3a7b) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ37c
の組み合わせは (X3a7c,Y3a7c) 従って、分光用フィルタ37aに対するそれぞれの分光
用フィルタ37a〜37cの共焦点ピンホール40の調
整位置の座標の変化量は下記のようになる。
【0048】分光用フィルタ37bについて (ΔBX7b,ΔBY7b)=(X3a7b−X3a7
a,Y3a7b−Y3a7a) 分光用フィルタ37cについて (ΔBX7c,ΔBY7c)=(X3a7c−X3a7
a,Y3a7c−Y3a7a) 左がX成分、右がY成分の座標の変化量を示す。
a,Y3a7b−Y3a7a) 分光用フィルタ37cについて (ΔBX7c,ΔBY7c)=(X3a7c−X3a7
a,Y3a7c−Y3a7a) 左がX成分、右がY成分の座標の変化量を示す。
【0049】また、分光用フィルタ37aに対する、他
の分光用フィルタ37b,37cの角度差は下記のよう
になる。
の分光用フィルタ37b,37cの角度差は下記のよう
になる。
【0050】分光用フィルタ37bについて {ΔθBX7b,ΔθBY7b}={tan-1(ΔBX
7b/f),tan-1(ΔBY7b/f)} 分光用フィルタ37cについて {ΔθBX7c,ΔθBY7c}={tan-1(ΔBX
7c/f),tan-1(ΔBY7c/f)} 左がX成分の角度差、右がY成分の角度差を示す。
7b/f),tan-1(ΔBY7b/f)} 分光用フィルタ37cについて {ΔθBX7c,ΔθBY7c}={tan-1(ΔBX
7c/f),tan-1(ΔBY7c/f)} 左がX成分の角度差、右がY成分の角度差を示す。
【0051】次に、前述したのと同様に光路上に基準と
なる励起用ビームスプリッタ33aを入れ、分光用フィ
ルタユニット37のフィルタを光路補正ガラス37dに
セットし、分光用フィルタユニット38の分光用フィル
タ38aにセットする。そして、2チャンネルの検出器
46の光量が最大となるように共焦点ピンホール44を
電動XYステージ52により駆動、調整する。
なる励起用ビームスプリッタ33aを入れ、分光用フィ
ルタユニット37のフィルタを光路補正ガラス37dに
セットし、分光用フィルタユニット38の分光用フィル
タ38aにセットする。そして、2チャンネルの検出器
46の光量が最大となるように共焦点ピンホール44を
電動XYステージ52により駆動、調整する。
【0052】同様に、分光用フィルタユニット38の分
光用フィルタ38b,38cと順次切換えて、各々の分
光用フィルタ38b,38cに対して、共焦点ピンホー
ル44の位置調整を行う。ここで、このときのXY電動
ステージ52の座標値(スポット光の位置)が下記の値
であったとする。
光用フィルタ38b,38cと順次切換えて、各々の分
光用フィルタ38b,38cに対して、共焦点ピンホー
ル44の位置調整を行う。ここで、このときのXY電動
ステージ52の座標値(スポット光の位置)が下記の値
であったとする。
【0053】2チャンネル共焦点ピンホール(44)に
ついて 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ38a
の組み合わせは (X3a8a,Y3a8a) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ38b
の組み合わせは (X3a8b,Y3a8b) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ38c
の組み合わせは (X3a8c,Y3a8c) 右側はX成分の座標、左側はY成分の座標を示す。
ついて 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ38a
の組み合わせは (X3a8a,Y3a8a) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ38b
の組み合わせは (X3a8b,Y3a8b) 励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィルタ38c
の組み合わせは (X3a8c,Y3a8c) 右側はX成分の座標、左側はY成分の座標を示す。
