JP2000268388A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JP2000268388A JP2000268388A JP11068714A JP6871499A JP2000268388A JP 2000268388 A JP2000268388 A JP 2000268388A JP 11068714 A JP11068714 A JP 11068714A JP 6871499 A JP6871499 A JP 6871499A JP 2000268388 A JP2000268388 A JP 2000268388A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 35
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000005494 condensation Effects 0.000 abstract 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 abstract 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
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- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体レーザから出射されたレーザ光のアス
ペクト比を波長成分による分布の少ないアスペクト比に
変換でき、信号の記録に十分なパワーを有するレーザ光
を光ディスクに照射できる光ピックアップを提供する。 【解決手段】 光ピックアップ10は、半導体レーザ
1、コリメータレンズ2と、ホログラム素子3と、ビー
ム整形器4と、ハーフミラー5と、対物レンズ6と、集
光レンズ7、光検出器8とを備える。また、ビーム整形
器4は光検出部9を有する。半導体レーザ1は、波長6
35nmのレーザ光を生成する。ホログラム素子3は、
コリメータレンズ2により平行光にされたレーザ光を回
折して0次光LB0と+1次光LB1とを出射する。ビ
ーム整形器4は、レーザ光の短軸方向の径を拡大し、そ
の分布が小さくなるように屈折する。
ペクト比を波長成分による分布の少ないアスペクト比に
変換でき、信号の記録に十分なパワーを有するレーザ光
を光ディスクに照射できる光ピックアップを提供する。 【解決手段】 光ピックアップ10は、半導体レーザ
1、コリメータレンズ2と、ホログラム素子3と、ビー
ム整形器4と、ハーフミラー5と、対物レンズ6と、集
光レンズ7、光検出器8とを備える。また、ビーム整形
器4は光検出部9を有する。半導体レーザ1は、波長6
35nmのレーザ光を生成する。ホログラム素子3は、
コリメータレンズ2により平行光にされたレーザ光を回
折して0次光LB0と+1次光LB1とを出射する。ビ
ーム整形器4は、レーザ光の短軸方向の径を拡大し、そ
の分布が小さくなるように屈折する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報を記録する光
ディスクに信号を記録および/または再生する光ピック
アップに関するものである。
ディスクに信号を記録および/または再生する光ピック
アップに関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスクの記録面に凹状のピットを配
列し、この凹状のピットの寸法を記録情報に応じて変調
させることによりデジタルオーディオ信号やビデオ信号
を再生できるようにした光ディスク(CD等)が広く普
及している。
列し、この凹状のピットの寸法を記録情報に応じて変調
させることによりデジタルオーディオ信号やビデオ信号
を再生できるようにした光ディスク(CD等)が広く普
及している。
【0003】また、CDと同じ記録容量で1回に限り記
録することができるCD−Rも発売されている。
録することができるCD−Rも発売されている。
【0004】更に、CDと同じようにピット列で信号を
記録し、片面で4.7Gbytes、両面で9.4Gb
ytesの記録容量を有する高密度の再生専用の光ディ
スクであるDVDも発売されるに到っている。
記録し、片面で4.7Gbytes、両面で9.4Gb
ytesの記録容量を有する高密度の再生専用の光ディ
スクであるDVDも発売されるに到っている。
【0005】また更に、DVDと同じ記録容量を持ち、
記録可能な光ディスクとしてDVD−RAMも開発され
ている。
記録可能な光ディスクとしてDVD−RAMも開発され
ている。
【0006】また、更に、記録可能な光ディスクとして
直径12cmで記録容量が6Gbytesの光磁気記録
媒体が規格化され、実用化されようとしている。
直径12cmで記録容量が6Gbytesの光磁気記録
媒体が規格化され、実用化されようとしている。
【0007】かかるCD、CD−R、DVD、DVD−
RAM、光磁気記録媒体の光ディスクから信号を再生す
るときは、レーザ光が光ディスクの信号記録面に照射さ
れ、信号記録面からの反射光の強度変化が検出される。
この場合に必要なレーザ光のパワーは0.2〜1mWで
ある。
RAM、光磁気記録媒体の光ディスクから信号を再生す
るときは、レーザ光が光ディスクの信号記録面に照射さ
れ、信号記録面からの反射光の強度変化が検出される。
この場合に必要なレーザ光のパワーは0.2〜1mWで
ある。
【0008】一方、記録可能な光ディスクであるCD−
R、DVD−RAM、光磁気記録媒体にレーザ光により
信号を記録するときには、十数mWのパワーが必要であ
る。
R、DVD−RAM、光磁気記録媒体にレーザ光により
信号を記録するときには、十数mWのパワーが必要であ
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図4に示すように、半
導体レーザ1から出射されるレーザ光は、光軸に垂直な
平面内において楕円形状をしており、短軸130と長軸
131との長さは大きく異なる。レーザ光を用いて光デ
ィスク上に信号を記録する場合、レーザ光を対物レンズ
により集光する必要があるが、図5に示すように、レー
ザ光141の短軸方向143の長さが対物レンズ140
