JP2000258151A - 三次元形状測定装置および金型構造体 - Google Patents

三次元形状測定装置および金型構造体

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JP2000258151A
JP2000258151A JP11057911A JP5791199A JP2000258151A JP 2000258151 A JP2000258151 A JP 2000258151A JP 11057911 A JP11057911 A JP 11057911A JP 5791199 A JP5791199 A JP 5791199A JP 2000258151 A JP2000258151 A JP 2000258151A
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dimensional shape
mold
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Kotaro Hosaka
光太郎 保坂
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数面から構成される測定対象物、特に複数
個の金型を組み合わせた場合の個々の金型、の三次元形
状と位置を簡単にかつ高精度に測定することができる金
型用の三次元形状測定装置を提供する。 【解決手段】 測定対象物としての複数の金型4(4
a、4b、4c)をプローブ10で走査することによっ
て各金型4の三次元形状を測定する三次元形状測定装置
において、複数の金型4(4a、4b、4c)を保持す
る筐体1には少なくとも3個の基準球2(2a、2b、
2c)を筐体1の表面より内部に埋め込んで配設し、3
個の基準球2および複数の金型4の表面形状をプローブ
10によりそれぞれ測定して、3個の基準球2の中心位
置データと複数の金型4の表面形状測定データから複数
の金型4の個々の形状と位置関係を算出する。これによ
り、金型4の個々の形状と位置を簡単にかつ高精度に測
定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、1面あるいは複数
面の曲面からなる測定対象物において個々の面の三次元
形状および個々の面の絶対位置と相対位置を高精度に測
定する三次元形状測定装置、および、三次元形状測定装
置により個々の金型形状が測定可能な複数個の金型を組
み合わせた金型構造体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、金型、成型品等の測定対象物の表
面形状の測定には三次元形状測定装置が使用されてお
り、三次元形状測定装置としては、特開平8−5346
号公報に開示されている測定装置が知られている。ま
た、金型の加工精度を測定する方法としては特開平5−
223560号公報に開示された技術があり、さらに、
複数の金型を組み合わせる場合の型合わせ精度の測定装
置として特開平10−62123号公報に開示された技
術が知られている。
【0003】従来の三次元形状測定装置は、図5に例示
するように、測定対象物搭載台102に搭載された測定
対象物101をトレースするプローブ103、このプロ
ーブ103と一体になって垂直方向に移動するZステー
ジ104と、Zステージ104を保持して水平方向に移
動可能なXYステージ105と、XYステージ105上
に設けられたレーザ測長機106を有し、レーザ測長機
106の光路上にビームスプリッタ107とレーザ光を
反射させる複数のミラー108、109、110を配し
て、複数のミラーの内の1つのミラー108をレーザ測
長用ミラーとしてプローブ103を保持するZステージ
104上に配設し、また他の1つのミラー109をミラ
ー108に対向する位置であって測定対象物搭載台10
2より一定の距離にある固定位置に配設してある。そし
て、XYステージ105の水平方向の移動により、プロ
ーブ103は、測定対象物101の表面を走査し、測定
対象物101のZ方向の面の高さにしたがいZステージ
104を上下動させるとともにZステージ104に固定
されたレーザ測長用ミラー108を上下動させる。この
レーザ測長用ミラー108の動きをレーザ測長機106
により測定し、その測定結果から測定対象物101の三
次元形状を算出するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前述した特開平8−5