【0054】従って、分光用フィルタ38aに対するそ
れぞれの分光用フィルタ38a〜38cの共焦点ピンホ
ール44の調整位置の変化量を下記のようになる。
れぞれの分光用フィルタ38a〜38cの共焦点ピンホ
ール44の調整位置の変化量を下記のようになる。
【0055】分光用フィルタ38bについて (ΔBX8b,ΔBY8b)=(X3a8b−X3a8
a,Y3a8b−Y3a8a) 分光用フィルタ38cについて (ΔBX8c,ΔBY8c)=(X3a8c−X3a8
a,Y3a8c−Y3a8a) 左がX成分、右がY成分の変化量を示す。
a,Y3a8b−Y3a8a) 分光用フィルタ38cについて (ΔBX8c,ΔBY8c)=(X3a8c−X3a8
a,Y3a8c−Y3a8a) 左がX成分、右がY成分の変化量を示す。
【0056】次に、分光用フィルタ38aに対する、他
の分光用フィルタ38b,38cの角度差は下記のよう
になる。
の分光用フィルタ38b,38cの角度差は下記のよう
になる。
【0057】分光用フィルタ38bについて {ΔθBX8b,ΔθBY8b}={tan-1(ΔBX
8b/f),tan-1(ΔBY8b/f)} 分光用フィルタ38cについて {ΔθBX8c,ΔθBY8c}={tan-1(ΔBX
8c/f),tan-1(ΔBY8c/f)} 左がX成分の角度差、右がY成分の角度差を示す。
8b/f),tan-1(ΔBY8b/f)} 分光用フィルタ38cについて {ΔθBX8c,ΔθBY8c}={tan-1(ΔBX
8c/f),tan-1(ΔBY8c/f)} 左がX成分の角度差、右がY成分の角度差を示す。
【0058】次に、ピンホール調整位置演算手段57の
作動により上記データから任意の励起用ビームスプリッ
タ33a〜33dと分光用フィルタ37a〜37d,3
8a〜38dを組み合わせたときの共焦点ピンホール4
0,44,48の調整位置の演算方法を示す。
作動により上記データから任意の励起用ビームスプリッ
タ33a〜33dと分光用フィルタ37a〜37d,3
8a〜38dを組み合わせたときの共焦点ピンホール4
0,44,48の調整位置の演算方法を示す。
【0059】励起用ビームスプリッタ33b,33c,
33dおよび分光用フィルタ37b,37cを組み合わ
せたときの共焦点ピンホール40の位置は下記のように
なる。
33dおよび分光用フィルタ37b,37cを組み合わ
せたときの共焦点ピンホール40の位置は下記のように
なる。
【0060】 {X3p7q,Y3p7q} ={X3a7a+f*tan(ΔθRXp+ΔθBX7q), Y3a7a+f*tan(ΔθRYp+ΔθBY7q)} …(1) p=b,c,d q=b,c 右側は調整値のX座標、左側は調整値のY座標を示す。
【0061】または、 {X3p7q,Y3p7q} ={X3a7q+f*tan(ΔθRXp), Y3a7q+f*tan(ΔθRYp)} …(2) p=b,c,d q=b,c 次に、励起用ビームスプリッタ33b,33c,33d
および分光用フィルタ38b,38cを組み合わせたと
きの共焦点ピンホール44の位置は下記のようになる。
および分光用フィルタ38b,38cを組み合わせたと
きの共焦点ピンホール44の位置は下記のようになる。
【0062】 {X3p8q,Y3p8q} ={X3a8a+f*tan(ΔθRXp+ΔθBX8q), Y3a8a+f*tan(ΔθRYp+ΔθBY8q)} …(3) p=b,c,d q=b,c または {X3p8q,Y3p8q} ={X3a8q+f*tan(ΔθRXp), Y3a8q+f*tan(ΔθRYp)} …(4) p=b,c,d q=b,c 以上、組み合わせにおける各共焦点ピンホール40,4
4,48の位置の演算方法である。なお上記式(1),
(3)は、励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィ
ルタ37aおよび38aのときの調整値を基準にして、
複数の励起用ビームスプリッタの基準33aに対する角
度差および分光用フィルタユニット内の複数の分光用フ
ィルタの基準37a,38aに対する角度差から調整位
置を計算している。これに対して式(2),(4)で
は、励起用ビームスプリッタ33aと各分光用フィルタ
38b,38cを組み合せたときの共焦点ピンホールの