の瞳径より小さい場合には、レーザ光141の長軸方向
142には、よく絞れるが、短軸方向143には、十分
に絞ることができず、その結果、光ディスクの信号記録
面には楕円形状のレーザが照射され、記録特性が低下す
るという問題があった。また、短軸方向143にも十分
に絞れるようにするために、短軸方向143の長さを対
物レンズ140の瞳径以上にすると、レーザ光の利用効
率が低下するという問題もあった。
導体レーザ1から出射されるレーザ光は、光軸に垂直な
平面内において楕円形状をしており、短軸130と長軸
131との長さは大きく異なる。レーザ光を用いて光デ
ィスク上に信号を記録する場合、レーザ光を対物レンズ
により集光する必要があるが、図5に示すように、レー
ザ光141の短軸方向143の長さが対物レンズ140
の瞳径より小さい場合には、レーザ光141の長軸方向
142には、よく絞れるが、短軸方向143には、十分
に絞ることができず、その結果、光ディスクの信号記録
面には楕円形状のレーザが照射され、記録特性が低下す
るという問題があった。また、短軸方向143にも十分
に絞れるようにするために、短軸方向143の長さを対
物レンズ140の瞳径以上にすると、レーザ光の利用効
率が低下するという問題もあった。
【0010】そこで、図6に示すように、半導体レーザ
1から出射されたレーザ光をコリメータレンズ150に
より平行光にした後、ビーム整形プリズム151により
短軸方向の長さと長軸方向の長さとの比、即ち、アスペ
クト比をレーザ光の短軸方向、および長軸方向に十分に
絞れる値に変換して対物レンズ152に入射し、光ディ
スク153に照射する光ピックアップが採用されてい
る。かかる方法によりレーザ光を光ディスクに照射した
場合には、レーザ光154の短軸方向、長軸方向とも対
物レンズ152の直径155より大きいため、レーザ光
154を十分に絞ることが可能である。
1から出射されたレーザ光をコリメータレンズ150に
より平行光にした後、ビーム整形プリズム151により
短軸方向の長さと長軸方向の長さとの比、即ち、アスペ
クト比をレーザ光の短軸方向、および長軸方向に十分に
絞れる値に変換して対物レンズ152に入射し、光ディ
スク153に照射する光ピックアップが採用されてい
る。かかる方法によりレーザ光を光ディスクに照射した
場合には、レーザ光154の短軸方向、長軸方向とも対
物レンズ152の直径155より大きいため、レーザ光
154を十分に絞ることが可能である。
【0011】一方、半導体レーザ1から出射されるレー
ザ光の雑音を低減するために、”A.Oishi, N. Chinone,
M. Ojima, and A. Arimoto:Electron. Lett.,20,(198
4) 821”に記載されている高周波重畳法が用いられてい
る。この高周波重畳法とは、半導体レーザの駆動電流に
数百MHz〜数GHz程度の高周波を重畳すると、多モ
ード動作になりモードホッピング雑音が発生しなくなる
というものである。高周波重畳法により半導体レーザを
駆動すると図7に示すように発振波長が単一ではなく数
nm程度の幅を持ったレーザ光になる。つまり、複数の
波長のレーザ光が混在したレーザ光が発振される。
ザ光の雑音を低減するために、”A.Oishi, N. Chinone,
M. Ojima, and A. Arimoto:Electron. Lett.,20,(198
4) 821”に記載されている高周波重畳法が用いられてい
る。この高周波重畳法とは、半導体レーザの駆動電流に
数百MHz〜数GHz程度の高周波を重畳すると、多モ
ード動作になりモードホッピング雑音が発生しなくなる
というものである。高周波重畳法により半導体レーザを
駆動すると図7に示すように発振波長が単一ではなく数
nm程度の幅を持ったレーザ光になる。つまり、複数の
波長のレーザ光が混在したレーザ光が発振される。
【0012】かかるレーザ光のアスペクト比を図6に示
す光学系を用いて調整しようとすると以下のような問題
がある。
す光学系を用いて調整しようとすると以下のような問題
がある。
【0013】即ち、図8を参照して、ビーム整形プリズ
ム151の第1のプリズム1510にはビーム径が単一
で数nmの幅で波長分布を有するレーザ光が入射する
が、プリズム1510の入射面1512では、レーザ光
の波長により屈折角が異なり、中心波長を有するレーザ
光は光路Lg1を進行し、中心波長より波長の短いレー
ザ光は光路Lg2を進行し、中心波長より波長の長いレ
ーザ光は光路Lg3を進行する。そして、第2のプリズ
ム1511の入射面1513で、再度、屈折し、中心波
長のレーザ光は光路Lg11を進行し、中心波長より波
長の短いレーザ光は光路Lg22を進行し、中心波長よ
り波長の長いレーザ光は光路Lg33を進行する。その
結果、高周波重畳法により半導体レーザから出射された
レーザ光はビーム整形プリズム151を通過することに
よりレーザ光の短軸方向の径が大きくされ、アスペクト
比が改善されるが、短軸方向のビーム径の分布が大きく
なる。従って、かかるレーザ光を対物レンズ152によ
り集光して光記録媒体153に照射しても、良く絞れる
波長の成分と、あまり絞れない波長の成分とが混在し、
信号の記録特性または再生特性を低下させるという問題
がある。
ム151の第1のプリズム1510にはビーム径が単一
で数nmの幅で波長分布を有するレーザ光が入射する
が、プリズム1510の入射面1512では、レーザ光
の波長により屈折角が異なり、中心波長を有するレーザ
光は光路Lg1を進行し、中心波長より波長の短いレー
ザ光は光路Lg2を進行し、中心波長より波長の長いレ
ーザ光は光路Lg3を進行する。そして、第2のプリズ
ム1511の入射面1513で、再度、屈折し、中心波
長のレーザ光は光路Lg11を進行し、中心波長より波
長の短いレーザ光は光路Lg22を進行し、中心波長よ
り波長の長いレーザ光は光路Lg33を進行する。その
結果、高周波重畳法により半導体レーザから出射された
レーザ光はビーム整形プリズム151を通過することに
よりレーザ光の短軸方向の径が大きくされ、アスペクト
比が改善されるが、短軸方向のビーム径の分布が大きく
なる。従って、かかるレーザ光を対物レンズ152によ
り集光して光記録媒体153に照射しても、良く絞れる
