JP2000258105A

JP2000258105A - シャフト振れ測定器

Info

Publication number: JP2000258105A
Application number: JP11063593A
Authority: JP
Inventors: Takeshi Ouchi; 猛大内; Masaaki Mizutani; 正明水谷; Hideo Kadowaki; 秀夫門脇
Original assignee: Hitachi Cable Ltd
Current assignee: Hitachi Cable Ltd
Priority date: 1999-03-10
Filing date: 1999-03-10
Publication date: 2000-09-22

Abstract

(57)【要約】【課題】測定精度が高く、組み立て調整が不要なシャ
フト振れ測定器を提供する。【解決手段】シャフト等の円柱状の被測定物を回転さ
せて変形を検査するシャフト振れ測定器において、上部
が開いたＶ字状の切込部１を有する２個の支持片２を形
成し、これら２個の支持片２を１個のベース部材３に水
平方向同一直線上で移動可能に保持させ、各切込部１に
被測定物４の外周が接するよう被測定物４を支持片２に
掛け渡して載置し、この被測定物４の外周の頂部に接す
る測定子５を前記ベース部材３に取り付け、被測定物４
が回転される間の測定子５の高さ変位を測定するように
した。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、シャフト等の円柱
状部材の変形を検査するシャフト振れ測定器に係り、特
に、測定精度が高く、組み立て調整が不要なシャフト振
れ測定器に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】シャフト等の円柱状部材が正確な円柱に
仕上がっているかどうかを検査するために、従来は、次
のような方法を行っていた。

【０００３】図４に示されるように、定盤の上に２個の
Ｖブロック４１を適宜間隔で配置し、これらＶブロック
間に掛け渡すようにして被測定物４である円柱状部材を
Ｖ溝上に載置し、Ｖブロック間に設置したダイヤルゲー
ジ４２を被測定物の頂部に当てておき、この被測定物４
を回転させつつ、ダイヤルゲージ４２の目盛りを読む。
被測定物４の外周がＶ溝の両斜面に接した状態であるた
め、被測定物４の断面が真の円であれば回転角度によら
ず、その断面の中心の位置は一定である。被測定物４の
断面が真の円でなければ、回転角度によってＶ溝両斜面
までの径の長さが異なるために、その断面の中心の位置
が変動する。この中心変動を被測定物の頂部の高さの変
動として検出することができる。また、被測定物４が湾
曲や折れ曲りを有する場合は、回転に伴って曲りの方向
も回転するので、曲りの大きさを被測定物４の頂部の高
さの変動として検出することができる。このような被測
定物の頂部の高さの変動を「振れ」と呼び、一回転中の
高さの変動幅を「振れ幅」と呼ぶ。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
測定方法は、以下の問題点を有する。

【０００５】（１）被測定物４とＶブロック４１との当
たり面（Ｖ溝の斜面）が面であるため、理想的には両者
はＶブロック４１の全幅にわたって線で接することにな
る。しかし、実際には、被測定物４に変形があるなどに
より、両者は部分的に接し、その接する位置が被測定物
４の長手方向に変化することになり、その結果、測定精
度を損なうことになる。

【０００６】（２）ダイヤルゲージ４２の目盛り表示
は、スケールが一定であり、スケールを拡大することが
できないため、微小な変化を表示することができない。

【０００７】（３）Ｖブロック４１やダイヤルゲージ４
２などが装置として一体化されていないため、測定を行
う都度に組み立て、調整しなければならない。

【０００８】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、測定精度が高く、組み立て調整が不要なシャフト振
れ測定器を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、シャフト等の円柱状の被測定物を回転させ
て変形を検査するシャフト振れ測定器において、上部が
開いたＶ字状の切込部を有する２個の支持片を形成し、
これら２個の支持片を１個のベース部材に水平方向同一
直線上で移動可能に保持させ、各切込部に被測定物の外
周が接するよう被測定物を支持片に掛け渡して載置し、
この被測定物の外周の頂部に接する測定子を前記ベース
部材に取り付け、被測定物が回転される間の測定子の高
さ変位を測定するようにしたものである。

【００１０】前記切込部の斜辺に沿わせて上部が丸い案
内棒を設け、この案内棒の上部に被測定物の外周が接す
るようにしてもよい。

【００１１】前記測定子の変位出力を複数のレンジで切
り替え可能に比例表示するアナログ表示器を設けてもよ
い。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を添付
図面に基づいて詳述する。

