JP2000273326A - Liquid resin composition and semiconductor device using the same - Google Patents

Liquid resin composition and semiconductor device using the same

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JP2000273326A
JP2000273326A JP11085193A JP8519399A JP2000273326A JP 2000273326 A JP2000273326 A JP 2000273326A JP 11085193 A JP11085193 A JP 11085193A JP 8519399 A JP8519399 A JP 8519399A JP 2000273326 A JP2000273326 A JP 2000273326A
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Japan
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resin composition
liquid resin
compound
liquid
semiconductor device
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Japanese (ja)
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Hikari Okubo
光 大久保
Kazuto Onami
一登 濤
Ryuichi Murayama
竜一 村山
Satoshi Onoguchi
聡 小野口
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/30Die-attach connectors

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  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被着体がリードフレームなどの金属である場
合でも有機基板である場合でも良好な耐湿密着性を示
し、耐半田リフロー性に優れる高信頼性の液状樹脂組成
物を提供し、更に高信頼性の半導体装置を提供すること
である。 【解決手段】 フィラー(A)、常温で液状の熱硬化性
樹脂(B)、並びに1分子内に活性水素を有するアミノ
基を少なくとも1つ、下記式(1)で示される官能基を
少なくとも1つ、及び炭素−炭素2重結合を有する化合
物(C)からなる液状樹脂組成物であり、化合物(C)
が全樹脂中に0.05wt%〜5wt%含まれる液状樹
脂組成物である。また、この液状樹脂組成物を用いた半
導体装置である。 【化1】
(57) [Problem] To provide a highly reliable liquid resin composition exhibiting good moisture adhesion and excellent solder reflow resistance regardless of whether an adherend is a metal such as a lead frame or an organic substrate. And a highly reliable semiconductor device. SOLUTION: A filler (A), a thermosetting resin (B) which is liquid at normal temperature, at least one amino group having active hydrogen in one molecule, and at least one functional group represented by the following formula (1). And a liquid resin composition comprising a compound (C) having a carbon-carbon double bond, wherein the compound (C)
Is a liquid resin composition containing 0.05 wt% to 5 wt% in the whole resin. A semiconductor device using the liquid resin composition. Embedded image

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はIC、LSI等の半
導体素子を金属フレーム、有機基板等に接着する液状樹
脂組成物に関するものである。
The present invention relates to a liquid resin composition for bonding a semiconductor element such as an IC or an LSI to a metal frame, an organic substrate or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年のエレクトロニクス産業の著しい発
展に伴い、トランジスタ、IC、LSI、超LSIと半
導体素子における回路の集積度は急激に増大している。
このため、半導体素子の大きさも、従来長辺が数mm程
度だったものが10数mmと飛躍的に増大し、半導体素
子の高速化のため外部と電気的に接合するピンの数も2
00ピンを越えるようになってきている。また半導体製
品の実装においても、より高密度化、より薄型化、より
高速化が一段と加速され、その結果として半導体製品自
体もQFPなどに代表される従来型のパッケージだけで
なく、BGAなどの面実装タイプのパッケージが出現
し、パッケージのより薄型化が進んでいる。
2. Description of the Related Art With the remarkable development of the electronics industry in recent years, the degree of integration of circuits in transistors, ICs, LSIs, VLSIs and semiconductor devices has been rapidly increasing.
For this reason, the size of the semiconductor element has been dramatically increased from about several mm in the past to about several tens of mm, and the number of pins electrically connected to the outside to increase the speed of the semiconductor element is also two.
It is over the 00 pin. Also, in the mounting of semiconductor products, higher density, thinner, and higher speed are further accelerated, and as a result, the semiconductor products themselves are not limited to conventional packages such as QFP, but also to BGA and other surfaces. With the emergence of mounting type packages, packages are becoming thinner.

【0003】このような動向の中、半導体素子をリード
フレームあるいは有機基板に接着するダイアタッチ材に
ついても、従来にも増して高接着性が求められ、しかも
被着体表面も各種金属表面、各種金属メッキ、有機基板
表面、ソルダーマスク表面と多岐に渡り、これらが単独
あるいは数種混在する場合も少なくない。
[0003] Under such a trend, a die attach material for bonding a semiconductor element to a lead frame or an organic substrate is required to have higher adhesiveness than ever before. Metal plating, the surface of an organic substrate, and the surface of a solder mask are various, and there are many cases where these are used alone or in combination.