346号公報や特開平5−223560号公報に開示さ
れた技術では、測定対象物が1面のみで構成される物品
を対象にしている。しかしながら、例えば複数面を組み
合わせた成型品を成型する金型では複数の金型を組み合
わせて成型することがある。このような場合、個々の金
型の位置を正確に測定する必要があるけれども、前述し
た公報等に開示された技術では複数面を測定して個々の
位置を算出することはできないという問題があった。
【0005】また、前記の特開平10−621123号
公報には、複数の型を組み合わせる場合の位置ずれを測
定する方法が開示されているが、これは個々の型に位置
ずれ検出用の構造を作製しておく必要があり、煩雑な上
に位置ずれ検出用の構造を作製する場所を確保できない
場合もあり得る。さらに、前記の特開平10−6211
23号公報には、個々の型の形状計測を行なう方法は開
示されておらず、個々の型の形状を測定するには別の形
状測定機を用いる必要がある。このため位置ずれ検出用
の構造の位置と型の形状との関係は、型形状に対して位
置ずれ検出用の構造を正確に作製するかあるいは正確に
測定しておかないと誤差が発生するという問題があっ
た。
【0006】そこで、本発明は、上記のような従来技術
の有する未解決の課題に鑑みてなされたものであって、
複数面から構成される測定対象物、特に複数個の金型を
組み合わせた場合の個々の金型、の三次元形状と位置を
簡単にかつ高精度に測定することができる三次元形状測
定装置を提供するとともに、三次元形状測定装置により
個々の金型形状が測定可能な複数個の金型を組み合わせ
た金型構造体を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の三次元形状測定装置は、三次元形状を接触
または非接触プローブで走査することによって測定する
三次元形状測定装置において、測定対象物を保持する筐
体と、該筐体に配設された基準部材とを有し、該基準部
材と前記筐体に保持される測定対象物の表面形状を測定
することにより、該測定対象物の形状と位置関係を算出
することを特徴とする。
【0008】本発明の三次元形状測定装置においては、
前記基準部材は3個以上の基準球であることが好まし
く、また、前記基準球の表面形状を測定することによ
り、該基準球の中心位置データを測定することが好まし
い。
【0009】本発明の三次元形状測定装置においては、
前記基準部材の測定データと前記測定対象物の表面形状
測定データから、該測定対象物の形状と位置関係を計算
する演算処理手段を有することが好ましい。
【0010】本発明の三次元形状測定装置においては、
前記基準部材は前記筐体の表面より内部に埋め込んで配
設されていることが好ましく、前記筐体は1個または複
数個の測定対象物を保持することが好ましい。また、前
記測定対象物が金型であり、前記金型を保持する筐体
は、成形機あるいはプレス機に装着することができるよ
うに構成されていることが好ましい。
【0011】さらに、本発明の金型構造体は、1個また
は複数個の金型を保持して成形機あるいはプレス機に装
着可能な金型構造体であって、基準位置データを測定す
るための基準部材を有することを特徴とする。
【0012】本発明の金型構造体においては、前記基準
部材は3個以上の基準球であることが好ましく、また、
請求項1ないし6のいずれか1項に記載の三次元形状測
定装置に装着され、前記1個または複数個の金型の各形
状および前記基準部材が測定されるように構成されてい
ることが好ましい。
【0013】
【作用】本発明によれば、三次元形状を接触または非接
触プローブにて走査することによって形状を測定する三
次元形状測定装置において、複数個の測定対象物を保持
する筐体に配設された基準部材としての3個以上の基準
球の中心位置データと複数個の測定対象物の表面形状測
定データから複数個の測定対象物の個々の形状と位置を
算出し、複数個の測定対象物の三次元形状と位置関係を
簡単にかつ高精度に測定することができ、また、複数個
の金型を組み合わせて保持し成形機あるいはプレス機に
装着可能な金型構造体であって基準部材としての3個以
上の基準球を配設した金型構造体を用いて、複数個の金
型の形状および3個以上の基準球を測定することによ
り、個々の金型の三次元形状と位置関係を簡単にかつ高
精度に測定することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
いて説明する。
【0015】図1は、本発明の三次元形状測定装置の全