調整値を元に、基準となる励起用ビームスプリッタ33
aに対する組み合せて使用する他の励起用ビームスプリ
ッタ33b〜33dの角度差から調整位置を計算してい
る。どちらの演算方法を用いてもよいが、式(2),
(4)の演算方法の方が演算回数が少なくなり望まし
い。また、分光用フィルタを透過するとき、光軸の角度
が基本的に変化しないことを前提として計算している。
これらのフィルタの平行度は3″程度に加工容易なので
光軸の角度には影響しない。
4,48の位置の演算方法である。なお上記式(1),
(3)は、励起用ビームスプリッタ33aと分光用フィ
ルタ37aおよび38aのときの調整値を基準にして、
複数の励起用ビームスプリッタの基準33aに対する角
度差および分光用フィルタユニット内の複数の分光用フ
ィルタの基準37a,38aに対する角度差から調整位
置を計算している。これに対して式(2),(4)で
は、励起用ビームスプリッタ33aと各分光用フィルタ
38b,38cを組み合せたときの共焦点ピンホールの
調整値を元に、基準となる励起用ビームスプリッタ33
aに対する組み合せて使用する他の励起用ビームスプリ
ッタ33b〜33dの角度差から調整位置を計算してい
る。どちらの演算方法を用いてもよいが、式(2),
(4)の演算方法の方が演算回数が少なくなり望まし
い。また、分光用フィルタを透過するとき、光軸の角度
が基本的に変化しないことを前提として計算している。
これらのフィルタの平行度は3″程度に加工容易なので
光軸の角度には影響しない。
【0063】このように上記一実施の形態においては、
各励起用ビームスプリッタ33a〜33dの相互間の角
度データ、共焦点ピンホール48面でのスポット光の位
置データを求め、次に分光用フィルターユニット37,
38内の各分光用フィルタ37a〜37c、38a〜3
8cの相互間の角度データ、各共焦点ピンホール40,
44面でのスポット光の位置データを求め、次にこれら
角度データ、位置データに基づいて任意の励起用ビーム
スプリッタ33a〜33dと分光用フィルタ37a〜3
7d,38a〜38dを組み合わせたときの各共焦点ピ
ンホール40,44,48の調整位置を演算し求めるよ
うにしたので、共焦点ピンホール上の結像位置ずれの原
因を、励起用ビームスプリッタ33a〜33dと反射す
る1個以下の分光用フィルタ37a〜37c,38a〜
38cの切換えによる角度差のみに限定でき、励起用ビ
ームスプリッタ33a〜33dまたは分光用フィルタユ
ニット37,38内のフィルタ37a〜37c,38a
〜38cの相互間の角度データまたは位置データから任
意の励起用ビームスプリッタ33a〜33dと分光用フ
ィルタ37a〜37c,38a〜38cを組み合わせた
ときの共焦点ピンホール40,44,48の調整値を演
算により求めることが可能となり、たとえ切換えるビー
ムスプリッタの個数が増えても、又使用する共焦点ピン
ホールの数が増えても、共焦点ピンホールの調整回数、
工数を大幅に削減できる。
各励起用ビームスプリッタ33a〜33dの相互間の角
度データ、共焦点ピンホール48面でのスポット光の位
置データを求め、次に分光用フィルターユニット37,
38内の各分光用フィルタ37a〜37c、38a〜3
8cの相互間の角度データ、各共焦点ピンホール40,
44面でのスポット光の位置データを求め、次にこれら
角度データ、位置データに基づいて任意の励起用ビーム
スプリッタ33a〜33dと分光用フィルタ37a〜3
7d,38a〜38dを組み合わせたときの各共焦点ピ
ンホール40,44,48の調整位置を演算し求めるよ
うにしたので、共焦点ピンホール上の結像位置ずれの原
因を、励起用ビームスプリッタ33a〜33dと反射す
る1個以下の分光用フィルタ37a〜37c,38a〜
38cの切換えによる角度差のみに限定でき、励起用ビ
ームスプリッタ33a〜33dまたは分光用フィルタユ
ニット37,38内のフィルタ37a〜37c,38a
〜38cの相互間の角度データまたは位置データから任
意の励起用ビームスプリッタ33a〜33dと分光用フ
ィルタ37a〜37c,38a〜38cを組み合わせた
ときの共焦点ピンホール40,44,48の調整値を演
算により求めることが可能となり、たとえ切換えるビー
ムスプリッタの個数が増えても、又使用する共焦点ピン