【0004】従ってダイアタッチ材に、各種表面に対す
る優れた密着性が求められ、特にパッケージが吸湿した
状態での半田処理時に生ずる熱ストレスに耐えるための
非常に良好な耐湿密着性が要求されている。しかし、従
来のダイアタッチ材ではある特定の被着体に対しては良
好な密着性を示すものは存在したが、多岐に渡る表面に
対してすべて良好な結果を示すものは存在せず、半田処
理時の熱ストレスに耐えられない、あるいは耐えられた
としてもある特定のパッケージのみで各種被着体表面ひ
いては各種パッケージに対応可能なものは存在しなかっ
た。
[0004] Therefore, the die attach material is required to have excellent adhesion to various surfaces, and particularly to a very good moisture resistance adhesion resistance to withstand the thermal stress generated during the soldering process when the package has absorbed moisture. . However, some conventional die attach materials showed good adhesion to a specific adherend, but none showed good results for a wide variety of surfaces. There was no one that could not withstand the thermal stress during the treatment, or even if it could, only a specific package could handle various adherend surfaces and thus various packages.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は被着体がリー
ドフレームなどの金属である場合でも有機基板である場
合でも良好な耐湿密着性を示し、耐半田リフロー性に優
れる高信頼性の液状樹脂組成物を提供し、ひいては本発
明の液状樹脂組成物を使用することで高信頼性の半導体
装置を提供することである。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention provides a highly reliable liquid having excellent moisture adhesion and excellent solder reflow resistance regardless of whether the adherend is a metal such as a lead frame or an organic substrate. It is to provide a highly reliable semiconductor device by providing a resin composition, and by using the liquid resin composition of the present invention.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】フィラー(A)、常温で
液状の熱硬化性樹脂(B)、並びに1分子内に活性水素
を有するアミノ基を少なくとも1つ、下記式(1)で示
される官能基を少なくとも1つ、及び炭素−炭素2重結
合を有する化合物(C)からなる液状樹脂組成物であ
り、化合物(C)が全樹脂中に0.05wt%〜5wt
%含まれる液状樹脂組成物である。
The filler (A), the thermosetting resin (B) which is liquid at room temperature, and at least one amino group having active hydrogen in one molecule are represented by the following formula (1). A liquid resin composition comprising a compound (C) having at least one functional group and a carbon-carbon double bond, wherein the compound (C) is present in the entire resin in an amount of 0.05 wt% to 5 wt%.
% Of the liquid resin composition.

【化1】 Embedded image

【0007】更に好ましい形態としては、該化合物
(C)が、N−フェニル―γ―アミノプロピルトリメト
キシシランとアルケニルコハク酸無水物を反応させた化
合物、または、N−フェニル―γ―アミノプロピルトリ
メトキシシランとドデセニルコハク酸無水物を反応させ
た化合物である液状樹脂組成物である。また、上記の液
状樹脂組成物をダイアタッチ材として使用して作製した
半導体装置である。
More preferably, the compound (C) is a compound obtained by reacting N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane with alkenylsuccinic anhydride, or N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane. It is a liquid resin composition that is a compound obtained by reacting methoxysilane with dodecenyl succinic anhydride. A semiconductor device manufactured using the above liquid resin composition as a die attach material.

【0008】本発明に用いるフィラー(A)は用いる分
野が半導体用途のためハロゲンイオン、アルカリ金属イ
オン等のイオン性不純物量が10ppm以下であること
が望ましい。また要求特性により銀、金、銅、ニッケル
などの金属フィラー、シリカ、窒化アルミ、窒化ボロン
などの無機フィラーをあるいは焼成フェノール粒子、ポ
リイミド粒子等の有機フィラーを単独あるいは併用して
使用可能である。形状としてはフレーク状、繊維状、樹
脂状、不定形あるいは球状のものを単独あるいは混合し
て用いることができる。さらに粒径に関しては通常平均
粒径が2〜10μm、最大粒径は50μm程度のものが
好ましく、比較的細かいフィラーと粗いフィラーを混合
して用いてもよい。
Since the filler (A) used in the present invention is used in a semiconductor field, the content of ionic impurities such as halogen ions and alkali metal ions is preferably 10 ppm or less. Depending on the required characteristics, metal fillers such as silver, gold, copper and nickel, inorganic fillers such as silica, aluminum nitride and boron nitride, or organic fillers such as calcined phenol particles and polyimide particles can be used alone or in combination. Flake, fibrous, resinous, amorphous or spherical shapes can be used alone or in combination. Further, with respect to the particle size, usually, the average particle size is preferably 2 to 10 μm and the maximum particle size is preferably about 50 μm, and a mixture of a relatively fine filler and a coarse filler may be used.