波長の成分と、あまり絞れない波長の成分とが混在し、
信号の記録特性または再生特性を低下させるという問題
がある。
【0014】そこで、本発明は、かかる問題を解決し、
高周波重畳法により半導体レーザを駆動した場合にも、
半導体レーザから出射されたレーザ光のアスペクト比を
波長成分による分布の少ないアスペクト比に変換でき、
信号の記録に十分なパワーを有するレーザ光を光ディス
クに照射できる光ピックアップを提供するものである。
高周波重畳法により半導体レーザを駆動した場合にも、
半導体レーザから出射されたレーザ光のアスペクト比を
波長成分による分布の少ないアスペクト比に変換でき、
信号の記録に十分なパワーを有するレーザ光を光ディス
クに照射できる光ピックアップを提供するものである。
【0015】
【課題を解決するための手段および発明の効果】請求項
1に係る発明は、対物レンズによりレーザ光を光記録媒
体に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/
または再生を行う光ピックアップ装置であって、ホログ
ラム素子と、ビーム整形器とを含む光ピックアップ装置
である。
1に係る発明は、対物レンズによりレーザ光を光記録媒
体に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/
または再生を行う光ピックアップ装置であって、ホログ
ラム素子と、ビーム整形器とを含む光ピックアップ装置
である。
【0016】ホログラム素子は、高周波重畳法により駆
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を回折す
る。
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を回折す
る。
【0017】また、ビーム整形器は、ホログラム素子に
より回折されたレーザ光を入射し、その入射したレーザ
光を高周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径
の変動を小さくする。
より回折されたレーザ光を入射し、その入射したレーザ
光を高周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径
の変動を小さくする。
【0018】請求項1に記載された発明によれば、高周
波重畳法により半導体レーザを駆動することにより出射
されるレーザ光の波長は数nmの範囲で分布する。
波重畳法により半導体レーザを駆動することにより出射
されるレーザ光の波長は数nmの範囲で分布する。
【0019】しかし、ホログラム素子により波長分布の
あるレーザ光を回折する際には、波長の長いレーザ光の
回折角は大きく、波長の短いレーザ光の回折角は小さ
い。
あるレーザ光を回折する際には、波長の長いレーザ光の
回折角は大きく、波長の短いレーザ光の回折角は小さ
い。
【0020】また、回折角が異なる回折光をビーム整形
器で屈折する際には、大きな回折角で回折されたレーザ
光の波長は長いため屈折角は小さくなり、屈折されたレ
ーザ光はレーザ光の内周側に進行し、小さな回折角で回
折されたレーザ光の波長は短いため屈折角は大きくな
り、屈折されたレーザ光はレーザ光の外周側に進行す
る。 その結果、高周波重畳法により生じた波長分布を
有するレーザ光は、ホログラム素子とビーム整形器とを
通過することにより中心波長の進行方向に集合するよう
に進行し、整形後のビーム径の変動が小さくなる。
器で屈折する際には、大きな回折角で回折されたレーザ
光の波長は長いため屈折角は小さくなり、屈折されたレ
ーザ光はレーザ光の内周側に進行し、小さな回折角で回
折されたレーザ光の波長は短いため屈折角は大きくな
り、屈折されたレーザ光はレーザ光の外周側に進行す
る。 その結果、高周波重畳法により生じた波長分布を
有するレーザ光は、ホログラム素子とビーム整形器とを
通過することにより中心波長の進行方向に集合するよう
に進行し、整形後のビーム径の変動が小さくなる。
【0021】また、請求項2に係る発明は、対物レンズ
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器とを含
む光ピックアップ装置である。
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器とを含
む光ピックアップ装置である。
【0022】ホログラム素子は、高周波重畳法により駆
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を回折す
る。
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を回折す
る。
【0023】また、ビーム整形器は、ホログラム素子に
より回折されたレーザ光を入射し、その入射したレーザ
光を高周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径
の変動を小さくして所定のアスペクト比のレーザ光に変
換する。
より回折されたレーザ光を入射し、その入射したレーザ
光を高周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径
の変動を小さくして所定のアスペクト比のレーザ光に変
換する。
【0024】請求項2に記載された発明によれば、高周
波重畳法により半導体レーザを駆動することにより出射
されるレーザ光の波長は数nmの範囲で分布する。
波重畳法により半導体レーザを駆動することにより出射
されるレーザ光の波長は数nmの範囲で分布する。
【0025】しかし、ホログラム素子により波長分布の
あるレーザ光を回折する際には、波長の長いレーザ光の
回折角は大きく、波長の短いレーザ光の回折角は小さ
い。
あるレーザ光を回折する際には、波長の長いレーザ光の
回折角は大きく、波長の短いレーザ光の回折角は小さ
い。
【0026】また、回折角が異なる回折光をビーム整形
器で屈折する際には、大きな回折角で回折されたレーザ
光の波長は長いため屈折角は小さくなり、屈折されたレ
ーザ光はレーザ光の内周側に進行し、小さな回折角で回
折されたレーザ光の波長は短いため屈折角は大きくな
り、屈折されたレーザ光はレーザ光の外周側に進行す
る。 その結果、高周波重畳法により生じた波長分布を