ホールの数が増えても、共焦点ピンホールの調整回数、
工数を大幅に削減できる。
【0064】例えば、本実施の形態の構成で従来技術の
ように全ての組み合わせの調整を行なうと、 4(励起用ビームスプリッタの個数)*3(分光用フィ
ルタユニット内のフィルタ数)*2(分光用フィルタユ
ニットの数)+4(3チャンネル目の調整数、励起用ビ
ームスプリッタの数)=28通り の調整が必要になるところ、本発明では、 4(励起用ビームスプリッタの数)+3(分光用フィル
タユニット内のフィルタ数)*2(分光用フィルタユニ
ットの数)=10通り の調整で済み、共焦点ピンホール調整回数が18回削減
でき、大幅な調整工数の削減となる。
ように全ての組み合わせの調整を行なうと、 4(励起用ビームスプリッタの個数)*3(分光用フィ
ルタユニット内のフィルタ数)*2(分光用フィルタユ
ニットの数)+4(3チャンネル目の調整数、励起用ビ
ームスプリッタの数)=28通り の調整が必要になるところ、本発明では、 4(励起用ビームスプリッタの数)+3(分光用フィル
タユニット内のフィルタ数)*2(分光用フィルタユニ
ットの数)=10通り の調整で済み、共焦点ピンホール調整回数が18回削減
でき、大幅な調整工数の削減となる。
【0065】なお、本発明は、上記一実施の形態に限定
されるものでなく次の通り変形してもよい。
されるものでなく次の通り変形してもよい。
【0066】例えば、上記一実施の形態では、励起用ビ
ームスプリッタユニット33と分光用フィルタユニット
37,38をターレット方式により切換えたが、リニア
ガイドを用いたスライド機構でも良い。また、検出チャ
ンネルを3個、分光用フィルタユニットが2個の構成で
あるが、検出チャンネルを4個、5個と増やしていって
も良く、また、増やした方が効果が大きくなるのは言う
までもない。分光用フィルタユニット37,38は検出
チャンネル数より、通常、1つ少なくなるので、検出チ
ャンネル数をN(Nは2以上)とすると、分光用フィル
タユニット数は(N−1)個となる。
ームスプリッタユニット33と分光用フィルタユニット
37,38をターレット方式により切換えたが、リニア
ガイドを用いたスライド機構でも良い。また、検出チャ
ンネルを3個、分光用フィルタユニットが2個の構成で
あるが、検出チャンネルを4個、5個と増やしていって
も良く、また、増やした方が効果が大きくなるのは言う
までもない。分光用フィルタユニット37,38は検出
チャンネル数より、通常、1つ少なくなるので、検出チ
ャンネル数をN(Nは2以上)とすると、分光用フィル
タユニット数は(N−1)個となる。
【0067】又、本発明は、上記一実施の形態に限定さ
れるものでなく、例えば光路補正ガラスを備えていなく
て、全て分光用フィルタである分光用フィルタユニット
であってもよく、光路補正ガラスの代りに分光用フィル
タを用いても上述したものと同様の調整が可能である。
れるものでなく、例えば光路補正ガラスを備えていなく
て、全て分光用フィルタである分光用フィルタユニット
であってもよく、光路補正ガラスの代りに分光用フィル
タを用いても上述したものと同様の調整が可能である。
【0068】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、切
り換えるビームスプリッタの個数が増えても又は使用す
る共焦点ピンホールの数が増えても、共焦点ピンホール
の調整回数を少なくして調整工数を大幅に削減できる共
焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置を提供でき
る。
り換えるビームスプリッタの個数が増えても又は使用す
る共焦点ピンホールの数が増えても、共焦点ピンホール
の調整回数を少なくして調整工数を大幅に削減できる共
焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置を提供でき
る。
【図1】本発明に係わる共焦点レーザ走査型顕微鏡の調
整装置の一実施の形態を示す構成図。
整装置の一実施の形態を示す構成図。
【図2】同装置における励起用ビームスプリッタユニッ
トの構成図。
トの構成図。
【図3】同装置における分光用フィルタユニットの構成
図。
図。