【0009】また本発明に用いる樹脂成分は、常温で液
状の熱硬化性樹脂(B)に限定しているが、常温で液状
樹脂でないとフィラーとの混練において溶剤を必要とす
る。溶剤は特にチップサイズが大きい場合に気泡発生の
原因となり、硬化物の接着強度、熱伝導率等を低下させ
てしまうので好ましくない。また使用する樹脂が熱硬化
性で無い場合には十分な接着強度を得るために予め分子
量の大きい樹脂を使用するか、熱以外のエネルギーによ
り開始する反応を利用しなければならないが、分子量の
大きい樹脂を使用する場合も溶剤を必要とするため好ま
しくない。
The resin component used in the present invention is limited to the thermosetting resin (B) which is liquid at room temperature. However, if the resin is not a liquid resin at room temperature, a solvent is required for kneading with the filler. The solvent is not preferable because it causes bubbles, particularly when the chip size is large, and lowers the adhesive strength and thermal conductivity of the cured product. If the resin used is not thermosetting, a resin having a high molecular weight must be used in advance to obtain sufficient adhesive strength, or a reaction initiated by energy other than heat must be used. Use of a resin is not preferred because a solvent is required.

【0010】また熱以外のエネルギーによる反応は紫外
線、X線、マイクロ波などの電磁波の利用が知られてい
るが、本液状樹脂組成物の用途が基板と半導体素子の接
着を目的としているため金属、シリコンに対して不透明
な電磁波の利用は現実的ではない。
The reaction by energy other than heat is known to utilize electromagnetic waves such as ultraviolet rays, X-rays, and microwaves. However, since the liquid resin composition is used for bonding a substrate to a semiconductor element, the liquid resin composition is used for the purpose. However, the use of electromagnetic waves that are opaque to silicon is not practical.

【0011】常温で液状の熱硬化性樹脂としては、例え
ば、エポキシ樹脂と硬化剤の配合物で常温で液状のも
の、アクリレート樹脂あるいは/およびメタクリレート
樹脂と硬化開始剤の配合物で常温で液状のもの、シアネ
ートエステル樹脂とエポキシ樹脂および硬化促進剤の配
合物で常温で液状のもの等がある。
Examples of the thermosetting resin which is liquid at room temperature include, for example, a mixture of an epoxy resin and a curing agent which is liquid at room temperature, and a mixture of an acrylate resin or / and a methacrylate resin and a curing initiator which is liquid at room temperature. And a mixture of a cyanate ester resin, an epoxy resin and a curing accelerator which is liquid at ordinary temperature.

【0012】本発明では、1分子内に活性水素を有する
アミノ基を少なくとも1つ、式(1)で示される官能基
を少なくとも1つ、及び炭素−炭素2重結合を有する化
合物(C)を全樹脂中に0.05wt%〜5wt%使用
する。
In the present invention, the compound (C) having at least one amino group having active hydrogen in one molecule, at least one functional group represented by the formula (1), and a carbon-carbon double bond is used. 0.05 wt% to 5 wt% is used in all resins.

【0013】通常密着性向上のため、シランカップリン
グ材等の密着助剤を使用することは一般的であるが、例
えばシランカップリング材を何ら処理しない状態で液状
樹脂組成物に添加した場合、加熱硬化時に蒸発してしま
い期待する効果を発揮しない場合が多いとともに、硬化
時に発生したガス成分がダイ表面、リードフレームある
いは基板表面を汚染する危険が高い。汚染は封止樹脂の
密着性の低下をまねき信頼性の低下につながる。また通
常用いられるフィラー等をあらかじめ処理する方法で
は、硬化物自体の凝集力が上がるため密着強度の向上に
はつながるが、被着体との界面での密着性向上にはあま
り貢献せず特に吸湿処理による密着強度の劣化が大き
い。
Usually, an adhesion aid such as a silane coupling material is generally used to improve the adhesion. For example, when the silane coupling material is added to the liquid resin composition without any treatment, In many cases, the desired effect is not exhibited due to evaporation during heating and curing, and there is a high risk that gas components generated during curing may contaminate the die surface, the lead frame or the substrate surface. Contamination leads to a decrease in adhesion of the sealing resin, leading to a decrease in reliability. In addition, the method of preliminarily treating a filler or the like generally increases the cohesive force of the cured product itself, which leads to the improvement of the adhesion strength, but does not contribute much to the improvement of the adhesion at the interface with the adherend. Deterioration of adhesion strength due to processing is large.

