JP2000277421A - 照明装置 - Google Patents
照明装置Info
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- JP2000277421A JP2000277421A JP11083093A JP8309399A JP2000277421A JP 2000277421 A JP2000277421 A JP 2000277421A JP 11083093 A JP11083093 A JP 11083093A JP 8309399 A JP8309399 A JP 8309399A JP 2000277421 A JP2000277421 A JP 2000277421A
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- Japan
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- light
- optical system
- fly
- light source
- eye lens
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70483—Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
- G03F7/7055—Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
- G03F7/70583—Speckle reduction, e.g. coherence control or amplitude/wavefront splitting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】レーザビームによるガウス強度ムラとオプティ
カルインテグレータによる干渉ノイズとを同時に低減で
きる小型で簡便な構成の照明装置を提供すること。 【解決手段】所定のパターンが形成されたマスクを照明
する照明装置において、ビーム光を供給する光源1と、
反射部材4と光分割部材5とで構成され、前記光源から
のビーム光を複数のビーム群に変換するマルチビーム生
成光学系MBと、前記光源からの光を分割し、複数の光
源像を形成するオプティカルインテグレータ部9とを有
し、前記マルチビーム生成光学系は、前記光分割部材が
前記反射部材に対して所定角度で対向して配設され、前
記光源からのビーム光を前記反射部材と前記光分割部材
との間で多重反射させることによって複数のビーム群を
生成するように構成されている。
カルインテグレータによる干渉ノイズとを同時に低減で
きる小型で簡便な構成の照明装置を提供すること。 【解決手段】所定のパターンが形成されたマスクを照明
する照明装置において、ビーム光を供給する光源1と、
反射部材4と光分割部材5とで構成され、前記光源から
のビーム光を複数のビーム群に変換するマルチビーム生
成光学系MBと、前記光源からの光を分割し、複数の光
源像を形成するオプティカルインテグレータ部9とを有
し、前記マルチビーム生成光学系は、前記光分割部材が
前記反射部材に対して所定角度で対向して配設され、前
記光源からのビーム光を前記反射部材と前記光分割部材
との間で多重反射させることによって複数のビーム群を
生成するように構成されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、投影光学系、特に
マスク上に形成された半導体用又は液晶用のパターンを
感光性基板上に投影露光するために好適な照明装置に関
する。本発明は更には当該照明装置を用いた投影露光装
置及び露光方法に関する。
マスク上に形成された半導体用又は液晶用のパターンを
感光性基板上に投影露光するために好適な照明装置に関
する。本発明は更には当該照明装置を用いた投影露光装
置及び露光方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、KrFエキシマレーザを光源とする
投影露光装置、特に半導体製造用の投影露光装置(KrF
エキシマ・ステッパー)が製品化されている。図6は第
1の従来技術の照明装置を備える投影露光装置の概略構
成を示す図である。KrFエキシマレーザ100からの光
はビームエキスパンダ102で拡大された後、振動ミラ
ー104で反射され、フライアイレンズ106に入射す
る。フライアイレンズで波面分割された光はコンデンサ
レンズ108を介してレチクル110を照明する。そし
て、レチクル110に描画されている回路パターンは投
影レンズ112によってウエハ114上に転写される。
ここで、1回の露光は数十のパルス照射によって行なわ
れている。フライアイレンズ106は、レーザビーム光
が有するガウス分布の強度ムラを補正するために不可欠
の要素である。しかし、フライアイレンズで波面分割さ
れたビームは、レチクル上で再び重ね合わされるのでレ
チクル上に干渉ノイズが生じている。図6に示す第1の
従来技術の投影露光装置では、パルス照射ごとに振動ミ
ラー104の角度を不図示の機構により変化させて干渉
ノイズを平均化し、レチクル上の照明強度分布を均一に
している。
投影露光装置、特に半導体製造用の投影露光装置(KrF
エキシマ・ステッパー)が製品化されている。図6は第
1の従来技術の照明装置を備える投影露光装置の概略構
成を示す図である。KrFエキシマレーザ100からの光
はビームエキスパンダ102で拡大された後、振動ミラ
ー104で反射され、フライアイレンズ106に入射す
る。フライアイレンズで波面分割された光はコンデンサ
レンズ108を介してレチクル110を照明する。そし
て、レチクル110に描画されている回路パターンは投
影レンズ112によってウエハ114上に転写される。
ここで、1回の露光は数十のパルス照射によって行なわ
れている。フライアイレンズ106は、レーザビーム光
が有するガウス分布の強度ムラを補正するために不可欠
の要素である。しかし、フライアイレンズで波面分割さ
れたビームは、レチクル上で再び重ね合わされるのでレ
チクル上に干渉ノイズが生じている。図6に示す第1の
従来技術の投影露光装置では、パルス照射ごとに振動ミ
ラー104の角度を不図示の機構により変化させて干渉
ノイズを平均化し、レチクル上の照明強度分布を均一に
している。
【0003】図7は、第2の従来技術例である特開昭6
3-216338号公報に開示されている照明装置の概
略構成を示す図である。エキシマレーザ200から射出
されたビーム光は、全反射ミラー202Cと部分反射ミ
ラー202Rとからなる繰り返し反射ミラー系(マルチ
ビーム光学系)202を用いて、行方向に対してフライ
アイレンズ204の要素レンズと同じ数の平行なビーム
群に変換される。そして、各ビーム光はそれぞれフライ
アイレンズ204の要素レンズに入射するように構成さ
れる。各要素レンズに対応して形成された2次光源20
6からの光がコンデンサレンズ208によりマスク(レ
チクル)210上に照射される。この従来技術例では、
全反射ミラー202Cと部分反射ミラー202Rとの間
隔を調整することにより、各ビーム光の光路差がエキシ
マレーザ200の可干渉距離以上となるように設定され
ている。このように設定しておけば、フライアイレンズ
204を射出した光波は相互に干渉しないので、マスク
(レチクル)上で干渉ノイズが生じない。
3-216338号公報に開示されている照明装置の概
略構成を示す図である。エキシマレーザ200から射出
されたビーム光は、全反射ミラー202Cと部分反射ミ
ラー202Rとからなる繰り返し反射ミラー系(マルチ
ビーム光学系)202を用いて、行方向に対してフライ
アイレンズ204の要素レンズと同じ数の平行なビーム
群に変換される。そして、各ビーム光はそれぞれフライ
アイレンズ204の要素レンズに入射するように構成さ
れる。各要素レンズに対応して形成された2次光源20
6からの光がコンデンサレンズ208によりマスク(レ
チクル)210上に照射される。この従来技術例では、
全反射ミラー202Cと部分反射ミラー202Rとの間
隔を調整することにより、各ビーム光の光路差がエキシ
マレーザ200の可干渉距離以上となるように設定され
ている。このように設定しておけば、フライアイレンズ
204を射出した光波は相互に干渉しないので、マスク
(レチクル)上で干渉ノイズが生じない。
【0004】図8は、第3の従来技術例である特開平1
0−125585号公報に開示された照明装置と該照明
装置を備える投影露光装置の構成を示す図である。第1
及び第2の1次元マルチビーム生成光学系310,31
2からなる2次元マルチビーム生成光学系308は、レ
ーザ光源300から射出したビームからN×M本の2次
元ビーム群を生成する。該N×M本の2次元ビーム群
は、フライアイレンズ320a,320b、コンデンサ
レンズ322a,322b、及びレチクル328の順に
入射する。第1マルチビーム光学系310と第2マルチ
ビーム光学系312とは直交して配置され、全てのビー
ムが非干渉となるように第1と第2のマルチビーム光学
系の光路長差を最適化している。また、第1と第2のマ
ルチビーム光学系を構成する部分反射ミラーの各部の反
射率は、最終的に生成される2次元のビームアレーの各
強度が等しくなるように最適化されている。また、マル
チビーム光学系から射出した各光線を、拡散板314
a,314bによりフライアイレンズの要素レンズの有
効径以上に拡大させてフライアイレンズ320aに入射
させている。
0−125585号公報に開示された照明装置と該照明
装置を備える投影露光装置の構成を示す図である。第1
及び第2の1次元マルチビーム生成光学系310,31
2からなる2次元マルチビーム生成光学系308は、レ
