JP2000283884A - 光パルス試験器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 正確な測定結果を得ることができ、安価な光
パルス試験器を提供する。 【解決手段】 光パルス４を出射するレーザダイオード
３と、受光した光を電気信号に変換するアバランジェ・
フォトダイオード８とを備え、レーザダイオード３から
出射された光パルスを被測定光ファイバ１１に送出し、
光パルスを受けた被測定光ファイバ１１から発せられる
測定用光信号を、アバランジェ・フォトダイオード８に
より受光することによって被測定光ファイバ１１の評価
試験を行う光パルス試験器２０において、レーザダイオ
ード３から被測定光ファイバ１１に向かう光パルスと、
前記測定用光信号とをいずれも通過させる光カプラ５
と、光カプラ５とアバランジェ・フォトダイオード８と
の間に設けられ、測定用光信号を通過させる通過状態
と、測定用光信号の通過を阻止する阻止状態とを切り替
えられる光波長可変フィルタ７とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光パルスを被測
定系に送出することによって評価試験を行う、光パルス
試験器に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、敷設された光ファイバ通信網
の品質評価、回線の切断事故等の調査及び監視に光パル
ス試験器（別名を光時間領域反射測定器、又はＯＴＤＲ
と言う）が用いられている。この光パルス試験器は、以
前、同軸ケーブルや平衡対ケーブルの点検のために行わ
れていたパルス法による障害点探索（ＴＤＲと言う）を
光ファイバケーブルの測定に応用したものである。具体
的には、上記光パルス試験器は、光ファイバの入射端に
注入した光パルス信号の一部が、後方散乱光や接続点等
の不連続部分による反射光として、入射端に戻る現象を
利用している。

【０００３】光パルス試験器では、入射端に戻った光信
号の強度を一定時間毎に取得し、分析することで以下の
情報を取得できる。まず、後方散乱光の時間的減衰度よ
りファイバの区間ごと及び全体の損失を評価できる。こ
の後方散乱光は光ファイバの品質が一定で連続している
場合、時間の経過に対し等比級数的に減衰する。光ファ
イバの品質が一定でなかったり接続点や破断点などの欠
陥があると、入射端に戻る光信号の強度は、時間の経過
に対する等比級数的減衰からは逸脱した不連続なデータ
となる。この不連続なデータの光信号を取得した時間に
基づいて、ファイバ中の欠陥までの距離を算出できる。
さらに、不連続なデータについての反射光強度、及び不
連続データ部分前後の後方散乱光の信号強度の差より、
欠陥箇所における反射減衰量や損失を算出できる。この
ように、光パルス試験器では、ファイバーの入射端に戻
る光信号の不連続なデータを分析することで、ファイバ
ー中の接続点の品質評価や破断点の有無を判断できるの
である。

【０００４】光パルス試験器による測定を電話局又は中
継局等（以下、電話局とする。）から行った場合、試験
器から出射した光パルスは、電話局内から光ファイバに
至るまでに種々の光学部品を通過する。これらの光学部
品は光ファイバの後方散乱光強度に比べ2桁ほど強い反
射光を発生させる。そのため光パルス試験器は電話局内
の光学部品からの強烈な反射光を受光してしまい、その
過渡応答が収束するまでの一定時間、測定誤差が生じ、
被測定光ファイバの状態を正確に把握できない。この強
烈な反射光の後の測定誤差が生じる区間をアッテネーシ
ョンデッドゾーンという。

【０００５】ところで、従来の光パルス試験器は光スイ
ッチを備え、該スイッチの機能を切り替えて、光パルス
を送出したり反射光を受光していた。このように、光ス
イッチを用いると測定系の光回路の損失を小さくできる
という利点がある。同時に光スイッチの切り替え時間
を、前記の電話局内の光学部品からの強烈な反射光の到
達時間より遅くすることでこの反射光を光パルス試験器
の受光部に受光させないようにすることができる。反射
光を阻止することで上記アッテネーションデッドゾーン
の生じる範囲を狭くすることができる。このように反射
光を阻止することを光マスクという。