【図4】同装置における分光用フィルタユニットの構成
図。
図。
【図5】従来技術における光路の概略図。
30:レーザ装置、 31:ファイバ、 32:コリメータレンズ、 33:励起用ビームスプリッタユニット、 33a〜33d:励起用ビームスプリッタ、 34:XYガルバノメータミラー、 35:瞳投影レンズ、 36:ミラー、 37,38:分光用フィルタユニット、 37a〜37c,38a〜38c:分光用フィルタ、 37d,38d:光路補正ガラス、 39,43,47:共焦点結像レンズ、 40,44,48:共焦点ピンホール、 41,45,49:バリアフィルタ、 42,46,50:光検出器、 51,52,53:XY電動ステージ、 54:演算処理装置、 55:第1の位置データ演算手段、 56:第2の位置データ演算手段、 57:ピンホール調整位置演算手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G043 AA01 DA06 EA01 FA01 FA02 GA04 GB01 GB03 GB18 GB19 HA01 HA02 HA05 HA09 JA00 JA01 JA03 KA09 LA01 NA01 2H052 AA08 AA09 AB24 AB25 AC04 AC15 AC26 AC29 AC34 AD33 AD35 AD36 AF07
Claims (2)
- 【請求項1】 レーザ光を標本側に反射するとともに前
記標本からの光を透過するそれぞれ異なる波長特性を持
った複数の励起ビームスプリッタを保持し、これら励起
ビームスプリッタのうちいずれか1つの励起ビームスプ
リッタを前記レーザ光の光路上に配置する励起ビームス
プリッタユニットと、 この励起ビームスプリッタにおける前記励起ビームスプ
リッタの透過光路上に少なくとも1段配置され、それぞ
れ異なる分光波長を持った複数の分光ビームスプリッタ
を保持し、これら分光ビームスプリッタのうちいずれか
1つを前記励起ビームスプリッタの透過光路上に配置す
る分光ビームスプリッタユニットと、 この分光ビームスプリッタユニットに保持されているい
ずれか1つの分光ビームスプリッタの反射光路上及び透
過光路上にそれぞれ各共焦点結像レンズ及びピンホール
を介して配置された複数の光検出器とを備え、 複数の前記励起ビームスプリッタの相互間の角度デー
タ、前記共焦点ピンホール面での光の位置データを求め
る第1の工程と、 前記分光ビームスプリッタユニットにおける複数の前記
分光ビームスプリッタの相互間の角度データ、前記共焦
点ピンホール面での光の位置データを求める第2の工程
と、 前記第1及び第2の工程で求められた各角度データ及び
各位置データに基づいて任意の前記励起ビームスプリッ
タと前記分光ビームスプリッタとを組み合わせたときの
前記各共焦点ピンホールの調整位置を求める第3の工程
と、を有することを特徴とする共焦点レーザ顕微鏡の調
整方法。 - 【請求項2】 レーザ光を標本側に反射するとともに前
記標本からの光を透過するそれぞれ異なる波長特性を持
った複数の励起ビームスプリッタを保持し、これら励起
ビームスプリッタのうちいずれか1つの励起ビームスプ
リッタを前記レーザ光の光路上に配置する励起ビームス
プリッタユニットと、 この励起ビームスプリッタにおける前記励起ビームスプ
リッタの透過光路上に少なくとも1段配置され、それぞ
れ異なる分光波長を持った複数の分光ビームスプリッタ
を保持し、これら分光ビームスプリッタのうちいずれか
1つを前記励起ビームスプリッタの透過光路上に配置す
る分光ビームスプリッタユニットと、 この分光ビームスプリッタユニットに保持されているい
ずれか1つの分光ビームスプリッタの反射光路上及び透
過光路上にそれぞれ各共焦点結像レンズ及び各共焦点ピ
ンホールを介して配置された複数の光検出器と、 前記分光ビームスプリッタユニットと前記共焦点ピンホ
ールとの間に配置された共焦点結像レンズとを具備し、 前記分光ビームスプリッタユニットから前記共焦点ピン
ホールまで無反射で光を到達させ、かつ前記励起ビーム
スプリッタから前記共焦点結像レンズまで到達する光の
分光フィルタによる反射回数を1回以内とすることを特