ーザ光源300から射出したビームからN×M本の2次
元ビーム群を生成する。該N×M本の2次元ビーム群
は、フライアイレンズ320a,320b、コンデンサ
レンズ322a,322b、及びレチクル328の順に
入射する。第1マルチビーム光学系310と第2マルチ
ビーム光学系312とは直交して配置され、全てのビー
ムが非干渉となるように第1と第2のマルチビーム光学
系の光路長差を最適化している。また、第1と第2のマ
ルチビーム光学系を構成する部分反射ミラーの各部の反
射率は、最終的に生成される2次元のビームアレーの各
強度が等しくなるように最適化されている。また、マル
チビーム光学系から射出した各光線を、拡散板314
a,314bによりフライアイレンズの要素レンズの有
効径以上に拡大させてフライアイレンズ320aに入射
させている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】投影露光装置の光源で
あるエキシマレーザは波長幅の狭帯化が進められてい
る。このため、近年のエキシマレーザは従来のエキシマ
レーザに比較して、時間的可干渉性のみならず空間的可
干渉性も高くなっている。空間的可干渉性が高くなると
フライアイレンズによる干渉ノイズのコントラストが大
きくなる。干渉ノイズは回路パターンに重畳すること
で、パターン転写誤差を引き起こす原因となる。すなわ
ち、微細構造を有する露光量不均一成分が増大すること
になる。波長幅が狭帯化されたKrFエキシマレーザを光
源とし、上記第1の従来技術の照明装置を用いて露光装
置を構成して、数十パルスで露光した場合には、レーザ
光のガウス強度分布は平均化できるものの、フライアイ
レンズによる微細な干渉ノイズを十分に平均化できない
という問題を生じている。また、露光強度を減光して、
露光パルス数(平均回数)を増大させると、干渉ノイズ
は低減するが、スループットが減少してしまう。
あるエキシマレーザは波長幅の狭帯化が進められてい
る。このため、近年のエキシマレーザは従来のエキシマ
レーザに比較して、時間的可干渉性のみならず空間的可
干渉性も高くなっている。空間的可干渉性が高くなると
フライアイレンズによる干渉ノイズのコントラストが大
きくなる。干渉ノイズは回路パターンに重畳すること
で、パターン転写誤差を引き起こす原因となる。すなわ
ち、微細構造を有する露光量不均一成分が増大すること
になる。波長幅が狭帯化されたKrFエキシマレーザを光
源とし、上記第1の従来技術の照明装置を用いて露光装
置を構成して、数十パルスで露光した場合には、レーザ
光のガウス強度分布は平均化できるものの、フライアイ
レンズによる微細な干渉ノイズを十分に平均化できない
という問題を生じている。また、露光強度を減光して、
露光パルス数(平均回数)を増大させると、干渉ノイズ
は低減するが、スループットが減少してしまう。
【0006】また、上記第2の従来技術例は、露光パル
ス数を増大させずに空間的可干渉性の影響を低減する方
法である。第2の従来技術例は光源からのビーム光を、
干渉しない複数のビーム光に変換することにより露光パ
ルス数を増大させる事と等価な効果を得る事を目的とし
ている。
ス数を増大させずに空間的可干渉性の影響を低減する方
法である。第2の従来技術例は光源からのビーム光を、
干渉しない複数のビーム光に変換することにより露光パ
ルス数を増大させる事と等価な効果を得る事を目的とし
ている。
【0007】しかし、第2の従来技術例の照明装置を用
いて投影露光装置を構成したときは、単一反射膜の場合
で干渉ノイズの影響を小さくするためにマルチビーム数
を50程度以上にする必要がある。このため、マルチビ
ーム光学系がビームの反射方向について大型化してしま
うという問題がある。また、各ビームを拡大せずにフラ
イアイレンズの要素レンズに入射させているため、レー
ザビーム固有のガウス分布を有する強度不均一性(ム
ラ)が問題となる。さらに、フライアイレンズの各要素
レンズに対して均等なビーム形状で入射させることが困
難であるという問題もある。したがって、第2の従来技
術例の場合も実用的な均一性を有する照明を得ることが
できないので、レチクル上における照度均一性を十分に
向上させることができず、パターン転写誤差が生じてい
る。即ち、上記第1と第2の従来技術例では、ガウス強
度ムラの問題とフライアイレンズによる干渉ノイズの問
題とのうち一方の問題は解決できるが、両方同時に解決
することはできない。
いて投影露光装置を構成したときは、単一反射膜の場合
で干渉ノイズの影響を小さくするためにマルチビーム数
を50程度以上にする必要がある。このため、マルチビ
ーム光学系がビームの反射方向について大型化してしま
うという問題がある。また、各ビームを拡大せずにフラ
イアイレンズの要素レンズに入射させているため、レー
ザビーム固有のガウス分布を有する強度不均一性(ム
ラ)が問題となる。さらに、フライアイレンズの各要素
レンズに対して均等なビーム形状で入射させることが困
難であるという問題もある。したがって、第2の従来技
術例の場合も実用的な均一性を有する照明を得ることが
できないので、レチクル上における照度均一性を十分に
向上させることができず、パターン転写誤差が生じてい
る。即ち、上記第1と第2の従来技術例では、ガウス強
度ムラの問題とフライアイレンズによる干渉ノイズの問
題とのうち一方の問題は解決できるが、両方同時に解決
することはできない。
【0008】また、第3の従来技術例はコンパクトな大
きさで、スループットを落とすことなくガウス強度ムラ
とフライアイレンズの干渉ノイズを両方同時に低減でき
る構成となっている。第3の従来技術例ではガウス強度
ムラを低減のために、生成された各ビームの有効径をフ
ライアイレンズの要素レンズの有効径以上に拡大してい
る。さらに、コンパクトで多数の非干渉ビーム光を発生
するために、2つの1次元マルチビーム光学系を直交し
て配置し、第1のマルチビーム光学系と第2のマルチビ
ーム光学系で発生する光路差を異なる値に設定してい
る。
きさで、スループットを落とすことなくガウス強度ムラ
とフライアイレンズの干渉ノイズを両方同時に低減でき
る構成となっている。第3の従来技術例ではガウス強度
ムラを低減のために、生成された各ビームの有効径をフ
ライアイレンズの要素レンズの有効径以上に拡大してい
る。さらに、コンパクトで多数の非干渉ビーム光を発生
するために、2つの1次元マルチビーム光学系を直交し
て配置し、第1のマルチビーム光学系と第2のマルチビ
ーム光学系で発生する光路差を異なる値に設定してい
る。
【0009】しかし、第3の従来技術例では、繰り返し
反射によって順次生成されてゆくビームを部分反射ミラ
ーのそれぞれの所定有効径範囲内にアライメントする必
要があり調整が困難である。さらに、マルチビーム光学
系を構成する際には、透過率(又は反射率)が異なる多
くの種類の部分反射ミラーを一つの基盤に蒸着する工程
が必要であるため、製造コストが高くなってしまうとい
う問題を生じている。このように第3の従来技術例で
は、低干渉ノイズ、低コスト、高スループットを同時に
実現することは困難である。
反射によって順次生成されてゆくビームを部分反射ミラ
ーのそれぞれの所定有効径範囲内にアライメントする必
要があり調整が困難である。さらに、マルチビーム光学
系を構成する際には、透過率(又は反射率)が異なる多
くの種類の部分反射ミラーを一つの基盤に蒸着する工程
が必要であるため、製造コストが高くなってしまうとい
う問題を生じている。このように第3の従来技術例で
は、低干渉ノイズ、低コスト、高スループットを同時に
実現することは困難である。
【0010】次に、第2の従来技術例における大型化の
問題ついてさらに詳細に検討する。図9は、第2の従来
技術例の1次元マルチビーム光学系の構成を示す。ここ
で、入射ビームの方向をz軸、繰り返し反射する方向を
y軸、紙面に垂直な方向をx軸とそれぞれする。図9に
示す構成では、エネルギー反射率がr0の全反射ミラー
202Cと、エネルギー反射率がrの部分反射ミラー2
02Rとが対面して平行に配置されている。入射ビーム
T0はミラー202Rを部分的に透過しつつ2つのミラ
ーの間を繰り返し反射し、互いに平行な多数のビームに
変換される。ここで、各ビームの光路差を光源の時間的
可干渉距離以上にしておくと、干渉ノイズを低減するこ
とができる。
問題ついてさらに詳細に検討する。図9は、第2の従来
技術例の1次元マルチビーム光学系の構成を示す。ここ
で、入射ビームの方向をz軸、繰り返し反射する方向を
y軸、紙面に垂直な方向をx軸とそれぞれする。図9に
示す構成では、エネルギー反射率がr0の全反射ミラー
202Cと、エネルギー反射率がrの部分反射ミラー2
02Rとが対面して平行に配置されている。入射ビーム
T0はミラー202Rを部分的に透過しつつ2つのミラ
ーの間を繰り返し反射し、互いに平行な多数のビームに
変換される。ここで、各ビームの光路差を光源の時間的
可干渉距離以上にしておくと、干渉ノイズを低減するこ
とができる。
【0011】図9より入射ビームT0に対するミラーの
設置角θと、2つのミラーの垂直間隔dは次式で表され
る。 (1) θ=tan-1(h/L) (2) d=h/(2sinθ) ここで、Lは光路差ABC―AD、hは各ビームの垂直
距離をそれぞれ表している。そして、光路差Lは干渉ノ
イズ低減のため光源の時間的可干渉距離Lc以上に設定
している。また、幾何学的制限より、hはy方向に関す
るビーム幅以上に設定する必要がある。かかる制限から
θとdが定まる。
設置角θと、2つのミラーの垂直間隔dは次式で表され
る。 (1) θ=tan-1(h/L) (2) d=h/(2sinθ) ここで、Lは光路差ABC―AD、hは各ビームの垂直
距離をそれぞれ表している。そして、光路差Lは干渉ノ
イズ低減のため光源の時間的可干渉距離Lc以上に設定