体構成の概略図であり、図2の(a)は、本発明の三次
元形状測定装置における測定対象物である複数個の金型
を保持した基準球を有する筐体の斜視図であり、同
(b)は、同(a)に図示する筐体を基準球部分で破断
して示す部分断面図である。
【0016】図1および図2において、1は、表面形状
を測定しようとする測定対象物である金型4(4a、4
b、4c)を所定の位置に保持するための筐体であり、
筐体1には、図2の(a)および(b)に図示するよう
に、基準部材としての少なくとも3個の基準球2(2
a、2b、2c)が配設され、筐体1に穿設された穴3
(3a、3b、3c)内にそれぞれ収容して取り付けら
れている。これらの穴3a、3b、3cは、図2の
(b)に図示するように、基準球2a、2b、2cの最
上部が筐体1の表面より下方に位置付けられるように穿
設されており、さらに、形状を測定するためのプローブ
10が基準球2a、2b、2cの表面形状をトレースす
ることができる程度の大きさに形成されている。なお、
基準球2は本実施例では3個の基準球2a、2b、2c
としているけれども、3個の限らず3個以上の基準球を
用いることもできる。
【0017】また、筐体1に保持される複数の金型4
(4a、4b、4c)は、それぞれ単独に加工されたも
のであって、全て同じ面を有しているかあるいはそれぞ
れ異なった面を有している。また、本実施例において
は、図2の(a)に図示するように、金型4は3個とし
ているが、1個以上の金型であれば何個でもかまわな
い。
【0018】以上のように構成された筐体1は、金型4
(4a、4b、4c)を組み込んだ状態で、これを金型
として成形機やプレス機に装着するときに、筐体1の基
準球2a、2b、2cが干渉することがなく、そのまま
成形機やプレス機に装着することができる。なお、本実
施例では、筐体1に穴3(3a、3b、3c)を穿設し
てこれらの穴3に基準球2(2a、2b、2c)をそれ
ぞれ収容しているが、筐体1を金型として成形機やプレ
ス機に装着するときに、基準球2(2a、2b、2c)
が対応する相手側に形成した穴を挿入されるようにして
干渉を防ぐことも当然可能である。
【0019】10は形状を測定するためのプローブであ
って、筐体1に保持された測定対象となる金型4(4
a、4b、4c)や基準部材としての基準球2(2a、
2b、2c)の表面形状を走査して測定を行なうもので
あり、このプローブ10は、Z方向(図1における上下
方向)に移動可能なZスライド11に保持されている。
プローブ10は、物体表面に接触してトレースするため
のセンサーが組み込まれており、その構造は例えば特開
平5−60542号公報等に開示されているような構造
を有するものを用いる。なお、本実施例では接触式のプ
ローブを例にとって説明するけれども、接触式プローブ
に代えて非接触プローブを用いることも可能である。
【0020】三次元形状測定装置の架台14上にはYス
ライド13がY方向に移動可能に設けられ、Xスライド
12は、Yスライド13に支持されてX方向に移動可能
に設けられ、また、Z方向に移動可能なZスライド11
は、Xスライド12に支持されており、これらのZスラ
イド11、Xスライド12およびYスライド13は、後
述する電装ラック15内に配設される各駆動ドライバー
により、それぞれZ、XおよびY方向に駆動されるよう
に構成されている。これらの各スライド11、12、1
3を駆動させることによって、Zスライド11に保持さ
れるプローブ3を架台14上でX方向、Y方向、そして
Z方向に移動させることができ、そして、Zスライド1
1のZ方向の移動量(図1の上下方向)、Xスライド1
2のX方向の移動量(図1の左右方向)およびYスライ
ド13のY方向の移動量(図1の紙面に対し垂直な方
向)は、図示しないレーザ測長機または光学スケール等
のスケールなどにより測長され、各移動量を測定するこ
とができる。
【0021】15は、Xスライド12、Yスライド13
およびZスライド11のX、Y、Z軸の各駆動を行なう
ドライバー等やX、Y、Z軸の各スライドの移動量を測
長するレーザ測長データを取り込む電気系等が搭載され
た電装ラックであり、16は、電装ラック15のX、
Y、Z軸の各駆動用のドライバに対して駆動量や駆動方
法を指令するための制御用コンピュータであり、17
は、マンマシンインターフェイスを備えたコンピュータ
であって、測定のために必要な設計値や測定手順の設定
等を行なう機能や測定結果をモニターに表示したり記憶
装置に記録したりする機能を備えている。18は手動操
作盤であり、この手動操作盤18上での操作により、X