【0014】本発明では1分子内に活性水素を有するア
ミノ基を少なくとも1つおよび式(1)で示される官能
基を少なくとも1つならびに炭素−炭素2重結合を有す
る化合物(C)を使用するが、これは第1に活性水素を
有するアミノ基の極性が高密着に寄与する点、第2に式
(1)で示される官能基が基板あるいはチップとの密着
に寄与する点、第3に炭素−炭素2重結合の導入により
特にソルダーレジスト硬化物表面への密着性の大幅なる
向上に寄与する点に基づく。
In the present invention, a compound (C) having at least one amino group having active hydrogen in one molecule, at least one functional group represented by the formula (1) and a carbon-carbon double bond is used. This is because, first, the polarity of the amino group having active hydrogen contributes to high adhesion, second, the functional group represented by the formula (1) contributes to adhesion to the substrate or chip, and third, It is based on the fact that the introduction of the carbon-carbon double bond contributes to a great improvement in the adhesiveness particularly to the surface of the cured solder resist.

【0015】好ましくは、本発明の化合物(C)は、N
−フェニル―γ―アミノプロピルトリメトキシシランと
アルケニルコハク酸無水物を反応させた化合物、また
は、N−フェニル―γ―アミノプロピルトリメトキシシ
ランとドデセニルコハク酸無水物を反応させた化合物で
ある。これらの化合物を用いることによりより密着性が
より向上する。
Preferably, the compound (C) of the present invention is
A compound obtained by reacting -phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane with alkenylsuccinic anhydride, or a compound obtained by reacting N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane with dodecenylsuccinic anhydride. Adhesion is further improved by using these compounds.

【0016】本発明では、化合物(C)の配合割合は、
液状樹脂組成物に対して0.05wt%〜5wt%であ
る。これは配合量が0.05wt%より少ない場合には
期待する吸湿密着性向上の効果が現れず、5wt%より
多い場合には液状樹脂組成物の粘度が高くなりすぎ塗布
作業性の悪化、あるいは式(1)で示される官能基の量
が多くなりすぎるため発生するアルコールに基づくボイ
ドが観察され好ましくない為である。
In the present invention, the compounding ratio of the compound (C) is
It is 0.05 wt% to 5 wt% based on the liquid resin composition. When the amount is less than 0.05 wt%, the expected effect of improving the moisture absorption and adhesion is not exhibited. When the amount is more than 5 wt%, the viscosity of the liquid resin composition becomes too high, and the workability of coating is deteriorated, or This is because the amount of the functional group represented by the formula (1) becomes too large, and voids based on the generated alcohol are observed, which is not preferable.

【0017】本発明の製造方法は例えば各成分を予備混
合した後、3本ロールを用いて混練し、混練後真空下脱
泡し樹脂ペーストを得るなどがある。
The production method of the present invention includes, for example, preliminarily mixing the components, kneading them using a three-roll mill, kneading the mixture, and defoaming under vacuum to obtain a resin paste.

【0018】[0018]