有するレーザ光は、ホログラム素子とビーム整形器とを
通過することにより中心波長の進行方向に集合するよう
に進行し、整形後のビーム径の変動が小さくなる。ま
た、ビーム整形器により所定のアスペクト比のレーザ光
が得られるので、集光状態の良いレーザ光を光記録媒体
に照射できる。
器で屈折する際には、大きな回折角で回折されたレーザ
光の波長は長いため屈折角は小さくなり、屈折されたレ
ーザ光はレーザ光の内周側に進行し、小さな回折角で回
折されたレーザ光の波長は短いため屈折角は大きくな
り、屈折されたレーザ光はレーザ光の外周側に進行す
る。 その結果、高周波重畳法により生じた波長分布を
有するレーザ光は、ホログラム素子とビーム整形器とを
通過することにより中心波長の進行方向に集合するよう
に進行し、整形後のビーム径の変動が小さくなる。ま
た、ビーム整形器により所定のアスペクト比のレーザ光
が得られるので、集光状態の良いレーザ光を光記録媒体
に照射できる。
【0027】また、請求項3に係る発明は、対物レンズ
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器とを含
む光ピックアップ装置である。
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器とを含
む光ピックアップ装置である。
【0028】ホログラム素子は、高周波重畳法により駆
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を0次光
と1次光とに回折する。
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を0次光
と1次光とに回折する。
【0029】また、ビーム整形器は、ホログラム素子に
より回折された0次光、および1次光を入射し、その入
射した1次光を高周波重畳法により生じた波長分布によ
るビーム径の変動を小さくして所定のアスペクト比のレ
ーザ光に変換すると共に、入射した0次光の強度を検出
する。
より回折された0次光、および1次光を入射し、その入
射した1次光を高周波重畳法により生じた波長分布によ
るビーム径の変動を小さくして所定のアスペクト比のレ
ーザ光に変換すると共に、入射した0次光の強度を検出
する。
【0030】請求項3に記載された発明によれば、ホロ
グラム素子で回折された1次光は高周波重畳法により生
じた波長分布を有しており、ビーム整形器で各波長の1
次光は整形後のビーム径の変動が小さくなるように屈折
される。従って、アスペクト比の分布の小さなレーザ光
が得られる。
グラム素子で回折された1次光は高周波重畳法により生
じた波長分布を有しており、ビーム整形器で各波長の1
次光は整形後のビーム径の変動が小さくなるように屈折
される。従って、アスペクト比の分布の小さなレーザ光
が得られる。
【0031】また、ホログラム素子から出射された0次
光はビーム整形器でその強度を検出される。従って、出
射されたレーザ光の強度を部品点数を少なくして検出で
きる。
光はビーム整形器でその強度を検出される。従って、出
射されたレーザ光の強度を部品点数を少なくして検出で
きる。
【0032】また、請求項4に係る発明は、対物レンズ
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器とを含
む光ピックアップ装置である。
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器とを含
む光ピックアップ装置である。
【0033】ホログラム素子は、高周波重畳法により駆
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を0次光
と1次光とに回折する。
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を0次光
と1次光とに回折する。
【0034】また、ビーム形成器は、ビーム整形部と検
出部とから成り、ビーム整形部は、ホログラム素子によ
り回折された1次光を入射し、その入射した1次光を高
周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径の変動
を小さくして所定のアスペクト比のレーザ光に変換し、
検出部は、0次光を入射し、その0次光の強度を検出す
る。
出部とから成り、ビーム整形部は、ホログラム素子によ
り回折された1次光を入射し、その入射した1次光を高
周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径の変動
を小さくして所定のアスペクト比のレーザ光に変換し、
検出部は、0次光を入射し、その0次光の強度を検出す
る。
【0035】請求項3に記載された発明によれば、ホロ
グラム素子で回折された1次光は高周波重畳法により生
じた波長分布を有しており、ビーム整形器のビーム整形
部で各波長の1次光は整形後のビーム径の変動が小さく
なるように屈折される。従って、アスペクト比の分布の
小さなレーザ光が得られる。
グラム素子で回折された1次光は高周波重畳法により生
じた波長分布を有しており、ビーム整形器のビーム整形
部で各波長の1次光は整形後のビーム径の変動が小さく
なるように屈折される。従って、アスペクト比の分布の
小さなレーザ光が得られる。
【0036】また、ビーム整形器の検出部は、0次光の
強度を検出する。
強度を検出する。
【0037】従って、ビーム整形部と検出部とから成る
ビーム整形器を一体成形することにより0次光または1
次光に対して光軸合わせを行えば1次光または0次光に
対して光軸合わせを再度行う必要がない。
ビーム整形器を一体成形することにより0次光または1
次光に対して光軸合わせを行えば1次光または0次光に
対して光軸合わせを再度行う必要がない。
【0038】また、請求項5に係る発明は、対物レンズ
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器と、光
検出器とを含む光ピックアップ装置である。
によりレーザ光を光記録媒体に集光照射して光記録媒体
に信号を記録および/または再生を行う光ピックアップ
装置であって、ホログラム素子と、ビーム整形器と、光