している。また、幾何学的制限より、hはy方向に関す
るビーム幅以上に設定する必要がある。かかる制限から
θとdが定まる。
【0012】次に、図9の構成における干渉ノイズ低減
の度合いを計算する。ここでは、最後に反射したビーム
は有効径外に逃れてしまい、エネルギーロスとなる場合
を考える。図9に示すように最後に反射したビームの番
号をn番目とすると、当該n番目のビームのエネルギー
Rnは反射率r、r0を用いて次式で表すことができ
る。 (3) Rn=r・(r・r0)n-1 ここで、入射ビームのエネルギーは1としている。式
(3)をnについて解くと次式を得る。 (4) n=ln(Rn/r)/ln( r・ r0)+1 式(4)よりr、r0、Rnが与えられると、最後の打ち
切りビーム番号nが定まる。そして、nが定められると
y方向の有効径Yは次式、 (5) Y=(n−1)・h で与えられる。なお式(4)の右辺は実数なので実用上
はその値を切り上げたものをnとすることにする。
の度合いを計算する。ここでは、最後に反射したビーム
は有効径外に逃れてしまい、エネルギーロスとなる場合
を考える。図9に示すように最後に反射したビームの番
号をn番目とすると、当該n番目のビームのエネルギー
Rnは反射率r、r0を用いて次式で表すことができ
る。 (3) Rn=r・(r・r0)n-1 ここで、入射ビームのエネルギーは1としている。式
(3)をnについて解くと次式を得る。 (4) n=ln(Rn/r)/ln( r・ r0)+1 式(4)よりr、r0、Rnが与えられると、最後の打ち
切りビーム番号nが定まる。そして、nが定められると
y方向の有効径Yは次式、 (5) Y=(n−1)・h で与えられる。なお式(4)の右辺は実数なので実用上
はその値を切り上げたものをnとすることにする。
【0013】次に、最後のn番目に反射したビームのエ
ネルギーが入射エネルギーの1%以内となることを条件
として干渉ノイズの低減度合いを、r0は99%(固
定)、rは80%と96%との場合について説明する。
なお、h=3mmとし、干渉ノイズはスペックルパター
ンであると仮定する。
ネルギーが入射エネルギーの1%以内となることを条件
として干渉ノイズの低減度合いを、r0は99%(固
定)、rは80%と96%との場合について説明する。
なお、h=3mmとし、干渉ノイズはスペックルパター
ンであると仮定する。
【0014】まず、n本の1次元マルチビームの各強度
をTk(ただし、k=1〜n)、各ビームがレチクル面
に作るスペックル強度分布をIk(x,y)(ただし、k=1
〜n)としたとき、トータルの強度分布は次式、 (6) I(x,y)=I1(x,y)+I2(x,y)+・・・+In(x,y) で与えられる。そして、干渉ノイズの低減度合いは、I
(x,y)のレチクル面内での平均値<I>に対する統計的
揺らぎσをコンピュータシミュレーションすることによ
って算出する。計算を行う際にはIkの平均値が各ビーム
強度Tkに比例するとしてビーム強度Tkがビーム毎に異
なる効果を取り入れた。なお、Tkは部分反射ミラーの
エネルギー透過率をtとすると、 Tk=t・(r・r0)k-1 で与えられる。
をTk(ただし、k=1〜n)、各ビームがレチクル面
に作るスペックル強度分布をIk(x,y)(ただし、k=1
〜n)としたとき、トータルの強度分布は次式、 (6) I(x,y)=I1(x,y)+I2(x,y)+・・・+In(x,y) で与えられる。そして、干渉ノイズの低減度合いは、I
(x,y)のレチクル面内での平均値<I>に対する統計的
揺らぎσをコンピュータシミュレーションすることによ
って算出する。計算を行う際にはIkの平均値が各ビーム
強度Tkに比例するとしてビーム強度Tkがビーム毎に異
なる効果を取り入れた。なお、Tkは部分反射ミラーの
エネルギー透過率をtとすると、 Tk=t・(r・r0)k-1 で与えられる。
【0015】干渉ノイズに関する一般的な文献において
C=σ/<I>をスペックルコントラストと呼び、干渉
ノイズの度合いとして定義しているので、本シミュレー
ションでもこの定義を用いる。スペックルコントラスト
Cはn=1の場合に100%となるように規格化されて
いるものとする。なお、コントラストCを計算する際に
は部分反射ミラー202Cの透過率tは分母と分子に共
通に現れるので結果としてCはtに依存しない。
C=σ/<I>をスペックルコントラストと呼び、干渉
ノイズの度合いとして定義しているので、本シミュレー
ションでもこの定義を用いる。スペックルコントラスト
Cはn=1の場合に100%となるように規格化されて
いるものとする。なお、コントラストCを計算する際に
は部分反射ミラー202Cの透過率tは分母と分子に共
通に現れるので結果としてCはtに依存しない。
【0016】以下の表1に部分反射ミラーのrに対する
n、Yと、コンピューターシミュレーションによるCと
を示す。
n、Yと、コンピューターシミュレーションによるCと
を示す。
【0017】
【表1】 r n Y C 80% 40 120mm 24.3% 96% 91 273mm 16.1%
【0018】表1より明らかなように、rを増大させる
ことにより干渉ノイズCは低減するが、y方向の有効径
Yが増大してしまうことがわかる。この現象はrが大き
くなるほど有効なマルチビーム数nが増大するという観
点から説明できる。すなわち、n(反射回数)が大きく
なると干渉ノイズの平均化が起こりやすくなる反面、式
(5)に従ってy方向の有効径が増大してしまうのであ
る。
ことにより干渉ノイズCは低減するが、y方向の有効径
Yが増大してしまうことがわかる。この現象はrが大き
くなるほど有効なマルチビーム数nが増大するという観
点から説明できる。すなわち、n(反射回数)が大きく
なると干渉ノイズの平均化が起こりやすくなる反面、式
(5)に従ってy方向の有効径が増大してしまうのであ
る。
【0019】なお、y方向の有効径を低減する方策とし
てビーム幅を小さくした上でビーム間隔hを小さくする
ことが考えられる。しかし、一般にビーム幅とビーム発
散角とは反比例の関係にあるので、入射位置でのビーム
幅を小さくして、ビーム間隔hを小さくできたとして
も、反射を繰り返すうちにビームが広がってしまい、実
質的に有効径を低減することは困難である。
てビーム幅を小さくした上でビーム間隔hを小さくする
ことが考えられる。しかし、一般にビーム幅とビーム発
散角とは反比例の関係にあるので、入射位置でのビーム
幅を小さくして、ビーム間隔hを小さくできたとして
も、反射を繰り返すうちにビームが広がってしまい、実
質的に有効径を低減することは困難である。
【0020】また、最後のn番目に反射したビームのエ
ネルギーRnの損失が発生するのは第n番目の反射面が
存在するからである。したがって、この損失を低減する
ために、第n反射面を反射防止コート(以下「ARコー
ト」という)に置き換えること、又は反射面自体を無く
してしまうこと等を考えることもできる。この場合には
第n透過ビームTnの強度と第1透過ビームT1の強度
とがほぼ等しくなるようにr0、r、Yを設定した場合
に効率良く干渉ノイズを低減できることが解析よりわか
っている。しかし、この場合にも、干渉ノイズを一層低
減するためにはrを大きくし、反射回数の増大に伴って
折り返し方向の有効径を増大させなければならない問題
が生じてしまう。
ネルギーRnの損失が発生するのは第n番目の反射面が
存在するからである。したがって、この損失を低減する
ために、第n反射面を反射防止コート(以下「ARコー
ト」という)に置き換えること、又は反射面自体を無く
してしまうこと等を考えることもできる。この場合には
第n透過ビームTnの強度と第1透過ビームT1の強度
とがほぼ等しくなるようにr0、r、Yを設定した場合
に効率良く干渉ノイズを低減できることが解析よりわか
っている。しかし、この場合にも、干渉ノイズを一層低
減するためにはrを大きくし、反射回数の増大に伴って
折り返し方向の有効径を増大させなければならない問題
が生じてしまう。
【0021】本発明は、上記問題に鑑みて為されたもの
であり、レーザビームによるガウス強度ムラとオプティ
カルインテグレータによる干渉ノイズとを同時に低減で
きる小型で簡便な構成の照明装置を提供することを目的
とする。更に該照明装置を用いる投影露光装置及び露光
方法を提供することを副次的目的とする。
であり、レーザビームによるガウス強度ムラとオプティ
カルインテグレータによる干渉ノイズとを同時に低減で
きる小型で簡便な構成の照明装置を提供することを目的
とする。更に該照明装置を用いる投影露光装置及び露光
方法を提供することを副次的目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では、所定のパターンが形成されたマスクを
照明する照明装置において、ビーム光を供給する光源
と、反射部材と光分割部材とで構成され、前記光源から
のビーム光を複数のビーム群に変換するマルチビーム生
成光学系と、前記光源からの光を分割し、複数の光源像
を形成するオプティカルインテグレータ部とを有し、前
記マルチビーム生成光学系は、前記光分割部材が前記反
射部材に対して所定角度で対向して配設され、前記光源
からのビーム光を前記反射部材と前記光分割部材との間
で多重反射させることによって複数のビーム群を生成す
るように構成されていることを特徴とする照明装置を提
供する。
に、本発明では、所定のパターンが形成されたマスクを
照明する照明装置において、ビーム光を供給する光源
と、反射部材と光分割部材とで構成され、前記光源から
のビーム光を複数のビーム群に変換するマルチビーム生
成光学系と、前記光源からの光を分割し、複数の光源像
を形成するオプティカルインテグレータ部とを有し、前
記マルチビーム生成光学系は、前記光分割部材が前記反
射部材に対して所定角度で対向して配設され、前記光源