【実施例】以下実施例を用いて本発明を具体的に説明す
る。配合割合は重量部で示す。 <実施例1〜3>粒径1〜30μmで平均粒径3μmのフ
レーク状銀粉(以下銀粉)、ビスフェノールAとエピク
ロルヒドリンとの反応により得られるジグリシジルビス
フェノールA(エポキシ当量180、常温で液体、以下
ビスAエポキシ)、クレジルグリシジルエーテル(エポ
キシ当量185)、フェノールノボラック(水酸基当量
104、軟化点80〜90℃)、ジシアンジアミド、ジ
アザビシクロウンデセンおよび3つ口のセパラブルフラ
スコに秤量した49gのN−フェニル−γ−アミノプロ
ピルトリメトキシシランを200rpmで攪拌しながら
51gのドデセニルコハク酸無水物を滴下ロートを用い
10分間で添加し、12時間反応して得られた化合物
(以下化合物D)を第一表に示す割合で配合し、3本ロ
ールで混練して液状樹脂組成物を得た。なお反応中の内
温は添加開始後11分で最高を示し、38℃まで上昇し
た。この液状樹脂組成物を真空チャンバーにて2mmH
gで30分間脱泡した後、以下の方法により各種性能を
評価した。
The present invention will be specifically described below with reference to examples. The mixing ratio is shown in parts by weight. <Examples 1 to 3> Flaky silver powder (hereinafter referred to as silver powder) having a particle diameter of 1 to 30 μm and an average particle diameter of 3 μm, diglycidyl bisphenol A obtained by the reaction of bisphenol A with epichlorohydrin (epoxy equivalent 180, liquid at room temperature, Bis-A epoxy), cresyl glycidyl ether (epoxy equivalent 185), phenol novolak (hydroxyl equivalent 104, softening point 80-90 ° C.), dicyandiamide, diazabicycloundecene and 49 g weighed in a three-neck separable flask. While stirring N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane at 200 rpm, 51 g of dodecenylsuccinic anhydride was added using a dropping funnel in 10 minutes, and the compound obtained by reacting for 12 hours (hereinafter referred to as Compound D) was added to Mix in the ratio shown in the table, knead with three rolls To obtain a composition. The internal temperature during the reaction reached its maximum 11 minutes after the start of the addition, and rose to 38 ° C. This liquid resin composition is placed in a vacuum chamber at 2 mmH
After degassing for 30 minutes with g, various performances were evaluated by the following methods.

【0019】・粘度:E型粘度計(3°コーン)を用い
25℃、2.5rpmでの値を測定し粘度とした。 ・室温での保存性:25℃にて48時間放置した後、上
記方法にて粘度を測定し、得られた値の初期値に対する
変化率が20%以下の場合を合格とした。 ・接着強度(1) :6×6mmのシリコンチップを液状
樹脂組成物を用いて銅フレームにマウントし150℃オ
ーブン中60分間硬化した。硬化後自動マウント強度測
定装置(DAGE PC−2400)を用い250℃で
の熱時ダイシェア強度を測定した。また硬化後のサンプ
ルを85℃85%72時間吸水処理し250℃での熱時
ダイシェア強度を測定し、吸湿後の保持率80%以上の
場合を合格とした。 ・接着強度(2) :6×6mmのシリコンチップを液状
樹脂組成物を用いて有機基板(ソルダーマスク:太陽イ
ンキPSR−4000AUS5/CA−40AUS2)
にマウントし150℃オーブン中60分間硬化した。硬
化後接着強度(1)と同様に接着強度を測定した。
Viscosity: The viscosity was measured by using an E-type viscometer (3 ° cone) at 25 ° C. and 2.5 rpm to determine the viscosity. -Storage property at room temperature: After standing at 25 ° C for 48 hours, the viscosity was measured by the above method, and the case where the rate of change of the obtained value with respect to the initial value was 20% or less was regarded as acceptable. Adhesive strength (1): A 6 × 6 mm silicon chip was mounted on a copper frame using a liquid resin composition and cured in an oven at 150 ° C. for 60 minutes. After curing, the die shear strength under heat at 250 ° C. was measured using an automatic mount strength measuring device (DAGE PC-2400). The cured sample was subjected to a water absorption treatment at 85 ° C. and 85% for 72 hours, and the hot die shear strength at 250 ° C. was measured.・ Adhesive strength (2): A silicon chip of 6 × 6 mm is formed using a liquid resin composition on an organic substrate (solder mask: solar ink PSR-4000AUS5 / CA-40AUS2).
And cured in a 150 ° C. oven for 60 minutes. The adhesive strength was measured in the same manner as the adhesive strength after curing (1).

【0020】<実施例4>用いるフィラーとして破砕シ
リカ(平均粒径3μm、最大粒径16μm 以下シリ
カ)を使用した他は実施例1〜3と同様にして液状樹脂
組成物を作製し評価した。
Example 4 A liquid resin composition was prepared and evaluated in the same manner as in Examples 1 to 3, except that crushed silica (average particle size: 3 μm, maximum particle size: 16 μm or less) was used as a filler.