検出器とを含む光ピックアップ装置である。
【0039】ホログラム素子は、高周波重畳法により駆
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を0次光
と1次光とに回折する。
動された半導体レーザから出射されたレーザ光を0次光
と1次光とに回折する。
【0040】また、ビーム整形器は、ホログラム素子に
より回折された1次光を入射し、その入射した1次光を
高周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径の変
動を小さくして所定のアスペクト比のレーザ光に変換す
る。
より回折された1次光を入射し、その入射した1次光を
高周波重畳法により生じた波長分布によるビーム径の変
動を小さくして所定のアスペクト比のレーザ光に変換す
る。
【0041】また、光検出器は、0次光を入射し、その
0次光の強度を検出する。
0次光の強度を検出する。
【0042】請求項5に記載された発明によれば、ホロ
グラム素子で回折された1次光は高周波重畳法により生
じた波長分布を有しており、ビーム整形器で各波長の1
次光は整形後のビーム径の分布が小さくなるように屈折
される。従って、アスペクト比の分布の小さなレーザ光
が得られる。
グラム素子で回折された1次光は高周波重畳法により生
じた波長分布を有しており、ビーム整形器で各波長の1
次光は整形後のビーム径の分布が小さくなるように屈折
される。従って、アスペクト比の分布の小さなレーザ光
が得られる。
【0043】また、光検出器は0次光の強度を検出す
る。
る。
【0044】従って、信号の記録または再生に用いない
0次光の強度を検出することにより信号の記録または再
生に用いる1次光の強度を設定することができ、レーザ
光の有効利用ができる。
0次光の強度を検出することにより信号の記録または再
生に用いる1次光の強度を設定することができ、レーザ
光の有効利用ができる。
【0045】また、請求項6に係る発明は、請求項3か
ら請求項5のいずれか1項に記載された光ピックアップ
装置において、検出された0次光の強度に基づいて光記
録媒体上でのレーザ光強度を信号の記録または再生を行
うのに適合する強度に設定するレーザ駆動回路を更に含
む光ピックアップ装置である。
ら請求項5のいずれか1項に記載された光ピックアップ
装置において、検出された0次光の強度に基づいて光記
録媒体上でのレーザ光強度を信号の記録または再生を行
うのに適合する強度に設定するレーザ駆動回路を更に含
む光ピックアップ装置である。
【0046】請求項6に記載された発明によれば、ホロ
グラム素子で生じた0次光の強度に基づいてレーザ駆動
回路は光記録媒体上でのレーザ光強度を設定する。
グラム素子で生じた0次光の強度に基づいてレーザ駆動
回路は光記録媒体上でのレーザ光強度を設定する。
【0047】従って、レーザ光のアスペクト比を改善し
たことによる集光特性の向上と、正確なレーザ光強度の
設定とにより、信号の記録特性または再生特性を改善で
きる。
たことによる集光特性の向上と、正確なレーザ光強度の
設定とにより、信号の記録特性または再生特性を改善で
きる。
【0048】また、請求項7に係る発明は、請求項3か
ら請求項6のいずれか1項に記載された光ピックアップ
装置において、ホログラム素子は、基板と、基板の一主
面に形成されたホログラムとから成り、ホログラムは、
階段状部分を有する光ピックアップ装置である。
ら請求項6のいずれか1項に記載された光ピックアップ
装置において、ホログラム素子は、基板と、基板の一主
面に形成されたホログラムとから成り、ホログラムは、
階段状部分を有する光ピックアップ装置である。
【0049】請求項7に記載された発明によれば、レー
ザ光を回折するホログラムは階段状部分を有するので、
ホログラム素子の作製においては、高度な精度を必要と
せず、容易にホログラム素子を作製できる。
ザ光を回折するホログラムは階段状部分を有するので、
ホログラム素子の作製においては、高度な精度を必要と
せず、容易にホログラム素子を作製できる。
【0050】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図を参照し
つつ説明する。図1を参照して、本願発明に係る光ピッ
クアップ装置10は、半導体レーザ1と、コリメータレ
ンズ2と、ホログラム素子3と、ビーム整形器4と、ハ
ーフミラー5と、対物レンズ6、集光レンズ7と、光検
出器8とを備える。
つつ説明する。図1を参照して、本願発明に係る光ピッ
クアップ装置10は、半導体レーザ1と、コリメータレ
ンズ2と、ホログラム素子3と、ビーム整形器4と、ハ
ーフミラー5と、対物レンズ6、集光レンズ7と、光検
出器8とを備える。
【0051】半導体レーザ1は、高周波重畳法により駆
動され、波長635nm(許容範囲±15nm、以下同
じ。)のレーザ光を出射する。
動され、波長635nm(許容範囲±15nm、以下同
じ。)のレーザ光を出射する。
【0052】コリメータレンズ2は、半導体レーザ1か
ら出射されたレーザ光を平行光にする。
ら出射されたレーザ光を平行光にする。
【0053】ホログラム素子3は、コリメータレンズ2
により平行光にされたレーザ光を回折して0次光LB0
と+1次光LB1を出射する。
により平行光にされたレーザ光を回折して0次光LB0
と+1次光LB1を出射する。
【0054】ビーム整形器4は、0次光と+1次光とを
入射し、+1次光を屈折してレーザ光の長軸方向の径は
変えずに、短軸方向の径を大きくしてレーザ光LB11
として出射すると共に、光検出部9で入射した0次光L
B0Dの強度を検出する。
入射し、+1次光を屈折してレーザ光の長軸方向の径は
変えずに、短軸方向の径を大きくしてレーザ光LB11
として出射すると共に、光検出部9で入射した0次光L
B0Dの強度を検出する。
【0055】ハーフミラー5は、ビーム整形器4で屈折
されたレーザ光を透過し、光記録媒体11の信号記録面
11aで反射されたレーザ光の半分を光検出器8の方向
へ反射する。
されたレーザ光を透過し、光記録媒体11の信号記録面
11aで反射されたレーザ光の半分を光検出器8の方向
へ反射する。
【0056】対物レンズ6は、ハーフミラー5を透過し
たレーザ光を集光し、光記録媒体11の信号記録面11
aに照射する。