からのビーム光を前記反射部材と前記光分割部材との間
で多重反射させることによって複数のビーム群を生成す
るように構成されていることを特徴とする照明装置を提
供する。
【0023】また、本発明の好ましい態様では、前記多
重反射において、所定回数目の反射光が入射した方向へ
戻るように前記所定角度が設定されていることが望まし
い。
重反射において、所定回数目の反射光が入射した方向へ
戻るように前記所定角度が設定されていることが望まし
い。
【0024】また、本発明の好ましい態様では、前記複
数のビーム群のうち、隣接する2本のビームの光路長差
が、前記光源の時間コヒーレンスによって定まるコヒー
レンス長以上となるように前記マルチビーム生成光学系
が構成されていることが望ましい。
数のビーム群のうち、隣接する2本のビームの光路長差
が、前記光源の時間コヒーレンスによって定まるコヒー
レンス長以上となるように前記マルチビーム生成光学系
が構成されていることが望ましい。
【0025】また、本発明の好ましい態様では、前記オ
プティカルインテグレータ部を介した光を前記マスクへ
導くコンデンサ光学系とを備えることが望ましい。
プティカルインテグレータ部を介した光を前記マスクへ
導くコンデンサ光学系とを備えることが望ましい。
【0026】また、以下に記載の内容を請求項にできる
ことは言うまでもない。
ことは言うまでもない。
【0027】(請求項5) 前記オプティカルインテグ
レータ部の入射面において、各ビームの径が前記オプテ
ィカルインテグレータ部の要素レンズの径よりも大きく
なるように拡散させる拡散部をさらに有することを特徴
とする請求項1乃至4の何れか1項記載の照明装置。
レータ部の入射面において、各ビームの径が前記オプテ
ィカルインテグレータ部の要素レンズの径よりも大きく
なるように拡散させる拡散部をさらに有することを特徴
とする請求項1乃至4の何れか1項記載の照明装置。
【0028】(請求項6) 前記拡散部と前記オプティ
カルインテグレータ部との間にリレーレンズ系をさらに
有することを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項記
載の照明装置。
カルインテグレータ部との間にリレーレンズ系をさらに
有することを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項記
載の照明装置。
【0029】(請求項7) 前記マスクを保持する第1
ステージと、前記マスクを照明する請求項1乃至6の何
れか1項記載の照明装置と、被露光基板を保持する第2
ステージと、前記照明装置により照明された前記マスク
のパターンの像を前記被露光基板上に投影露光するため
の投影光学系とを備えることを特徴とする投影露光装
置。
ステージと、前記マスクを照明する請求項1乃至6の何
れか1項記載の照明装置と、被露光基板を保持する第2
ステージと、前記照明装置により照明された前記マスク
のパターンの像を前記被露光基板上に投影露光するため
の投影光学系とを備えることを特徴とする投影露光装
置。
【0030】(請求項8) 前記投影露光装置は、前記
マスクと前記被露光基板との少なくとも一方がが相対的
に移動する走査型投影露光装置であり、前記被露光基板
上における走査方向と前記複数のビーム群が配列してい
る方向とが略一致していることを特徴とする請求項7記
載の投影露光装置。
マスクと前記被露光基板との少なくとも一方がが相対的
に移動する走査型投影露光装置であり、前記被露光基板
上における走査方向と前記複数のビーム群が配列してい
る方向とが略一致していることを特徴とする請求項7記
載の投影露光装置。
【0031】(請求項9) 請求項1乃至6の何れか1
項記載の照明装置を用いた露光方法において、物体面上
に配置された前記マスクを照明する照明工程と、前記マ
スクのパターン像を最終像面に設定された感光性基板上
に投影する投影工程とを含むことを特徴とする露光方
法。
項記載の照明装置を用いた露光方法において、物体面上
に配置された前記マスクを照明する照明工程と、前記マ
スクのパターン像を最終像面に設定された感光性基板上
に投影する投影工程とを含むことを特徴とする露光方
法。
【0032】
【発明の実施の形態】図1に基づいて本発明の照明装置
のマルチビーム光学系の原理を説明する。x、y、z座
標の定義は図9と同様に、入射ビームの方向をz軸、繰
り返し反射する方向をy軸、紙面に垂直な方向をx軸と
それぞれする。図1は、全反射ミラー4と部分反射ミラ
ー5との相対的な角度を平行状態からαだけ傾けてい
る。ここでは部分反射ミラー5を式(1)で与えられる
角度θで設置し、全反射ミラー4の設置角をθからαだ
けずらす場合を考える。また、全反射ミラー4と部分反
射ミラー5との間隔d(部分反射ミラー5の法線方向に
対して測るものとする)は有効径以内の最も接近した位
置においても式(2)で与えられるd以上であるように
設定する。さらに、α、θの符号は図の矢印方向を正と
する。
のマルチビーム光学系の原理を説明する。x、y、z座
標の定義は図9と同様に、入射ビームの方向をz軸、繰
り返し反射する方向をy軸、紙面に垂直な方向をx軸と
それぞれする。図1は、全反射ミラー4と部分反射ミラ
ー5との相対的な角度を平行状態からαだけ傾けてい
る。ここでは部分反射ミラー5を式(1)で与えられる
角度θで設置し、全反射ミラー4の設置角をθからαだ
けずらす場合を考える。また、全反射ミラー4と部分反
射ミラー5との間隔d(部分反射ミラー5の法線方向に
対して測るものとする)は有効径以内の最も接近した位
置においても式(2)で与えられるd以上であるように
設定する。さらに、α、θの符号は図の矢印方向を正と
する。
【0033】まず、y方向の有効径を全反射ミラー4と
平行な方向に関して算出する。θが小さい場合には算出
した値とy方向の有効径は近似的に一致する。
平行な方向に関して算出する。θが小さい場合には算出
した値とy方向の有効径は近似的に一致する。
【0034】第1の透過ビームT1と第2の透過ビーム
T2との間隔l1は図1より (7) l1=d・sinθ+d・sin(θ-2α) である。以下、第2と第3との透過ビームの間隔l2か
ら第n−1と第n番目の透過ビーム間隔l(n−1)まで
を同様に求めると次式のようになる。 そして、第1の透過ビームから第nの透過ビームまでの
間隔Lnは、l1からl(n−1)までの加算であり、
以下のように求められる。 (9) Ln=l1+l2+・・・+l(n-1) =d・sinθ +2d[sin(θ-2α)+sin(θ-4α)+・・・ +sin[θ-2(n-2)α]]+d・sin[θ-2(n-1)α] 式(9)に、θ、αが小さい場合の近似式sinx=xを
適用して次式を得る。 (10) Ln=d・θ+2d[[θ-2α]+[θ-4α]+・・・ +[θ-2(n-2)α]]+d[θ-2(n-1)α] =d・θ+2d[(n-2)θ-2α[1+2+・・+(n-2)]] +d[θ-2(n-1)α] =2d(n-1)[θ-(n-1)α] 式(10)より第1透過ビームT1の射出点と第n透過
ビームTnの射出点との距離Lnはαが大きくなるほど
減少してゆき、 (11) α=θ/(n−1) を満足するαではLn=0となることがわかる。このこ
とは、第n透過ビームTnの射出位置が第1透過ビーム
T1の射出位置に重なることを意味する。この様子を示
したのが図2である。なお、図2は模式図であり光線の
角度等は強調して描いてある。ここで、αを調整するた
めには、スプリングなどの弾性部材EMで全反射ミラー
4を付勢しておき、反対側からピエゾ素子PZT又はマ
イクロメータを当接し、該PZTに適宜電圧を印可する
こと等で微調整を行うことができる。粗調整はミラー全
体を動かせば良い。
T2との間隔l1は図1より (7) l1=d・sinθ+d・sin(θ-2α) である。以下、第2と第3との透過ビームの間隔l2か
ら第n−1と第n番目の透過ビーム間隔l(n−1)まで
を同様に求めると次式のようになる。 そして、第1の透過ビームから第nの透過ビームまでの
間隔Lnは、l1からl(n−1)までの加算であり、
以下のように求められる。 (9) Ln=l1+l2+・・・+l(n-1) =d・sinθ +2d[sin(θ-2α)+sin(θ-4α)+・・・ +sin[θ-2(n-2)α]]+d・sin[θ-2(n-1)α] 式(9)に、θ、αが小さい場合の近似式sinx=xを
適用して次式を得る。 (10) Ln=d・θ+2d[[θ-2α]+[θ-4α]+・・・ +[θ-2(n-2)α]]+d[θ-2(n-1)α] =d・θ+2d[(n-2)θ-2α[1+2+・・+(n-2)]] +d[θ-2(n-1)α] =2d(n-1)[θ-(n-1)α] 式(10)より第1透過ビームT1の射出点と第n透過
ビームTnの射出点との距離Lnはαが大きくなるほど
減少してゆき、 (11) α=θ/(n−1) を満足するαではLn=0となることがわかる。このこ
とは、第n透過ビームTnの射出位置が第1透過ビーム
T1の射出位置に重なることを意味する。この様子を示
したのが図2である。なお、図2は模式図であり光線の
角度等は強調して描いてある。ここで、αを調整するた
めには、スプリングなどの弾性部材EMで全反射ミラー
4を付勢しておき、反対側からピエゾ素子PZT又はマ
イクロメータを当接し、該PZTに適宜電圧を印可する
こと等で微調整を行うことができる。粗調整はミラー全
体を動かせば良い。
【0035】ここで、さらにαを増大するとLn<0と
なるが、この場合は全反射ミラーの有効径を超えてしま
うので現実には存在しない場合に対応する。従って、第
n番目のビームを打ち切りビームとした場合、最もy方
向の有効径を小さくできる配置はαが式(11)の条件
を満足する場合であることがわかる。当該条件の下では