【０００６】このような光マスクに使用する光スイッチ
は低損失で高速動作する必要がある。そのため音響光学
素子を用いた光スイッチ（以下、ＡＯスイッチとす
る。）が使用される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＡＯス
イッチは高価であるため光パルス試験器が高価になると
いう欠点がある。最近では、低価格の光パルス試験器を
提供するためＡＯスイッチに代え、光カプラを用いたも
のが作られるようになった。しかし、光パルス試験器に
用いられる光カプラは、スイッチ機能を有さず光経路と
しての役目を担うだけなので光マスク機能を有さない。
そのため、光マスク機能を持った光パルス試験器に比べ
アッテネーションデッドゾーンの範囲が広くなり、測定
誤差が大きくなってしまうという問題がある。

【０００８】本発明は、上記実状に鑑みてなされたもの
で、正確な測定結果を得ることができ、しかも、安価な
光パルス試験器を提供することを目的としている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の請求項１に記載の発明は、光パルスを出射
する光源と、受光した光を電気信号に変換する受光手段
とを備え、前記光源から出射された光パルスを被測定系
に送出し、前記光パルスを受けた前記被測定系から発せ
られる測定用光信号を、前記受光手段により受光するこ
とによって前記被測定系の評価試験を行う光パルス試験
器において、前記光源から前記被測定系に向かう前記光
パルスと、前記被測定系から入ってくる前記測定用光信
号とをいずれも通過させる光通過手段と、前記光通過手
段と前記受光手段との間に設けられ、前記測定用光信号
を通過させる通過状態と、前記測定用光信号の通過を阻
止する阻止状態とをとり、これら２つの状態を切り替え
可能である光切替手段とを備え、前記光切替手段は、通
過させる波長域を変更することができる光波長可変フィ
ルタであって、前記光パルスが出射されてから所定の時
間までの間、前記阻止状態にあり、その後前記通過状態
になることを特徴とする。

【００１０】請求項１に記載の発明によれば、光通過手
段と受光手段との間に設けられた光切替手段について、
通過状態と阻止状態とを切り替えることによって、前記
測定用光信号を通過させたり、逆に通過を阻止すること
ができる。前述した電話局等の光学部品からの強烈な反
射光のような正確な測定を阻害する光は、測定用光信号
のうち、初期の時間帯に試験器の到達する。請求項１の
光切替手段は、前記光パルスが出射されてから所定の時
間までの間、前記阻止状態にあり、その後前記通過状態
になることから、光パルス試験器に到達する測定用光信
号のうち、初期の時間帯に到達する強烈な反射光を受光
手段に受光させないようにし、測定に必要な測定用光信
号のみ受光手段に導くことができるようになる。すなわ
ち、光切替手段に実質的に光マスク機能を持たせ、アッ
テネーションデッドゾーンを狭めて正確な測定を行うこ
とができる。さらに、このような光切替手段を備えてい
るので、光パルスと被測定系からの光信号とをいずれも
通過させる光通過手段は、光スイッチ機能を有する必要
はなく、単に光を双方向に通過させることができればよ
く、従来のように高価なＡＯスイッチを使用しないで済
み、安価な光パルス試験器となる。

【００１１】請求項１の光切替手段は、通過させる波長
域を変更することができる光波長可変フィルタであり、
さらに、光波長可変フィルタとしては、請求項２に記載
の発明のように、低域通過フィルタであってもよい。こ
のように、前記光切替手段が光波長可変フィルタである
ことから、簡単に、前記通過状態と前記阻止状態とを切
り替えることができる。

【００１２】ここで、被測定系は、たとえば、敷設され
た光ファイバ網であるが、これに限定されず、光ファイ
バ以外の光学部品を主要部品として備えた装置、施設等
でもよい。また、「光パルスを受けた被測定系から発せ
られる測定用光信号」とは、光パルスが被測定系に入射
して生じる、反射光や後方散乱光である。さらに、「所
定の時間」とは、正確な測定を阻害する強烈な反射光が
試験器に到達する時間を基準として設定される。

【００１３】請求項３に記載の発明は、請求項１または
２に記載の光パルス試験器において、前記被測定系は、
光ファイバ通信網であり、前記光パルスの波長は、前記
光ファイバ通信網で使用される通信用の光信号の波長と
は異なっており、前記光波長可変フィルタは、前記２つ
の状態のいずれのときも、前記通信用の光信号の通過を
阻止することを特徴とする。