たレーザ光を集光し、光記録媒体11の信号記録面11
aに照射する。
【0057】集光レンズ7は、ハーフミラー5で反射さ
れたレーザ光を集光する。
れたレーザ光を集光する。
【0058】光検出器8は、集光レンズ7で集光された
レーザ光を検出する。
レーザ光を検出する。
【0059】コリメータレンズ2で平行光にされたレー
ザ光は、ホログラム素子3とビーム整形器4とを通過す
ることにより短軸方向のビーム径をr1からr2に大き
くすることができる。この場合、長軸方向のビーム径は
変換しない。従って、レーザ光はホログラム素子3とビ
ーム整形器4とを通過することによりアスペクト比を改
善できる。具体的には、アスペクト比を1:2.5から
1:1に改善できる。
ザ光は、ホログラム素子3とビーム整形器4とを通過す
ることにより短軸方向のビーム径をr1からr2に大き
くすることができる。この場合、長軸方向のビーム径は
変換しない。従って、レーザ光はホログラム素子3とビ
ーム整形器4とを通過することによりアスペクト比を改
善できる。具体的には、アスペクト比を1:2.5から
1:1に改善できる。
【0060】また、一般に、光記録媒体に信号記録を行
うときは、半導体レーザから出射されたレーザ光の強度
を検出しながら記録動作を行うが、従来は、半導体レー
ザと対物レンズとの間にハーフミラーを光強度の検出用
に設け、光路を分離してレーザ光の強度を検出していた
ため、光ピックアップ装置の部品点数が多くなり、コン
パクトな光ピックアップを作製することが困難であると
共に、コストの低減も困難であった。
うときは、半導体レーザから出射されたレーザ光の強度
を検出しながら記録動作を行うが、従来は、半導体レー
ザと対物レンズとの間にハーフミラーを光強度の検出用
に設け、光路を分離してレーザ光の強度を検出していた
ため、光ピックアップ装置の部品点数が多くなり、コン
パクトな光ピックアップを作製することが困難であると
共に、コストの低減も困難であった。
【0061】しかし、光ピックアップ装置10において
は、ホログラム素子3を通過した0次光LB0は、ビー
ム整形器4に入射し、光検出部9で0次光LB0Dとし
て検出される。ホログラム素子3を設計する際に、0次
光LB0と+1次光LB1との強度比を所望の値に設定
できるので、0次光LB0Dの強度を検出することによ
り半導体レーザ1から出射されたレーザ光の強度を検出
することができる。従って、光ピックアップ装置10で
は、レーザ光の強度検出のために光路中にハーフミラー
を設ける必要がなく、部品点数の少ない光ピックアップ
装置を作製できると共にレーザ光の強度検出も可能であ
る。
は、ホログラム素子3を通過した0次光LB0は、ビー
ム整形器4に入射し、光検出部9で0次光LB0Dとし
て検出される。ホログラム素子3を設計する際に、0次
光LB0と+1次光LB1との強度比を所望の値に設定
できるので、0次光LB0Dの強度を検出することによ
り半導体レーザ1から出射されたレーザ光の強度を検出
することができる。従って、光ピックアップ装置10で
は、レーザ光の強度検出のために光路中にハーフミラー
を設ける必要がなく、部品点数の少ない光ピックアップ
装置を作製できると共にレーザ光の強度検出も可能であ
る。
【0062】ビーム整形器4を作製する際には、光検出
部9も合わせて一体的に整形しても良く、また、光検出
部9を別に作製してビーム整形器4に取り付けても良
く、更に、ビーム整形器4と光検出部9とを別個独立に
設置しても良い。
部9も合わせて一体的に整形しても良く、また、光検出
部9を別に作製してビーム整形器4に取り付けても良
く、更に、ビーム整形器4と光検出部9とを別個独立に
設置しても良い。
【0063】光記録媒体11がDVD、DVD−RA
M、光磁気記録媒体である場合には、対物レンズ6は、
基板厚0.6mm(許容誤差±0.05mm、以下同
じ。)用の対物レンズとして作製され、半導体レーザ1
から波長635nmのレーザ光が出射される。
M、光磁気記録媒体である場合には、対物レンズ6は、
基板厚0.6mm(許容誤差±0.05mm、以下同
じ。)用の対物レンズとして作製され、半導体レーザ1
から波長635nmのレーザ光が出射される。
【0064】図2、3を参照して、ホログラム素子3に
ついて詳細に説明する。図2を参照して、ホログラム素
子3は、ガラス等の透光性基板30と、透光性基板30
上に形成されたホログラム31とから成る。ホログラム
30は、所定の間隔で形成され、階段状部分32を有す
る。
ついて詳細に説明する。図2を参照して、ホログラム素
子3は、ガラス等の透光性基板30と、透光性基板30
上に形成されたホログラム31とから成る。ホログラム
30は、所定の間隔で形成され、階段状部分32を有す
る。
【0065】ホログラム素子3に入射したレーザ光LB
は、透光性基板30を透過し、ホログラム31で回折さ
れて0次光LB0と、+1次光LB1を出射する。ホロ
グラム31で回折される回折角θは、入射するレーザ光
の波長をλ、ホログラム31のピッチをpとした場合、 sinθ=λ/p・・・・・・(1) で決定される。従って、入射するレーザ光の波長λが長
い方が回折角θは大きくなる。本願においては、入射す
るレーザ光の波長λが635nmの場合、ホログラム3
1のピッチpは、30μm(許容誤差±1μm)であ
る。
は、透光性基板30を透過し、ホログラム31で回折さ
れて0次光LB0と、+1次光LB1を出射する。ホロ
グラム31で回折される回折角θは、入射するレーザ光
の波長をλ、ホログラム31のピッチをpとした場合、 sinθ=λ/p・・・・・・(1) で決定される。従って、入射するレーザ光の波長λが長
い方が回折角θは大きくなる。本願においては、入射す
るレーザ光の波長λが635nmの場合、ホログラム3
1のピッチpは、30μm(許容誤差±1μm)であ
る。
【0066】ホログラム31からは0次光LB0も出射
され、0次光LB0と、+1次光LB1との強度比は、
階段状部分32の1段当たりの高さhにより決定され
る。この場合、0次光LB0と、+1次光LB1との強
度比は、約1:6である。
され、0次光LB0と、+1次光LB1との強度比は、
階段状部分32の1段当たりの高さhにより決定され
る。この場合、0次光LB0と、+1次光LB1との強
度比は、約1:6である。