【００１３】本発明のシャフト振れ測定器は、図１に示
されるように、上部が開いたＶ字状の切込部１を有する
２個の支持片２と、これら２個の支持片２を水平方向同
一直線上で移動可能に保持する１個のベース部材３と、
被測定物４の外周の頂部に接して高さ変位を測定する測
定子５と、ベース部材３に取り付けられ、測定子５を昇
降及び回動自在に支持する測定子スタンド６と、切込部
１の両斜辺に沿わせてそれぞれ設けられた上部が丸い案
内棒７と、測定子５の変位出力を複数のレンジで切り替
え可能に比例表示するアナログ表示器８とからなる。

【００１４】支持片（Ｖ形サポート）２は、図２に示さ
れるように、薄板状の起立部１１とその起立部１１の下
辺より水平に伸びた水平部１２とを有し、正面は略Ｌ字
状を呈する。水平部１２には、締め付けボルト１４（図
１参照）用の貫通孔１３が設けられている。起立部１１
の上辺には、側面から見てＶ字状の切込部１が形成され
ている。起立部１１の下辺には、下方に突き出た凸部１
５が形成されている。案内棒７は、丸棒であり、切込部
１の斜辺に沿わせて溶接等により貼り付けられている。
この案内棒７は、被測定物４の回転による摩耗を免れる
よう硬度の高い材料からなる。

【００１５】ベース部材（スライド式ベース）３は、図
３に示されるように、上面の長手方向に直線的に伸びた
２本の平行な溝３１，３２を有する。それぞれの溝３
１，３２は、上部開口部３４より幅の広い底部空間部３
５を有し、上部開口部３４と底部空間部３５との境界に
おいて幅方向両側に段差が形成されている。溝３１は、
支持片２の凸部１５を上部開口部３４で規制してベース
部材３の長手方向にのみ移動を許容することができる。
また、締め付けボルト１４に螺合された締め付けナット
１６（図１参照）を底部空間部３５に収容してベース部
材３の長手方向に移動させ、締め付けによって任意の位
置に固定させることが可能である。３６（図１参照）
は、ベース部材の水平を調整するための水平調整ボルト
である。

【００１６】測定子５は、変位を電気信号に変換する電
気マイクロメータからなり、その電気信号のケーブルが
アナログ表示器８に接続されている。

【００１７】測定子スタンド６は、支持片２と同様な構
造により溝３２に沿って移動及び固定可能なスタンド支
持具６１と、起立させた垂直ロッド６２と、この垂直ロ
ッド６２をスタンド支持具６１に着脱するマグネット６
３と、垂直ロッド６２の上部より被測定物４に向けて斜
めに差し出され、先端に測定子５を取り付ける斜めロッ
ド６４と、この斜めロッド６４を垂直ロッド６２に対し
て回動を許容し、かつ固定する締め付け具６５と、垂直
ロッド６２を昇降させることにより測定子５の高さを微
調整する微調整具６６とからなる。

【００１８】アナログ表示器８は、測定子５からの電気
信号に比例して回動される指針８１と、その比例定数を
切り替えることにより指針の振れ幅を切り替えるレンジ
切り替えツマミ８２と、指針の０点を測定子の初期位置
に合わせる０点調整ツマミ８３と、各レンジ毎の目盛り
８４とからなる。例えば、各レンジは、−２．５μｍ〜
０μｍ〜＋２．５μｍ、−１０μｍ〜０μｍ〜＋１０μ
ｍ、−２５μｍ〜０μｍ〜＋２５μｍ、−１００μｍ〜
０μｍ〜＋１００μｍの４段階とする。

【００１９】図１に示されるように、予めシャフト等の
被測定物４の長さを考慮し、２個の支持片２をベース部
材３の溝３１に沿わせて移動し、適宜間隔の配置とした
後、締め付けボルト１４で固定しておく。測定子スタン
ド６は、２個の支持片間の所望の位置に移動させてお
く。各支持片２の切込部１に被測定物４の外周が接する
よう被測定物４を支持片２に掛け渡して載置する。測定
子スタンド２６の斜めロッド６４を回動させると共に垂
直ロッド６２を昇降させることにより、測定子５が所定
の角度で被測定物４の外周の頂部に接するよう調整す
る。この状態で、アナログ表示器８の調整のため、被測
定物４を手動にてゆっくりと回転させる。このとき、被
測定物４に振れが発生し、その振れに応じてアナログ表
示器８の指針８１が回動する。その指針８１の回動の大
小に合わせて適正なレンジを選択する。即ち、指針８１
が目盛りのフルスケールを超えず、できるだけ大きな幅
で振れるようにする。次いで、被測定物５を静止し、０
点調整により指針８１を目盛り８４の“０”に合わせ
る。その後、被測定物４を手動にて回転させる。被測定
物４の回転に応じて被測定物４の頂部の高さが変動する
と、測定子５には変位が検出され、この変位が指針８１
の振れにより比例表示される。