スライド12、Yスライド13およびZスライド11を
任意の位置に適宜移動させることができるように構成さ
れている。
【0022】次に、以上のように構成された本発明の三
次元形状測定装置による測定手順について、図3に図示
する測定手順フローにしたがって説明する。なお、本実
施例における測定対象物は、単体の金型4a、4b、4
cであり、筐体1に3個の金型4a、4b、4cを組み
込んで搭載した金型構造体を例としている。
【0023】先ず、ステップS1において、これから測
定する金型4a、4b、4cの形状設計データおよび基
準部材としての基準球2a、2b、2cから各金型4
a、4b、4cまでの位置設計データを設計データとし
てコンピュータ17に書き込む。さらに、このとき測定
する金型4a、4b、4cの測定範囲および測定手順等
も予め設定しておく。ここで、金型4a、4b、4cの
設計位置に対する測定範囲と測定断面数、測定ポイント
等が決まる。
【0024】次に、ステップS2では、金型4a、4
b、4cが保持された筐体1を三次元形状測定装置の架
台14に、図1に図示するように、セットする。次の判
断ステップS3では、基準球2a、2b、2cの大体の
位置が図1に図示する三次元形状測定装置の座標上に記
録されているかどうかを判断する。基準球2a、2b、
2cの大体の位置が記録されていれば、ステップS5に
て基準球2a、2b、2cの中心位置測定を自動で行な
う。すなわち、コンピュータ17より基準球2a、2
b、2cの測定開始を指示すると制御用コンピュータ1
6からX、Y、Z各軸の移動量が電装ラック15のドラ
イバーに送られ、Zスライド11、Xスライド12、Y
スライド13が所定の位置に駆動され、プローブ10が
基準球2aのほぼ所定位置へ位置決めされる。プローブ
10が基準球2aに対して位置決めされると、Zスライ
ド11が駆動しプローブ10を基準球2aの表面に接触
させる。その後、Xスライド12、Yスライド13を駆
動しながら、Zスライド11、Xスライド12、Yスラ
イド13の測長データを取り込むことによって基準球2
aの表面形状を測定する。基準球2aの表面走査が終わ
ると、Zスライド11が所定の位置に復帰する。基準球
2aの形状測定が終了すると、引き続き、基準球2bお
よび2cの表面形状測定を同様に行なう。
【0025】また、判断ステップS3で基準球2a、2
b、2cの大体の位置が図1に図示する三次元形状測定
装置の座標上に記録されていない場合は、ステップS4
にて基準球2a、2b、2cの中心位置測定を手動で行
なう。すなわち、先ず、手動操作盤18によってXスラ
イド12とYスライド13を駆動して、プローブ10を
基準球2aのほぼ中心位置へ移動させる。次に、基準球
2aのみの表面測定指示をコンピュータ17から出し、
基準球2aの表面形状を測定する。その後、同様に手動
操作盤18にてプローブ10を基準球2bへ移動させて
基準球2bの測定を行ない、さらに、基準球2cも同様
に形状測定を行なう。これで、ステップS5の基準球自
動測定と同様に基準球2a、2b、2cの形状測定デー
タが揃う。
【0026】ステップS4またはステップS5で基準球
2a、2b、2cの形状測定が終わると、ステップS6
にて基準球2a、2b、2cの形状測定データから基準
球2a、2b、2cの正確な中心位置を算出し、これを
記憶する。これで、三次元形状測定装置上で基準球2
a、2b、2cの中心位置がつくる座標が決定する。
【0027】なお、ステップS4およびステップS5に
おける自動および手動による基準球測定では基準球2を
2a、2b、2cの順番で測定しているが、測定結果と
実際の基準球の対応がとれていれば測定順番に決まりは
ない。
【0028】このように基準球測定を行なうので、三次
元形状測定装置に対する測定対象物4の位置を正確に位
置決めする必要がなく、測定対象物4を保持した筐体1
は、基準球2a、2b、2cの表面が測定できる範囲に
設置されていれば良い。また、手動により基準球測定
(ステップS4)を行なう際には、測定対象物4を保持
した筐体1は三次元形状測定装置の測定範囲内ならばど
こに設置しても測定可能である。
【0029】次に、ステップS7に進み、測定対象物で
ある金型4a、4b、4cの形状測定を行なう。先ず、
金型4aを測定するようにコンピュータ17から測定指
示すると、自動的に予め設定してある測定開始点へXス
ライド12およびYスライド13が移動駆動される。こ
の測定開始点は、ステップS1で設定した位置設計デー