【００１４】被測定系が光ファイバ通信網である場合、
被測定系には通信用の光信号が常に流れており、その状
態で試験を行うことが前提となる。この際、請求項３に
記載の発明のように、光パルスを通信用の光信号の波長
と異なる波長とし、前記光波長可変フィルタによって通
信用の光信号の通過を常に阻止するように構成すれば、
測定用光信号とともに通信用の光信号が、試験器内部に
入ってきたとしても、光波長可変フィルタにおいて測定
用光信号は通過できるが通信用の光信号は阻止されるの
で、受光手段には測定用光信号のみ受光されるようにな
り、通信用の光信号の影響が測定に及ぶことはない。

【００１５】請求項４に記載の発明は、請求項１〜３の
いずれかに記載の光パルス試験器において、前記光通過
手段は光カプラであることを特徴とする。請求項４に記
載の発明によれば、光通過手段として光カプラを用いる
ことから、安価な光パルス試験器となる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、図面を参照しながら説明する。図１は、本発明の
光パルス試験器の一例を示したものである。図１で、光
パルス試験器２０は、制御部１、レーザダイオード・ド
ライバ２、レーザダイオード３、光カプラ５、光コネク
タ６、光波長可変フィルタ７、アバランジェ・フォトダ
イオード８、増幅器９、Ａ／Ｄ変換部１０、から構成さ
れる。光パルス試験器２０は、被測定系である光ファイ
バ通信網を形成する被測定光ファイバ１１に対して光パ
ルスを送出し、この光パルスを受けた被測定光ファイバ
１１からの反射光や後方散乱光などの光信号（以下、測
定用光信号）に基づいて、光ファイバの欠陥等を分析す
るものである。

【００１７】なお、光パルス試験器２０を電話局内に設
置して測定する場合、電話局から敷設されている光ファ
イバに至るまでの種々の光回路も、被測定光ファイバ１
１に含まれるものとする。

【００１８】レーザダイオード・ドライバ２は、制御部
１の制御の下で、レーザダイオード３を駆動するもので
ある。レーザダイオード３は、この光パルス試験器２０
の光パルス４を出射する光源である。この光パルス４の
パルス幅は、通常、数十ナノ秒から数十マイクロ秒の範
囲より選ばれる。本発明の光通過手段としての光カプラ
５は、レーザダイオード３から出力される光パルス４を
通過させて光コネクタ６に対して射出するとともに、光
コネクタ６を介して入射される、被測定光ファイバ１１
等からの測定用光信号を分岐・通過させて、レーザーダ
イオード３と光波長可変フィルタ７に送出する。光コネ
クタ６は、光パルス試験器２０の出力端２１ａと、被測
定光ファイバ１１の入力端１１ａを接続するもので、光
パルス試験器２０から出射される光パルス４および被測
定光ファイバ１１からの測定用光信号を通過させる。

【００１９】光波長可変フィルタ７は、光カプラ５を通
過してきた光のうち、ある特定の波長を境に、より長い
波長側、つまりより低い周波数側を通過させる低域通過
フィルタであり、制御部１の制御の下、通過可能な波長
域を変更可能に構成されている。

【００２０】ところで、運用中の被測定光ファイバ１１
には常に通信用の光信号（通信用光信号）が流れてい
る。これらの通信を遮断すること無く光パルス試験器に
よる測定を行うためには、光パルス試験器の光パルスが
通信に影響与えず、かつ、通信用の光信号が光パルス試
験器の測定に影響与えないようにしなければならない。
そこで、光パルス試験器２０から発せられる光パルスに
ついては、通信用光信号の波長とは異なる波長を選択す
るとともに、光パルス試験器２０では光波長可変フィル
タ７により通信用光信号を阻止し、図示しない通信装置
の受光部には測定用の光信号を阻止する光波長フィルタ
を挿入し、相互に影響を回避している。なお、従来の光
パルス試験器では、通信用の波長を阻止する光波長フィ
ルタとして、固定フィルタを用いていたが、本発明で
は、光波長可変フィルタ７を利用している。

【００２１】光波長可変フィルタ７は、上記のように通
信用の光信号を阻止するとともに、電話局内の光学部品
等を由来とする強烈な反射光（以下、強反射光）を阻止
するために、時間的に遮断波長域を変更し測定用光信号
の波長を阻止することができる。この遮断波長域の変更
について図２、図３に基づいて説明する。なお、図２、
図３では、横軸が波長を示しているが、波長が長い方が
左になっている。