y方向の有効径がα=0の場合の1/4に低減できるこ
とを以下に示す。まず、式(11)の条件を満たすαの
場合にはビームの繰り返し反射の進行方向がy方向に関
して逆転する点が必ず存在する。この点はビーム番号n
が増大してもLnが変化しない点に対応する。したがっ
て、式(10)のLnをnで微分したものは0となる。
すなわち、 (12) dLn/dn=0 である(ただし、dは微分記号を示す)。実際にLnの
微分を計算すると、繰り返し反射の進行方向がy方向に
関して反転するビーム番号n0を次式(13)のように
得る。 (13) n0=θ/(2α)+1 また、有効径は式(10)のLnに上記n0と式(1
1)のαを代入することによって次式のように求められ
る。 (14) Ln0=(n−1)d・θ/2 なお、y方向の正確な有効径YはLn0・cosθによっ
て得られるが、θが小さい場合にはLn0として近似で
きる。
なるが、この場合は全反射ミラーの有効径を超えてしま
うので現実には存在しない場合に対応する。従って、第
n番目のビームを打ち切りビームとした場合、最もy方
向の有効径を小さくできる配置はαが式(11)の条件
を満足する場合であることがわかる。当該条件の下では
y方向の有効径がα=0の場合の1/4に低減できるこ
とを以下に示す。まず、式(11)の条件を満たすαの
場合にはビームの繰り返し反射の進行方向がy方向に関
して逆転する点が必ず存在する。この点はビーム番号n
が増大してもLnが変化しない点に対応する。したがっ
て、式(10)のLnをnで微分したものは0となる。
すなわち、 (12) dLn/dn=0 である(ただし、dは微分記号を示す)。実際にLnの
微分を計算すると、繰り返し反射の進行方向がy方向に
関して反転するビーム番号n0を次式(13)のように
得る。 (13) n0=θ/(2α)+1 また、有効径は式(10)のLnに上記n0と式(1
1)のαを代入することによって次式のように求められ
る。 (14) Ln0=(n−1)d・θ/2 なお、y方向の正確な有効径YはLn0・cosθによっ
て得られるが、θが小さい場合にはLn0として近似で
きる。
【0036】次に、従来技術(α=0)のマルチビーム
の有効径と、本実施形態にかかる装置のマルチビームの
有効径とをθが小さい場合について比較計算する。α=
0の場合の有効径は上記式(5)で既に与えられてい
る。これに式(2)をhに関して解いたものを代入し、
次式を得る。 式(14)と(15)との比をとると、 (16) Ln0/Y0=1/4 となる。式(16)から明らかなように、くさび角αを
最適化した場合の有効径は従来技術(α=0)の有効径
の1/4に低減するという結果が得られる。したがっ
て、本発明によってy方向の有効径を格段に低減するこ
とができることがわかる。
の有効径と、本実施形態にかかる装置のマルチビームの
有効径とをθが小さい場合について比較計算する。α=
0の場合の有効径は上記式(5)で既に与えられてい
る。これに式(2)をhに関して解いたものを代入し、
次式を得る。 式(14)と(15)との比をとると、 (16) Ln0/Y0=1/4 となる。式(16)から明らかなように、くさび角αを
最適化した場合の有効径は従来技術(α=0)の有効径
の1/4に低減するという結果が得られる。したがっ
て、本発明によってy方向の有効径を格段に低減するこ
とができることがわかる。
【0037】以下、添付図面に基づいて、本発明の実施
の形態にかかる照明装置及び当該照明装置を備える投影
露光装置について説明する。 (第1実施形態)図3は第1実施形態にかかる照明装置
を備える投影露光装置の概略構成を示す図である。本装
置はレチクルとウエハとを同期してスキャン転写するス
キャン(走査)型半導体製造用の投影露光装置である。
ここで、スキャン方向をy方向、当該スキャン方向と直
交する方向をx方向とする。また、図3では折り返しミ
ラーによって光軸が折り曲げられているが、座標系を考
える際には展開図で考えるものとする。
の形態にかかる照明装置及び当該照明装置を備える投影
露光装置について説明する。 (第1実施形態)図3は第1実施形態にかかる照明装置
を備える投影露光装置の概略構成を示す図である。本装
置はレチクルとウエハとを同期してスキャン転写するス
キャン(走査)型半導体製造用の投影露光装置である。
ここで、スキャン方向をy方向、当該スキャン方向と直
交する方向をx方向とする。また、図3では折り返しミ
ラーによって光軸が折り曲げられているが、座標系を考
える際には展開図で考えるものとする。
【0038】エキシマレーザ1からのビームは、反射ミ
ラー2により光路を折り曲げられ、前段ビーム整形系3
によって整形される。そして、全反射ミラー4と部分反
射ミラー5とからなるマルチビーム光学系MBにより、
入射ビームをy方向に多重反射を繰り返し約100本の
ビーム群に変換する。なお、図では簡単のため5本のビ
ームのみを記載し残りは省略する。マルチビーム光学系
MBから射出したビーム群は、縮小光学系6を透過する
ことでy方向の有効径を縮小された後、偏光解消プリズ
ム7を介して拡散板8を照明する。拡散板8からの発散
光は第1フライアイレンズ9を透過した後、リレー光学
系10中に設けられている振動ミラー11により光路を
折り曲げられ、第2フライアイレンズ12を照射する。
ここで、第1フライアイレンズ9は、入射光束を波面分
割し、該波面分割された光束に基づいて複数の光源像を
形成し、第2フライアイレンズ12は第1フライアイレ
ンズ9による前記複数の光源像からの光に基づいて実質
的な面光源を形成する、いわゆるダブルフライアイレン
ズシステムを構成している。そして、コンデンサレンズ
13、反射ミラー14を介してレチクルRを照明する。
この照明光によってレチクルRに形成されてるパターン
が投影レンズTLを介してウエハW上に転写される。転
写に際しては、レチクルRとウエハWとをy方向に同期
してスキャンする。この際振動ミラー11の角度を、不
図示の機構によりレーザパルスに同期して変化させるこ
とにより第2フライアイレンズ12への入射光束の角度
を変化させ、干渉ノイズの平均化を行う。
ラー2により光路を折り曲げられ、前段ビーム整形系3
によって整形される。そして、全反射ミラー4と部分反
射ミラー5とからなるマルチビーム光学系MBにより、
入射ビームをy方向に多重反射を繰り返し約100本の
ビーム群に変換する。なお、図では簡単のため5本のビ
ームのみを記載し残りは省略する。マルチビーム光学系
MBから射出したビーム群は、縮小光学系6を透過する
ことでy方向の有効径を縮小された後、偏光解消プリズ
ム7を介して拡散板8を照明する。拡散板8からの発散
光は第1フライアイレンズ9を透過した後、リレー光学
系10中に設けられている振動ミラー11により光路を
折り曲げられ、第2フライアイレンズ12を照射する。
ここで、第1フライアイレンズ9は、入射光束を波面分
割し、該波面分割された光束に基づいて複数の光源像を
形成し、第2フライアイレンズ12は第1フライアイレ
ンズ9による前記複数の光源像からの光に基づいて実質
的な面光源を形成する、いわゆるダブルフライアイレン
ズシステムを構成している。そして、コンデンサレンズ
13、反射ミラー14を介してレチクルRを照明する。
この照明光によってレチクルRに形成されてるパターン
が投影レンズTLを介してウエハW上に転写される。転
写に際しては、レチクルRとウエハWとをy方向に同期
してスキャンする。この際振動ミラー11の角度を、不
図示の機構によりレーザパルスに同期して変化させるこ
とにより第2フライアイレンズ12への入射光束の角度
を変化させ、干渉ノイズの平均化を行う。
【0039】本実施形態の照明装置において、第1フラ
イアイレンズ9は有効径5mm×5mmの正方形要素レ
ンズをx、y方向に10×4個配置して構成され、全体
の有効径は50mm×20mmである。また、第2フラ
イアイレンズはx、y方向の有効径が10mm×4mm
の長方形要素レンズを8×20個配置して構成され、全
体の有効径は80mm×80mmである。また、リレー
光学系10は第1フライアイレンズ9の全体寸法50m
m×20mmが第2フライアイレンズ12の要素レンズ
の射出面近傍に結像するように構成されている。第1及
び第2フライアイレンズの各要素レンズは、所望の入射
角に対応した両側凸レンズからなっている。
イアイレンズ9は有効径5mm×5mmの正方形要素レ
ンズをx、y方向に10×4個配置して構成され、全体
の有効径は50mm×20mmである。また、第2フラ
イアイレンズはx、y方向の有効径が10mm×4mm
の長方形要素レンズを8×20個配置して構成され、全
体の有効径は80mm×80mmである。また、リレー
光学系10は第1フライアイレンズ9の全体寸法50m
m×20mmが第2フライアイレンズ12の要素レンズ
の射出面近傍に結像するように構成されている。第1及
び第2フライアイレンズの各要素レンズは、所望の入射
角に対応した両側凸レンズからなっている。
【0040】図4はマルチビーム光学系MBから第2フ
ライアイレンズ12に至るまでの構成をさらに詳細に示
した図である。エキシマレーザ1からのビームが前段ビ
ーム整形系3によってx、y方向の幅が45mm×3m
mの大きさに整形された後、マルチビーム光学系MBに
入射する。マルチビーム光学系MBの繰り返し反射方向
はy方向(スキャン方向)に一致している。なお、図4
では振動ミラー11は簡単のため省略する。
ライアイレンズ12に至るまでの構成をさらに詳細に示
した図である。エキシマレーザ1からのビームが前段ビ
ーム整形系3によってx、y方向の幅が45mm×3m
mの大きさに整形された後、マルチビーム光学系MBに
入射する。マルチビーム光学系MBの繰り返し反射方向
はy方向(スキャン方向)に一致している。なお、図4