【0067】本願においては、0次光と+1次光とに回
折するか、0次光と−1次光とに回折するようにホログ
ラム31を作製する。
折するか、0次光と−1次光とに回折するようにホログ
ラム31を作製する。
【0068】図3を参照して、ホログラム素子3に入射
するレーザ光LBは、ビーム径は単一であるが、数nm
程度の波長分布を有するレーザ光である。従って、レー
ザ光LBは、透光性基板30を透過し、ホログラム31
に入射した後、ホログラム31で回折されたレーザ光
は、3つのレーザ光LB10、LB1S、LB1Lにな
る。ホログラム31での回折角θは、入射するレーザ光
の波長λと上記(1)式の関係があるからである。即
ち、中心波長を有するレーザ光は、レーザ光LB10と
して回折され、中心波長より長い波長のレーザ光は、レ
ーザ光LB1Lとして回折され、中心波長より短い波長
のレーザ光は、レーザ光LB1Sとして回折される。
するレーザ光LBは、ビーム径は単一であるが、数nm
程度の波長分布を有するレーザ光である。従って、レー
ザ光LBは、透光性基板30を透過し、ホログラム31
に入射した後、ホログラム31で回折されたレーザ光
は、3つのレーザ光LB10、LB1S、LB1Lにな
る。ホログラム31での回折角θは、入射するレーザ光
の波長λと上記(1)式の関係があるからである。即
ち、中心波長を有するレーザ光は、レーザ光LB10と
して回折され、中心波長より長い波長のレーザ光は、レ
ーザ光LB1Lとして回折され、中心波長より短い波長
のレーザ光は、レーザ光LB1Sとして回折される。
【0069】そして、ビーム整形器4に入射したレーザ
光LB10、LB1S、LB1Lは、ビーム整形器4の
入射面40で屈折されて、それぞれ、レーザ光LB11
0、LB11S、LB11Lとしてビーム整形器4を出
射する。この場合、ホログラム31での回折角θが大き
い波長の長いレーザ光LB1Lは入射面40での屈折角
θLは、中心波長を有するレーザ光LB10の入射面4
0での屈折角θ0より小さく、ホログラム31での回折
角θが小さい波長の短いレーザ光LB1Sは入射面40
での屈折角θSが屈折角θ0より大きい。従って、ビー
ム整形器4を出射したレーザ光LB11S、LB11L
は、中心波長を有するレーザ光LB110の方向へ進行
することになり、レーザ光を全体として考えた場合、短
軸方向の径の分布は小さくなる。ホログラム素子3、ビ
ーム整形4を通過することによりレーザ光の長軸方向の
径は変化しないので、対物レンズ6に入射するレーザ光
は、アスペクト比を改善され、その分布も小さい。従っ
て、光記録媒体11の信号記録面11aに集光照射され
るビームスポット径の短軸方向の分布も小さくなり、短
軸方向、および長軸方向に良く絞れたレーザ光を照射で
き、記録特性または再生特性を向上できる。
光LB10、LB1S、LB1Lは、ビーム整形器4の
入射面40で屈折されて、それぞれ、レーザ光LB11
0、LB11S、LB11Lとしてビーム整形器4を出
射する。この場合、ホログラム31での回折角θが大き
い波長の長いレーザ光LB1Lは入射面40での屈折角
θLは、中心波長を有するレーザ光LB10の入射面4
0での屈折角θ0より小さく、ホログラム31での回折
角θが小さい波長の短いレーザ光LB1Sは入射面40
での屈折角θSが屈折角θ0より大きい。従って、ビー
ム整形器4を出射したレーザ光LB11S、LB11L
は、中心波長を有するレーザ光LB110の方向へ進行
することになり、レーザ光を全体として考えた場合、短
軸方向の径の分布は小さくなる。ホログラム素子3、ビ
ーム整形4を通過することによりレーザ光の長軸方向の
径は変化しないので、対物レンズ6に入射するレーザ光
は、アスペクト比を改善され、その分布も小さい。従っ
て、光記録媒体11の信号記録面11aに集光照射され
るビームスポット径の短軸方向の分布も小さくなり、短
軸方向、および長軸方向に良く絞れたレーザ光を照射で
き、記録特性または再生特性を向上できる。
【0070】再び、図1を参照して、光ピックアップ装
置10は、ビーム整形器4の光検出部9で0次光LB0
Dの強度を検出するので、検出した強度に基づいて光記
録媒体11の信号記録面11aでのレーザ光の強度を信
号の記録または再生に必要な強度に設定できる。DVD
−RAMに信号を記録する場合には、波長635nmの
レーザ光を用い、DVD−RAM上での強度を10〜1
4mWに設定し、光磁気記録媒体に信号を記録する場合
にも波長635nmのレーザ光を用い、光磁気記録媒体
上での強度を10〜20mWに設定する。
置10は、ビーム整形器4の光検出部9で0次光LB0
Dの強度を検出するので、検出した強度に基づいて光記
録媒体11の信号記録面11aでのレーザ光の強度を信
号の記録または再生に必要な強度に設定できる。DVD
−RAMに信号を記録する場合には、波長635nmの
レーザ光を用い、DVD−RAM上での強度を10〜1
4mWに設定し、光磁気記録媒体に信号を記録する場合
にも波長635nmのレーザ光を用い、光磁気記録媒体
上での強度を10〜20mWに設定する。
【0071】また、DVD、DVD−RAM、光磁気記
録媒体から信号を再生する際には、各光ディスクでの強
度を0.2〜0.4mWに設定する。
録媒体から信号を再生する際には、各光ディスクでの強
度を0.2〜0.4mWに設定する。
【図1】本発明の光ピックアップ装置の構成を示す図で
ある。
ある。
【図2】ホログラム素子の断面図である。
【図3】ホログラム素子とビーム整形器との機能を説明
する図である。
する図である。
【図4】半導体レーザから出射されるレーザ光の光軸に
垂直な平面内での形状を示す図である。
垂直な平面内での形状を示す図である。
【図5】レーザ光の短軸方向の長さが対物レンズの直径
より短い場合の問題点を説明する図である。
より短い場合の問題点を説明する図である。
【図6】レーザ光のアスペクト比を変換する従来の光ピ
ックアップの構成を示す図である。
ックアップの構成を示す図である。
【図7】高周波重畳法により半導体レーザを駆動した場
合に出射されるレーザ光の波長分布である。
合に出射されるレーザ光の波長分布である。
【図8】従来のビーム整形プリズムによるビーム整形の
問題点を説明する図である。
問題点を説明する図である。