【００２２】光波長可変フィルタ７は、光パルス４が出
力された時は図２の状態（阻止状態）になっている。図
２では、光波長可変フィルタ７の遮断波長は波長Ｎより
短い波長域となっている。この波長Ｎは、通信用光信号
および測定用光信号よりも長いもので、図３の状態のと
き、通信用光信号も測定用光信号も光波長可変フィルタ
７を通過できない。

【００２３】光波長可変フィルタ７は、光パルス４が出
力されてから所定の時間経過後、図３の状態（通過状
態）に切り替えられる。図３では、光波長可変フィルタ
７の遮断波長は波長Ｍより短い波長域となっている。こ
の波長Ｍは、通信用光信号の波長よりは長く、測定用光
信号の波長よりも短いもので、図３の状態のとき、通信
用光信号はフィルタ７を通過できないが、測定用光信号
は通過できる。

【００２４】アバランジェ・フォトダイオード（受光手
段）８は、入射光を受光しその強度に応じた電気信号に
変換し、その信号を増幅器９に出力するものである。増
幅器９は、アバランジェ・フォトダイオード８からの微
弱な電気信号を適度な大きさに増幅し、Ａ／Ｄ変換器１
０に対して出力するものである。Ａ／Ｄ変換器１０は、
増幅器９からの電気信号を、数ナノ秒から数マイクロ秒
の範囲より選択されるサンプリングタイミングでサンプ
リングして、デジタルデータに変換した後、対数変換
し、離散信号データ列として保持する。

【００２５】制御部１は、光パルス試験器２０の測定動
作全体を制御する機能を有し、各部の動作に必要な制御
信号を出力する。測定時には、レーザダイオード・ドラ
イバ２を介してレーザーダイオード３から光パルス４を
出射させるとともに、光波長可変フィルタ７の通過波長
域を適切なタイミングで変更させる。つまり、光パルス
４が発射されたときから所定の時間までの間は、光波長
可変フィルタ７を、図２の阻止状態に制御する。前記所
定の時間以後は、光波長可変フィルタ７を、図３の通過
状態に変更させる。この「所定の時間」については、被
測定光ファイバ１１からの前記強反射光が、各種反射光
や後方散乱光を含む測定用光信号のうちの初期の時間帯
に入力し、他の反射光や後方散乱光はその後から入力し
てくることを考慮し、前記強反射光が光パルス試験器２
０に到達し終える時間を基準に設定するようになってい
る。

【００２６】なお、光ファイバの品質評価の場合、前記
離散信号データ列の中より反射光と後方散乱光の各成分
を分離評価することで光ファイバの品質を評価できる。
また、現用回線監視の場合、以前に測定しあらかじめ蓄
積しておいた離散信号データ列と、測定により得られた
離散信号データ列を比較することで光ファイバの異常が
検出される。

【００２７】上記構成の光パルス試験器２０の測定時の
動作を説明する。まず、制御部１の制御信号に基づい
て、レーザダイオード・ドライバ２を介して、レーザダ
イオード３が駆動され、光パルス４が出力される。この
とき、光波長可変フィルタ７の遮断波長域は、図２のＡ
領域であり、通信用光信号も測定用光信号も阻止し、通
過させない状態にある。レーザダイオード３から出射し
た光パルス４は光カプラ５を通って光コネクタ６に出力
される。光コネクタ６を通った光パルス４は被測定光フ
ァイバ１１に出力される。被測定光ファイバ１１に出力
された光パルス４により、被測定光ファイバ１１内の光
学部品、接続点、破断点等において反射光や、後方散乱
光が発生する。発生した反射光及び後方散乱光は、被測
定光ファイバ１１内を逆走し、測定用光信号として光コ
ネクタ６に入力する。