では振動ミラー11は簡単のため省略する。
【0041】マルチビーム光学系MBのx、y方向の有
効径は55mm×110mmであり、反射率r0が80
%以上の全反射ミラー4と反射率rが80%以上の部分
反射ミラー5とを対面して構成されている。ここで、ミ
ラーにおける吸収が無ければ理想的にはr0=100
%、r=99%程度が好ましい。しかし、現実の吸収を
考慮しすると、r0が95%以上、rが90%以上であ
ることが望ましい。本実施形態では、さらに好ましい値
として、r0=99%、r=96%としている。また、
許容する第n番目のビームのエネルギー損失Rnは1%
とする。エキシマレーザの時間的可干渉距離Lcは約1
50mmであるので、L=150mmに設定する。ま
た、入射ビームのy方向の幅が3mmであるのでh=3
mmとする。
効径は55mm×110mmであり、反射率r0が80
%以上の全反射ミラー4と反射率rが80%以上の部分
反射ミラー5とを対面して構成されている。ここで、ミ
ラーにおける吸収が無ければ理想的にはr0=100
%、r=99%程度が好ましい。しかし、現実の吸収を
考慮しすると、r0が95%以上、rが90%以上であ
ることが望ましい。本実施形態では、さらに好ましい値
として、r0=99%、r=96%としている。また、
許容する第n番目のビームのエネルギー損失Rnは1%
とする。エキシマレーザの時間的可干渉距離Lcは約1
50mmであるので、L=150mmに設定する。ま
た、入射ビームのy方向の幅が3mmであるのでh=3
mmとする。
【0042】以上のL,hを式(1),(2)に代入す
るとθ=1.146°,d=75.015mmとなる。
また、r0,r,Rnを式(4)に代入すると、打ち切
りビーム番号n=91を得る。さらに好ましくは、発散
角によりビーム径が増大すること、全反射ミラーと部分
反射ミラーとの設置角度が公差を有すること、さらに
は、くさび角に起因してビームが傾いてビーム蹴られが
発生すること等を防止するために、打ち切りビーム番号
に対して余裕を持たせることが望ましい。本実施形態で
は計算値n=91より大きいn=110を打ち切りビー
ム番号とする。このように余裕(マージン)を持たせる
ことによって実質的に透過するビーム数が91以上確保
することができる。
るとθ=1.146°,d=75.015mmとなる。
また、r0,r,Rnを式(4)に代入すると、打ち切
りビーム番号n=91を得る。さらに好ましくは、発散
角によりビーム径が増大すること、全反射ミラーと部分
反射ミラーとの設置角度が公差を有すること、さらに
は、くさび角に起因してビームが傾いてビーム蹴られが
発生すること等を防止するために、打ち切りビーム番号
に対して余裕を持たせることが望ましい。本実施形態で
は計算値n=91より大きいn=110を打ち切りビー
ム番号とする。このように余裕(マージン)を持たせる
ことによって実質的に透過するビーム数が91以上確保
することができる。
【0043】そして、θとn=110を式(11)に代
入し、小数点以下4桁目を切り捨ててα=0.010°
を得る。この結果より部分反射ミラー5の設置角はy軸
に対しθ1=1.146°、全反射ミラー4の設置角は
θ2=1.156°となる。
入し、小数点以下4桁目を切り捨ててα=0.010°
を得る。この結果より部分反射ミラー5の設置角はy軸
に対しθ1=1.146°、全反射ミラー4の設置角は
θ2=1.156°となる。
【0044】さらに、θとαを式(14)に代入し、小
数点以下を切り捨てて折り返しビーム番号n0=58を
得る。次に、d、n0、θ、αを式(10)に代入する
ことによってy方向の有効径Ln0として86mmを得
る。なお、上述したようにn0番目のビーム径が発散角
によって増大する効果とマルチビーム光学系の調整時の
効率とを考えて、実際のy方向の有効径は前記86mm
よりも余裕を持たせて110mmとした。上記従来技術
ではy方向の有効径はビームの発散角も含めると300
mm以上必要となっているが、本実施形態ではビーム発
散の効果も含めて110mmまで低減することができ
る。
数点以下を切り捨てて折り返しビーム番号n0=58を
得る。次に、d、n0、θ、αを式(10)に代入する
ことによってy方向の有効径Ln0として86mmを得
る。なお、上述したようにn0番目のビーム径が発散角
によって増大する効果とマルチビーム光学系の調整時の
効率とを考えて、実際のy方向の有効径は前記86mm
よりも余裕を持たせて110mmとした。上記従来技術
ではy方向の有効径はビームの発散角も含めると300
mm以上必要となっているが、本実施形態ではビーム発
散の効果も含めて110mmまで低減することができ
る。
【0045】マルチビーム光学系MBから射出したビー
ム群はビーム束縮小系6に入射し、有効径が55mm×
20mmのビーム群に変換される。ビーム束縮小系6は
y方向に関して1/5.5倍に縮小するシリンドリカル
レンズ系で構成されている。縮小されたビーム群は、偏
光解消プリズム7を透過後、拡散板8を照明する。拡散
板8は合成石英により形成され、裏面にはレーザ波長に
対してARコートが施してあり、その発散角は1/e2,全
幅で10°である。
ム群はビーム束縮小系6に入射し、有効径が55mm×
20mmのビーム群に変換される。ビーム束縮小系6は
y方向に関して1/5.5倍に縮小するシリンドリカル
レンズ系で構成されている。縮小されたビーム群は、偏
光解消プリズム7を透過後、拡散板8を照明する。拡散
板8は合成石英により形成され、裏面にはレーザ波長に
対してARコートが施してあり、その発散角は1/e2,全
幅で10°である。
【0046】そして、拡散板8から射出した光束は第1
フライアイレンズ9を照明する。拡散板8と第1フライ
アイレンズ9との間隔は50mmである。拡散板8の一
点から出た光束は、発散角1/e2,直径8.7mmの円
盤状に広がって第1フライアイレンズ9の入射面に入射
する。拡散板8上でのy方向のビーム間隔は約0.55
mmであるので、第1フライアイレンズ9上の一点にお
いて約15ビーム分のオーバラップが生じることとな
る。このオーバラップによって各ビームが離散的に存在
することによる強度の不連続性が平均化される。また、
各ビームは第1フライアイレンズ9の要素レンズの有効
径以上に拡大されているので、ビーム固有のガウス分布
も平均化される。照明光は、その強度不均一性を第2フ
ライアイレンズ12によりさらに低減された後、最終的
にレチクル面を照明する。なお、第1フライアイレンズ
9の要素レンズの第2面(レチクル側の面)のパワー
は、拡散板8の発散角に対して平行光を発生するように
設定されている。
フライアイレンズ9を照明する。拡散板8と第1フライ
アイレンズ9との間隔は50mmである。拡散板8の一
点から出た光束は、発散角1/e2,直径8.7mmの円
盤状に広がって第1フライアイレンズ9の入射面に入射
する。拡散板8上でのy方向のビーム間隔は約0.55
mmであるので、第1フライアイレンズ9上の一点にお
いて約15ビーム分のオーバラップが生じることとな
る。このオーバラップによって各ビームが離散的に存在
することによる強度の不連続性が平均化される。また、
各ビームは第1フライアイレンズ9の要素レンズの有効
径以上に拡大されているので、ビーム固有のガウス分布
も平均化される。照明光は、その強度不均一性を第2フ
ライアイレンズ12によりさらに低減された後、最終的
にレチクル面を照明する。なお、第1フライアイレンズ
9の要素レンズの第2面(レチクル側の面)のパワー
は、拡散板8の発散角に対して平行光を発生するように
設定されている。
【0047】ここで、マルチビーム光学系MBの部分反
射ミラー5の反射率が単一であるために、射出ビームの
ビーム番号が1,2,3・・のように大きいものほど相
対的な強度は低くなる。このため、第1フライアイレン
ズ9上のビームにはy方向の強度傾斜が発生する。しか
し、上述のようにy方向とスキャン方向とを一致させて
いるので、ダブルフライアイレンズシステムの効果と相
俟って、スキャン後のトータル露光量のy方向の傾斜は
著しく低減することができる。
射ミラー5の反射率が単一であるために、射出ビームの
ビーム番号が1,2,3・・のように大きいものほど相
対的な強度は低くなる。このため、第1フライアイレン
ズ9上のビームにはy方向の強度傾斜が発生する。しか
し、上述のようにy方向とスキャン方向とを一致させて
いるので、ダブルフライアイレンズシステムの効果と相
俟って、スキャン後のトータル露光量のy方向の傾斜は
著しく低減することができる。
【0048】本実施形態の投影光学系を用いて、レーザ
パルスに同期して振動ミラー角度を変化させ、数10パ
ルスの照射によりスキャン露光した結果、露光不均一度
が1%以下の良好なパターン転写を行なうことができ
る。マルチビーム光学系MBを使用しない場合と比較す
ると、所望の照明均一度を得るための露光パルス数を1
/40程度に低減することができる。このため、スルー
プットを著しく向上させることができる。
パルスに同期して振動ミラー角度を変化させ、数10パ
ルスの照射によりスキャン露光した結果、露光不均一度
が1%以下の良好なパターン転写を行なうことができ
る。マルチビーム光学系MBを使用しない場合と比較す
ると、所望の照明均一度を得るための露光パルス数を1
/40程度に低減することができる。このため、スルー
プットを著しく向上させることができる。
【0049】(第2実施形態)図5は第2実施形態にか
かる照明装置を備える投影光学系の概略構成を示す図で
ある。基本的な構成は上記第1実施形態と同じであるの
で、重複する部分は省略し、マルチビーム光学系MBか
ら第2フライアイレンズ9までを示す。上記第1実施形
態の投影露光装置はスキャン型露光装置に好適なもので
あるが、本実施形態の投影露光装置はスキャン型とステ