1・・・半導体レーザ 2・・・コリメータレンズ 3・・・ホログラム素子 4・・・ビーム整形器 5・・・ハーフミラー 6・・・対物レンズ 7・・・集光レンズ 8・・・光検出器 9・・・光検出部 10・・・光ピックアップ装置 11・・・光記録媒体 11a・・・信号記録面 30・・・透光性基板 31・・・ホログラム 32・・・階段状部分
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 土屋 洋一 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5D119 AA43 FA05 JA06 JA23 JB03
Claims (7)
- 【請求項1】 対物レンズによりレーザ光を光記録媒体
に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/ま
たは再生を行う光ピックアップ装置であって、 高周波重畳法により駆動された半導体レーザから出射さ
れたレーザ光を回折するホログラム素子と、 前記ホログラム素子により回折されたレーザ光を入射
し、その入射したレーザ光を高周波重畳法により生じた
波長分布によるビーム径の変動を小さくするビーム整形
器とを含む光ピックアップ装置。 - 【請求項2】 対物レンズによりレーザ光を光記録媒体
に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/ま
たは再生を行う光ピックアップ装置であって、 高周波重畳法により駆動された半導体レーザから出射さ
れたレーザ光を回折するホログラム素子と、 前記ホログラム素子により回折されたレーザ光を入射
し、その入射したレーザ光を高周波重畳法により生じた
波長分布によるビーム径の変動を小さくして所定のアス
ペクト比のレーザ光に変換するビーム整形器とを含む光
ピックアップ装置。 - 【請求項3】 対物レンズによりレーザ光を光記録媒体
に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/ま
たは再生を行う光ピックアップ装置であって、 高周波重畳法により駆動された半導体レーザから出射さ
れたレーザ光を0次光と1次光とに回折するホログラム
素子と、 前記ホログラム素子により回折された0次光、および1
次光を入射し、その入射した1次光を高周波重畳法によ
り生じた波長分布によるビーム径の変動を小さくして所
定のアスペクト比のレーザ光に変換すると共に、入射し
た0次光の強度を検出するビーム整形器とを含む光ピッ
クアップ装置。 - 【請求項4】 対物レンズによりレーザ光を光記録媒体
に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/ま
たは再生を行う光ピックアップ装置であって、 高周波重畳法により駆動された半導体レーザから出射さ
れたレーザ光を0次光と1次光とに回折するホログラム
素子と、 前記ホログラム素子により回折された1次光を入射し、
その入射した1次光を高周波重畳法により生じた波長分
布によるビーム径の変動を小さくして所定のアスペクト
比のレーザ光に変換するビーム整形部と、前記0次光を
入射し、その0次光の強度を検出する検出部とから成る
ビーム整形器とを含む光ピックアップ装置。 - 【請求項5】 対物レンズによりレーザ光を光記録媒体
に集光照射して前記光記録媒体に信号を記録および/ま
たは再生を行う光ピックアップ装置であって、 高周波重畳法により駆動された半導体レーザから出射さ
れたレーザ光を0次光と1次光とに回折するホログラム
素子と、 前記ホログラム素子により回折された1次光を入射し、
その入射した1次光を高周波重畳法により生じた波長分
布によるビーム径の変動を小さくして所定のアスペクト
比のレーザ光に変換するビーム整形器と、 前記0次光を入射し、その0次光の強度を検出する光検
出器とを含む光ピックアップ装置。 - 【請求項6】 検出された0次光の強度に基づいて前記
光記録媒体上でのレーザ光強度を信号の記録または再生
を行うのに適合する強度に設定するレーザ駆動回路を更
に含む請求項3から請求項5のいずれか1項に記載の光
ピックアップ装置。 - 【請求項7】 前記ホログラム素子は、基板と、前記基
板の一主面に形成されたホログラムとから成り、 前記ホログラムは、階段状部分を有する請求項3から請
求項6のいずれか1項に記載の光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11068714A JP2000268388A (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11068714A JP2000268388A (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000268388A true JP2000268388A (ja) | 2000-09-29 |
Family
ID=13381744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11068714A Pending JP2000268388A (ja) | 1999-03-15 | 1999-03-15 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000268388A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012145377A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Mitsutoyo Corp | 斜入射干渉計 |
-
1999
- 1999-03-15 JP JP11068714A patent/JP2000268388A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012145377A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Mitsutoyo Corp | 斜入射干渉計 |
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