【００２８】光コネクタ６に入力した測定用光信号は、
光カプラ５にて分岐し、レーザーダイオード３と光波長
可変フィルタ７に出力される。レーザーダイオード３に
出力された光はレーザーダイオード３内部で吸収され
る。測定用光信号が光波長可変フィルタ７に到達し始め
てから所定の時間までは、光波長可変フィルタ７の遮断
波長域は図２のＡ領域のままであり、測定用光信号は、
該フィルタ７を通過できない。前記強反射光が光パルス
試験器２０に到達し終える所定の時間経過後、制御部１
の制御の下、光波長可変フィルタ７によって阻止される
波長域は変更になり、図３のＢ領域になる。これによ
り、この時間以降の被測定光ファイバ１１からの測定用
光信号は、光波長可変フィルタ７を通過し、アバランジ
ェ・フォトダイオード８に出力され、該アバランジェ・
フォトダイオード８で電気信号に変換された後、増幅器
９で増幅され、Ａ／Ｄ変換部１０に出力される。Ａ／Ｄ
変換部１０に入力した電気信号は、デジタルデータに変
換され、離散信号データ列として保持される。

【００２９】以上の光パルス試験器２０によれば、光パ
ルス４を出力してから、前記強反射光が光パルス試験器
２０に到達し終える所定の時間までの間は、光波長可変
フィルタ７が図２の阻止状態であり、その後図３の通過
状態に変更されることから、強反射光の影響を軽減し、
アッテネーションデッドゾーンが生じる範囲を狭くする
ことができ、正確な測定結果が得られるようになる。

【００３０】図４には、光パルス試験器２０の測定結果
の一例の概略図を、光強度の時間的な変化で示した。図
４の横軸は光パルスを出力してからの時間を示し、縦軸
は光強度を対数スケールで示している。図４中の実線
は、光パルス試験器２０に戻る実際の光強度である。ま
た、点線は、光波長可変フィルタ７の代わりに、図３の
遮断波長域を有する光波長固定フィルタを用いた場合の
測定結果である。２点鎖線が光波長可変フィルタ７を用
いた光パルス試験器２０による測定結果である。図４の
Ｔ１からＴ２までの時間帯、光波長可変フィルタ７が図
２の状態であり、Ｔ２以降、光波長可変フィルタ７は図
３の状態となる。

【００３１】図４で示されるように、光パルス４が出力
されてから、すぐに、出力端２１ａ（図１）部分におけ
る反射光Iが、光パルス試験器２０に入力する。そし
て、次に前述の電話局内の光学部品からの強烈な反射光
IIが入力し、その後に、後方散乱光が時間に対して等比
級数的に減衰しながら、入力し、最後に、被測定光ファ
イバ１１の遠端の反射光が入力する。図４から分かるよ
うに、光波長固定フィルタを用いた場合、点線で示すよ
うに、強反射光が入力すると、ある程度の時間、過渡応
答が収束するまで影響がおよび、エリアＰが示すような
アッテネーションデッドゾーンが形成され、被測定光フ
ァイバ１１からの後方散乱光が試験器２０に到達するよ
うになっても、正確な測定ができない。しかし、光波長
可変フィルタ７を用いた場合、光パルス４が出力されて
から図４のＴ２までの間、測定用光信号は光波長可変フ
ィルタ７により阻止され、その後、測定用光信号がフィ
ルタ７を通過するので、光波長固定フィルタの場合に比
べ、反射光IIあとの回復が早く、後方散乱光の測定が速
やかに行われることが分かる。

【００３２】すなわち、本実施の形態の光パルス試験器
２０では、従来の光波長固定フィルタの代わりに光波長
可変フィルタ７を用いることによって、該フィルタ７に
実質的に光マスク機能を持たせ、アッテネーションデッ
ドゾーンを極力狭め正確な測定を行えるようにしてい
る。さらに光通過手段には光スイッチ機能は不要である
ことから、高価なＡＯスイッチではなく安価な光カプラ
５を用いることができるので安価な光パルス試験器とな
る。

【００３３】なお、上記実施の形態では、光波長可変フ
ィルタとして低域通過フィルタを用いたが、光パルス試
験器の光パルスの波長と、通信に用いられる波長によっ
ては、特定の波長を境に短い波長側、すなわち高周波数
側を通過させる高域通過フィルタ、ある特定の波長域
（周波数域）のみを通過させる帯域通過フィルタ、ある
いは特定の波長域（周波数域）のみ通過を阻止する帯域
阻止フィルタであってもよい。また、本発明の光パルス
試験器の具体的な構成は、上記実施の形態に限らず、操
作パネル、表示装置等を備えていてもよいことは勿論で
ある。