ップ・アンド・リピート型との両方に好適なものであ
る。このため、後述するようにマルチビーム光学系MB
における多重反射方向とスキャン方向を一致させること
は必ずしも必要ない。
かる照明装置を備える投影光学系の概略構成を示す図で
ある。基本的な構成は上記第1実施形態と同じであるの
で、重複する部分は省略し、マルチビーム光学系MBか
ら第2フライアイレンズ9までを示す。上記第1実施形
態の投影露光装置はスキャン型露光装置に好適なもので
あるが、本実施形態の投影露光装置はスキャン型とステ
ップ・アンド・リピート型との両方に好適なものであ
る。このため、後述するようにマルチビーム光学系MB
における多重反射方向とスキャン方向を一致させること
は必ずしも必要ない。
【0050】上記第1実施形態で用いたマルチビーム光
学系MBを使用してエキシマレーザ1からの単一のビー
ムは、ビーム間隔3mmの干渉しない約100本のビー
ム群に変換される。また、ビーム群全体の有効径は余裕
を見込んで55mm×110mmである。さらに、第
1、第2フライアイレンズの有効径と要素レンズ数も上
記第1実施形態と同様とする。
学系MBを使用してエキシマレーザ1からの単一のビー
ムは、ビーム間隔3mmの干渉しない約100本のビー
ム群に変換される。また、ビーム群全体の有効径は余裕
を見込んで55mm×110mmである。さらに、第
1、第2フライアイレンズの有効径と要素レンズ数も上
記第1実施形態と同様とする。
【0051】上記第1実施形態との相違点は、拡散板8
と第1フライアイレンズ9との間にリレー光学系RLを
配置し、該リレー光学系により拡散板8を第1フライア
イレンズ9の射出面に結像させる構成になっている点で
ある。
と第1フライアイレンズ9との間にリレー光学系RLを
配置し、該リレー光学系により拡散板8を第1フライア
イレンズ9の射出面に結像させる構成になっている点で
ある。
【0052】本実施形態ではマルチビーム光学系MBを
射出したビーム群はビーム束縮小系6に入射し、有効径
が10mm×20mmのビーム群に変換される。ビーム
束縮小系6はx,y方向ともに1/5.5倍に縮小する回
転対称レンズ系である。縮小されたビーム群は、偏光解
消プリズム7を介して拡散板8上において10mm×2
0mmの領域を照明する。拡散板8は合成石英により形
成されており、裏面はレーザ波長に対してARコートが施
してあり、発散角は1/e2,全幅で10°である。
射出したビーム群はビーム束縮小系6に入射し、有効径
が10mm×20mmのビーム群に変換される。ビーム
束縮小系6はx,y方向ともに1/5.5倍に縮小する回
転対称レンズ系である。縮小されたビーム群は、偏光解
消プリズム7を介して拡散板8上において10mm×2
0mmの領域を照明する。拡散板8は合成石英により形
成されており、裏面はレーザ波長に対してARコートが施
してあり、発散角は1/e2,全幅で10°である。
【0053】拡散板8から射出した光束はリレーレンズ
系RLを介して第1フライアイレンズ9を照明する。リ
レーレンズ系RLと第1フライアイレンズ9の要素レン
ズとの合成系は結像系となっており、拡散板8を第1フ
ライアイレンズの各要素レンズの射出面に結像する。合
成系の縮小率はx、y方向とも1/5であるので、第1
フライアイレンズの各要素レンズ射出面での拡散板の像
はx,y方向について2mm×4mmの大きさとなる。
第1フライアイレンズ9の要素レンズの第2面(レチク
ル側)のパワーは要素レンズから射出する主光線が平行
光となるように設定されている。
系RLを介して第1フライアイレンズ9を照明する。リ
レーレンズ系RLと第1フライアイレンズ9の要素レン
ズとの合成系は結像系となっており、拡散板8を第1フ
ライアイレンズの各要素レンズの射出面に結像する。合
成系の縮小率はx、y方向とも1/5であるので、第1
フライアイレンズの各要素レンズ射出面での拡散板の像
はx,y方向について2mm×4mmの大きさとなる。
第1フライアイレンズ9の要素レンズの第2面(レチク
ル側)のパワーは要素レンズから射出する主光線が平行
光となるように設定されている。
【0054】かかる構成では第1フライアイレンズ9の
入射面で生ずる強度ムラは拡散板8の発散特性による光
軸対称なガウス型となるので、第1及び第2フライアイ
レンズにより十分に平均化することができる。このた
め、第1実施形態のような第1フライアイレンズ9入射
面でのy方向の強度傾斜は発生しない。したがって、本
実施形態ではマルチビーム光学系における多重反射方向
とスキャン方向とを一致させることは必ずしも必要では
ない。
入射面で生ずる強度ムラは拡散板8の発散特性による光
軸対称なガウス型となるので、第1及び第2フライアイ
レンズにより十分に平均化することができる。このた
め、第1実施形態のような第1フライアイレンズ9入射
面でのy方向の強度傾斜は発生しない。したがって、本
実施形態ではマルチビーム光学系における多重反射方向
とスキャン方向とを一致させることは必ずしも必要では
ない。
【0055】本実施形態の照明装置を使用して、レーザ
パルスに同期して振動ミラー角度を不図示の機構により
変化させ、数10パルスの照射によってスキャン露光し
た結果、露光不均一度が1%以下の良好なパターン転写
を行なうことができる。また、スキャンを行わなずに振
動ミラーを使用した場合についても同様の照明均一度を
得ることができる。マルチビーム光学系MBを使用しな
い場合と比較して、所望の照明均一度を得るための露光
パルス数を1/40程度に低減することができる。
パルスに同期して振動ミラー角度を不図示の機構により
変化させ、数10パルスの照射によってスキャン露光し
た結果、露光不均一度が1%以下の良好なパターン転写
を行なうことができる。また、スキャンを行わなずに振
動ミラーを使用した場合についても同様の照明均一度を
得ることができる。マルチビーム光学系MBを使用しな
い場合と比較して、所望の照明均一度を得るための露光
パルス数を1/40程度に低減することができる。
【0056】本実施形態では拡散板8の照明領域として
10mm×20mmの長方形領域の場合について示した
が、マルチビーム光学系MB射出時のビーム束有効径が
x、y方向で等しくなるように前段ビーム整形系とマル
チビーム光学系とを設計することも可能である。この場
合には拡散板8上の照明領域を正方形とすることができ
る。したがって、第1フライアイレンズ9の要素レンズ
の射出面の拡散板像の領域を等方的にすることができ
る。
10mm×20mmの長方形領域の場合について示した
が、マルチビーム光学系MB射出時のビーム束有効径が
x、y方向で等しくなるように前段ビーム整形系とマル
チビーム光学系とを設計することも可能である。この場
合には拡散板8上の照明領域を正方形とすることができ
る。したがって、第1フライアイレンズ9の要素レンズ
の射出面の拡散板像の領域を等方的にすることができ
る。
【0057】また、拡散板の代わりに回折光学素子(Di
ffracting optical element,以下「DOE」という)を
使用しても良い。特に、第2実施形態では、第1フライ
アイレンズの有効径のx:y比(5:2)と等しいxy
発散角特性を有するDOEを使用すれば、第1フライア
イレンズの有効径内へ光エネルギーを集中させることが
でき、さらに照明効率を向上することがきる。
ffracting optical element,以下「DOE」という)を
使用しても良い。特に、第2実施形態では、第1フライ
アイレンズの有効径のx:y比(5:2)と等しいxy
発散角特性を有するDOEを使用すれば、第1フライア
イレンズの有効径内へ光エネルギーを集中させることが
でき、さらに照明効率を向上することがきる。
【0058】また、DOEは任意の強度分布を形成でき
るので、その角度特性を適宜選択することにより、近年
注目を集めている輪帯照明、4極照明などの変形照明も
容易に行うことができる。
るので、その角度特性を適宜選択することにより、近年
注目を集めている輪帯照明、4極照明などの変形照明も
容易に行うことができる。
【0059】また、上記各実施形態では拡散板の後段に
フライアイレンズを2段配置するダブルフライアイレン
ズシステムについて説明したが、本発明は例えば第1フ
ライアイレンズを取り外したシングルフライアイレンズ
システムについても適用できる。
フライアイレンズを2段配置するダブルフライアイレン
ズシステムについて説明したが、本発明は例えば第1フ
ライアイレンズを取り外したシングルフライアイレンズ
システムについても適用できる。
【0060】さらに、本発明はフライアイレンズシステ
ムに限られること無く、オプティカルインテグレータで
あれば良いことは言うまでもない。
ムに限られること無く、オプティカルインテグレータで
あれば良いことは言うまでもない。
【0061】上記各実施形態ではエキシマレーザの時間
的可干渉距離が150mmであるが、レーザ光源の時間
的可干渉距離が150mmより長い場合でも、それに対
応してマルチビーム光学系を構成するミラー間隔を大き
くすれば良い。
的可干渉距離が150mmであるが、レーザ光源の時間
的可干渉距離が150mmより長い場合でも、それに対
応してマルチビーム光学系を構成するミラー間隔を大き
くすれば良い。
【0062】また、上記各実施形態の照明装置を用いる
ことで、物体面上に配置された前記マスクを照明する照
明工程と、前記マスクのパターン像を最終像面に設定さ
れた感光性基板上に投影する投影工程とを含む露光方法
を提供できる。
ことで、物体面上に配置された前記マスクを照明する照
明工程と、前記マスクのパターン像を最終像面に設定さ
れた感光性基板上に投影する投影工程とを含む露光方法
を提供できる。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