【0021】<比較例1〜5>第一表に示す配合割合で
実施例と全く同様にして導電性樹脂ペーストを作製し
た。なお比較例3、4ではN−フェニル―γ−アミノプ
ロピルトリメトキシシラン、ドデセニルコハク酸無水物
をそれぞれ単独で、比較例5ではN−フェニル―γ−ア
ミノプロピルトリメトキシシランとメチルテトラヒドロ
無水フタル酸の反応物(化合物E:3つ口のセパラブル
フラスコに秤量した60.3gのN−フェニル−γ−ア
ミノプロピルトリメトキシシランを200rpmで攪拌
しながら39.7gのメチルテトラヒドロ無水フタル酸
を滴下ロートを用い10分間で添加し、12時間反応し
て得た化合物で、反応中の内温は添加開始後15分で最
高を示し、42℃まで上昇)を用いた。
<Comparative Examples 1 to 5> Conductive resin pastes were prepared in exactly the same manner as in the examples with the mixing ratios shown in Table 1. In Comparative Examples 3 and 4, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane and dodecenylsuccinic anhydride were used alone, and in Comparative Example 5, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane and methyltetrahydrophthalic anhydride were used. Reaction product (Compound E: 69.7 g of N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane weighed in a three-neck separable flask was stirred at 200 rpm, and 39.7 g of methyltetrahydrophthalic anhydride was added dropwise to the funnel. A compound obtained by adding for 10 minutes and reacting for 12 hours was used, and the internal temperature during the reaction reached its maximum at 15 minutes after the start of the addition and rose to 42 ° C.).

【0022】評価結果を表1に示す。Table 1 shows the evaluation results.

【表1】 [Table 1]

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明の液状樹脂組成物は銅、42合金
等の金属フレームはもとより、ソルダーマスクを被覆し
た有機基板との特に吸湿密着性に優れるためBGAなど
のパッケージに使用しても半田処理時にクラックが発生
しない従来になかった高信頼性の半導体素子接着用の液
状樹脂組成物である。
As described above, the liquid resin composition of the present invention is excellent in moisture absorption adhesion to an organic substrate coated with a solder mask as well as a metal frame made of copper, 42 alloy or the like. This is a highly reliable liquid resin composition for bonding a semiconductor element, which has never existed before and does not generate cracks during processing.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小野口 聡 東京都品川区東品川2丁目5番8号 住友 ベークライト株式会社内 Fターム(参考) 4J002 BG031 CC032 CD001 CE001 CM042 DA066 DF016 DK006 EX017 EX077 FD012 FD016 5F047 AA02 AA07 AA11 AA17 BA23 BA24 BA34 BA51 BA52 BB11 BB16  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Satoshi Onoguchi 2-5-8 Higashishinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Sumitomo Bakelite Co., Ltd. F term (reference) 4J002 BG031 CC032 CD001 CE001 CM042 DA066 DF016 DK006 EX017 EX077 FD012 FD016 5F047 AA02 AA07 AA11 AA17 BA23 BA24 BA34 BA51 BA52 BB11 BB16

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 フィラー(A)、常温で液状の熱硬化性
樹脂(B)、並びに1分子内に活性水素を有するアミノ
基を少なくとも1つ、下記式(1)で示される官能基を
少なくとも1つ、及び炭素−炭素2重結合を有する化合
物(C)からなる液状樹脂組成物であり、化合物(C)
が全樹脂中に0.05wt%〜5wt%含まれることを
特徴とする液状樹脂組成物。 【化1】
1. A filler (A), a thermosetting resin (B) which is liquid at normal temperature, at least one amino group having active hydrogen in one molecule, and at least a functional group represented by the following formula (1): A liquid resin composition comprising one compound and a compound (C) having a carbon-carbon double bond, wherein the compound (C)
Is contained in the entire resin in an amount of 0.05 wt% to 5 wt%. Embedded image
【請求項2】 該化合物(C)が、N−フェニル―γ―
アミノプロピルトリメトキシシランとアルケニルコハク
酸無水物を反応させた化合物である請求項1記載の液状
樹脂組成物。
2. The method according to claim 1, wherein the compound (C) is N-phenyl-γ-
The liquid resin composition according to claim 1, which is a compound obtained by reacting aminopropyltrimethoxysilane with alkenylsuccinic anhydride.
【請求項3】 該化合物(C)が、N−フェニル―γ―
アミノプロピルトリメトキシシランとドデセニルコハク
酸無水物を反応させた化合物である請求項1記載の液状
樹脂組成物。
3. The method according to claim 1, wherein the compound (C) is N-phenyl-γ-
The liquid resin composition according to claim 1, which is a compound obtained by reacting aminopropyltrimethoxysilane with dodecenylsuccinic anhydride.
【請求項4】 請求項1記載の液状樹脂組成物をダイア
タッチ材として使用して作製したことを特徴とする半導
体装置。
4. A semiconductor device manufactured using the liquid resin composition according to claim 1 as a die attach material.
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