タと基準球2a、2b、2cの測定結果から求めた座標
系から算出される。その後、プローブ10が金型4aの
設定した位置に接触し、ステップS1で予め設定した測
定範囲と条件に基づいてその表面を走査し測定する。こ
のとき、Zステージ11、Xスライド12およびYスラ
イド13の測長データを取り込むことによって、金型4
aの表面形状を測定する。金型4aの形状測定が終了す
ると、Zステージ11は所定の位置に復帰する。続い
て、Xスライド12およびYスライド13が移動駆動し
て金型4bの所定位置に位置決めされ、金型4bの形状
を測定し、さらに金型4cも同様に測定する。
【0030】ここで、複数の金型4を4a、4b、4c
の順番で測定したが、各金型の測定結果が基準球2a、
2b、2cの中心位置から算出された座標系に対応して
いれば、その測定順番に決まりはない。また、前述した
例では、基準球2a、2b、2cの測定後に金型4a、
4b、4cを連続して測定しているが、例えば、金型4
aを測定した後に、金型4bの測定のために基準球2
a、2b、2cを再測定するようにすることができる。
この場合、金型4aの測定後、筐体1を三次元形状装置
から一旦はずして再搭載したとしても、金型4bの測定
結果は再搭載後の基準球2a、2b、2cの中心位置か
ら算出された座標系で座標変換されるので、金型4aの
測定結果と金型4bの測定結果の間に筐体1の三次元形
状測定装置への取り付け誤差は発生しない。したがっ
て、複数の金型4a、4b、4cを測定する際に必ずし
も全てを同じ姿勢で測定する必要はなく、個々の金型に
最適な置き方で測定することが可能である。
【0031】ステップS7での金型4a、4b、4cの
測定が終了すると、ステップS8のデータ計算処理を行
なう。このステップS8のデータ計算処理では、金型4
a、4b、4cの形状が、3個の基準球2a、2b、2
cの中心位置3点を通る基準平面上の基準球2aを基準
として算出される。金型4a、4b、4cは、同じ基準
球2a、2b、2cの中心位置3点を通る基準平面から
見た形状として算出されるので、基準球2a、2b、2
cから見た金型4a、4b、4cの位置関係、すなわ
ち、基準球2aからのX、Y、Z座標位置、および基準
球2a、2b、2cの中心位置3点を通る基準平面との
角度位置(θx、θy、θz)も算出される。これによ
り、金型4a、4b、4cの空間上の6自由度が決定す
るので、金型4a、4b、4cの形状とともに相対的な
位置および基準球2a、2b、2cを基準とした各金型
4a、4b、4cの位置が分かる。
【0032】ステップS8でのデータ計算処理が終了す
ると、ステップS9にて測定結果がモニターあるいはプ
リンター等の出力機器に出力される。さらに、ステップ
S10では測定結果がコンピュータ17に内蔵の記憶装
置あるいは外部の記憶装置(不図示)に記憶され、金型
4a、4b、4cの測定が完了する。
【0033】前述した実施例においては、測定対象物と
して、図2の(a)に図示するような筐体1に組み込ん
で搭載した金型4a、4b、4cの場合を示したけれど
も、金型以外のものであってもよく、測定対象となる測
定面が3面ではなく4面以上の場合であっても同様な測
定手順で測定することができる。また、前述した実施例
の金型4a、4b、4cのように測定対象物が一列に並
んでいる必要もない。
【0034】さらに、個々の測定面を測定する前に基準
部材としての3個の基準球を測定するようにすれば、全
ての面の測定が完了するまで筐体1を固定し続ける必要
もない。したがって、測定対象面は同一のセッティング
で測定する必要がないので、個々の面を測定する際に最
適の方向に筐体1を設置し直すことができる。例えば、
図4の(a)では、測定対象物54a、54b、54c
を組み込んだ筐体51において、測定対象物54aの測
定面hを水平にした状態の筐体51の断面図であり、測
定対象物54aの水平にした測定面hをプローブ10で
走査する。また、図4の(b)は測定対象物54bの測
定面iを水平にした状態の筐体51の断面図である。こ
のように、測定面が基準に対して傾斜している場合、プ
ローブに対する測定面の傾斜が少なくなるように設定し
て測定することにより、傾斜による誤差や測定の不安定
が回避でき、精度の高い測定が可能となる。このように
各測定面に対して最適な姿勢に変更して測定することが
可能となる。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定対象物の三次元形状を接触または非接触プローブで
走査することによって形状を測定する三次元形状測定装