1次元マルチビーム光学系の全反射ミラーと部分反射ミ
ラーとの相対角度を平行からずらして、ビーム間隔が繰
り返し反射にともなって低減してゆく構成により、y方
向の有効径を小型化できる。また、1次元マルチビーム
光学系の後段に拡散板等を配置することにより各ビーム
径をフライアイレンズの要素レンズ以上に拡大して入射
させるため、フライアイレンズによる干渉ノイズとビー
ムのガウス強度ムラとを同時に補正することができる。
また、マルチビーム光学系とフライアイレンズの相対的
なアライメントが容易となる。
1次元マルチビーム光学系の全反射ミラーと部分反射ミ
ラーとの相対角度を平行からずらして、ビーム間隔が繰
り返し反射にともなって低減してゆく構成により、y方
向の有効径を小型化できる。また、1次元マルチビーム
光学系の後段に拡散板等を配置することにより各ビーム
径をフライアイレンズの要素レンズ以上に拡大して入射
させるため、フライアイレンズによる干渉ノイズとビー
ムのガウス強度ムラとを同時に補正することができる。
また、マルチビーム光学系とフライアイレンズの相対的
なアライメントが容易となる。
【0064】このように、コンパクトで簡単な構造のマ
ルチビーム光学系と光拡散手段によって、レチクル上に
生じていたエキシマレーザビームによるガウス強度ムラ
とフライアイレンズによる干渉ノイズとを同時に低減す
ることができる。また、スループットを低減することな
くレチクル上の照度均一性を向上することができ、パタ
ーン転写精度が格段に向上する。
ルチビーム光学系と光拡散手段によって、レチクル上に
生じていたエキシマレーザビームによるガウス強度ムラ
とフライアイレンズによる干渉ノイズとを同時に低減す
ることができる。また、スループットを低減することな
くレチクル上の照度均一性を向上することができ、パタ
ーン転写精度が格段に向上する。
【図1】本発明の原理を説明する図である。
【図2】本発明の原理を説明する他の図である。
【図3】本発明の第1実施形態にかかる照明装置等の概
略構成を示す図である。
略構成を示す図である。
【図4】第1実施形態にかかる照明装置のマルチビーム
光学系の詳細を示す図である。
光学系の詳細を示す図である。
【図5】第2実施形態にかかる照明装置のマルチビーム
光学系の詳細を示す図である。
光学系の詳細を示す図である。
【図6】第1の従来技術例を示す図である。
【図7】第2の従来技術例を示す図である。
【図8】第3の従来技術例を示す図である。
【図9】第2の従来技術の原理を説明する図である。
1 エキシマレーザ 2 反射ミラー 3 整形光学系 4 全反射ミラー 5 部分反射ミラー 6 縮小光学系 7 偏光解消プリズム 8 拡散板 9 第1フライアイレンズ 10 レンズ 11 振動ミラー 12 第2フライアイレンズ 13 コンデンサレンズ 14 反射ミラー R レチクル TL 投影レンズ W ウエハ MB マルチビーム光学系 RL リレーレンズ系 EM 弾性部材 PZT ピエゾ素子
Claims (4)
- 【請求項1】 所定のパターンが形成されたマスクを照
明する照明装置において、 ビーム光を供給する光源と、 反射部材と光分割部材とで構成され、前記光源からのビ
ーム光を複数のビーム群に変換するマルチビーム生成光
学系と、 前記光源からの光を分割し、複数の光源像を形成するオ
プティカルインテグレータ部とを有し、 前記マルチビーム生成光学系は、前記光分割部材が前記
反射部材に対して所定角度で対向して配設され、前記光
源からのビーム光を前記反射部材と前記光分割部材との
間で多重反射させることによって複数のビーム群を生成
するように構成されていることを特徴とする照明装置。 - 【請求項2】 前記多重反射において、所定回数目の反
射光が入射した方向へ戻るように前記所定角度が設定さ
れていることを特徴とする請求項2記載の照明装置。 - 【請求項3】 前記複数のビーム群のうち、隣接する2
本のビームの光路長差が、前記光源の時間コヒーレンス
によって定まるコヒーレンス長以上となるように前記マ
ルチビーム生成光学系が構成されていることを特徴とす
る請求項1又は2記載の照明装置。 - 【請求項4】 前記オプティカルインテグレータ部を介
した光を前記マスクへ導くコンデンサ光学系をさらに備
えることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記
載の照明装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11083093A JP2000277421A (ja) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 照明装置 |
| US09/534,750 US6587182B1 (en) | 1999-03-26 | 2000-03-24 | Illumination apparatus |
| US10/464,554 US20030218734A1 (en) | 1999-03-26 | 2003-06-19 | Illumination apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11083093A JP2000277421A (ja) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 照明装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000277421A true JP2000277421A (ja) | 2000-10-06 |
Family
ID=13792577
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11083093A Withdrawn JP2000277421A (ja) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 照明装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6587182B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000277421A (ja) |
Cited By (6)
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| JP2004349686A (ja) * | 2003-04-17 | 2004-12-09 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 |
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| WO2012070651A1 (ja) * | 2010-11-26 | 2012-05-31 | 大日本印刷株式会社 | 露光装置 |
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| KR101493536B1 (ko) | 2007-03-13 | 2015-02-13 | 가부시키가이샤 니콘 | 광학 적분기 시스템, 조명 광학 장치, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법 |
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| JP4599936B2 (ja) * | 2004-08-17 | 2010-12-15 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、および露光方法 |
| WO2006058754A2 (en) * | 2004-12-01 | 2006-06-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Beam delivery system and projection exposure system |
| US20070127005A1 (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | Asml Holding N.V. | Illumination system |
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| JP5035747B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2012-09-26 | 株式会社ニコン | オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法 |
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| DE102015115064A1 (de) * | 2015-09-08 | 2017-03-09 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Beleuchtungseinheit und Vorrichtung zur lithografischen Belichtung |
Family Cites Families (9)
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| JP2677731B2 (ja) * | 1991-12-17 | 1997-11-17 | 三菱電機株式会社 | 投影露光装置 |
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