【００３４】

【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、光通過
手段と受光手段との間に設けられた光切替手段につい
て、通過状態と阻止状態とを切り替えることによって、
前記測定用光信号を通過させたり、逆に通過を阻止する
ことができる。具体的には、請求項１の光切替手段は、
前記光パルスが出射されてから所定の時間までの間、前
記阻止状態にあり、その後前記通過状態になることか
ら、光パルス試験器に到達する測定用光信号のうち、初
期の時間帯に到達する強烈な反射光を受光手段に受光さ
せないようにし、測定に必要な測定用光信号のみ受光手
段に導くことができるようになる。すなわち、光切替手
段に実質的に光マスク機能を持たせ、アッテネーション
デッドゾーンを狭めて正確な測定を行うことができる。

【００３５】さらに、このような光切替手段を備えてい
るので、光パルスと被測定系からの光信号とをいずれも
通過させる光通過手段は、光スイッチ機能を有する必要
はなく、単に光を双方向に通過させることができればよ
く、従来のように高価なＡＯスイッチを使用しないで済
み、安価な光パルス試験器となる。

【００３６】さらに、請求項１または２の発明では、前
記光切替手段は光波長可変フィルタであることから、簡
単に、前記通過状態と前記阻止状態とを切り替えること
ができる。

【００３７】請求項３に記載の発明によれば、請求項１
または２の効果に加えて、測定用光信号とともに通信用
の光信号が、試験器内部に入ってきたとしても、光波長
可変フィルタにおいて測定用光信号は通過できるが通信
用の光信号は阻止されるので、受光手段には測定用光信
号のみ受光されるようになり、通信用の光信号の影響が
測定に及ぶことはない。

【００３８】請求項４に記載の発明によれば、請求項１
〜３のいずれかに記載の発明の効果に加えて、光通過部
として光カプラを用いることで、安価な光パルス試験器
となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した光パルス試験器の構成を示し
た図である。

【図２】測定用光信号が光波長可変フィルタによって阻
止されるときの光波長可変フィルタの波長特性を示した
図である。

【図３】測定用光信号が光波長可変フィルタを通過する
ときの光波長可変フィルタの波長特性を示した図であ
る。

【図４】光パルス試験器による測定結果の概略図であ
る。

【符号の説明】

１ 制御部 ２ レーザダイオードドライバ ３ レーザダイオード（光源） ４ 光パルス ５ 光カプラ（光通過手段） ６ 光コネクタ ７ 光波長可変フィルタ（光切替手段） ８ アバランジェ・フォトダイオード（受光手段） ９ 増幅器 １０ Ａ／Ｄ変換部 １１ 被測定光ファイバ（被測定系）

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光パルスを出射する光源と、 受光した光を電気信号に変換する受光手段とを備え、 前記光源から出射された光パルスを被測定系に送出し、
   前記光パルスを受けた前記被測定系から発せられる測定
   用光信号を、前記受光手段により受光することによって
   前記被測定系の評価試験を行う光パルス試験器におい
   て、 前記光源から前記被測定系に向かう前記光パルスと、前
   記被測定系から入ってくる前記測定用光信号とをいずれ
   も通過させる光通過手段と、 前記光通過手段と前記受光手段との間に設けられ、前記
   測定用光信号を通過させる通過状態と、前記測定用光信
   号の通過を阻止する阻止状態とをとり、これら２つの状
   態を切り替え可能である光切替手段とを備え、 前記光切替手段は、通過させる波長域を変更することが
   できる光波長可変フィルタであって、前記光パルスが出
   射されてから所定の時間までの間、前記阻止状態にあ
   り、その後前記通過状態になることを特徴とする光パル
   ス試験器。
2. 【請求項２】 前記光波長可変フィルタは低域通過フィ
   ルタであることを特徴とする請求項１に記載の光パルス
   試験器。
3. 【請求項３】 前記被測定系は、光ファイバ通信網であ
   り、 前記光パルスの波長は、前記光ファイバ通信網で使用さ
   れる通信用の光信号の波長とは異なっており、 前記光波長可変フィルタは、前記２つの状態のいずれの
   ときも、前記通信用の光信号の通過を阻止することを特
   徴とする請求項１または２に記載の光パルス試験器。
4. 【請求項４】 前記光通過手段は光カプラであることを
   特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光パルス試
   験器。