徴とする共焦点レーザ顕微鏡の調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11056817A JP2000249925A (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | 共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11056817A JP2000249925A (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | 共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000249925A true JP2000249925A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=13037939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11056817A Withdrawn JP2000249925A (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | 共焦点レーザ顕微鏡の調整方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000249925A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007047492A (ja) * | 2005-08-10 | 2007-02-22 | Olympus Corp | 走査型蛍光顕微鏡 |
| EP1865306A4 (en) * | 2005-04-01 | 2013-01-09 | Olympus Corp | OPTICAL MEASURING APPARATUS |
| WO2013118666A1 (ja) * | 2012-02-06 | 2013-08-15 | 株式会社ニコン | 分光器及び顕微分光システム |
| KR20240062431A (ko) * | 2022-11-01 | 2024-05-09 | 아주대학교산학협력단 | 핀홀 스캐닝을 이용한 현미경 분광 분석 장치 및 방법 |
-
1999
- 1999-03-04 JP JP11056817A patent/JP2000249925A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1865306A4 (en) * | 2005-04-01 | 2013-01-09 | Olympus Corp | OPTICAL MEASURING APPARATUS |
| JP2007047492A (ja) * | 2005-08-10 | 2007-02-22 | Olympus Corp | 走査型蛍光顕微鏡 |
| WO2013118666A1 (ja) * | 2012-02-06 | 2013-08-15 | 株式会社ニコン | 分光器及び顕微分光システム |
| JPWO2013118666A1 (ja) * | 2012-02-06 | 2015-05-11 | 株式会社ニコン | 分光器及び顕微分光システム |
| US9243955B2 (en) | 2012-02-06 | 2016-01-26 | Nikon Corporation | Spectroscope and microspectroscopic system |
| US9612156B2 (en) | 2012-02-06 | 2017-04-04 | Nikon Corporation | Spectroscope and microspectroscopic system |
| KR20240062431A (ko) * | 2022-11-01 | 2024-05-09 | 아주대학교산학협력단 | 핀홀 스캐닝을 이용한 현미경 분광 분석 장치 및 방법 |
| KR102904711B1 (ko) | 2022-11-01 | 2025-12-24 | 아주대학교산학협력단 | 핀홀 스캐닝을 이용한 현미경 분광 분석 장치 및 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060509 |