置において、複数個の測定対象物を保持する筐体に基準
部材としての3個以上の基準球を配設し、3個以上の基
準球と複数個の測定対象物を順次測定して演算処理を行
なうことにより、複数個の測定対象物の個々の形状と位
置を算出し、複数個の測定対象物の個々の形状と個々の
絶対位置と相対位置等の位置関係を簡単にかつ高精度に
測定することができる。
【0036】さらに、複数個の金型を組み合わせて保持
し成形機あるいはプレス機に装着可能な金型構造体であ
って基準部材としての3個以上の基準球を配設した金型
構造体を用いて、複数個の金型の形状および3個以上の
基準球を測定することにより、個々の金型の形状と位置
関係を簡単にかつ高精度に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の三次元形状測定装置の全体構成の概略
図である。
【図2】(a)は、本発明の三次元形状測定装置におけ
る測定対象物である複数個の金型を保持した基準球を有
する筐体の斜視図であり、(b)は、同(a)に図示す
る筐体を基準球部分で破断して示す部分断面図である。
【図3】本発明の三次元形状測定装置による測定手順フ
ロー図である。
【図4】(a)および(b)は、本発明の三次元形状測
定装置における測定対象物を保持した筐体を傾斜させ、
測定面を水平にして測定する状態をそれぞれ図示する概
略的な断面図である。
【図5】従来の三次元形状測定装置の概略図である。
【符号の説明】
1 筐体 2(2a、2b、2c) 基準球(基準部材) 3(3a、3b、3c) 穴 4(4a、4b、4c) 金型(測定対象物) 10 プローブ 11 Zスライド 12 Xスライド 13 Yスライド 14 架台 15 電装ラック 16 制御用コンピュータ 17 コンピュータ 18 手動操作盤 51 筐体 54a、54b、54c 測定対象物

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 三次元形状を接触または非接触プローブ
    で走査することによって測定する三次元形状測定装置に
    おいて、 測定対象物を保持する筐体と、 該筐体に配設された基準部材とを有し、 該基準部材と前記筐体に保持される測定対象物の表面形
    状を測定することにより、該測定対象物の形状と位置関
    係を算出することを特徴とする三次元形状測定装置。
  2. 【請求項2】 前記基準部材は、3個以上の基準球であ
    ることを特徴とする請求項1記載の三次元形状測定装
    置。
  3. 【請求項3】 前記基準球の表面形状を測定することに
    より、該基準球の中心位置データを測定することを特徴
    とする請求項2記載の三次元形状測定装置。
  4. 【請求項4】 前記基準部材の測定データと前記測定対
    象物の表面形状測定データから、該測定対象物の形状と
    位置関係を計算する演算処理手段を有することを特徴と
    する請求項1ないし3のいずれか1項に記載の三次元形
    状測定装置。
  5. 【請求項5】 前記基準部材は、前記筐体の表面より内
    部に埋め込んで配設されていることを特徴とする請求項
    1ないし4のいずれか1項に記載の三次元形状測定装
    置。
  6. 【請求項6】 前記筐体は、1個または複数個の測定対
    象物を保持することを特徴とする請求項1ないし5のい
    ずれか1項に記載の三次元形状測定装置。
  7. 【請求項7】 前記測定対象物が金型であり、前記金型
    を保持する筐体は、成形機あるいはプレス機に装着する
    ことができるように構成されていることを特徴とする請
    求項1ないし6のいずれか1項に記載の三次元形状測定
    装置。
  8. 【請求項8】 1個または複数個の金型を保持して成形
    機あるいはプレス機に装着可能な金型構造体であって、
    基準位置データを測定するための基準部材を有すること
    を特徴とする金型構造体。
  9. 【請求項9】 前記基準部材は3個以上の基準球である
    ことを特徴とする請求項8記載の金型構造体。
  10. 【請求項10】 請求項1ないし6のいずれか1項に記
    載の三次元形状測定装置に装着され、前記1個または複
    数個の金型の各形状および前記基準部材が測定されるこ
    とを特徴とする請求項8または9記載の金型構造体。
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