【００２０】従来では、被測定物４をＶブロックに載置
していたので、測定精度がよくなかったが、本発明で
は、被測定物４を支持片２の切込部１に載置するので、
被測定物４が切込部１に接する位置は長手方向にほとん
ど変動せず、従って、測定精度を高く維持することがで
きる。さらに、切込部１の斜辺に上部が丸い案内棒７を
設けた場合には、確実に被測定物４が案内棒７に点で接
することになるので、測定精度をいっそう高く維持する
ことができる。具体的には、従来技術が５μｍ〜１０μ
ｍの精度であったのに対し、本発明は０．２５μｍの精
度を得ることができた。

【００２１】また、本発明にあっては、２個の支持片２
が予めベース部材３に一体化され、一次元的な移動だけ
できるようになっているので、組み立て調整が不要であ
ると共に、被測定物４の長さに合わせて支持片２を配置
する場合にも、二次元的にずれることがない。同様に、
測定子５もベース部材３に一体化されているので、組み
立て調整が不要である。

【００２２】また、本発明にあっては、アナログ表示器
８を複数のレンジで切り替え可能に構成したので、振れ
が微小な場合には拡大して表示することができる。

【００２３】

【発明の効果】本発明は次の如き優れた効果を発揮す
る。

【００２４】（１）２個の支持片や測定子が予めベース
部材に一体化され、必要な方向にだけ移動できるように
なっているので、組み立て調整が不要である。

【００２５】（２）切込部の斜辺に上部が丸い案内棒を
設けたことにより、確実に被測定物が案内棒に点で接す
ることになり、測定精度を高く維持することができる。

【００２６】（３）アナログ表示器を複数のレンジで切
り替え可能に構成したので、振れが微小な場合には拡大
して表示することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態を示すシャフト振れ測定器
の（ａ）正面図、（ｂ）側面図である。

【図２】図１のシャフト振れ測定器に使用する支持片の
（ａ）正面図、（ｂ）側面図、（ｃ）Ｘ−Ｘ´断面図で
ある。

【図３】図１のシャフト振れ測定器に使用するベース部
材の（ａ）平面図、（ｂ）断面図である。

【図４】従来の測定方法を示す斜視図である。

【符号の説明】１切込部２支持片３ベース部材４被測定物５測定子６測定子スタンド７案内棒８アナログ表示器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者門脇秀夫茨城県日立市助川町３丁目１番１号日立電線株式会社電線工場内Ｆターム(参考） 2F062 AA12 AA99 BB07 BC36 CC22 CC30 EE01 EE54 EE62 FF17 FF25 GG09 GG28 GG61 HH05 HH13 LL02 LL05 MM06 MM07

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】シャフト等の円柱状の被測定物を回転さ
せて変形を検査するシャフト振れ測定器において、上部
が開いたＶ字状の切込部を有する２個の支持片を形成
し、これら２個の支持片を１個のベース部材に水平方向
同一直線上で移動可能に保持させ、各切込部に被測定物
の外周が接するよう被測定物を支持片に掛け渡して載置
し、この被測定物の外周の頂部に接する測定子を前記ベ
ース部材に取り付け、被測定物が回転される間の測定子
の高さ変位を測定するようにしたことを特徴とするシャ
フト振れ測定器。
【請求項２】前記切込部の斜辺に沿わせて上部が丸い
案内棒を設け、この案内棒の上部に被測定物の外周が接
するようにしたことを特徴とする請求項１記載のシャフ
ト振れ測定器。
【請求項３】前記測定子の変位出力を複数のレンジで
切り替え可能に比例表示するアナログ表示器を設けたこ
とを特徴とする請求項１又は２記載のシャフト振れ測定
器。